JP2017183704A - 基板搬送装置及び基板搬送方法 - Google Patents
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Abstract
Description
前記基板保持部を移動させる移動機構と、
前記吸引孔に連通する吸引路の圧力を検出する圧力検出部と、
前記圧力検出部の圧力検出値の微分値に基づいて前記基板の搬送の異常を検出する制御部と、
を備えたことを特徴とする。
前記基板を保持した前記基板保持部を移動機構により移動させる工程と、
圧力検出部により前記吸引孔に連通する吸引路の圧力を検出する工程と、
前記圧力検出部の圧力検出値の微分値に基づいて前記基板の搬送の異常を検出する工程と、
を備えたことを特徴とする。
本発明の基板搬送装置が適用された塗布、現像装置1について、図1の平面図及び図2の概略縦断側面図を参照して説明する。この塗布、現像装置1はキャリアブロックD1と、処理ブロックD2と、インターフェイスブロックD3と、を直線状に接続して構成されている。インターフェイスブロックD3には、露光機D4が接続されている。以下、各ブロックDについて説明するにあたり、キャリアブロックD1側を前方側、インターフェイスブロックD3側を後方側として説明する。
キャリアブロックD1には、塗布、現像装置1の外部からウエハWを格納するキャリアCが搬送される。当該キャリアブロックD1は、キャリアCの載置台11と、開閉部12と、開閉部12を介してキャリアCに対してウエハWを搬送するための搬送アーム2とを備えている。
上記の各搬送アームは基板搬送機構として塗布、現像装置1に組み込まれた基板搬送装置である。キャリアブロックD1の搬送アーム2について、図3の平面図及び図4の縦断側面図を参照して説明すると、搬送アーム2は基台21と、基台21上に設けられるフォーク22とを備えている。基台21は、フォーク22を後退位置(図3、図4に示す位置)と前進位置との間で進退させることができる。さらに基台21は図示しない駆動機構に接続され、左右の移動、昇降、且つ鉛直軸周りの回転が行えるように構成されている。当該駆動機構及び基台21は、基板保持部であるフォーク22を移動させる移動機構を構成する。
ところでモジュールとは、各搬送アームによってウエハWが載置される載置部を備える塗布、現像装置1内のユニットを表している。各モジュールを構成する載置部は、後述する当該載置部にアクセスする搬送アームのフォーク22の昇降動作によってウエハWの受け渡しが行えるように、当該フォーク22と干渉しない形状に構成される。また、キャリアCにもフォーク22の昇降動作によってウエハWの受け渡しが行えるように載置部が設けられており、図3ではこの載置部をC1として示している。
続いて上記のタワーT1に設けられる異物除去部である異物除去ユニット4について図6を参照して説明する。この異物除去ユニット4は、後述するように搬送アーム2の異常が推定された場合に、搬送アーム2のパッド23に付着した異物Pを除去する役割を有している。異物除去ユニット4は、3本の垂直なピン41と、各ピン41の下端を支持する支持部42と、支持部42を鉛直軸周りに回転させる回転機構43と、各ピン41の先端に支持されるディスク44とにより構成される。ディスク44はピン41に対して着脱自在であり、搬送アーム2のパッド23に受け渡される。このように受け渡されたときにパッド23に付着している異物Pを吸着して除去することができるように、ディスク44の裏面には例えば粘着物質が設けられている。具体的には例えば当該粘着物質により構成された樹脂からなるフィルムが複数枚積層されてディスク44の裏面に設けられ、この積層されたフィルムの内の表層のフィルムが異物Pを吸着するための粘着面を構成する。ディスク44が使用され、表層のフィルムの粘着性が低下した場合には、当該フィルムを剥がして下層のフィルムを新しい粘着面として露出させることができる。
上記の塗布、現像装置1におけるウエハWの搬送経路について説明すると、ウエハWは、キャリアCから搬送アーム2によってタワーT1の受け渡しモジュールTRS0に搬送され、搬送アーム3によってタワーT1の疎水化処理モジュール16に搬送されて疎水化処理される。その後、ウエハWは温度調整モジュールSCPLに搬送されて冷却された後、単位ブロックE1、E2に振り分けられて搬送される。例えばウエハWを単位ブロックE1に受け渡す場合には、タワーT1の受け渡しモジュールTRSのうち、単位ブロックE1に対応する受け渡しモジュールTRS1(搬送アームF1によりウエハWの受け渡しが可能な受け渡しモジュール)に対してウエハWが受け渡される。また、ウエハWを単位ブロックE2に受け渡す場合には、タワーT1の受け渡しモジュールTRSのうち、単位ブロックE2に対応する受け渡しモジュールTRS2に対して、ウエハWが受け渡される。これらのウエハWの受け渡しは、搬送アーム3により行われる。
上記の搬送経路において、ウエハWがキャリアCの載置部C1から受け渡しモジュールTRS0へ受け渡されるときの搬送アーム2の各部の動作と、この受け渡し中に排気圧センサ28から送信される出力信号に基づいて制御部5により取得される排気圧の時系列データの一例とを図9、図10を参照して説明する。この図9、図10の説明における搬送では後述するような異常は発生せず、正常にウエハWが搬送されるものとする。
ところで、制御部5はこのように取得された排気圧の時系列データについて演算処理を行い、微分値の時系列データを取得する。この微分値の時系列データについて説明すると、排気圧の時系列データにおいて、一の経過時間において取得された排気圧から、一の経過時間の2.5ミリ秒前に取得された排気圧が減算されて、一の経過時間における微分値とされる。つまり、(任意の時間において取得された排気圧)−(任意の時間の直前に取得された排気圧)が、演算されて微分値として取得される。この微分値が、排気圧を取得した各経過時間毎に求められる。つまり、2.5ミリ秒毎の排気圧の微分値が取得され、これらの微分値が微分値の時系列データとされる。
(異常の種別1:ウエハの貼り付き)
搬送アームがキャリアCまたはモジュールの載置部からウエハWを受け取るときに、当該ウエハWの裏面に付着した薬液や裏面に回り込むように形成された膜などの付着物により、ウエハWが当該載置部に貼り付いている場合が有る。つまり、この貼り付きは、ウエハWの搬送元の載置部における載置異常である。
キャリアCの載置部C1からこのように貼り付いたウエハWを受け取るときの搬送アーム2の動作と、受け取られたウエハWの様子とについて、図12〜図15の概略図を用いて説明する。
このウエハWの粘着とは、異常の種別1として説明した貼り付きと略同様の事象であるが、貼り付きよりもウエハWの載置部に対する接着性が高いものとする。つまり、この粘着は、ウエハWの搬送元の載置部における載置異常である。キャリアCの載置部C1からこのように粘着したウエハWを受け取るときの搬送アーム2の動作と、受け取られたウエハWの様子とを、図17〜図20の概略図を用いて、貼り付きが発生している場合との差異点を中心に説明する。
この異物の付着とは、ウエハWの裏面に異物が付着したケースと、パッド23における異物が付着したケースとを含む。後述するように、この異物の付着が推定された場合は、先ずこれらのケースのうち、ウエハWの裏面における異物の付着であるものと仮定されて、対処動作が行われる。そして、対処動作を行う際に取得される微分値の時系列データによっては、パッド23における異物の付着であるものとして仮定が修正される。図22〜図26では、ウエハWの裏面に異物Pが付着しているものとし、当該ウエハWを載置部C1から受け取るときの搬送アーム2の動作を示している。
モジュールで加熱されたウエハWを他のモジュールへ搬送して冷却する場合に発生するサーマルショックや、ウエハWの劣化などの要因で、モジュールに載置されたウエハWが割れる場合が有る。図28〜図30を用いて、搬送アーム3が温度調整モジュールSCPLから、そのように割れたウエハWを受け取るときの様子について説明する。
フォーク22から跳ねたウエハWの表面が搬送アームや他の塗布、現像装置1の構成物に接触して当該表面の膜が剥離される、つまりウエハWが損傷する場合が有る。ここでは搬送アームF1による搬送時における膜の剥離を説明する。例えば、図10に示した動作A1〜A3が行われ、ウエハWが搬送アームF1の下側のフォーク22に受け取られた後、後段のモジュールに搬送するために基台21が移動する。つまり、動作A4が行われる。この動作A4が行われている間、例えば基台21を移動させる駆動機構の異常により当該基台21が振動し、ウエハWがパッド23から跳ねて図32に示すように、上側のフォーク22に衝突して擦れて膜の剥離が起こる。
以下、ウエハWの送出あるいは受け取りのためのフォーク22の進退中に、排気管26内の排気圧が低下したときの動作を説明する。そのように排気圧が低下すると、フォーク22上をウエハWが滑り、ウエハWの位置がずれる可能性が有る。そこで異常の検出後は、その位置ずれを抑制するための動作や当該位置ずれの検出が行われる。当該位置ずれを検出できるように、各基板搬送機構にはウエハ位置検出部6が設けられている。
基台21が載置部C1の手前で停止した状態で、ウエハWを保持したフォーク22が後退位置から前進位置へ向けて移動を開始し(時刻t10)、この移動中に微分値の時系列データが取得され、時系列データ中の微分値と所定の基準値との比較が行われる。比較の結果、微分値が基準値を超えると異常有りと判定され、フォーク22の減速が開始される(時刻t11、図42)。そして時間が経つにつれて、つまり前進位置に近づくにつれてフォーク22の移動速度は次第に低下し、当該前進位置でフォーク22は停止する(時刻t12、図43)。その後は、例えば排気圧センサ28によりこの停止時に検出される排気圧の値(アナログ値)が基準値より高いか否かについて判定され、当該基準値より高くないと判定された場合には例えば排気圧が異常であることを示すアラームが出力されて、搬送アーム2による搬送が停止する。アナログ値が基準値より高いと判定された場合は、基台21の昇降動作により載置部C1へのウエハWの受け渡しが行われる。そして、このウエハWには異常が発生している可能性があるものとして、マーキングが行われる。
基台21が載置部C1の手前で停止した状態で、載置部C1からウエハWを受け取ったフォーク22が前進位置から後退位置へ向けて移動を開始する(時刻t20)。つまり、図43に示す状態からフォーク22が後退する。この移動中に微分値の時系列データが取得され、時系列データ中の微分値と所定の基準値との比較が行われる。比較の結果、微分値が所定の基準値を超えると異常有りと判定され、フォーク22の減速が開始される(時刻t21)。そして、時間が経つにつれて、つまり後退位置に近づくにつれてフォーク22の移動速度は次第に低下し、後退位置でフォーク22は停止する(時刻t22)。その後、送出時の異常1でフォーク22が前進位置に位置したときと同様に、排気圧のアナログ値に基づいた判定が行われ、この判定結果に応じて、例えば排気圧の異常を示すアラームの出力及び搬送アーム2による搬送の停止か、あるいはウエハWのマーキングが行われる。さらに、ウエハWの中心位置が許容範囲内に位置するか否かの判定も行われ、アナログ値に基づいた判定の結果、搬送の停止が行われない場合であってもウエハWの中心位置が許容範囲内に位置していないと判定された場合は、搬送アーム2による搬送が停止し、アラームが出力される。
以下に説明する送出時の異常2の動作は、上記の送出時の異常1の動作の代わりに行われるものであり、当該送出時の異常1との動作との差異点を中心に説明する。ウエハWを保持したフォーク22が後退位置から前進位置へ向けて移動中、微分値の時系列データが取得され、微分値が基準値を超えると異常有りと判定され、そのように判定されるとフォーク22が速やかに減速して停止する(時刻t31)。従って、例えば図43に示す前進位置に達する前にフォーク22が停止する。そして、この停止時に取得される排気圧のアナログ値について基準値より高いか否か判定され、基準値より高い場合、フォーク22は後退を開始する(時刻t32)。この後退時の速度は、正常時のフォーク22の後退速度よりも低い。
以下に説明する受け取り時の異常2の動作は、上記の受け取り時の異常1の動作の代わりに行われるものであり、当該受け取り時の異常1との動作との差異点を中心に説明する。ウエハWを保持したフォーク22が前進位置から後退位置へ向けて移動中、微分値の時系列データが取得され、微分値が基準値を超えると異常有りと判定され、そのように判定されるとフォーク22が速やかに減速して停止する(時刻t41)。そして、この停止時に取得される排気圧のアナログ値について基準値より高いか否か判定され、基準値より高い場合、フォーク22の後退が再開される(時刻t42)。この後退時の速度は、正常時のフォーク22の後退速度よりも低い。
SCPL 温度調整モジュール
W ウエハ
1 塗布、現像装置
2、3、F1〜F6 搬送アーム
21 基台
22 フォーク
23 パッド
24 吸引孔
27 排気機構
28 排気圧センサ(圧力センサ)
4 異物除去ユニット
5 制御部
51 プログラム
Claims (16)
- 基板を吸引して保持するための吸引孔を備える基板保持部と、
前記基板保持部を移動させる移動機構と、
前記吸引孔に連通する吸引路の圧力を検出する圧力検出部と、
前記圧力検出部の圧力検出値の微分値に基づいて前記基板の搬送の異常を検出する制御部と、
を備えたことを特徴とする基板搬送装置。 - 前記制御部は、前記微分値に基づいて異常の種別を推定することを特徴とする請求項1記載の基板搬送装置。
- 推定される前記異常の種別は、
前記基板保持部が基板を受け取る第1の載置部における当該基板の載置状態の異常、
前記第1の載置部から受け取った基板と前記基板保持部との間における異物の介在、
前記第1の載置部から受け取った前記基板の割れ、及び
前記基板保持部が前記第1の載置部から前記基板を受け取った後、当該基板の搬送先である第2の載置部に搬送するまでに発生する当該基板の損傷のうちの少なくともいずれかであることを特徴とする請求項1または2記載の基板搬送装置。 - 前記制御部は、異常の種別に対応した対処動作を行うための制御信号を出力することを特徴とする請求項2または3記載の基板搬送装置。
- 前記第1の載置部に対する前記基板の載置状態の異常が推定された場合の対処動作として、前記制御部は、
前記第1の載置部から前記基板保持部が前記基板を受け取った後、前記第2の載置部に前記基板を搬送するまでの静止状態となる時間が、異常が推定されない場合における当該静止状態となる時間よりも長くなるように、前記移動機構の動作を制御することを特徴とする請求項4記載の基板搬送装置。 - 前記第1の載置部に対する前記基板の載置状態の異常が推定された場合の対処動作として、前記制御部は、
前記第1の載置部にて前記基板保持部が前記基板を受け取った後、前記第2の載置部へ搬送するまでに、当該基板を再度第1の載置部へ搬送するように、前記移動機構の動作を制御することを特徴とする請求項4記載の基板搬送装置。 - 前記基板と前記基板保持部との間における異物の介在が推定された場合の対処動作として、前記制御部は、
当該基板を前記第2の載置部に搬送するまでに仮置きするための仮置き部に載置し、次いで、前記基板に対する前記基板保持部の相対位置について、異常が推定されたときとは異なるように当該基板保持部によって前記仮置き部から前記基板を受け取るように前記移動機構の動作を制御することを特徴とする請求項4ないし6のいずれか1つに記載の基板搬送装置。 - 前記制御部は、前記仮置き部から基板保持部によって基板を受け取るときに取得される前記圧力検出値の微分値に基づいて、前記基板保持部に付着した異物を除去するための異物除去部に当該基板保持部が移動するように、前記移動機構の動作を制御することを特徴とする請求項7記載の基板搬送装置。
- 前記基板の割れが推定された場合の対処動作として、前記制御部は、
前記基板保持部が受け取った基板を前記第1の載置部に再度載置し、当該基板の前記第2の載置部への搬送を中止するように前記移動機構の動作を制御することを特徴とする請求項4ないし8のいずれか1つに記載の基板搬送装置。 - 前記基板の損傷が推定された場合の対処動作として、前記制御部は、
アラーム出力部からアラームを出力することを特徴とする請求項4ないし9のいずれか1つに記載の基板搬送装置。 - 前記基板保持部が設けられる基台を備え、
前記移動機構は、前記基板保持部を前記基台の前進位置と後退位置との間で進退させ、
前記制御部は、前記基板保持部が前記基板を保持した状態で前記前進位置及び後退位置のうちの一方から他方へ移動中に異常が検出されたときに、予定されるタイミングより早いタイミングで当該基板保持部の移動速度の減少が開始され、且つ前記基板保持部が前記前進位置及び後退位置のうちの他方へ近づくにつれて前記移動速度を小さくする第1の進退制御が行われるように制御信号を出力することを特徴とする請求項1ないし10のいずれか一つに記載の基板搬送装置。 - 前記基台を備え、
前記移動機構は、前記基板保持部を前記基台の前進位置と後退位置との間で進退させ、
前記基台は前記後退位置における前記基板保持部に保持される前記基板の位置を検出するための基板位置検出部を備え、
前記制御部は、前記基板保持部が前記基板を保持した状態で前記後退位置から前進位置へ移動中に異常が検出されたときに、前記基板位置検出部による検出を行うために当該基板を保持した状態で前記基板保持部を前記後退位置に移動させる第2の進退制御を行うように制御信号を出力することを特徴とする請求項1ないし11のいずれか一つに記載の基板搬送装置。 - 前記制御部は、
第1の搬送先に前記基板を搬送するために前記基板保持部が前記後退位置から前記前進位置へ移動中に異常が検出されたときには、前記第1の進退制御が行われるように制御信号を出力し、
前記第1の搬送先とは異なる第2の搬送先に前記基板を搬送するために前記基板保持部が前記後退位置から前記前進位置へ移動中に異常が検出されたときには、前記第2の進退制御が行われるように制御信号を出力することを特徴とする請求項12記載の基板搬送装置。 - 吸引孔により基板を吸引し、基板保持部に保持する工程と、
前記基板を保持した前記基板保持部を移動機構により移動させる工程と、
圧力検出部により前記吸引孔に連通する吸引路の圧力を検出する工程と、
前記圧力検出部の圧力検出値の微分値に基づいて前記基板の搬送の異常を検出する工程と、
を備えたことを特徴とする基板搬送方法。 - 前記微分値に基づいて異常の種別を推定する工程を含むことを特徴とする請求項14記載の基板搬送方法。
- 推定された前記異常の種別に対応した対処動作を行う工程を含むことを特徴とする請求項15記載の基板搬送方法。
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