JP2017104716A - 収差測定装置およびその方法 - Google Patents
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Abstract
Description
測定光を照射した被検査物からの戻り光の収差を測定する収差測定装置であって、
前記戻り光を複数の光に分割する分割手段と、
前記複数の光それぞれが照射した領域の位置を検出する検出手段と、
前記戻り光が前記分割手段に照射した照射領域に対応する計測領域毎に、空間座標を変数とする関数である所定の多項式を空間座標で微分した式の各項の値を前記計測領域内の前記複数の光それぞれに対応する領域に対して対応付けて記憶する記憶手段と、前記検出された位置に基づいて、前記計測領域を決定する決定手段と、
前記検出された位置に基づいて、前記計測領域における前記複数の光それぞれの波面の傾きを取得する取得手段と、を有し、
前記決定された計測領域と前記取得された傾きと前記記憶された情報とに基づいて、前記収差が測定されることを特徴とする。
本発明を適用した眼底撮像装置の構成について図1を用いて説明する。なお、本実施例においては、測定対象である被検査物を眼とし、眼で発生する収差をAOで補正し、眼底を撮像する。
測定された微小波面136の傾きに対して、所定の多項式の一例である基底関数を用いてフィッティングを行い、元の光波面131の収差を表すのに最適な基底関数の係数群を求める。測定された微小波面136の傾きは元の光波面131の収差の1次微分であるため、ある基底関数の係数群を求める場合には、微小波面136の傾きに対して、該基底関数の1次微分を用いてフィッティングを行うのが好ましい。
D=AZ ・・・式(1)
ベクトルZが、元の光波面131の収差を表すために求めるべきゼルニケ多項式の係数群の要素からなるベクトルである。
Z=A+D ・・・式(2)
実施例2として、図6のフローチャートを用いて、本発明を適用した実施例1とは異なる形態の眼底撮像装置の制御方法の例について説明する。本実施例において、基本的な装置構成は実施例1と同様である。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
測定光を照射した被検査物からの戻り光を複数の光に分割する分割手段と、
前記複数の光それぞれが照射した領域の位置を検出する検出手段と、
前記検出された位置に基づいて、分割された光の傾きを求める傾き取得手段と、
あらかじめ記憶された複数の疑似逆行列から選択された疑似逆行列と前記求めた傾きを用いて、前記戻り光の収差を求める収差取得手段とを有し、
前記疑似逆行列は、単位入力に対するゼルニケ微分式の値からなる行列に対して作用させたときに単位行列になる行列であることを特徴とする。
Claims (19)
- 測定光を照射した被検査物からの戻り光の収差を測定する収差測定装置であって、
前記戻り光を複数の光に分割する分割手段と、
前記複数の光それぞれが照射した領域の位置を検出する検出手段と、
前記戻り光が前記分割手段に照射した照射領域に対応する計測領域毎に、空間座標を変数とする関数である所定の多項式を空間座標で微分した式の各項の値を前記計測領域内の前記複数の光それぞれに対応する領域に対して対応付けて記憶する記憶手段と、
前記検出された位置に基づいて、前記計測領域を決定する決定手段と、
前記検出された位置に基づいて、前記計測領域における前記複数の光それぞれの波面の傾きを取得する取得手段と、を有し、
前記決定された計測領域と前記取得された傾きと前記記憶された情報とに基づいて、前記収差が測定されることを特徴とする収差測定装置。 - 前記決定された計測領域における前記所定の多項式を微分した式の各項の値と前記取得された傾きとに基づいて前記所定の多項式の各項の係数を取得する係数取得手段を更に有し、
前記所定の多項式と前記取得された係数とに基づいて前記波面の形状が取得されることにより、前記収差が測定されることを特徴とする請求項1に記載の収差測定装置。 - 前記所定の多項式を微分した式の各項の値は、前記計測領域の大きさ毎に異なることを特徴とする請求項1または2に記載の収差測定装置。
- 前記所定の多項式を微分した式の各項の値は、前記検出手段における前記計測領域の位置毎に異なることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の収差測定装置。
- 前記分割手段が、複数のレンズから成るレンズアレイであり、
前記所定の多項式を微分した式の各項の値は、前記計測領域における前記複数のレンズの個数毎に異なることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の収差測定装置。 - 前記検出手段が、前記レンズアレイそれぞれにより照射された光を受光するCCDセンサーであり、
前記収差測定装置が、シャック・ハルトマンセンサーであることを特徴とする請求項5に記載の収差測定装置。 - 前記レンズアレイが、併進対称性を持つことを特徴とする請求項5または6に記載の収差測定装置。
- 前記記憶手段は、前記計測領域毎に前記所定の多項式を微分した式の各項の値を各要素とする2次元行列を記憶し、
前記決定された計測領域と前記取得された傾きと前記記憶された2次元行列とに基づいて、前記収差が測定されることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の収差測定装置。 - 前記決定手段は、前記検出された位置に対応する領域を前記計測領域として決定することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の収差測定装置。
- 前記空間座標で微分した式は、前記所定の多項式を前記分割手段の平面方向に沿って1次微分した式であることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の収差測定装置。
- 測定光を照射した被検査物からの戻り光の収差を測定する収差測定装置であって、
前記戻り光を分割して得た複数の光に対応する複数の領域において前記複数の光が照射した位置を検出する検出手段と、
前記検出された位置に基づいて、前記複数の光の波面の傾きを取得する取得手段と、を有し、
空間座標を変数とする関数である所定の多項式を空間座標で微分した式の各項の値が前記複数の領域それぞれに対して対応付けて記憶された情報と前記取得された傾きとに基づいて、前記収差が測定されることを特徴とする収差測定装置。 - 前記被検査物は、被検眼であり、
前記収差測定装置が、前記被検眼の前眼部と光学的に共役な位置に配置されることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の収差測定装置。 - 請求項1乃至12のいずれか1項に記載の収差測定装置を有する補償光学装置であって、
前記測定された収差に基づいて、測定光と該測定光を照射した前記被検査物からの戻り光とのうち少なくとも一つの収差を補正する収差補正手段を更に有することを特徴とする補償光学装置。 - 前記被検査物は、被検眼であり、
前記収差補正手段が、前記被検眼の前眼部と光学的に共役な位置に配置されることを特徴とする請求項13に記載の補償光学装置。 - 請求項13または14に記載の補償光学装置を有する撮像装置であって、前記収差が補正された光を用いて前記被検査物を撮像することを特徴とする撮像装置。
- 前記被検査物は、被検眼であり、
前記被検眼の前眼部と光学的に共役な位置に配置される走査手段であって、前記被検眼の眼底において前記測定光を走査する走査手段を更に有することを特徴とする請求項15に記載の撮像装置。 - 測定光を照射した被検査物からの戻り光の収差を測定する収差測定装置の制御方法であって、
前記戻り光を分割手段により分割して得た複数の光それぞれが照射した領域の位置を検出する工程と、
前記検出された位置に基づいて、前記戻り光が前記分割手段に照射した照射領域に対応する計測領域を決定する工程と、
前記検出された位置に基づいて、前記計測領域における前記複数の光それぞれの波面の傾きを取得する工程と、を有し、
前記決定された計測領域と、空間座標を変数とする関数である所定の多項式を空間座標で微分した式の各項の値が前記計測領域内の前記複数の光それぞれに対応する領域に対して前記計測領域毎に対応付けて記憶された情報と、前記取得された傾きと、に基づいて、前記収差が測定されることを特徴とする収差測定装置の制御方法。 - 測定光を照射した被検査物からの戻り光の収差を測定する収差測定装置の制御方法であって、
前記戻り光を分割して得た複数の光に対応する複数の領域において前記複数の光が照射した位置を検出する工程と、
前記検出された位置に基づいて、前記複数の光の波面の傾きを取得する工程と、を有し、
空間座標を変数とする関数である所定の多項式を空間座標で微分した式の各項の値が前記複数の領域それぞれに対して対応付けて記憶された情報と前記取得された傾きとに基づいて、前記収差が測定されることを特徴とする収差測定装置の制御方法。 - 請求項17または18に記載の収差測定装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2017104716A true JP2017104716A (ja) | 2017-06-15 |
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