JP2017207593A - 表示体およびその真贋判定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明に係る表示体は、凹凸構造形成層を含み、複数の画素を備える。また、前記画素は、赤色サブ画素と、緑色サブ画素と、青色サブ画素を備え、前記凹凸構造形成層には、前記各サブ画素が配置された領域において、直線状の凹部または凸部が所定の空間周波数で設けられており、前記複数の画素は、一定のピッチで格子状に配列されており、そのピッチは、3.0μm〜20.0μmである。さらに、本発明に係る表示体は、複数の画素から射出される回折光の配光分布を用いて、その真贋判定が行われる。
(凹凸構造形成層)
凹凸構造形成層2は、光透過性を有しており、典型的には透明、特に無色透明である。なお、凹凸構造形成層2の凹凸構造の詳細については、後述する(画素が設けられた領域における凹凸構造形成層の凹凸構造)の項で説明する。
本発明の表示体10は、光反射層、接着層などその他の層を更に含んでいてもよい。
次に、画素が設けられた領域における凹凸構造形成層の凹凸構造を説明する。
式(1)において、Pは回折格子の周期を表し、mは回折次数を表し、λは入射光および回折光の波長を表している。また、αは、照明光の入射角、βは、m次回折光(m=0、±1、±2、・・・)の射出角を表している。
次に、上記に説明した画素の配列について説明する。
本発明の表示体は、観察者が目視可能な画像を表示する。以下、図7を参照して、この画像表示について説明する。
次に、本発明に係る表示体を真贋判定する方法について説明する。
(表示体を適切に設置する工程)
本工程は、本発明に係る表示体10を所定の位置に設置する工程である。
本工程は、表示体10の画像領域に光を照射する工程である。
本工程は、画像領域から射出される回折光L2,L3を光センサ6により受光して、回折光L2,L3の配光分布を読み取る工程である。
本工程は、読み取られた回折光L2,L3の配光分布に関するデータを用いて、表示体10の真贋判定を行う工程である。
次に、本発明の表示体の製造方法を説明する。
<表示体の製造>
(実施例1)
以下のようにして、本発明の表示体を製造した。
各サブ画素の領域を、水平方向(X方向)に5分割して、その分割した領域にそれぞれ、凸部の長さ方向とX軸のなす角度が、+25°、+12.5°、0°、−5°、−12.5°、−25°となるように回折格子を設けたこと以外は実施例1と同様にして、表示体を製造した。
画素の一辺の長さを30μmに変更した以外は実施例1と同様にして、表示体を製造した。
画素の一辺の長さを30μmに変更した以外は実施例2と同様にして、表示体を製造した。
実施例1および2で製造した表示体に表示される画像を目視により観察した。観察時の白色光の入射角αを45度とし、表示面に対し法線方向から画像を観察した。
実施例1および2、ならびに比較例1および2で製造した表示体に対して、これら表示体から射出される回折光の配光分布を読み取り、真贋判定が実施できるかを検討した。
4 画像
10 表示体
PE 画素
PER 赤色サブ画素
PEG 緑色サブ画素
PEB 青色サブ画素
Claims (7)
- 凹凸構造形成層を含み、複数の画素を備える表示体であって、
前記画素は、赤色サブ画素と、緑色サブ画素と、青色サブ画素を備え、
前記凹凸構造形成層には、前記各サブ画素が配置された領域において、直線状の凹部または凸部が所定の空間周波数で設けられており、
前記複数の画素は、一定のピッチで格子状に配列されており、そのピッチは、3μm〜20μmであり、
前記複数の画素から射出される回折光の配光分布を用いて、前記表示体の真贋判定が行われることを特徴とする、表示体。 - 前記赤色サブ画素、緑色サブ画素、青色サブ画素の各サブ画素が、画像の水平方向に連続して配置されていることを特徴とする、請求項1に記載の表示体。
- 前記赤色サブ画素、緑色サブ画素、青色サブ画素の各サブ画素が、画像の垂直方向に連続して配置されていることを特徴とする、請求項1に記載の表示体。
- 光反射層が、前記凹凸構造形成層の凹凸面を少なくとも一部被覆していることを特徴とする、請求項1から3のいずれかに記載の表示体。
- 前記回折光の配光分布が、配光角の変化に伴う回折光の輝度分布であり、前記輝度分布において、回折光の輝度の増減が、一定の周期で繰り返されていることを特徴とする、請求項1から4のいずれかに記載の表示体。
- 請求項1から4のいずれかに記載の表示体の真贋判定方法であって、
前記表示体を所定の位置に設置する工程と、
前記表示体の画像領域に光を照射する工程と、
前記画像領域から射出される回折光を光センサにより受光して、回折光の配光分布を読み取る工程と、
前記読み取られた回折光の配光分布に関するデータを用いて、表示体の真贋判定を行う工程と、
を含むことを特徴とする、真贋判定方法。 - 前記回折光の配光分布は、配光角の変化に伴う回折光の輝度分布であることを特徴とする、請求項6に記載の真贋判定方法。
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