JP2017507358A - 特にマイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系のサブアセンブリ - Google Patents
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Abstract
Description
本願は、2014年2月21日付けで出願された独国特許出願第10 2014 203 144.3号の優先権を主張する。当該出願の内容を、参照により本明細書に援用する。
素子と、
上記素子の温度を制御する少なくとも1つの温度制御デバイスと
を備え、上記温度制御デバイスは、少なくとも1つの管状部を有する閉回路内に冷媒を有し、当該冷媒は、2相転移(two-phase transition)を行いながら管状部内で素子から又は素子へ輸送可能であり、
加熱デバイスが、冷媒を加熱することにより冷媒の輸送を遮断するために設けられるサブアセンブリに関する。
素子と、
上記素子の温度を制御する少なくとも1つの温度制御デバイスと
を備え、上記温度制御デバイスは、少なくとも1つの管状部を有する閉回路内に冷媒を有し、当該冷媒は、2相転移を行いながら管状部内で素子から又は素子へ輸送可能であり、
管状部は弾性変形可能であるサブアセンブリにも関する。
素子と、
上記素子の温度を制御する少なくとも1つの温度制御デバイスと
を備え、上記温度制御デバイスは、少なくとも1つの管状部を有する閉回路内に冷媒を有し、当該冷媒は、2相転移を行いながら管状部内で素子から又は素子へ輸送可能であり、
管状部の長さ対外径の比が、少なくとも50:1であるサブアセンブリにも関する。
Claims (24)
- 特にマイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系のサブアセンブリであって、
素子(10、20、30、40、50、60、70)と、
前記素子の温度を制御する少なくとも1つの温度制御デバイスと
を備え、前記少なくとも1つの温度制御デバイスは、少なくとも1つの管状部を有する閉回路内に冷媒を有し、該冷媒は、2相転移を行いながら前記管状部内で前記素子から又は該素子へ輸送可能であり、
加熱デバイス(15、25)が、前記冷媒を加熱することにより該冷媒の輸送を遮断するために設けられるサブアセンブリ。 - 請求項1に記載のサブアセンブリにおいて、前記加熱デバイス(15、25)は電気加熱デバイスであることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1又は2に記載のサブアセンブリにおいて、前記管状部は弾性変形可能であることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載のサブアセンブリにおいて、前記管状部の長さ対外径の比が、少なくとも5:1、より詳細には少なくとも10:1であることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜4のいずれか1項に記載のサブアセンブリにおいて、前記管状部の長さ対外径の比が、少なくとも50:1、より詳細には少なくとも80:1であることを特徴とするサブアセンブリ。
- 特にマイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系のサブアセンブリであって、
素子(10、20、30、40、50、60、70)と、
前記素子の温度を制御する少なくとも1つの温度制御デバイスと
を備え、前記少なくとも1つの温度制御デバイスは、少なくとも1つの管状部を有する閉回路内に冷媒を有し、該冷媒は、2相転移を行いながら前記管状部内で前記素子から又は前記素子へ輸送可能であり、
前記管状部は弾性変形可能であるサブアセンブリ。 - 特にマイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系のサブアセンブリであって、
素子(10、20、30、40、50、60、70)と、
前記素子の温度を制御する少なくとも1つの温度制御デバイスと
を備え、前記少なくとも1つの温度制御デバイスは、少なくとも1つの管状部を有する閉回路内に冷媒を有し、該冷媒は、2相転移を行いながら前記管状部内で前記素子から又は前記素子へ輸送可能であり、
前記管状部の長さ対外径の比が、少なくとも50:1であるサブアセンブリ。 - 請求項1〜7のいずれか1項に記載のサブアセンブリにおいて、該サブアセンブリは、少なくとも1自由度での前記素子の調整を可能にする少なくとも1つのフレクシャ(26、36、46、56、66、76)を有することを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項8に記載のサブアセンブリにおいて、前記フレクシャ(26、56、66)は管状部に形成されることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜9のいずれか1項に記載のサブアセンブリにおいて、前記管状部は変断面を有することを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜10のいずれか1項に記載のサブアセンブリにおいて、ポンプデバイスも設けられることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項11に記載のサブアセンブリにおいて、前記ポンプデバイスは、前記回路内に存在する前記冷媒を操作するよう構成されることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項11に記載のサブアセンブリにおいて、前記ポンプデバイスは、第1回路と熱交換する2次回路に設けられることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜13のいずれか1項に記載の方法において、前記温度制御デバイスはヒートパイプ(13、33、43、53、63、73)として構成されることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜14のいずれか1項に記載のサブアセンブリにおいて、前記温度制御デバイスは2相熱サイフォン(23、53)として構成されることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜15のいずれか1項に記載のサブアセンブリにおいて、該サブアセンブリは、特に行列状配置の複数の温度制御デバイスを有することを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜16に記載のサブアセンブリにおいて、前記素子(10、20、30、40、50、60、70)は反射光学素子であることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜16のいずれか1項に記載のサブアセンブリにおいて、前記素子はEUV光源のコレクタミラーであることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜16のいずれか1項に記載のサブアセンブリにおいて、前記素子はマイクロリソグラフィマスクであることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜16のいずれか1項に記載のサブアセンブリにおいて、前記素子(10、20、30、40、50、60、70)は、相互に独立して調整可能な複数のミラー素子を備えたミラー構成体のミラー素子であることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項20に記載のサブアセンブリにおいて、前記ミラー構成体は、ファセットミラー、特に視野ファセットミラー(803)又は瞳ファセットミラー(804)であることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜21のいずれか1項に記載のサブアセンブリにおいて、前記素子(10、20、30、40、50、60、70)は、30nm未満、特に15nm未満の作動波長用に設計されることを特徴とするサブアセンブリ。
- 請求項1〜22のいずれか1項に記載のサブアセンブリを備えたマイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系、特に照明デバイス又は投影レンズ。
- マイクロリソグラフィ投影露光装置(800)であって、請求項23に記載の光学系を備えたマイクロリソグラフィ投影露光装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102014203144.3A DE102014203144A1 (de) | 2014-02-21 | 2014-02-21 | Baugruppe eines optischen Systems, insbesondere in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
DE102014203144.3 | 2014-02-21 | ||
PCT/EP2015/052825 WO2015124471A1 (en) | 2014-02-21 | 2015-02-11 | Subassembly of an optical system, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017507358A true JP2017507358A (ja) | 2017-03-16 |
JP2017507358A5 JP2017507358A5 (ja) | 2018-03-22 |
Family
ID=52598721
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016553420A Pending JP2017507358A (ja) | 2014-02-21 | 2015-02-11 | 特にマイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系のサブアセンブリ |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20160334719A1 (ja) |
JP (1) | JP2017507358A (ja) |
KR (1) | KR20160124102A (ja) |
CN (1) | CN106062633A (ja) |
DE (1) | DE102014203144A1 (ja) |
TW (1) | TWI663479B (ja) |
WO (1) | WO2015124471A1 (ja) |
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- 2015-02-11 KR KR1020167022360A patent/KR20160124102A/ko not_active Application Discontinuation
- 2015-02-16 TW TW104105435A patent/TWI663479B/zh active
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KR20160124102A (ko) | 2016-10-26 |
US20160334719A1 (en) | 2016-11-17 |
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A521 | Request for written amendment filed |
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