JP2017151086A - 測定方法および測定プログラム - Google Patents
測定方法および測定プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017151086A JP2017151086A JP2016246802A JP2016246802A JP2017151086A JP 2017151086 A JP2017151086 A JP 2017151086A JP 2016246802 A JP2016246802 A JP 2016246802A JP 2016246802 A JP2016246802 A JP 2016246802A JP 2017151086 A JP2017151086 A JP 2017151086A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- measurement
- reference data
- shape
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 93
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 96
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 claims description 6
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 26
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 108700019579 mouse Ifi16 Proteins 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
Description
図1は、本実施形態に係る測定装置、より具体的には画像測定装置の全体構成を示す図である。
図1に示すように、本実施形態に係る画像測定装置1は、対象物Wの形状を測定する装置本体10と、装置本体10を制御するとともに、必要なデータ処理を実行するコンピュータシステム20と、を備える。なお、画像測定装置1は、これらのほかに、測定結果等をプリントアウトするプリンタ等を適宜備えていてもよい。本実施形態に係る画像測定装置1は、例えばシリンダの内壁のような、湾曲形状を有する対象物Wの測定に適している。
図2に示すように、光干渉光学ヘッド152は、光出射部200と、光干渉光学ヘッド部21と、対物レンズ部22と、参照ミラー部23と、結像レンズ24と、撮像部25と、駆動機構部26とを備える。
図4(a)は、湾曲形状を有する対象物Wの例を示す模式斜視図、図4(b)は、測定領域を例示する模式図、図4(c)は、3次元データと断面の例を示す模式図である。
本実施形態では、図4(a)に示すシリンダ内壁のような湾曲形状を有する対象物Wの形状測定を行う。光干渉光学ヘッド152は、内壁面Sの所定の領域を測定領域Rとして、内壁面Sに対して垂直な方向の距離を測定する。図4(b)には測定領域Rの1つが模式的に表される。
本実施形態に係る測定方法は、例えば上記のような画像測定装置1を用いて、図4(a)に示すような湾曲形状を有する対象物Wについて表面の測定を行う方法である。
測定方法は、次のような工程を有する。
(1)対象物Wの測定領域Rおよび凹凸の閾値を設定する工程
(2)対象物Wの湾曲形状を含む形状基準データを取得する工程
(3)測定領域Rにおける対象物Wと測定ヘッド(光干渉光学ヘッド152)との距離を測定して、対象物Wの表面の3次元データを取得する工程
(4)3次元データから形状基準データを除去して湾曲除去データを取得する工程
(5)湾曲除去データに基づく第1基準データを求め、第1基準データに対して閾値を超えるデータを湾曲除去データから除外して平均した第2基準データを求める工程
(6)第2基準データに対して閾値を超えるデータを抽出して凹凸の形状データを求める工程
本実施形態に係る測定プログラムは、コンピュータを上記(1)〜(6)の工程に対応した手段として機能させる。図6に示すステップS101〜S106の処理は、上記(1)〜(6)の工程に対応している。
また、上記実施形態では測定の対象物Wについて、凹部(ピット)を有する湾曲表面を例に説明したが、本発明が適用可能な対象物はこれに限定されるものではない。例えば、ホーニング加工によりクロスハッチ(網状の溝)が形成されたシリンダの内壁面を対象物Wにする場合にも本発明は適用可能である。さらに、測定ヘッドとして、画像光学ヘッド151を対象物Wに照射する光の光軸方向に走査し連続的に取得した画像からCCDの各ピクセルにおけるコントラストのピークを検出することにより対象物Wの3次元形状を得るPFF(Points From Focus)も適用可能である。また、対象物Wとしては、円筒以外でも円錐、楕円筒および楕円錘など、各種の湾曲形状の表面及び湾曲形状を有しない平面形状の測定に対応することが可能である。また、前述の各実施形態に対して、当業者が適宜、構成要素の追加、削除、設計変更を行ったものや、各実施形態の特徴を適宜組み合わせたものも、本発明の要旨を備えている限り、本発明の範囲に含有される。
3…除振台
10…装置本体
11…架台
12…ステージ
13a…支持部
14…X軸ガイド
15…撮像ユニット
20…コンピュータシステム
21…光干渉光学ヘッド部
22…対物レンズ部
23…参照ミラー部
24…結像レンズ
25…撮像部
26…駆動機構部
151…画像光学ヘッド
152…光干渉光学ヘッド
200…光出射部
201…コンピュータ本体
202…キーボード
203…ジョイスティック
204…マウス
205…ディスプレイ
211…ビームスプリッタ
212…コリメータレンズ
221…対物レンズ
222…ビームスプリッタ
222a…反射面
231…参照ミラー
311…CPU
312…インタフェース
313…出力部
314…入力部
315…主記憶部
316…副記憶部
MM…記録媒体
R…測定領域
S…内壁面
W…対象物
Claims (6)
- 湾曲形状を有する対象物について測定ヘッドからの距離を測定して前記対象物の表面を測定する方法であって、
前記対象物の測定範囲および凹凸の閾値を設定する工程と、
前記対象物の湾曲形状を含む形状基準データを取得する工程と、
前記測定範囲における前記対象物と前記測定ヘッドとの距離を測定して、前記対象物の表面の3次元データを取得する工程と、
前記3次元データから前記形状基準データを除去して湾曲除去データを取得する工程と、
前記湾曲除去データに基づき第1基準データを求め、前記第1基準データに対して前記閾値を超えるデータを前記湾曲除去データから除外して平均した第2基準データを求める工程と、
前記第2基準データに対して前記閾値を超えるデータを前記湾曲除去データから抽出して凹凸の形状データを求める工程と、
を備えたことを特徴とする測定方法。 - 前記第2基準データに対して前記閾値を超えるデータを前記湾曲除去データから除外したデータを用いて前記対象物の表面粗さを求める工程をさらに備えた、請求項1記載の測定方法。
- 前記凹凸の形状データは、前記凹凸の面積、面積率、体積、開口の最大値、開口の最小値および開口の平均値の少なくとも1つを含む、請求項1または2に記載の測定方法。
- 前記対象物の表面は、円筒、円錐、楕円筒および楕円錘のうちいずれかの内面である、請求項1〜3のいずれか1つに記載の測定方法。
- 前記測定ヘッドは、光干渉法によって前記距離を測定する、請求項1〜4のいずれか1つに記載の測定方法。
- 湾曲形状を有する対象物について測定ヘッドからの距離を測定して前記対象物の表面状態を測定する測定プログラムであって、
コンピュータを、
前記対象物の測定範囲および凹凸の閾値を設定する手段、
前記対象物の湾曲形状を含む形状基準データを取得する手段、
前記測定範囲における前記対象物と前記測定ヘッドとの距離を測定して、前記対象物の表面の3次元データを取得する手段、
前記3次元データから前記形状基準データを除去して湾曲除去データを取得する手段、
前記湾曲除去データに基づく第1基準データを求め、前記第1基準データから前記閾値を超えるデータを湾曲除去データから除外して平均した第2基準データを求める手段、
前記第2基準データから前記閾値を超えるデータを前記湾曲除去データから抽出して凹凸の形状データを求める手段、
として機能させる測定プログラム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710088418.6A CN107121058B (zh) | 2016-02-25 | 2017-02-17 | 测量方法 |
US15/440,118 US10274313B2 (en) | 2016-02-25 | 2017-02-23 | Measurement method and measurement program for calculating roughness of a curved surface |
DE102017001757.3A DE102017001757A1 (de) | 2016-02-25 | 2017-02-23 | Messverfahren und messprogramm |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016034826 | 2016-02-25 | ||
JP2016034826 | 2016-02-25 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017151086A true JP2017151086A (ja) | 2017-08-31 |
JP6758765B2 JP6758765B2 (ja) | 2020-09-23 |
Family
ID=59738903
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016246802A Expired - Fee Related JP6758765B2 (ja) | 2016-02-25 | 2016-12-20 | 測定方法および測定プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6758765B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108225213A (zh) * | 2018-01-19 | 2018-06-29 | 北京理工大学 | 自由曲面非接触降维误差分离检测方法与装置 |
CN108267095A (zh) * | 2018-01-19 | 2018-07-10 | 北京理工大学 | 自由曲面形貌双边错位差动共焦检测方法与装置 |
CN108362221A (zh) * | 2018-01-19 | 2018-08-03 | 北京理工大学 | 一种自由曲面形貌纳米精度检测方法与装置 |
JP2020085468A (ja) * | 2018-11-15 | 2020-06-04 | アダマンド並木精密宝石株式会社 | 光学式内周面表面気孔測定装置及び気孔率の測定方法 |
JP2021032686A (ja) * | 2019-08-23 | 2021-03-01 | 横浜ゴム株式会社 | 表面凹凸度の評価方法 |
-
2016
- 2016-12-20 JP JP2016246802A patent/JP6758765B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108225213A (zh) * | 2018-01-19 | 2018-06-29 | 北京理工大学 | 自由曲面非接触降维误差分离检测方法与装置 |
CN108267095A (zh) * | 2018-01-19 | 2018-07-10 | 北京理工大学 | 自由曲面形貌双边错位差动共焦检测方法与装置 |
CN108362221A (zh) * | 2018-01-19 | 2018-08-03 | 北京理工大学 | 一种自由曲面形貌纳米精度检测方法与装置 |
CN108267095B (zh) * | 2018-01-19 | 2019-12-17 | 北京理工大学 | 自由曲面形貌双边错位差动共焦检测方法与装置 |
CN108225213B (zh) * | 2018-01-19 | 2019-12-17 | 北京理工大学 | 自由曲面非接触降维误差分离检测方法与装置 |
CN108362221B (zh) * | 2018-01-19 | 2019-12-17 | 北京理工大学 | 一种自由曲面形貌纳米精度检测方法与装置 |
JP2020085468A (ja) * | 2018-11-15 | 2020-06-04 | アダマンド並木精密宝石株式会社 | 光学式内周面表面気孔測定装置及び気孔率の測定方法 |
JP2021032686A (ja) * | 2019-08-23 | 2021-03-01 | 横浜ゴム株式会社 | 表面凹凸度の評価方法 |
JP7311765B2 (ja) | 2019-08-23 | 2023-07-20 | 横浜ゴム株式会社 | 表面凹凸度の評価方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6758765B2 (ja) | 2020-09-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6758765B2 (ja) | 測定方法および測定プログラム | |
CN107121084B (zh) | 测量方法和测量程序 | |
JP6412710B2 (ja) | 光干渉測定装置 | |
US20100321773A1 (en) | Method and system for three-dimensional polarization-based confocal microscopy | |
JP6461609B2 (ja) | 干渉対物レンズ、および光干渉測定装置 | |
CN107525463B (zh) | 光干涉测定装置和光干涉测定方法 | |
JP7317523B2 (ja) | 光干渉測定装置 | |
JP4133753B2 (ja) | 迂曲面の光波干渉測定方法および迂曲面測定用の干渉計装置 | |
US20100277746A1 (en) | Method and system for lateral scanning interferometry | |
KR101116295B1 (ko) | 입체 형상 측정장치 | |
CN107121058B (zh) | 测量方法 | |
JP2016148569A (ja) | 画像測定方法、及び画像測定装置 | |
US20170069110A1 (en) | Shape measuring method | |
JP2015021891A (ja) | 画像測定装置およびプログラム | |
JP6800529B2 (ja) | 測定方法および測定プログラム | |
KR101602436B1 (ko) | 광섬유를 이용해 개선된 3차원 측정장치 | |
JP6880396B2 (ja) | 形状測定装置および形状測定方法 | |
JP2002062220A (ja) | 走査光学系の検査方法及び検査装置 | |
JP4177188B2 (ja) | 動的形状及び動的位置の同時測定方法、装置、光学素子 | |
US20230304790A1 (en) | Measurement method of surface shape and surface shape measurement device | |
JP2014002026A (ja) | レンズ形状測定装置およびレンズ形状測定方法 | |
JP6251049B2 (ja) | 表面形状検査装置 | |
KR20120016419A (ko) | 3d 검사기를 이용한 시료의 너비측정방법 | |
JP2001174234A (ja) | 画像計測装置 | |
JP5356187B2 (ja) | レンズの球欠高さ測定方法および装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191111 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200812 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200901 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200901 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6758765 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |