JP2017112243A - Heater chip and soldering device - Google Patents
Heater chip and soldering device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017112243A JP2017112243A JP2015245899A JP2015245899A JP2017112243A JP 2017112243 A JP2017112243 A JP 2017112243A JP 2015245899 A JP2015245899 A JP 2015245899A JP 2015245899 A JP2015245899 A JP 2015245899A JP 2017112243 A JP2017112243 A JP 2017112243A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hole
- solder piece
- solder
- heater chip
- soldered
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005476 soldering Methods 0.000 title claims abstract description 58
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims abstract description 378
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims abstract description 37
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims abstract description 37
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 15
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 99
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 18
- 239000003517 fume Substances 0.000 claims description 13
- 239000000155 melt Substances 0.000 claims description 6
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 6
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical group [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 4
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
Description
本発明は、糸半田を溶融させて半田付けを行う半田付け装置で使用されるヒータチップに関する。また、本発明は、かかるヒータチップを備える半田付け装置に関する。 The present invention relates to a heater chip used in a soldering apparatus that performs soldering by melting yarn solder. The present invention also relates to a soldering apparatus provided with such a heater chip.
従来、糸半田を溶融させて配線基板と電子部品の端子とを半田付けする半田付け装置が知られている(たとえば、特許文献1参照)。特許文献1に記載の半田付け装置は、糸半田を切断して半田片にするカッターユニットと、カッターユニットへ糸半田を送る半田送り機構と、カッターユニットの下側に配置される半田鏝部とを備えている。半田鏝部は、鏝先と、鏝先が固定されるヒータユニットとから構成されている。鏝先は、円筒状に形成されており、鏝先の内部は、カッターユニットで切断された半田片が配置される半田孔となっている。配線基板には、電子部品の端子が挿通されるスルーホールが形成されるとともに、スルーホールを囲むようにランドが形成されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a soldering apparatus that melts thread solder and solders a wiring board and terminals of an electronic component is known (for example, see Patent Document 1). The soldering apparatus described in
特許文献1に記載の半田付け装置において、配線基板のランドと電子部品の端子とを半田付けするときには、配線基板の上面に形成されるランドに鏝先の下端面が当接する。このときには、電子部品の端子は、スルーホールに下側から挿通されており、端子の上端側部分は、半田孔の内部に配置されている。この状態で、ヒータユニットによって加熱された鏝先の半田孔に、カッターユニットで切断された半田片が供給されて、ランドと端子とが半田付けされる。
In the soldering apparatus described in
特許文献1に記載の半田付け装置では、電子部品の端子と半田片とが同じ半田孔の中に配置されている。そのため、この半田付け装置では、半田孔の中で接触する端子と半田片との接触状態によって、半田孔の側面と半田片とが接触しなかったり、半田孔の側面と半田片との接触面積が小さくなったりして、半田片が溶融しにくくなる場合が生じることが本願発明者の検討によって明らかになった。また、この半田付け装置では、半田片が溶融しにくくなる場合が生じるために、鏝先の加熱条件が一定であると、半田孔に配置される半田片を適切に溶融させることができない場合が生じることが本願発明者の検討によって明らかになった。
In the soldering apparatus described in
そこで、本発明の課題は、加熱条件が一定であっても、切断された糸半田である半田片を確実に溶融させることが可能なヒータチップを提供することにある。また、本発明の課題は、かかるヒータチップを備える半田付け装置を提供することにある。 Therefore, an object of the present invention is to provide a heater chip that can reliably melt a solder piece, which is a cut yarn solder, even if heating conditions are constant. Moreover, the subject of this invention is providing the soldering apparatus provided with this heater chip.
上記の課題を解決するため、本発明のヒータチップは、抵抗加熱で加熱されるとともに半田付け装置で使用されるヒータチップにおいて、切断された糸半田である半田片が導入されて配置される半田片導入孔と、溶融した半田片によって半田付けされる被半田付け部の少なくとも一部が配置される被半田付け部配置孔とが個別に形成されていることを特徴とする。 In order to solve the above problems, the heater chip of the present invention is heated by resistance heating, and in a heater chip used in a soldering apparatus, solder in which a solder piece that is cut yarn solder is introduced and arranged The piece introduction hole and the soldered part arrangement hole in which at least a part of the soldered part to be soldered by the molten solder piece is arranged are individually formed.
本発明のヒータチップでは、半田片が導入されて配置される半田片導入孔と、溶融した半田片によって半田付けされる被半田付け部の少なくとも一部が配置される被半田付け部配置孔とが個別に形成されている。そのため、本発明では、被半田付け部の影響で半田片導入孔の側面と半田片とが接触しないといった状況や半田片導入孔の側面と半田片との接触面積が小さくなるといった状況の発生を防止して、半田片導入孔の側面と半田片との接触面積を確保することが可能になる。したがって、本発明では、ヒータチップの加熱条件が一定であっても、ヒータチップによって半田片を確実に溶融させることが可能になる。 In the heater chip of the present invention, a solder piece introduction hole in which the solder piece is introduced and arranged, and a soldered part arrangement hole in which at least a part of the soldered part to be soldered by the molten solder piece is arranged Are formed individually. Therefore, in the present invention, the situation that the side surface of the solder piece introduction hole does not contact with the solder piece due to the influence of the soldered portion or the situation that the contact area between the side surface of the solder piece introduction hole and the solder piece becomes small is generated. Therefore, it is possible to secure a contact area between the side surface of the solder piece introduction hole and the solder piece. Therefore, in the present invention, even if the heating condition of the heater chip is constant, the solder piece can be reliably melted by the heater chip.
本発明において、たとえば、被半田付け部は、回路基板に形成されるスルーホールを囲むように形成されるランドと、スルーホールに挿通される端子ピンとによって構成され、被半田付け部配置孔には、端子ピンの一部が配置される。この場合には、端子ピンの影響で半田片導入孔の側面と半田片とが接触しないといった状況や半田片導入孔の側面と半田片との接触面積が小さくなるといった状況の発生を防止して、半田片導入孔の側面と半田片との接触面積を確保することが可能になる。 In the present invention, for example, the soldered portion is composed of a land formed so as to surround a through hole formed in the circuit board and a terminal pin inserted through the through hole. A part of the terminal pin is arranged. In this case, it is possible to prevent the occurrence of a situation in which the side surface of the solder piece introduction hole does not contact the solder piece due to the influence of the terminal pin or a situation in which the contact area between the side surface of the solder piece introduction hole and the solder piece becomes small. It is possible to secure a contact area between the side surface of the solder piece introduction hole and the solder piece.
本発明において、たとえば、半田片導入孔および被半田付け部配置孔は、被半田付け部配置孔の一端側に半田片導入孔の一端側が繋がるとともに、半田片導入孔の他端および被半田付け部配置孔の他端に向かうにしたがって半田片導入孔と被半田付け部配置孔とが互いに離れていくように形成されている。 In the present invention, for example, the solder piece introduction hole and the soldered part arrangement hole are connected to one end of the solder piece introduction hole and the other end of the solder piece introduction hole and the soldered part. The solder piece introduction hole and the soldered part arrangement hole are formed so as to be separated from each other toward the other end of the part arrangement hole.
本発明において、ヒータチップは、半田片導入孔および被半田付け部配置孔が形成される孔形成部と、ヒータチップに電流を供給する電極に接続される2個の電極接続部とを備え、2個の電極接続部は、半田片導入孔が形成されている方向と平行な方向に向かって孔形成部から突出していることが好ましい。このように構成すると、たとえば、1枚の板状部材を切削加工することによってヒータチップが製作される場合、1個のヒータチップを製作するために必要となる原材料の厚さを薄くすることが可能になる。すなわち、半田片導入孔はヒータチップの中へ半田片を導入する機能を果たすため、半田片が適切に導入されるように半田片導入孔の長さをある程度長くする必要がある一方で、被半田付け部配置孔は、被半田付け部とヒータチップとの干渉を防止するために設けられているため、被半田付け部配置孔の長さが短くても機能上、問題は生じない。したがって、たとえば、1枚の板状部材を切削加工することによってヒータチップが製作される場合、長さが必要となる半田片導入孔が形成されている方向と平行な方向に向かって電極接続部が突出していれば、半田片導入孔の長さを確保しつつ、ヒータチップの原材料の厚さを薄くすることが可能になり、その結果、ヒータチップの原材料費を低減することが可能になる。 In the present invention, the heater chip includes a hole forming portion in which a solder piece introduction hole and a soldered portion arrangement hole are formed, and two electrode connection portions connected to electrodes that supply current to the heater chip, The two electrode connection portions preferably protrude from the hole forming portion in a direction parallel to the direction in which the solder piece introduction hole is formed. With this configuration, for example, when a heater chip is manufactured by cutting a single plate-like member, the thickness of the raw material required to manufacture one heater chip can be reduced. It becomes possible. That is, since the solder piece introduction hole functions to introduce the solder piece into the heater chip, the length of the solder piece introduction hole needs to be increased to some extent so that the solder piece can be appropriately introduced. Since the soldering portion arrangement hole is provided to prevent interference between the soldered portion and the heater chip, there is no functional problem even if the length of the soldering portion arrangement hole is short. Therefore, for example, when a heater chip is manufactured by cutting one plate-like member, the electrode connection portion is directed in a direction parallel to the direction in which the solder piece introduction hole that requires a length is formed. If the protrusion protrudes, it is possible to reduce the thickness of the raw material of the heater chip while ensuring the length of the solder piece introduction hole, and as a result, it is possible to reduce the raw material cost of the heater chip. .
本発明において、半田片導入孔の径は、被半田付け部配置孔の径よりも小さくなっていることが好ましい。本願発明者の検討によると、半田片導入孔に配置された半田片は加熱されて溶融する際にふらつくことが明らかになった。また、半田片導入孔に配置された半田片がふらつくと、半田片導入孔の側面と半田片との接触状態が不安定になり、半田片が溶融しにくくなる場合が生じることが本願発明者の検討によって明らかになった。半田片導入孔の径が被半田付け部配置孔の径よりも小さくなっていれば、径の小さい半田片導入孔に配置された半田片が溶融する際の半田片のふらつきを抑制して、半田片導入孔の側面と半田片との接触状態を安定させることが可能になる。したがって、ヒータチップの加熱条件が一定であっても、ヒータチップによって半田片を確実に溶融させることが可能になる。また、このように構成すると、被半田付け部配置孔の径が半田片導入孔の径よりも大きくなっているため、ヒータチップによる半田片の溶融時に発生するフラックスヒュームを、径の大きな被半田付け部配置孔を利用して効果的に逃がすことが可能になる。したがって、ヒータチップへのフラックスの付着を抑制することが可能になる。 In the present invention, the diameter of the solder piece introduction hole is preferably smaller than the diameter of the soldered portion arrangement hole. According to the study by the inventors of the present application, it has been clarified that the solder piece arranged in the solder piece introduction hole is staggered when heated and melted. In addition, if the solder piece arranged in the solder piece introduction hole fluctuates, the contact state between the side surface of the solder piece introduction hole and the solder piece may become unstable, and the solder piece may be difficult to melt. It became clear by examination. If the diameter of the solder piece introduction hole is smaller than the diameter of the soldered portion arrangement hole, suppressing the wobbling of the solder piece when the solder piece arranged in the small diameter solder piece introduction hole is melted, It is possible to stabilize the contact state between the side surface of the solder piece introduction hole and the solder piece. Therefore, even if the heating condition of the heater chip is constant, the solder piece can be reliably melted by the heater chip. Also, with this configuration, since the diameter of the soldered portion arrangement hole is larger than the diameter of the solder piece introduction hole, the flux fume generated when the solder piece is melted by the heater chip is reduced. It is possible to effectively escape using the attachment portion arrangement hole. Therefore, it becomes possible to suppress the adhesion of the flux to the heater chip.
本発明のヒータチップは、このヒータチップを有し半田片を加熱して溶融する溶融機構と、糸半田を切断して半田片にする切断機構とを備える半田付け装置に用いることができる。この半田付け装置では、ヒータチップの加熱条件が一定であっても、ヒータチップによって半田片を確実に溶融させることが可能になる。 The heater chip of the present invention can be used in a soldering apparatus including the melting mechanism that has the heater chip and heats and melts the solder piece, and the cutting mechanism that cuts the thread solder into the solder piece. In this soldering apparatus, even if the heating condition of the heater chip is constant, the solder piece can be reliably melted by the heater chip.
本発明において、被半田付け部配置孔は、上下方向に貫通するように形成され、半田片導入孔は、上下方向に対して傾いた方向に貫通するように形成され、被半田付け部配置孔の下端側に半田片導入孔の下端側が繋がっていることが好ましい。このように構成すると、半田片導入孔が上下方向に貫通するように形成されている場合と比較して、半田片導入孔の側面に半田片を確実に接触させることが可能になる。したがって、ヒータチップの加熱条件が一定であっても、ヒータチップによって半田片をより確実に溶融させることが可能になる。 In the present invention, the soldered portion arrangement hole is formed so as to penetrate in the vertical direction, and the solder piece introduction hole is formed so as to penetrate in a direction inclined with respect to the vertical direction. It is preferable that the lower end side of the solder piece introduction hole is connected to the lower end side. If comprised in this way, compared with the case where the solder piece introduction hole is formed so that it may penetrate in an up-down direction, it becomes possible to make a solder piece contact the side surface of a solder piece introduction hole reliably. Therefore, even if the heating condition of the heater chip is constant, the solder chip can be more reliably melted by the heater chip.
本発明において、被半田付け部配置孔は、ヒータチップによる半田片の溶融時に発生するフラックスヒュームを逃がすための逃がし孔となっていることが好ましい。このように構成すると、上下方向に貫通する被半田付け部配置孔を利用してフラックスヒュームを効果的に逃がすことが可能になる。したがって、ヒータチップへのフラックスの付着を抑制することが可能になる。 In the present invention, the soldered portion arrangement hole is preferably an escape hole for escaping the flux fume generated when the solder piece is melted by the heater chip. If comprised in this way, it will become possible to escape flux fume effectively using the to-be-soldered part arrangement | positioning hole penetrated to an up-down direction. Therefore, it becomes possible to suppress the adhesion of the flux to the heater chip.
本発明において、ヒータチップは、半田片導入孔と被半田付け部配置孔とが形成される孔形成部を備え、孔形成部は、水平方向の一方向を長手方向とする略直方体状に形成され、半田片導入孔が形成されている方向と孔形成部の長手方向とに直交する方向を第1方向とすると、孔形成部の上端側の第1方向の厚さは、孔形成部の下端側の第1方向の厚さよりも薄くなっていることが好ましい。このように構成すると、孔形成部の上端側に形成される被半田付け部配置孔の開口部を大きくすることが可能になる。したがって、上下方向に貫通する被半田付け部配置孔を利用してフラックスヒュームをより効果的に逃がすことが可能になり、その結果、ヒータチップへのフラックスの付着を効果的に抑制することが可能になる。 In the present invention, the heater chip includes a hole forming portion in which a solder piece introduction hole and a soldered portion arrangement hole are formed, and the hole forming portion is formed in a substantially rectangular parallelepiped shape with one horizontal direction as a longitudinal direction. When the direction orthogonal to the direction in which the solder piece introduction hole is formed and the longitudinal direction of the hole forming portion is the first direction, the thickness in the first direction on the upper end side of the hole forming portion is the thickness of the hole forming portion. It is preferable that the thickness is smaller than the thickness in the first direction on the lower end side. If comprised in this way, it will become possible to enlarge the opening part of the to-be-soldered part arrangement | positioning hole formed in the upper end side of a hole formation part. Therefore, it becomes possible to escape the flux fume more effectively by using the soldered portion arrangement hole penetrating in the vertical direction, and as a result, it is possible to effectively suppress the adhesion of the flux to the heater chip. become.
本発明において、被半田付け部は、回路基板に形成されるスルーホールを囲むように形成されるランドと、スルーホールに挿通される端子ピンとによって構成され、被半田付け部配置孔には、端子ピンの一部が配置され、ヒータチップは、半田片導入孔と被半田付け部配置孔とが形成される孔形成部を備え、回路基板の上面に対向する孔形成部の下面には、被半田付け部配置孔を囲む円環状の突起部が形成され、突起部の外径は、ランドの外径以下となっていることが好ましい。このように構成すると、ランドへの端子ピンの半田付け時に、突起部の下面はランドに接触するが、孔形成部の、突起部以外の部分の下面は、ランド以外の、回路基板の上面に接触しない。したがって、耐熱性を有する保護膜に回路基板が覆われていなくても、半田付け時の熱に起因する回路基板の損傷を防止することが可能になる。 In the present invention, the soldered portion is composed of lands formed so as to surround the through holes formed in the circuit board and terminal pins inserted through the through holes. A part of the pin is arranged, and the heater chip includes a hole forming portion in which a solder piece introduction hole and a soldered portion arrangement hole are formed, and the lower surface of the hole forming portion facing the upper surface of the circuit board is covered It is preferable that an annular projection that surrounds the soldering portion arrangement hole is formed, and the outer diameter of the projection is equal to or smaller than the outer diameter of the land. With this configuration, when the terminal pin is soldered to the land, the lower surface of the protruding portion contacts the land, but the lower surface of the hole forming portion other than the protruding portion is on the upper surface of the circuit board other than the land. Do not touch. Therefore, even if the circuit board is not covered with a heat-resistant protective film, it is possible to prevent damage to the circuit board due to heat during soldering.
以上のように、本発明では、ヒータチップの加熱条件が一定であっても、切断された糸半田である半田片をヒータチップによって確実に溶融させることが可能になる。 As described above, according to the present invention, even when the heating condition of the heater chip is constant, it is possible to reliably melt the solder piece that is the cut thread solder by the heater chip.
以下、図面を参照しながら、本発明の実施の形態を説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
(半田付け装置の全体構成)
図1は、本発明の実施の形態にかかる半田付け装置1の斜視図である。図2は、図1に示す半田付け装置1の上端側の一部を示す側面図である。
(Overall structure of soldering equipment)
FIG. 1 is a perspective view of a
本形態の半田付け装置1は、糸半田2を溶融させて、回路基板3に形成されるランド3a(図7参照)に電子部品4の端子ピン4a(図7参照)を半田付けするための装置である。具体的には、半田付け装置1は、複数のランド3aに複数の端子ピン4aを同時に半田付けするための装置である。本形態の半田付け装置1は、8個のランド3aのそれぞれに8本の端子ピン4aのそれぞれを同時に半田付けする。
The
半田付け装置1は、糸半田2を切断して半田片2a(図4参照)にする切断機構7と、半田リール8に巻回された糸半田2を切断機構7に向かって送る半田送り機構9と、半田片2aを加熱して溶融する溶融機構10と、溶融機構10を昇降させる昇降機構11とを備えている。また、半田付け装置1は、半田リール8から半田送り機構9へ糸半田2を案内するためのガイド部12と、切断機構7から溶融機構10へ半田片2aを供給するための半田片供給管13およびホルダ14(図6参照)と、ホルダ14を移動させるホルダ移動機構15とを備えている。さらに、半田付け装置1は、これらの構成が取り付けられる本体フレーム16を備えている。
The
以下の説明では、図1等のX方向を前後方向とし、前後方向に直交する図1等のY方向を左右方向とする。また、X方向のうちのX1方向側を「前」側とし、その反対側であるX2方向側を「後(後ろ)」側とし、Y方向のうちのY1方向側を「右」側とし、その反他側であるY2方向側を「左」側とする。 In the following description, the X direction in FIG. 1 or the like is the front-rear direction, and the Y direction in FIG. Also, the X1 direction side of the X direction is the “front” side, the opposite X2 direction side is the “rear (back)” side, the Y1 direction side of the Y direction is the “right” side, The Y2 direction side that is the opposite side is the “left” side.
半田リール8は、本体フレーム16の後面側に配置されている。ガイド部12は、本体フレーム16の上端面に配置されている。切断機構7および半田送り機構9は、本体フレーム16の上端側に配置されるとともにガイド部12の下側に配置されている。溶融機構10、昇降機構11、半田片供給管13、ホルダ14およびホルダ移動機構15は、本体フレーム16の前面側に配置されるとともに、切断機構7および半田送り機構9の下側に配置されている。
The
本体フレーム16の下端側には、回路基板3が載置される基板載置部(図示省略)が取り付けられている。この基板載置部は、溶融機構10よりも下側に配置されている。また、本体フレーム16の下端側には、溶融機構10を構成する後述のヒータチップ45による半田片2aの溶融時に発生するフラックスヒュームを吸引するための吸引管17が取り付けられている。吸引管17は、吸引管17の吸引口17a(図13参照)が前側を向くように配置されている。また、本形態では、吸引管17の吸引口17aが基板載置部の左右の両側に配置されるように、2本の吸引管17が本体フレーム16の下端側に取り付けられている。吸引管17は、ランド3aへの端子ピン4aの半田付け時にフラックスヒュームを吸引する。
A substrate mounting portion (not shown) on which the
本体フレーム16の後面側には、8個の半田リール8を回転可能に保持するリール保持部材19が取り付けられている。リール保持部材19は、上下方向における本体フレーム16の略中心位置から後ろ側に向かって突出するように本体フレーム16に固定されている。半田リール8は、左右方向を回転の軸方向とする回転が可能となるようにリール保持部材19に保持されている。8個の半田リール8は、左右方向に並ぶ2個の半田リール8が前後方向において4列で配列されるようにリール保持部材19に保持されている。
A
ガイド部12は、本体フレーム16の上端面の後端側に配置される第1ガイド部20と、本体フレーム16の上端面の前端側に配置される第2ガイド部21とを備えている。第1ガイド部20は、半田リール8から上側へ引き回された8本の糸半田2を前側に向かって案内する機能を果たしている。第2ガイド部21は、第1ガイド部20から前側に向かって引き回された8本の糸半田2を下側に向かって案内する機能を果たしている。なお、図1では、8個の半田リール8と第1ガイド部20との間に配置される糸半田2の一部分の図示を省略している。
The guide portion 12 includes a first guide portion 20 disposed on the rear end side of the upper end surface of the
昇降機構11は、前後方向を回動の軸方向とするθステージ(回動ステージ)22を介して本体フレーム16に取り付けられている。この昇降機構11は、θステージ22の可動側の部材に固定されるエアシリンダ23を備えている。エアシリンダ23は、エアシリンダ23のロッドが下側に向かって突出するようにθステージ22に取り付けられている。エアシリンダ23のロッドの先端(すなわち、下端)には、XYステージ24が固定されている。溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15は、XYステージ24に取り付けられており、エアシリンダ23に対して前後方向および左右方向へ移動可能となっている。なお、本形態のθステージ22およびXYステージ24は、駆動源を有しない手動式のステージとなっている。
The elevating mechanism 11 is attached to the
昇降機構11は、回路基板3のランド3aに電子部品4の端子ピン4aを半田付けするときに、溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15を下降させる。また、昇降機構11は、ランド3aへの端子ピン4aの半田付けが終了すると、溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15を上昇させる。
The elevating mechanism 11 lowers the
(切断機構および半田送り機構の構成)
図3、図4は、図2に示す切断機構7および半田送り機構9の構成を説明するための断面図である。
(Configuration of cutting mechanism and solder feeding mechanism)
3 and 4 are cross-sectional views for explaining the configuration of the
半田送り機構9は、糸半田2を下側へ送る駆動ローラ28および従動ローラ29を備えている。駆動ローラ28と従動ローラ29とは、前後方向で糸半田2を挟むように対向配置されており、左右方向を回転の軸方向として回転可能となっている。本形態では、駆動ローラ28が後ろ側に配置され、従動ローラ29が前側に配置されている。駆動ローラ28は、ワンウェイクラッチ(図示省略)を介してエア駆動方式のロータリーアクチュエータ30に連結されており、ロータリーアクチュエータ30の動力で、糸半田2を送る一方向(図2の反時計回りの方向)のみに回転する。ロータリーアクチュエータ30の動作に伴って、駆動ローラ28および従動ローラ29は所定量、糸半田2を下側へ送る。また、駆動ローラ28および従動ローラ29は、8本の糸半田2を同時に(一緒に)下側へ送る。
The solder feeding mechanism 9 includes a driving
また、半田送り機構9は、駆動ローラ28と従動ローラ29との間に糸半田2を案内する上ガイド部材31と、駆動ローラ28と従動ローラ29との間から切断機構7に向かって糸半田2を案内する下ガイド部材32とを備えている。本形態の半田送り機構9は、8本の糸半田2のそれぞれを案内する8個の上ガイド部材31および8個の下ガイド部材32を備えている。8個の上ガイド部材31と8個の下ガイド部材32とは、左右方向において一定のピッチで配置されている。
Further, the solder feeding mechanism 9 includes an
上ガイド部材31には、第2ガイド部21によって下側へ案内された糸半田2が通過する通過孔31aが上下方向に貫通するように形成されている。下ガイド部材32には、駆動ローラ28と従動ローラ29とによって送られる糸半田2が通過する通過孔32aが上下方向に貫通するように形成されている。通過孔31aと通過孔32aとは、上下方向から見たときの形状が円形状となる丸孔状に形成されている。また、通過孔31aと通過孔32aとは、上下方向から見たときに、通過孔31aの中心と通過孔32aの中心とが一致するように配置されている。
The
切断機構7は、糸半田2を切断するための固定側刃物部材35および移動側刃物部材36と、前後方向への移動が可能となるように移動側刃物部材36を保持するガイド部材37と、移動側刃物部材36を前後方向へ移動させるエアシリンダ38とを備えている。固定側刃物部材35および移動側刃物部材36は、たとえば、略直方体のブロック状に形成されている。固定側刃物部材35は、切断機構7等が載置される本体フレーム16の載置板39に所定の部材を介して固定されている。
The
ガイド部材37は、載置板39の上面に固定されている。移動側刃物部材36は、ガイド部材37の上面側に載置されている。移動側刃物部材36の上面は、固定側刃物部材35の下面に当接している。エアシリンダ38は、移動側刃物部材36の後ろ側に配置されている。また、エアシリンダ38は、エアシリンダ38のロッドが前側へ突出するように載置板39に固定されている。エアシリンダ38のロッドの先端(前端)は、所定の部材を介して移動側刃物部材36の後端側に固定されている。
The
固定側刃物部材35には、糸半田2が通過する通過孔35aが上下方向に貫通するように形成されている。具体的には、固定側刃物部材35の後端側部分に、8本の糸半田2のそれぞれが通過する8個の通過孔35aが上下方向に貫通するように形成されている。8個の通過孔35aは、左右方向において一定のピッチで形成されている。通過孔35aは、上下方向から見たときの形状が円形状となる丸孔状に形成されている。通過孔35aの下端は、糸半田2を切断する固定刃となっている。
A
下ガイド部材32は、固定側刃物部材35の上面に固定されている。8個の通過孔35aのそれぞれと、8個の下ガイド部材32の通過孔32aのそれぞれとは、上下方向から見たときに、通過孔35aの中心と通過孔32aの中心とが一致するように配置されており、通過孔32aの下端と通過孔35aの上端とが繋がっている。通過孔35aの内径は、通過孔32aの内径よりもわずかに大きくなっている。
The
また、固定側刃物部材35には、切断機構7から溶融機構10に向かって半田片2aを送るための圧縮空気が導入される導入孔35bが形成されている。導入孔35bは、通過孔35aよりも前側に形成されている。この導入孔35bは、上下方向における固定側刃物部材35の略中心位置に左右方向を長手方向として形成される横孔35cと、横孔35cから固定側刃物部材35の下端面まで貫通するように形成される8個の縦孔35dとを備えている。横孔35cおよび縦孔35dは、丸孔状に形成されている。
In addition, the fixed-
また、導入孔35bは、左右方向における横孔35cの中心から固定側刃物部材35の前端面まで貫通するように形成される横孔(図示省略)を備えている。固定側刃物部材35の前端面に形成されるこの横孔の開口には、継手40(図1、図2参照)が固定されている。継手40には、所定の配管を介して圧縮空気の供給源(図示省略)が接続されており、この供給源から導入孔35bに圧縮空気が供給される。8個の縦孔35dは、左右方向において一定のピッチで形成されている。具体的には、8個の縦孔35dは、左右方向において、8個の通過孔35aと同じピッチで形成されている。また、8個の縦孔35dのそれぞれと8個の通過孔35aのそれぞれとは、左右方向において同じ位置に配置されている。
The
移動側刃物部材36には、半田片2aが通過する通過孔36aが上下方向に貫通するように形成されている。具体的には、移動側刃物部材36には、8個の半田片2aのそれぞれが通過する8個の通過孔36aが上下方向に貫通するように形成されている。8個の通過孔36aは、左右方向において一定のピッチで形成されている。具体的には、8個の通過孔36aは、左右方向において8個の通過孔35aと同じピッチで配置されている。
A
また、8個の通過孔36aのそれぞれと8個の通過孔35aのそれぞれとは、左右方向において同じ位置に配置されている。すなわち、8個の通過孔36aのそれぞれと8個の縦孔35dのそれぞれとは左右方向において同じ位置に配置されている。通過孔36aは、上下方向から見たときの形状が円形状となる丸孔状に形成されている。通過孔36aの内径は、通過孔35aの内径よりもわずかに大きくなっている。通過孔36aの上端は、糸半田2を切断する移動刃となっている。
In addition, each of the eight
移動側刃物部材36は、エアシリンダ38の動力で前後方向へ移動する。具体的には、上下方向から見たときに、通過孔36aの中心と通過孔35aの中心とが一致する切断開始位置(図3に示す位置)と、上下方向から見たときに、通過孔36aの中心と縦孔35dの中心とが一致する切断完了位置(図4に示す位置)との間で、移動側刃物部材36が前後方向へ移動する。
The moving
ガイド部材37には、上下方向に貫通する貫通孔37aが形成されている。具体的には、ガイド部材37には、8個の貫通孔37aが形成されている。8個の貫通孔37aは、上下方向から見たときに、8個の貫通孔37aのそれぞれの中心と8個の縦孔35dのそれぞれの中心とが一致するように配置されている。8個の貫通孔37aのそれぞれには、半田片2aが通過する第1供給管41の上端側部分が固定されている。第1供給管41の下端側には、半田片2aが通過する第2供給管42の上端側が固定されている。
The
第1供給管41は、ステンレス鋼等の金属で形成された金属製の金属チューブである。第2供給管42は、柔軟性を有する樹脂製の樹脂チューブである。すなわち、第2供給管42は、樹脂製のフレキシブルチューブである。第2供給管42は、第2供給管42の上端側部分の内周側に第1供給管41の下端側部分が圧入されることで、第1供給管41に固定されている。本形態では、第1供給管41と第2供給管42とによって半田片供給管13が構成されており、半田片供給管13の一端となる第1供給管41の上端が切断機構7に繋がっている。また、半田片供給管13の一部は、樹脂製のフレキシブルチューブとなっている。
The
糸半田2を切断して半田片2aにするときには、図3に示すように、切断開始位置に移動側刃物部材36が配置された状態で、ロータリーアクチュエータ30が起動し、駆動ローラ28および従動ローラ29によって糸半田2が一定量下側へ送られる。この状態では、半田片2aとなる糸半田2の先端側部分が通過孔36aの中に配置されている。その後、エアシリンダ38が起動して、図4に示すように、移動側刃物部材36が切断完了位置まで移動する。上述のように、通過孔35aの下端が固定刃となっており、通過孔36aの上端が移動刃となっているため、切断開始位置から切断完了位置まで移動側刃物部材36が移動すると、糸半田2の先端側部分が切断されて半田片2aとなる。
When cutting the
移動側刃物部材36が切断完了位置まで移動すると、導入孔35bに供給されている圧縮空気によって半田片2aが下側へ押されるため、また、半田片2aに重力が作用するため、半田片2aは、第1供給管41および第2供給管42の中を通過して下側へ送られる。すなわち、本形態では、半田片2aに作用する重力および圧縮空気を用いて、切断機構7から溶融機構10へ半田片2aを送る。また、本形態では、8本の糸半田2が同時に切断されて、8個の半田片2aが同時に形成される。
When the moving
(溶融機構の構成)
図5は、図1に示す溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15の正面図である。図6は、図5のE−E断面の断面図である。図7は、図6のF部の構成を説明するための拡大図である。図8は、図5に示すヒータチップ45の斜視図である。図9は、図5に示すヒータチップ45の図であり、(A)は正面図、(B)は平面図、(C)は底面図、(D)は側面図、(E)は(D)のG−G方向からヒータチップ45を示す図、(F)は(A)のH−H断面の拡大断面図である。
(Structure of melting mechanism)
FIG. 5 is a front view of the
溶融機構10は、抵抗加熱で加熱されて半田片2aを溶融させるヒータチップ45と、ヒータチップ45に電流を供給する2本の電極46とを備えている。電極46は、たとえば、細長い略四角柱状に形成されており、電極46の長手方向と前後方向とが一致するように配置されている。2本の電極46は、所定の支持部材を介してXYステージ24に固定されている。また、2本の電極46は、左右方向に一定の間隔をあけた状態で配置されている。
The
電極46の前端には、ヒータチップ45が固定されるチップ固定面46aが形成されている。チップ固定面46aは、平面状に形成されている。また、チップ固定面46aは、上下方向に対して傾いた傾斜面となっている。具体的には、チップ固定面46aは、図6に示すように、上側に向かうにしたがって前側へ向かうように傾斜する傾斜面となっている。上下方向に対するチップ固定面46aの傾斜角度は、たとえば、25°となっている。電極46の後端側には、電流供給用のケーブル(図示省略)が接続されており、このケーブルを介して電極46に電流が供給される。
A
ヒータチップ45は、半田濡れ性の悪い超硬合金で形成されている。ヒータチップ45には、半田片2aが導入されて配置される半田片導入孔45aが形成されている。また、ヒータチップ45には、半田片導入孔45aに加えて、端子ピン4aの上端側の一部が配置される被半田付け部配置孔としての端子ピン配置孔45bが形成されている(図7参照)。すなわち、ヒータチップ45には、半田片2aが導入されて配置される半田片導入孔45aと、端子ピン4aの上端側の一部が配置される端子ピン配置孔45bとが個別に形成されている。
The
図7に示すように、回路基板3には、スルーホール3bが形成されており、ランド3aは、スルーホール3bを囲むように、回路基板3の上面に形成されている。電子部品4は、回路基板3の下面に実装されており、端子ピン4aは、スルーホール3bに下側から挿通されている。本形態では、ランド3aと端子ピン4aとによって、溶融した半田片2aによって半田付けされる被半田付け部が構成されており、端子ピン配置孔45bには、被半田付け部の一部である端子ピン4aの上端側の一部が配置されている。なお、本形態の回路基板3は、フレキシブルプリント基板(FPC)である。また、図7では、説明の便宜上、ランド3aの厚さ(上下方向の厚さ)は、実際のランド3aの厚さよりも厚くなっている。
As shown in FIG. 7, the
また、ヒータチップ45は、半田片導入孔45aおよび端子ピン配置孔45bが形成される孔形成部45cと、電極46に接続される2個の電極接続部45dとから構成されている。孔形成部45cは、細長い略直方体状に形成されている。2個の電極接続部45dは、孔形成部45cの長手方向の両端から、孔形成部45cの長手方向に直交する一方向へ突出するように形成されており、ヒータチップ45は、全体として門型のフレーム状に形成されている。電極接続部45dの先端側には、電極46にヒータチップ45を固定するためのネジ47(図10参照)が挿通される貫通孔45eが形成されている。なお、図5、図6等では、ネジ47の図示を省略している。
The
ヒータチップ45は、孔形成部45cの長手方向と左右方向とが一致するように、かつ、電極接続部45dの先端が上側に配置されるように、電極46のチップ固定面46aに固定されている。すなわち、ヒータチップ45が電極46に固定された状態では、孔形成部45cは、左右方向を長手方向とする略直方体状となっている。上述のように、チップ固定面46aは、上側に向かうにしたがって前側へ向かうように傾斜する傾斜面となっている。そのため、ヒータチップ45は、上側に向かうにしたがって前側へ向かうように傾斜した状態で電極46に固定されている。
The
上述のように、孔形成部45cには、半田片導入孔45aおよび端子ピン配置孔45bが形成されている。具体的には、8個の半田片導入孔45aと8個の端子ピン配置孔45bとが孔形成部45cに形成されている。8個の半田片導入孔45aおよび8個の端子ピン配置孔45bは、左右方向(すなわち、孔形成部4cの長手方向)において一定のピッチで形成されている。また、8個の半田片導入孔45aのそれぞれと、8個の端子ピン配置孔45bのそれぞれとは、左右方向において同じ位置に形成されている。
As described above, the
半田片導入孔45aおよび端子ピン配置孔45bは、丸孔状に形成されている。また、半田片導入孔45aと端子ピン配置孔45bとは、端子ピン配置孔45bの一端側に半田片導入孔45aの一端側が繋がるとともに、半田片導入孔45aの他端および端子ピン配置孔45bの他端に向かうにしたがって半田片導入孔45aと端子ピン配置孔45bとが互いに離れていくように形成されている。また、半田片導入孔45aと端子ピン配置孔45bとは、孔形成部45cを貫通するように形成されている。
The solder
具体的には、ヒータチップ45が電極46に固定された状態において、端子ピン配置孔45bの下端側に半田片導入孔45aの下端側が繋がっている。すなわち、端子ピン配置孔45bの下端側に半田片導入孔45aの下端側が合流している。また、ヒータチップ45が電極46に固定された状態において、端子ピン配置孔45bは、上下方向に貫通するように形成され、半田片導入孔45aは、上下方向に対して傾いた方向に貫通するように形成されている。
Specifically, in a state where the
本形態では、半田片導入孔45aは、上側に向かうにしたがって前側へ向かうように傾斜しており、半田片導入孔45aが形成されている方向(図7等のV方向)と電極接続部45dが突出している方向とが平行になっている。すなわち、電極接続部45dは、半田片導入孔45aが形成されている方向と平行な方向に向かって孔形成部45cから突出している。また、半田片導入孔45aは、左右方向から見たときの上下方向に対するチップ固定面46aの傾斜角度と同じ角度だけ上下方向に対して傾いた方向に貫通するように形成されており、たとえば、上下方向に対して25°傾いた方向に貫通するように形成されている。また、ヒータチップ45が電極46に固定された状態において、孔形成部45cの下面は、上下方向に直交する平面となっている。孔形成部45cの下面は、回路基板3の上面に接触する接触面となっている。
In this embodiment, the solder
半田片導入孔45aの長さ(V方向の長さ)は、半田片2aの長さよりも長くなっている。半田片導入孔45aの径は、端子ピン配置孔45bの径よりも小さくなっている。また、上述のように、ヒータチップ45が電極46に固定された状態において、端子ピン配置孔45bは、上下方向に貫通するように形成されており、端子ピン配置孔45bは、ヒータチップ45による半田片2aの溶融時に発生するフラックスヒュームを逃がすための逃がし孔となっている。
The length (length in the V direction) of the solder
また、半田片導入孔45aが形成されている方向と左右方向とに直交する方向(図7等のW方向)を第1方向とすると、図8等に示すように、孔形成部45cの上端側の第1方向の厚さは、孔形成部45cの下端側の第1方向の厚さよりも薄くなっている。ただし、孔形成部45cの下端側の左右の両端には、凹部45fが形成されており、孔形成部45cの下端側の、凹部45fが形成された部分の第1方向の厚さは、孔形成部45cの上端側の第1方向の厚さと等しくなっている。
If the direction in which the solder
また、半田片導入孔45aが形成されている方向(V方向)を第2方向とすると、左右方向における孔形成部45cの中心部分の第2方向の厚さは、左右方向における孔形成部45cの両端側部分の第2方向の厚さよりも厚くなっている。具体的には、孔形成部45cを左右方向で略3等分した場合、図9(A)に示すように、略3等分された孔形成部45cのうちの中心に配置された部分では、第2方向における厚さが一定となっており、略3等分された孔形成部45cのうちの左右の両側に配置された部分では、左右方向の外側に向かうに従って第2方向の厚さがしだいに薄くなっている。
When the direction (V direction) in which the solder
(ホルダおよびホルダ移動機構の構成)
図10は、図5に示す溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15の側面図である。図11は、図5に示すホルダ14の斜視図である。図12は、図6のJ−J方向からホルダ14を示す図である。図13は、図6に示すホルダ14が退避位置14Bに移動したときの状態を説明するための図である。
(Configuration of holder and holder moving mechanism)
FIG. 10 is a side view of the
ホルダ14は、金属材料で形成されるとともにブロック状に形成されている。ホルダ14には、略上下方向に貫通する貫通孔14aが形成されている。また、ホルダ14は、貫通孔14aが形成される孔形成部14bと、後述のホルダ固定部材52に固定される被固定部14cとから構成されている。孔形成部14bおよび被固定部14cは、略直方体状に形成されている。孔形成部14bは、被固定部14cの下端側から前下側に向かって突出するように被固定部14cに繋がっている。
The
孔形成部14bには、8個の貫通孔14aが左右方向において一定のピッチで形成されている。左右方向における8個の貫通孔14aのピッチは、左右方向における8個の半田片導入孔45aのピッチと等しくなっている。また、8個の貫通孔14aのそれぞれと、8個の半田片導入孔45aのそれぞれとは、左右方向において同じ位置に配置されている。貫通孔14aの上端側部分は、第2供給管42の下端側が挿入されて固定される固定孔14dとなっている。固定孔14dは、丸孔状に形成されている。
In the
貫通孔14aの下端側部分は、第2供給管42の下端が繋がる半田片供給孔14eとなっている。すなわち、ホルダ14には、半田片供給管13の他端となる第2供給管42の下端が繋がる半田片供給孔14eが形成されている。半田片供給孔14eは、丸孔状に形成されている。貫通孔14aは、固定孔14dと半田片供給孔14eとから構成されており、固定孔14dの下端と半田片供給孔14eの上端とが繋がっている。半田片供給孔14eの径は、固定孔14dの径よりも小さくなっている。また、半田片供給孔14eの径は、第2供給管42の内径よりもわずかに大きくなっている。
A lower end side portion of the through
被固定部14cには、略前後方向に貫通する2個の磁石固定孔14fが形成されている。また、被固定部14cには、磁石固定孔14fと同じ方向に貫通する2個の位置決め孔14gが形成されている。2個の磁石固定孔14fは、左右方向で隣り合うように形成され、2個の位置決め孔14gのそれぞれは、2個の磁石固定孔14fの左右の両外側のそれぞれに形成されている。磁石固定孔14fは、丸孔状に形成されている。磁石固定孔14fには、円柱状に形成される永久磁石50が固定されている(図5、図6参照)。2個の位置決め孔14gのうちの一方の位置決め孔14gは、丸孔状に形成され、他方の位置決め孔14gは、左右方向に長い長孔状に形成されている。位置決め孔14gには、後述のホルダ固定部材52に対してホルダ14を位置決めするための位置決めピン51(図5参照)が挿入されている。
The fixed
孔形成部14bと被固定部14cとの境界部分の下面には、上側に向かって窪む凹部14hが形成されている。凹部14hは、左右方向に直交する断面の形状が長方形状となるように形成されている。また、凹部14hは、下側と後ろ側とが開口するように形成されている。すなわち、凹部14hは、左右方向におけるホルダ14の全域には形成されておらず、図12に示すように、凹部14hの左右方向の両側には、側壁14jが形成されている。右側に配置される側壁14jは、ヒータチップ45に形成される8個の半田片導入孔45aおよび端子ピン配置孔45bのうちの右端に配置される半田片導入孔45aおよび端子ピン配置孔45bよりも右側に配置されている。また、左側に配置される側壁14jは、8個の半田片導入孔45aおよび端子ピン配置孔45bのうちの左端に配置される半田片導入孔45aおよび端子ピン配置孔45bよりも左側に配置されている。
On the lower surface of the boundary portion between the
ホルダ移動機構15は、ホルダ14が固定されるホルダ固定部材52と、支持軸53を介してホルダ固定部材52を回動可能に支持する支持部材54と、支持部材54に対してホルダ固定部材52を回動させるエアシリンダ55とを備えている。支持部材54は、所定の部材を介してXYステージ24に固定されている。支持軸53は、支持軸53の軸方向と左右方向とが一致するように支持部材54の前端側に取り付けられている。この支持軸53は、ホルダ固定部材52の上端側部分を回動可能に保持しており、ホルダ固定部材52は、支持軸53を回動の中心とする回動が可能となっている。
The
ホルダ固定部材52の下端側には、ホルダ14の被固定部14cが固定される固定部52aが形成されている。固定部52aには、ホルダ14の磁石固定孔14fに対応する位置に2個の磁石固定孔が形成されており、この磁石固定孔には、永久磁石56が固定されている(図6、図13参照)。また、固定部52aには、2本の位置決めピン51の後端側部分が固定されている。位置決めピン51は、固定部52aから前側へ突出している。
A fixing
本形態では、ホルダ14は、位置決め孔14gに挿入される位置決めピン51によって位置決めされた状態で、永久磁石50と永久磁石56との間に作用する磁気的吸引力によってホルダ固定部材52に固定されている。ホルダ固定部材52に固定されたホルダ14は、図5に示すように、ヒータチップ45の孔形成部45cの上側に配置されている。また、ホルダ固定部材52に固定されたホルダ14は、本体フレーム16の下端側に取り付けられた2本の吸引管17の吸引口17aよりも前側に配置されている(図13参照)。
In this embodiment, the
エアシリンダ55は、支持部材54に固定されている。また、エアシリンダ55は、エアシリンダ55のロッドが前側に向かって突出するように配置されている。エアシリンダ55のロッドの先端(前端)は、支持軸53よりも下側において、ホルダ固定部材52の後面に当接している。ホルダ固定部材52は、引張りコイルバネ57によって、支持軸53を中心にして、ホルダ固定部材52の後面とエアシリンダ55のロッドの先端とが接触する方向に付勢されている。引張りコイルバネ57の後端は、支持部材54に取り付けられ、引張りコイルバネ57の前端は、ホルダ固定部材52の下端側に取り付けられている。なお、後ろ側に突出するようにホルダ固定部材52に固定されるネジ58と、支持部材54に固定されネジ58の後端が当接するストッパ板59とによって、引張りコイルバネ57の付勢方向(支持軸53を中心とする図10の時計回りの方向)へのホルダ固定部材52の回動範囲が規制されている。
The
ホルダ移動機構15は、ホルダ14の半田片供給孔14eとヒータチップ45の半田片導入孔45aとが重なって半田片供給孔14eから半田片導入孔45aへの半田片2aの供給が可能になる半田片供給位置14A(図7、図10(A)に示す位置)と、半田片導入孔45aから半田片供給孔14eがずれるようにホルダ14が退避する退避位置14B(図10(B)、図13に示す位置)との間でホルダ14を移動させる。半田片供給位置14Aと退避位置14Bとの間をホルダ14が移動するときには、ホルダ14およびホルダ固定部材52が支持軸53を中心にして回動する。すなわち、半田片供給位置14Aと退避位置14Bとの間をホルダ14が移動するときには、ホルダ固定部材52もホルダ14と一緒に移動する。
In the
ホルダ14が半田片供給位置14Aにあるときには、エアシリンダ55に圧縮空気が供給されておらず、エアシリンダ55のロッドは後ろ側へ引っ込んでいる(図10(A)参照)。このときには、引張りコイルバネ57の付勢力によって、ネジ58の後端がストッパ板59の前面に当接している。また、このときには、8個の半田片供給孔14eのそれぞれの中心軸と8個の半田片導入孔45aのそれぞれの中心軸とが一致するように、かつ、半田片供給孔14eの下端と半田片導入孔45aの上端との間にわずかな隙間をあけた状態で、8個の半田片供給孔14eのそれぞれと8個の半田片導入孔45aのそれぞれとが第2方向(V方向)において重なっている。
When the
そのため、ホルダ14が半田片供給位置14Aにあるときに、半田片2aが半田片供給孔14eを通過すると、半田片導入孔45aに半田片2aが配置される。本形態では、半田片供給管13と半田片供給孔14eとによって(すなわち、第1供給管41と第2供給管42と半田片供給孔14eとによって)、切断機構7から溶融機構10に向かって半田片2aが通過する半田片通過路が構成されている。
Therefore, when the
一方、ホルダ14が退避位置14Bにあるときには、エアシリンダ55のヘッド側に圧縮空気が供給されており、エアシリンダ55のロッドは前側へ突出している(図10(B)参照)。このときには、半田片供給孔14eの下端は、半田片導入孔45aの上端よりも前側にずれている。また、このときには、図13に示すように、ヒータチップ45の孔形成部45cの上側に凹部14hが配置されている。具体的には、孔形成部45cの上面側の略全体を覆うように、孔形成部45cの真上に凹部14hが配置されている。上述のように、凹部14hは、下側と後ろ側とが開口するように形成されており、ホルダ14が退避位置14Bにあるときにも、凹部14hの下側と後ろ側とは開口している。
On the other hand, when the
上述のように、回路基板3のランド3aに電子部品4の端子ピン4aを半田付けするときに、溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15が下降する。溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15が下降した状態では、図13に示すように、吸引管17は、ホルダ14およびヒータチップ45の後ろ側に配置されている。すなわち、この状態では、吸引管17は、吸引口17aがホルダ14側を向くように配置されている。また、この状態で、ホルダ14が退避位置14Bにあるときには、吸引口17aが配置される側である凹部14hの後ろ側が開口している。
As described above, when the
(半田付け装置の動作)
図14は、図1に示す半田付け装置1で半田付けを行う際のヒータチップ45の温度プロファイルの一例を示すグラフである。
(Operation of soldering equipment)
FIG. 14 is a graph showing an example of the temperature profile of the
半田付け装置1において、回路基板3のランド3aに電子部品4の端子ピン4aを半田付けするときには、上述のように、8本の糸半田2が切断機構7で同時に切断されて、8個の半田片2aが切断機構7から送り出される。具体的には、固定側刃物部材35の導入孔35bに供給されている圧縮空気と半田片2aに作用する重力とによって、切断機構7から半田片2aが送り出される。本形態では、切断機構7から半田片2aが送り出された後も、ランド3aへの端子ピン4aの半田付けが完了するまで、移動側刃物部材36は切断完了位置(図4に示す位置)にある。
When soldering the terminal pins 4a of the
糸半田2が切断されるときには、ホルダ14は、半田片供給位置14Aにある。そのため、切断機構7から送り出された8個の半田片2aは、半田片供給管13とホルダ14の半田片供給孔14eとを順次通過して、図7に示すように、ヒータチップ45の半田片導入孔45aに配置される。また、半田片導入孔45aに配置された半田片2aは、ランド3aや端子ピン4aに接触する。なお、溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15は、半田片2aが半田片導入孔45aに到達する前に孔形成部45cの下面が回路基板3の上面に接触するように下降する。たとえば、溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15は、切断機構7による糸半田2の切断開始前に下降する。
When the
本形態では、ランド3aへの端子ピン4aの半田付けを行う前からヒータチップ45に間欠的に電流が供給されており、ヒータチップ45の温度は、常温よりも高いT0(℃)で維持されている(図14参照)。T0(℃)は、半田片2aの融点よりも低い温度であり、たとえば、80(℃)である。半田片導入孔45aに半田片2aが配置されると、t1(秒)の間にヒータチップ45の温度がT0(℃)からT1(℃)まで上昇するようにヒータチップ45に電流が供給される。T1(℃)は、たとえば、340(℃)であり、t1(秒)は、たとえば、1(秒)である。なお、T0(℃)は、半田片2aの融点よりも低い温度であるため、半田片導入孔45aに半田片2aが配置される過程で、半田片2aが溶け始めることはない。すなわち、半田片2aは、ランド3aや端子ピン4aに接触する前に溶け始めることはなく、半田片導入孔45aに配置されてランド3aや端子ピン4aに接触した後に溶け始める。
In this embodiment, the current is intermittently supplied to the
ヒータチップ45の温度がT1(℃)に達すると、t2(秒)の間、ヒータチップ45の温度がT1(℃)を維持するようにヒータチップ45に電流が供給され、t2(秒)が経過すると、ヒータチップ45への電流の供給が停止される。t2(秒)は、たとえば、2(秒)である。その後、ヒータチップ45の温度がT2(℃)に下がるまで、孔形成部45cの下面が回路基板3の上面に接触した状態が維持され、ヒータチップ45の温度がT2(℃)になると、溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15が上昇する。T2(℃)は、たとえば、330(℃)である。溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15が上昇するまでの間に、8個の半田片2aは溶融する。また、溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15が上昇すると、溶融した半田が固まって、8箇所のランド3aのそれぞれへの端子ピン4aの半田付けが完了する。
When the temperature of the
また、本形態では、ホルダ移動機構15は、ヒータチップ45による半田片2aの溶融開始前に、または、ヒータチップ45による半田片2aの溶融開始後所定時間が経過する前に、半田片供給位置14Aにあるホルダ14を退避位置14Bに移動させる。本形態では、ホルダ移動機構15は、半田片2aが半田片供給孔14eを通過して半田片導入孔45aに配置されると、半田片供給位置14Aにあるホルダ14を退避位置14Bに移動させる。すなわち、ホルダ14は、半田片2aが溶融し始める前に退避位置14Bに移動する。
Further, in the present embodiment, the
上述のように、ホルダ14が退避位置14Bにあるときには、ホルダ14の凹部14hは、孔形成部45cの上面側の略全体を覆うように孔形成部45cの真上に配置されている。また、ホルダ14が退避位置14Bにあるときには、凹部14hの下側と後ろ側とは開口している。さらに、溶融機構10、ホルダ14およびホルダ移動機構15が下降した状態では、吸引管17は、吸引口17aがホルダ14側を向くようにホルダ14の後ろ側に配置されている。そのため、ホルダ14が退避位置14Bに移動すると、半田片2aの溶融時に発生するフラックスヒュームは、たとえば、図13の矢印で示すような経路で流れて、吸引管17に吸引される。すなわち、ホルダ14が退避位置14Bに移動すると、孔形成部45cから凹部14hを経由して吸引管17へ向かうフラックスヒュームの流路が形成される。
As described above, when the
上述のように、切断機構7から半田片2aが送り出された後も、ランド3aへの端子ピン4aの半田付けが完了するまで、移動側刃物部材36は切断完了位置にあるため、ランド3aへの端子ピン4aの半田付けが完了するまで、半田片供給管13の上端(すなわち、第1供給管41の上端)から半田片供給管13に圧縮空気が導入されている。そのため、溶融機構10による半田片2aの加熱時には、半田片供給管13および半田片供給孔14eの圧力(すなわち、半田片通過路の圧力)は、正圧(陽圧)となっている。すなわち、溶融機構10による半田片2aの加熱時に、半田片供給管13および半田片供給孔14eの圧力は、半田片供給管13の上端から導入される圧縮空気によって正圧となっている。
As described above, even after the
(本形態の主な効果)
以上説明したように、本形態では、ヒータチップ45に、半田片2aが導入されて配置される半田片導入孔45aと、端子ピン4aの上端側の一部が配置される端子ピン配置孔45bとが個別に形成されている。そのため、本形態では、端子ピン4aの影響で半田片導入孔45aの側面と半田片2aとが接触しないといった状況や半田片導入孔45aの側面と半田片2aとの接触面積が小さくなるといった状況の発生を防止して、半田片導入孔45aの側面と半田片2aとの接触面積を確保することが可能になる。したがって、本形態では、ヒータチップ45の加熱条件が一定であっても、半田片導入孔45aに配置される半田片2aを確実に溶融させることが可能になる。
(Main effects of this form)
As described above, in this embodiment, the solder
特に本形態では、半田片導入孔45aが上下方向に対して傾いた方向に貫通するように形成されているため、半田片導入孔45aが上下方向に貫通するように形成されている場合と比較して、半田片導入孔45aの側面に半田片2aを確実に接触させることが可能になる。したがって、本形態では、ヒータチップ45の加熱条件が一定であっても、半田片導入孔45aに配置される半田片2aをより確実に溶融させることが可能になる。
In particular, in this embodiment, since the solder
また、本形態では、半田片導入孔45aの径は、端子ピン配置孔45bの径よりも小さくなっている。本願発明者の検討によると、半田片導入孔45aに配置された半田片2aは加熱されて溶融する際にふらつくことがあり、半田片導入孔45aに配置された半田片2aがふらつくと、半田片導入孔45aの側面と半田片2aとの接触状態が不安定になり、半田片2aが溶融しにくくなる場合が生じることが明らかになった。本形態では、半田片導入孔45aの径が小さくなっているため、半田片導入孔45aに配置された半田片2aが溶融する際の半田片2aのふらつきを抑制して、半田片導入孔45aの側面と半田片2aとの接触状態を安定させることが可能になる。したがって、本形態では、ヒータチップ45の加熱条件が一定であっても、半田片導入孔45aに配置される半田片2aをより確実に溶融させることが可能になる。
In this embodiment, the diameter of the solder
また、本形態では、半田片導入孔45aと端子ピン配置孔45bとが個別に形成されているため、半田片2aをランド3aの近くまで確実に送ることが可能になる。したがって、本形態では、ランド3aと端子ピン4aとを確実に半田付けすることが可能になる。
In this embodiment, since the solder
本形態では、電極接続部45dは、半田片導入孔45aが形成されている方向と平行な方向に向かって孔形成部45cから突出している。そのため、たとえば、1枚の板状部材を切削加工することによってヒータチップ45が製作される場合、1個のヒータチップ45を製作するために必要となる原材料の厚さを薄くすることが可能になる。すなわち、半田片導入孔45aはヒータチップ45の中へ半田片2aを導入する機能を果たすため、半田片2aが適切に導入されるように半田片導入孔45aの長さをある程度長くする必要がある一方で、端子ピン配置孔45bは、端子ピン4aとヒータチップ45との干渉を防止するために設けられているため、端子ピン配置孔45bの長さが短くても機能上、問題は生じない。したがって、たとえば、1枚の板状部材を切削加工することによってヒータチップ45が製作される場合、本形態のように、長さが必要となる半田片導入孔45aが形成されている方向と平行な方向に向かって電極接続部45dが突出していれば、半田片導入孔45aの長さを確保しつつ、ヒータチップ45の原材料の厚さを薄くすることが可能になり、その結果、ヒータチップ45の原材料費を低減することが可能になる。
In this embodiment, the
本形態では、端子ピン4aの一部を配置するためにヒータチップ45に形成される端子ピン配置孔45bは、上下方向に貫通するように形成されており、端子ピン配置孔45bは、半田片2aの溶融時に発生するフラックスヒュームを逃がすための逃がし孔となっている。そのため、本形態では、端子ピン配置孔45bを利用してフラックスヒュームを効果的に逃がすことが可能になる。したがって、本形態では、ヒータチップ45へのフラックスの付着を抑制することが可能になる。
In this embodiment, the terminal
特に本形態では、端子ピン配置孔45bの径が半田片導入孔45aの径よりも大きくなっている。また、本形態では、ヒータチップ45の孔形成部45cの上端側の第1方向(W方向)の厚さが、孔形成部45cの下端側の第1方向の厚さよりも薄くなっているため、孔形成部45cの上端側に形成される端子ピン配置孔45bの開口部を大きくすることが可能になる。したがって、本形態では、端子ピン配置孔45bを利用してフラックスヒュームをより効果的に逃がすことが可能になり、その結果、ヒータチップ45へのフラックスの付着を効果的に抑制することが可能になる。
Particularly in this embodiment, the diameter of the terminal
(他の実施の形態)
上述した形態は、本発明の好適な形態の一例ではあるが、これに限定されるものではなく本発明の要旨を変更しない範囲において種々変形実施が可能である。
(Other embodiments)
The above-described embodiment is an example of a preferred embodiment of the present invention, but is not limited to this, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.
上述した形態では、半田付け装置1は、8個のランド3aのそれぞれに8本の端子ピン4aのそれぞれを同時に半田付けしている。この他にもたとえば、半田付け装置1は、7個以下のランド3aのそれぞれに7本以下の端子ピン4aのそれぞれを同時に半田付けしても良いし、9個以上のランド3aのそれぞれに9本以上の端子ピン4aのそれぞれを同時に半田付けしても良い。また、半田付け装置1は、1個のランド3aに1本の端子ピン4aを半田付けしても良い。
In the embodiment described above, the
たとえば、半田付け装置1は、3個のランド3aのそれぞれに3本の端子ピン4aのそれぞれを同時に半田付けしても良い。この場合には、溶融機構10は、ヒータチップ45に代えて、たとえば、図15、図16に示すヒータチップ65を備えている。ヒータチップ65には、ヒータチップ45の半田片導入孔45aに相当する半田片導入孔65aと、端子ピン配置孔45bに相当する端子ピン配置孔65bとが形成されている。具体的には、3個の半田片導入孔65aと3個の端子ピン配置孔65bとがヒータチップ65に形成されている。なお、図16は、図15に示すヒータチップ65の図であり、(A)は正面図、(B)は平面図、(C)は底面図、(D)は側面図、(E)は(D)のK−K方向からヒータチップ65の一部を示す拡大図、(F)は(A)のM−M断面の拡大断面図である。
For example, the
また、ヒータチップ65は、ヒータチップ45の孔形成部45cに相当する孔形成部65cと、電極接続部45dに相当する電極接続部65dとから構成されている。電極接続部65dの先端側には、貫通孔45eに相当する貫通孔65eが形成されている。孔形成部65cの左右の両端には、第1方向(W方向)に窪む凹部65fが形成されている。なお、ヒータチップ65では、孔形成部65cの下端側部分の第1方向の厚さと、孔形成部65cの上端側の第1方向の厚さとが等しくなっている。また、ヒータチップ65では、左右方向における孔形成部65cの中心部分の第2方向(V方向)の厚さと、左右方向における孔形成部65cの両端側部分の第2方向の厚さとが等しくなっている。
The
また、半田付け装置1が、たとえば、3個のランド3aのそれぞれに3本の端子ピン4aのそれぞれを同時に半田付けする場合には、半田送り機構9は、3個の上ガイド部材31および3個の下ガイド部材32を備えている。また、この場合には、固定側刃物部材35に3個の通過孔35aと3個の縦孔35dとが形成され、移動側刃物部材36に3個の通過孔36aが形成され、ガイド部材37に3個の貫通孔37aが形成され、ホルダ14に3個の貫通孔14aが形成される。
Further, when the
上述した形態では、回路基板3の上面に対向する孔形成部45cの下面は平面となっているが、図16(E)、(F)に示すように、回路基板3の上面に対向する孔形成部65cの下面に円環状の突起部65gが形成されても良い。突起部65gは、端子ピン配置孔65bを囲むように形成されている。また、突起部65gの外径は、ランド3aの外径以下となっている。具体的には、突起部65gの外径は、ランド3aの外径と等しくなっている。また、突起部65gの内径は、ランド3aの内径と等しくなっている。この場合には、ランド3aへの端子ピン4aの半田付け時に、突起部65gの下面はランド3aに接触するが、孔形成部65cの、突起部65g以外の部分の下面は、ランド3a以外の、回路基板3の上面に接触しない。したがって、この場合には、耐熱性を有する保護膜に回路基板3が覆われていなくても、半田付け時の熱に起因する回路基板3の損傷を防止することが可能になる。
In the embodiment described above, the bottom surface of the
上述した形態では、ヒータチップ45の端子ピン配置孔45bは、上下方向に貫通するように形成され、半田片導入孔45aは、上下方向に対して傾いた方向に貫通するように形成されている。この他にもたとえば、半田片導入孔45aが上下方向に貫通するように形成され、端子ピン配置孔45bが上下方向に対して傾いた方向に貫通するように形成されても良い。
In the embodiment described above, the terminal
上述した形態では、電極接続部45dは、半田片導入孔45aが形成されている方向と平行な方向に向かって孔形成部45cから突出しているが、電極接続部45dは、半田片導入孔45aが形成されている方向に対して傾いた方向に向かって孔形成部45cから突出していても良い。たとえば、電極接続部45dは、端子ピン配置孔45bが形成されている方向と平行な方向に向かって孔形成部45cから突出していても良い。
In the embodiment described above, the
上述した形態では、半田片導入孔45aの径は、端子ピン配置孔45bの径よりも小さくなっているが、半田片導入孔45aの径と端子ピン配置孔45bの径とが等しくなっていても良いし、半田片導入孔45aの径が端子ピン配置孔45bの径より大きくなっていても良い。また、上述した形態では、回路基板3は、フレキシブルプリント基板であるが、回路基板3は、リジッド基板であっても良い。
In the embodiment described above, the diameter of the solder
1 半田付け装置
2 糸半田
2a 半田片
3 回路基板
3a ランド(被半田付け部の一部)
3b スルーホール
4a 端子ピン(被半田付け部の一部)
7 切断機構
10 溶融機構
45、65 ヒータチップ
45a、65a 半田片導入孔
45b、65b 端子ピン配置孔(被半田付け部配置孔)
45c、65c 孔形成部
45d、65d 電極接続部
65g 突起部
W 第1方向
DESCRIPTION OF
3b Through
7 Cutting
45c, 65c
Claims (10)
切断された糸半田である半田片が導入されて配置される半田片導入孔と、溶融した前記半田片によって半田付けされる被半田付け部の少なくとも一部が配置される被半田付け部配置孔とが個別に形成されていることを特徴とするヒータチップ。 In the heater chip that is heated by resistance heating and used in the soldering apparatus,
Solder piece introduction hole in which a solder piece, which is a cut thread solder, is introduced and arranged, and a soldered part arrangement hole in which at least a part of a soldered part to be soldered by the molten solder piece is arranged And a heater chip characterized by being formed individually.
前記被半田付け部配置孔には、前記端子ピンの一部が配置されることを特徴とする請求項1記載のヒータチップ。 The soldered portion is constituted by a land formed so as to surround a through hole formed in a circuit board, and a terminal pin inserted through the through hole,
The heater chip according to claim 1, wherein a part of the terminal pin is disposed in the soldered portion disposition hole.
2個の前記電極接続部は、前記半田片導入孔が形成されている方向と平行な方向に向かって前記孔形成部から突出していることを特徴とする請求項3記載のヒータチップ。 A hole forming portion in which the solder piece introduction hole and the soldered portion arrangement hole are formed, and two electrode connection portions connected to electrodes for supplying current to the heater chip,
4. The heater chip according to claim 3, wherein the two electrode connection portions protrude from the hole forming portion in a direction parallel to a direction in which the solder piece introduction hole is formed.
前記半田片導入孔は、上下方向に対して傾いた方向に貫通するように形成され、
前記被半田付け部配置孔の下端側に前記半田片導入孔の下端側が繋がっていることを特徴とする請求項6記載の半田付け装置。 The soldered portion arrangement hole is formed so as to penetrate in the vertical direction,
The solder piece introduction hole is formed so as to penetrate in a direction inclined with respect to the vertical direction,
The soldering apparatus according to claim 6, wherein a lower end side of the solder piece introduction hole is connected to a lower end side of the soldered portion arrangement hole.
前記孔形成部は、水平方向の一方向を長手方向とする略直方体状に形成され、
前記半田片導入孔が形成されている方向と前記孔形成部の長手方向とに直交する方向を第1方向とすると、
前記孔形成部の上端側の前記第1方向の厚さは、前記孔形成部の下端側の前記第1方向の厚さよりも薄くなっていることを特徴とする請求項8記載の半田付け装置。 The heater chip includes a hole forming portion in which the solder piece introduction hole and the soldered portion arrangement hole are formed,
The hole forming portion is formed in a substantially rectangular parallelepiped shape having one horizontal direction as a longitudinal direction,
When the direction perpendicular to the direction in which the solder piece introduction hole is formed and the longitudinal direction of the hole forming portion is the first direction,
9. The soldering apparatus according to claim 8, wherein the thickness in the first direction on the upper end side of the hole forming portion is thinner than the thickness in the first direction on the lower end side of the hole forming portion. .
前記被半田付け部配置孔には、前記端子ピンの一部が配置され、
前記ヒータチップは、前記半田片導入孔と前記被半田付け部配置孔とが形成される孔形成部を備え、
前記回路基板の上面に対向する前記孔形成部の下面には、前記被半田付け部配置孔を囲む円環状の突起部が形成され、
前記突起部の外径は、前記ランドの外径以下となっていることを特徴とする請求項7から9のいずれかに記載の半田付け装置。 The soldered portion is constituted by a land formed so as to surround a through hole formed in a circuit board, and a terminal pin inserted through the through hole,
A part of the terminal pin is arranged in the soldered part arrangement hole,
The heater chip includes a hole forming portion in which the solder piece introduction hole and the soldered portion arrangement hole are formed,
On the lower surface of the hole forming portion facing the upper surface of the circuit board, an annular projection that surrounds the soldered portion arrangement hole is formed,
10. The soldering apparatus according to claim 7, wherein an outer diameter of the projecting portion is equal to or smaller than an outer diameter of the land.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015245899A JP2017112243A (en) | 2015-12-17 | 2015-12-17 | Heater chip and soldering device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015245899A JP2017112243A (en) | 2015-12-17 | 2015-12-17 | Heater chip and soldering device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017112243A true JP2017112243A (en) | 2017-06-22 |
Family
ID=59079820
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015245899A Pending JP2017112243A (en) | 2015-12-17 | 2015-12-17 | Heater chip and soldering device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2017112243A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018122332A (en) * | 2017-02-01 | 2018-08-09 | 株式会社日立製作所 | Soldering device |
JP6456538B1 (en) * | 2018-03-07 | 2019-01-23 | 株式会社パラット | Soldering apparatus and nozzle for soldering apparatus |
JP2019155381A (en) * | 2018-03-07 | 2019-09-19 | 株式会社パラット | Soldering apparatus and soldering method |
CN113000961A (en) * | 2021-03-18 | 2021-06-22 | 厦门瑞熠自动化系统有限公司 | Enameled wire lead soldering method and device and control method of device |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0957437A (en) * | 1995-08-21 | 1997-03-04 | Nippon Avionics Co Ltd | Heater tip |
JPH11245029A (en) * | 1998-03-03 | 1999-09-14 | Omron Corp | Soldering device and soldering method |
JP2011165780A (en) * | 2010-02-08 | 2011-08-25 | Nippon Avionics Co Ltd | Joining device |
JP2012183552A (en) * | 2011-03-04 | 2012-09-27 | Miyachi Technos Corp | Heater tip, joining device, and joining method |
JP2014146630A (en) * | 2013-01-28 | 2014-08-14 | Fuji Electric Co Ltd | Method of manufacturing semiconductor device, and soldering iron |
JP2015076496A (en) * | 2013-10-09 | 2015-04-20 | 日産自動車株式会社 | Device and method for soldering |
-
2015
- 2015-12-17 JP JP2015245899A patent/JP2017112243A/en active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0957437A (en) * | 1995-08-21 | 1997-03-04 | Nippon Avionics Co Ltd | Heater tip |
JPH11245029A (en) * | 1998-03-03 | 1999-09-14 | Omron Corp | Soldering device and soldering method |
JP2011165780A (en) * | 2010-02-08 | 2011-08-25 | Nippon Avionics Co Ltd | Joining device |
JP2012183552A (en) * | 2011-03-04 | 2012-09-27 | Miyachi Technos Corp | Heater tip, joining device, and joining method |
JP2014146630A (en) * | 2013-01-28 | 2014-08-14 | Fuji Electric Co Ltd | Method of manufacturing semiconductor device, and soldering iron |
JP2015076496A (en) * | 2013-10-09 | 2015-04-20 | 日産自動車株式会社 | Device and method for soldering |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018122332A (en) * | 2017-02-01 | 2018-08-09 | 株式会社日立製作所 | Soldering device |
WO2018142733A1 (en) * | 2017-02-01 | 2018-08-09 | 株式会社日立製作所 | Soldering apparatus |
US11420282B2 (en) | 2017-02-01 | 2022-08-23 | Hitachi, Ltd. | Soldering device |
JP6456538B1 (en) * | 2018-03-07 | 2019-01-23 | 株式会社パラット | Soldering apparatus and nozzle for soldering apparatus |
JP2019155380A (en) * | 2018-03-07 | 2019-09-19 | 株式会社パラット | Soldering apparatus and nozzle for soldering apparatus |
JP2019155381A (en) * | 2018-03-07 | 2019-09-19 | 株式会社パラット | Soldering apparatus and soldering method |
CN113000961A (en) * | 2021-03-18 | 2021-06-22 | 厦门瑞熠自动化系统有限公司 | Enameled wire lead soldering method and device and control method of device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2017112243A (en) | Heater chip and soldering device | |
JP4909906B2 (en) | Printed circuit board manufacturing method and apparatus for carrying out the method | |
JP2013077840A (en) | Soldering iron, method of manufacturing electronic device using the same, and manufacturing apparatus | |
JP6366561B2 (en) | Soldering apparatus and soldering method | |
JP2015115427A (en) | Soldering device and method | |
TWI588922B (en) | Bonding method and bonding apparatus | |
JP2016059927A (en) | Soldering iron | |
JP6512659B2 (en) | Solder processing equipment | |
JP2006110654A (en) | Automatic connection device | |
JP2009200196A (en) | Soldering device for through-hole, and method of manufacturing electronic equipment using the same | |
JP2017112242A (en) | Soldering apparatus | |
JPWO2018061207A1 (en) | Board-to-board work machine and insertion method | |
JP6150205B2 (en) | Method and apparatus for supplying flux-free solder to a substrate | |
JP6453742B2 (en) | Soldering apparatus and soldering method | |
JPH11245029A (en) | Soldering device and soldering method | |
JP5535395B1 (en) | Component mounting equipment | |
JP2013055296A (en) | Solder printing machine and soldering method | |
JP5740186B2 (en) | Soldering apparatus and electronic component manufacturing method | |
JP7286372B2 (en) | Soldering equipment and nozzles for soldering equipment | |
JP2018094595A (en) | Solder processing device | |
JP6564488B1 (en) | Soldering apparatus and soldering method | |
JP2002178143A (en) | Solder feeding device and soldering device | |
JP6470449B1 (en) | Method for optimizing solder wire | |
CN219724871U (en) | Soldering iron head for disassembling and welding wiring terminal lead | |
KR102249634B1 (en) | Soldering system with adjustable solder discharge and wire supply |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181109 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190704 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190718 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20200123 |