JP2017509251A - 暗電流低減および低電力消費を伴う撮像のための方法 - Google Patents

暗電流低減および低電力消費を伴う撮像のための方法 Download PDF

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Abstract

本発明は、ゼロ電位(Vss)の第1の電源端子と、正の電源電位(Vdd)の第2の電源端子との間で電力供給される、アクティブピクセルの行および列のマトリクスを備えた画像センサにおいて画像を撮像するための方法に関する。各ピクセルは、フォトダイオードと、光生成された電荷を電荷蓄積ノードへ転送するためのゲートとを含む。電荷積分時間の間、電荷ポンプによって負の電位(VNEG)が転送ゲートに印加され、それは、転送時間窓の間、全てのピクセルに共通な転送制御信号(TRA)を受け取る。転送またはリセット制御信号は、少なくとも、この信号が負の電位(VNEG)から正の転送電位へ移行する第1の段階と、この信号が正の転送電位から第1の電源端子によって供給されるゼロ電位へ移行する第2の段階と、この信号がゼロ電位のままである有限の持続時間である第3の段階と、この信号がゼロ電位から電荷ポンプによって供給される負の電位に戻る第4の段階と、を連続的に含む。電源電位を介して移行することは、転送の終了時に負の電位VNEGを再確立しなくてはならない電荷ポンプにおける電流要求を制限する。

Description

本発明は、アクティブピクセルを有する電子画像センサに関する。
これらのセンサは、各ピクセル中に受光素子および複数のトランジスタを有する、行および列になっているピクセルのアレイを使用する。
ピクセルの1つの有利な構成は、図1に示すような構成であり、これは、
− 自己バイアス(または「ピン止め」)フォトダイオードPHと、
− コンデンサと等価である、電荷蓄積ノードNDと、
− 蓄積ノードからフォトダイオードを分離するための、または逆に、フォトダイオードから蓄積ノードへの電荷の転送を、この転送の後に蓄積ノードの電位を測定するために可能にするための、転送トランジスタT1と、
− 電荷を読み出すための、電圧フォロアモードに設定されたトランジスタT2であって、蓄積ノードの電位がトランジスタのソースに転送されることを可能にするために、トランジスタのゲートが蓄積ノードに接続されている、トランジスタT2と、
− 蓄積ノードをリセットするためのトランジスタT3であって、フォトダイオードから到来する電荷が存在する状態およびフォトダイオードから到来する電荷が存在しない状態での蓄積ノードの電位の差動測定のために、蓄積ノードの電位が基準電位を測定するための基準値に設定されることを可能にする、トランジスタT3と、
− ピクセル選択トランジスタT4であって、行アドレス指定導体SELによって制御され、読み出しトランジスタT2のソースの電位が列導体COLに転送されることを可能にし、行導体SELがピクセルの同じ行の全てのピクセルで共通であり、列導体COLがピクセルの同じ列の全てのピクセルで共通である、ピクセル選択トランジスタT4と、
− 最後に、任意選択的に、次の2つの機能のうちの1方および/または他方を有することができる、追加のトランジスタT5であって、2つの機能とはすなわち、照明があまりにも強すぎる場合にはフォトダイオード中の過剰な電荷をアンチブルーミング・ドレインに向けて排出することと、さもなければ、フォトダイオードが新規の積分期間の開始に先立ち空の電位を回復するために、蓄積された電荷をドレインに向かって完全に空にすることにより、フォトダイオードの電位をリセットすることであり、トランジスタT5は任意選択であり、全てのピクセルに共通な積分時間の開始を定義することを可能にする、トランジスタT5と、を備える。
用語「トランジスタ」は、図1の図などの電気回路図に関して理解を容易にするために使用されることに、留意されたい。しかしながら、ピクセルの物理的な構成において、これらのトランジスタは必ずしも、ピクセルの他の構成要素から独立して、ソース領域、ドレイン領域、ドレインからソースを分離するチャネル領域、およびチャネル上部の絶縁ゲートを有する、従来の方式で形成されていない。ピクセルの実際の物理的な構成では、特定のトランジスタは実際には、制御電位を適用することができる絶縁ゲートによって、実質的に形成される。したがって、たとえば、転送トランジスタT1は、基板から分離された転送ゲートによって形成され、フォトダイオードPHと電荷蓄積ノードを形成しているN+型の拡散との間に位置している領域上に存在し、トランジスタT1のソースはフォトダイオードであり、トランジスタのドレインは電荷蓄積ノードである。同様に、トランジスタT5は絶縁ゲートを使用して、一方の側はフォトダイオード(トランジスタのソースを形成する)に隣接して、他方の側は電荷排出ドレイン(トランジスタのドレインを形成する)に隣接して形成される。
従来技術のセンサでは、一般的に暗電流と呼ばれるもの、換言すると、照明が存在しないときには電荷も存在しないことにつながるべきであるのに、照明が存在しないときでさえ漂遊電荷の流れが存在することが示される。これらの漂遊電荷は、信号/雑音比を低減し、低照明状態が測定される場合に特に有害である。
暗電流の一部は、フォトダイオードを隣接するフォトダイオードから絶縁するためにそのフォトダイオードを取り囲む絶縁酸化シリコンと、フォトダイオードの領域Nとの間の界面の欠陥に起因する。この絶縁酸化物は、一般的に(「シャロウ・トレンチ・アイソレーション」(Shallow Trench Isolation)に対する)頭字語STIで知られ、表面のトレンチ内部に含まれており、この表面のトレンチは、リセット動作の間に電荷をフォトダイオードから空にするために確保される必要があり得る通路(トランジスタT5)を除いて、蓄積ノードへフォトダイオードから電荷を転送するために確保される必要がある通路(トランジスタT1)を別として、フォトダイオード全体を取り囲む。界面欠陥は電子を捕捉し、これらの電子は続いて解放され、フォトダイオードから蓄積ノードへ電荷が転送される瞬間に、蓄積ノードに向けて引き寄せられる。この理由のために、これらの電子は実際には照明から生じたものではない漂遊電荷であるが、これらの電子は照明から得られる有用な電荷として見なされるであろう。
この効果を可能な限り抑制するために、(N型の)フォトダイオード領域と絶縁体が充填されたトレンチとの間にP型の領域を挿入するというアイデアが、既に提案されている。このP領域は、フォトダイオードが形成されるP型のシリコンの活性層と接触している。このP領域は、フォトダイオードのN領域を取り囲み、フォトダイオードのN領域が分離トレンチと直接的に接触するのを防止する。このP領域は、漂遊電荷を中和するように分離トレンチと反応する、不活性化層として作用する。しかしながら、工業的工程においては、このP領域が存在する場合、転送トランジスタT1のまたはトランジスタT5のゲート(多結晶シリコンで作製されている)の下にP型の領域を配置することは不可能である。その理由は、P型の注入は実際にはゲートを形成した後に実行されなくてはならないこと、また、したがって、ゲートの下にP型の不純物を注入することが不可能であることである。しかしながら、酸化シリコンから作製される分離トレンチは、ゲートの下に延在し、他の場所同様この場所でP領域によってそれらを不活性化することが好ましいであろう。
結果として、トランジスタT1およびT5のゲートの下の半導体領域は、酸化シリコンに直接的に接触したままであり、上文に提示されたものの原理上、有害な暗電流を生成する可能性がある。
転送トランジスタT1のゲートは、光生成電荷の積分の間、ゼロ電位の代わりに、わずかに負の電位(約−0.7ボルト)に維持されることができる。この電圧は、正孔が引き寄せられてゲートの下に蓄積されることを可能にする。酸化物/シリコンの界面に捕捉された電子は、次いで、これらの移動性の正孔と再結合して消滅し、したがって、フォトダイオードから蓄積ノードへ電荷が転送される間に、望ましくない電子が蓄積ノードに向かって進む危険性を排除する。
しかしながら、集積回路が0ボルトと3から5ボルトの正の電圧との間で電力供給されるのに対して、この負の電圧を生成するために、電荷ポンプを使用しなくてはならない。電荷ポンプは50%未満、時には更には30%未満の、低効率を有する。したがって、電荷ポンプは、電荷ポンプが供給しなくてはならない電流よりもはるかに多くの電流を消費する。
「グローバルシャッター」モードと呼ばれるセンサの動作の1つのモードにおいては、換言するとグローバルな露光時間を伴うと、転送段階はセンサの全ピクセルについて同時になる。ピクセルアレイの全ての転送ゲートは、フォトダイオードから蓄積ノードへ電荷を転送するために同時に活性化される。200万ピクセルを有するセンサについて、転送パルスが終了する瞬間に−0.7ボルトの電位に戻るための電荷ポンプにおける電流要求は80ミリアンペアを超えることがあり、これは、遷移があまりにも急激にならないように、制御パルス立ち下がり時間が少なくとも300ナノ秒に強制されるという条件付きでのことである。並列に接続された全ての転送ゲートの等価な容量を放電するために電荷ポンプによって供給される80ミリアンペアは、電荷ポンプの低効率のせいで、250ミリアンペアの全体的な電流消費に相当することがあり得る。
転送ゲートの高状態から低状態への切り替えまたはその逆の瞬間に非常に高い電流要求という困難を生みだすことなく、暗電流の問題を解決するために、本発明のアイデアは、低状態へのこの切替を3つの別々の段階に分けて実行することであり、この3つの別々の段階とは、正の電圧からゼロ(センサの1つの電源端子の電位)への推移、次いでゼロにおける安定化、次いで、ゼロから電荷ポンプによって供給される負の電圧への推移、である。転送パルスの間に転送ゲートに蓄積された電荷の大部分は、それから第1に、電荷ポンプではなくゼロボルト(接地)の電源端子に放電する。電荷ポンプは、転送トランジスタのゲートの0ボルトからわずかに負の電圧(たとえば−0.7ボルト)への推移のみを提供する。
その結果として、本発明は、アクティブピクセルの行および列のマトリクスを備えた、ゼロ電位の第1の電源端子と正の電源電位の第2の電源端子との間で電力供給された画像センサにおいて画像を撮像するための方法を提供し、この画像センサ中の各ピクセルは、ゼロ基準電位の能動半導体層内部に形成されたフォトダイオードと、光によって生成された電荷をフォトダイオードから電荷蓄積ノードへ転送するための電荷転送ゲートと、任意選択的に、フォトダイオードの電位をリセットするためのゲートと、を含み、この方法はマトリクスの全ピクセルのフォトダイオードから対応する蓄積ノードへの電荷のグローバル転送のためのステップと、任意選択的に全てのフォトダイオードをリセットするためのステップとを含み、以下を特徴とする、すなわち、電荷積分時間の大部分の間、負の電位が電荷ポンプによって転送ゲートおよび/またはリセットゲートに印加され、転送時間窓の間、全てのピクセルに共通な転送またはリセット制御信号をそれが受け取り、この転送またはリセット制御信号は、少なくとも、この信号が負の電位から正の転送電位へ移行する第1の段階と、この信号が正の転送電位から第1の電源端子によって供給されるゼロ電位へ移行する第2の段階と、この信号がゼロ電位のままである有限の持続時間である第3の段階と、この信号がゼロ電位から電荷ポンプによって供給される負の電位に戻る第4の段階と、を連続的に含むことを特徴とする。
電荷ポンプは、積分時間の間、負の電位を維持するために使用されるが、この段階において高い電流要求を受けない。電荷ポンプは、第2および第3の段階の間は使用されない。次いで、電荷ポンプは転送制御信号の終了時に電位をゼロから負の電位へ駆動するために使用されるが、そのとき、電位差は、第1の段階の正の電位と最終的な負の電位との間に存在する差よりも低くなる。容量放電に起因する電流要求は、それに応じて低減される。電流要求の利得は、電圧のこれら2つの差の比率になる。
たとえば、正の電位が3.3ボルトであり、負の電位が−0.7ボルトである。電流消費の利得は、比率4ボルト/0.7ボルトであり、約5.7になる。
正の電位からゼロ電位への推移は電荷ポンプによって実行されないが、容量放電電流はゼロ電位の電源端子へと直接的に流れる。したがって、電荷ポンプの低効率は、この段階において問題にならない。
一実施形態では、転送パルス(またはリセットパルス)の立ち下がりエッジのみが、第1の電源端子によって直接的に供給されるゼロ電位を通しての推移のための段階を経験する。
別の実施形態では、対称性の理由から、転送パルスの立ち上がりエッジに同じ形状が与えられ、この形状は、電荷ポンプによって供給される負の電位から第1の電源端子によって供給されるゼロ電位までの立ち上がり段階と、この電位における有限の持続時間である段階と、ゼロ電位から電荷の転送をもたらす正の電位への立ち上がり段階と、を備える。
転送ゲートに負の電圧を印加することを想定しているセンサが、次の刊行物に記載されている。米国特許出願2008296630号明細書、米国特許出願第8,163 591号明細書、米国特許出願第2009/0219418号明細書、ならびに、Bongki Mheen、Young−Joo Song、およびAlbert J.P.Theuwissen著、Negative Offset Operation of Four−Transistor CMOS Image Pixels for Increased Well Capacity and Suppressed Dark Current。
本発明の他の特徴および利点が、以下に続いており添付の図面を参照して提示される詳細な説明を読むことで、明らかになるであろう。
既に説明した、5つのトランジスタを有する従来のピクセルの電気回路図を示す。 ピクセルの一般的な動作のタイミング図を示す。 本発明のフォトダイオードのための転送またはリセット制御パルスに従った、1つの可能な形状の例を示す。 本発明に従った、フォトダイオードのための転送またはリセット制御パルスの理論的な形状を示す。 電荷ポンプの回復時間を考慮に入れた、制御パルスの実際の形状を示す。 本発明に従った、センサの動作のタイミング図を示す。 転送またはリセット信号を生成するための回路を示す。 図7の回路において使用される信号を示す。
図2は、第5のトランジスタを積分期間(「グローバルシャッター」モードと呼ばれるモードで動作)の開始をトリガするために使用した、5つのトランジスタを有するピクセルの従来の動作のタイミング図を示す。「グローバルシャッター」モードにおける動作はトランジスタT5が存在しないときにも可能であろうが、積分時間は調節可能ではなくなり、積分時間は期間FRと等しくなるであろう。
動作は、フレーム期間FRを伴って周期的である。フレームは、トランジスタT5が設けられたとき、全てのピクセルについて同時に、トランジスタT5のゲートに印加されたリセットパルスGRで開始する。このパルスは、フォトダイオードにおいて光によって積分されてきた電荷を空にする。パルスGRの終わりは、全てのピクセルに共通して、積分時間Tiの開始を示す。この時間の終わりは、転送トランジスタT1のゲートに印加された転送パルスTRAの終わりによって定義されるであろう。グローバルシャッターモードにおいては全てのピクセルに共通なこのパルスは、積分された電荷をフォトダイオードから蓄積ノードNDへ転送する。
積分時間の間、パルスTRAの前に、蓄積ノードに含まれている可能性のある電荷を空にするために、リセット電位レベル(線RST)がトランジスタT3のゲートに印加される。この信号は、転送パルスに先立って、必然的に中断される。
積分時間Tiの後で、ピクセルは行毎に読み出され、各行が読み出されるときを定義するために、選択信号(線SEL)が連続的に各行に印加される。この信号は、図2では1行のみについて示されている。この信号は、トランジスタT4のゲートに印加される。読み出しが、ピクセルの各列の下部に位置し、それぞれの列導体COLに接続されている、図示していない読み出し回路内で実行される。読み出し回路は、転送パルスTRAの後の列導体の有用な電位レベルとリセット後の電位レベルとをそれぞれサンプリングするために使用されるパルスshsおよびshrによって制御されるサンプリング回路を特に含む。測定は、各期間における2つのサンプルの間の差によって行われる。
所与の行に対する、この行に印加されるパルス信号SELによって定義される読出し段階は、サンプリングパルスshsの生成と、関心対象の行のピクセルの蓄積ノードをリセットするためのトランジスタT3のゲート上でのパルスrstの生成と、サンプリングパルスshrの生成と、を連続的に含む。サンプリングされた信号の差は、アナログ−デジタル変換器(図示せず)によって変換される。
従来技術では、転送信号TRAと、必要な場合にはフォトダイオードをリセットするための信号GRとは、全てのピクセルに共通であり、通常は、フォトダイオードが形成される能動半導体層の電位であるゼロボルトの基準電圧から開始するパルスである。これらのパルスは、短時間の間正の値を取り、これらのパルスはフォトダイオードに蓄積された電荷を空にすることを可能にする。
次いで、転送制御またはリセット制御信号が図3Aに示されるゼロから正の転送電位へ向かう矩形形状を有し、この正の転送電位は、センサが2つの電源端子Vss(ゼロ)とVdd(正)の間で電力供給されるとき、Vddであり得る。Vddは典型的には3.3ボルトである。
上記で説明してきたように、積分段階の間制御信号がわずかに負の電圧(たとえば−0.7ボルト)に保持される場合、かつ、立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジがあまりに高い電流要求を防止するために最小限の持続時間を有するように強制される場合、パルスの形状は、図3Bの形状であり得る。エッジの最小持続時間はたとえば300ナノ秒であり、信号TRAまたはGRの全持続時間はおよそ1マイクロ秒であり得る。
本発明に従うと、図4Aに示されるように、転送またはリセット制御信号のプロファイルには異なる形状が与えられ、この異なる形状は、この信号がその高い正のレベルにある瞬間とこの信号がその低い負のレベルに戻る瞬間との間に、電源ゼロ電位を通じた有限の持続時間のための信号の推移を加える。したがって、転送またはリセット制御信号は、少なくとも、信号が負の電位から正の転送電位へ移行する(かつ好ましくは数百ナノ秒の期間、そこにとどまっている)第1の段階と、信号が正の転送電位から第1の電源端子によって供給されるゼロ電位へ移行する第2の段階と、信号がゼロ電位のままである有限の持続時間である第3の段階と、信号がゼロ電位から電荷ポンプによって供給される負の電位に戻る第4の段階と、に分解することができる。
信号がゼロ電位のままである期間は短い期間であることができる。この期間は、マトリクスの全てのトランジスタのゲート容量をゼロまで放電することを可能にするために十分でなければならず、約百ナノ秒で十分であろう。
任意選択的に、対称性および信号の構造の簡略化の理由から、図4Bに示されるように、信号がその低い負のレベルにある瞬間と信号がその高い正のレベルに届く瞬間との間の、有限の持続時間の電源ゼロ電位を通じた推移が、第1の段階の間にも加えられる。
正の電位までの累進的な上り勾配が、電流要求を制限するために、第1の段階において好ましくは(しかし必ずしも必要ではなく)設けられ、同様に、第2の段階において、正の電位からの累進的な下り勾配が、好ましくは設けられる。立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジは、このとき、100ナノ秒から400ナノ秒の間、続くことができる。同様の下りまたは上り勾配が、任意選択的に、第4の段階(ゼロから−0.7ボルトに立ち下がる)、および負の電位からゼロ電位への立ち上がり中に、設けられることができる。
リセットトランジスタT5が設けられ、かつ、このトランジスタが積分時間の開始を定義するために活性化される場合、図4Aおよび図4Bに示された制御信号の形状は、転送制御信号TRAに対して、およびリセット制御信号GRに対して、使用することができる。これらの形状は、これら2つの信号のうちの1方のみに対して使用することもでき、他方は、電源ゼロ電位に保持するための段階を含まない。図4Aおよび図4Bに図示された信号形状は、説明を簡単にするために示された理論上の形状である。実際の形状は、より通常は、電荷ポンプによって生成される電圧(たとえば、理論的には−0.7ボルト)は、電荷ポンプがオンにされたときから始まってその公称値に戻るのに一定の時間を要するという事実のおかげで、以下に説明するように、図5Aおよび図5Bにおいて示される形状になる。
図6は、センサの動作の一般的なタイミング図を示す。タイミング図は図2のものと同様であり、説明も同じであり、違いは次の点である、すなわち、ここでは、信号TRAおよびGR(またはこの2つのうちの少なくとも1つ)の低い電位は、電荷積分時間の間、負であることと、転送制御信号の形状とリセット信号の形状とは、少なくとも正の電位から低い負の電位に向かう立ち下がりについて、図4Aおよび図4Bを参照して説明した、ゼロ電位の有限(ゼロ以外)の持続時間の平坦部を含むことである。転送(またはリセット)制御信号の持続時間は、1ミリ秒程度とすることができる。
図6の図では、転送制御信号の低い電位は電荷積分期間の全体に渡り負であり、電荷読み出しの間(換言すると、連続的な行の選択のための信号SELの間)低い状態のままであることに、留意されたい。しかしながら、点線によって示されるように、転送制御信号は、読出し段階の間、ゼロ電位にリセットされることができる。電荷ポンプは読み出しの間は必要とされていないので、ポンプの高周波切替からのスプリアス信号に関連した、干渉ノイズが蓄積ノード上に導入されない。図2のように図6では、単一の行について、選択信号selおよび読み出し信号shs、rst、shrのみが示されており、これらの信号は、様々な行の選択および読み出しを実行するために、連続的に繰り返される。
図7は、センサのピクセルの同一行の全てのピクセルの転送トランジスタT1のゲートを接続する行制御回路を示す。この回路は、ピクセルの1つの行のリセットトランジスタT5のゲートを接続する行の制御についても同じであろう。各制御回路は、基本的に、電力増幅器AMPおよび関連した電圧選択部を備える。増幅器AMPは、典型的に50から100マイクロアンペアの最大電流となる、行の全てのトランジスタのゲート容量のための電荷電流を供給することが可能である。増幅器の出力電流が制限されているという事実は、行のゲートに印加される信号についての上り勾配を定義する。たとえば、100マイクロアンペアに制限された電流は、行容量が6ピコファラドである場合、約250ナノ秒の立ち上がりまたは立ち下がり時間を定義する。
増幅器AMPは、センサの一般的な正の電源端子によって直接的に供給される電圧Vdd(たとえば、3.3ボルト)であり得る高電圧VHIと、電圧選択部VLOSELによって供給される低電圧VLOとの間で、電力供給される。
電圧選択部は、ゼロ電位の一般的な電源端子によって供給される低電源電位Vssと、電荷ポンプPCHによって供給される負の電位VNEGの両方を受け取る。電圧選択部の出力において、電圧選択部がその制御入力d_VLOで受け取る論理信号に応じて、電圧選択部は電位VssおよびVNEGの一方または他方を供給する。したがって、増幅器は、2つの電源端子によってVddとVssの間で、またはVddとVNEGの間で、したがって正の電源端子と電荷ポンプの出力の間で、それぞれ、信号d_VLOの高状態または低状態にしたがって、電力供給される。電荷ポンプは、制御回路の各々がピクセルのそれぞれの行に割り当てられている場合、これらの全ての制御回路で共通である。
増幅器AMPは更にその入力上で論理制御パルスd_TRAを受け取り、この論理制御パルスd_TRAは、シーケンサー(図示せず)によって供給され、センサの動作のために様々な周期的な信号を確立する。信号d_TRAは、積分時間の終了時に転送するための命令を表す。この信号の値は、積分時間全体の間、低論理レベル0になる。この信号は、図4Aおよび図4Bで示された転送信号の全持続時間の間のみ、高論理レベル1に移行する。d_TRAが低レベルであるとき、増幅器はその出力において、電圧VLO、換言すると、VssかVNEGのいずれかを供給する。d_TRAが高レベルであるとき、増幅器はその出力において、電圧VHI、換言すると、Vddを供給する。
同じ説明が、信号GRに対しても適用可能である。
シーケンサーは更に、電圧選択部VLOSELを制御するように意図された論理信号d_VLOを供給する。信号d_VLOが低レベルであるとき、電圧選択部は増幅器に−0.7ボルトの負の電圧VNEGを供給する。d_VLOが高いとき、選択部はVssを供給する。
図8は制御信号d_VLOおよびd_TRA、ならびにこれらに起因する転送制御信号TRAを示す。
d_VLOおよびd_TRAが低レベルであるとき、電荷ポンプは増幅器にVNEGを供給し、増幅器はゲートの行にVNEGを供給する。これは、積分時間Ti全体についての場合である。
d_VLOが高レベルに移行すると、増幅器はセンサの低電源端子から電圧Vssを受け取る。増幅器はその出力にVssを供給する。
d_TRAが続いて高論理レベルに移行すると、増幅器の出力TRAは、増幅器の出力で供給することができる可能な最大電流によって定義された、非ゼロの立ち上がり時間で、Vddに移行する。TRAはその後、信号d_TRAの持続時間の間、Vddのままになる。TRAは、増幅器の入力において吸収することができる可能な最大電流によって定義された非ゼロの立ち下がり時間で、信号d_TRAの終了時にレベルVssまで下がる。最後に、信号TRAは信号d_VLOの終了時に負の電圧VNEGに徐々に戻ることが分かる。このゆっくりとした戻りは、電圧VNEGが電荷ポンプによって供給されるという事実に起因する。電荷ポンプは全ての増幅器を介してセンサの行の全てのゲートによって充電されるので、電荷ポンプは、電荷ポンプに要求される公称の負の電圧に徐々に達する電圧を供給する。
負の電圧を公称値、たとえば−0.7ボルト、へ戻すことを加速させることが望まれる場合、電圧VNEGが制限値を超えた絶対値に低下した場合にのみ動作させられる電荷ポンプPCHと並列に、1つまたは複数の他の電荷ポンプを設けることができる。主の電荷ポンプPCHは積分時間の間中−0.7ボルトのレベルを保持し、他のポンプは信号d_VLOの終了時のみ動作する。電荷ポンプの出力は、並列に接続される。集合の出力に並列に配置された電圧調整器は、主電荷ポンプの出力電圧を設定値と比較する。差があまりにも大きい場合、調整器は補助電荷ポンプを動作させるための信号を供給する。
図7および図8を参照して信号TRAに関して述べてきた全ての点は、リセット信号GRにも当てはまる。積分時間の間にトランジスタT5がアンチブルーミング機能を提供しなくてはならない場合、この時間の間そのゲートに印加される負の電圧のために、転送トランジスタのゲートの下に同じ瞬間に生成される電位障壁よりもわずかに低い電位障壁を半導体中に加えることが、望ましい。これは、トランジスタT5の閾値電圧がトランジスタT1の閾値電圧よりも低くなるように備えることによって達成される。これは、これら2つのトランジスタについて、異なるチャネルドーピングまたは異なるゲート酸化物の厚さを有することにより、得ることができる。また、それは、積分段階の間トランジスタT5のゲートに印加される負の電圧が、トランジスタT1のゲートに印加される電圧よりわずかに高くなる(より小さな負である)ように備えることもできる。しかしながら、またそれは、トランジスタT5がアンチブルーミングトランジスタとして使用されず、補助アンチブルーミング手段が設けられる場合であることもできる。

Claims (3)

  1. アクティブピクセルの行および列のマトリクスを備えた、ゼロ電位(Vss)の第1の電源端子と正の電源電位(Vdd)の第2の電源端子との間で電力供給される、画像センサ内で画像を撮像するための方法であって、前記画像センサ中の各ピクセルは、前記ゼロ基準電位の能動半導体層内部に形成されたフォトダイオード(PH)と、光によって生成された電荷を前記フォトダイオードから電荷蓄積ノード(ND)へ転送するための電荷転送ゲート(T1)と、潜在的に、前記フォトダイオードの電位をリセットするためのゲート(T5)と、を含み、前記方法が、前記マトリクスの全ての前記ピクセルの前記フォトダイオードから前記対応する蓄積ノードへの前記電荷のグローバル転送のためのステップと、任意選択的に全ての前記フォトダイオードをリセットするためのステップとを含む方法において、電荷積分時間(Ti)の大部分の間、負の電位(VNEG)が電荷ポンプ(PCH)によって前記転送ゲートおよび/または前記リセットゲートに印加され、転送時間窓の間、全ての前記ピクセルに共通な転送制御信号(TRA)またはリセット制御信号(GR)をそれが受け取り、前記転送または前記リセット制御信号が、少なくとも、前記信号が前記負の電位(VNEG)から正の転送電位へ移行する第1の段階と、前記信号が前記正の転送電位から前記第1の電源端子によって供給される前記ゼロ電位へ移行する第2の段階と、前記信号が前記ゼロ電位のままである有限の持続時間である第3の段階と、前記信号が前記ゼロ電位から前記電荷ポンプによって供給される前記負の電位に戻る第4の段階と、を連続的に含むことを特徴とする、方法。
  2. 請求項1に記載の画像を撮像するための方法において、前記負の電位の前記正の電位への立ち上がりの間、前記転送パルスの立ち上がりエッジに立ち下がりエッジと同じ形状が与えられ、この形状が、前記電荷ポンプによって供給される前記負の電位から前記第1の電源端子によって供給される前記ゼロ電位までの立ち上がり段階と、この電位における有限の持続時間である段階と、前記ゼロ電位から電荷の前記転送をもたらす前記正の電位への立ち上がり段階と、を有することを特徴とする、方法。
  3. 請求項1または2に記載の画像を撮像するための方法において、前記積分時間の間、負の電圧を維持するために動作する前記電荷ポンプが、前記電荷転送パルスまたは前記リセットパルスの終了時に使用される少なくとも1つの補助電荷ポンプによって支援されることを特徴とする、方法。
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