JP2017111090A - 磁気センサ装置 - Google Patents

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匡 柴田
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Abstract

【課題】誤判定を抑制した磁気センサ装置を提供する。
【解決手段】磁気センサ装置1は、バイアス磁場20を生成するバイアス磁石2と、バイアス磁場20の変化を検出して検出信号Sを出力する磁気センサ3と、バイアス磁石2と対向するように配置され、回転中心45を中心として回転する円板形状を有すると共に、側面から径方向に突出する第1の凸部41と第2の凸部42、及び第1の凸部41と第2の凸部42の間に形成され、底面430が自身の外周面44よりも回転中心45に近い凹部43を有する磁性体4と、を備えて概略構成されている。
【選択図】図1

Description

本発明は、磁気センサ装置に関する。
従来の技術として、移動部材に固定され、回転方向に沿って凹部と凸部とが交互に並んだ波形凹凸面を有する移動磁性体と、波形凹凸面に突き合わされた1対の検出突極と、一方の検出突極を通る第1磁気回路と他方の検出突極を通る第2磁気回路とを別々に生成する磁石と、第1磁気回路の磁束密度を検出可能な第1磁気センサと、第2磁気回路の磁束密度を検出可能な第2磁気センサと、を備えた位置検出装置が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
波形凹凸面は、凸部と凹部がサインカーブを描くように緩やかに連続して繰り返す形状を有している。
特開2007−292511号公報
近年、操作部に磁性体が連結され、操作による磁性体の回転に基づく操作部の操作位置やスイッチのオン、オフを、磁気センサによって非接触で検出する検出装置がある。このような検出装置の磁性体に、凸部と凹部を緩やかに形成した場合、例えば、磁気センサから出力される出力値が緩やかに変化するのでオンとオフの切り替わりが不明確になり易く、また出力値の幅が狭く、製造のばらつきや設置位置のずれなどによる電圧の変動によって誤判定が発生してオン又はオフに切り替わらない可能性がある。
従って、本発明の目的は、誤判定を抑制した磁気センサ装置を提供することにある。
本発明の一態様は、バイアス磁場を生成するバイアス磁石と、バイアス磁場の変化を検出して検出信号を出力する磁気センサと、バイアス磁石と対向するように配置され、回転中心を中心として回転する円板形状を有すると共に、側面から径方向に突出する第1の凸部と第2の凸部、及び第1の凸部と第2の凸部の間に形成され、底面が自身の外周面よりも回転中心に近い凹部を有する磁性体と、磁性体の回転によって凹部とバイアス磁石が対向している状態で出力された検出信号に基づいてオン又はオフの一方の状態を判定し、第1の凸部及び第2の凸部とバイアス磁石が対向している状態で出力された検出信号に基づいて他方の状態を判定する判定部と、を備えた磁気センサ装置を提供する。
本発明によれば、誤判定を抑制することができる。
図1(a)は、実施の形態に係る磁気センサ装置の一例を示す概略図であり、図1(b)は、磁気センサ装置の第1の凸部及び第2の凸部周辺の拡大図の一例である。 図2(a)は、実施の形態に係る磁気センサ装置のバイアス磁石と磁気センサの配置を説明するための正面図の一例であり、図2(b)は、側面図の一例であり、図2(c)は、上面図の一例であり、図2(d)は、磁気センサ装置のブロック図の一例である。 図3(a)は、実施の形態に係る磁気センサ装置の磁性体の第1の凸部がバイアス磁石と対向する一例を示す概略図であり、図3(b)は、第2の凸部がバイアス磁石と対向する一例を示す概略図である。 図4(a)は、実施の形態に係る磁気センサ装置の磁気センサが出力する検出信号の電圧値と回転角度の関係と比較例に係る電圧値と回転角度の関係を示すグラフの一例であり、図4(b)は、比較例に係る磁性体の形状の一例を示す概略図である。
(実施の形態の要約)
実施の形態に係る磁気センサ装置は、バイアス磁場を生成するバイアス磁石と、バイアス磁場の変化を検出して検出信号を出力する磁気センサと、バイアス磁石と対向するように配置され、回転中心を中心として回転する円板形状を有すると共に、側面から径方向に突出する第1の凸部と第2の凸部、及び第1の凸部と第2の凸部の間に形成され、底面が自身の外周面よりも回転中心に近い凹部を有する磁性体と、磁性体の回転によって凹部とバイアス磁石が対向している状態で出力された検出信号に基づいてオン又はオフの一方の状態を判定し、第1の凸部及び第2の凸部とバイアス磁石が対向している状態で出力された検出信号に基づいて他方の状態を判定する判定部と、を備えて概略構成されている。
[実施の形態]
(磁気センサ装置1の概要)
図1(a)は、実施の形態に係る磁気センサ装置の一例を示す概略図であり、図1(b)は、磁気センサ装置の第1の凸部及び第2の凸部周辺の拡大図の一例である。図2(a)は、実施の形態に係る磁気センサ装置のバイアス磁石と磁気センサの配置を説明するための正面図の一例であり、図2(b)は、側面図の一例であり、図2(c)は、上面図の一例であり、図2(d)は、磁気センサ装置のブロック図の一例である。なお、以下に記載する実施の形態に係る各図において、図形間の比率は、実際の比率とは異なる場合がある。また図2(d)では、主な信号や情報の流れを矢印で示している。
この磁気センサ装置1は、例えば、磁性体4の回転によってオン及びオフするスイッチ装置や磁性体4に接続された操作部の操作位置を検出する操作位置検出装置として利用される。本実施の形態では、一例として、磁気センサ装置1がオン、オフの2つの状態を有するスイッチ装置として利用される場合について説明する。
具体的には、磁気センサ装置1は、図1(a)、図1(b)、図2(a)〜図2(d)に示すように、バイアス磁場20を生成するバイアス磁石2と、バイアス磁場20の変化を検出して検出信号Sを出力する磁気センサ3と、バイアス磁石2と対向するように配置され、回転中心45を中心として回転する円板形状を有すると共に、側面から径方向に突出する第1の凸部41と第2の凸部42、及び第1の凸部41と第2の凸部42の間に形成され、底面430が自身の外周面44よりも回転中心45に近い凹部43を有する磁性体4と、磁性体4の回転によって凹部43とバイアス磁石2が対向している状態で出力された検出信号に基づいてオン又はオフの一方の状態を判定し、第1の凸部41及び第2の凸部42とバイアス磁石2が対向している状態で出力された検出信号に基づいて他方の状態を判定する判定部としての制御部5と、を備えて概略構成されている。
(バイアス磁石2の構成)
バイアス磁石2は、例えば、図2(a)〜図2(c)に示すように、細長い四角柱形状を有している。このバイアス磁石2は、例えば、アルニコ磁石、フェライト磁石、ネオジム磁石などの永久磁石、又は、ネオジム系などの磁性体材料と、合成樹脂材料と、を混合して所望の形状に成形したプラスチックマグネットである。
バイアス磁石2は、一例として、一方の端面23側がN極、他方の端面24側がS極となっている。従ってバイアス磁場20は、端面23から湧き出て端面24に吸い込まれる磁路を形成する。なお着磁の方向は、逆でも良い。
このバイアス磁石2のN極側は、磁性体4と対向している。そしてN極側の端面23には、凹部25が形成されている。この凹部25には、例えば、磁気センサ3の一部が挿入されている。
(磁気センサ3の構成)
磁気センサ3は、例えば、基板30と、第1の磁気センサ32と、第2の磁気センサ33と、を備えて概略構成されている。第1の磁気センサ32及び第2の磁気センサ33は、基板30の表面31に並んで配置されている。
この第1の磁気センサ32及び第2の磁気センサ33は、図2(a)〜図2(c)に示すように、感磁面320及び感磁面330内におけるバイアス磁場20の方向の変化に基づいて抵抗値が変わる4つの磁気抵抗素子によってブリッジ回路が形成されて構成されている。
この磁気抵抗素子は、一例として、ニッケル、鉄、コバルトなどの強磁性体金属を主成分とした膜を用いて形成される。バイアス磁場20が作用していない場合の各磁気抵抗素子の抵抗値は、製造のばらつきがなければ等しくなる。この磁気抵抗素子は、バイアス磁場20に感応する複数の直線部分が平行に配置され、直線部分の端部が交互に接続されて感磁部を構成する。
磁気センサ3は、図2(d)に示すように、検出信号Sを制御部5に出力する。この検出信号Sは、例えば、第1の磁気センサ32及び第2の磁気センサ33ごとの2つのハーブブリッジ回路の中点電圧の差分に基づいた信号である。従って磁気センサ3は、バイアス磁場20が作用しない場合、磁気抵抗値が全て同じ値になるので、差分電圧がゼロとなり、検出信号Sがゼロとなる。
第1の磁気センサ32及び第2の磁気センサ33は、磁性体4の回転によるバイアス磁場20の変化を検出し易いようにバイアス磁石2の外側に配置される。
(磁性体4の構成)
図3(a)は、実施の形態に係る磁気センサ装置の磁性体の第1の凸部がバイアス磁石と対向する一例を示す概略図であり、図3(b)は、第2の凸部がバイアス磁石と対向する一例を示す概略図である。図4(a)は、実施の形態に係る磁気センサ装置の磁気センサが出力する検出信号の電圧値と回転角度の関係と比較例に係る電圧値と回転角度の関係を示すグラフの一例であり、図4(b)は、比較例に係る磁性体の形状の一例を示す概略図である。図4(a)に示す実線のグラフは、本実施の形態の磁性体4を用いた場合の電圧値のグラフであり、点線のグラフは、比較例の磁性体9を用いた場合の電圧値のグラフである。
磁性体4は、例えば、パーマロイ、電磁鋼板、フェライトなどの軟磁性体材料を用いて円板形状に形成される。また磁性体4は、本体40が円板形状を有し、本体40の側面から第1の凸部41及び第2の凸部42が突出するように形成されている。
この磁性体4は、例えば、図1(a)に示すように、操作部に連結され、操作部の操作によって回転中心45を中心として時計回り(矢印A方向)、及び反時計回り(矢印B方向)に回転するように構成されている。
凹部43を形成する第1の凸部41及び第2の凸部42の側面の法線は、回転中心45から伸びる直線と実質的に直交する。つまり第1の凸部41の側面410の法線410aは、図1(b)に示すように、回転中心45から伸びる直線412と実質的に直交する。また第2の凸部42の側面420の法線420aは、図1(b)に示すように、回転中心45から伸びる直線422と実質的に直交する。
具体的には、第1の凸部41の側面410は、図1(b)に示すように、凹部43がバイアス磁石2と対向する際の中心線450と、上述の直線412と、のなす角がθとなるように形成されている。同様に第2の凸部42の側面420は、図1(b)に示すように、凹部43がバイアス磁石2と対向する際の中心線450と、上述の直線422と、のなす角がθとなるように形成されている。なお角度θは、一例として、12°である。
この角度θは、図4(a)の実線のグラフにおいて、電圧値がオフ領域51からオン領域52及びオン領域53に急峻に上昇する、つまりオンとオフの急峻な切り替わりを規定する角度である。
また第1の凸部41及び第2の凸部42の端面の中心の接平面は、第1の凸部41及び第2の凸部42がバイアス磁石2と対向する際、バイアス磁石2の端面23と実質的に平行となる。
具体的には、第1の凸部41の端面411の中心の接平面413は、図3(a)に示すように、第1の凸部41がバイアス磁石2と対向する際、バイアス磁石2の端面23と実質的に平行となる。この際の磁性体4の回転角度は、+θである。また第2の凸部42の端面421の中心の接平面423は、図3(b)に示すように、第2の凸部42がバイアス磁石2と対向する際、バイアス磁石2の端面23と実質的に平行となる。この際の磁性体4の回転角度は、−θである。この回転角度は、一例として、図1(a)に示すように、中心線450を基準として時計回り、つまり矢印A方向の回転を正とし、反時計回り、つまり矢印B方向の回転を負としている。なお回転角度|θ|は、一例として、20°である。
この回転角度+θは、図4(a)の実線のグラフにおいてオフ領域51からオン領域52に切り替わる回転角度θよりも大きい角度となる。同様に、回転角度−θは、図4(a)の実線のグラフにおいてオフ領域51からオン領域53に切り替わる回転角度−θよりも小さい角度となる。つまり回転角度θは、|θ|<|θ|<|θ|の範囲の回転角度である。
なお端面411及び端面421は、回転中心45を中心とする円の外周に基づいた曲面であっても良いし、平面であっても良い。
従って磁気センサ装置1がスイッチ装置として構成された場合、スイッチ装置の操作部の操作量が基準位置(0°)から±θの回転角度で磁性体4を回転させるように構成されると、オンとオフの切り替わりが容易に検出されることとなる。
また磁性体4の凹部43は、図1(b)に示すように、外周面44を延長した点線の部分よりも深く、底面430が位置するように形成されている。凹部43の底面430が深いことにより、図4(a)のグラフにおけるオフ領域振幅が深くなる。このオフ領域振幅が深い方が、電圧の変動などの耐性が高い。
さらに凹部43の幅は、磁気センサ3の第1の磁気センサ32と第2の磁気センサ33の間隔よりも広くなっている。
(制御部5の構成)
制御部5は、例えば、記憶されたプログラムに従って、取得したデータに演算、加工などを行うCPU(Central Processing Unit)、半導体メモリであるRAM(Random Access Memory)及びROM(Read Only Memory)などから構成されるマイクロコンピュータである。このROMには、例えば、制御部5が動作するためのプログラムと、しきい値50と、が格納されている。RAMは、例えば、一時的に演算結果などを格納する記憶領域として用いられる。
制御部5は、例えば、検出信号Sの電圧値としきい値50とを比較し、電圧値がしきい値50より大きい場合、オンと判定し、電圧値がしきい値50以下である場合、オフと判定する。つまりしきい値50は、一例として、ゼロである。
従ってオフ領域51は、図4(a)のグラフにおいて電圧値が負となる中央の領域である。またオンの領域は、図4(a)のグラフにおいて電圧値が正となる右側のオン領域52と左のオン領域53である。
制御部5は、取得した検出信号Sの電圧値としきい値50を比較してオン、オフを判定し、判定した結果を操作情報Sとして接続された電子機器に出力する。この電子機器は、一例として、車両に搭載された空調装置やミラー角度調整装置、レバーコンビネーションスイッチなどの電子機器である。
ここで比較例の磁性体9を有する磁気センサ装置と本実施の形態の磁性体4を有する磁気センサ装置1の電圧値について説明する。
(比較例の磁性体9について)
比較例に係る磁性体9は、図4(b)に示すように、本体90の外周面94から径方向に突出する第1の凸部91及び第2の凸部92と、第1の凸部91と第2の凸部92の間に略円形に切り取られた形状を有する凹部93と、を備えて概略構成されている。
この凹部93は、本体90の外周面94よりも外側に形成されている。また第1の凸部91及び第2の凸部92は、凹部93を形成する側面が曲線となっているので、オンとオフの切り替わりが緩やかになる。
図4(a)に示すように、比較例の磁性体9を使用した場合、オフ領域51のオフ領域振幅9aが、本実施の形態の磁性体4を使用した場合のオフ領域振幅4aと比べて狭くなっている。また比較例は、本実施の形態と比べて、オフ領域振幅9aの平坦な部分の回転角度範囲が狭い。
また比較例の場合、オフ領域51からオン領域52及びオン領域53への切り替わり、またその逆の切り替わりが本実施の形態と比べて緩やかである。
従って比較例の磁性体9を使用した磁気センサ装置は、例えば、磁気センサ3の製造におけるばらつきや設置位置のずれなどに起因する電圧変動により、オフ領域51がなくなり、磁性体9の回転角度に依らずオンに固定される可能性がある。また比較例は、オフ領域51の回転角度範囲が狭いので、操作部の操作量が本実施の形態と比べて小さくなる。
一方本実施の形態の磁性体4を使用した磁気センサ装置1は、図4(a)に示すように、比較例と比較して、オフ領域振幅4aが広く、そしてオフ領域51からオン領域52及びオン領域53への切り替わり、またその逆の切り替わりが急峻である。また本実施の形態は、オフ領域51の回転角度範囲が広いので、操作部の操作量を大きくすることが可能となる。
従って本実施の形態の磁性体4を使用した磁気センサ装置1は、比較例と比べて、電圧変動の耐性に優れ、オンとオフの切り替わりが明確であることが分かる。
以下に本実施の形態の磁気センサ装置1の動作について説明する。なお磁気センサ装置1が車両に搭載され、磁性体4が連結される操作部の基準位置がオフであるものとする。
(動作)
磁気センサ装置1の磁気センサ3は、車両の電源が投入されると、検出信号Sを制御部5に出力する。
制御部5は、検出信号Sをしきい値50と比較する。操作部が操作されていない場合、磁性体4が回転していないので、凹部43がバイアス磁石2と対向し、検出信号Sに基づく電圧値が負となる。制御部5は、電圧値がしきい値50より小さいので、オフであるとする操作情報Sを接続された電子機器に出力する。
また制御部5は、磁性体4の第1の凸部41又は第2の凸部42がバイアス磁石2と対向するように回転した場合、つまり操作部が操作された場合、検出信号Sが正となるので、しきい値50との比較結果に基づいてオンであるとする操作情報Sを接続された電子機器に出力する。
(実施の形態の効果)
本実施の形態に係る磁気センサ装置1は、誤判定を抑制することができる。具体的には、磁気センサ装置1は、オフ領域振幅4aが広いので、電圧の変動によって電圧値がプラス側に大きくなっても、オフ領域51が消失する可能性が低い。従って磁気センサ装置1は、電圧の変動によってオンに固定化される可能性が低く、オフであるにもかかわらずオンと判定されるような誤判定を抑制することができる。また磁気センサ装置1は、オフ領域振幅が狭い場合と比べて、電圧の変動の耐性が向上する。
磁気センサ装置1は、第1の凸部41の側面410の法線410aが回転中心45から伸びる直線412と実質的に直交すると共に、第2の凸部42の側面420の法線420aが回転中心45から伸びる直線422と実質的に直交するので、この構成を採用しない場合と比べて、オンとオフの急峻な切り替わりが得られる。従って磁気センサ装置1は、オンとオフの切り替わりが明確である。
磁気センサ装置1は、第1の凸部41及び第2の凸部42の端面411及び端面421の中心の接平面413及び接平面423は、第1の凸部41及び第2の凸部42がバイアス磁石2と対向する際、バイアス磁石2の端面23と実質的に平行となる。磁気センサ装置1は、例えば、オンとオフの切り替えを行う操作部の操作量を、平行となる回転角度に基づいて容易に設定することができる。
以上、本発明のいくつかの実施の形態及び変形例を説明したが、これらの実施の形態及び変形例は、一例に過ぎず、特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。これら新規な実施の形態及び変形例は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更などを行うことができる。また、これら実施の形態及び変形例の中で説明した特徴の組合せの全てが発明の課題を解決するための手段に必須であるとは限らない。さらに、これら実施の形態及び変形例は、発明の範囲及び要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1…磁気センサ装置、2…バイアス磁石、3…磁気センサ、4…磁性体、4a…オフ領域振幅、5…制御部、9…磁性体、9a…オフ領域振幅、20…バイアス磁場、23,24…端面、25…凹部、30…基板、31…表面、32…第1の磁気センサ、33…第2の磁気センサ、40…本体、41…第1の凸部、42…第2の凸部、43…凹部、44…外周面、45…回転中心、50…しきい値、51…オフ領域、52,53…オン領域、90…本体、91…第1の凸部、92…第2の凸部、93…凹部、94…外周面、320,330…感磁面、410…側面、410a…法線、411…端面、412…直線、413…接平面、420…側面、420a…法線、421…端面、422…直線、423…接平面、430…底面、450…中心線

Claims (3)

  1. バイアス磁場を生成するバイアス磁石と、
    前記バイアス磁場の変化を検出して検出信号を出力する磁気センサと、
    前記バイアス磁石と対向するように配置され、回転中心を中心として回転する円板形状を有すると共に、側面から径方向に突出する第1の凸部と第2の凸部、及び前記第1の凸部と前記第2の凸部の間に形成され、底面が自身の外周面よりも前記回転中心に近い凹部を有する磁性体と、
    前記磁性体の回転によって前記凹部と前記バイアス磁石が対向している状態で出力された前記検出信号に基づいてオン又はオフの一方の状態を判定し、前記第1の凸部及び前記第2の凸部と前記バイアス磁石が対向している状態で出力された前記検出信号に基づいて他方の状態を判定する判定部と、
    を備えた磁気センサ装置。
  2. 前記凹部を形成する前記第1の凸部及び前記第2の凸部の側面の法線は、前記回転中心から伸びる直線と実質的に直交する、
    請求項1に記載の磁気センサ装置。
  3. 前記第1の凸部及び前記第2の凸部の端面の中心の接平面は、前記第1の凸部及び前記第2の凸部が前記バイアス磁石と対向する際、前記バイアス磁石の端面と実質的に平行となる、
    請求項1又は2に記載の磁気センサ装置。
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