JP2017088935A - 真空処理装置 - Google Patents
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Abstract
Description
光学レンズや自動車部品等のように、成膜対象物が凹凸のある立体形状の場合、ホルダに成膜対象物を載置して搬送するのが一般的である。
前記真空容器に接続され、前記真空容器とは独立して減圧可能なロードロック室と、
前記処理対象物を前記真空処理室と前記ロードロック室との間で搬送する搬送機構と、
前記真空処理室に配置され、前記処理対象物に対して真空処理を施す真空処理源と、
前記ロードロック室と真空容器の外部に配置された投入部との間で前記処理対象物を搬送する外部搬送機構とを備え、
前記処理対象物は、前記処理対象物を保持する処理対象物保持部に保持された状態で、前記搬送機構および前記外部搬送機構によって搬送される真空処理装置において、
前記外部搬送機構は、搬送時に前記処理対象物にガスを吹きつけるガス吹き付け部を備えたことを特徴とする真空処理装置である。
以下、本発明に係る真空処理装置の第1の実施の形態について図面を用いて説明する。なお、本実施の形態において、真空処理装置は、具体的には、枚葉式マグネトロンスパッタリング装置である。
[第2の実施の形態]
次に、第2の実施の形態について図を用いて説明する。なお、上述の第1の実施の形態と同じ構成部分には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する
第2の実施の形態では、図5に示すように、外部搬送機構30が成膜対象物7の成膜面を撮像するカメラ部51を備えている点で第1の実施の形態と相違する。このため、垂直アーム322および真空蓋33の構成も相違する。すなわち、本実施の形態では、付着物が付着したままでの成膜処理を防止する効果のより確実性を増すために、成膜対象物7に付着した付着物が除去されたことを確認するカメラ部51を真空蓋33毎に備える。このカメラ部51は、垂直アーム322に後述のように支持されるが、まずは、垂直アーム322の構成から順次説明する。
対象物7に吹き付けてもよい。成膜処理後の搬送中に成膜対象物上に剥がれた膜が付着すると、以後の工程、例えば、蒸着やCVDによる成膜処理が行われる場合、上述と同様の問題が発生するが、この問題も解決できる。
2 メインチャンバ(真空容器)
2a 本体
2b 上壁部
3 回転軸
5 回転テーブル(搬送機構)
5a 円形開口
6 ワークチャンバ
6a 上部開口
6b 下部開口
7 成膜対象物
8 ホルダ(処理対象物保持部)
8a 底部
8b 受け部
8c 開口部
8d 保護部材
9 プッシャ
10 プッシャ
12 真空処理スペース(真空処理室)
13 ロードロックスペース(ロードロック室)
14 リフレクタ
17 台座
20 蓋部
21 スパッタ源(真空処理源)
22 ターゲット
30 外部搬送機構
31 回転機構
32 ベース部
33 真空蓋
33a、33d 開口部
33b チャック部
35 ガス吹き付け部
35a 真空用チューブ
35b バルブ
35c 噴射部
35d 放電電極
36 ロッド
36a、36b 開口部
37 リニアガイド
37a ガイドレール
37b ガイドブロック
38 真空用フランジ
38a 円筒部
38b 鍔部
39 クリーンエア供給装置
39a 高圧ガス供給部
39b ダストフィルタ
39c ミストフィルタ
41 投入部
42 電源
43 制御装置
44 供給線
51 カメラ部
52 のぞき窓
52a 覗き板
52b 係止片
53 固定部
54 ケーブル
321 水平アーム
322 垂直アーム
323、324、325 開口部
S 内部空間
F たわみ部
Claims (5)
- 処理対象物に真空処理が行なわれる真空処理室を有し、大気圧よりも減圧された雰囲気に減圧可能な真空容器と、
前記真空容器に接続され、前記真空容器とは独立して減圧可能なロードロック室と、
前記処理対象物を前記真空処理室と前記ロードロック室との間で搬送する搬送機構と、
前記真空処理室に配置され、前記処理対象物に対して真空処理を施す真空処理源と、
前記ロードロック室と、前記真空容器の外部に配置された投入部との間で前記処理対象物を搬送する外部搬送機構とを備え、
前記処理対象物は、前記処理対象物を保持する処理対象物保持部に保持された状態で、前記搬送機構および前記外部搬送機構によって搬送される真空処理装置において、
前記外部搬送機構は、搬送時に前記処理対象物にガスを吹きつけるガス吹き付け部を備えたことを特徴とする真空処理装置。 - 前記ガス吹き付け部は、前記処理対象物が前記投入部から前記ロードロック室へ搬送される間、前記処理対象物にガスを絶えず吹き付けることを特徴とする請求項1に記載の真空処理装置。
- 前記ガス吹き付け部は、ガスをイオン化する放電電極を備えたことを特徴とする請求項1および2のいずれかに記載の真空処理装置
- 前記外部搬送機構に設けられた前記処理対象物を撮像するカメラ部と、
前記カメラ部で撮像した画像に基づいて前記処理対象物の成膜面の上の付着物の有無を判断する制御装置とを備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の真空処理装置。 - 前記付着物は、成膜処理時に前記処理対象物保持部に付着堆積した膜が剥がれ落ちることで生じた剥がれた膜であることを特徴とする請求項4に記載の真空処理装置。
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JP2008211196A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-09-11 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置およびパーティクル付着防止方法 |
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