JP2017200124A - Package for electronic component accommodation, and electronic device using the same - Google Patents

Package for electronic component accommodation, and electronic device using the same Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a package for electronic component accommodation capable of downsizing an external dimension of a product while improving conductivity when mounting an electronic component within a cavity.SOLUTION: A package 1A for electronic component accommodation comprises: a package body 3 in which a cavity 5 is formed for accommodating an electronic component 15; at least one step 6 protrusively provided in at least a part of an inner side face of the cavity 5; at least one groove 9 formed on a step surface 7 of the step 6; a vertical conductor 10 which is attached into the groove 9 or fills the inside of the groove; and a first conductor pad 11 attached onto a horizontal surface 8 of the step 6 and electrically connected with the vertical conductor 10. An end face shape of the groove 9 on the horizontal surface 8 forms a part of any annular shape and in a case where any annular shape is overlapped with the end face shape of the groove 9, a region where both the shapes are overlapped is less than 50%.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、圧電素子や、ICチップ及び温度センサー等の電子部品を収納するための電子部品収納用パッケージおよびそれを用いた電子装置に関する。   The present invention relates to an electronic component storage package for storing electronic components such as a piezoelectric element, an IC chip, and a temperature sensor, and an electronic device using the same.

従来から、電子機器の小型低背化のニーズに応えるべく、それに内蔵される電子装置やそれに用いる電子部品収納用パッケージも小型低背化が求められている。
一般に、圧電素子等の電子部品の電子部品収納用パッケージへの搭載方法としては、例えば、特開2009−141666号公報(特許文献1)に開示される方法が知られている。
より具体的には、特許文献1の図2に従来技術として示されているように、電子部品収納用パッケージである容器本体1の中空部(キャビティ)の内側面に階段状の段差部を形成し、この段差部の水平面に電極貫通孔7を形成してその内部に導体金属を充填し、さらにこの電極貫通孔7の上端部を被覆するように水晶保持端子5を形成しておき、この水晶保持端子5に圧電素子である水晶片3の端子を導電性接着剤11を介して接合していた。
ところが、上述のような特許文献1の図2に示される構造を採用する場合、容器本体1のキャビティ(中空部)の内側面に突設される段差部にクラック等を生じさせることなく電極貫通孔7を形成するために、キャビティ(中空部)の内側面から段差部の端面までの距離を十分に確保する必要があった。
この場合、電子部品収納用パッケージの容器本体1の外形寸法を小型化しづらいという課題があった。
そして、このような事情に対処するための発明がいくつか開示されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in order to meet the need for a small and low-profile electronic device, an electronic device incorporated in the electronic device and a package for storing an electronic component used therein are also required to be small and low-profile.
In general, as a method for mounting an electronic component such as a piezoelectric element on an electronic component storage package, for example, a method disclosed in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2009-141666 (Patent Document 1) is known.
More specifically, as shown in FIG. 2 of Patent Document 1 as a prior art, a stepped step portion is formed on the inner surface of the hollow portion (cavity) of the container body 1 that is an electronic component storage package. Then, the electrode through hole 7 is formed in the horizontal surface of the stepped portion, the inside thereof is filled with a conductive metal, and the crystal holding terminal 5 is formed so as to cover the upper end portion of the electrode through hole 7. The terminal of the crystal piece 3, which is a piezoelectric element, is bonded to the crystal holding terminal 5 via the conductive adhesive 11.
However, when the structure shown in FIG. 2 of Patent Document 1 as described above is adopted, the electrode penetrates without causing a crack or the like in the stepped portion projecting from the inner surface of the cavity (hollow portion) of the container body 1. In order to form the hole 7, it was necessary to ensure a sufficient distance from the inner surface of the cavity (hollow part) to the end face of the stepped part.
In this case, there is a problem that it is difficult to reduce the outer dimensions of the container body 1 of the electronic component storage package.
And some inventions for dealing with such a situation are disclosed.

特許文献1には「表面実装用の水晶発振器」という名称で、表面実装用の水晶発振器(以下、表面実装発振器とする)を技術分野とし、特に大きなICチップを収容して小型化を維持した安価な表面実装発振器に関する発明が開示されている。
特許文献1に開示される発明は、文献中の符号をそのまま用いて説明すると、底壁1aと枠壁1bとからなるとともに内壁段部を有して凹状とした積層セラミックからなる容器本体1と、前記容器本体1の内底面に設けられた回路端子6にIC端子が固着されたICチップ2と、前記容器本体1の一端側に設けられた内壁段部の表面上に設けられた水晶保持端子5に励振電極から引出電極の延出した一端部両側が固着された水晶片3とを備え、前記回路端子6における前記IC端子中の水晶端子が接続する水晶回路端子6aが前記内壁段部に最も接近して配置された表面実装用の水晶発振器において、前記内壁段部に最も接近した前記水晶回路端子6aから壁面に延出した内底面の導電路6x上と前記水晶保持端子5とが前記水晶片3の一端部両側が固着される導電性接着剤11によって電気的に接続したことを特徴とするものである。
つまり、特許文献1に開示される発明は、特許文献1の図2に示す従来技術における電極貫通孔7を形成して導体金属を充填することに代えて、キャビティ(中空部)の内側面に突設される段差部の端面に導電性接着剤11を塗布することで、キャビティ(中空部)の内側面から段差部の端面までの距離を短くして、電子部品収納用パッケージである容器本体1の外形寸法を維持したまま大きなICチップを収納するというものである。
上記構成の特許文献1に開示される発明によれば、容器本体の内壁段部に水晶片の一端部を固着する導電性接着剤11によって水晶保持端子と水晶回路端子とを接続するため、従来例のように電極貫通孔を必要としない。したがって、内壁段部の突出長を短くして容器本体の内底面の面積を大きくできる。また、電極貫通孔を設けないため、貫通孔を形成する加工工程で段差部にクラックが発生することも無い。
In Patent Document 1, the name “surface mounted crystal oscillator” is used, and a surface mount crystal oscillator (hereinafter referred to as a surface mount oscillator) is a technical field. An invention relating to an inexpensive surface-mount oscillator is disclosed.
The invention disclosed in Patent Document 1 will be described using the reference numerals in the document as they are, and a container body 1 made of a laminated ceramic having a bottom wall 1a and a frame wall 1b and having an inner wall step portion and a concave shape; An IC chip 2 in which an IC terminal is fixed to a circuit terminal 6 provided on the inner bottom surface of the container main body 1 and a crystal holder provided on the surface of an inner wall step provided on one end side of the container main body 1 The crystal circuit terminal 6a to which the crystal terminal 3 in the IC terminal of the circuit terminal 6 is connected is provided to the terminal 5 and the crystal piece 3 to which both ends of the extension electrode extending from the excitation electrode are fixed to the terminal 5. In the surface-mount crystal oscillator disposed closest to the inner wall, the crystal holding terminal 5 and the conductive path 6x on the inner bottom surface extending from the crystal circuit terminal 6a closest to the inner wall step to the wall surface One end of the crystal piece 3 A conductive adhesive 11 on both sides are fixed is characterized in that the electrically connected.
In other words, the invention disclosed in Patent Document 1 is provided on the inner surface of the cavity (hollow part) instead of forming the electrode through hole 7 in the prior art shown in FIG. By applying the conductive adhesive 11 to the projecting end surface of the stepped portion, the distance from the inner surface of the cavity (hollow portion) to the end surface of the stepped portion is shortened, and the container body which is an electronic component storage package A large IC chip is accommodated while maintaining the external dimensions of 1.
According to the invention disclosed in Patent Document 1 having the above-described configuration, the crystal holding terminal and the crystal circuit terminal are connected by the conductive adhesive 11 that fixes one end of the crystal piece to the inner wall step portion of the container body. No electrode through-hole is required as in the example. Therefore, the protrusion length of the inner wall step portion can be shortened to increase the area of the inner bottom surface of the container body. Further, since no electrode through hole is provided, no crack is generated in the stepped portion in the processing step for forming the through hole.

特許文献2には「セラミックパッケージ及び電子装置」という名称で、半導体素子などの電子部品を搭載するためのセラミックパッケージ及びこのセラミックパッケージを使用した電子装置に関する発明が開示されている。
特許文献2に開示される発明は、電子部品搭載のためのキャビティをほぼ中央部に備えたセラミック基板を含むセラミックパッケージであって、前記キャビティを規定するセラミック基板の側壁に、該側壁を垂直方向に切欠きかつ貫通する半長円形の横断面をもった導体パターンが形成されており、そして前記導体パターンが、前記セラミック基板の表面及び(又は)内部に設けられた配線パターンどうしを接続していることを特徴とするものである。
上記構成の特許文献2に開示される発明によれば、側面導通が可能なセラミックパッケージであって、製造が容易であり、導体パターンを備えた凹溝の幅が狭く、高密度配線が可能であり、また、凹溝の寸法精度が高く位置ズレも示さないセラミックパッケージを提供することができる。また、中心軸に対する垂直断面形状が半長円形をなす導体パターンを形成するための貫通孔の加工工程において、キャビティに掛かるように金型パンチなどで貫通孔加工を行うため、グリーンシートにクラックが発生しにくくなる。
Patent Document 2 discloses an invention related to a ceramic package for mounting an electronic component such as a semiconductor element and an electronic device using the ceramic package under the name of “ceramic package and electronic device”.
The invention disclosed in Patent Document 2 is a ceramic package including a ceramic substrate having a cavity for mounting an electronic component in a substantially central portion, and the side wall is perpendicular to the side wall of the ceramic substrate that defines the cavity. A conductor pattern having a semi-oval circular cross section that is notched and penetrated is formed, and the conductor pattern connects the wiring patterns provided on the surface and / or inside of the ceramic substrate. It is characterized by being.
According to the invention disclosed in Patent Document 2 having the above configuration, it is a ceramic package capable of lateral conduction, easy to manufacture, the width of the concave groove provided with the conductor pattern is narrow, and high-density wiring is possible. In addition, it is possible to provide a ceramic package having a high dimensional accuracy of the groove and showing no positional deviation. In addition, in the process of forming a through-hole for forming a conductor pattern having a semi-oval shape with a cross section perpendicular to the central axis, the green sheet is cracked because the through-hole is processed with a die punch or the like so as to be applied to the cavity. Less likely to occur.

特開2009−141666号公報JP 2009-141666 A 特開2004−55985号公報JP 2004-55985 A

特許文献1に開示される発明の場合、容器本体1のキャビティの内壁段部の端面に導電性接着剤11を垂らして、段差部の端面に導電性接着剤11を塗布している。
この場合、容器本体1のキャビティの内壁段部(段差部)の突出長を短くできるというメリットを有するものの、製品製造時の歩留まりが低下するという課題があった。
より具体的には、容器本体1のキャビティの内壁段部の端面における導電性接着剤11の垂らし方によっては、垂らした導電性接着剤11が目的とする電極に接触しないことにより導通不良が生じる、あるいは、垂らした導電性接着剤11が目的外の電極に接触してショートが起こるリスクが高まり、結果として製品の歩留まりが低下する懸念があった。
In the case of the invention disclosed in Patent Document 1, the conductive adhesive 11 is hung on the end surface of the inner wall step portion of the cavity of the container body 1 and the conductive adhesive 11 is applied to the end surface of the step portion.
In this case, although it has the merit that the protrusion length of the inner wall step part (step part) of the cavity of the container main body 1 can be shortened, there is a problem that the yield at the time of product manufacture is reduced.
More specifically, depending on how the conductive adhesive 11 hangs down on the end face of the inner wall step of the cavity of the container body 1, poor conduction occurs because the dropped conductive adhesive 11 does not contact the target electrode. Alternatively, there is a concern that the dripping conductive adhesive 11 may come into contact with an undesired electrode to increase the risk of a short circuit, resulting in a decrease in product yield.

特許文献2に開示される発明の場合は、半長円形の導体パターンをキャビティの内側面に形成される段差部の端面に設けることで、キャビティの内側面から段差部の端面までの距離を短くできるという効果が期待できる反面、以下に示す不具合の発生が予測される。
この不具合について図10を参照しながら詳細に説明する。
図10は、未焼成セラミックシートに貫通孔を形成して、この貫通孔に未焼成導体金属を充填してなるものの、貫通孔周辺の表面の形状を可視化した図である。
通常、貫通孔が形成される未焼成セラミックシートと、貫通孔内に充填される未焼成導体金属は、図10に示すように、焼成後の貫通孔の開口部に凹みが生じる、あるいは、貫通孔の開口部周辺よりも開口部内の起伏が激しくなる、といった状態が生じる。
そして、引用文献2に開示される発明の場合は、上記図10に示すような凹みを有する、あるいは、起伏が激しくて平坦性が極めて悪い導体金属上に、例えば、圧電素子等の電子部品の電極を接合するので、導通不良が生じるリスクが高まる。このため、製品製造時に良品率が低下することが予測され、生産性を向上し難かった。
また、特許文献2に開示される発明では、半長円形の貫通孔が完全に導体金属で満たされている場合で、かつ、このような半長円形の貫通孔を備えた段差部の端面とその基部に配される平面に印刷塗布される導体パターンが近接している場合は、その様子を真上から撮像した画像において、画像処理により半長円形の貫通孔の位置を特定することが困難である。
つまり、キャビティの内側面に突設される段差部の水平面と、この段差部の基部に配される平面との境界を、これらを真上から撮像した画像を画像処理した際に半長円形の貫通孔の位置を特定することが困難になる。この場合、半長円形の貫通孔の上端面を避けてボンディングワイヤの接続位置を決定することができないという不具合が生じる。
In the case of the invention disclosed in Patent Document 2, the distance from the inner surface of the cavity to the end surface of the step portion is shortened by providing a semi-oval conductive pattern on the end surface of the step portion formed on the inner surface of the cavity. While the effect of being able to be expected can be expected, the following troubles are expected to occur.
This problem will be described in detail with reference to FIG.
FIG. 10 is a diagram visualizing the shape of the surface around the through-hole, although a through-hole is formed in the unfired ceramic sheet and the through-hole is filled with an unfired conductor metal.
Normally, the unfired ceramic sheet in which the through hole is formed and the unfired conductive metal filled in the through hole have a dent in the opening of the through hole after firing, as shown in FIG. There arises a state in which the undulations in the opening become more intense than the periphery of the opening of the hole.
In the case of the invention disclosed in the cited document 2, an electronic component such as a piezoelectric element is formed on a conductor metal having a dent as shown in FIG. Since the electrodes are joined, there is an increased risk of poor conduction. For this reason, it is predicted that the non-defective product rate is reduced during the production of the product, and it is difficult to improve the productivity.
Further, in the invention disclosed in Patent Document 2, when the semi-elliptical through hole is completely filled with a conductive metal, and the end face of the step portion provided with such a semi-elliptical through hole and When the conductor pattern to be printed and applied is close to the plane arranged at the base, it is difficult to specify the position of the semi-oval through hole by image processing in the image taken from above. It is.
In other words, the boundary between the horizontal surface of the stepped portion projecting from the inner surface of the cavity and the plane disposed at the base of the stepped portion is a semi-oval shape when an image obtained by directly imaging these is image-processed It becomes difficult to specify the position of the through hole. In this case, there arises a problem that the connection position of the bonding wire cannot be determined avoiding the upper end surface of the semi-oval through hole.

本発明はかかる従来の事情に対処してなされたものであり、キャビティ内に電子部品を実装する際に導通不良が起こるリスクを低減しつつ、電子部品収納用パッケージの外形寸法を小型化できる電子部品収納用パッケージおよびそれを用いた電子装置を提供することにある。
さらに、上記電子部品収納用パッケージを真上から撮像した際に、この画像を画像処理することでキャビティ内に形成される段差部に形成される半円形の貫通孔がある位置を容易に特定できる電子部品収納用パッケージおよびそれを用いた電子装置を提供することにある。
The present invention has been made in response to such a conventional situation, and an electronic device capable of reducing the outer dimensions of an electronic component storage package while reducing the risk of poor conduction when mounting electronic components in a cavity. It is an object to provide a component storage package and an electronic device using the same.
Furthermore, when the electronic component storage package is imaged from directly above, the position of the semicircular through hole formed in the stepped portion formed in the cavity can be easily identified by performing image processing on this image. An object of the present invention is to provide an electronic component storage package and an electronic device using the same.

上記課題を解決するため第1の発明である電子部品収納用パッケージは、絶縁体であるセラミック焼結体と導体金属とからなる電子部品収納用パッケージであって、電子部品を収納するキャビティが形成されたパッケージ本体と、キャビティの内側面の少なくとも一部に突設される少なくとも1の段差部と、この段差部の段差面を鉛直上下方向に切り欠いてなる少なくとも1つの溝部と、この溝部内に被着又は充填され導体金属からなる垂直方向導体部と、段差部の水平面に被着され導体金属からなり垂直方向導体部と電気的に接続される第1の導体パッド部と、を有し、水平面上における溝部の端面形状は、任意の環状形状の一部をなし、環状形状と端面形状とを重ね合せた場合に、双方が重なり合う領域は50%を下回り、垂直方向導体部は、パッケージ本体の内部、及び、外側面又は下面、に配される導体金属を介して外部と電気的に接続可能であることを特徴とするものである。
上記構成の第1の発明において、パッケージ本体はそのキャビティ内に所望の電子部品を導通状態を維持しながら収納するという作用を有する。また、キャビティの内側面の少なくとも一部に突設される段差部は、キャビティ内において鉛直方向の導通構造を形成するという作用を有する。
具体的には、段差部の段差面に形成される溝部は、導体金属を収容保持するという作用を有する。なお、第1の発明において「段差面」とは、段差部の鉛直上方側に配される水平面と、鉛直下方側に形成される水平面との間に形成される鉛直面である。そして、垂直方向導体部は、段差部の水平面側に配される導体金属と、段差部の基部側に配される導体金属とを導通させるという作用を有する。加えて、第1の導体パッド部は、段差部の水平面上に実装される電子部品、又は、段差部の水平面上に接続されるボンディングワイヤ、を電気的に接続するという作用を有する。
また、段差部の水平面上における溝部の端面形状が任意の環状形状の一部をなし、かつ、環状形状と端面形状とを重ね合せた場合に、双方の重なり合う領域が50%を下回るよう設定することで、段差部の突出長を短くするとともに、電子部品の実装領域、又は、ボンディングワイヤの接続領域、として適さない垂直方向導体部の上部端面領域を狭くするという作用を有する。
In order to solve the above problems, the electronic component storage package according to the first aspect of the present invention is an electronic component storage package comprising a ceramic sintered body that is an insulator and a conductive metal, and a cavity for storing the electronic component is formed. Packaged body, at least one stepped portion projecting from at least a part of the inner side surface of the cavity, at least one groove portion formed by notching the stepped surface of the stepped portion in the vertical vertical direction, and the inside of the groove portion A vertical conductor portion made of conductive metal and deposited on or filled with a first conductive pad portion deposited on a horizontal surface of the stepped portion and made of conductive metal and electrically connected to the vertical conductor portion. The end face shape of the groove portion on the horizontal plane is a part of an arbitrary annular shape, and when the annular shape and the end face shape are overlapped, the overlapping area is less than 50%, and the vertical conductor The inside of the package body, and is characterized in that the external and is electrically connectable via a conductive metal which is arranged outside surface or the lower surface, the.
In the first invention having the above-described configuration, the package body has an effect of storing a desired electronic component in the cavity while maintaining a conductive state. Further, the stepped portion protruding from at least a part of the inner side surface of the cavity has an effect of forming a vertical conduction structure in the cavity.
Specifically, the groove part formed in the level | step difference surface of a level | step-difference part has the effect | action of accommodating and holding a conductor metal. In the first invention, the “step surface” is a vertical surface formed between a horizontal plane arranged on the vertical upper side of the step portion and a horizontal plane formed on the vertical lower side. The vertical conductor portion has an effect of conducting the conductor metal disposed on the horizontal plane side of the stepped portion and the conductor metal disposed on the base side of the stepped portion. In addition, the first conductor pad portion has an effect of electrically connecting an electronic component mounted on the horizontal surface of the stepped portion or a bonding wire connected on the horizontal surface of the stepped portion.
Moreover, when the end face shape of the groove part on the horizontal surface of the step part forms a part of an arbitrary annular shape, and the annular shape and the end face shape are overlapped, the overlapping area of both is set to be less than 50%. As a result, the projecting length of the stepped portion is shortened, and the upper end surface region of the vertical conductor portion that is not suitable as a mounting region for electronic components or a bonding wire connection region is narrowed.

第2の発明である電子装置は、第1の発明である電子部品収納用パッケージと、キャビティに収納される圧電素子と、を有し、少なくとも1の第1の導体パッド部に圧電素子の電極が導電性樹脂を介して接合されていることを特徴とするものである。
上記構成の第2の発明は、第1の発明と同じ作用に加えて、導電性樹脂は、第1の導体パッド部と圧電素子の電極とを導通させるという作用を有する。
また、第1の導体パッド部の表面は、段差部の水平面に延設される垂直方向導体部の上端面の表面状態に比べて、その平坦性が極めて高いので、圧電素子の電極と第1の導体パッド部との間に導電性樹脂が介設された際に、導通不良が起こるリスクを大幅に低減するという作用を有する。
An electronic device according to a second aspect of the present invention includes the electronic component storage package according to the first aspect of the present invention and a piezoelectric element stored in the cavity, and an electrode of the piezoelectric element is provided at least on the first conductor pad portion. Are bonded via a conductive resin.
In the second invention having the above-described configuration, in addition to the same action as the first invention, the conductive resin has an action of electrically connecting the first conductor pad portion and the electrode of the piezoelectric element.
Further, the surface of the first conductor pad portion is extremely flat compared to the surface state of the upper end surface of the vertical conductor portion extending on the horizontal surface of the stepped portion. When a conductive resin is interposed between the conductive pad portion and the conductive pad portion, there is an effect of greatly reducing the risk of a conduction failure.

第3の発明である電子装置は、第2の発明である電子装置と、キャビティの底面に被着される第2の導体パッド部と、第2の導体パッド部に搭載されるICチップ又は温度センサーと、を有することを特徴とするものである。
上記構成の第3の発明は、第2の発明と同じ作用に加えて、第2の導体パッド部は、パッケージ本体と、ICチップ又は温度センサーとを電気的に接続するという作用を有する。
また、キャビティ内にICチップが収納される場合、このICチップは、同じくキャビティ内に収容される圧電素子の動作を制御するという作用を有する。
他方、キャビティ内に温度センサーが収納される場合、この温度センサーは、同じくキャビティ内に収容される圧電素子の動作を制御するのに必要な温度データを提供するという作用を有する。
The electronic device according to the third aspect of the invention is the electronic device according to the second aspect of the invention, the second conductor pad portion deposited on the bottom surface of the cavity, and the IC chip or temperature mounted on the second conductor pad portion. And a sensor.
In the third invention having the above-described configuration, in addition to the same action as the second invention, the second conductor pad portion has an action of electrically connecting the package body and the IC chip or the temperature sensor.
Further, when an IC chip is accommodated in the cavity, this IC chip has the effect of controlling the operation of the piezoelectric element also accommodated in the cavity.
On the other hand, when a temperature sensor is accommodated in the cavity, this temperature sensor has an effect of providing temperature data necessary for controlling the operation of the piezoelectric element also accommodated in the cavity.

第4の発明である電子装置は、第2の発明である電子装置と、キャビティを第1のキャビティとする場合に、パッケージ本体において第1のキャビティが形成されない側の面に形成される第2のキャビティと、第2のキャビティの底面に被着される第2の導体パッド部と、第2の導体パッド部に搭載されるICチップ又は温度センサーと、を有することを特徴とするものである。
上述の第3の発明では、圧電素子と、ICチップ又は温度センサーが同じキャビティ(第1のキャビティ)に収容されているのに対して、第4の発明では、圧電素子はパッケージ本体の主面側に形成される第1のキャビティに、また、ICチップ又は温度センサーはパッケージ本体の裏面側に形成される第2のキャビティに収容されている。よって、このような第4の発明における個々の構成要素による作用は、第3の発明において対応する個々の構成要素による作用と同じである。
また、第4の発明では、圧電素子を収納するキャビティ(第1のキャビティ)と、ICチップ又は温度センサーを収納するキャビティ(第2のキャビティ)を、1つのパッケージ本体に別々に形成することで、圧電素子を収納する工程と、ICチップ又は温度センサーを収納する工程を別々に設けることができる。
The electronic device according to a fourth aspect of the present invention is the second electronic device according to the second aspect of the present invention, which is formed on the surface of the package body where the first cavity is not formed when the cavity is the first cavity. , A second conductor pad portion deposited on the bottom surface of the second cavity, and an IC chip or a temperature sensor mounted on the second conductor pad portion. .
In the third invention described above, the piezoelectric element and the IC chip or temperature sensor are accommodated in the same cavity (first cavity), whereas in the fourth invention, the piezoelectric element is the main surface of the package body. The IC chip or the temperature sensor is accommodated in a second cavity formed on the back surface side of the package body. Therefore, the action by the individual constituent elements in the fourth invention is the same as the action by the corresponding individual constituent elements in the third invention.
In the fourth invention, a cavity (first cavity) for accommodating a piezoelectric element and a cavity (second cavity) for accommodating an IC chip or a temperature sensor are separately formed in one package body. The step of housing the piezoelectric element and the step of housing the IC chip or the temperature sensor can be provided separately.

第5の発明である電子装置は、上段側に配される第1の段差部と、下段側に配される第2の段差部とを少なくとも備える第1の発明である電子部品収納用パッケージと、キャビティの底面に被着される第3の導体パッド部と、キャビティに収納される圧電素子と、第3の導体パッド部に搭載されるICチップと、を有し、第1の段差部の第1の導体パッド部に圧電素子の電極が導電性樹脂を介して接合され、第2の段差部の第1の導体パッド部とICチップとは、ボンディングワイヤにより電気的に接続されていることを特徴とするものである。
上記構成の第5の発明は、上述の第3の発明においてキャビティ内に収容される圧電素子以外の電子部品がICチップに特定され、かつ、このICチップとパッケージ本体との接続構造がボンディングワイヤに特定されものである。よって、ボンディングワイヤを除く第5の発明のそれぞれの構成要素による作用は、上述の第3の発明と同じである。また、ボンディングワイヤはパッケージ本体とICチップを電気的に接続するという作用を有する。さらに、第3の導体パッド部は、キャビティ内においてICチップを接合するための台座として作用する。
また、第5の発明では、特にボンディングワイヤが第2の段差部の水平面上に配される第1の導体パッド部に接続されることで、上述の通り第1の導体パッド部の表面の平坦性が極めて高いので、ボンディングワイヤと第1の導体パッド部の接触部において接続不良が起こるリスクを大幅に低減するという作用を有する。
An electronic device according to a fifth aspect of the present invention is an electronic component storage package according to the first aspect of the present invention, comprising at least a first step portion disposed on the upper stage side and a second step portion disposed on the lower stage side. A third conductor pad portion deposited on the bottom surface of the cavity, a piezoelectric element housed in the cavity, and an IC chip mounted on the third conductor pad portion, The electrode of the piezoelectric element is joined to the first conductor pad part via a conductive resin, and the first conductor pad part of the second step part and the IC chip are electrically connected by a bonding wire. It is characterized by.
According to a fifth aspect of the present invention, an electronic component other than the piezoelectric element housed in the cavity in the third aspect is specified as an IC chip, and the connection structure between the IC chip and the package body is a bonding wire. Is specified. Therefore, the operation of each component of the fifth invention except for the bonding wire is the same as that of the above-described third invention. The bonding wire has an effect of electrically connecting the package body and the IC chip. Further, the third conductor pad portion functions as a base for joining the IC chip in the cavity.
In the fifth aspect of the invention, in particular, the bonding wire is connected to the first conductor pad portion disposed on the horizontal surface of the second step portion, so that the surface of the first conductor pad portion is flat as described above. Since the property is extremely high, it has the effect of greatly reducing the risk of connection failure occurring at the contact portion between the bonding wire and the first conductor pad portion.

第6の発明である電子装置は、第1の発明である電子部品収納用パッケージと、キャビティに収納されるICチップと、を有し、少なくとも1の第1の導体パッド部とICチップとは、ボンディングワイヤにより電気的に接続されていることを特徴とするものである。
上記構成の第6の発明は、第1の発明である電子部品収納用パッケージの各構成要素による作用と同じ作用を有する。
また、第6の発明においては、特にボンディングワイヤが段差部の水平面上に配される第1の導体パッド部に接続されることで、上述の通り第1の導体パッド部の表面の平坦性が極めて高いので、ボンディングワイヤと第1の導体パッド部の接触部において接続不良が起こるリスクを大幅に低減するという作用を有する。
An electronic device according to a sixth aspect of the present invention includes the electronic component storage package according to the first aspect of the present invention and an IC chip stored in the cavity, and at least the first conductor pad portion and the IC chip are And electrically connected by a bonding wire.
6th invention of the said structure has the same effect | action as the effect | action by each component of the electronic component storage package which is 1st invention.
In the sixth aspect of the invention, in particular, the bonding wire is connected to the first conductor pad portion disposed on the horizontal plane of the step portion, so that the flatness of the surface of the first conductor pad portion is as described above. Since it is extremely high, it has the effect of greatly reducing the risk of connection failure occurring at the contact portion between the bonding wire and the first conductor pad portion.

上述のような第1の発明によれば、キャビティ内に収納される電子部品に電気信号を伝達する導通路で、キャビティ内及びパッケージ本体の内部(肉厚部内)に形成されるものを相対的に増やすことができる。このことは、電子部品に電気信号を伝達する導通路で、パッケージ本体の外周部に配されるものを相対的に少なくできることを意味する。この場合、第1の発明である電子部品収納用パッケージの製造工程において、第1の発明の集合体である多数個取りセラミックパッケージを分割個片化するための分割溝形成工程や、その後に多数個取りセラミックパッケージを破断する個片化工程において、パッケージ本体の外周部に配される導通路が損傷して最終製品が不良品化するリスクを大幅に低減することができる。従って、第1の発明によれば、第1の発明である電子部品収納用パッケージの良品率を高めることができ、その生産性を向上できる。
また、第1の発明によれば、キャビティ内に導通路を確保しつつ、段差部の突出長を短くできるので、電子部品収納用パッケージの外形寸法(主に平面形状)を小さくすることができる。電子部品収納用パッケージの外形寸法を小さくした場合でも、キャビティ内に電子部品を実装した際に導通不良が起こるリスクを大幅に低減できるので、この点からも第1の発明である電子部品収納用パッケージの良品率を高めることができ、その生産性を向上できる。
さらに、第1の発明によれば、段差部の水平面上に形成される溝部の深さを、任意の環状形状の径(直径、長径、又は、短径)よりも確実に小さくすることができる。
According to the first invention as described above, a conductive path that transmits an electric signal to the electronic component housed in the cavity is relatively formed in the cavity and the inside of the package body (in the thick portion). Can be increased. This means that it is possible to relatively reduce the number of conductive paths that transmit an electrical signal to the electronic component and are arranged on the outer peripheral portion of the package body. In this case, in the manufacturing process of the electronic component storage package according to the first invention, a dividing groove forming step for dividing the multi-cavity ceramic package, which is the assembly of the first invention, into pieces, In the singulation process for breaking the individual ceramic package, it is possible to greatly reduce the risk that the conductive path disposed on the outer periphery of the package body is damaged and the final product becomes defective. Therefore, according to the first invention, the non-defective product rate of the electronic component storage package according to the first invention can be increased, and the productivity thereof can be improved.
In addition, according to the first invention, the projecting length of the stepped portion can be shortened while securing a conduction path in the cavity, so that the external dimensions (mainly planar shape) of the electronic component storage package can be reduced. . Even when the outer dimensions of the electronic component storage package are reduced, the risk of conduction failure occurring when the electronic component is mounted in the cavity can be greatly reduced. From this point as well, the electronic component storage device according to the first invention The yield rate of packages can be increased and the productivity can be improved.
Furthermore, according to 1st invention, the depth of the groove part formed on the horizontal surface of a level | step-difference part can be reliably made smaller than the diameter (diameter, a major axis, or a minor axis) of arbitrary cyclic | annular shapes. .

第2の発明は、第1の発明を備えるものであるため、第1の発明と同じ効果を有する。
さらに、先に図10を参照しながら説明したように、段差部の水平面上に配される垂直方向導体部の上端面は凹む、あるいは、起伏が極めて激しい等の理由により平坦性が極めて乏しいが、段差部の水平面上に形成される第1の導体パッド部の平坦性は極めて高い。従って、第2の発明では、垂直方向導体部の上端面の面積を少なくすることで電子部品収納用パッケージと圧電素子のとの間で導通不良が起こるリスクを大幅に低減することができる。
よって、第2の発明によれば、その製造工程において電子装置の良品率を高めて、その生産性を向上することができる。
Since the second invention includes the first invention, it has the same effect as the first invention.
Furthermore, as described above with reference to FIG. 10, the upper end surface of the vertical conductor portion arranged on the horizontal surface of the step portion is recessed, or the flatness is extremely poor due to extremely undulations. The flatness of the first conductor pad portion formed on the horizontal surface of the step portion is extremely high. Therefore, in the second invention, by reducing the area of the upper end surface of the vertical conductor portion, it is possible to greatly reduce the risk of poor conduction between the electronic component storage package and the piezoelectric element.
Therefore, according to the second invention, the yield rate of the electronic device can be increased in the manufacturing process, and the productivity can be improved.

第3の発明は、上述の第2の発明による効果と同じ効果に加えて、特に、キャビティ内に圧電素子に加えてICチップを備える場合は、圧電素子の動作をICチップにより制御することができる。
また、特に、キャビティ内に圧電素子に加えて温度センサーを備える場合は、圧電素子の動作の制御に必要な温度データを温度センサーから取得することができる。
よって、第3の発明の発明によれば、より高性能な電子装置を提供することができる。
In the third invention, in addition to the same effect as the above-mentioned second invention, in particular, when an IC chip is provided in the cavity in addition to the piezoelectric element, the operation of the piezoelectric element can be controlled by the IC chip. it can.
In particular, when a temperature sensor is provided in the cavity in addition to the piezoelectric element, temperature data necessary for controlling the operation of the piezoelectric element can be acquired from the temperature sensor.
Therefore, according to the invention of the third invention, a higher-performance electronic device can be provided.

第4の発明は、上述の第3の発明と同じ効果に加えて、圧電素子を収納した電子装置と、ICチップ又は温度センサーを収納する工程を別々に実施することができるので不良品が発生した場合でも圧電素子とICチップ(又は温度センサー)の両方が同時に無駄になることがない。   In the fourth invention, in addition to the same effect as the above-mentioned third invention, an electronic device housing a piezoelectric element and a process of housing an IC chip or a temperature sensor can be performed separately, resulting in defective products. Even in this case, both the piezoelectric element and the IC chip (or temperature sensor) are not wasted simultaneously.

第5の発明は、上述の第3の発明において、キャビティ内に収納される電子部品を圧電素子とICチップに特定し、かつ、圧電素子の電極をキャビティ内の上段側に配される第1の段差部に接合し、ICチップとパッケージ本体を、第1の段差部の下段側に配される第2の段差部においてボンディングワイヤにより電気的に接続したものであるので、第3の発明においてキャビティ内に圧電素子とICチップを備える場合と同じ効果を有する。
また、先に述べた通り、段差部(第1の段差部、第2の段差部)の水平面上に形成される第1の導体パッド部は、その表面の平坦性が極めて高い。しかも、第5の発明では、段差部の水平面において垂直方向導体部の端面の面積が狭いので、この端面を避けて第1の導体パッド部にボンディングワイヤを接続することが容易である。従って、第1の導体パッド部にボンディングワイヤを接続することで、接続不良が起こるリスクを大幅に低減できる。
従って、その製造工程において電子装置の良品率を高めて、その生産性を向上することができる。
According to a fifth invention, in the third invention described above, the electronic component housed in the cavity is specified as a piezoelectric element and an IC chip, and the electrode of the piezoelectric element is arranged on the upper stage side in the cavity. In the third invention, the IC chip and the package body are electrically connected to each other by a bonding wire at the second step portion disposed on the lower side of the first step portion. This has the same effect as the case where a piezoelectric element and an IC chip are provided in the cavity.
In addition, as described above, the first conductor pad portion formed on the horizontal surface of the stepped portions (the first stepped portion and the second stepped portion) has extremely high surface flatness. In addition, in the fifth invention, since the area of the end surface of the vertical conductor portion is narrow in the horizontal plane of the stepped portion, it is easy to connect the bonding wire to the first conductor pad portion avoiding this end surface. Therefore, the risk of connection failure can be greatly reduced by connecting the bonding wire to the first conductor pad portion.
Therefore, it is possible to increase the yield rate of electronic devices in the manufacturing process and improve the productivity.

第7の発明は、上述の第5又は第6の発明による効果と同じ効果に加えて、その製造工程において第1の導体パッド部にボンディングワイヤを接続する際に、その接続位置を特定するための基準となる、第5の発明における第2の段差部、又は、第6の発明における段差部、の溝部の位置を画像処理した際に特定することが容易になる。
この結果、第7の発明によれば、その製造時に溝部を避けて第1の導体パッド部に確実にボンディングワイヤを接続することができるので、電子装置の良品率を高めて、その生産性を向上することができる。
In the seventh invention, in addition to the same effect as that of the fifth or sixth invention described above, the connection position is specified when the bonding wire is connected to the first conductor pad portion in the manufacturing process. It becomes easy to specify the position of the groove portion of the second stepped portion in the fifth invention or the stepped portion in the sixth invention, which is a reference for the image processing.
As a result, according to the seventh invention, since the bonding wire can be reliably connected to the first conductor pad portion while avoiding the groove portion at the time of manufacture, the yield rate of the electronic device is increased and the productivity is increased. Can be improved.

(a)本発明の実施例1に係る電子部品収納用パッケージ及びそれを用いた電子装置の平面図であり、(b)本発明の実施例1に係る電子部品収納用パッケージ及びそれを用いた電子装置の断面図である。(A) It is a top view of the electronic component storage package which concerns on Example 1 of this invention, and an electronic apparatus using the same, (b) The electronic component storage package which concerns on Example 1 of this invention, and it were used It is sectional drawing of an electronic device. 本発明の実施例1に係る電子部品収納用パッケージにおける溝部が形成された段差部の部分拡大図である。It is the elements on larger scale of the level | step-difference part in which the groove part was formed in the electronic component storage package which concerns on Example 1 of this invention. 本発明の実施例1の変形例に係る電子部品収納用パッケージにおける溝部が形成された段差部の部分拡大図である。It is the elements on larger scale of the level | step-difference part in which the groove part was formed in the electronic component storage package which concerns on the modification of Example 1 of this invention. 本発明の実施例1に係る電子部品収納用パッケージの製造工程を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the manufacturing process of the electronic component storage package which concerns on Example 1 of this invention. (a)貫通孔内に未焼成導体金属を被着した場合のキャビティ用孔形成工程におけるキャビティ用孔形成位置を示す平面図であり、(b)貫通孔内に未焼成導体金属を充填した場合のキャビティ用孔形成工程におけるキャビティ用孔形成位置を示す平面図である。(A) It is a top view which shows the cavity hole formation position in the cavity hole formation process at the time of depositing an unsintered conductor metal in a through-hole, (b) When the unsintered conductor metal is filled in a through-hole It is a top view which shows the hole formation position of the cavity in the hole formation process of this. 本発明の実施例2に係る電子装置の断面図である。It is sectional drawing of the electronic device which concerns on Example 2 of this invention. 本発明の実施例3に係る電子装置の断面図である。It is sectional drawing of the electronic device which concerns on Example 3 of this invention. 本発明の実施例4に係る電子装置の断面図である。It is sectional drawing of the electronic device which concerns on Example 4 of this invention. 本発明の実施例5に係る電子装置の断面図である。It is sectional drawing of the electronic device which concerns on Example 5 of this invention. 未焼成セラミックシートに貫通孔を形成して、この貫通孔に未焼成導体金属を充填してなるものの、貫通孔周辺の表面の形状を可視化した図である。It is the figure which visualized the shape of the surface of a through-hole periphery, although a through-hole is formed in a non-fired ceramic sheet | seat and it fills this through-hole with a non-fired conductor metal.

本発明の実施の形態に係る電子部品収納用パッケージおよびそれを用いた電子装置について図1乃至図9を参照しながら詳細に説明する。   An electronic component storage package according to an embodiment of the present invention and an electronic apparatus using the same will be described in detail with reference to FIGS.

はじめに、図1,2を参照しながら本発明の実施例1に係る電子部品収納用パッケージおよびそれを用いた電子装置について説明する。
図1(a)は本発明の実施例1に係る電子部品収納用パッケージ及びそれを用いた電子装置の平面図であり、(b)は本発明の実施例1に係る電子部品収納用パッケージ及びそれを用いた電子装置の断面図である。なお、図1(b)は、図1(a)中のA−A線断面図である。また、図2は本発明の実施例1に係る電子部品収納用パッケージにおける溝部が形成された段差部の部分拡大図である。
実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aは、図1(a),(b)に示すように、絶縁体であるセラミック焼結体13と導体金属(垂直方向導体部10、第1の導体パッド部11、及び、導体金属12)とからなる電子部品収納用パッケージであって、電子部品である例えば圧電素子15を収納するキャビティ5が形成されたパッケージ本体3と、このキャビティ5の内側面の少なくとも一部に突設される少なくとも1の段差部6と、この段差部6の段差面7を鉛直上下方向に切り欠いてなる少なくとも1つの溝部9と、この溝部9内に被着又は充填され導体金属12からなる垂直方向導体部10と、段差部6の水平面8に被着され同じく導体金属12からなり垂直方向導体部10と電気的に接続される第1の導体パッド部11とにより構成され、この垂直方向導体部10は、パッケージ本体3の内部(肉厚部)、及び、外側面又は下面、に配される導体金属12を介して外部と電気的に接続可能に構成されている。
また、上述のような実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aでは、図2に示すように、キャビティ5の内側面の少なくとも一部に突設される段差部6の水平面8上における溝部9の端面形状28(短破線部分)は、任意の環状形状27(長破線部分)の一部をなし、この任意の環状形状27と溝部9の端面形状28とを重ね合せた場合に、双方が重なり合う領域が任意の環状形状27の全周の50%を下回るように設定されている。
なお、図1(a)では、キャビティ5の内側面の全周にわたって段差部6が形成されている場合を例に挙げて示しているが、この段差部6は、キャビティ5の内側面の一部にのみ形成されていてもよい。
First, an electronic component storage package and an electronic apparatus using the same according to Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to FIGS.
1A is a plan view of an electronic component storage package and an electronic device using the same according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 1B is an electronic component storage package according to Embodiment 1 of the present invention. It is sectional drawing of the electronic device using it. FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. FIG. 2 is a partially enlarged view of the step portion in which the groove portion is formed in the electronic component storage package according to the first embodiment of the present invention.
As shown in FIGS. 1A and 1B, an electronic component storage package 1A according to the first embodiment includes an insulating ceramic sintered body 13 and a conductor metal (vertical conductor portion 10, first conductor). An electronic component storage package comprising a pad portion 11 and a conductor metal 12), wherein the package body 3 is formed with a cavity 5 for storing, for example, a piezoelectric element 15 as an electronic component, and the inner surface of the cavity 5 At least one stepped portion 6 projecting at least in part, at least one groove portion 9 formed by notching the stepped surface 7 of the stepped portion 6 in the vertical vertical direction, and depositing or filling the groove portion 9 And a first conductor pad portion 11 which is attached to the horizontal surface 8 of the step portion 6 and electrically connected to the vertical conductor portion 10 which is also made of the conductor metal 12. The vertical conductor portion 10 is configured to be electrically connectable to the outside through a conductor metal 12 disposed on the inside (thick portion) of the package body 3 and on the outer surface or the lower surface. Yes.
Further, in the electronic component storage package 1A according to the first embodiment as described above, as shown in FIG. 2, the groove portion 9 on the horizontal plane 8 of the step portion 6 protruding from at least a part of the inner surface of the cavity 5. The end face shape 28 (short broken line portion) is a part of an arbitrary annular shape 27 (long broken line portion), and when this optional annular shape 27 and the end face shape 28 of the groove 9 are overlapped, The overlapping region is set to be less than 50% of the entire circumference of the arbitrary annular shape 27.
FIG. 1A shows an example in which the step portion 6 is formed over the entire circumference of the inner surface of the cavity 5. This step portion 6 is a part of the inner surface of the cavity 5. It may be formed only on the part.

上記構成の実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aによれば、キャビティ5の内側面に突設される段差部6の段差面7に溝部9を備え、この溝部9内に導体金属12を被着又は充填してなる垂直方向導体部10を設け、さらに、段差部6の水平面8上に被着される第1の導体パッド部11とこの垂直方向導体部10とを電気的に接続しておくことで、キャビティ5内に収納される電子部品(例えば、圧電素子15等)の導通路の大部分を、キャビティ5内及びパッケージ本体3の内部(肉厚部)内に配することができる。
このことは、キャビティ5内に収納される電子部品(例えば、圧電素子15等)の導通路として、例えば、キャスタレーションのようなパッケージ本体3の外側面上に形成されるものを相対的に少なくできることを意味している。
According to the electronic component storage package 1A according to the first embodiment having the above-described configuration, the groove portion 9 is provided on the step surface 7 of the step portion 6 projecting from the inner surface of the cavity 5, and the conductor metal 12 is provided in the groove portion 9. A vertical conductor portion 10 formed by deposition or filling is provided, and the first conductor pad portion 11 deposited on the horizontal surface 8 of the step portion 6 is electrically connected to the vertical conductor portion 10. In this way, most of the conduction paths of the electronic components (for example, the piezoelectric element 15 and the like) housed in the cavity 5 can be arranged in the cavity 5 and in the package body 3 (thick part). it can.
This is because there are relatively few conduction paths for electronic components (for example, the piezoelectric element 15 etc.) accommodated in the cavity 5 formed on the outer surface of the package body 3 such as castellation. It means you can do it.

一般に、電子部品収納用パッケージに関する技術分野においては、パッケージ本体の周縁にスルーホールを穿設しその内側面に導体金属を被着してなるキャスタレーションが導通路として利用されている。この場合、セラミック焼結体に焼成収縮が起きた際にスルーホール内にクラックが生じて、このクラックによりスルーホール内に被着される導体金属が分断されて導通不良が起こる場合がある。
また、電子部品収納用パッケージは、複数の電子部品収納用パッケージを碁盤目状に配してなる多数個取りパッケージを、個々の電子部品収納用パッケージの境界線上に形成される分割溝に沿って分割個片化することによって製造される。そして、上記分割溝は、未焼成セラミックシートを積層してなるものに、切り刃であるブレードを押し当てることで、断面略V字状の分割溝が形成される。この時、未焼成セラミックシートは、例えば、アルミナ等の粉体材料と有機溶剤等からなる成形体であるため、その物性は弾性体に近いものとなる。この場合、所望個所に切り刃であるブレードを押し当てた後、このブレードを引き抜いて隣接する他の境界線(分割溝形成予定位置)上にブレードを押し当てると、先に形成された分割溝の溝幅を押し縮めるように力が作用する。この時、先に形成された分割溝の溝幅が狭まるだけでなく、場合によっては、分割溝の溝内面同士が接触してしまう場合がある。そして、このような現象は、製造しようとする電子部品収納用パッケージ1Aの外形寸法が小さいほど顕著に起こる。そして、分割溝の溝内面同士が接触したまま、焼成されて多数個取りパッケージとなり、このような多数個取りパッケージを分割溝に沿って破断して分割個片化すると、個々の電子部品収納用パッケージの周縁(外側面上)に配されて導通路として機能する導体金属(キャスタレーション)が損傷するリスクが高まる。
従って、実施例1にかかる電子部品収納用パッケージ1Aのように、キャビティ5内に収納される圧電素子15等の電子部品の導通路の大部分が、電子部品収納用パッケージ1Aの外側面上でなく、キャビティ5内やパッケージ本体3の内部(肉厚部)内に配されることで、最終製品である電子部品収納用パッケージ1Aの良品率を高めることができ、これにより電子部品収納用パッケージ1Aの生産性を向上できる。
In general, in the technical field related to an electronic component storage package, a castellation in which a through hole is formed in the periphery of a package body and a conductive metal is attached to the inner surface thereof is used as a conduction path. In this case, when firing shrinkage occurs in the ceramic sintered body, a crack is generated in the through hole, and the conductive metal deposited in the through hole may be divided by the crack, resulting in poor conduction.
In addition, the electronic component storage package includes a multi-cavity package in which a plurality of electronic component storage packages are arranged in a grid pattern along a dividing groove formed on the boundary line of each electronic component storage package. It is manufactured by dividing into pieces. And the said division groove forms the division groove of a cross-sectional substantially V shape by pressing the braid | blade which is a cutting blade against what is formed by laminating | stacking a non-fired ceramic sheet. At this time, since the unfired ceramic sheet is a molded body made of, for example, a powder material such as alumina and an organic solvent, the physical properties thereof are close to an elastic body. In this case, after pressing the blade that is the cutting blade at the desired location, and then pulling out the blade and pressing the blade on another adjacent boundary line (scheduled groove forming position), the previously formed split groove A force acts so as to reduce the width of the groove. At this time, not only the groove width of the previously formed dividing groove is narrowed, but in some cases, the groove inner surfaces of the dividing groove may come into contact with each other. Such a phenomenon becomes more prominent as the external dimension of the electronic component storage package 1A to be manufactured is smaller. Then, while the inner surfaces of the divided grooves are in contact with each other, they are baked into a multi-piece package, and when such a multi-piece package is broken along the divided grooves into divided pieces, individual electronic components are stored. There is an increased risk of damage to the conductive metal (castellation) that is disposed on the periphery (on the outer surface) of the package and functions as a conduction path.
Therefore, as in the electronic component storage package 1A according to the first embodiment, most of the conduction paths of the electronic components such as the piezoelectric elements 15 stored in the cavity 5 are on the outer surface of the electronic component storage package 1A. In addition, the non-defective product rate of the electronic component storage package 1A, which is the final product, can be increased by being disposed in the cavity 5 or the inside of the package body 3 (thick portion). The productivity of 1A can be improved.

実施例1に係る1電子部品収納用パッケージ1Aでは、キャビティ5の内側面の少なくとも一部に突設される段差部6の水平面8上における溝部9の端面形状28が任意の環状形状27の一部を成すように構成し、かつ、この任意の環状形状27と溝部9の端面形状28とを重ね合せた場合に、双方が重なり合う領域が任意の環状形状27の全周の50%を下回るように設定しておくことで、図2に示す溝部9の深さBを、任意の環状形状27の径(直径、長径、又は、短径)よりも短くすることができる。つまり、溝部9の端面形状28は、常に溝部9の底から開口側に向かって拡径した状態となる。
この場合、段差部6の水平面8において、圧電素子15等の電子部品の電極を接合するのに必要な領域、あるいは、ボンディングワイヤの接続に必要な領域を確保することができる。
また、この場合、段差部6に形成される溝部9の深さBが浅くなることで、焼成時に溝部9の周縁を基点にして段差部6にクラックが生じるリスクを低減することもできる。これにより、溝部9内に被着又は充填される導体金属12からなる垂直方向導体部10にクラックが生じて分断されるリスクも低減できる。よって、この点からも実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aの良品率を向上できる。
In the one electronic component storing package 1A according to the first embodiment, the end surface shape 28 of the groove portion 9 on the horizontal surface 8 of the stepped portion 6 protruding from at least a part of the inner surface of the cavity 5 is one of the arbitrary annular shapes 27. When the arbitrary annular shape 27 and the end surface shape 28 of the groove 9 are overlapped with each other, the overlapping region is less than 50% of the entire circumference of the arbitrary annular shape 27. 2 is set, the depth B of the groove 9 shown in FIG. 2 can be made shorter than the diameter (diameter, major axis, or minor axis) of any annular shape 27. That is, the end face shape 28 of the groove 9 is always in a state where the diameter is increased from the bottom of the groove 9 toward the opening side.
In this case, in the horizontal plane 8 of the step portion 6, it is possible to secure a region necessary for bonding electrodes of electronic components such as the piezoelectric element 15 or a region necessary for bonding wire bonding.
In this case, since the depth B of the groove 9 formed in the stepped portion 6 becomes shallow, it is possible to reduce the risk of cracks in the stepped portion 6 starting from the periphery of the groove 9 during firing. Thereby, the risk that the vertical conductor portion 10 made of the conductor metal 12 deposited or filled in the groove portion 9 is cracked and divided can be reduced. Therefore, also from this point, the yield rate of the electronic component storage package 1A according to the first embodiment can be improved.

なお、実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aにおいて、任意の環状形状27は、例えば、円形、楕円形、多角形等のように不定形でない環状形状であればどのような形状でもよい。ただし、任意の環状形状27が角部を有する場合は、溝部9の内側面においてその角がクラックの基点になり易いため、任意の環状形状27は、滑らかな曲線により形成されていることが望ましい。
さらに、後段において詳細に説明するが、段差部6に形成される溝部9及び垂直方向導体部10は、シート状の未焼成セラミックシートに、その平面形状が任意の環状形状27である貫通孔を形成し、この貫通孔の内側面に未焼成導体金属を被着させた後に、又は、この貫通孔に未焼成導体金属を充填した後に、任意の環状形状27の周縁の残部が50%を下回るようにこの任意の環状形状27を金型、切り刃、レーザー光等を用いて切断することにより形成される。
従って、任意の環状形状27の周縁の残部が少ないほど、つまり、図2に示す溝部9の端面形状28が小さいほど、あるいは、溝部9の端面形状28が直線に近いほど、溝部9の内側面を基点にしたクラックが生じるリスクを低減することができ、なおかつ、第1の導体パッド部の領域を広くすることができる。従って、溝部9の端面形状28と任意の環状形状27とが重なり合う領域は、50%を下回っている必要がある。また、溝部9の端面形状28と任意の環状形状27とが重なり合う領域が20%を下回る場合は、上記効果を一層顕著に発揮させることができる。その反面、任意の環状形状27の周縁の残部が少ないほど、溝部9の形成時に溝部9内に被着又は充填される導体金属12の損傷が起こり易くなるので、垂直方向導体部10が導通不良を起こすリスクが高まるだけでなく、垂直方向導体部10の電気抵抗が高くなる。従って、端面形状28と任意の環状形状27とが重なり合う領域は、少なくとも10%以上にする必要がある。
In the electronic component storage package 1A according to the first embodiment, the arbitrary annular shape 27 may be any shape as long as it is not indefinite, such as a circle, an ellipse, or a polygon. However, when the arbitrary annular shape 27 has a corner portion, the corner is likely to be a base point of a crack on the inner surface of the groove portion 9, and therefore the arbitrary annular shape 27 is desirably formed by a smooth curve. .
Further, as will be described in detail later, the groove 9 and the vertical conductor portion 10 formed in the step portion 6 have a through-hole whose planar shape is an arbitrary annular shape 27 in a sheet-like green ceramic sheet. After forming and depositing an unfired conductor metal on the inner surface of this through hole, or after filling this through hole with an unfired conductor metal, the remainder of the periphery of any annular shape 27 is less than 50% In this way, the arbitrary annular shape 27 is formed by cutting using a die, a cutting blade, a laser beam or the like.
Therefore, the smaller the remaining portion of the peripheral edge of the annular shape 27, that is, the smaller the end surface shape 28 of the groove portion 9 shown in FIG. 2 or the closer the end surface shape 28 of the groove portion 9 is to a straight line, the closer the inner surface of the groove portion 9 is. The risk of generating cracks based on is reduced, and the area of the first conductor pad portion can be widened. Therefore, the region where the end face shape 28 of the groove 9 and the optional annular shape 27 overlap needs to be less than 50%. Moreover, when the area | region where the end surface shape 28 of the groove part 9 and the arbitrary annular shapes 27 overlap is less than 20%, the said effect can be exhibited more notably. On the other hand, the smaller the remainder of the peripheral edge of the arbitrary annular shape 27 is, the more easily the conductor metal 12 deposited or filled in the groove portion 9 is damaged when the groove portion 9 is formed. In addition to an increase in the risk of occurrence, the electrical resistance of the vertical conductor portion 10 is increased. Therefore, the area where the end face shape 28 and the arbitrary annular shape 27 overlap needs to be at least 10% or more.

また、実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aでは、任意の環状形状27と溝部9の端面形状28とを重ね合せた場合に、双方が重なり合う領域が任意の環状形状27の全周の50%を下回るよう設定することで、段差部6の水平面8に延設される垂直方向導体部10の上端面領域を相対的に狭めることができる。
この場合、図1に示すように、電子部品(例えば、圧電素子15)の電極は第1の導体パッド部11および垂直方向導体部10の上端面領域に導電性ペーストなどの接合材を介して接合されるが、実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aでは、垂直方向導体部10の上端面領域を相対的に狭くできるので、導通不良の発生等を好適に防止することができる。
また、実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aでは、図1には示されないが、電子部品(例えば、半導体素子等)と電子部品収納用パッケージ1Aとをボンディングワイヤにより電気的に接続して用いる場合に、下記のような効果を発揮させることができる。つまり、実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aでは、垂直方向導体部10の上端面領域が段差部6の段差面7に接して配されることで、ボンディングワイヤを、その表面の平坦性が高くて接合時に導通不良を起こしにくい第1の導体パッド部11に容易に接合することができる。このように、実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aでは、ボンディングワイヤが、垂直方向導体部10の上端面領域に直接接合されないので、これらを直接接合する際に生じる不都合(導通不良の発生等)を回避することができる。
よって、実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aによれば、キャビティ5内に電子部品を実装する際に、導通不良が起こるリスクを大幅に低減することができるので、製品製造時の良品率を高めることができ、電子部品収納用パッケージ1Aを用いてなる電子装置の生産性を向上できる。
Further, in the electronic component storage package 1A according to the first embodiment, when the arbitrary annular shape 27 and the end surface shape 28 of the groove 9 are overlapped, the overlapping region is 50 of the entire circumference of the arbitrary annular shape 27. By setting it to be less than%, the upper end surface region of the vertical conductor portion 10 extending on the horizontal surface 8 of the step portion 6 can be relatively narrowed.
In this case, as shown in FIG. 1, the electrodes of the electronic component (for example, the piezoelectric element 15) are connected to the upper end surface regions of the first conductor pad portion 11 and the vertical conductor portion 10 via a bonding material such as a conductive paste. Although bonded, in the electronic component storage package 1A according to the first embodiment, the upper end surface region of the vertical conductor portion 10 can be relatively narrowed, so that the occurrence of poor conduction can be suitably prevented.
Further, in the electronic component storage package 1A according to the first embodiment, although not shown in FIG. 1, the electronic component (for example, a semiconductor element) and the electronic component storage package 1A are electrically connected by a bonding wire. When used, the following effects can be exhibited. In other words, in the electronic component storage package 1A according to the first embodiment, the upper end surface region of the vertical conductor portion 10 is arranged in contact with the step surface 7 of the step portion 6, so that the bonding wire is flat on the surface. Therefore, it is possible to easily join the first conductor pad portion 11 that is difficult to cause poor conduction during joining. As described above, in the electronic component storage package 1A according to the first embodiment, since the bonding wire is not directly bonded to the upper end surface region of the vertical conductor portion 10, there is an inconvenience that occurs when these are directly bonded (occurrence of conduction failure). Etc.) can be avoided.
Therefore, according to the electronic component storage package 1A according to the first embodiment, when electronic components are mounted in the cavity 5, it is possible to greatly reduce the risk of occurrence of poor conduction. And the productivity of an electronic device using the electronic component storage package 1A can be improved.

ここで、実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aの垂直方向導体部10の変形例について図3を参照しながら詳細に説明する。
図3は本発明の実施例1の変形例に係る電子部品収納用パッケージにおける溝部が形成された段差部の部分拡大図である。なお、図1,2に記載されたものと同一部分については同一符号を付し、その構成についての説明は省略する。
先の図2では、段差部6に設けられる垂直方向導体部10が、溝部9の内側面に導体金属12が被着されて形成される場合を例に挙げて説明したが、図3に示すように、垂直方向導体部10は溝部9の中空部の全てが導体金属12により充填されたものでもよい。
先に図10を参照しながら説明した通り、段差部6の水平面8に延設される垂直方向導体部10の上端面は、凹む、あるいは、凹凸状で起伏が激しい等の理由により平坦性が極めて乏しい状態である。このため、水平面8に延設される垂直方向導体部10の上端面は、電子部品(例えば、圧電素子15)の電極の接合や、ボンディングワイヤの接続には適していない。本発明では、水平面8上における溝部の端面形状は、任意の環状形状の一部をなし、環状形状と端面形状とを重ね合せた場合に、双方が重なり合う領域が50%を下回るよう構成することで、電子部品の電極の接合やボンディングワイヤの接続に適さない垂直方向導体部10の上端面の領域を減らしている。
この場合、段差部6の水平面8おける垂直方向導体部10の水平方向断面領域が、図2に示す垂直方向導体部10よりも増えることで、垂直方向導体部10における電気抵抗を減らすことができ、これにより導通性を向上できる。よって、変形例に係る電子部品収納用パッケージ1A’によれば、実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aと比較して、高性能な電子部品収納用パッケージを提供できる。
Here, a modification of the vertical conductor portion 10 of the electronic component storage package 1A according to the first embodiment will be described in detail with reference to FIG.
FIG. 3 is a partially enlarged view of a step portion in which a groove portion is formed in an electronic component storage package according to a modification of the first embodiment of the present invention. The same parts as those described in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and description of the configuration is omitted.
In FIG. 2, the vertical conductor portion 10 provided in the step portion 6 has been described by taking as an example the case where the conductor metal 12 is deposited on the inner surface of the groove portion 9. As described above, the vertical conductor portion 10 may be one in which the entire hollow portion of the groove portion 9 is filled with the conductor metal 12.
As described above with reference to FIG. 10, the upper end surface of the vertical conductor portion 10 extending on the horizontal surface 8 of the step portion 6 has a flatness because it is recessed or uneven and has undulations. It is a very poor state. For this reason, the upper end surface of the vertical conductor portion 10 extending on the horizontal plane 8 is not suitable for joining electrodes of electronic components (for example, the piezoelectric element 15) or bonding wires. In the present invention, the end face shape of the groove portion on the horizontal plane 8 is a part of an arbitrary annular shape, and when the annular shape and the end face shape are overlapped, the overlapping area is configured to be less than 50%. Thus, the region of the upper end surface of the vertical conductor portion 10 that is not suitable for bonding of electrodes of electronic parts or connection of bonding wires is reduced.
In this case, since the horizontal cross-sectional area of the vertical conductor portion 10 in the horizontal plane 8 of the step portion 6 is larger than that of the vertical conductor portion 10 shown in FIG. As a result, the conductivity can be improved. Therefore, according to the electronic component storage package 1A ′ according to the modification, it is possible to provide a high-performance electronic component storage package as compared with the electronic component storage package 1A according to the first embodiment.

再び図1に戻って実施例1に係る電子装置2Aについて詳細に説明する。
実施例1に係る電子装置2Aは、上述のような実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aのキャビティ5内に圧電素子15を実装してなるものである。
より具体的には、実施例1に係る電子装置2Aは、図1(a),(b)示す電子部品収納用パッケージ1Aにおけるキャビティ5内に圧電素子15が収納され、この圧電素子15の電極16が段差部6の水平面8上に被着される第1の導体パッド部11に導電性樹脂14を介して接合されてなるものである。
なお、実施例1に係る電子装置2Aは、パッケージ本体3の最上層に配される枠体4(キャビティ5の外周部)上に環状の導体金属12を備えており、この導体金属12上に接合材36を介して金属リング17を接合し、この金属リング17の上端にキャビティ5を封止するための金属蓋体18を被覆して、金属リング17と金属蓋体18を例えばシーム溶接するなどして、圧電素子15を密封したものである。
Returning again to FIG. 1, the electronic apparatus 2A according to the first embodiment will be described in detail.
The electronic device 2A according to the first embodiment is obtained by mounting the piezoelectric element 15 in the cavity 5 of the electronic component storage package 1A according to the first embodiment as described above.
More specifically, in the electronic device 2A according to the first embodiment, the piezoelectric element 15 is accommodated in the cavity 5 in the electronic component storage package 1A shown in FIGS. 16 is joined to the first conductor pad portion 11 deposited on the horizontal surface 8 of the step portion 6 via the conductive resin 14.
The electronic device 2 </ b> A according to the first embodiment includes an annular conductor metal 12 on the frame body 4 (outer peripheral portion of the cavity 5) disposed on the uppermost layer of the package body 3. The metal ring 17 is bonded via the bonding material 36, the upper end of the metal ring 17 is covered with a metal lid 18 for sealing the cavity 5, and the metal ring 17 and the metal lid 18 are seam welded, for example. Thus, the piezoelectric element 15 is sealed.

このような実施例1に係る電子装置2Aによれば、平坦性が極めて乏しい垂直方向導体部10の上端面領域を少なくして、段差部6の水平面8上に被着され平坦性の極めて高い第1の導体パッド部11に、圧電素子15の電極16を接合することができる。
よって、実施例1に係る電子装置2Aによれば、実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aに圧電素子15を実装した際に導通不良が起こるリスクを大幅に低減できるので、製造時に電子装置2Aの良品率を高めることができる。よって、実施例1に係る電子装置2Aによればその生産性を向上できる。
According to the electronic apparatus 2A according to the first embodiment, the upper end surface region of the vertical conductor portion 10 having extremely poor flatness is reduced, and is deposited on the horizontal surface 8 of the step portion 6 so that the flatness is extremely high. The electrode 16 of the piezoelectric element 15 can be joined to the first conductor pad portion 11.
Therefore, according to the electronic device 2A according to the first embodiment, the risk of a conduction failure occurring when the piezoelectric element 15 is mounted on the electronic component storage package 1A according to the first embodiment can be greatly reduced. The yield rate of 2A can be increased. Therefore, according to the electronic device 2A according to the first embodiment, the productivity can be improved.

ここで図4を参照しながら実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aの製造工程について詳細に説明する。
図4は本発明の実施例1に係る電子部品収納用パッケージの製造工程を示すフローチャートである。なお、図1乃至図3に記載されたものと同一部分については同一符号を付し、その構成についての説明は省略する。
実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aは、図4に示すステップS01〜S09の各工程により製造される(実施例1に係る電子部品収納用パッケージの製造方法29)。
まず、図4に示すステップS01の未焼成セラミックシート作製工程では、焼成前のセラミック材料(絶縁材料)としてのアルミナ粉末や必要に応じて他の成分粉末(例えば、シリカ、カルシアなど)、さらに、有機バインダー、溶剤、可塑剤等を混合してスラリーを作製する。そしてこのスラリーを従来周知の手法(例えば、ドクターブレード法やカレンダーロール法)によりシート状に成形して、多数個取り用の絶縁シートとしての未焼成セラミックシートを作成する。
Here, the manufacturing process of the electronic component storage package 1A according to the first embodiment will be described in detail with reference to FIG.
FIG. 4 is a flowchart showing manufacturing steps of the electronic component storage package according to the first embodiment of the present invention. The same parts as those described in FIGS. 1 to 3 are denoted by the same reference numerals, and description of the configuration is omitted.
The electronic component storage package 1A according to the first embodiment is manufactured by steps S01 to S09 illustrated in FIG. 4 (manufacturing method 29 of the electronic component storage package according to the first embodiment).
First, in the unfired ceramic sheet manufacturing process of step S01 shown in FIG. 4, alumina powder as a ceramic material (insulating material) before firing and other component powders (for example, silica, calcia, etc.) as necessary, A slurry is prepared by mixing an organic binder, a solvent, a plasticizer and the like. And this slurry is shape | molded by the conventionally well-known method (for example, a doctor blade method or a calender roll method), and the unbaking ceramic sheet | seat as an insulating sheet for many pieces is produced.

また、次のステップS02の貫通孔形成工程では、先のステップS01において作製された未焼成セラミックシートに対してパンチング(打ち抜き)加工を行い、各未焼成セラミックシートの所望箇所に、未焼成セラミックシート11をその厚み方向に貫通する貫通孔を形成する。この時、溝部9の形成位置には、その平面形状が任意の環状形状27である貫通孔が形成される。
なお、これらの貫通孔の形成方法としては、パンチング加工以外にも、レーザー穴あけ加工などの他の手法を用いることができる。
また、複数枚の未焼成セラミックシートを積層して一体化させた際にキャスタレーション26(図1を参照)が形成されるよう各未焼成セラミックシートの符合する位置に貫通孔を形成しておいてもよい。
Further, in the through-hole forming step of the next step S02, punching (punching) processing is performed on the unfired ceramic sheet produced in the previous step S01, and the unfired ceramic sheet is formed at a desired portion of each unfired ceramic sheet. A through hole penetrating 11 in the thickness direction is formed. At this time, a through-hole whose planar shape is an arbitrary annular shape 27 is formed at the formation position of the groove 9.
As a method for forming these through holes, other methods such as laser drilling can be used besides punching.
Further, through holes are formed at positions where the green ceramic sheets coincide with each other so that a castellation 26 (see FIG. 1) is formed when a plurality of green ceramic sheets are laminated and integrated. May be.

さらに、図4に示すステップS03の未焼成導体金属充填(又は内側面塗布)工程では、未焼成セラミックシートに形成された貫通孔内に、未焼成導体金属が被着又は充填される。
より具体的には、従来周知のペースト印刷装置を用いて、未焼成セラミックシートの貫通孔内に、例えば、タングステンやモリブデンなどの金属粉末を含む導電性ペーストを充填し、焼成後にセラミック焼結体13を貫通して配される導体金属12(例えば、図3に示す垂直方向導体部10)となる未焼成導体金属を配する。
また、未焼成導体金属充填工程に代えて未焼成導体金属内側面塗布工程を適用する場合は、吸引機構を有する側面印刷機を用いて未焼成セラミックシートの貫通孔(上記導電性ペーストを充填する貫通孔とは別に設けられるもの)の内側面に、例えば、タングステンやモリブデンなどの金属粉末を含む導電性ペーストを付着させ、内側面を覆うように導電部(例えば、図1,2に示す垂直方向導体部10)となるべき未焼成導体金属を形成する。
従って、未焼成セラミックシートに形成される貫通孔内は完全に導電性ペーストで満たされていなくともよく、図2に示すように、その平面形状が任意の環状形状27をなす貫通孔の内側面上に形成される未焼成導体金属の中心部は空洞状になる。
Further, in the unfired conductor metal filling (or inner side surface coating) step of Step S03 shown in FIG. 4, the unfired conductor metal is deposited or filled in the through holes formed in the unfired ceramic sheet.
More specifically, a conductive paste containing metal powder such as tungsten or molybdenum is filled in the through-holes of the unfired ceramic sheet using a conventionally known paste printing apparatus, and the sintered ceramic body after firing. An unfired conductor metal is disposed as a conductor metal 12 (for example, the vertical conductor portion 10 shown in FIG. 3) disposed through 13.
In addition, in the case of applying the unfired conductor metal inner side surface coating step instead of the unbaked conductor metal filling step, the through hole of the unfired ceramic sheet (filling the conductive paste is filled) using a side surface printing machine having a suction mechanism. For example, a conductive paste containing metal powder such as tungsten or molybdenum is attached to the inner side surface of the one provided separately from the through hole, and the conductive part (for example, the vertical shown in FIGS. A green conductor metal to be the directional conductor part 10) is formed.
Therefore, the inside of the through-hole formed in the unfired ceramic sheet may not be completely filled with the conductive paste, and as shown in FIG. 2, the inner surface of the through-hole whose planar shape forms an arbitrary annular shape 27 The central portion of the unfired conductor metal formed on the top is hollow.

そして、図4に示すステップS04の未焼成金属導体印刷工程では、スクリーン印刷法によって、各未焼成セラミックシートの表面の所望位置に未焼成導体金属からなる層を形成する。なお、ここでは、各未焼成セラミックシートにおける表面上に、マスクを用いて導電性ペーストを印刷することで、未焼成導体金属をパターン形成する。これらの未焼成導体金属は、パッケージ本体3がセラミック多層基板(図1(b)を参照)である場合に、その内層や主面及び裏面においてセラミック焼結体13の平面方向と平行に配される第1の導体パッド部11や導体金属12(メタライズ導体層)となるべき部分である。
なお、実施例1に係る電子部品収納用パッケージの製造方法29では、上述のステップS02〜S04を総称して未焼成導体金属付与工程とよぶ。
さらに、上述の通り未焼成セラミックシートに未焼成導体金属を付与した後は、所定の温度に加熱して、各未焼成セラミックシートに充填、被着あるいは印刷した未焼成導体金属を乾燥させ、導電性ペースト中の溶剤成分を揮発させ、未焼成導体金属を未焼成セラミックシートに安定的に保持させる。
Then, in the green metal conductor printing step of step S04 shown in FIG. 4, a layer made of green conductor metal is formed at a desired position on the surface of each green ceramic sheet by screen printing. Here, the conductive conductor metal is printed on the surface of each unfired ceramic sheet using a mask to pattern the unfired conductor metal. When the package body 3 is a ceramic multilayer substrate (see FIG. 1B), these unfired conductor metals are arranged in parallel to the planar direction of the ceramic sintered body 13 on the inner layer, main surface, and back surface. This is a portion to be the first conductor pad portion 11 and the conductor metal 12 (metallized conductor layer).
In the electronic component storage package manufacturing method 29 according to the first embodiment, the above-described steps S02 to S04 are collectively referred to as an unfired conductor metal application step.
Further, after applying the unfired conductor metal to the unfired ceramic sheet as described above, the unfired conductor metal filled, deposited or printed on each unfired ceramic sheet is dried by heating to a predetermined temperature, and conductive The solvent component in the conductive paste is volatilized, and the unfired conductor metal is stably held on the unfired ceramic sheet.

次に、図5を参照しながらステップS05のキャビティ用孔形成工程について詳細に説明する。図5(a)は貫通孔内に未焼成導体金属を被着した場合のキャビティ用孔形成工程におけるキャビティ用孔形成位置を示す平面図であり、(b)は貫通孔内に未焼成導体金属を充填した場合のキャビティ用孔形成工程におけるキャビティ用孔形成位置を示す平面図である。なお、図1乃至図4に記載されたものと同一部分については同一符号を付し、その構成についての説明は省略する。
図4に示すステップS05のキャビティ用孔形成工程では、打ち抜き治具(図示略)を用いてパンチング加工を行い、未焼成金属導体(導電性ペースト)が付与された未焼成セラミックシートにキャビティ5(図1乃至図3を参照)となるべきキャビティ用孔を形成する。
図3に示すようなセラミック多層基板であるパッケージ本体3においてキャビティ5内に段差部6を形成するには、図4に示すステップS05のキャビティ用孔形成工程において、各未焼成セラミックシートに形成されるキャビティ用孔の孔径(あるいは、孔幅)を適宜調整すればよい。つまり、キャビティ5内において段差部6を形成する各未焼成セラミックシートに形成されるキャビティ用孔の孔径(あるいは、孔幅)を他のそれよりも小さくすればよい。
このステップS05のキャビティ用孔形成工程により、電子部品収納用パッケージ1Aの段差部6において焼成後に溝部9及び垂直方向導体部10となる部分が形成される。
より具体的には、図5(a),(b)に示すように、その平面形状が任意の環状形状27である貫通孔33が形成され、その内側に未焼成導体金属34が被着又は充填された未焼成セラミックシート32において、貫通孔33の中心点35を通過する中心線19と重ならない位置で、かつ、キャビティ用孔20の形成位置から貫通孔33の最外縁までの距離Bが任意の環状形状27の半径、長径又は短径よりも小さくなるようにキャビティ用孔20を形成することで、図1乃至図3に示すような溝部9及び垂直方向導体部10を形成することができる。
この時、その平面形状が任意の環状形状27である貫通孔33の全周長における切取り後の残部領域D(図5(a),(b)を参照)が、貫通孔33の全周長の50%を下回った状態にすることができる。
Next, the cavity hole forming step in step S05 will be described in detail with reference to FIG. FIG. 5A is a plan view showing a cavity hole forming position in the cavity hole forming step when an unfired conductor metal is deposited in the through hole, and FIG. 5B is an unfired conductor metal in the through hole. It is a top view which shows the cavity hole formation position in the cavity hole formation process at the time of filling. The same parts as those described in FIGS. 1 to 4 are denoted by the same reference numerals, and description of the configuration is omitted.
In the cavity hole forming step of step S05 shown in FIG. 4, punching is performed using a punching jig (not shown), and the cavity 5 (on the unfired ceramic sheet provided with the unfired metal conductor (conductive paste) is formed. Cavity holes to be formed (see FIGS. 1 to 3) are formed.
In order to form the stepped portion 6 in the cavity 5 in the package body 3 which is a ceramic multilayer substrate as shown in FIG. 3, it is formed on each unfired ceramic sheet in the cavity hole forming step of step S05 shown in FIG. The hole diameter (or hole width) of the cavity hole may be adjusted as appropriate. That is, the hole diameter (or hole width) of the cavity hole formed in each unfired ceramic sheet forming the stepped portion 6 in the cavity 5 may be made smaller than the others.
By the cavity hole forming step in step S05, portions that become the groove 9 and the vertical conductor 10 are formed in the step portion 6 of the electronic component storage package 1A after firing.
More specifically, as shown in FIGS. 5 (a) and 5 (b), a through-hole 33 whose planar shape is an arbitrary annular shape 27 is formed, and an unfired conductive metal 34 is deposited or deposited on the inside thereof. In the filled unfired ceramic sheet 32, the distance B from the position where the cavity hole 20 is formed to the outermost edge of the through hole 33 is a position that does not overlap the center line 19 passing through the center point 35 of the through hole 33. By forming the cavity hole 20 so as to be smaller than the radius, major axis, or minor axis of the annular shape 27, the groove 9 and the vertical conductor 10 as shown in FIGS. 1 to 3 can be formed. it can.
At this time, the remaining region D (see FIGS. 5A and 5B) after cutting in the entire circumferential length of the through-hole 33 whose planar shape is an arbitrary annular shape 27 is the entire circumferential length of the through-hole 33. It can be in a state of less than 50%.

そして、図4に示すステップS06の未焼成セラミックシート積層工程では、未焼成導体金属が所望個所に付与された複数枚の未焼成セラミックシートが積層されて一体化される。そして、従来周知のラミネート装置を用いて未焼成セラミックシートを加熱しながらその厚さ方向に所定の荷重を加えることにより、これらを熱圧着、一体化して未焼成セラミックシート積層体を形成する。
なお、実施例1に係る電子部品収納用パッケージの製造方法29において未焼成セラミックシート積層体は、焼成後に複数の電子部品収納用パッケージ1Aを碁盤目状に配設してなる製品領域と、この製品領域を囲むように形成されるダミー領域とにより構成される(図示せず)。なお、このダミー領域の四隅にアライメント用貫通孔を形成しておき、このアライメント用貫通孔の位置をカメラで画像認識して、各未焼成セラミックシート11の位置合わせを行うことにより各未焼成セラミックシートの位置合わせを行ってもよい。
Then, in the unfired ceramic sheet laminating step of step S06 shown in FIG. 4, a plurality of unfired ceramic sheets provided with unfired conductor metal at desired locations are laminated and integrated. Then, by applying a predetermined load in the thickness direction while heating the unfired ceramic sheet using a conventionally known laminating apparatus, they are thermocompression-bonded and integrated to form an unfired ceramic sheet laminate.
In the electronic component storage package manufacturing method 29 according to Example 1, the unsintered ceramic sheet laminate includes a product region in which a plurality of electronic component storage packages 1A are disposed in a grid pattern after firing, And a dummy area formed so as to surround the product area (not shown). In addition, alignment green holes are formed at the four corners of the dummy area, the positions of the alignment through holes are image-recognized by a camera, and each green ceramic sheet 11 is aligned to thereby align each green ceramic. You may align a sheet | seat.

さらに、図4に示すステップS07の分割溝形成工程では、図示しない切り刃(ブレード)を用いて、未焼成セラミックシート積層体における各電子部品収納用パッケージ1Aの境界線上に断面略V字形の分割溝を形成する。なお、この分割溝は、未焼成セラミックシート積層体においてキャビティ5が形成される主面及び裏面に対を成すように形成される。
また、上記分割溝は、レーザー加工装置(図示せず)を用いてレーザー光を照射することにより形成してもよい。
さらに、未焼成セラミックシート積層体の主面又は裏面のいずれか一方に形成される分割溝を切り刃(ブレード)により形成し、他方に形成される分割溝をレーザー光を照射することにより形成してもよい。
Further, in the split groove forming step of step S07 shown in FIG. 4, a cutting blade (blade) (not shown) is used to divide the non-fired ceramic sheet laminate into a substantially V-shaped cross section on the boundary line of each electronic component storage package 1A. Grooves are formed. In addition, this division groove is formed so that it may make a pair with the main surface and back surface in which the cavity 5 is formed in a non-baking ceramic sheet laminated body.
Moreover, you may form the said division | segmentation groove | channel by irradiating a laser beam using a laser processing apparatus (not shown).
Furthermore, the dividing groove formed on either the main surface or the back surface of the unfired ceramic sheet laminate is formed by a cutting blade (blade), and the dividing groove formed on the other is formed by irradiating laser light. May be.

そして、図4に示すステップS08の焼成工程では、未焼成セラミックシート積層体を、窒素と水素と水蒸気からなる還元雰囲気中においてアルミナが焼結しうる所定の温度(例えば、1500℃〜1800℃程度の温度)に加熱して焼成する。この焼成を経ると、未焼成セラミックシート積層体における各未焼成セラミックシートが焼結して、セラミック焼結体が積層してなるセラミック多層基板からなる多数個取り用パッケージ30(図4を参照)が得られる。また、この多数個取り用パッケージ30は、電子部品収納用パッケージ1Aとなるべき製品領域が平面方向に沿って縦横に碁盤目状に複数配列されたものである。
また、上記多数個取り用パッケージ30では、未焼成導体金属(導電ペースト)の焼結によって、セラミック多層基板からなるパッケージ本体3の内部、主面、裏面及びキャビティ5内の所望個所に導体金属12(垂直方向導体部10及び第1の導体パッド部11を含む)が形成される。
In the firing step of step S08 shown in FIG. 4, a predetermined temperature (for example, about 1500 ° C. to 1800 ° C.) at which alumina can be sintered in a reducing atmosphere composed of nitrogen, hydrogen and water vapor in the unfired ceramic sheet laminate. And then firing. After this firing, each unfired ceramic sheet in the unfired ceramic sheet laminate is sintered, and a multi-package 30 comprising a ceramic multilayer substrate formed by laminating ceramic sintered bodies (see FIG. 4) Is obtained. Further, the multi-package 30 is a product in which a plurality of product regions to be the electronic component storage package 1A are arranged in a grid pattern vertically and horizontally along the plane direction.
Further, in the multi-cavity package 30, the conductor metal 12 is formed at desired locations in the package body 3 made of the ceramic multilayer substrate, the main surface, the back surface, and the cavity 5 by sintering the unfired conductor metal (conductive paste). (Including the vertical conductor portion 10 and the first conductor pad portion 11) is formed.

さらに、図4に示すステップ09の分割個片化工程では、多数個取り用パッケージ30を分割溝に沿って分割して個片化することで、図1に示すような電子部品収納用パッケージ1Aが複数同時に得られる。   Further, in the split-separation process of step 09 shown in FIG. 4, the multi-package 30 is divided into individual pieces along the split grooves, whereby the electronic component storage package 1 </ b> A as shown in FIG. 1 is obtained. Are obtained simultaneously.

次に、図6を参照しながら実施例2に係る電子装置2Bについて詳細に説明する。
図6は本発明の実施例2に係る電子装置の断面図である。なお、図1乃至図5に記載されたものと同一部分については同一符号を付し、その構成についての説明は省略する。
実施例2に係る電子装置2Bは、先の実施例1に係る電子装置2Aにおけるキャビティ5内に、圧電素子15とは別にICチップ23を備えてなるものである。
より具体的には、実施例2に係る電子装置2Bは、パッケージ本体3のキャビティ5の底面にICチップ23を実装するための配線パターンからなる第2の導体パッド部21(導体金属12)を備え、この第2の導体パッド部21上に接合材36を介してICチップ23が実装されてなるものである。
このような実施例2に係る電子装置2Bによれば、キャビティ5内に実装されるICチップ23の機能により、圧電素子15の動作が制御されるので、実施例1に係る電子装置2Aと比較してより高性能な電子装置を提供することができる。
また、実施例2に係る電子装置2Bでは、第2の導体パッド部21上にICチップ23に代えて温度センサー(図示せず)を実装してもよい。この場合、圧電素子15の動作の制御に必要な温度データを温度センサーから取得できるので、この場合も実施例1に係る電子装置2Aと比較してより高機能な電子装置を提供することができる。
Next, the electronic device 2B according to the second embodiment will be described in detail with reference to FIG.
FIG. 6 is a cross-sectional view of an electronic device according to Embodiment 2 of the present invention. The same parts as those described in FIGS. 1 to 5 are denoted by the same reference numerals, and description of the configuration is omitted.
The electronic device 2B according to the second embodiment includes an IC chip 23 in addition to the piezoelectric element 15 in the cavity 5 of the electronic device 2A according to the first embodiment.
More specifically, the electronic device 2B according to the second embodiment includes the second conductor pad portion 21 (conductor metal 12) formed of a wiring pattern for mounting the IC chip 23 on the bottom surface of the cavity 5 of the package body 3. The IC chip 23 is mounted on the second conductor pad portion 21 via the bonding material 36.
According to the electronic device 2B according to the second embodiment, since the operation of the piezoelectric element 15 is controlled by the function of the IC chip 23 mounted in the cavity 5, it is compared with the electronic device 2A according to the first embodiment. Thus, a higher performance electronic device can be provided.
In the electronic device 2B according to the second embodiment, a temperature sensor (not shown) may be mounted on the second conductor pad portion 21 instead of the IC chip 23. In this case, since temperature data necessary for controlling the operation of the piezoelectric element 15 can be acquired from the temperature sensor, an electronic device with higher functionality can be provided in this case as compared with the electronic device 2A according to the first embodiment. .

次に、図7を参照しながら実施例3に係る電子装置2Cについて詳細に説明する。
図7は本発明の実施例3に係る電子装置の断面図である。なお、図1乃至図6に記載されたものと同一部分については同一符号を付し、その構成についての説明は省略する。
実施例3に係る電子装置2Cは、上述の実施例2に係る電子装置2Bのキャビティ5内に実装される圧電素子15以外の電子部品をICチップ23に特定し、このICチップ23とパッケージ本体3との導通手段をボンディングワイヤ24に特定したものである。
より具体的には、実施例3に係る電子装置2Cは、キャビティ5内に圧電素子15を搭載するための段差部6a(実施例2に係る電子装置2Bの段差部6に相当)に加えて、その下方側に別途、溝部9、垂直方向導体部10及び第1の導体パッド部11を備えた段差部6bを備え、キャビティ5の底に形成される例えばベタパターンからなる第3の導体パッド部22上に接合材36を介してICチップ23が接合され、このICチップ23と段差部6bの水平面8b上に被着される第1の導体パッド部11とをボンディングワイヤ24により電気的に接続したものである。
Next, the electronic device 2C according to the third embodiment will be described in detail with reference to FIG.
FIG. 7 is a cross-sectional view of an electronic device according to Embodiment 3 of the present invention. The same parts as those described in FIGS. 1 to 6 are denoted by the same reference numerals, and description of the configuration is omitted.
The electronic device 2C according to the third embodiment specifies an electronic component other than the piezoelectric element 15 mounted in the cavity 5 of the electronic device 2B according to the above-described second embodiment as the IC chip 23, and the IC chip 23 and the package body 3 is specified by the bonding wire 24.
More specifically, in the electronic device 2C according to the third embodiment, in addition to the step portion 6a for mounting the piezoelectric element 15 in the cavity 5 (corresponding to the step portion 6 of the electronic device 2B according to the second embodiment). A third conductor pad made of, for example, a solid pattern, formed on the bottom of the cavity 5, further including a step portion 6 b including a groove portion 9, a vertical conductor portion 10, and a first conductor pad portion 11. The IC chip 23 is bonded onto the portion 22 via the bonding material 36, and the IC chip 23 and the first conductor pad portion 11 deposited on the horizontal surface 8 b of the stepped portion 6 b are electrically connected by the bonding wire 24. Connected.

実施例3に係る電子装置2Cにおいても、上述の実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aが用いられているため、段差部6aの水平面8a(実施例1に係る電子部品収納用パッケージ1Aの水平面8aに相当)上に被着される第1の導体パッド部11と同様に、段差部6bの水平面8b上に被着される第1の導体パッド部11の表面の平坦性も極めて高い(図10を参照)。よって、ボンディングワイヤ24の接続に適した平坦性が極めて優れた第1の導体パッド部11の面積を広くすることができるので、実施例3に係る電子装置2Cの製造時に、パッケージ本体3とICチップ23とを電気的に接続するボンディングワイヤ24の接合部において導通不良が起こるリスクを大幅に軽減することができる。
この結果、実施例3に係る電子装置2Cの製造時の良品率を向上でき、これによりその生産性を向上できる。
Also in the electronic device 2C according to the third embodiment, since the electronic component storage package 1A according to the first embodiment is used, the horizontal surface 8a of the step portion 6a (the electronic component storage package 1A according to the first embodiment) Similar to the first conductor pad portion 11 deposited on the horizontal plane 8a), the flatness of the surface of the first conductor pad portion 11 deposited on the horizontal plane 8b of the step portion 6b is also extremely high ( See FIG. Therefore, since the area of the first conductor pad portion 11 having excellent flatness suitable for the connection of the bonding wire 24 can be increased, the package body 3 and the IC can be formed at the time of manufacturing the electronic device 2C according to the third embodiment. It is possible to greatly reduce the risk of a conduction failure occurring at the joint portion of the bonding wire 24 that electrically connects the chip 23.
As a result, it is possible to improve the yield rate at the time of manufacturing the electronic device 2C according to the third embodiment, thereby improving the productivity.

次に、図8を参照しながら実施例4に係る電子装置2Dについて詳細に説明する。
図8は本発明の実施例4に係る電子装置の断面図である。なお、図1乃至図7に記載されたものと同一部分については同一符号を付し、その構成についての説明は省略する。
実施例4に係る電子装置2Dは、先に述べた実施例2に係る電子装置2Bと同等の性能を有するものであるが、その構造が異なっている。
具体的には、実施例4に係る電子装置2Dは、図8に示すように、パッケージ本体3の主面31a側に第1のキャビティ5a(実施例2に係る電子装置2Bにおけるキャビティ5に相当)を、パッケージ本体3の裏面31b側に第2のキャビティ5bをそれぞれ備え、第1のキャビティ5aには圧電素子15を、第2のキャビティ5bにはICチップ23をそれぞれ実装してなるものである。
なお、図8に示す電子装置2Dにおいて、第2のキャビティ5bに実装される電子部品はICチップ23でなく温度センサー(図示せず)でもよい。
このような実施例4に係る電子装置2Dによれば、実施例2に係る電子装置2Bによる効果と同じ効果を有する。
さらに、実施例4に係る電子装置2Dによれば、圧電素子15を収納する工程とICチップ23(又は温度センサー)を収納する工程を別々に設定することができるので、いずれかの収納工程において不良品が発生した場合でも圧電素子15とICチップ23の両方が無駄になるのを回避できる。
Next, an electronic device 2D according to the fourth embodiment will be described in detail with reference to FIG.
FIG. 8 is a cross-sectional view of an electronic device according to Embodiment 4 of the present invention. The same parts as those described in FIGS. 1 to 7 are denoted by the same reference numerals, and description of the configuration is omitted.
The electronic device 2D according to the fourth embodiment has the same performance as the electronic device 2B according to the second embodiment described above, but the structure is different.
Specifically, as shown in FIG. 8, the electronic device 2D according to the fourth embodiment has a first cavity 5a (corresponding to the cavity 5 in the electronic device 2B according to the second embodiment) on the main surface 31a side of the package body 3. ) Is provided with a second cavity 5b on the back surface 31b side of the package body 3, and a piezoelectric element 15 is mounted on the first cavity 5a and an IC chip 23 is mounted on the second cavity 5b. is there.
In the electronic device 2D shown in FIG. 8, the electronic component mounted in the second cavity 5b may be a temperature sensor (not shown) instead of the IC chip 23.
The electronic device 2D according to the fourth embodiment has the same effect as that obtained by the electronic device 2B according to the second embodiment.
Furthermore, according to the electronic device 2D according to the fourth embodiment, the process of housing the piezoelectric element 15 and the process of housing the IC chip 23 (or temperature sensor) can be set separately. Even when a defective product occurs, it can be avoided that both the piezoelectric element 15 and the IC chip 23 are wasted.

なお、図8では、第2のキャビティ5bの底に、例えば、配線パターンからなる第2の導体パッド部21を設け、この第2の導体パッド部21上に接合材36を介してICチップ23又は図示しない温度センサを実装する場合を例に挙げて説明しているが、第2のキャビティ5b内に溝部9、垂直方向導体部10及び第1の導体パッド部11を備える段差部6を設け、第2のキャビティ5b内に収納される電子部品(例えば、ICチップ23又は温度センサ)と、第2のキャビティ5b内に設けられる段差部6の水平面8上に被着される第1の導体パッド部11とをボンディングワイヤ24により電気的に接続してもよい(図示せず。)なお、この場合、第2のキャビティ5b内において電子部品を接合するための台座となる導体金属12はベタパターン(図7中の第3の導体パッド部22)でもよい。
そして、この場合、実施例3に係る電子装置2Cの場合と同様に、第1の導体パッド部11とボンディングワイヤ24とが導通不良を起こすリスクを低減して、実施例4に係る電子装置2Dの製造時の良品率を高めることができ、これによりその生産性を向上できる。
In FIG. 8, a second conductor pad portion 21 made of, for example, a wiring pattern is provided at the bottom of the second cavity 5b, and the IC chip 23 is placed on the second conductor pad portion 21 via a bonding material 36. Alternatively, although a case where a temperature sensor (not shown) is mounted is described as an example, a step portion 6 including a groove portion 9, a vertical conductor portion 10, and a first conductor pad portion 11 is provided in the second cavity 5b. An electronic component (for example, an IC chip 23 or a temperature sensor) housed in the second cavity 5b and a first conductor deposited on the horizontal surface 8 of the step portion 6 provided in the second cavity 5b. The pad portion 11 may be electrically connected by a bonding wire 24 (not shown). In this case, the conductor metal 12 serving as a base for joining electronic components in the second cavity 5b is Data pattern (third conductor pad portion 22 in FIG. 7) may be used.
In this case, as in the case of the electronic device 2C according to the third embodiment, the risk of causing a conduction failure between the first conductor pad portion 11 and the bonding wire 24 is reduced, and the electronic device 2D according to the fourth embodiment is reduced. The yield of non-defective products during production can be increased, thereby improving the productivity.

次に、図9を参照しながら実施例5に係る電子装置2Eについて詳細に説明する。
図9は本発明の実施例5に係る電子装置の断面図である。なお、図1乃至図8に記載されたものと同一部分については同一符号を付し、その構成についての説明は省略する。
実施例5に係る電子装置2Eは、図9に示すように、先に図7において示した実施例3に係る電子装置2Cから、キャビティ5内に設けられる圧電素子15及びその実装のための段差部6aに関する構成を取り除いたものである。
従って、実施例5に係る電子装置2Eによれば、段差部6の水平面8上に被着される第1の導体パッド部11にボンディングワイヤ24を接続する際に、導通不良が起こるリスクを大幅に低減することができ、これにより実施例5に係る電子装置2Eの製造時の良品率を大幅に高めることができる。この結果、実施例5に係る電子装置2Eの生産性を向上できる。
Next, the electronic device 2E according to the fifth embodiment will be described in detail with reference to FIG.
FIG. 9 is a cross-sectional view of an electronic device according to Embodiment 5 of the present invention. The same parts as those described in FIGS. 1 to 8 are denoted by the same reference numerals, and description of the configuration is omitted.
As shown in FIG. 9, the electronic device 2E according to the fifth embodiment is different from the electronic device 2C according to the third embodiment previously shown in FIG. 7 in that the piezoelectric element 15 provided in the cavity 5 and a step for mounting the same. The configuration relating to the part 6a is removed.
Therefore, according to the electronic device 2E according to the fifth embodiment, when the bonding wire 24 is connected to the first conductor pad portion 11 that is deposited on the horizontal surface 8 of the step portion 6, the risk of poor conduction is greatly increased. As a result, the non-defective product rate at the time of manufacturing the electronic device 2E according to the fifth embodiment can be significantly increased. As a result, the productivity of the electronic device 2E according to the fifth embodiment can be improved.

最後に、実施例3,5に係る電子装置2C,2Eの技術内容についてさらに詳細に説明を加える。
通常、キャビティ5内に収納される電子部品(例えば、ICチップ23)と段差部6(又は段差部6b)の水平面8(又は水平面8b)上に被着される第1の導体パッド部11とをボンディングワイヤ24により電気的に接続する場合、第1の導体パッド部11上におけるボンディングワイヤ24の接続位置は、パッケージ本体3をキャビティ5の真上から撮影した画像を画像処理することで決定される。
より具体的には、パッケージ本体3を真上から撮像した画像において、垂直方向導体部10の上端面の位置を特定し、この上端面の位置を避けてより平坦性の高い第1の導体パッド部11上にボンディングワイヤ24の接続位置が設定される。
ところが、先の図3に示す実施例1の変形例に係る電子部品収納用パッケージ1A’のように、段差部6(又は段差部6b)に形成される溝部9の中空部の全てが導体金属12(垂直方向導体部10)により充填される場合で、かつ、この段差部6(又は段差部6b)の基部の近傍にまで導体金属25(導体金属12と同等)が配されている場合は、パッケージ本体3を真上から撮像した画像において垂直方向導体部10の上端面位置を特定することが困難になり、この結果、ボンディングワイヤ24の接続位置を決定することができなくなる。
これに対して、先の図2に示すように、段差部6(又は段差部6b)に形成される溝部9の内側面上に導体金属12が被着されてなる垂直方向導体部10を有する場合は、すなわち、段差部6(又は段差部6b)の段差面7(又は段差面7b)に延設される垂直方向導体部10の表面が溝部9の内側に落ち窪んでいる場合は、パッケージ本体3を真上から見た画像中において、段差部6(又は段差部6b)の端面に凹部が存在することになり、この凹部を検出することで垂直方向導体部10の上端面位置を特定することができる。
そして、これにより検出された垂直方向導体部10の上端面位置を避けて、ボンディングワイヤ24の接続位置を決定することができるので、実施例3,5に係る電子装置2C,2Eを効率良く生産することができる。
よって、キャビティ5内に収納される電子部品とパッケージ本体3とをボンディングワイヤ24により電気的に接続する場合は、段差部6(又は段差部6b)の段差面7(又は段差面7b)に延設される垂直方向導体部10の表面の全域を溝部9内に落ち窪んだ状態にしておくことで、すなわち、段差部6(又は段差部6b)に形成される溝部9の内側面上に導体金属12を被着させてなる垂直方向導体部10を採用することで、電子装置(例えば、実施例3,5に係る電子装置2C,2E)の生産性を向上することができる。
なお、実施例4に係る電子装置2Dにおいて、第2のキャビティ5b内に段差部6を設け、さらに、第2のキャビティ5b内に収容される電子部品がパッケージ本体3とボンディングワイヤ24により電気的に接続される場合も、第2のキャビティ5b内に形成される段差部6に設けられる垂直方向導体部10の段差面7に延設される表面の全域を溝部9内に落ち窪んだ状態にしておくことで、同様の効果を発揮させることができる。
Finally, the technical contents of the electronic devices 2C and 2E according to the third and fifth embodiments will be described in further detail.
Usually, the electronic component (for example, IC chip 23) accommodated in the cavity 5 and the first conductor pad portion 11 deposited on the horizontal surface 8 (or horizontal surface 8b) of the step portion 6 (or step portion 6b) Is electrically connected by the bonding wire 24, the connection position of the bonding wire 24 on the first conductor pad portion 11 is determined by performing image processing on an image obtained by photographing the package body 3 from directly above the cavity 5. The
More specifically, the position of the upper end surface of the vertical conductor portion 10 is specified in an image obtained by imaging the package body 3 from directly above, and the first conductor pad having higher flatness is avoided by avoiding the position of the upper end surface. The connection position of the bonding wire 24 is set on the part 11.
However, the entire hollow portion of the groove portion 9 formed in the step portion 6 (or the step portion 6b) is a conductor metal like the electronic component storage package 1A ′ according to the modification of the first embodiment shown in FIG. In the case where the conductor metal 25 (equivalent to the conductor metal 12) is disposed up to the vicinity of the base of the stepped portion 6 (or the stepped portion 6b) In addition, it becomes difficult to specify the position of the upper end surface of the vertical conductor portion 10 in the image obtained by imaging the package body 3 from directly above, and as a result, the connection position of the bonding wire 24 cannot be determined.
On the other hand, as shown in FIG. 2, the vertical conductor portion 10 is formed by the conductor metal 12 being deposited on the inner surface of the groove portion 9 formed in the step portion 6 (or the step portion 6b). In this case, that is, when the surface of the vertical conductor portion 10 extending on the step surface 7 (or the step surface 7b) of the step portion 6 (or the step portion 6b) falls inside the groove portion 9 and is recessed, In the image of the main body 3 viewed from directly above, there is a recess on the end surface of the stepped portion 6 (or stepped portion 6b), and the position of the upper end surface of the vertical conductor portion 10 is specified by detecting this recess. can do.
Since the detected position of the upper end surface of the vertical conductor portion 10 can be avoided and the connection position of the bonding wire 24 can be determined, the electronic devices 2C and 2E according to the third and fifth embodiments can be produced efficiently. can do.
Therefore, when the electronic component housed in the cavity 5 and the package body 3 are electrically connected by the bonding wire 24, the electronic component is extended to the step surface 7 (or the step surface 7b) of the step portion 6 (or the step portion 6b). By leaving the entire surface of the vertical conductor portion 10 provided in the groove portion 9 in a depressed state, that is, a conductor on the inner surface of the groove portion 9 formed in the step portion 6 (or step portion 6b). By employing the vertical conductor portion 10 on which the metal 12 is deposited, the productivity of the electronic device (for example, the electronic devices 2C and 2E according to Examples 3 and 5) can be improved.
In the electronic device 2D according to the fourth embodiment, the step portion 6 is provided in the second cavity 5b, and the electronic component housed in the second cavity 5b is electrically connected by the package body 3 and the bonding wire 24. In the case of being connected to, the entire surface extending from the step surface 7 of the vertical conductor portion 10 provided in the step portion 6 formed in the second cavity 5b falls into the groove portion 9 and is depressed. By doing so, the same effect can be exhibited.

また、図6乃至図9に示される電子装置2B〜2Eに用いられる電子部品収納用パッケージはいずれも、先の図4に示す電子部品収納用パッケージの製造方法29と同様の手順により製造することができる。
また、本発明はアルミナセラミックス以外のセラミックス、例えば、アルミナ−ジルコニアセラミックス、窒化アルミ、ガラスセラミックス等にも適用できる。この場合は、それぞれのセラミックスに応じた製造条件や導体金属等を適宜設定する必要がある。
Also, all the electronic component storage packages used in the electronic devices 2B to 2E shown in FIGS. 6 to 9 are manufactured by the same procedure as the electronic component storage package manufacturing method 29 shown in FIG. Can do.
The present invention can also be applied to ceramics other than alumina ceramics, such as alumina-zirconia ceramics, aluminum nitride, and glass ceramics. In this case, it is necessary to appropriately set manufacturing conditions, conductor metals, etc. according to the respective ceramics.

以上説明したように本発明は、キャビティ内に電子部品を実装する場合の導通性を向上しつつ製品の外形寸法を小型化できる電子部品収納用パッケージ及びそれを用いた電子装置に関する技術分野において利用可能である。   As described above, the present invention is used in a technical field related to an electronic component storage package capable of reducing the outer dimensions of a product while improving electrical conductivity when an electronic component is mounted in a cavity, and an electronic device using the same. Is possible.

1A,1A’ ,1B〜1E…電子部品収納用パッケージ 2A〜2E…電子装置 3…パッケージ本体 4…枠体 5…キャビティ 5a…第1のキャビティ 5b…第2のキャビティ 6,6a,6b…段差部 7,7a,7b…段差面 8,8a,8b…水平面9…溝部 10…垂直方向導体部 11…第1の導体パッド部 12…導体金属 13…セラミック焼結体 14…導電性樹脂 15…圧電素子 16…電極 17…金属リング 18…金属蓋体 19…中心線 20…キャビティ用孔 21…第2の導体パッド部 22…第3の導体パッド部 23…ICチップ 24…ボンディングワイヤ 25…導体金属 26…キャスタレーション 27…任意の環状形状 28…端面形状 29…電子部品収納用パッケージの製造方法 30…多数個取り用パッケージ 31a…主面 31b…裏面 32…未焼成セラミックシート 33…貫通孔 34…未焼成導体金属 35…中心点 36…接合材   1A, 1A ', 1B-1E ... Electronic component storage package 2A-2E ... Electronic device 3 ... Package body 4 ... Frame 5 ... Cavity 5a ... First cavity 5b ... Second cavity 6, 6a, 6b ... Step 7, 7 a, 7 b, step surface 8, 8 a, 8 b, horizontal surface 9, groove portion 10, vertical conductor portion 11, first conductor pad portion 12, conductor metal 13, ceramic sintered body 14, conductive resin 15,. Piezoelectric element 16 ... Electrode 17 ... Metal ring 18 ... Metal lid 19 ... Center line 20 ... Cavity hole 21 ... Second conductor pad part 22 ... Third conductor pad part 23 ... IC chip 24 ... Bonding wire 25 ... Conductor Metal 26 ... Castellation 27 ... Arbitrary annular shape 28 ... End face shape 29 ... Manufacturing method of electronic component storage package 30 ... Multiple picking Package 31a ... principal surface 31b ... back surface 32 ... unfired ceramic sheet 33 ... through hole 34 ... unfired conductor metal 35 ... center point 36 ... bonding material

Claims (6)

絶縁体であるセラミック焼結体と導体金属とからなる電子部品収納用パッケージであって、
電子部品を収納するキャビティが形成されたパッケージ本体と、前記キャビティの内側面の少なくとも一部に突設される少なくとも1の段差部と、この段差部の段差面を鉛直上下方向に切り欠いてなる少なくとも1つの溝部と、この溝部内に被着又は充填され前記導体金属からなる垂直方向導体部と、前記段差部の水平面に被着され前記導体金属からなり前記垂直方向導体部と電気的に接続される第1の導体パッド部と、を有し、
前記水平面上における前記溝部の端面形状は、任意の環状形状の一部をなし、
前記環状形状と前記端面形状とを重ね合せた場合に、双方が重なり合う領域は50%を下回り、
前記垂直方向導体部は、前記パッケージ本体の内部、及び、外側面又は下面、に配される前記導体金属を介して外部と電気的に接続可能であることを特徴とする電子部品収納用パッケージ。
An electronic component storage package comprising a ceramic sintered body that is an insulator and a conductor metal,
A package body in which a cavity for storing electronic components is formed, at least one stepped portion projecting from at least a part of the inner side surface of the cavity, and a stepped surface of the stepped portion is cut out in the vertical vertical direction. At least one groove portion, a vertical conductor portion made of the conductive metal deposited or filled in the groove portion, and electrically connected to the vertical conductor portion made of the conductive metal deposited on the horizontal surface of the stepped portion. A first conductor pad portion to be
The end face shape of the groove on the horizontal plane is a part of an arbitrary annular shape,
When the annular shape and the end face shape are overlapped, the area where both overlap is less than 50%,
The package for storing electronic parts, wherein the vertical conductor portion can be electrically connected to the outside through the conductor metal disposed on the inside and outside or lower surface of the package body.
請求項1に記載の電子部品収納用パッケージと、
前記キャビティに収納される圧電素子と、を有し、
少なくとも1の前記第1の導体パッド部に前記圧電素子の電極が導電性樹脂を介して接合されていることを特徴とする電子装置。
The electronic component storage package according to claim 1;
A piezoelectric element housed in the cavity,
An electronic device, wherein an electrode of the piezoelectric element is bonded to at least one of the first conductor pad portions via a conductive resin.
請求項2に記載の電子装置と、
前記キャビティの底面に被着される第2の導体パッド部と、
前記第2の導体パッド部に搭載されるICチップ又は温度センサーと、を有することを特徴とする電子装置。
An electronic device according to claim 2;
A second conductor pad portion deposited on the bottom surface of the cavity;
An electronic device comprising: an IC chip or a temperature sensor mounted on the second conductor pad portion.
請求項2に記載の電子装置と、
前記キャビティを第1のキャビティとする場合に、前記パッケージ本体において前記第1のキャビティが形成されない側の面に形成される第2のキャビティと、
前記第2のキャビティの底面に被着される第2の導体パッド部と、
前記第2の導体パッド部に搭載されるICチップ又は温度センサーと、を有することを特徴とする電子装置。
An electronic device according to claim 2;
A second cavity formed on a surface of the package body where the first cavity is not formed when the cavity is a first cavity;
A second conductor pad portion deposited on the bottom surface of the second cavity;
An electronic device comprising: an IC chip or a temperature sensor mounted on the second conductor pad portion.
上段側に配される第1の段差部と、下段側に配される第2の段差部とを少なくとも備える請求項1に記載の電子部品収納用パッケージと、
前記キャビティの底面に被着される第3の導体パッド部と、
前記キャビティに収納される圧電素子と、
前記第3の導体パッド部に搭載されるICチップと、を有し、
前記第1の段差部の前記第1の導体パッド部に前記圧電素子の電極が導電性樹脂を介して接合され、
前記第2の段差部の前記第1の導体パッド部と前記ICチップとは、ボンディングワイヤにより電気的に接続されていることを特徴とする電子装置。
The electronic component storage package according to claim 1, comprising at least a first step portion disposed on the upper stage side and a second step portion disposed on the lower stage side,
A third conductor pad portion deposited on the bottom surface of the cavity;
A piezoelectric element housed in the cavity;
An IC chip mounted on the third conductor pad portion,
The electrode of the piezoelectric element is bonded to the first conductor pad portion of the first step portion via a conductive resin,
The electronic device, wherein the first conductor pad portion of the second step portion and the IC chip are electrically connected by a bonding wire.
請求項1に記載の電子部品収納用パッケージと、
前記キャビティに収納されるICチップと、を有し、
少なくとも1の前記第1の導体パッド部と前記ICチップとは、ボンディングワイヤにより電気的に接続されていることを特徴とする電子装置。
The electronic component storage package according to claim 1;
An IC chip housed in the cavity,
At least one of the first conductor pad portions and the IC chip are electrically connected by a bonding wire.
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