JP2018018668A

JP2018018668A - 電気接続部品

Info

Publication number: JP2018018668A
Application number: JP2016147442A
Authority: JP
Inventors: 勝信山田; Katsunobu Yamada; 正治石川; Masaharu Ishikawa
Original assignee: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Current assignee: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date: 2016-07-27
Filing date: 2016-07-27
Publication date: 2018-02-01

Abstract

【課題】耐食性の高い電気接続部品を提供する。【解決手段】接触により電気的な接続を行う接触部（１００）を有する電気接続部品（１０）である。接触部（１００）が、母材（１０１）の表面に形成される第１めっき層（１０２）と、第１めっき層（１０２）の表面に形成される第２めっき層（１０３）と、第１めっき層（１０２）に保持されるカーボンナノ材料（１０４）とを備える。第２めっき層（１０３）が、第１めっき層（１０２）とカーボンナノ材料（１０４）との電位差により生じる腐食を抑制するための保護めっき層である。【選択図】図１

Description

本発明は、電気接続部品に関する。詳しくは、本発明は、リレー及びスイッチの接点部品やコネクタの端子部品などの電気接続部品に関する。

従来、接触信頼性を向上させることを目的として、カーボンナノ材料を含有するめっき層を備えた電気接続部品が提案されている。例えば、特許文献１に記載の電気接続部品２０では、他部材に接触する接触部２００が、図８のように、母材２１０の表面にめっき層２２０が設けられ、めっき層２２０にカーボンナノ材料２３０が保持されて形成されている。カーボンナノ材料２３０はカーボンナノチューブやカーボンブラックなどであって、めっき層２２０の表面に露出して設けられている。従って、カーボンナノ材料２３０はめっき層２２０よりも他の部材に接触しやすくなり、電気接続部品２００の接触信頼性が向上している。

特開２０１３−０１１０１６号公報

前記めっき層２２０はニッケルやニッケル合金で形成されているが、炭素（Ｃ）とニッケル（Ｎｉ）との電位差が大きいため、めっき層２２０が腐食しやすいという問題があった。

本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、耐食性の高い電気接続部品を提供することを目的とするものである。

本発明に係る電気接続部品は、接触により電気的な接続を行う接触部を有する電気接続部品であって、
前記接触部は、母材の表面に形成される第１めっき層と、前記第１めっき層の表面に形成される第２めっき層と、前記第１めっき層に保持されるカーボンナノ材料とを備え、
前記第２めっき層は、前記第１めっき層と前記カーボンナノ材料との電位差により生じる腐食を抑制するための保護めっき層であることを特徴とする。

本発明は、第２めっき層により第１めっき層とカーボンナノ材料との電位差により生じる腐食を抑制することができ、耐食性を高くすることができる。

図１は、本発明に係る一実施の形態の電気接続部品の接触部を示す概略の断面図である。図２は、同上のコネクタの端子部品を示す概略の正面図である。図３は、同上のスイッチの可動接点部品と固定接点部品を示す概略の断面図である。図４は、同上のリレーの可動接点部品と固定接点部品を示す概略の断面図である。図５は、同上の耐食性の評価を示すグラフである。図６Ａは、接触信頼性試験における接触抵抗値の測定試験１の結果を示すグラフである。図６Ｂは、接触信頼性試験における接触抵抗値の測定試験２の結果を示すグラフである。図６Ｃは、接触信頼性試験における接触抵抗値の測定試験３の結果を示すグラフである。図６Ｄは、接触信頼性試験における接触抵抗値の測定試験４の結果を示すグラフである。図７は、接触信頼性試験における接触荷重の変化と電気抵抗値の変化とを示すグラフである。図８は、従来の電気接続部品の接触部を示す概略の断面図である。

以下、本発明を実施するための形態を説明する。

本実施形態の電気接続部品は、接触により電気的な接続を行う接触部を有している。このような電気接続部品としては、リレー及びスイッチの接点部品やコネクタの端子部品などが例示される。接点部品としては固定接点部品と可動接点部品などが例示される。端子部品としてはプラグ、ジャック、レセプタクル、ソケット、ピンヘッダーなどの各種のコネクタに適用されるものが例示される。

電気接続部品の接触部は他の部材に接触する部分である。例えば、電気接続部品が固定接点部品である場合、これと対になっている可動接点部品が他の部材となる。すなわち、固定接点部品や可動接点部品では、これらが互いに接触しあう部分が接触部として形成される。また電気接続部品がコネクタの端子部品である場合、別のコネクタに設けた端子部品が他の部材となる。すなわち、コネクタの端子部品では、機械的に接続される複数のコネクタのそれぞれに設けた端子部品が互いに接触しあう部分が接触部として形成される。接触部が他の部材と接触することにより、電気接続部品と他の部材とが電気的に接続される。

図１は電気接続部品１０の接触部１００の概略図を示している。接触部１００は母材１０１と第１めっき層１０２と第２めっき層１０３とカーボンナノ材料１０４とを備えて形成されている。

母材１０１は電気接続部品１０の基体であって、使用目的に応じて所望の形状に成形されている。母材１０１は銅又は銅合金などの電気接続部品１０に使われる公知の金属材料で形成されている。銅合金としては、Ｃｕ−Ｔｉ、Ｃｕ−Ｔｉ−Ｆｅ、Ｃｕ-Ｂｅ、Ｃｕ−Ｓｎ−Ｐ系、Ｃｕ−Ｚｎ系、Ｃｕ−Ｎｉ−Ｚｎ系、Ｃｕ−Ｎｉ−Ｓｉ系、Ｃｕ−Ｆｅ−Ｐ系合金などが挙げられる。なお、母材１０１はその表面に、第１めっき層１０２との密着性を高めるためのＮｉめっき膜などの下地層を有していても良い。

第１めっき層１０２は母材１０１の表面に付着しているめっき膜である。第１めっき層は、結晶質又は非晶質（アモルファス）の金属めっき膜で形成されている。第１めっき層１０２は母材１０１への付着性やカーボンナノ材料１０４の保持性、硬度、耐食性等を考慮して、その材質や厚みなどを決定すればよい。第１めっき層１０２の材質はＮｉ又はＮｉ−Ｐ合金で形成されていることが好ましい。第１めっき層１０２の膜厚は、５μｍ以下であることが好ましい。５μｍより厚い膜厚では、第１めっき層１０２のばね性が失われやすく、応力によるクラックが発生しやすく場合がある。第１めっき層１０２の膜厚の下限は、カーボンナノ材料１０４の保持性等を確保するために、０．１μｍとすることが好ましい。さらに接触部１００の耐食性の向上を考慮すると、第１めっき層１０２の膜厚は０．５μｍ以上が好ましく、１μｍ以上がさらに好ましい。

第２めっき層１０３は第１めっき層１０２の表面に付着しているめっき膜である。第２めっき層１０３は第１めっき層１０２とカーボンナノ材料１０４との電位差により生じる第１めっき層１０２の腐食を抑制するための保護めっき層である。図８に示す従来例では、亜硫酸ガス試験などの過酷な耐食性試験において、めっき層２２０に腐食が生じやすかった。これは、めっき層２２０とカーボンナノ材料２３０とが局部電池となる隙間腐食である。すなわち、カーボンナノ材料２３０にめっき層２２０が被っている部分（界面部分）に、めっき層２２０の凹凸変化等により隙間が生じた場合に、該隙間にめっき層２２０とカーボンナノ材料２３０との電位差による局部電池が作用し、隙間腐食が生じる。本実施形態における第２めっき層１０３はこの隙間腐食の発生を抑制するものである。

第２めっき層１０３は、第１めっき層１０２に含有される金属元素よりも貴な金属元素を含有しているのが好ましい。この場合、第２めっき層１０３は、第１めっき層１０２に比べて、カーボンナノ材料１０４に対する電位差が小さくなり、第２めっき層１０３は第１めっき層１０２よりも腐食が生じにくくなる。この結果、第１めっき層１０２が腐食の生じにくい第２めっき層１０３で被覆されることになり、第１めっき層１０２に酸素、水分、その他の腐食成分が作用しにくくなって、第１めっき層１０２の腐食が抑制される。

具体的には、第１めっき層１０２がＮｉめっき又はＮｉ−Ｐ合金めっきで形成されている場合、第２めっき層１０３は、Ｃｕ、Ｓｎ、Ａｕ、Ａｇ、Ｐｄ、Ｒｈ、Ｒｕの群から選ばれる１種又は複数種の金属元素からなるめっきで形成可能である。また、第１めっき層１０２がＮｉめっき又はＮｉ−Ｐ合金めっきで形成されている場合、第２めっき層１０３は、Ｃｕ、Ｓｎ、Ａｕ、Ａｇ、Ｐｄ、Ｒｈ、Ｒｕの群から選ばれる１種又は複数種の金属元素を含む合金めっき層で形成可能である。この合金めっきとしては、例えば、Ｎｉ−Ｃｕめっき、Ｎｉ−Ｓｎめっき、Ｎｉ−Ａｕめっき、Ｎｉ−Ａｇめっき、Ｎｉ−Ｐｄめっき、Ｎｉ−Ｐｈめっき、Ｎｉ−Ｒｕめっきなどが挙げられる。また第２めっき層１０３は、第１めっき層１０２よりも耐食性が高ければ良いため、例えば、第１めっき層１０２がＮｉめっき又はＮｉ−Ｐ合金めっきで形成されている場合、第２めっき層１０３は、Ｎｉ−Ｗめっき、Ｎｉ−Ｂめっき、Ｎｉ−Ｆｅめっきなどで形成可能である。さらに第２めっき層１０３は、第１めっき層１０２を腐食から保護すれば良いため、例えば、第２めっき層１０３は、Ｚｎめっきで形成可能である。この場合、Ｚｎめっきの犠牲防食作用により第２めっき層１０３で第１めっき層１０２の腐食が抑制される。

第２めっき層１０３の厚みは０．１μｍ〜１．０μｍであることが好ましい。第２めっき層１０３の厚みがこの範囲であれば、第１めっき層１０２の腐食が第２めっき層１０３で抑制されやすくなる。また上記のＮｉ合金めっきは、Ｎｉ以外の金属元素の濃度が６〜１２質量％であることが好ましい。この範囲であれば、Ｎｉめっき層が硬すぎることがなく、割れなどが発生しにくくなり、また、耐食性が確保されやすくなる。

カーボンナノ材料１０４は、ナノオーダーサイズの炭素材料であって、例えば、カーボンナノチューブ（ＣＮＴ）、カーボンブラック（ＣＢ）、フラーレン、グラフェンなどである。カーボンナノ材料１０４は、化学的に安定かつ電気伝導性、摺動性、機械的強度に優れるものが好ましい。ＣＮＴは、直径が１００〜２００ｎｍ、長さ１０〜２０μｍであることが好ましい。また、ＣＮＴは、グラファイトのシートが１層に筒状に巻かれた単層ＣＮＴとグラファイトのシートが２層以上の多層に巻かれた多層ＣＮＴが存在するが、多層ＣＮＴは単層ＣＮＴよりも量産性に優れ、比較的安価に入手できるため、コストを抑えることができる点で好ましい。ＣＢは粒子状であって、その粒子径はレーザー回折法等による測定で数〜１００ｎｍであることが好ましい。また、ＣＢは電気伝導性に優れた品種であり、その各粒子がクラスター状になったミクロンオーダーの大きさの集合体の状態で存在していることが好ましい。ＣＢはＣＮＴよりも量産性に優れ、比較的安価に入手できるため、コストを抑えることができる点で好ましい。

図１はカーボンナノ材料１０４がＣＮＴの場合について示している。このＣＮＴはその一端が第１めっき層１０２に埋め込まれて固着されている。このようにしてＣＮＴは第１めっき層１０２に保持されている。ＣＮＴは第１めっき層１０２の表面から突出し、第２めっき層１０３を貫通している。従って、ＣＮＴの他端は第２めっき層１０３の表面に突出している。ＣＮＴの第２めっき層１０３の表面からの突出長さは０．１μｍ〜１０μｍである。

カーボンナノ材料１０４は第１めっき層１０２との複合めっきで接触部１００に設けられる。カーボンナノ材料１０４の使用量は、カーボンナノ材料１０４と第１めっき層１０２との合計量に対して、０．０２〜２．０質量％であることが好ましい。カーボンナノ材料１０４の使用量が上記の範囲であると、カーボンナノ材料１０４による接触部１００の接触信頼性の向上が充分に得られ、また、カーボンナノ材料１０４のめっき液への分散性や第１めっき層１０２の母材１０１への密着性が十分に確保されやすくなる。

上記のような接触部１００を形成するにあたっては、まず母材１０１の接触部１００となる部分にカーボンナノ材料１０４と第１めっき層１０２とからなる複合めっき層が形成される。この複合めっき層は母材１０１の接触部１００が形成される部分のみに設けることが好ましい。この場合、部分浸漬法、スポットめっき法、スパージャーによるめっき法、マスクめっき法、レジストめっき法などの部分めっき法を採用することができる。例えば、複合めっき層は電着（電解めっき）により母材１０１の表面に形成され、ＮｉやＰなどの金属元素とカーボンナノ材料１０４とを含むめっき液を母材１０１の表面に付着させ、通電することによって、カーボンナノ材料１０４を保持する第１めっき層１０２が析出して形成される。

次に、第１めっき層１０２の表面に第２めっき層１０３が形成される。第２めっき層１０３も上記のような部分めっき法より形成することができる。例えば、Ｓｎなどの金属元素を含むめっき液を第１めっき層１０２の表面に付着させ、通電することにより、第２めっき層１０３が析出して形成される。

図２は端子部品２０ａ、２０ｂを示す。これらの端子部品２０ａ、２０ｂは、コネクタの対となる接続部品（例えば、ヘッダとソケットなど）にそれぞれ組み込まれる。端子部品２０ａ、２０ｂは、接続部品の接続により、一方の端子部品２０ａの接触部２１ａと、他方の端子部品２０ｂの接触部２１ｂとが接触し、これにより、端子部品２０ａと端子部品２０ｂとが電気的に接続される。そして、端子部品２０ａ、２０ｂの一方又は両方が本実施形態の電気接続部品１０として形成することが可能である。すなわち、接触部２１ａ、２１ｂの一方又は両方が図１に示す構造を有して形成することができる。

図３はスイッチ３０の概略図を示す。このスイッチ３０はケース３１の上面に押釦３２が突出して設けられている。押釦３２はレバー３３で押圧自在に形成されている。ケース３１内において押釦３２の下にはバネ３４が設けられている。バネ３４の先端には可動接点部品３０ａがバネ３４の上下両面に突出して設けられている。またケース３１内において、可動接点部品３０ａの上方及び下方には固定接点部品３０ｂが設けられている。各固定接点部品３０ｂ、３０ｃはそれぞれ接点台３６ｂ、３６ｃに接合されている。このスイッチ３０は、レバー３３が操作されることで押釦３２が押圧され、バネ３４が動作することにより、可動接点部品３０ａが上方の固定接点部品３０ｃと接触し、下方の固定接点部品３０ｂと離間する状態と、可動接点部品３０ａが上方の固定接点部品３０ｃと離間し、下方の固定接点部品３０ｂと接触する状態する状態との間で切り替わるように形成されている。そして、可動接点部品３０ａと固定接点部品３０ｂとが接触することにより電気的な接続が行われる。

スイッチ３０は、可動接点部品３０ａと固定接点部品３０ｂの一方又は両方が本実施形態の電気接続部品１０として形成することが可能である。すなわち、可動接点部品３０ａの接触部（固定接点部品３０ｂ、３０ｃと接触する部分）３１ａと、固定接点部品３０ｂ、３０ｃの接触部（可動接点部品３０ａと接触する部分）３１ｂ、３１ｃの一方又は両方が図１に示す構造を有して形成することができる。

図４はリレー４０の概略図を示す。このリレー４０はボディ４２とケース４３とで囲まれる空間に電磁石ブロック４４と接点ブロック４５とを備えている。電磁石ブロック４４はコイル線４６、コイルボビン４７、鉄心４８、接極子４９、継鉄５０とを備えている。コイル線４６に電気的に接続されるコイル端子５１はボディ４２に底面から突出している。接点ブロック４５は、可動バネ５２、可動接点部品４０ａ、固定バネ５３、固定接点部品４０ｂを備えている。可動接点部品４０ａと固定接点部品４０ｂとに電気的に接続される接点端子５４はボディ４２に底面から突出している。接極子４９と可動バネ５２とはカード５５で接続されている。このリレー４０は、コイル線４６への通電・不通電により接極子４９が動作し、これにより、可動バネ５２が動作して、可動接点部品４０ａが固定接点部品４０ｂと接触する状態と、可動接点部品４０ａが固定接点部品４０ｂと離間する状態との間で切り替わるように形成されている。そして、可動接点部品４０ａと固定接点部品４０ｂとが接触することにより電気的な接続が行われる。

リレー４０は、可動接点部品４０ａと固定接点部品４０ｂの一方又は両方が本実施形態の電気接続部品１０として形成することが可能である。すなわち、可動接点部品４０ａの接触部（固定接点部品４０ｂと接触する部分）４１ａと、固定接点部品４０ｂの接触部（可動接点部品４０ａと接触する部分）４１ｂの一方又は両方が図１に示す構造を有して形成することができる。

本実施形態の電気接続部品１０は、接触することにより電気的な接続を行う接触部１００を備え、この接触部１００がカーボンナノ材料１０４を有しているので、低接触圧力であってもカーボンナノ材料１０４で他の部材との接触を確保して電気的な接続を行うことができ、低接圧領域での接触信頼性を確保しやすくなる。また、接触部１００の表面の第２めっき層１０３と、接触部１００と接触する他の部材との間にカーボンナノ材料１０４が介在するため、第２めっき層１０３と他の部材との凝着・磨耗を少なくすることができ、電気接続部品１０の耐スティッキング性が向上しやすくなる。従って、上記のような電気接続部品１０を開閉回数の多いスイッチやリレー等の接点部品として用いると、スティッキング現象が起こりにくく、また、容易に長寿命化を図ることができて好ましい。さらに本実施形態の電気接続部品１０は、カーボンナノ材料１０４を保持する第１めっき層１０２の表面に、第１めっき層１０２とカーボンナノ材料１０４との電位差により生じる腐食を抑制するための保護めっき層となる第２めっき層１０３を設けている。従って、本実施形態の電気接続部品１０は、第１めっき層１０２の腐食を抑制することができ、耐食性を高くすることができる。

以下、本発明を実施例によって具体的に説明する。

（実施例１）
母材としては、大きさ３．５ｃｍ×４．０ｃｍ×厚み０．１ｃｍの銅板を用いた。母材の接触部となる部分にカーボンナノ材料と第１めっき層とを備えた複合めっき層を形成した。ここで、カーボンナノ材料としてＣＮＴを含有するＮｉ−Ｐ合金めっき液を用いた。ＣＮＴとしては、昭和電工（株）製のＶＧＣＦを用いた。このＣＮＴは単層ＣＮＴと多層ＣＮＴの混合物である。また、ＣＮＴの直径（外径）が１００〜２００ｎｍで、長さが１０〜２０μｍの範囲であった。Ｎｉ−Ｐ合金めっき液の組成は、硫酸Ｎｉ（１ｍｏｌ／ｄｍ^３）、塩化Ｎｉ（０．２ｍｏｌ／ｄｍ^３）、ホウ酸（０．５ｍｏｌ／ｄｍ^３）、クエン酸三ナトリウム（０．５ｍｏｌ／ｄｍ^３）、ホスホン酸（１．０ｍｏｌ／ｄｍ^３）であった。ＣＮＴを含有するＮｉ−Ｐ合金めっき液はＣＮＴの混合量を２ｇ／ｄｍ^３とした。また、ＣＮＴを含有するＮｉ−Ｐ合金めっき液をめっき浴とし、浴温２５℃、電流密度５Ａ／ｄｍ^２のめっき条件とした。そして、Ｎｉ−Ｐ合金めっき層である第１めっき層の厚みが１．５μｍ、ＣＮＴの含有量が０．２質量％のＣＮＴ含有Ｎｉ−Ｐ合金めっき層を形成した。

次に、第１めっき層の表面に第２めっき層を形成した。ここで、第２めっき層はＳｎめっきで形成した。この場合、めっき液としては石原薬品株式会社製の「ＰＦ−０９５Ｓ」を使用し、浴温３５℃、電流密度３ＡＳＤの条件でＳｎめっきを形成した。第２めっき層の厚みは０．１μｍとした。

このようにして電気接続部品（平板）を形成した。

（実施例２）
カーボンナノ材料として、ＣＮＴの代わりにＣＢを用いてＣＢ含有Ｎｉ−Ｐ合金めっき層を形成した以外は実施例１と同様にした。ＣＢとしては、Ｃａｂｏｔ社製のバルカンＸＣ−７２を用いた。このＣＢは直径（粒子径）が２０〜４０ｎｍの範囲である。

（実施例３）
第１めっき層としてＮｉ−Ｐ合金めっきの代わりに、Ｎｉめっきを形成した以外は実施例１と同様にした。Ｎｉめっき液の組成は、硫酸Ｎｉ（１ｍｏｌ／ｄｍ^３）、塩化Ｎｉ（０．２ｍｏｌ／ｄｍ^３）、ホウ酸（０．５ｍｏｌ／ｄｍ^３）であった。ＣＮＴを含有するＮｉめっき液はＣＮＴの混合量を２ｇ／ｄｍ^３とした。また、ＣＮＴを含有するＮｉめっき液をめっき浴とし、浴温５０℃、電流密度５Ａ／ｄｍ^２のめっき条件とした。

（比較例１）
第２めっき層を形成しなかった以外は実施例２と同様にした。

（比較例２）
母材としては実施例１と同様のものを用いた。母材の接触部となる部分にＮｉめっき層（カーボンナノ材料を含有していない）を形成した。Ｎｉめっき層の形成条件は、Ｎｉめっき液の組成が、スルファミン酸ニッケル４００ｇ／ｄｍ^３、ホウ酸４０ｇ／ｄｍ^３、塩化ニッケル５ｇ／ｄｍ^３であった。また、浴温５０℃、電流密度５Ａ／ｄｍ^２のめっき条件とした。Ｎｉめっき層の厚みは１．５μｍとした。

次に、Ｎｉめっき層の表面にＡｕ−Ｃｏ合金めっき層を形成した。この場合、めっき液としては日本高純度化学社製の「オーロブライトＢＡＲ７」を使用し、浴温５０℃、電流密度１０Ａ／ｄｍ^２の条件でＡｕ−Ｃｏ合金めっきを形成した。Ａｕ−Ｃｏ合金めっき層の厚みは０．１５μｍとした。

このようにして平板（電気接続部品）を形成した。

（比較例３）
Ａｕ−Ｃｏ合金めっき層の厚みを０．０６μｍとした以外は比較例２と同様にした。

（比較例４）
比較例２において、Ａｕ−Ｃｏ合金めっき層に封孔処理（水溶性封孔処理液に浸漬後、８０℃で乾燥）を施した。

（比較例５）
比較例３において、Ａｕ−Ｃｏ合金めっき層に封孔処理を施した。封孔処理の条件は比較例４と同様にした。

（耐食性の評価）
上記各実施例及び各比較例について、耐食性の評価を行った。すなわち、各実施例及び各比較例の平板（電気接続部品）を濃度８０ｐｐｍの硫酸水溶液に浸漬した後、温度２６０℃で５分間放置した。この後、電気化学測定を行ってターフェルプロットを作製した。電気化学測定は、北斗電工株式会社の「ＨＺ−７０００」を使用し、参照電極をＡｇ／Ａｇ−Ｃｌ、対極にＰｔを用い、腐食電流・電位を測定した。結果を図５に示す。

図５から明らかなように、各実施例は比較例よりも腐食電位及び腐食電流が低くなって貴であり、腐食が抑制されていることが判る。

（接触信頼性試験）
パナソニック株式会社製のコネクタ「Ｐ５ＫＳ」に使用される端子部品を形成した。このコネクタはヘッダとソケットからなり、ヘッダとソケットはそれぞれ４０個の端子部品を有している。コネクタのサンプルとして以下の（１）〜（５）及び現状品を準備した。

サンプル（１）は、端子部品の接触部がカーボンナノ材料であるＣＢとＮｉ−Ｐ合金からなる第１めっき層との複合めっき層（Ｎｉ−Ｐ−ＣＢ複合めっき層、第１めっき層の厚み１．５μｍ、めっき皮膜中のＰ濃度１０ｗｔ％）を有し、第１めっき層の表面に第２めっき層としてＳｎめっき層（厚み０．１μｍ）を有しているものである。

サンプル（２）は、めっき皮膜中のＰ濃度５ｗｔ％である以外はサンプル（１）と同様に形成されている。

サンプル（３）は、第２めっき層がＳｎ−Ｎｉ合金めっきである以外はサンプル（１）と同様に形成されている。

サンプル（４）は、カーボンナノ材料がＣＮＴである以外はサンプル（１）と同様に形成されている。

サンプル（５）は、カーボンナノ材料がＣＮＴである以外はサンプル（２）と同様に形成されている。

現状品は、端子部品の接触部がカーボンナノ材料を有しておらず、第１めっき層であるＮｉめっき層を厚み１．５μｍで有し、第２めっき層をＡｕ−Ｃｏ合金めっきで厚み０．２μｍで形成した後、封孔処理したものである。

このようなコネクタ（サンプル（１）〜（５）及び現状品）を用いて、以下の接触抵抗値の測定試験１〜４を行った。各測定試験は３個のコネクタを用いて行った。

（接触抵抗値の測定試験１）
大気圧リフロー半田付け工程を想定した温度２６０℃の大気中で３回熱処理を行った後の接触抵抗値を測定した。

（接触抵抗値の測定試験２）
濃度１０±３ｐｐｍの亜硫酸ガス中で温度４０±２℃、湿度９０±３％ＲＨの条件で４８時間放置した後の接触抵抗値を測定した。

（接触抵抗値の測定試験３）
ヘッドとソケットとを５０回挿抜した後の接触抵抗値を測定した。

（接触抵抗値の測定試験４）
耐湿サイクル１２回行った後の接触抵抗値を測定した。

測定試験１〜４の結果を図６Ａ〜６Ｄに示す。この結果から明らかなように、サンプル（１）〜（５）は現状品と同程度あるいはそれ以下の接触抵抗値を有し、低接触圧力領域での接触信頼性が高いと言える。

またサンプル（１）〜（５）について、接触荷重の変化による電気抵抗値の変化を測定した。結果を図７に示す。図７から明らかなように、本実施形態の電気接続部品であるサンプル（１）〜（５）は、接触荷重０．１Ｎでも安定した接触抵抗値を示す。

本実施形態の電気接続部品（１０）は、以下の特徴を有する。

すなわち、電気接続部品（１０）は、接触により電気的な接続を行う接触部（１００）を有する。接触部（１００）が、母材（１０１）の表面に形成される第１めっき層（１０２）と、第１めっき層（１０２）の表面に形成される第２めっき層（１０３）と、第１めっき層（１０２）に保持されるカーボンナノ材料（１０４）とを備える。第２めっき層（１０３）が、第１めっき層（１０２）とカーボンナノ材料（１０４）との電位差により生じる腐食を抑制するための保護めっき層である。

このような電気接続部品（１０）は、第１めっき層（１０２）とカーボンナノ材料（１０４）との電位差により生じる腐食が第２めっき層（１０３）で抑制され、耐食性が高い。

上記電気接続部品（１０）は、第２めっき層（１０３）が、第１めっき層（１０２）に含有される金属元素よりも貴な金属元素を含有していることが好ましい。

このような電気接続部品（１０）は、第１めっき層（１０２）とカーボンナノ材料（１０４）との電位差により生じる腐食を抑制する効果の高い第２めっき層（１０３）が得られ、耐食性がより高くなる。

上記電気接続部品（１０）は、第１めっき層（１０２）がＮｉ又はＮｉ−Ｐ合金で形成される。第２めっき層（１０３）がＮｉよりも貴な金属元素としてＳｎ、Ｃｕ、Ａｇ、Ａｕ、Ｐｄ、Ｒｈ、Ｒｕの群から選ばれる少なくとも１つを含有していることが好ましい。

このような電気接続部品（１０）は、第１めっき層（１０２）に含有されるＮｉとカーボンナノ材料（１０４）との電位差により生じる腐食が第２めっき層（１０３）に含有されるＳｎ、Ｃｕ、Ａｇ、Ａｕ、Ｐｄ、Ｒｈ、Ｒｕの群から選ばれる少なくとも１つで抑制され、耐食性が高い。

上記電気接続部品（１０）は、第２めっき層（１０３）の厚みが０．１μｍ〜１．０μｍであることが好ましい。

１０電気接続部品
１００接触部
１０１母材
１０２第１めっき層
１０３第２めっき層
１０４カーボンナノ材料

Claims

接触により電気的な接続を行う接触部を有する電気接続部品であって、
前記接触部が、母材の表面に形成される第１めっき層と、前記第１めっき層の表面に形成される第２めっき層と、前記第１めっき層に保持されるカーボンナノ材料とを備え、
前記第２めっき層が、前記第１めっき層と前記カーボンナノ材料との電位差により生じる腐食を抑制するための保護めっき層である電気接続部品。
前記第２めっき層が、前記第１めっき層に含有される金属元素よりも貴な金属元素を含有している請求項１に記載の電気接続部品。
前記第１めっき層がＮｉ又はＮｉ−Ｐ合金で形成され、前記第２めっき層がＮｉよりも貴な金属元素としてＳｎ、Ｃｕ、Ａｇ、Ａｕ、Ｐｄ、Ｒｈ、Ｒｕの群から選ばれる少なくとも１つを含有している請求項２に記載の電気接続部品。
前記第２めっき層の厚みが０．１μｍ〜１．０μｍである請求項１乃至３のいずれか一項に記載の電気接続部品。