JP2017129394A

JP2017129394A - 輝度ムラ測定装置

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Publication number: JP2017129394A
Application number: JP2016007616A
Authority: JP
Inventors: 大槻　英世; Hideyo Otsuki; 英世大槻
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2016-01-19
Filing date: 2016-01-19
Publication date: 2017-07-27
Anticipated expiration: 2036-01-19
Also published as: US20170205277A1; JP6726967B2

Abstract

【課題】本発明は、高解像度の測定サンプルの輝度分布を高精細に測定する輝度ムラ測定装置の提供を目的とする。【解決手段】本発明の輝度ムラ測定装置１０１は、測定サンプル２の表示面の面内輝度を測定する輝度測定装置１と、輝度測定装置１を搭載し、輝度測定装置１のノーダルポイントを中心に輝度測定装置１を回転させる回転機構を有する治具と、表示面内の第１表示領域２ａの輝度測定装置１による第１測定データと、第１表示領域２ａと隣接する表示面内の第２表示領域２ｂの輝度測定装置１による第２測定データとを接合する測定データ接合部と、を備える。第２測定データは、輝度測定装置１が第２表示領域２ｂを第１表示領域２ａの測定とは異なる回転姿勢で測定して得られたデータである。【選択図】図６

Description

この発明は、表示装置における表示領域内の輝度分布を測定する輝度ムラ測定装置に関する。

液晶表示装置等の表示装置は、ノートＰＣ、テレビ又は携帯電話等、多くの技術分野で応用されている。そして、その表示品位の向上の面から、表示面内の明るさ（輝度）又は色（色度）の分布（ムラ）が問題となっており、輝度ムラ又は色度ムラを高精細に測定する装置が求められている。

輝度ムラ又は色度ムラの定量評価を行うための測定装置として、計測器メーカーにより測定装置が開発されている。例えば２次元色彩輝度計（ＣＡ−２０００、コニカミノルタセンシング株式会社製、特許文献１）は、面内の輝度分布を写真撮影のように一括で行うことができる。この測定装置の測定結果の解像度は９８０×９８０ドットであり、例えば一回の測定で、９８０×９８０個の輝度データを一括で得ることができる。

特開２００９−１５６７８９号公報

近年、ハイビジョンテレビの登場に代表されるように、表示装置の高精細化が進んでおり、その表示領域の画素数は増える傾向にある。しかしながら、特許文献１の測定装置では、その解像度が撮像素子の解像度に制限されるため、撮像素子の解像度以上のサンプルを測定する場合には、相対的に測定結果が粗くなるという問題がある。

本発明は上述の問題に鑑み、高解像度のサンプルを高精細に測定することのできる輝度ムラ測定装置の提供を目的とする。

本発明の輝度ムラ測定装置は、測定サンプルの表示面の面内輝度を測定する輝度測定装置と、輝度測定装置を搭載し、輝度測定装置のノーダルポイントを中心に輝度測定装置を回転させる回転機構を有する治具と、表示面内の第１表示領域の輝度測定装置による第１測定データと、第１表示領域と隣接する表示面内の第２表示領域の輝度測定装置による第２測定データとを接合する測定データ接合部と、を備え、第２測定データは、輝度測定装置が第２表示領域を第１表示領域の測定とは異なる回転姿勢で測定して得られたデータである。

本発明の輝度ムラ測定装置は、測定サンプルの表示面の面内輝度を測定する輝度測定装置と、輝度測定装置を搭載し、輝度測定装置のノーダルポイントを中心に輝度測定装置を回転させる回転機構を有する治具と、表示面内の第１表示領域の輝度測定装置による第１測定データと、第１表示領域と隣接する表示面内の第２表示領域の輝度測定装置による第２測定データとを接合する測定データ接合部と、を備え、第２測定データは、輝度測定装置が第２表示領域を第１表示領域の測定とは異なる回転姿勢で測定して得られたデータである。輝度測定装置はノーダルポイントを中心に回転して第１表示領域と第２表示領域とを測定するため、得られた第１測定データと第２測定データとは連続性を持つ。従って、これらを合成することにより、高解像度の測定サンプルの輝度分布を高精細に測定することができる。

第１の前提技術に係る輝度ムラ測定の概要を示す図である。第２の前提技術に係る輝度ムラ測定の概要を示す図である。実施の形態１に係る輝度ムラ測定装置の構成と、測定サンプルとの位置関係を説明する図である。演算部のハードウェア構成を示す図である。実施の形態１に係る輝度ムラ測定装置を用いた測定サンプルの面内輝度の測定手順を示すフローチャートである。輝度測定装置のノーダルポイントの位置合わせ方法を説明する斜視図である。輝度測定装置のノーダルポイントの位置合わせ方法を説明する上面図である。実施の形態１に係る輝度ムラ測定装置の測定方法を説明する図である。第１表示領域の補正前の輝度測定結果を示す図である。表示領域の境界線を見つけるための画像を示す図である。輝度測定を行う際の表示領域と輝度測定装置との位置関係を示す図である。実施の形態２に係る輝度ムラ測定装置の構成を示す図である。

＜Ａ．前提技術＞
図１は、第１の前提技術に係る輝度ムラ測定の概要を示す図である。測定サンプル２に輝度測定装置１を正対して配置し、一度に測定サンプル２の表示面内の輝度分布を測定する。輝度測定装置１は、例えば面内輝度測定装置として公知の２次元色彩輝度計（コニカミノルタセンシング社製、ＣＡ−２０００）であり、測定サンプル２は、例えば対角寸法が７インチのＷＶＧＡの液晶表示装置である。

このように一度に表示面内の輝度分布を測定する方法では、輝度測定装置１の測定素子の解像度が測定サンプル２の解像度よりも低い場合に、相対的に測定結果の解像度が粗くなってしまうという問題があった。

図２は、第２の前提技術に係る輝度ムラ測定の概要を示す図である。この方法は、測定サンプル２の表示面を複数の領域に分割し、分割領域ごとに輝度分布を測定し、その後、夫々の測定データを合成するというものである。図２では、測定サンプル２の表示領域の左半分を第１表示領域２ａ、右半分を第２表示領域２ｂとして分割している。

図２に示す分割測定では、表示面内の輝度分布の全体像を分かりやすくするため、各分割領域の測定データを合成する。しかし、輝度測定装置１のセッティングにより第１表示領域２ａ，第２表示領域２ｂ間で観測方向にズレがあるため、第１表示領域２ａの測定データと第２表示領域２ｂの測定データには連続性が無い。従って、第１表示領域２ａ、第２表示領域２ｂの中央部では隣接領域と測定データの比較を行うことが出来るが、第１表示領域２ａ、第２表示領域２ｂの境界部では隣接領域と測定データの比較を行うことが出来ない、という問題がある。

そこで本発明は、既存の輝度ムラ測定装置を用いて高解像度の測定サンプルの高精細な測定データを得るため、以下のような工夫を施した。

＜Ｂ．実施の形態１＞
＜Ｂ−１．構成＞
図３は、本発明の実施の形態１に係る輝度ムラ測定装置１０１の構成と、測定サンプル２との位置関係を説明する図である。なお、本明細書で説明する図３以降の図において、前提技術の項で説明した図１，２と同様の構成要素には同様の参照符号を付している。

輝度ムラ測定装置１０１は、輝度測定装置１、輝度測定装置１を搭載する治具４、治具４を設置する三脚３、及び演算部６を備えて構成される。

輝度測定装置１には、例えば面内輝度測定装置として公知の２次元色彩輝度計（コニカミノルタセンシング社製、ＣＡ−２０００）を用いる。輝度測定装置１は、対物レンズ、ＣＣＤセンサ等（図示せず）により構成され、測定サンプル２の面内輝度又は面内色度を計測する。なお、輝度測定装置１は望遠レンズを装着しており、その測定範囲を角度で表現した場合の画角は約±４°である。

測定サンプル２には、例えば対角寸法が７インチのＷＶＧＡの液晶表示装置を用いる。測定サンプル２は、表示面の法線方向が水平、かつ表示領域の長辺が水平となるように設置される。

輝度ムラ測定装置１０１は、測定サンプル２と正対し、測定サンプル２の表示面の中央部を法線方向から観察するように設置される。

治具４は、回転軸５を中心に矢印５Ｄで示す向きに回転する回転機構を有している。従って、輝度測定装置１は治具４に固定された状態で回転軸５を中心に回転動作を行うことが出来る。

また、治具４は矢印４１Ｄの方向に輝度測定装置１をスライドさせるスライド機構４１を有している。従って、輝度測定装置１は治具４に固定された状態で矢印４１Ｄの方向にスライド動作を行うことが出来る。矢印４１Ｄの方向は、輝度ムラ測定装置１０１が測定サンプル２に正対して配置された状態で、測定サンプル２の表示面の法線に対して平行な方向となるようにする。従って、輝度測定装置１は、スライド機構４１により測定サンプル２の表示面の法線に対して平行な方向にスライドすることができる。

演算部６は、データ特定部６１、台形歪補正部６２及びデータ接合部６３を備えている。データ特定部６１は、輝度測定装置１の測定データから、各分割領域の測定データを特定する。台形歪補正部６２は、輝度測定装置１の測定データの台形歪を補正する。データ接合部６３は、後述する測定サンプル２の分割表示領域の測定データを接合して、測定サンプル２の表示面全体の測定データを作成する。

図４は、演算部６のハードウェア構成を示す図である。演算部６は、輝度ムラ測定装置１から測定データを取得する入力インタフェース（Ｉ／Ｆ）７１、プロセッサ７２、メモリ７３により実現される。データ特定部６１、台形歪補正部６２及びデータ接合部６３は、ＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）等のプロセッサ７２が、ＲＡＭ（ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）等のメモリ７３に格納されたソフトウェアプログラムを実行することにより、プロセッサ７２の機能として実現される。但し、これらは例えば複数のプロセッサ７２が連携して実現されても良い。

＜Ｂ−２．測定手順＞
輝度ムラ測定装置１０１を用いた測定サンプル２の面内輝度の測定手順を、図５のフローチャートに沿って説明する。

まず、輝度測定装置１のノーダルポイントが治具４の回転軸５と一致するように位置調整を行う（ステップＳ１）。ノーダルポイントとは、輝度測定装置１を構成する対物レンズの焦点中心のことである。

図６は、輝度測定装置１のノーダルポイントの位置合わせ方法を説明する斜視図、図７は、輝度測定装置１のノーダルポイントの位置合わせ方法を説明する上面図である。ノーダルポイントの位置合わせをするための補助部品として、棒８１，８２を２本用意する。２本の棒８１，８２は、輝度測定装置１の光軸上で鉛直に設置される。このとき図７（ａ）に示すように、輝度測定装置１から２本の棒８１，８２が重なって観察される。なお、図７ではノーダルポイントをＰで示している。

今、回転軸５を中心に輝度測定装置１をθ、例えば約３°回転させる（図７（ｂ））。ノーダルポイントＰと回転軸５が一致していないため、この状態では輝度測定装置１から２本の棒８１，８２は重なって観察されない。

そこで、スライド機構４１により輝度測定装置１を治具４上で前後に動かし、輝度測定装置１から２本の棒８１，８２が重なって観察されるような輝度測定装置１の位置を探す。この位置調整により２本の棒８１，８２が重なって観察されるようになれば、そのとき、輝度測定装置１のノーダルポイントＰは回転軸５と一致している（図７（ｃ））。なお、スライド機構４１は、輝度測定装置１のノーダルポイントＰを治具４の回転軸５に位置合わせすることを目的としているため、輝度測定装置１を治具４の回転軸５に対して移動する機構が治具４に備わっていれば良く、例えば段階的に位置を調整する機構等、スライド機構４１以外の移動機構でも良い。輝度測定装置１のノーダルポイントＰを回転軸５に一致させることにより、後工程で測定する各表示領域２ａ，２ｂの測定データ間に視差の影響がなくなり、これらのデータが連続性を有するため、これらのデータを接合して表示領域全体の測定データを得ることが可能になる。

以上が図５のステップＳ１である。次に、ノーダルポイントＰの位置合わせ後、測定サンプル２の輝度測定を行う。測定サンプル２の表示領域を複数の領域に分割し、分割領域ごとに輝度ムラ測定を行う。なお、ここでは測定サンプル２の表示領域を左半分の第１表示領域２ａと右半分の第２表示領域２ｂという２つの領域に分割する例を説明するが、分割の仕方はこれに限らない。例えば、３分割又は４分割にしても良いし、上下方向に表示領域を分割しても良い。分割数を増やすことによって、より高解像度な測定サンプル２にも対応することが出来る。また、本測定では測定サンプル２の白表示時の輝度ムラ測定を行うが、白表示に限らず、中間調表示又は黒表示時の輝度ムラ測定を行っても良い。

図８は、輝度測定装置１により測定サンプル２の輝度を測定する方法を説明するための図である。まず、治具４の回転機構により輝度測定装置１を測定サンプル２に正対した状態から３°回転させ、第１表示領域２ａ側の輝度分布を測定する（ステップＳ２）。図８（ａ）は、この状態の測定サンプル２と輝度測定装置１との位置関係を示している。上記で「第１表示領域２ａ側の輝度分布」と述べているのは、本ステップでは第１表示領域２ａだけでなく、第２表示領域２ｂの第１表示領域２ａ側の一部領域の輝度分布も測定されるからである。

次に、データ特定部６１により、ステップＳ２で取得した測定データの中から第１表示領域２ａの測定データ（第１測定データ）を特定する（ステップＳ３）。この特定方法については具体例を後述する。

図８（ａ）に示すように、第１表示領域２ａ側の輝度測定において輝度測定装置１は第１表示領域２ａに正対せず斜め方向から測定するため、図９に示すように第１表示領域２ａの測定データ（第１測定データ）は、台形形状の領域の測定データとなる。すなわち、測定データに台形歪が発生している。そこで、台形歪補正部６２によりこの台形歪を補正する演算を行う（ステップＳ４）。この補正演算については具体例を後述する。

次に、治具４の回転機構により輝度測定装置１を測定サンプル２に正対した状態から−３°回転させ、第２表示領域２ｂ側の輝度分布を測定する（ステップＳ５）。図８（ｂ）は、この状態の測定サンプル２と輝度測定装置１との位置関係を示している。上記で「第２表示領域２ｂ側の輝度分布」と述べているのは、本ステップでは第２表示領域２ｂだけでなく、第１表示領域２ａの第２表示領域２ｂ側の一部領域の輝度分布も測定されるからである。

次に、データ特定部６１により、ステップＳ５で取得した測定データの中から第２表示領域２ｂの測定データを特定する（ステップＳ６）。この特定方法はステップＳ３と同様であり、具体例を後述する。

図８（ｂ）に示すように、第２表示領域２ｂ側の輝度測定において輝度測定装置１は第２表示領域２ｂに正対せず斜め方向から測定するため、図９に示す第１表示領域２ａの測定結果と同様、第２表示領域２ｂの測定結果も台形形状となる。具体的には、図９に示す第１表示領域２ａの測定結果を左右対称にした台形形状となる。従って、第２表示領域２ｂの測定結果についても台形歪補正部６２により補正する演算を行う（ステップＳ７）。この補正演算はステップＳ４と同様であり、具体例を後述する。

最後に、ステップＳ４で補正した第１表示領域２ａの測定データとステップＳ７で補正した第２表示領域２ｂの測定データとをデータ接合部６３により接合し、測定サンプル２の表示面全体の輝度分布の測定データを得る（ステップＳ８）。第１表示領域２ａと第２表示領域２ｂの境界部分については、第１表示領域２ａの測定データにも第２表示領域２ｂの測定データにも測定値が存在する。両測定データは、輝度測定装置１がノーダルポイントＰを中心に回転した、その異なる回転姿勢で測定したものであるため、両測定において測定点と輝度測定装置１の方向は同一となる。従って、測定サンプル２の視野角特性の影響もないので、第１表示領域２ａと第２表示領域２ｂの境界部分について両測定データでは同値が得られる。

そこで、第１表示領域２ａと第２表示領域２ｂの境界部分を基準に、この同値の部分を重ねるように両測定データを接合することで、測定サンプル２の表示面全体の輝度分布の測定データが得られる（図８（ｃ））。

すなわち、実施の形態１に係る輝度ムラ測定装置１０１は、測定サンプル２の表示面の面内輝度を測定する輝度測定装置１と、輝度測定装置１を搭載し、輝度測定装置１のノーダルポイントＰを中心に輝度測定装置１を回転させる回転機構を有する治具４と、表示面内の第１表示領域２ａの輝度測定装置１による第１測定データと、第１表示領域２ａと隣接する表示面内の第２表示領域２ｂの輝度測定装置１による第２測定データとを接合するデータ接合部６３と、を備える。第１、第２測定データは、輝度測定装置１が回転機構による互いに異なる回転姿勢で測定して得られたデータであるため、視差の無い連続性のあるデータである。そのため、これらを接合することで、測定サンプル２の表示面全体の輝度ムラの測定データを得ることが出来る。従って、測定サンプル２の解像度が輝度測定装置１の測定素子の解像度より高い場合でも、高精度に輝度の測定を行うことが出来る。

＜Ｂ−３．測定データの特定＞
図５のステップＳ３，６における測定データの特定方法について説明する。第１表示領域２ａ側の測定データから第１表示領域２ａの測定データを特定し、第２表示領域２ｂ側の測定データから第２表示領域２ｂの測定データを特定するには、第１表示領域２ａと第２表示領域２ｂの境界線を把握する必要がある。

図１０は、この境界線を見つけるため測定サンプル２の表示面に表示する画像を示している。この画像は、表示領域の中央部、すなわち第１表示領域２ａと第２表示領域２ｂの境界に白い１本線を示している。

輝度測定装置１が第１表示領域２ａ側の輝度を測定した後、そのままの回転姿勢で、続いて測定サンプル２に表示された図１０に示す画像の輝度を測定する。これにより、９８０×９８０ドット分の輝度データの中に、中央部の線に相当する高い輝度を示す一直線状のデータが得られる。これが、測定サンプル２の中央部であるため、このデータを用いて第１表示領域２ａの輝度データを特定する。

同様に、輝度測定装置１が第２表示領域２ｂ側の輝度を測定した後、そのままの回転姿勢で、続いて測定サンプル２に表示された図１０に示す画像の輝度を測定し、同様にして第２表示領域２ｂの輝度データを特定する。

但し、表示領域の境界線を識別する方法は上記の方法に限らない。例えば、第１表示領域２ａ、第２表示領域２ｂの輝度を測定する際の輝度測定装置１の回転角度と、輝度測定装置１と測定サンプル２との距離、輝度測定装置１のレンズ性能等から、表示領域の境界線を計算で算出しても良い。

＜Ｂ−４．測定データの補正＞
次に、第２表示領域２ｂの測定データの台形歪補正について説明する。第１表示領域２ａの測定データの台形歪補正は第２表示領域２ｂの測定データの台形歪補正と同様であるため、ここでは第２表示領域２ｂの測定データの台形歪補正のみ説明する。

図１１は、第２表示領域２ｂ（ここでは面Ｓと示す）の輝度測定を行う際の、第２表示領域２ｂと輝度測定装置１との位置関係を示している。輝度測定装置１は、測定サンプル２の第２表示領域２ｂに正対する方向から角度θだけ傾けて第２表示領域２ｂの輝度を測定する。測定データは、撮像範囲の輝度分布が輝度測定装置１に正対するｘｙ平面に投影されて記録される。ｘ軸、ｙ軸の原点を輝度測定装置１と対向する位置に取り、ｘｙ平面に垂直な向きにｚ軸をとると、輝度測定装置１はｚ軸上の点Ｚ（０，０，Ｌ）に位置する。そして、ある測定点Ａ１（ｐ，ｑ，０）の輝度値は、測定サンプル２上の点Ａ２の輝度値である。ここで、Ａ２の座標を求める。

実際の測定サンプル２は、次の数式で表現される平面Ｓ上に存在する。

よって、Ａ２は、平面Ｓと直線ＡＺの交点として演算可能であり、Ａ２（ｘ２、ｙ２、ｚ２）の座標は次のようになる。

任意のＡ２は、Ｙ軸を中心に−θ回転させることで、ＸＹ平面上に移動させることが出来るため、これをＡ３（ｘ３、ｙ３、ｚ３）とすると、下記のようになる。

測定データの任意の点Ａ１の輝度値は、実際には、測定サンプル２上の点Ａ２の輝度値であり、これをｘｙ平面上の点Ａ３の輝度値と置き換えることで、台形歪を補正することが出来る。

こうして計算された各点の測定データに基づき、必要な個所の値を例えば線形補間演算することで、任意の点の測定データを得ることが出来る。これにより、補正演算が完了する。なお、以上に示した補正演算は例示であり、他の補正方法を用いても良い。

このように、輝度ムラ測定装置１０１は輝度測定装置１が測定領域に対して正対しないことにより生じる測定データの台形歪を補正する台形歪補正部６２を備えるので、台形歪を補正した正確な測定データを得ることが出来る。

＜Ｃ．実施の形態２＞
図１２は、実施の形態２に係る輝度ムラ測定装置１０２の構成を示している。なお、輝度ムラ測定装置１０２は実施の形態１と同様、演算部６を備えているが、ここでは図示を省略している。輝度ムラ測定装置１０２は、三脚３、三脚３に固定する治具４Ｂ、治具４Ｂに搭載する輝度測定装置１及び演算部６（図示省略）を備えている。

治具４Ｂには、輝度測定装置１がネジ７により取り付けられる。そして、輝度測定装置１はネジ７を回転軸として回転可能である。言い換えれば、治具４Ｂは、ネジ７を回転軸として輝度測定装置１を回転させる回転機構を有している。ネジ７の回転軸が輝度測定装置１のノーダルポイントＰと一致するように予め輝度測定装置１に対するネジ７の取り付け位置を設定しておけば、図５のステップＳ１に示したノーダルポイントＰの位置合わせ工程が不要である。従って、当該位置合わせをするためのスライド機構４１も治具４Ｂには不要である。

すなわち、輝度ムラ測定装置１０２において、輝度測定装置１と回転機構の回転軸との距離は固定であり、その距離を調整することは出来ないが、予め回転機構の回転軸を輝度測定装置１のノーダルポイントに重ねて設定しておくことにより、ノーダルポイントの位置合わせを省略することが出来る。

また、上記の回転軸を、輝度測定装置１を治具４Ｂに取り付けるためのネジ７の回転軸とする、言いかえれば、ネジ７の回転軸を輝度測定装置１のノーダルポイントに重ねることにより、治具４Ｂに別途の回転機構を設ける必要がなく、治具４Ｂの構成を簡略化できる。

＜Ｄ．変形例＞
以上の説明では、輝度測定装置１は、それ自体が回転機構を有さず、治具４Ｂに取り付けられることで治具４Ｂと一体となって回転するものとして説明した。しかし、輝度測定装置１自体が回転機構を有していても良い。当該回転機構は、輝度測定装置１のノーダルポイントに重ねて回転軸が設定される。すなわち、輝度測定装置１は、輝度測定装置１のノーダルポイント中心に輝度測定装置１を回転させる回転機構を有している。この場合、治具４Ｂは不要となる。

以上の説明では、データ特定部６１、台形歪補正部６２及びデータ接合部６３は、図４のプロセッサ７２がメモリ７３に格納されたソフトウェアプログラムに従って動作することにより実現された。しかしこれに代えて、データ特定部６１、台形歪補正部６２及びデータ接合部６３は、当該動作をハードウェアの電気回路で実現する信号処理回路により実現されても良い。ソフトウェアのデータ特定部６１、台形歪補正部６２及びデータ接合部６３と、ハードウェアのデータ特定部６１、台形歪補正部６２及びデータ接合部６３とを合わせた概念として、「部」という語に代えて「処理回路」という語を用いることも出来る。

なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。

１輝度測定装置、２測定サンプル、２ａ第１表示領域、２ｂ第２表示領域、３三脚、４，４Ｂ治具、５回転軸、６演算部、７ネジ、４１スライド機構、６１データ特定部、６２台形歪補正部、６３データ接合部、７１入力インタフェース、７２プロセッサ、７３メモリ、８１，８２棒、１０１，１０２輝度ムラ測定装置。

Claims

測定サンプルの表示面の面内輝度を測定する輝度測定装置と、
前記輝度測定装置を搭載し、前記輝度測定装置のノーダルポイントを中心に前記輝度測定装置を回転させる回転機構を有する治具と、
前記表示面内の第１表示領域の前記輝度測定装置による第１測定データと、前記第１表示領域と隣接する前記表示面内の第２表示領域の前記輝度測定装置による第２測定データとを接合するデータ接合部と、を備え、
前記第１、第２測定データは、前記輝度測定装置が前記回転機構による互いに異なる回転姿勢で測定して得られたデータである、
輝度ムラ測定装置。
前記治具は、前記輝度測定装置のノーダルポイントが前記回転機構の回転軸に一致するように、前記輝度測定装置を移動させる移動機構を有する、
請求項１に記載の輝度ムラ測定装置。
前記輝度測定装置と前記回転機構の回転軸との距離は固定であり、
前記回転機構の回転軸は前記輝度測定装置のノーダルポイントに重なる、
請求項１に記載の輝度ムラ測定装置。
前記輝度測定装置は前記治具にネジで取り付けられ、
前記ネジの回転軸が前記輝度測定装置のノーダルポイントに重なる、
請求項３に記載の輝度ムラ測定装置。
測定サンプルの表示面の面内輝度を測定する輝度測定装置と、
前記表示面内の第１表示領域の前記輝度測定装置による第１測定データと、前記第１表示領域と隣接する前記表示面内の第２表示領域の前記輝度測定装置による第２測定データとを接合するデータ接合部と、を備え、
前記第１、第２測定データは、前記輝度測定装置が前記回転機構による互いに異なる回転姿勢で測定して得られたデータであり、
前記輝度測定装置は、前記輝度測定装置のノーダルポイントを中心に前記輝度測定装置を回転させる回転機構を有する、
輝度ムラ測定装置。
前記輝度測定装置が測定領域に対して正対しないことにより生じる測定データの台形歪を補正する台形歪補正部をさらに備え、
前記データ接合部は、前記台形歪補正部により補正された前記第１測定データ及び前記第２測定データを接合する、
請求項１から５のいずれか１項に記載の輝度ムラ測定装置。