JP2018008885A - ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ - Google Patents
ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018008885A JP2018008885A JP2016137087A JP2016137087A JP2018008885A JP 2018008885 A JP2018008885 A JP 2018008885A JP 2016137087 A JP2016137087 A JP 2016137087A JP 2016137087 A JP2016137087 A JP 2016137087A JP 2018008885 A JP2018008885 A JP 2018008885A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- group
- carbon atoms
- semiconductor layer
- organic semiconductor
- heteroacene
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Heterocyclic Carbon Compounds Containing A Hetero Ring Having Oxygen Or Sulfur (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
【課題】高いキャリア移動度、高耐熱性、高耐酸化性、及び適当な溶解性を持つ塗布型の有機半導体材料である新規なヘテロアセン誘導体、これを用いた有機半導体層及び有機薄膜トランジスタの提供。【解決手段】式(1)で示されるヘテロアセン誘導体。(R1〜R4はH、F、C1〜20のアルキル基又はC4〜20のアリール基;T1及びT2は夫々独立にS、Se又はO;環A及びBはS、Se又はO含有5員環)【選択図】なし
Description
本発明は、有機半導体材料等の電子材料への展開が可能な新規なヘテロアセン誘導体、これを用いた有機半導体層及び有機薄膜トランジスタに関するものであり、特に耐熱性に優れることから様々なデバイス作成プロセスに適用可能な新規なヘテロアセン誘導体、これを用いた有機半導体層及び有機薄膜トランジスタに関するものである。
有機薄膜トランジスタに代表される有機半導体デバイスは、省エネルギー、低コスト及びフレキシブルといった無機半導体デバイスにはない特徴を有することから近年注目されている。この有機半導体デバイスは、有機半導体層、基板、絶縁層、電極等の数種類の材料から構成され、中でも電荷のキャリア移動を担う有機半導体層は該デバイスの中心的な役割を有している。そして、有機半導体デバイス性能は、この有機半導体層を構成する有機半導体材料のキャリア移動度により左右されることから、高キャリア移動度を与える有機半導体材料の出現が所望されている。
有機半導体層を作製する方法としては、高温真空下、有機材料を気化させて実施する真空蒸着法、有機材料を適当な溶媒に溶解させその溶液を塗布する塗布法等の方法が一般的に知られている。このうち、塗布法においては、高温高真空条件を用いることなく印刷技術を用いても実施することができるため、デバイス作製の大幅な製造コストの削減を図ることが期待でき、経済的に好ましいプロセスである。
このような塗布法に使用される有機半導体材料は、高いキャリア移動度、及びデバイス作製のプロセス上の観点から、150℃以上の耐熱性を持つことが好ましい。また、適当な溶解性や耐酸化性を持つことが好ましい。
ここで、一般に、低分子系の半導体は、高分子系の半導体と比べて結晶性が高いため高キャリア移動度を発現しやすいことが知られている。しかし、高キャリア移動度、高耐熱性、適当な溶解性及び高耐酸化性を兼ね合わせた低分子系の有機半導体材料は殆ど知られていないのが現状である。
現在、低分子系材料としては、ジアルキル置換ベンゾチエノベンゾチオフェン(例えば、特許文献1参照。)、2,7−ジヘキシルジチエノベンゾジチオフェン(例えば、特許文献2参照。)等が提案されている。
しかし、特許文献1に記載されたジアルキル置換ベンゾチエノベンゾチオフェンの場合、130℃に熱処理するとトランジスタ動作が失われるという問題があった。また、特許文献2に記載のジヘキシルジチエノベンゾジチオフェンは融点が190℃であり、高融点化による、より高い耐熱性を有する低分子系有機半導体材料が望まれる。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、高キャリア移動度で高耐熱性、適当な溶解性及び耐酸化性を持つ新規な塗布型の有機半導体材料を提供することにある。
本発明者は、上記課題を解決するため鋭意検討の結果、新規なヘテロアセン誘導体を用いることにより、高キャリア移動度を与えると共に、高耐熱性、適当な溶解性及び耐酸化性を持つ有機薄膜トランジスタが得られることを見出し、本発明を完成するに到った。
即ち、本発明は、下記一般式(1)で示されることを特徴とするヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及びそれを用いてなる有機薄膜トランジスタに関するものである。
以下に本発明を詳細に説明する。
本発明で用いられるヘテロアセン誘導体は上記一般式(1)で示される誘導体であり、置換基R1〜R4は、それぞれ独立して、水素、フッ素、炭素数1〜20のアルキル基、又は炭素数4〜20のアリール基を示す。
一方、置換基R5及びR6はそれぞれ独立して、水素、フッ素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数1〜20のアシル基、炭素数2〜20のアルケニル基、炭素数2〜20のアルキニル基、又は炭素数4〜20のアリール基を示す。
置換基R1〜R4並びにR5及びR6における炭素数1〜20のアルキル基は、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、イソヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基、n−ドデシル基、n−テトラデシル基、n−オクタデシル基、2−エチルヘキシル基、3−エチルヘプチル基、3−エチルデシル、2−ヘキシルデシル基等の直鎖又は分岐アルキル基が挙げられる。そして、その中でも特に高移動度及び高溶解性を示すヘテロアセン誘導体となることから、炭素数3〜12のアルキル基が好ましく、n−プロピル、n−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基である炭素数3〜12の直鎖アルキル基がさらに好ましい。
置換基R1〜R4並びにR5及びR6における炭素数4〜20のアリール基は、例えば、フェニル基;p−トリル基、p−(n−ヘキシル)フェニル基、p−(n−オクチル)フェニル基、p−(2−エチルヘキシル)フェニル基等のアルキル置換フェニル基;2−フリル基;2−チエニル基;5−フルオロ−2−フリル基、5−メチル−2−フリル基、5−エチル−2−フリル基、5−(n−プロピル)−2−フリル基、5−(n−ブチル)−2−フリル基、5−(n−ペンチル)−2−フリル基、5−(n−ヘキシル)−2−フリル基、5−(n−オクチル)−2−フリル基、5−(2−エチルヘキシル)−2−フリル基、5−フルオロ−2−チエニル基、5−メチル−2−チエニル基、5−エチル−2−チエニル基、5−(n−プロピル)−2−チエニル基、5−(n−ブチル)−2−チエニル基、5−(n−ペンチル)−2−チエニル基、5−(n−ヘキシル)−2−チエニル基、5−(n−オクチル)−2−チエニル基、5−(2−エチルヘキシル)−2−チエニル基等のアルキル置換カルコゲノフェン基を挙げることができる。
置換基R5及びR6における炭素数1〜20のアシル基は、例えば、ホルミル基、アセチル基、プロピオニル基、ブチリル基、イソブチリル基、バレリル基、ヘキサノイル基、ヘプタノイル基、オクタノイル基、ノナノイル基、デカノイル基、ドデカノイル基、2−エチルヘキサノイル基、3−エチルヘプタノイル基、3−エチルデカノイル基等の直鎖又は分岐アシル基が挙げられる。そして、その中でも特に高移動度及び高溶解性を示すヘテロアセン誘導体となることから、炭素数3〜12のアシル基が好ましく、プロピオニル基、ブチリル基、バレリル基、ヘキサノイル基、ヘプタノイル基、オクタノイル基であることがさらに好ましい。
置換基R5及びR6における炭素数2〜20のアルケニル基は、例えば、エテニル基、n−プロペニル基、n−ブテニル基、n−ペンテニル基、n−ヘキセニル基、n−ヘプテニル基、n−オクテニル基、n−ノネル基、n−デセニル基、n−ドデセニル基等が挙げられる。
置換基R5及びR6における炭素数2〜20のアルキニル基は、例えば、エチニル基、n−プロピニル基、n−ブチニル基、n−ペンチニル基、n−ヘキシニル基、n−ヘプチニル基、n−オクチニル基、n−ノニニル基、n−デシニル基、n−ドデシニル基等が挙げられる。
置換基R1〜R6における置換基の種類としては、高移動度のため、R1〜R4がそれぞれ独立して水素又はフッ素であり、かつ、R5及びR6がそれぞれ独立して水素、フッ素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数1〜14のアシル基、炭素数2〜20のアルケニル基、又は炭素数2〜20のアルキニル基である場合が好ましく、さらにより高移動度のため、R1〜R5が水素であり、かつ、R6が炭素数1〜20のアルキル基である場合がさらに好ましい。
置換基R5とR6は置換基同士が結合し5又は6員環を形成することができる。5又は6員環の具体例としては、置換基を有するチオフェン環、置換基を有するベンゼン環等を挙げることができ、高溶解性のため2−ヘキシルチオフェン環、2−オクチルチオフェン環、2−デシルチオフェン環、4−ヘキシルベンゼン環、4−オクチルベンゼン環、4−デシルベンゼン環であることが好ましい。
本発明の上記一般式(1)で示されるヘテロアセン誘導体のT1及びT2は、それぞれ独立して、硫黄、セレン、又は酸素を示し、T3は硫黄、セレン、又は酸素を示す。そして、本発明において、高移動度のためT1及びT2が硫黄であり、かつ、T3が硫黄、又は酸素である場合が好ましく、T1〜T3が硫黄であることがさらに好ましい。
本発明のヘテロアセン誘導体の環A及びBはそれぞれ独立して5員環であり、上記一般式(A)で示される構造を示す。
本発明のヘテロアセン誘導体は、高移動度の観点から、下記一般式(1−1)又は(1−2)で示される主骨格が点対称構造のヘテロアセン誘導体が好ましい。
本発明で用いられるヘテロアセン誘導体の製造方法としては、該ヘテロアセン誘導体を製造することが可能であれば如何なる製造方法を用いることも可能である。例えば、置換基R1〜R5が水素、R6が炭素数1〜20のアルキル基、T1〜T3が硫黄である一般式(1−1)のヘテロアセン誘導体を製造する場合、下記(A1)〜(E1)の工程を経る製造方法により、ヘテロアセン誘導体(好ましいより具体的な製造方法である下記反応スキーム中の化合物(1−1a))を製造することができる。
(A1)工程;パラジウム触媒の存在下、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンから誘導されたチエノ[3,2−b]チオフェン−3,6−ジ亜鉛誘導体と、2,3−ジブロモチオフェンから3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンを製造する工程。
(B1)工程;パラジウム/銅触媒の存在下、(A1)工程により得られた3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンとトリメチルシリルアセチレンの薗頭カップリング及び脱トリメチルシリル反応により3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンを製造する工程。
(C1)工程;ルテニウム触媒の存在下、(B1)工程により得られた3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの分子内環化により無置換ヘテロアセンを製造する工程。
(D1)工程;塩化アルミニウムの存在下、(C1)工程により得られた無置換ヘテロアセンと塩化アシル化合物とのフリーデルクラフツアシル化反応により、ジアシルヘテロアセンを製造する工程。
(E1)工程;(D1)工程により得られたジアシルヘテロアセンを還元反応に供し、ヘテロアセン誘導体を製造する工程。
(A1)工程;パラジウム触媒の存在下、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンから誘導されたチエノ[3,2−b]チオフェン−3,6−ジ亜鉛誘導体と、2,3−ジブロモチオフェンから3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンを製造する工程。
(B1)工程;パラジウム/銅触媒の存在下、(A1)工程により得られた3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンとトリメチルシリルアセチレンの薗頭カップリング及び脱トリメチルシリル反応により3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンを製造する工程。
(C1)工程;ルテニウム触媒の存在下、(B1)工程により得られた3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの分子内環化により無置換ヘテロアセンを製造する工程。
(D1)工程;塩化アルミニウムの存在下、(C1)工程により得られた無置換ヘテロアセンと塩化アシル化合物とのフリーデルクラフツアシル化反応により、ジアシルヘテロアセンを製造する工程。
(E1)工程;(D1)工程により得られたジアシルヘテロアセンを還元反応に供し、ヘテロアセン誘導体を製造する工程。
そして、反応工程数が少ないことから好ましいより具体的な製造方法を以下の反応スキームに示す。
ここで、該反応スキームにおける(A1)工程は、パラジウム触媒の存在下、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンから誘導されたチエノ[3,2−b]チオフェン−3,6−ジ亜鉛誘導体と、2,3−ジブロモチオフェンのクロスカップリングから3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンを製造する工程である。
チエノ[3,2−b]チオフェン−3,6−ジ亜鉛誘導体は、例えば、n−ブチルリチウム、tert−ブチルリチウム等の有機金属試薬を用い、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンの3位及び6位の臭素をリチウムに交換後(ジリチウム塩の調製)、塩化亜鉛と金属交換することで調製することができる。また、該有機金属試薬の代わりにマグネシウム金属を用い、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンのジグリニャール試薬を調製し塩化亜鉛と金属交換する方法も可能である。
3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンのジリチウム塩を調製する条件としては、例えば、テトラヒドロフラン(以後、THFと記す。)又はジエチルエーテル等の溶媒中、−80℃〜20℃の温度範囲内で実施することができる。該ジリチウム塩の溶液に塩化亜鉛を反応させることでチエノ[3,2−b]チオフェン−3,6−ジ亜鉛誘導体を調製することができる。塩化亜鉛はそのままの状態でもよいし、THFまたはジエチルエーテル溶液であってもかまわない。該ジリチウム塩と塩化亜鉛との反応の温度としては、−80℃〜30℃の範囲内で実施できる。
パラジウム触媒としては、例えば、テトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム、ジクロロビス(トリフェニルホスフィン)パラジウム等を挙げることができ、反応温度としては、20℃〜80℃の範囲内で実施することができる。
該反応スキームにおける(B1)工程はパラジウム触媒及び銅触媒の存在下、(A1)工程により得られた3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンとトリメチルシリルアセチレンの薗頭カップリング及び脱トリメチルシリル反応により3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンを製造する工程である。
その際のパラジウム触媒としては、例えば、テトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム、ジクロロビス(トリフェニルホスフィン)パラジウム等が挙げられ、銅触媒としてはヨウ化銅(I)、臭化銅(I)、塩化銅(I)等を挙げることができる。また、薗頭カップリングでは、トリエチルアミン、ピリジン、トルエン等の溶媒中、20℃〜80℃の温度範囲で実施することができる。
脱トリメチルシリル化は、テトラブチルアンモニウムフルオライド、希塩酸等の脱シリル剤を用い、THF、トルエン、ジクロロメタンの溶媒中、0℃〜50℃の温度範囲で実施することができる。
該反応スキームにおける(C1)工程はルテニウム触媒の存在下、(B1)工程により得られた3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの分子内環化により無置換ヘテロアセンを製造する工程である。
ルテニウム触媒は、例えば、トリフェニルホスフィン(シメン)塩化ルテニウム錯体等を挙げることができ、分子内環化は、1,2−ジクロロエタン等の溶媒中、20℃〜100℃の温度範囲で実施することができる。なお、反応促進のためヘキサフルオロりん酸アンモニウムを共存させることが好ましい。
該反応スキームにおける(D1)工程は、触媒として塩化アルミニウムの存在下、(C1)工程で得られた無置換ヘテロアセンと塩化アシル化合物とのフリーデルクラフツアシル化反応により、ジアシルヘテロアセンを製造する工程である。
該塩化アシル化合物としては、例えば、塩化ホルミル、塩化アセチル、塩化プロピオニル、塩化ブチリル、塩化イソブチリル、塩化バレロイル、塩化ヘキサノイル、塩化ヘプタノイル、塩化オクタノイル、塩化2−エチルヘキサノイル、塩化ノニノイル、塩化デカノイル、塩化ドデカノイル、塩化テトラデカノイル等を挙げることができる。該フリーデルクラフツアシル化反応は、例えば、ジクロロメタン、1,2−ジクロロエタン、トルエン等の溶媒中、0℃〜40℃の温度範囲で行うことができる。
また、該反応スキームにおける(E1)工程は、(D1)工程により得られたジアシルヘテロアセンを還元反応に供し、ヘテロアセン誘導体を製造する工程である。
ジアシルヘテロアセンの還元反応は、例えば、還元剤として水素化ホウ素ナトリウム/塩化アルミニウム、又は水素化リチウムアルミニウム/塩化アルミニウムを用い、THF、ジエチルエーテル、ジイソプロピルエーテル、又はメチルターシャリーブチルエーテルの溶媒中、−10℃〜80℃の温度範囲で行うことができる。また、例えば、還元剤としてヒドラジンを用い、ジエチレングルコール、エチレングリコール又はトリエチレングリコール中、水酸化カリウム又は水酸化ナトリウム存在下、80℃〜250℃の温度範囲で行うこともできる。
一方、本発明で用いられるヘテロアセン誘導体の内、置換基R1〜R5が水素、R6が炭素数1〜20のアルキル基、T1〜T3が硫黄である一般式(1−2)のヘテロアセン誘導体を製造する場合、下記(A2)〜(E2)の工程を経る製造方法により、ヘテロアセン誘導体(好ましいより具体的な製造方法である下記反応スキーム中の化合物(1−2a))を製造することができる。
(A2)工程;パラジウム触媒の存在下、2−ハロチエニル−3−亜鉛誘導体と3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンより3,6−ジ(2−ハロチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンを製造する工程。
(B2)工程;パラジウム/銅触媒の存在下、(A2)工程により得られた3,6−ジ(2−ハロチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンとトリメチルシリルアセチレンの薗頭カップリング及び脱トリメチルシリル反応により3,6−ジ(2−エチニルチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンを製造する工程。
(C2)工程;ルテニウム触媒の存在下、(B2)工程により得られた3,6−ジ(2−エチニルチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンの分子内環化により無置換ヘテロアセンを製造する工程。
(D2)工程;塩化アルミニウムの存在下、(C2)工程により得られた無置換ヘテロアセンと塩化アシル化合物とのフリーデルクラフツアシル化反応により、ジアシルヘテロアセンを製造する工程。
(E2)工程;(D2)工程により得られたジアシルヘテロアセンを還元反応に供し、ヘテロアセン誘導体を製造する工程。
(A2)工程;パラジウム触媒の存在下、2−ハロチエニル−3−亜鉛誘導体と3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンより3,6−ジ(2−ハロチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンを製造する工程。
(B2)工程;パラジウム/銅触媒の存在下、(A2)工程により得られた3,6−ジ(2−ハロチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンとトリメチルシリルアセチレンの薗頭カップリング及び脱トリメチルシリル反応により3,6−ジ(2−エチニルチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンを製造する工程。
(C2)工程;ルテニウム触媒の存在下、(B2)工程により得られた3,6−ジ(2−エチニルチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンの分子内環化により無置換ヘテロアセンを製造する工程。
(D2)工程;塩化アルミニウムの存在下、(C2)工程により得られた無置換ヘテロアセンと塩化アシル化合物とのフリーデルクラフツアシル化反応により、ジアシルヘテロアセンを製造する工程。
(E2)工程;(D2)工程により得られたジアシルヘテロアセンを還元反応に供し、ヘテロアセン誘導体を製造する工程。
そして、反応工程数が少ないことから好ましいより具体的な製造方法を以下の反応スキームに示す。
ここで、(A2)工程から(E2)工程の詳細な条件は、上述の(A1)工程から(E1)工程と同様の条件を使用することができる。
なお、2−ハロチエニル−3−亜鉛誘導体の例としては、例えば、2−クロロチエニル−3−亜鉛誘導体、2−フルオロチエニル−3−亜鉛誘導体、2−クロロセレノフェニル−3−亜鉛誘導体、2−クロロフロ−3−亜鉛誘導体等を挙げることができ、その中でも、特に反応効率に優れることから2−クロロチエニル−3−亜鉛誘導体であることが好ましい。
さらに、製造したヘテロアセン誘導体は、カラムクロマトグラフィー等に供することにより精製することができ、その際の分離剤としては、例えば、シリカゲル、活性アルミナ、溶媒としては、ヘキサン、ヘプタン、トルエン、ジクロロメタン、クロロホルム等を挙げることができる。
製造したヘテロアセン誘導体は、活性炭、ゼオライト、活性アルミナ等に供することにより溶液中で脱色精製することができ、その際の溶媒としては、ヘキサン、ヘプタン、トルエン、ジクロロメタン、クロロホルム等を挙げることができる。
また、製造したヘテロアセン誘導体は、さらに再結晶により精製してもよく、再結晶の回数を増やすことで純度を向上させることができる。再結晶の回数としては、高純度、高収率の観点から、好ましくは2〜5回である。再結晶の回数を増やすことで純度を向上させることができる。再結晶に用いる溶媒としては、例えば、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、トルエン、キシレン、クロロホルム、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン等を挙げることができ、これらの任意の割合の混合物であってもよい。
再結晶法では、加熱によりヘテロアセン誘導体の溶液を調製し(その際の溶液の濃度は、不純物を効率よく除去するため、0.01〜10.0重量%の範囲が好ましく、0.05〜5.0重量%の範囲がさらに好ましい。)、該溶液を冷却することでヘテロアセン誘導体の結晶を析出させ単離するが、単離する際の最終的な冷却温度は、純度及び回収率向上のため、−20℃から40℃の範囲にあることが好ましい。なお、純度を測定する際には液体クロマトグラフィーにより分析することが可能である。
本発明のヘテロアセン誘導体は、適当な溶媒に溶解させることで有機半導体層形成用溶液とすることができる。該溶媒としては、一般式(1)で示されるヘテロアセン誘導体を溶解することが可能な溶媒であれば如何なる溶媒を使用してもよく、有機半導体層を形成する際、溶媒の乾燥速度を好適なものとすることができることから、常圧での沸点が100℃以上である有機溶媒が好ましい。
本発明で用いることが可能な溶媒として、特に制限はなく、例えば、トルエン、メシチレン、o−キシレン、イソプロピルベンゼン、ペンチルベンゼン、シクロヘキシルベンゼン、1,2,4−トリメチルベンゼン、テトラリン、インダン等の芳香族炭化水素類;アニソール、2−メチルアニソール、3−メチルアニソール、2,3−ジメチルアニソール、3,4−ジメチルアニソール、2,6−ジメチルアニソール、エチルフェニルエーテル、ブチルフェニルエーテル、1,2−メチレンジオキシベンゼン、1,2−エチレンジオキシベンゼン等の芳香族エーテル類;クロロベンゼン、1,2−ジクロロベンゼン、1,3−ジクロロベンゼン、1,4−ジクロロベンゼン等の芳香族ハロゲン化合物;シクロヘキサン、オクタン、デカン、ドデカン、デカリン等の飽和炭化水素類;ジプロピレングリコールジメチルエーテル、ジプロピレングリコールジアセテート、ジプロピレングリコールメチル−n−プロピルエーテル、ジプロピレングリコールメチルエーテルアセテート、1,4−ブタンジオールジアセテート、1,3−ブチレングリコールジアセテート、1,3−ブチレングリコールジアセテート、1,6−ヘキサンジオールジアセテート、エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート等のグリコール類;フタル酸ジメチル、フタル酸ジエチル、テレフタル酸ジメチル、酢酸フェニル、シクロヘキサノールアセテート、3−メトキシブチルアセテート等のエステル類などを挙げられることができ、その中でも適度な乾燥速度を持つことから、好ましくはトルエン、o−キシレン、メシチレン、1,2,4−トリメチルベンゼン、テトラリン、インダン、アニソール、2−メチルアニソール、3−メチルアニソール、2,3−ジメチルアニソール、3,4−ジメチルアニソール、2,6−ジメチルアニソール、エチルフェニルエーテル、ブチルフェニルエーテル、1,2−メチレンジオキシベンゼン、1,2−エチレンジオキシベンゼン、1,2−ジクロロベンゼン、1,3−ジクロロベンゼン、1,4−ジクロロベンゼンであり、さらに好ましくは、トルエン、o−キシレン、メシチレン、テトラリン、インダン、アニソール、2−メチルアニソール、3−メチルアニソール、2,3−ジメチルアニソール、3,4−ジメチルアニソール、2,6−ジメチルアニソールである。
なお、本発明で用いる溶媒は、1種類の溶媒を単独で使用、または沸点、極性、溶解度パラメーターなど性質の異なる溶媒を2種類以上混合して使用することが可能である。
一般式(1)で示されるヘテロアセン誘導体を溶媒に混合溶解する際の温度としては、溶解を促進させる目的のため、0〜80℃の温度範囲で行うことが好ましく、10〜60℃の温度範囲で行うことが更に好ましい。
また、一般式(1)で示されるヘテロアセン誘導体を有機溶媒に溶解混合する時間は、均一溶液を得るため、1分〜1時間で溶解することが好ましい。
本発明では本発明の有機半導体層形成用溶液における一般式(1)で示されるヘテロアセン誘導体の濃度が0.1〜10.0重量%の範囲であると、取り扱い容易になり、有機半導体層を形成する際の効率により優れるものとなる。また、有機半導体層形成用溶液の粘度が0.3〜10mPa・sの範囲であると、より好適な塗工性を発現するものとなる。
なお該溶液は、該ヘテロアセン誘導体自体が適度の凝集性を有することから比較的に低温で調製することが可能、且つ耐酸化性があることから、塗布法による有機薄膜の製造に好適に適用できる。即ち、雰囲気から空気を除く必要がないことから塗布工程を簡略化することができる。さらに該溶液は、例えば、ポリスチレン、ポリ(α−メチルスチレン)、ポリビニルナフタレン、エチレン−ノルボルネンコポリマー、ポリフェニレンエーテル、ポリメチルメタクリレート等のポリマーをバインダーとして存在させることもできる。これらのポリマーバインダーの濃度は、適度な溶液の粘度のため、0.1〜10.0重量%であることが好ましい。
本発明の有機半導体層形成用溶液を用いて有機半導体層を形成する際の塗布方法としては、有機半導体層を形成可能な方法であれば特に制限はなく、例えば、スピンコート、ドロップキャスト、ディップコート、キャストコート等の簡易塗工法;ディスペンサー、インクジェット、スリットコート、ブレードコート、フレキソ印刷、スクリーン印刷、グラビア印刷、オフセット印刷等の印刷法を挙げることができ、中でも容易に効率よく有機半導体層とすることが可能となることから、スピンコート、ドロップキャスト、インクジェットであることが好ましい。
本発明の有機半導体層形成用溶液を塗布後、溶媒を乾燥除去することにより有機半導体層を形成することが可能である。
塗布した有機半導体層から溶媒を乾燥除去する際、乾燥する条件に特に制限はなく、例えば、常圧下、又は減圧下で溶媒の乾燥除去を行うことが可能である。
塗布した有機半導体層から有機溶媒を乾燥除去する温度に特に制限はないが効率よく塗布した有機半導体層から有機溶媒を乾燥除去することができ、有機半導体層を形成することが可能であるため、10〜150℃の温度範囲で行うことが好ましい。
塗布した有機半導体層から有機溶媒を乾燥除去する際、除去する有機溶媒の気化速度を調節することで、一般式(1)で示されるヘテロアセン誘導体の結晶成長を制御することが可能である。
本発明の有機半導体層形成用溶液により形成される有機半導体層の膜厚に制限はなく、良好なキャリア移動が得られることから、1nm〜1μmの範囲であることが好ましく、10nm〜300nmの範囲であることが更に好ましい。
また、得られる有機半導体層は、有機半導体層を形成後、40〜180℃でアニール処理を行ってもよい。
本発明の有機半導体層形成用溶液より形成される有機半導体層は、有機半導体デバイス、特に有機薄膜トランジスタの有機半導体層として使用することが可能である。
有機薄膜トランジスタは、基板上に、ソース電極及びドレイン電極を付設した有機半導体層とゲート電極とを絶縁層を介し積層することにより得ることができ、該有機半導体層に本発明の有機半導体層形成用溶液により形成した有機半導体層を用いることにより、優れた半導体・電気特性を発現する有機薄膜トランジスタとすることが可能である。
図1に一般的な有機薄膜トランジスタの断面形状による構造を示す。ここで、(A)は、ボトムゲート−トップコンタクト型、(B)は、ボトムゲート−ボトムコンタクト型、(C)は、トップゲート−トップコンタクト型、(D)は、トップゲート−ボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタであり、1は有機半導体層、2は基板、3はゲート電極、4はゲート絶縁層、5はソース電極、6はドレイン電極を示し、本発明の有機半導体層形成用溶液より形成される有機半導体層は、いずれの有機薄膜トランジスタにも適用することが可能である。
本発明に係る基板としては特に制限はなく、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリメチルメタクリレート、ポリメチルアクリレート、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、環状ポリオレフィン、フッ素化環状ポリオレフィン、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール、ポリ(ジイソプロピルフマレート)、ポリ(ジエチルフマレート)、ポリ(ジイソプロピルマレエート)、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンスルフィド、セルローストリアセテート等のプラスチック基板;ガラス、石英、酸化アルミニウム、シリコン、ハイドープシリコン、酸化シリコン、二酸化タンタル、五酸化タンタル、インジウム錫酸化物等の無機材料基板;金、銅、クロム、チタン、アルミニウム等の金属基板等を挙げることができる。なお、ハイドープシリコンを基板に用いた場合、その基板はゲート電極を兼ねることができる。
本発明に係るゲート電極としては特に制限はなく、例えば、アルミニウム、金、銀、銅、ハイドープシリコン、スズ酸化物、酸化インジウム、インジウムスズ酸化物、クロム、チタン、タンタル、グラフェン、カーボンナノチューブ等の無機材料;ドープされた導電性高分子(例えばPEDOT−PSS)等の有機材料を挙げることができる。
また、上記の無機材料は、金属のナノ粒子インクとしても差し支えなく使用することができる。この場合の溶媒は、適度の分散性のため、水、メタノール、エタノール、2−プロパノール、1−ブタノール、2−ブタノール等の極性溶媒;ヘキサン、ヘプタン、オクタン、デカン、ドデカン、テトラデカン等の炭素数6〜14の脂肪族炭化水素溶媒;トルエン、キシレン、メシチレン、エチルベンゼン、ペンチルベンゼン、ヘキシルベンゼン、オクチルベンゼン、シクロヘキシルベンゼン、テトラリン、インダン、アニソール、1,2−ジメトキシベンゼン、1,3−ジメトキシベンゼン、1,2−ジメチルアニソール、2,3−ジメチルアニソール、3,4−ジメチルアニソール等の炭素数7〜14の芳香族炭化水素溶媒であることが好ましい。該ナノ粒子インクを塗布後、導電性向上のため、80℃〜200℃の温度範囲でアニール処理することが好ましい。
本発明に係るゲート絶縁層としては特に制限はなく、例えば、酸化シリコン、窒化シリコン、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、酸化チタン、二酸化タンタル、五酸化タンタル、インジウム錫酸化物、酸化スズ、酸化バナジウム、チタン酸バリウム、チタン酸ビスマス等の無機材料;ポリメチルメタクリレート、ポリメチルアクリレート、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール、ポリ(ジイソプロピルフマレート)、ポリ(ジエチルフマレート)、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリけい皮酸エチル、ポリけい皮酸メチル、ポリクロトン酸エチル、ポリエーテルスルホン、ポリプロピレン−コ−1−ブテン、ポリイソブチレン、ポリプロピレン、ポリシクロペンタン、ポリシクロヘキサン、ポリシクロヘキサン−エチレン共重合体、ポリフッ素化シクロペンタン、ポリフッ素化シクロヘキサン、ポリフッ素化シクロヘキサン−エチレン共重合体、BCB樹脂(商品名:サイクロテン、ダウ・ケミカル社製)、Cytop(商標)、Teflon(商標)、パリレンC等のパリレン(商標)類のポリマー絶縁材料を挙げることができ、製法が簡便であることから、塗布法が適用できるポリマー絶縁材料(ポリマーゲート絶縁層)であることが好ましい。
該ポリマー材料を溶解させるのに用いる溶媒としては特に制限がなく、例えば、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、デカン、ドデカン、テトラデカン等の炭素数6〜14の脂肪族炭化水素溶媒;THF、1,2−ジメトキシエタン、ジオキサン等のエーテル系溶媒;エタノール、イソプロピルアルコール、1−ブタノール、2−ブタノール、2−エチルヘキサノール等のアルコール系溶媒;アセトン、メチルエチルケトン、ジエチルケトン、ジイソプロピルケトン、アセトフェノン等のケトン系溶媒;酢酸エチル、γ−ブチロラクトン、シクロヘキサノールアセテート、3−メトキシブチルアセテート等のエステル系溶媒;DMF、NMP等のアミド系溶媒;ジプロピレングリコールジメチルエーテル、ジプロピレングリコールジアセテート、ジプロピレングリコールメチル−n−プロピルエーテル、ジプロピレングリコールメチルエーテルアセテート、1,4−ブタンジオールジアセテート、1,3−ブチレングリコールジアセテート、1,3−ブチレングリコールジアセテート、1,6−ヘキサンジオールジアセテート、エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート等のグリコール系溶媒;パーフルオロヘキサン、パーフルオロオクタン、2−(ペンタフルオロエチル)ヘキサン、3−(ペンタフルオロエチル)ヘプタン等のフッ素化溶媒等が挙げられる。
該ポリマー絶縁材料の濃度は、例えば、20〜40℃の温度において0.1〜10.0重量%である。当該濃度において得られる絶縁層の膜厚に制限はなく、耐絶縁性の観点から、好ましくは100nm〜1μm、さらに好ましくは150nm〜900nmである。
そして、これらのゲート絶縁層の表面は、例えば、オクタデシルトリクロロシラン、デシルトリクロロシラン、デシルトリメトキシシラン、オクチルトリクロロシラン、オクタデシルトリメトキシシラン、β−フェネチルトリクロロシラン、β−フェネチルトリメトキシシラン、フェニルトリクロロシラン、フェニルトリメトキシシラン等のシラン類;オクタデシルホスホン酸、デシルホスホン酸、オクチルホスホン酸等のホスホン酸類;ヘキサメチルジシラザン等のシリルアミン類で修飾処理したものであっても使用することができる。一般的にゲート絶縁層の表面処理を行うことにより、有機半導体材料の結晶粒径の増大及び分子配向の向上のため、キャリア移動度、電流オン・オフ比の向上、及び閾値電圧の低下という好ましい結果が得られる。
本発明の有機薄膜トランジスタのソース電極及びドレイン電極の材料としては特に制限がなく、ゲート電極と同様の材料を用いることができ、ゲート電極の材料と同じであっても異なっていてもよく、異種材料を積層してもよい。また、キャリアの注入効率を上げるために、これらの電極材料に表面処理を実施することもできる。表面処理に用いる表明処理剤としては、例えば、ベンゼンチオール、ペンタフルオロベンゼンチオール、4−フルオロベンゼンチオール、4−メトキシベンゼンチオール等を挙げることができる。
本発明の有機薄膜トランジスタは、速い動作性のため、キャリア移動度が、0.1cm2/V・s以上であることが好ましい。また、高いスイッチ特性のため、電流オン・オフ比が、1.0×106以上であることが好ましい。
本発明の有機薄膜トランジスタは、電子ペーパー、有機ELディスプレイ、液晶ディスプレイ、ICタグ(RFIDタグ)、圧力センサー、バイオセンサー等のトランジスタの有機半導体層用途;有機ELディスプレイ材料;有機半導体レーザー材料;有機薄膜太陽電池材料;フォトニック結晶材料等の電子材料に利用することができ、一般式(1)で示されるヘテロアセン誘導体が結晶性の薄膜となるため、有機薄膜トランジスタの半導体層用途として用いられることが好ましい。
本発明の新規なヘテロアセン誘導体は、高いキャリア移動度を与えると共に高耐熱性及び高耐酸化性、適当な溶解性を持っていることから塗布で優れた半導体特性を発現する有機薄膜トランジスタを提供することが可能となり、その効果は極めて高いものである。
以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。
生成物の同定には1H NMRスペクトル、ガスクロマトフラフィー−マススペクトル(GCMS)、及び液体クロマトグラフィー−マススペクトル(LCMS)分析を用いた。
<1H NMRスペクトル分析>
装置;日本電子製、(商品名)Delta V5(400MHz)
<ガスクロマトグラフィー−マススペクトル分析>
装置;パーキンエルマー製、(商品名)オートシステムXL(MS部;ターボマスゴールド)
カラム;J&Wサイエンティフィック社製、(商品名)DB−1,30m。
MSイオン化;電子衝突(EI)法(70エレクトロンボルト)
<液体クロマトグラフィー−マススペクトル(LCMS)分析>
装置;ブルカー・ダルトニクス、(商品名)microTOF focus
MSイオン化;大気圧化学イオン化(APCI)法
LC条件;下記液体クロマトグラフィー分析の項目にて記載の条件
反応の進行の確認等は薄層クロマトグラフィー、ガスクロマトグラフィー(GC)、液体クロマトグラフィー(LC)分析を用いた。
装置;日本電子製、(商品名)Delta V5(400MHz)
<ガスクロマトグラフィー−マススペクトル分析>
装置;パーキンエルマー製、(商品名)オートシステムXL(MS部;ターボマスゴールド)
カラム;J&Wサイエンティフィック社製、(商品名)DB−1,30m。
MSイオン化;電子衝突(EI)法(70エレクトロンボルト)
<液体クロマトグラフィー−マススペクトル(LCMS)分析>
装置;ブルカー・ダルトニクス、(商品名)microTOF focus
MSイオン化;大気圧化学イオン化(APCI)法
LC条件;下記液体クロマトグラフィー分析の項目にて記載の条件
反応の進行の確認等は薄層クロマトグラフィー、ガスクロマトグラフィー(GC)、液体クロマトグラフィー(LC)分析を用いた。
<ガスクロマトグラフィー分析>
装置;島津製作所製、(商品名)GC14B
カラム;J&Wサイエンティフィック社製、(商品名)DB−1,30m
ヘテロアセン誘導体の純度測定は液体クロマトグラフィー分析を用いた。
装置;島津製作所製、(商品名)GC14B
カラム;J&Wサイエンティフィック社製、(商品名)DB−1,30m
ヘテロアセン誘導体の純度測定は液体クロマトグラフィー分析を用いた。
<液体クロマトグラフィー分析>
装置;東ソー製(コントローラー;PX−8020、ポンプ;CCPM−II、デガッサー;SD−8022)
カラム;東ソー製、(商品名)ODS−100V、5μm、4.6mm×250mm
カラム温度;30℃
溶離液;ジクロロメタン:アセトニトリル=2:8(容積比)
流速;1.0ml/分
検出器;UV(東ソー製、(商品名)UV−8020、波長;254nm)。
装置;東ソー製(コントローラー;PX−8020、ポンプ;CCPM−II、デガッサー;SD−8022)
カラム;東ソー製、(商品名)ODS−100V、5μm、4.6mm×250mm
カラム温度;30℃
溶離液;ジクロロメタン:アセトニトリル=2:8(容積比)
流速;1.0ml/分
検出器;UV(東ソー製、(商品名)UV−8020、波長;254nm)。
ヘテロアセン誘導体の融点測定はDSC(示差走査熱量計)を用いた。
<DSC測定>
装置;エスアイアイナノテクノロジー社製、型式;DSC6220
リファレンス;α―アルミナ
昇降温速度;10℃/min
走査範囲;−10℃〜350℃
合成例1(3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの合成)((A1)工程)
窒素雰囲気下、100mlシュレンク反応容器に、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェン(和光純薬工業)0.900g(3.02mmol)及びジエチルエーテル(脱水グレード)25mlを添加した。この溶液を−78℃に冷却し、n−ブチルリチウム(関東化学、1.6M)のヘキサン溶液4.0ml(6.4mmol)を滴下した。この混合物を−78℃で1時間熟成した。一方、窒素雰囲気下、別の100mlシュレンク反応容器に、塩化亜鉛(和光純薬工業)0.904g(6.63mmol)及びTHF(脱水グレード)20mlを添加し、0℃に冷却した。この得られた白色微スラリー溶液を、先に調製した3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンのジリチウム塩中へテフロンキャヌラーを用いて滴下し、さらにTHF(脱水グレード)3mlを用いて100mlシュレンク反応容器及びテフロンキャヌラーを洗浄しながら投入した。得られた混合物を室温まで徐々に昇温しながら攪拌した。生成したチエノ[3,2−b]チオフェン−3,6−ジ亜鉛誘導体のスラリー液に、2,3−ジブロモチオフェン(和光純薬工業)1.55g(6.40mmol)及び触媒としてテトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(東京化成工業)157mg(0.136mmol、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンに対し4.50モル%)を添加した。50℃で16時間反応を実施した後、容器を水冷し1M塩酸25mlを添加することで反応を停止させた。トルエンで抽出し、有機相を食塩水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。減圧濃縮し、得られた残渣をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製(展開溶媒:トルエン)した。減圧濃縮し、得られた残渣をヘキサン20mlで洗浄した。得られた残渣をヘキサン/トルエン=3/2から再結晶精製し、3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの淡黄色固体1.04gを得た(収率52%)。
MS m/z: 464(M++2、60%)、462(M+、100),460(M+−2、45%)。
装置;エスアイアイナノテクノロジー社製、型式;DSC6220
リファレンス;α―アルミナ
昇降温速度;10℃/min
走査範囲;−10℃〜350℃
合成例1(3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの合成)((A1)工程)
窒素雰囲気下、100mlシュレンク反応容器に、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェン(和光純薬工業)0.900g(3.02mmol)及びジエチルエーテル(脱水グレード)25mlを添加した。この溶液を−78℃に冷却し、n−ブチルリチウム(関東化学、1.6M)のヘキサン溶液4.0ml(6.4mmol)を滴下した。この混合物を−78℃で1時間熟成した。一方、窒素雰囲気下、別の100mlシュレンク反応容器に、塩化亜鉛(和光純薬工業)0.904g(6.63mmol)及びTHF(脱水グレード)20mlを添加し、0℃に冷却した。この得られた白色微スラリー溶液を、先に調製した3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンのジリチウム塩中へテフロンキャヌラーを用いて滴下し、さらにTHF(脱水グレード)3mlを用いて100mlシュレンク反応容器及びテフロンキャヌラーを洗浄しながら投入した。得られた混合物を室温まで徐々に昇温しながら攪拌した。生成したチエノ[3,2−b]チオフェン−3,6−ジ亜鉛誘導体のスラリー液に、2,3−ジブロモチオフェン(和光純薬工業)1.55g(6.40mmol)及び触媒としてテトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(東京化成工業)157mg(0.136mmol、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンに対し4.50モル%)を添加した。50℃で16時間反応を実施した後、容器を水冷し1M塩酸25mlを添加することで反応を停止させた。トルエンで抽出し、有機相を食塩水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。減圧濃縮し、得られた残渣をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製(展開溶媒:トルエン)した。減圧濃縮し、得られた残渣をヘキサン20mlで洗浄した。得られた残渣をヘキサン/トルエン=3/2から再結晶精製し、3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの淡黄色固体1.04gを得た(収率52%)。
MS m/z: 464(M++2、60%)、462(M+、100),460(M+−2、45%)。
合成例2 (3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの合成)((B1)工程)
窒素雰囲気下、100mlシュレンク反応容器に、合成例1で合成した3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェン980mg(2.11mmol)、ジクロロビス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(和光純薬工業)30.6mg(0.043mmol)、ヨウ化銅(I)(和光純薬工業)16.7mg(0.088mmol)、THF7ml、及びトリエチルアミン3mlを添加した。さらに及びトリメチルシリルアセチレン(和光純薬工業製)244mg(2.48mmol)を添加した。この混合物を室温(25℃)で17時間反応を実施した。得られた反応混合物にトルエン及び1M塩酸水溶液を添加し、分相後、有機相を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。有機相を減圧濃縮し、得られた残渣をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製した(溶媒;ヘキサン:トルエン=30:1〜5:1)。精製単離物にTHF5ml及びテトラブチルアンモニウムフルオライド(シグマ−アルドリッチ、1.0mol/lTHF溶液)2.5ml(2.5mmol)を添加し、室温で1時間撹拌することで脱トリメチリシリル処理を行った。トルエン及び1M塩酸水溶液を添加し、分相後、有機相を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。有機相を減圧濃縮し、3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの黄色固体469mgを得た(収率63%)。
MS m/z: 352(M+、100%)。
窒素雰囲気下、100mlシュレンク反応容器に、合成例1で合成した3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェン980mg(2.11mmol)、ジクロロビス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(和光純薬工業)30.6mg(0.043mmol)、ヨウ化銅(I)(和光純薬工業)16.7mg(0.088mmol)、THF7ml、及びトリエチルアミン3mlを添加した。さらに及びトリメチルシリルアセチレン(和光純薬工業製)244mg(2.48mmol)を添加した。この混合物を室温(25℃)で17時間反応を実施した。得られた反応混合物にトルエン及び1M塩酸水溶液を添加し、分相後、有機相を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。有機相を減圧濃縮し、得られた残渣をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製した(溶媒;ヘキサン:トルエン=30:1〜5:1)。精製単離物にTHF5ml及びテトラブチルアンモニウムフルオライド(シグマ−アルドリッチ、1.0mol/lTHF溶液)2.5ml(2.5mmol)を添加し、室温で1時間撹拌することで脱トリメチリシリル処理を行った。トルエン及び1M塩酸水溶液を添加し、分相後、有機相を水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。有機相を減圧濃縮し、3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの黄色固体469mgを得た(収率63%)。
MS m/z: 352(M+、100%)。
実施例1 (無置換ヘテロアセン(化合物1)の合成)((C1)工程)
窒素雰囲気下、100mlシュレンク反応容器にトリフェニルホスフィン(シメン)塩化ルテニウム錯体(ストレム)74.7mg(0.132mmol)、ヘキサフルオロりん酸アンモニウム(和光純薬)43.1mg(0.264mmol)、及び1,2−ジクロロエタン12mlを添加し、60℃に加熱した。ここへ合成例2で合成した3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェン465mg(1.32mmol)及び1,2−ジクロロエタン12mlから成る溶液を滴下ロートを用いて滴下し、60℃で6時間加熱した。減圧下、溶媒を除去後、トルエン及び水を添加し、析出した固体を濾過した。固体を水及びメタノールで洗浄し、無置換ヘテロアセン(化合物1)の黄色固体237mgを得た(収率51%)。
MS m/z: 352(M+、100%)、176(M+/2、11%)。
窒素雰囲気下、100mlシュレンク反応容器にトリフェニルホスフィン(シメン)塩化ルテニウム錯体(ストレム)74.7mg(0.132mmol)、ヘキサフルオロりん酸アンモニウム(和光純薬)43.1mg(0.264mmol)、及び1,2−ジクロロエタン12mlを添加し、60℃に加熱した。ここへ合成例2で合成した3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェン465mg(1.32mmol)及び1,2−ジクロロエタン12mlから成る溶液を滴下ロートを用いて滴下し、60℃で6時間加熱した。減圧下、溶媒を除去後、トルエン及び水を添加し、析出した固体を濾過した。固体を水及びメタノールで洗浄し、無置換ヘテロアセン(化合物1)の黄色固体237mgを得た(収率51%)。
MS m/z: 352(M+、100%)、176(M+/2、11%)。
実施例2 (ジアシルヘテロアセン(化合物2)の合成)((D1)工程)
100ml三口フラスコに実施例1で合成した無置換ヘテロアセン(化合物1)230mg(0.652mmol)及びジクロロメタン(脱水グレード)40mlを添加した。この混合物を氷冷し、塩化アルミニウム(和光純薬工業)304mg(2.28mmol)及び塩化ヘキサノイル(シグマ−アルドリッチ)262mg(1.95mmol)を添加した。得られた混合物を室温で41時間攪拌後、氷冷し水50mlを添加することで反応を停止させた。得られた混合物を加熱し、ジクロロメタンを留去した。得られた黄色スラリー液を濾過し、黄色固体を水、1M塩酸、水、及びメタノールで洗浄後、減圧乾燥し、ジアシルヘテロアセン(化合物2)の黄色固体318mgを得た(収率89%)。
MS m/z: 548(M+、100%)。
100ml三口フラスコに実施例1で合成した無置換ヘテロアセン(化合物1)230mg(0.652mmol)及びジクロロメタン(脱水グレード)40mlを添加した。この混合物を氷冷し、塩化アルミニウム(和光純薬工業)304mg(2.28mmol)及び塩化ヘキサノイル(シグマ−アルドリッチ)262mg(1.95mmol)を添加した。得られた混合物を室温で41時間攪拌後、氷冷し水50mlを添加することで反応を停止させた。得られた混合物を加熱し、ジクロロメタンを留去した。得られた黄色スラリー液を濾過し、黄色固体を水、1M塩酸、水、及びメタノールで洗浄後、減圧乾燥し、ジアシルヘテロアセン(化合物2)の黄色固体318mgを得た(収率89%)。
MS m/z: 548(M+、100%)。
実施例3 (ヘテロアセン誘導体(化合物3)の合成)((E1)工程)
窒素雰囲気下、100ml三口フラスコに実施例2で合成したジアシルヘテロアセン(化合物2)318mg(0.579mmol)及びTHF(脱水グレード)30mlを添加した。この混合物を氷冷し、塩化アルミニウム(和光純薬工業)373mg(2.80mmol)、水素化ホウ素ナトリウム(和光純薬工業)203mg(5.37mmol)の順に添加した。この混合物を加熱還流下で5時間攪拌後、水冷し水30mlを添加して反応を停止させた。トルエンで抽出し、有機相を1M塩酸、飽和食塩水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。減圧濃縮し、得られた残渣をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し(展開溶媒:ヘキサン/トルエン=2/1)、さらに得られた化合物をトルエンから1回再結晶精製し、ヘテロアセン誘導体(化合物3)の黄色結晶130mgを得た(収率43%)。
MS m/z: 520(M+、100%)
融点:198℃。
窒素雰囲気下、100ml三口フラスコに実施例2で合成したジアシルヘテロアセン(化合物2)318mg(0.579mmol)及びTHF(脱水グレード)30mlを添加した。この混合物を氷冷し、塩化アルミニウム(和光純薬工業)373mg(2.80mmol)、水素化ホウ素ナトリウム(和光純薬工業)203mg(5.37mmol)の順に添加した。この混合物を加熱還流下で5時間攪拌後、水冷し水30mlを添加して反応を停止させた。トルエンで抽出し、有機相を1M塩酸、飽和食塩水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。減圧濃縮し、得られた残渣をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製し(展開溶媒:ヘキサン/トルエン=2/1)、さらに得られた化合物をトルエンから1回再結晶精製し、ヘテロアセン誘導体(化合物3)の黄色結晶130mgを得た(収率43%)。
MS m/z: 520(M+、100%)
融点:198℃。
合成例3(3,6−ジ(2−クロロチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンの合成)((A2)工程)
窒素雰囲気下、100mlシュレンク反応容器に、3−ブロモ−2−クロロチオフェン(和光純薬工業)1.97g(10.0mmol)及びTHF(脱水グレード)12mlを添加した。この溶液を0℃に冷却し、イソプロピルマグネシウムクロライド(シグマ−アルドリッチ、2.0M)のTHF溶液5.5ml(11mmol)を滴下した。この混合物を0℃で1時間、25℃で2時間熟成した。一方、窒素雰囲気下、別の100mlシュレンク反応容器に、塩化亜鉛(和光純薬工業)1.50g(11.0mmol)及びTHF(脱水グレード)15mlを添加し、0℃に冷却した。この得られた白色微スラリー溶液へ、先に調製した3−ブロモ−2−クロロチオフェンのグリニャール試薬をテフロンキャヌラーを用いて滴下し、さらにTHF(脱水グレード)3mlを用いて100mlシュレンク反応容器及びテフロンキャヌラーを洗浄しながら投入した。得られた混合物を0℃で30分間、さらに室温で15分間攪拌した。生成した2−クロロチエニル−3−亜鉛誘導体の白色微スラリー液に、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェン(和光純薬工業)992mg(3.33mmol)及び触媒としてテトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(東京化成工業)69.7mg(0.0600mmol、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンに対し1.80モル%)を添加した。50℃で5時間反応を実施した後、容器を水冷し1M塩酸20mlを添加することで反応を停止させた。トルエンで抽出し、有機相を食塩水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。減圧濃縮し、得られた残渣をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製(展開溶媒:トルエン)した。減圧濃縮し、得られた残渣をヘキサン15mlで洗浄した。得られた残渣をヘキサン/トルエン=3/2から再結晶精製し、3,6−ジ(2−クロロチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンの淡黄色固体708mgを得た(収率57%)。
MS m/z: 374(M++2、77%)、372(M+、100)。
窒素雰囲気下、100mlシュレンク反応容器に、3−ブロモ−2−クロロチオフェン(和光純薬工業)1.97g(10.0mmol)及びTHF(脱水グレード)12mlを添加した。この溶液を0℃に冷却し、イソプロピルマグネシウムクロライド(シグマ−アルドリッチ、2.0M)のTHF溶液5.5ml(11mmol)を滴下した。この混合物を0℃で1時間、25℃で2時間熟成した。一方、窒素雰囲気下、別の100mlシュレンク反応容器に、塩化亜鉛(和光純薬工業)1.50g(11.0mmol)及びTHF(脱水グレード)15mlを添加し、0℃に冷却した。この得られた白色微スラリー溶液へ、先に調製した3−ブロモ−2−クロロチオフェンのグリニャール試薬をテフロンキャヌラーを用いて滴下し、さらにTHF(脱水グレード)3mlを用いて100mlシュレンク反応容器及びテフロンキャヌラーを洗浄しながら投入した。得られた混合物を0℃で30分間、さらに室温で15分間攪拌した。生成した2−クロロチエニル−3−亜鉛誘導体の白色微スラリー液に、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェン(和光純薬工業)992mg(3.33mmol)及び触媒としてテトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(東京化成工業)69.7mg(0.0600mmol、3,6−ジブロモチエノ[3,2−b]チオフェンに対し1.80モル%)を添加した。50℃で5時間反応を実施した後、容器を水冷し1M塩酸20mlを添加することで反応を停止させた。トルエンで抽出し、有機相を食塩水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。減圧濃縮し、得られた残渣をシリカゲルカラムクロマトグラフィーで精製(展開溶媒:トルエン)した。減圧濃縮し、得られた残渣をヘキサン15mlで洗浄した。得られた残渣をヘキサン/トルエン=3/2から再結晶精製し、3,6−ジ(2−クロロチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンの淡黄色固体708mgを得た(収率57%)。
MS m/z: 374(M++2、77%)、372(M+、100)。
合成例4 (3,6−ジ(2−エチニルチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンの合成)((B2)工程)
合成例2で用いた3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの代わりに、合成例3で合成した3,6−ジ(2−クロロチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンを用い、反応温度を25℃から40℃とした以外は、合成例2と同様の方法により、3,6−ジ(2−エチニルチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンの黄色固体を収率58%で得た。
合成例2で用いた3,6−ジ(3−ブロモチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの代わりに、合成例3で合成した3,6−ジ(2−クロロチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンを用い、反応温度を25℃から40℃とした以外は、合成例2と同様の方法により、3,6−ジ(2−エチニルチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンの黄色固体を収率58%で得た。
実施例4 (無置換ヘテロアセン(化合物4)の合成)((C2)工程)
実施例1で用いた3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの代わりに合成例4で合成した3,6−ジ(2−エチニルチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンを用いた以外は、実施例1と同様の方法により、無置換ヘテロアセン(化合物4)の黄色固体を収率52%で得た。
実施例1で用いた3,6−ジ(3−エチニルチエニル−2−)チエノ[3,2−b]チオフェンの代わりに合成例4で合成した3,6−ジ(2−エチニルチエニル−3−)チエノ[3,2−b]チオフェンを用いた以外は、実施例1と同様の方法により、無置換ヘテロアセン(化合物4)の黄色固体を収率52%で得た。
実施例5 (ジアシルヘテロアセン(化合物5)の合成)((D2)工程)
実施例2で用いた無置換ヘテロアセン(化合物1)の代わりに、実施例4で合成した無置換ヘテロアセン(化合物4)を用いた以外は、実施例2と同様の方法により、ジアシルヘテロアセン(化合物5)の黄色固体を収率86%で得た。
実施例2で用いた無置換ヘテロアセン(化合物1)の代わりに、実施例4で合成した無置換ヘテロアセン(化合物4)を用いた以外は、実施例2と同様の方法により、ジアシルヘテロアセン(化合物5)の黄色固体を収率86%で得た。
実施例6 (ヘテロアセン誘導体(化合物6)の合成)((E2)工程)
実施例3で用いたジアシルヘテロアセン(化合物2)の代わりに、実施例5で合成したジアシルヘテロアセン(化合物5)を用いた以外は、実施例3と同様の方法により、ヘテロアセン誘導体(化合物6)の黄色結晶を収率40%で得た。
融点:204℃。
実施例3で用いたジアシルヘテロアセン(化合物2)の代わりに、実施例5で合成したジアシルヘテロアセン(化合物5)を用いた以外は、実施例3と同様の方法により、ヘテロアセン誘導体(化合物6)の黄色結晶を収率40%で得た。
融点:204℃。
実施例7 (有機半導体層の作製)
空気下、10mlサンプル管に、実施例3で得られたヘテロアセン誘導体(化合物3)0.87mg及びトルエン(和光純薬工業、ピュアーグレード)434mgを添加し、40℃に加熱し溶液を調製した(0.20重量%)。
空気下、10mlサンプル管に、実施例3で得られたヘテロアセン誘導体(化合物3)0.87mg及びトルエン(和光純薬工業、ピュアーグレード)434mgを添加し、40℃に加熱し溶液を調製した(0.20重量%)。
空気下、直径2インチのn型にハイドープしたシリコン基板(ミヨシ、抵抗値;0.004Ω、表面に200nmのシリコン酸化膜付き)上に、得られた溶液0.5mlをシリンジに充填し、0.2μmのフィルターを通した溶液をドロップキャストした。室温下(25℃)で自然乾燥し、膜厚58nmのヘテロアセン誘導体(化合物3)の薄膜を作製した。
(有機薄膜トランジスタの作製)
該有機薄膜にチャネル長20μm、チャネル幅500μmのシャドウマスクを置き、金を真空蒸着することで電極を形成し、ボトムゲート−トップコンタクト型のp型有機薄膜トランジスタを作製した。
該有機薄膜にチャネル長20μm、チャネル幅500μmのシャドウマスクを置き、金を真空蒸着することで電極を形成し、ボトムゲート−トップコンタクト型のp型有機薄膜トランジスタを作製した。
作製した有機薄膜トランジスタの電気物性を半導体パラメーターアナライザー(ケースレー4200SCS)を用いて、ドレイン電圧(Vd=−70V)で、ゲート電圧(Vg)を+5〜−70Vまで1V刻みで走査し、伝達特性の評価を行った。正孔のキャリア移動度は0.68cm2/V・s、電流オン・オフ比は3.0×107であった。
さらにこの有機薄膜トランジスタを150℃で15分間アニール処理した後の電気物性を測定した。正孔のキャリア移動度は0.66cm2/V・s、電流オン・オフ比は2.7×107であり、熱処理による性能の低下はほとんど見られなかった。
実施例8 (有機半導体層の作製)
空気下、10mlサンプル管に、実施例6で得られたヘテロアセン誘導体(化合物6)0.87mg及びトルエン(和光純薬工業、ピュアーグレード)434mgを添加し、40℃に加熱し溶液を調製した(0.20重量%)。
空気下、10mlサンプル管に、実施例6で得られたヘテロアセン誘導体(化合物6)0.87mg及びトルエン(和光純薬工業、ピュアーグレード)434mgを添加し、40℃に加熱し溶液を調製した(0.20重量%)。
空気下、直径2インチのn型にハイドープしたシリコン基板(ミヨシ、抵抗値;0.004Ω、表面に200nmのシリコン酸化膜付き)上に、得られた溶液0.5mlをシリンジに充填し、0.2μmのフィルターを通した溶液をドロップキャストした。室温下(25℃)で自然乾燥し、膜厚54nmのヘテロアセン誘導体(化合物6)の薄膜を作製した。
(有機薄膜トランジスタの作製)
該有機薄膜にチャネル長20μm、チャネル幅500μmのシャドウマスクを置き、金を真空蒸着することで電極を形成し、ボトムゲート−トップコンタクト型のp型有機薄膜トランジスタを作製した。
該有機薄膜にチャネル長20μm、チャネル幅500μmのシャドウマスクを置き、金を真空蒸着することで電極を形成し、ボトムゲート−トップコンタクト型のp型有機薄膜トランジスタを作製した。
作製した有機薄膜トランジスタの電気物性を半導体パラメーターアナライザー(ケースレー4200SCS)を用いて、ドレイン電圧(Vd=−70V)で、ゲート電圧(Vg)を+5〜−70Vまで1V刻みで走査し、伝達特性の評価を行った。正孔のキャリア移動度は0.76cm2/V・s、電流オン・オフ比は4.0×107であった。
さらにこの有機薄膜トランジスタを150℃で15分間アニール処理した後の電気物性を測定した。正孔のキャリア移動度は0.74cm2/V・s、電流オン・オフ比は3.8×107であり、熱処理による性能の低下はほとんど見られなかった。
比較例1
(有機半導体層の作製)
空気下、10mlサンプル管に、ジn−オクチルベンゾチエノベンゾチオフェン(シグマ―アルドリッチ)0.87mg及びトルエン(和光純薬工業、ピュアーグレード)434mgを添加し、40℃に加熱し溶液を調製した(0.20重量%)。
(有機半導体層の作製)
空気下、10mlサンプル管に、ジn−オクチルベンゾチエノベンゾチオフェン(シグマ―アルドリッチ)0.87mg及びトルエン(和光純薬工業、ピュアーグレード)434mgを添加し、40℃に加熱し溶液を調製した(0.20重量%)。
空気下、直径2インチのn型にハイドープしたシリコン基板(ミヨシ、抵抗値;0.004Ω、表面に200nmのシリコン酸化膜付き)上に、得られた溶液0.5mlをシリンジに充填し、0.2μmのフィルターを通した溶液をドロップキャストした。室温下(25℃)で自然乾燥し、膜厚53nmのジn−オクチルベンゾチエノベンゾチオフェンの薄膜を作製した。
(有機薄膜トランジスタの作製)
実施例8と同様の方法により、ボトムゲート−トップコンタクト型のp型有機薄膜トランジスタを作製した。
実施例8と同様の方法により、ボトムゲート−トップコンタクト型のp型有機薄膜トランジスタを作製した。
正孔のキャリア移動度は0.10cm2/V・s、電流オン・オフ比は2.2×106であった。150℃で15分間アニール処理した後の正孔のキャリア移動度は0.001cm2/V・sであり、熱処理による著しい性能の低下が見られた。顕微鏡観察から有機半導体薄膜が加熱により破壊されていることが確認された。
本発明の有機薄膜トランジスタは、高いキャリア移動度を与えると共に、耐熱性及び耐酸化性に優れ、適当な溶解性を有することから有機薄膜トランジスタに代表される半導体デバイス材料としての適用が期待できる。
(A):ボトムゲート−トップコンタクト型有機薄膜トランジスタ
(B):ボトムゲート−ボトムコンタクト型有機薄膜トランジスタ
(C):トップゲート−トップコンタクト型有機薄膜トランジスタ
(D):トップゲート−ボトムコンタクト型有機薄膜トランジスタ
1:有機半導体層
2:基板
3:ゲート電極
4:ゲート絶縁層
5:ソース電極
6:ドレイン電極
(B):ボトムゲート−ボトムコンタクト型有機薄膜トランジスタ
(C):トップゲート−トップコンタクト型有機薄膜トランジスタ
(D):トップゲート−ボトムコンタクト型有機薄膜トランジスタ
1:有機半導体層
2:基板
3:ゲート電極
4:ゲート絶縁層
5:ソース電極
6:ドレイン電極
Claims (7)
- 下記一般式(1)で示されるヘテロアセン誘導体。
- 置換基R1〜R5は水素であり、置換基R6は水素、フッ素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数1〜20のアシル基、炭素数2〜20のアルケニル基、炭素数2〜20のアルキニル基、炭素数4〜20のアリール基からなる群から選ばれ、T1及びT2は硫黄、T3は硫黄、セレン、又は酸素であることを特徴とする請求項1に記載のヘテロアセン誘導体。
- 請求項1〜請求項4のいずれかに記載のヘテロアセン誘導体を溶媒に溶解することで得られることを特徴とする有機半導体層形成用溶液。
- 請求項5に記載の有機半導体層形成用溶液を用いて得られることを特徴とする有機半導体層。
- 請求項6に記載の有機半導体層を用いて得られることを特徴とする有機薄膜トランジスタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016137087A JP2018008885A (ja) | 2016-07-11 | 2016-07-11 | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016137087A JP2018008885A (ja) | 2016-07-11 | 2016-07-11 | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018008885A true JP2018008885A (ja) | 2018-01-18 |
Family
ID=60993680
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016137087A Pending JP2018008885A (ja) | 2016-07-11 | 2016-07-11 | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2018008885A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115210239A (zh) * | 2020-03-04 | 2022-10-18 | 东曹株式会社 | 芳香族化合物、有机半导体层和有机薄膜晶体管 |
JP7493228B2 (ja) | 2019-09-03 | 2024-05-31 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 有機半導体材料および有機薄膜トランジスタ |
-
2016
- 2016-07-11 JP JP2016137087A patent/JP2018008885A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7493228B2 (ja) | 2019-09-03 | 2024-05-31 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 有機半導体材料および有機薄膜トランジスタ |
CN115210239A (zh) * | 2020-03-04 | 2022-10-18 | 东曹株式会社 | 芳香族化合物、有机半导体层和有机薄膜晶体管 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5990870B2 (ja) | ジチエノベンゾジチオフェン誘導体溶液及び有機半導体層 | |
KR101490299B1 (ko) | 디티에노벤조디티오펜 유도체를 포함하는 유기 반도체 재료 전구체, 잉크, 절연 부재, 전하 수송성 부재 및 유기 전자 디바이스 | |
KR20120043009A (ko) | 신규한 유기 반도체 재료 및 이것을 이용한 전자 디바이스 | |
JP2012206953A (ja) | ジチエノベンゾジチオフェン誘導体及びこれを用いた有機薄膜トランジスタ | |
JP7159586B2 (ja) | 芳香族化合物、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
JP5948772B2 (ja) | ジチエノベンゾジチオフェン誘導体組成物及びこれを用いた有機薄膜トランジスタ | |
JP6079259B2 (ja) | 有機半導体層及び有機薄膜トランジスタ | |
JP2014110347A (ja) | 有機半導体層形成用材料 | |
WO2018181462A1 (ja) | 芳香族化合物、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
JP2018008885A (ja) | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
JP6252032B2 (ja) | ベンゾジフラン誘導体及び有機薄膜トランジスタ | |
JP6962090B2 (ja) | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
JP2018035110A (ja) | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
JP2018043947A (ja) | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
JP6780365B2 (ja) | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
JP6551163B2 (ja) | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
JP6399956B2 (ja) | ヘテロアセン誘導体、その製造方法、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
JP6413863B2 (ja) | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
JP6686559B2 (ja) | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
JP2018016551A (ja) | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
JP6364876B2 (ja) | ヘテロアセン誘導体、有機半導体層、及び有機薄膜トランジスタ | |
EP3902023B1 (en) | Composition containing organic semiconductor, solution for forming organic semiconductor layer, organic semiconductor layer, and organic thin film transistor | |
JP6047969B2 (ja) | ジチエノベンゾジチオフェン誘導体溶液及びこれを用いた有機半導体層 | |
EP4116304A1 (en) | Aromatic compound, organic semiconductor layer and organic thin film transistor | |
JP6364878B2 (ja) | 有機薄膜トランジスタ |