JP2017152436A - スリップ転位の発生予測方法、該方法を用いたシリコンウェーハの製造方法、シリコンウェーハの熱処理方法およびシリコンウェーハ - Google Patents
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Abstract
Description
(1)所定の熱処理が施されたシリコンウェーハの外周部表面に存在するクラックを伴う傷における前記クラックの面積および前記シリコンウェーハ中の酸素濃度を求め、次いで求めた前記クラックの面積および前記酸素濃度に基づいて、前記所定の熱処理時に前記傷からスリップ転位が発生する臨界せん断応力τcriを求めた後、求めた前記臨界せん断応力τcriと前記所定の熱処理時にシリコンウェーハに負荷される熱応力τとを比較して、前記熱応力τが前記臨界せん断応力τcri以上の場合には、シリコンウェーハにおいて、前記所定の熱処理時にウェーハ外周部表面上の傷からスリップ転位が発生すると判定し、前記熱応力τが前記臨界せん断応力τcriを下回る場合には、シリコンウェーハにおいて、前記所定の熱処理時にウェーハ外周部表面上の傷からスリップ転位が発生しないと判定することを特徴とするスリップ転位の発生予測方法。
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。図1は、本発明に係るスリップ転位の発生予測方法の一実施形態のフローチャートを示している。まず、ステップS1において、所定の熱処理が施されたシリコンウェーハを用意する。
次に、本発明に係るシリコンウェーハの製造方法について説明する。本発明に係るシリコンウェーハの製造方法は、上記したスリップ転位の発生予測方法によりウェーハ製造工程やデバイス作製工程における所定の熱処理時に、クラックを伴う傷からスリップ転位が発生しないと判定されるシリコンウェーハが得られる育成条件で単結晶シリコンインゴットを育成し、育成した単結晶シリコンインゴットに対してウェーハ加工処理を施すことを特徴とする。
続いて、本発明に係るシリコンウェーハの熱処理方法について説明する。本発明に係るシリコンウェーハの熱処理方法は、上記したスリップ転位の発生予測方法によりウェーハ製造工程やデバイス作製工程における所定の熱処理時に、クラックを伴う傷からスリップ転位が発生しないと判定されるシリコンウェーハが得られるように、シリコンウェーハに対して上記所定の熱処理を施すことを特徴とする。
次に、本発明に係るシリコンウェーハについて説明する。本発明に係るシリコンウェーハは、所定の熱処理時に与えられる熱応力τが、上記所定の熱処理時に表面上のクラックを伴う傷からスリップ転位が発生する臨界せん断応力τcriを下回るような酸素濃度を有するシリコンウェーハである。本発明に係るシリコンウェーハには、ウェーハ製造工程やデバイス作製工程における所定の熱処理時にスリップ転位が発生しない。
標準的なデバイス作製工程における熱処理を模した模擬熱処理をサンプルウェーハに対して施し、ウェーハ表面上のクラックを伴う傷からスリップ転位が発生するか否かを予測した。ここで、上記模擬熱処理として、2つの工程AおよびBを設定し、工程Aは4つの熱処理ステップからなり、各ステップの熱処理温度および熱処理時間は異なっている。また、工程Bは6つの熱処理ステップからなり、工程Aと同様に、各ステップの熱処理温度および熱処理時間は異なっており、最後のステップはRTA処理である。
Claims (12)
- 所定の熱処理が施されたシリコンウェーハの外周部表面に存在するクラックを伴う傷における前記クラックの面積および前記シリコンウェーハ中の酸素濃度を求め、次いで求めた前記クラックの面積および前記酸素濃度に基づいて、前記所定の熱処理時に前記傷からスリップ転位が発生する臨界せん断応力τcriを求めた後、求めた前記臨界せん断応力τcriと前記所定の熱処理時にシリコンウェーハに負荷される熱応力τとを比較して、前記熱応力τが前記臨界せん断応力τcri以上の場合には、シリコンウェーハにおいて、前記所定の熱処理時にウェーハ外周部表面上の傷からスリップ転位が発生すると判定し、前記熱応力τが前記臨界せん断応力τcriを下回る場合には、シリコンウェーハにおいて、前記所定の熱処理時にウェーハ外周部表面上の傷からスリップ転位が発生しないと判定することを特徴とするスリップ転位の発生予測方法。
- 前記臨界せん断応力τcriは、A:前記クラックの面積、CO:前記酸素濃度、T:前記熱処理の温度、ε:ひずみ速度、k:ボルツマン定数、a、bおよびc:定数として以下の式(i)で与えられる、請求項1に記載の方法。
- aが4.5であり、bが5442であり、cが7.9×10−4である、請求項2に記載の方法。
- 前記クラックの面積Aおよび前記酸素濃度COを求める処理は、前記シリコンウェーハに対して前記所定の熱処理を施した後、該所定の熱処理後のシリコンウェーハにおける前記クラックの面積および前記酸素濃度を測定することにより行う、請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記クラックの面積Aを求める処理は、前記シリコンウェーハに対して前記所定の熱処理を施した後、該所定の熱処理後のシリコンウェーハにおける前記クラックの面積を測定することにより行い、前記所定の熱処理後の前記酸素濃度COを求める処理はシミュレーション計算により行う、請求項1〜3のいずれか一項に記載のスリップ転位の発生予測方法。
- 前記熱応力τは、熱処理装置に前記シリコンウェーハを投入して加熱し、加熱された前記シリコンウェーハの半径方向の温度分布に基づいて求める、請求項1〜5のいずれか一項に記載のスリップ転位の発生予測方法。
- 前記熱応力τはシミュレーション計算により求める、請求項1〜5のいずれか一項に記載のスリップ転位の発生予測方法。
- 請求項1〜7に記載のスリップ転位の発生予測方法により前記所定の熱処理時にクラックを伴う傷からスリップ転位が発生しないと判定されるシリコンウェーハが得られる育成条件で単結晶シリコンインゴットを育成し、育成した前記単結晶シリコンインゴットに対してウェーハ加工処理を施すことを特徴とするシリコンウェーハの製造方法。
- 前記所定の熱処理後の酸素濃度は5×1017atoms/cm3以上20×1017atoms/cm3以下である、請求項8に記載のシリコンウェーハの製造方法。
- 請求項1〜7に記載のスリップ転位の発生予測方法により前記所定の熱処理時にクラックを伴う傷からスリップ転位が発生しないと判定されるようにシリコンウェーハに対して前記所定の熱処理を施すことを特徴とするシリコンウェーハの熱処理方法。
- 所定の熱処理時に与えられる熱応力τが、前記所定の熱処理時に表面上のクラックを伴う傷からスリップ転位が発生する臨界せん断応力τcriを下回るような酸素濃度を有するシリコンウェーハ。
- 前記酸素濃度は、5×1017atoms/cm3以上20×1017atoms/cm3以下である、請求項11に記載のシリコンウェーハ。
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