JP2017116477A

JP2017116477A - デバイス測定用治具

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Publication number: JP2017116477A
Application number: JP2015254442A
Authority: JP
Inventors: 允下田; Makoto Shimoda; 峯尾　浩之; Hiroyuki Mineo; 浩之峯尾
Original assignee: Advantest Corp
Current assignee: Advantest Corp
Priority date: 2015-12-25
Filing date: 2015-12-25
Publication date: 2017-06-29
Anticipated expiration: 2035-12-25
Also published as: JP6666713B2

Abstract

【課題】両端に接続部を有する被測定デバイスの特性評価の作業効率の向上を図ることが可能なデバイス測定用治具を提供する。【解決手段】電気接続部１２０及び光接続部１３０を有する光トランシーバ１００を保持可能なデバイス保持部２０と、光トランシーバ１００の一端に設けられた電気接続部１２０に接続可能な電気コネクタ７５と、光トランシーバ１００の他端に設けられた光接続部１３０に接続可能な光コネクタ３５と、を備えており、デバイス保持部２０及び光コネクタ３５がＸ軸方向に沿って電気コネクタ７５に対してそれぞれ相対移動可能に設けられており、Ｘ軸方向は、電気接続部１２０と電気コネクタ７５との挿抜方向であると共に、光接続部１３０と光コネクタ３５との挿抜方向である。【選択図】図３

Description

本発明は、両端に接続部を有する被測定デバイスの特性評価に用いられるデバイス測定用治具に関するものである。

両端に接続部を有するデバイスとして、一端に電気コネクタ部を有すると共に、他端に光コネクタ部を有する光トランシーバが知られている（例えば特許文献１参照）。

特開２０１２−１５９５３９号公報

上記の光トランシーバの特性を評価する必要があるが、こうした両端に接続部を有するデバイスを測定するための治具は見当たらないため、被測定デバイスの特性評価の作業効率が悪い、という問題があった。

本発明が解決しようとする課題は、両端に接続部を有する被測定デバイスの特性評価の作業効率の向上を図ることが可能なデバイス測定用治具を提供することである。

［１］本発明に係るデバイス測定用治具は、第１及び第２の接続部を有する被測定デバイスを保持可能なデバイス保持部と、前記被測定デバイスの一端に設けられた前記第１の接続部に接続可能な第１のコネクタと、前記被測定デバイスの他端に設けられた前記第２の接続部に接続可能な第２のコネクタと、を備えており、前記デバイス保持部及び前記第２のコネクタが第１の方向に沿って前記第１のコネクタに対してそれぞれ相対移動可能に設けられ、又は、前記第１のコネクタ及び前記第２のコネクタが前記第１の方向に沿って前記デバイス保持部に対してそれぞれ相対移動可能に設けられており、前記第１の方向は、前記第１の接続部と前記第１のコネクタとの挿抜方向であると共に、前記第２の接続部と前記第２のコネクタとの挿抜方向であるデバイス測定用治具である。

［２］上記発明において、前記被測定デバイスは、光トランシーバであり、前記第１のコネクタは、前記第１の接続部に対して電気信号又は光信号の一方を入出力するコネクタであり、前記第２のコネクタは、前記第２の接続部に対して光信号又は電気信号の他方を入出力するコネクタであってもよい。

［３］上記発明において、前記第１の方向は、鉛直方向に対して実質的に直交する方向であってもよい。

［４］上記発明において、前記デバイス測定用治具は、前記第１のコネクタを保持する第１のコネクタ保持部と、前記第２のコネクタを保持する第２のコネクタ保持部と、を備えていてもよい。

［５］上記発明において、前記デバイス保持部は、前記被測定デバイスに接触する接触部分を有しており、前記第１のコネクタ保持部は、前記第１のコネクタが実装された配線基板であり、前記配線基板は、前記デバイス保持部に対して前記接触部分側に配置されていてもよい。

［６］上記発明において、前記配線基板は、前記デバイス保持部に対向する領域に開口又は切り欠きを有してもよい。

［７］上記発明において、前記デバイス測定用治具は、前記デバイス保持部又は前記第１のコネクタ保持部を前記第１の方向に沿って移動可能に支持する第１のガイド機構と、前記第２のコネクタ保持部を前記第１の方向に沿って移動可能に支持する第２のガイド機構と、を備えてもよい。

［８］上記発明において、前記第１のガイド機構は、前記第１の方向に沿って延在する第１のガイド部材と、前記第１のガイド部材上を摺動可能な第１の摺動部材と、を備え、
前記第２のガイド機構は、前記第１の方向に沿って延在する第２のガイド部材と、前記第２のガイド部材上を摺動可能な第２の摺動部材と、を備えており、前記第１のガイド部材と前記第２のガイド部材は、同一のガイド部材であってもよい。

［９］上記発明において、前記デバイス測定用治具は、前記第１のコネクタ保持部又は前記デバイス保持部が固定されたフレームと、前記デバイス保持部又は前記第１のコネクタ保持部を前記フレームに対して移動させる第１の移動ユニットと、前記第２のコネクタ保持部を前記フレームに対して移動させる第２の移動ユニットと、を備えてもよい。

［１０］上記発明において、前記第１の移動ユニットと前記第２の移動ユニットは、同一の移動ユニットであってもよい。

［１１］上記発明において、前記デバイス測定用治具は、前記第１のコネクタ保持部又は前記デバイス保持部が固定されたフレームと、前記デバイス保持部又は前記第１のコネクタ保持部を前記フレームに対して移動させる第１の移動ユニットと、前記第２のコネクタ保持部を前記フレームに対して移動させる第２の移動ユニットと、を備えており、前記第１のコネクタ保持部は、前記フレーム又は前記第１のガイド機構に着脱可能に装着され、前記デバイス保持部は、前記第１のガイド機構又は前記フレームに着脱可能に装着され、前記第２のコネクタ保持部は、前記第２のガイド機構に着脱可能に装着されていてもよい。

本発明によれば、デバイス保持部及び第２のコネクタが第１の方向に沿って第１のコネクタに対してそれぞれ相対移動可能に設けられ、又は、第１のコネクタ及び第２のコネクタが第１の方向に沿ってデバイス保持部に対してそれぞれ相対移動可能に設けられている。このため、両端に接続部を有する被測定デバイスの特性評価の作業効率が向上する。

図１（ａ）及び図１（ｂ）は、本発明の実施形態における被測定デバイスである光トランシーバを示す平面図及び側面図である。図２は、本発明の実施形態におけるデバイス測定用治具を示す平面図である。図３は、本発明の実施形態におけるデバイス測定用治具を示す断面図であり、図２のIII-III線に沿った断面図である。図４は、図２に示すデバイス測定用治具から配線基板を取り外した状態を示す平面図である。図５（ａ）〜図５（ｃ）は、本発明の実施形態におけるデバイス保持部の変形例を示す断面図である。図６は、本発明の実施形態における配線基板の変形例を示す平面図である。図７（ａ）〜図７（ｃ）は、本発明の実施形態におけるデバイス測定用治具への被測定デバイスのセット手順を示す図である。図８は、本発明の他の実施形態におけるデバイス測定用治具を示す断面図である。図９は、本発明のさらに他の実施形態におけるデバイス測定用治具を示す断面図である。図１０は、本発明のさらに別の実施形態におけるデバイス測定用治具を示す断面図である。

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。

先ず、被測定デバイスである光トランシーバ１００について、図１（ａ）及び図１（ｂ）を参照しながら説明する。

図１（ａ）及び図１（ｂ）は、本実施形態における被測定デバイスである光トランシーバを示す平面図及び側面図である。

この光トランシーバ１００は、例えば、ＱＳＦＰ＋（Quad Small Form-factor Pluggable plus）やＣＸＰ（120Gb/s 12x Small Form-factor Pluggable）等のＭＳＡ（Multi-Source Agreement）規格に準拠した光トランシーバである。

具体的には、この光トランシーバ１００は、図１（ａ）及び図１（ｂ）に示すように、電気信号と光信号を相互に変換する光モジュール（不図示）を収容した本体部１１０と、光モジュールに接続されていると共に本体部１１０の一端に設けられた電気接続部１２０と、光モジュールに接続されていると共に本体部１１０の他端に設けられた光接続部１３０と、を備えている。電気接続部１２０は、例えば、光モジュールが実装されたプリント配線基板上に形成された複数の端子から構成されており、後述する電気コネクタ７５に嵌合することが可能となっている。光接続部１３０は、例えば、レセプタクル型の光コネクタで構成されており、後述する光コネクタ３５が嵌合することが可能となっている。

本実施形態における光トランシーバ１００が本発明における被測定デバイスの一例に相当する。また、本実施形態における電気接続部１２０が本発明における第１又は第２の接続部の一方の一例に相当し、本実施形態における光接続部１３０が本発明における第２又は第１の接続部の他方の一例に相当する。

なお、本体部１１０の一端に電気接続部１２０が設けられ、本体部１１０の他端に光接続部１３０が設けられているのであれば、光トランシーバ１００の構成は、上記に特に限定されない。例えば、電気接続部がレセプタクル型の電気コネクタで構成され、光接続部がプラグ型の光コネクタで構成されてもよいし、或いは、電気接続部及び光接続部の両方がレセプタクル型又はプラグ型のコネクタで構成されてもよい。また、本発明における被測定デバイスは、両端に接続部を有するデバイス（電子部品、電子モジュール、電子ユニット等）であれば、上記のような光トランシーバに特に限定されない。

次に、本実施形態におけるデバイス測定用治具１について、図２〜図６を参照しながら説明する。

図２及び図３は本実施形態におけるデバイス測定用治具を示す平面図及び断面図、図４は配線基板を取り外した状態のデバイス測定用治具を示す平面図、図５（ａ）〜図５（ｃ）はデバイス保持部の変形例を示す断面図、図６は配線基板の変形例を示す平面図である。なお、図３において、光トランシーバ１００の外形を簡略化して図示している。

本実施形態におけるデバイス測定用治具１は、上述した光トランシーバ１００の特性を評価する際に用いられる治具である。このデバイス測定治具１は、図２〜図４に示すように、フレーム１０と、デバイス保持部２０と、光コネクタ３５を有するコネクタ保持部３０と、ガイド機構４０と、第１及び第２の移動ユニット５０，６０と、電気コネクタ７５を有する配線基板７０と、を備えている。

本実施形態における電気コネクタ７５が本発明における第１又は第２のコネクタの一方の一例に相当し、本実施形態における光コネクタ３５が本発明における第２又は第１のコネクタの他方の一例に相当する。また、本実施形態における配線基板７０が本発明における第１又は第２のコネクタ保持部の一方の一例に相当し、本実施形態におけるコネクタ保持部３０が本発明における第２又は第１のコネクタ保持部の他方の一例に相当する。

デバイス保持部２０は、光トランシーバ１００を保持する部材である。このデバイス保持部２０は、光トランシーバ１００の本体部１１０の外形に対応するように窪んだ凹部２１を有している。この凹部２１内に光トランシーバ１００の本体部１１０の一部を収容することが可能となっており、光トランシーバ１００の本体部１１０の下面が凹部２１の底面２１１に接触する。このデバイス保持部２０は、ガイド機構４０を介してフレーム１０上に設けられている。本実施形態におけるデバイス保持部２０の凹部２１の底面２１１が、本発明におけるデバイス保持部の接触部分の一例に相当する。

なお、デバイス保持部に吸着機構を設けてもよい。具体的には、図５（ａ）に示すように、デバイス保持部２０Ｂの凹部２１の底面２１１に複数の開口２１２を形成すると共に、当該開口２１２に連通した流路２１３をデバイス保持部２０Ｂの内部に形成する。そして、配管２６を介して流路２１３に接続された真空ポンプ２５を駆動させることで、デバイス保持部２０Ｂに光トランシーバ１００を吸着保持する。これにより、デバイス保持部２０Ｂが光トランシーバ１００をより安定して保持することができる。

特に図示しないが、上述した吸着機構に代えて、デバイス保持部２０Ｂ上部に開閉式の蓋を設け、この蓋により光トランシーバ１００を安定して保持してもよい。或いは、上述した吸着機構に代えて、手動或いはバネを利用したラッチ機構をデバイス保持部２０Ｂが備えてよく、このラッチ機構により凹部２１に載置された光トランシーバ１００を側方から挟持することで、光トランシーバ１００を安定して保持してもよい。

また、図５（ｂ）に示すように、デバイス保持部２０Ｃの側面にヒートシンク２３を設けてもよい。これにより、特性評価中の光トランシーバ１００からデバイス保持部２０Ｃを介して放熱することができる。

また、図５（ｃ）に示すように、デバイス保持部２０Ｄにヒータ２４を埋設し、特性評価中の光トランシーバ１００を加熱してもよい。特に図示しないが、ヒータ２４に代えて、或いは、ヒータ２４に加えて、ペルチェ素子をデバイス保持部２０Ｄに埋設したり、冷媒を循環させる流路をデバイス保持部２０Ｄの内部に形成してもよい。これにより、特性評価中の光トランシーバ１００の温度を調整することができる。

図２〜図４に戻り、ブロック状のコネクタ保持部３０には、図中のＸ軸方向に沿った貫通孔３１が形成されている。この貫通孔３１に光コネクタ３５が挿入され固定されることで、当該光コネクタ３５がコネクタ保持部３０に保持されている。このコネクタ保持部３０は、デバイス保持部２０に対して図中の＋Ｘ側に位置するように、ガイド機構４０を介してフレーム１０上に設けられている。

光コネクタ３５は、例えば、光トランシーバ１００の光接続部１３０に嵌合可能なプラグ型の光コネクタであり、嵌合部３５１がデバイス保持部２０側（図中の−Ｘ側）に向くような姿勢でコネクタ保持部３０に保持されている。光コネクタ３５からは光ケーブル３６が図中の＋Ｘ側に導出しており、この光ケーブル３６は、光トランシーバ１００の特性を評価するテスト装置９０に接続されている。なお、光トランシーバ１００の光接続部１３０がプラグ型のコネクタで構成されている場合には、この光コネクタ３５はレセプタクル型のコネクタで構成される。

ガイド機構４０は、ガイドレール４１と、第１及び第２のスライドブロック４２，４３と、を備えている。ガイドレール４１は、図中のＸ軸方向に沿って延在するように、フレーム１０の上面１１に設けられている。第１及び第２のスライドブロック４２，４３は、このガイドレール４１上を図中のＸ軸方向に沿って摺動することが可能となっている。この第１及び第２のスライドブロック４２，４３は、第１のスライドブロック４２が第２のスライドブロック４３に対して図中の−Ｘ側に位置するように、ガイドレール４１上に保持されている。

デバイス保持部２０が第１のスライドブロック４２に固定されていると共に、コネクタ保持部３０が第２のスライドブロック４３に固定されている。このため、デバイス保持部２０とコネクタ保持部３０は、図中のＸ軸方向に移動することが可能となっている。

また、この際、デバイス保持部２０は、ボルト２２によって第１のスライドブロック４２に着脱可能に固定されている。本実施形態では、例えば、被測定デバイスが光トランシーバ１００から別のタイプの光トランシーバに替わる場合に、次のような交換作業を行うことで、被測定デバイスの品種交換に対応することが可能となっている。すなわち、デバイス保持部２０を第１のスライドブロック４２から取り外し、交換後の光トランシーバの外形に適合した別のデバイス保持部を第１のスライドブロック４２に装着することで、被測定デバイスの品種交換に対応することが可能となっている。

コネクタ保持部３０も、ボルト３２によって第２のスライドブロック４３に着脱可能に固定されている。このため、本実施形態では、コネクタ保持部３０を第２のスライドブロック４３から取り外し、交換後の光トランシーバの光接続部に適合した光コネクタを有する別のコネクタ保持部を第２のスライドブロック４３に装着することで、被測定デバイスの品種交換に対応することが可能となっている。

本実施形態におけるガイド機構４０が本発明における第１及び第２のガイド機構の一例に相当し、本実施形態におけるガイドレール４１が本発明における第１及び第２のガイド部材の一例に相当する。また、本実施形態における第１のスライドブロック４２が本発明における第１の摺動部材の一例に相当し、本実施形態における第２のスライドブロック４３が本発明における第２の摺動部材の一例に相当する。

なお、第１のスライドブロック４２を移動可能に保持する第１のガイドレールと、第２のスライドブロック４３を移動可能に保持する第２のガイドレールを相互に独立させてもよい。しかしながら、本実施形態のように、これら第１及び第２のガイドレールを同一のガイドレール４１とすることで、デバイス測定用治具１の部品点数を減らすことができる。

第１の移動ユニット５０は、第１のスライドブロック４２に連結されている。この第１の移動ユニット５０は、例えば、直動型の第１のエアシリンダ５１から構成されている。この第１のエアシリンダ５１の第１のロッド５２の先端には、第１のスライドブロック４２が接続されており、第１のエアシリンダ５１を駆動させることで、デバイス保持部２０を図中のＸ軸方向に沿って往復移動させることが可能となっている。

一方、第２の移動ユニット６０は、第２のスライドブロック４３に連結されている。この第２の移動ユニット６０も、第１の移動ユニット５０と同様に、例えば、直動型の第２のエアシリンダ６１から構成されている。この第２のエアシリンダ６１の第２のロッド６２の先端には、第２のスライドブロック４３が接続されており、第２のエアシリンダ６１を駆動させることで、コネクタ保持部３０を図中のＸ軸方向に沿って往復移動させることが可能となっている。

このように、本実施形態では、第１及び第２のスライドブロック４２，４３が別々の移動ユニット５０，６０に連結されているので、第１及び第２のスライドブロック４２，４３を相互に独立して移動させることが可能となっている。

なお、第１及び第２のエアシリンダ５１，６１に代えて、例えば、ボールねじ機構付きモータ等の他の直動型アクチュエータによって、第１及び第２の移動ユニット５０，６０をそれぞれ構成してもよい。或いは、デバイス測定用治具１に第１及び第２のアクチュエータ５０，６０を設けずに、第１及び第２のスライドブロック４２，４３をそれぞれ手動で移動させてもよい。

配線基板７０は、シャフト７１を介してフレーム１０に固定されている。このシャフト７１によって、フレーム１０の上面１１と配線基板７０の下面７２との間に空間１２が確保されている。この空間１２には、デバイス保持部２０、コネクタ保持部３０、ガイド機構４０、第１の移動ユニット５０、及び、第２の移動ユニット６０が収容されている。

また、この配線基板７０においてデバイス保持部２０に対向する領域には開口７３が形成されている。この開口７３は、光トランシーバ１００が通過可能な大きさの矩形形状を有している。なお、開口７３の大きさや形状は、光トランシーバ１００が通過可能であれば、特に上記に限定されない。

図６に示すように、開口７３に代えて、光トランシーバ１００が通過可能な大きさを有する切り欠き７４を、配線基板７０Ｂに形成してもよい。なお、上述の開口７３と同様に、切り欠き７４の大きさや形状は、光トランシーバ１００が通過可能であれば、特に上記に限定されない。

図２〜図４に戻り、配線基板７０の下面７２には、電気コネクタ７５が実装されている。この電気コネクタ７５は、例えば、光トランシーバ１００の電気接続部１２０が嵌合可能なレセプタクル型の電気コネクタである。この電気コネクタ７５は、デバイス保持部２０に対して図中の−Ｘ側に位置するように開口７３の周縁近傍に配置されており、接続口７５１がデバイス保持部２０側（図中の＋Ｘ側）を向くような姿勢で、配線基板７０の下面７２に実装されている。さらに、この配線基板７０には、電気コネクタ７５と電気ケーブル７６とを接続する配線パターン７７が形成されており、電気ケーブル７６は上述のテスト装置９０に接続されている。

なお、光トランシーバ１００の電気接続部１２０がレセプタクル型のコネクタで構成されている場合には、この電気コネクタ７５はプラグ型のコネクタで構成される。また、本実施形態では、光コネクタ３５及び電気コネクタ７５を同一のテスト装置９０に接続したが、特にこれに限定されない。例えば、光コネクタ３５をテスト装置９０に接続し、電気コネクタ７５を別のテスト装置に接続するように構成してもよい。

配線基板７０は、シャフト７１を貫通するボルト７８によって、フレーム１０に着脱可能に固定されている。本実施形態では、例えば、被測定デバイスが光トランシーバ１００とは別のタイプの光トランシーバに替わる場合に、次のような交換作業を行うことで、被測定デバイスの品種交換に対応することが可能となっている。すなわち、配線基板７０をフレーム１０から取り外し、交換後の光トランシーバの電気接続部に適合した電気コネクタを有する別の配線基板をフレーム１０に装着することで、被測定デバイスの品種交換に対応することが可能となっている。

以下に、本実施形態におけるデバイス測定用治具１への光トランシーバ１００のセット手順の一例について、図７（ａ）〜図７（ｃ）を参照しながら説明する。

図７（ａ）〜図７（ｃ）は本実施形態におけるデバイス測定用治具への被測定デバイスのセット手順を示す図である。なお、図７（ａ）〜図７（ｃ）において、図３と同様に、光トランシーバ１００の外形を簡略化して図示している。

先ず、図７（ａ）に示すように、光トランシーバ１００をデバイス保持部２０の上方に位置させた後に当該光トランシーバ１００を下降させる。そして、配線基板７０の開口７３を介して、光トランシーバ１００をデバイス保持部２０の凹部２１に載置する。

なお、本実施形態では、光トランシーバ１００をデバイス保持部２０に手動で載置するが、光トランシーバ１００の載置方法は特にこれに限定されない。例えば、デバイス搬送装置等を用いて光トランシーバ１００をデバイス保持部２０に自動的に載置してもよい。

次いで、図７（ｂ）に示すように、第１の移動ユニット５０の第１のエアシリンダ５１を駆動させて、光トランシーバ１００を保持しているデバイス保持部２０を−Ｘ側に向かって移動させる。これにより、光トランシーバ１００の電気接続部１２０が配線基板７０の電気コネクタ７５に嵌合し、光トランシーバ１００が電気コネクタ７５と接続される。

次いで、図７（ｃ）に示すように、第２の移動ユニット６０の第２のエアシリンダ６１を駆動させて、光コネクタ３５を保持しているコネクタ保持部３０を−Ｘ側に向かって移動させる。これにより、光トランシーバ１００の光接続部１３０に嵌合し、光トランシーバ１００が光コネクタ３５と接続される。

以上の手順を行うことで、光トランシーバ１００がデバイス測定用治具１によってテスト装置９０と接続されたら、テスト装置９０は、電気コネクタ７５と光トランシーバ１００の電気接続部１２０との間で電気信号を入出力すると共に、光コネクタ３５と光トランシーバ１００の光接続部１３０との間で光信号が入出力することで、光トランシーバ１００の特性評価を実行する。なお、光トランシーバ１００をデバイス測定用治具１から取り出す場合には、上述した図７（ａ）〜図７（ｃ）の手順を逆に行えばよい。

なお、本実施形態において、図中の−Ｘ方向が、電気接続部１２０と電気コネクタ７５とが嵌合する方向（挿入方向）であると共に、光接続部１３０と光コネクタ３５とが嵌合する方向（挿入方向）である。これに対し、図中の＋Ｘ方向が、電気接続部１２０と電気コネクタ７５との嵌合を解除する方向（抜脱方向）であると共に、光接続部１３０と光コネクタ３５との嵌合を解除する方向（抜脱方向）である。すなわち、本実施形態における図中のＸ軸方向が、本発明における挿抜方向の一例に相当する。

以上のように、本実施形態では、デバイス保持部２０と光コネクタ３５がＸ軸方向に沿って電気コネクタ７５に対してそれぞれ相対移動可能に設けられている。このため、光トランシーバ１００のような両端に接続部を有する被測定デバイスの特性評価の作業効率が向上する。

また、本実施形態では、配線基板７０が、デバイス保持部２０に対して、当該デバイス保持部２０の凹部２１の底面２１１側に配置されている。このため、上述の配線基板７０の交換作業を容易に行うことが可能となっている。

また、本実施形態では、配線基板７０においてデバイス保持部２０に対向する領域に、開口７３が形成されているので、光トランシーバ１００をデバイス測定用治具１にセットしたりデバイス測定用治具１から取り出す際に、デバイス保持部２０やコネクタ保持部３０を配線基板７０の下側から完全に引き出す必要がない。このため、第１及び第２の移動ユニット５０，６０の移動ストロークを短くすることができ、デバイス測定用治具１の小型化を図ることができる。

また、第２の移動ユニット６０の移動ストローク（すなわち、光コネクタ３５を保持しているコネクタ保持部３０の移動ストローク）が短くなっていることで、光ケーブル３６の余長を短くすることができ、光ケーブル３６に印加される曲げ応力を抑制することができる。また、高周波信号を用いて光トランシーバ１００の特性評価を行う場合には、伝送損失の低下を抑制することもできる。

なお、以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。したがって、上記の実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。

図８は本発明の他の実施形態におけるデバイス測定用治具を示す断面図、図９は本発明のさらに他の実施形態におけるデバイス測定用治具を示す断面図、図１０は本発明におけるさらに別の実施形態におけるデバイス測定用治具を示す断面図である。なお、図８〜図１０において、図３と同様に、光トランシーバ１００の外形を簡略化して図示している。また、図１０では、デバイス測定用治具１Ｄのデバイス保持部２０、コネクタ保持部３０、及び、ガイド機構４０のみを図示している。

例えば、上述の実施形態では、配線基板７０をフレーム１０に固定すると共に、デバイス保持部２０をガイド機構４０によって移動可能としたが、特にこれに限定されない。図８に示すデバイス測定用治具１Ｂのように、デバイス保持部２０をフレーム１０に固定すると共に、配線基板７０とフレーム１０との間にガイド機構４０Ｂを介在させてもよい。すなわち、ガイド機構４０Ｂによって、電気コネクタ７５をデバイス保持部２０に対して相対移動可能としてもよい。或いは、特に図示しないが、コネクタ保持部３０をフレーム１０に固定すると共に、ガイド機構によってデバイス保持部２０と配線基板７０を移動可能としてもよい。

また、上述の実施形態では、電気コネクタ７５を配線基板７０に実装したが、特にこれに限定されない。例えば、図９に示すデバイス測定用治具１Ｃのように、電気コネクタ７５として、コネクタから電気ケーブル７６が直接導出するタイプのものを用いてもよい。この場合には、配線基板７０に代えて、上述したコネクタ保持部３０と同様の構成を有するブロック状のコネクタ保持部３０Ｂが用いられ、このコネクタ保持部３０Ｂによって電気コネクタ７５が保持される。なお、特に図示しないが、デバイス保持部２０又はコネクタ保持部３０の一方を固定すると共に、電気コネクタ７５を保持するコネクタ保持部をガイド機構によって移動可能としてもよい。本例におけるコネクタ保持部３０Ｂが、本発明における第１又は第２のコネクタ保持部の一方の一例に相当する。

また、上述の実施形態では、２つの移動ユニット５０，６０を用いて、デバイス保持部２０とコネクタ保持部３０を移動させたが、特にこれに限定されない。例えば、図１０に示すデバイス測定用治具１Ｄのように、連結部材２７を介してデバイス保持部２０とコネクタ保持部３０を接続することで、一つの移動ユニット６０のみでデバイス保持部２０及びコネクタ保持部３０を移動させてもよい。

具体的には、連結部材２７の一端は、ピン３３を介してコネクタ保持部３０に固定されている。一方、連結部材２７の他端には、当該連結部材２７の長手方向に沿った長孔２７１が形成されており、連結部材２７の他端は、この長孔２７に相対移動可能に挿入されたピン２８を介してデバイス保持部２０に固定されている。このように、一つの移動ユニット６０のみでデバイス保持部２０及びコネクタ保持部３０を移動させることで、デバイス測定用治具１の部品点数を減らすことができる。

また、上述の実施形態では、電気コネクタ７５や光コネクタ３５の挿抜方向が鉛直方向（Ｚ軸方向）に対して実質的に直交する方向（Ｘ軸方向）になるように、デバイス測定用治具１を配置しているが、特にこの配置に限定されない。例えば、特に図示しないが、電気コネクタ７５や光コネクタ３５の挿抜方向が鉛直方向（Ｚ軸方向）に対して実質的に平行となるように、デバイス測定用治具１を配置してもよい。

さらに、上述の実施形態では、デバイス保持部２０、コネクタ保持部３０及び配線基板７０のすべてを着脱可能に構成したが、特にこれに限定されない。例えば、デバイス保持部２０、コネクタ保持部３０及び配線基板７０のうちの１つ又は２つを着脱可能としてもよいし、デバイス保持部２０、コネクタ保持部３０及び配線基板７０の全てを着脱不可能としてもよい。

１，１Ｂ〜１Ｄ…デバイス測定用治具
１０…フレーム
１１…上面
１２…空間
２０，２０Ｂ〜２０Ｄ…デバイス保持部
２１…凹部
２１１…底面
２１２…開口
２１３…流路
２２…ボルト
２３…ヒートシンク
２４…ヒータ
２５…真空ポンプ
２６…配管
２７…連結部材
２７１…長孔
２８…ピン
３０，３０Ｂ…コネクタ保持部
３１…貫通孔
３２…ボルト
３３…ピン
３５…光コネクタ
３５１…嵌合部
３６…光ケーブル
４０，４０Ｂ…ガイド機構
４１…ガイドレール
４２…第１のスライドブロック
４３…第２のスライドブロック
５０…第１の移動ユニット
５１…第１のエアシリンダ
５２…ロッド
６０…第２の移動ユニット
６１…第２のエアシリンダ
６２…ロッド
７０，７０Ｂ…配線基板
７１…シャフト
７２…下面
７３…開口
７４…切り欠き
７５…電気コネクタ
７５１…接続口
７６…電気ケーブル
７７…配線パターン
７８…ボルト
９０…テスト装置
１００…光トランシーバ
１１０…本体部
１２０…電気コネクタ部
１３０…光コネクタ部

Claims

第１及び第２の接続部を有する被測定デバイスを保持可能なデバイス保持部と、
前記被測定デバイスの一端に設けられた前記第１の接続部に接続可能な第１のコネクタと、
前記被測定デバイスの他端に設けられた前記第２の接続部に接続可能な第２のコネクタと、を備えており、
前記デバイス保持部及び前記第２のコネクタが第１の方向に沿って前記第１のコネクタに対してそれぞれ相対移動可能に設けられ、又は、前記第１のコネクタ及び前記第２のコネクタが前記第１の方向に沿って前記デバイス保持部に対してそれぞれ相対移動可能に設けられており、
前記第１の方向は、前記第１の接続部と前記第１のコネクタとの挿抜方向であると共に、前記第２の接続部と前記第２のコネクタとの挿抜方向であるデバイス測定用治具。
請求項１に記載のデバイス測定用治具であって、
前記被測定デバイスは、光トランシーバであり、
前記第１のコネクタは、前記第１の接続部に対して電気信号又は光信号の一方を入出力するコネクタであり、
前記第２のコネクタは、前記第２の接続部に対して光信号又は電気信号の他方を入出力するコネクタであるデバイス測定用治具。
請求項１又は２に記載のデバイス測定用治具であって、
前記第１の方向は、鉛直方向に対して実質的に直交する方向であるデバイス測定用治具。
請求項１〜３のいずれか一項に記載のデバイス測定用治具であって、
前記デバイス測定用治具は、
前記第１のコネクタを保持する第１のコネクタ保持部と、
前記第２のコネクタを保持する第２のコネクタ保持部と、を備えたデバイス測定用治具。
請求項４に記載のデバイス測定用治具であって、
前記デバイス保持部は、前記被測定デバイスに接触する接触部分を有しており、
前記第１のコネクタ保持部は、前記第１のコネクタが実装された配線基板であり、
前記配線基板は、前記デバイス保持部に対して前記接触部分側に配置されているデバイス測定用治具。
請求項５に記載のデバイス測定用治具であって、
前記配線基板は、前記デバイス保持部に対向する領域に開口又は切り欠きを有するデバイス測定用治具。
請求項４〜６のいずれか一項に記載のデバイス測定用治具であって、
前記デバイス測定用治具は、
前記デバイス保持部又は前記第１のコネクタ保持部を前記第１の方向に沿って移動可能に支持する第１のガイド機構と、
前記第２のコネクタ保持部を前記第１の方向に沿って移動可能に支持する第２のガイド機構と、を備えたデバイス測定用治具。
請求項７に記載のデバイス測定用治具であって、
前記第１のガイド機構は、
前記第１の方向に沿って延在する第１のガイド部材と、
前記第１のガイド部材上を摺動可能な第１の摺動部材と、を備え、
前記第２のガイド機構は、
前記第１の方向に沿って延在する第２のガイド部材と、
前記第２のガイド部材上を摺動可能な第２の摺動部材と、を備えており、
前記第１のガイド部材と前記第２のガイド部材は、同一のガイド部材であるデバイス測定用治具。
請求項４〜８のいずれか一項に記載のデバイス測定用治具であって、
前記デバイス測定用治具は、
前記第１のコネクタ保持部又は前記デバイス保持部が固定されたフレームと、
前記デバイス保持部又は前記第１のコネクタ保持部を前記フレームに対して移動させる第１の移動ユニットと、
前記第２のコネクタ保持部を前記フレームに対して移動させる第２の移動ユニットと、を備えたデバイス測定用治具。
請求項９に記載のデバイス測定用治具であって、
前記第１の移動ユニットと前記第２の移動ユニットは、同一の移動ユニットであるデバイス測定用治具。
請求項７又は８に記載のデバイス測定用治具であって、
前記デバイス測定用治具は、
前記第１のコネクタ保持部又は前記デバイス保持部が固定されたフレームと、
前記デバイス保持部又は前記第１のコネクタ保持部を前記フレームに対して移動させる第１の移動ユニットと、
前記第２のコネクタ保持部を前記フレームに対して移動させる第２の移動ユニットと、を備えており、
前記第１のコネクタ保持部は、前記フレーム又は前記第１のガイド機構に着脱可能に装着され、
前記デバイス保持部は、前記第１のガイド機構又は前記フレームに着脱可能に装着され、
前記第２のコネクタ保持部は、前記第２のガイド機構に着脱可能に装着されているデバイス測定用治具。