JP2017087400A - 補正方法および補正装置 - Google Patents
補正方法および補正装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017087400A JP2017087400A JP2015224722A JP2015224722A JP2017087400A JP 2017087400 A JP2017087400 A JP 2017087400A JP 2015224722 A JP2015224722 A JP 2015224722A JP 2015224722 A JP2015224722 A JP 2015224722A JP 2017087400 A JP2017087400 A JP 2017087400A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- point
- detection
- height
- coordinate value
- detection pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 149
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 82
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 347
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 64
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 34
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 13
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 239000011351 dental ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
- G01B21/045—Correction of measurements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/004—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
- G01B5/008—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
- G01B5/012—Contact-making feeler heads therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/004—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/004—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
- G01B5/008—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Automatic Control Of Machine Tools (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
- Numerical Control (AREA)
Abstract
Description
となり、上記第2の座標値をx2,0、上記第4の座標値をx2,180とすると、上記第2の高さにおける上記検出ピンの軸ぶれを補正する第2の補正値x2は、
となり、上記第1の高さをh1、上記第2の高さをh2、上記所定の検出点の座標値をx、上記第3の高さをh、上記検出ピンの上記第3の高さhにおける点において任意の検出点(発明を実施するための形態の項に記載の測定ポイントに相当する。)のX座標値を検出する際の軸ぶれ補正値をxoffsetとすると、上記第3の工程で算出される上記線形式は、(1)式を満たし、上記検出点がY軸方向の上記検出ピンの軸ぶれを補正するための検出点である場合には、上記第1の座標値をy3,0、上記第3の座標値をy3,180とすると、上記第1の高さにおける上記検出ピンの軸ぶれを補正する第1の補正値y3は、
となり、上記第2の座標値をy4,0、上記第4の座標値をy4,180とすると、上記第2の高さにおける上記検出ピンの軸ぶれを補正する第2の補正値y4は、
となり、上記第1の高さをh3、上記第2の高さをh4、上記所定の検出点の座標値をy、上記第3の高さをh、上記検出ピンの上記第3の高さhにおける点において任意の検出点(発明を実施するための形態の項に記載の測定ポイントに相当する。)のY座標値を検出する際の軸ぶれ補正値をyoffsetとすると、上記第3の工程で作成される上記線形式は、(2)式を満たすようにしたものである。
となり、上記第2の座標値をx2,0、上記第4の座標値をx2,180とすると、上記第2の高さにおける上記検出ピンの軸ぶれを補正する第2の補正値x2は、
となり、上記第1の高さをh1、上記第2の高さをh2、上記所定の検出点の座標値をx、上記第3の高さをh、上記検出ピンの上記第3の高さhにおける点において任意の検出点(発明を実施するための形態の項に記載の測定ポイントに相当する。)のX座標値を検出する際の軸ぶれ補正値をxoffsetとすると、上記作成手段で算出される上記線形式は、(1)式を満たし、上記検出点がY軸方向の上記検出ピンの軸ぶれを補正するための検出点である場合には、上記第1の座標値をy3,0、上記第3の座標値をy3,180とすると、上記第1の高さにおける上記検出ピンの軸ぶれを補正する第1の補正値y3は、
となり、上記第2の座標値をy4,0、上記第4の座標値をy4,180とすると、上記第2の高さにおける上記検出ピンの軸ぶれを補正する第2の補正値y4は、
なお、ステップS614の処理における位置決め補正値の算出方法やステップS616の処理における位置決め方法については、従来より公知の技術を用いることができるため、その詳細な説明は省略する。
Claims (6)
- XYZ直交座標系におけるZ軸周りに回転可能な検出ピンの軸ぶれを補正する補正方法において、
前記検出ピンにおける第1の点を予め設定された検出点に接触することにより、前記検出点の第1の座標値を取得するとともに、前記第1の点の前記検出ピンの先端部からZ軸方向における長さたる第1の高さを取得し、前記検出ピンにおける第1の点とZ軸方向で異なる第2の点を前記検出点に接触することにより、前記検出点の第2の座標値を取得するとともに、前記第2の点の前記検出ピンの先端部からのZ軸方向における長さたる第2の高さを取得する第1の工程と、
前記検出ピンを180°回転した状態で、前記第1の点を前記検出点に接触することにより、前記検出点の第3の座標値を取得するとともに、前記第2の点を前記検出点に接触することにより、前記検出点の第4の座標値を取得する第2の工程と、
前記第1の工程および前記第2の工程で取得した値に基づいて、前記検出ピンの任意の点の前記検出ピンの先端部からZ軸方向における長さたる第3の高さを変数とした線形式を、前記検出ピンの軸ぶれを補正するための補正値として作成する第3の工程と
を有することを特徴とする補正方法。 - 請求項1に記載の補正方法において、さらに、
前記検出ピンの前記任意の点が接触した所定の検出点の座標値に対して、前記第3の工程で作成した前記線形式に前記第3の高さを代入して算出した補正値を加算して、該所定の検出点の座標値を補正する第4の工程と
を有することを特徴とする補正方法。 - 請求項1または2のいずれか1項に記載の補正方法において、
前記検出点がX軸方向の前記検出ピンの軸ぶれを補正するための検出点である場合には、
前記第1の座標値をx1,0、前記第3の座標値をx1,180とすると、前記第1の高さにおける前記検出ピンの軸ぶれを補正する第1の補正値x1は、
x1=(x1,180−x1,0)/2
となり、
前記第2の座標値をx2,0、前記第4の座標値をx2,180とすると、前記第2の高さにおける前記検出ピンの軸ぶれを補正する第2の補正値x2は、
x2=(x2,180−x2,0)/2
となり、
前記第1の高さをh1、前記第2の高さをh2、前記所定の検出点の座標値をx、前記第3の高さをh、前記検出ピンの前記第3の高さhにおける点において任意の検出点のX座標値を検出する際の軸ぶれ補正値をxoffsetとすると、前記第3の工程で算出される前記線形式は、(1)式を満たし、
前記検出点がY軸方向の前記検出ピンの軸ぶれを補正するための検出点である場合には、
前記第1の座標値をy3,0、前記第3の座標値をy3,180とすると、前記第1の高さにおける前記検出ピンの軸ぶれを補正する第1の補正値y3は、
y3=(y3,180−y3,0)/2
となり、
前記第2の座標値をy4,0、前記第4の座標値をy4,180とすると、前記第2の高さにおける前記検出ピンの軸ぶれを補正する第2の補正値y4は、
y4=(y4,0−y4,180)/2
となり、
前記第1の高さをh3、前記第2の高さをh4、前記所定の検出点の座標値をy、前記第3の高さをh、前記検出ピンの前記第3の高さhにおける点において任意の検出点のY座標値を検出する際の軸ぶれ補正値をyoffsetとすると、前記第3の工程で作成される前記線形式は、(2)式を満たす
ことを特徴とする補正方法。
- XYZ直交座標系におけるZ軸周りに回転可能に配設された検出ピンを備えるとともに、前記検出ピンを180°回転することが可能な検出手段と、
前記検出ピンにおける第1の点を予め設定された検出点に接触することにより、前記検出点の第1の座標値を取得するとともに、前記第1の点の前記検出ピンの先端部からのZ軸方向における長さたる第1の高さを取得し、前記検出ピンにおける前記第1の点とZ軸方向で異なる第2の点を前記検出点に接触することにより、前記検出点の第2の座標値を取得するとともに、前記第2の点の前記検出ピンの先端部からのZ軸方向における長さたる第2の高さを取得し、前記検出ピンを180°回転し、180°回転した状態の前記検出ピンにおける前記第1の点を前記検出点に接触することにより第3の座標値を取得し、180°回転した状態の前記検出ピンにおける前記第2の点を前記検出点に接触することにより第4の座標値を取得する第1の取得手段と、
前記第1の取得手段で所得した値に基づいて、前記検出ピンの任意の点の前記検出ピンの先端部からZ軸方向における長さたる第3の高さを変数とした線形式を、前記検出ピンの軸ぶれを補正するための補正値として作成する作成手段と
を有することを特徴とする補正装置。 - 請求項4に記載の補正装置において、さらに、
前記検出ピンの前記任意の点を所定の検出点に接触することにより、前記所定の検出点の第5の座標値を取得するとともに、前記第3の高さを取得する第2の取得手段と、
前記第5の座標値に対して、前記作成手段で作成した前記線形式に前記第3の高さを代入して算出した補正値を加算して、前記第5の座標値を補正する補正手段と
を有することを特徴とする補正装置。 - 請求項4または5のいずれか1項に記載の補正装置において、
前記検出点がX軸方向の前記検出ピンの軸ぶれを補正するための検出点である場合には、
前記第1の座標値をx1,0、前記第3の座標値をx1,180とすると、前記第1の高さにおける前記検出ピンの軸ぶれを補正する第1の補正値x1は、
x1=(x1,180−x1,0)/2
となり、
前記第2の座標値をx2,0、前記第4の座標値をx2,180とすると、前記第2の高さにおける前記検出ピンの軸ぶれを補正する第2の補正値x2は、
x2=(x2,180−x2,0)/2
となり、
前記第1の高さをh1、前記第2の高さをh2、前記所定の検出点の座標値をx、前記第3の高さをh、前記検出ピンの前記第3の高さhにおける点において任意の検出点のX座標値を検出する際の軸ぶれ補正値をxoffsetとすると、前記作成手段で算出される前記線形式は、(1)式を満たし、
前記検出点がY軸方向の前記検出ピンの軸ぶれを補正するための検出点である場合には、
前記第1の座標値をy3,0、前記第3の座標値をy3,180とすると、前記第1の高さにおける前記検出ピンの軸ぶれを補正する第1の補正値y3は、
y3=(y3,180−y3,0)/2
となり、
前記第2の座標値をy4,0、前記第4の座標値をy4,180とすると、前記第2の高さにおける前記検出ピンの軸ぶれを補正する第2の補正値y4は、
y4=(y4,0−y4,180)/2
となり、
前記第1の高さをh3、前記第2の高さをh4、前記所定の検出点の座標値をy、前記第3の高さをh、前記検出ピンの前記第3の高さhにおける点において任意の検出点のY座標値を検出する際の軸ぶれ補正値をyoffsetとすると、前記作成手段で作成される前記線形式は、(2)式を満たす
ことを特徴とする補正装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015224722A JP6585476B2 (ja) | 2015-11-17 | 2015-11-17 | 補正方法および補正装置 |
US15/350,295 US10184774B2 (en) | 2015-11-17 | 2016-11-14 | Correcting apparatus and correcting method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015224722A JP6585476B2 (ja) | 2015-11-17 | 2015-11-17 | 補正方法および補正装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017087400A true JP2017087400A (ja) | 2017-05-25 |
JP6585476B2 JP6585476B2 (ja) | 2019-10-02 |
Family
ID=58691769
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015224722A Expired - Fee Related JP6585476B2 (ja) | 2015-11-17 | 2015-11-17 | 補正方法および補正装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10184774B2 (ja) |
JP (1) | JP6585476B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3566809A1 (en) | 2018-05-08 | 2019-11-13 | DGSHAPE Corporation | Machining device and correction value determination method |
KR20200027393A (ko) * | 2018-08-31 | 2020-03-12 | 주식회사 큐비콘 | 3d 프린터용 다중 노즐의 위치 보정방법 |
JP6719684B1 (ja) * | 2019-04-11 | 2020-07-08 | 三菱電機株式会社 | 数値制御装置 |
JP2021506598A (ja) * | 2017-12-15 | 2021-02-22 | ライシャウァー アーゲー | 創成加工工具の測定を行う方法及び装置 |
KR102252795B1 (ko) * | 2020-03-04 | 2021-05-17 | 주식회사 큐비콘 | 3d 프린터용 다중 노즐의 간격 보정장치 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107749050B (zh) * | 2017-09-30 | 2020-05-15 | 珠海市杰理科技股份有限公司 | 鱼眼图像矫正方法、装置及计算机设备 |
CN113695984B (zh) * | 2021-09-29 | 2023-01-31 | 中国航发动力股份有限公司 | 一种零件与转台不同心量加工孔系的自动修正方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4663852A (en) * | 1985-09-19 | 1987-05-12 | Digital Electronic Automation, Inc | Active error compensation in a coordinated measuring machine |
JPS6328541A (ja) * | 1986-07-16 | 1988-02-06 | Fuaasuto Giken:Kk | 工作機械におけるワ−ク等の原点設定方法 |
JPH05312565A (ja) * | 1992-05-14 | 1993-11-22 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 真円度測定機の傾き補正方法及び装置 |
JP2000193449A (ja) * | 1998-12-24 | 2000-07-14 | Ricoh Co Ltd | プローブ装置及び形状測定装置 |
JP2010533303A (ja) * | 2007-07-13 | 2010-10-21 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 表面センサオフセット |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04171161A (ja) | 1990-11-02 | 1992-06-18 | Fuji Heavy Ind Ltd | タッチセンサーによる基準穴位置測定方法 |
JP2006349388A (ja) | 2005-06-13 | 2006-12-28 | Roland Dg Corp | 回転中心の測定方法および測定装置 |
EP2492635B1 (de) * | 2011-02-22 | 2013-05-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Kalibrierverfahren für einen kugelförmigen Messtaster |
JP6400390B2 (ja) | 2014-09-02 | 2018-10-03 | ローランドディー.ジー.株式会社 | 検出方法、検出装置および治具 |
-
2015
- 2015-11-17 JP JP2015224722A patent/JP6585476B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2016
- 2016-11-14 US US15/350,295 patent/US10184774B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4663852A (en) * | 1985-09-19 | 1987-05-12 | Digital Electronic Automation, Inc | Active error compensation in a coordinated measuring machine |
JPS6328541A (ja) * | 1986-07-16 | 1988-02-06 | Fuaasuto Giken:Kk | 工作機械におけるワ−ク等の原点設定方法 |
JPH05312565A (ja) * | 1992-05-14 | 1993-11-22 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 真円度測定機の傾き補正方法及び装置 |
JP2000193449A (ja) * | 1998-12-24 | 2000-07-14 | Ricoh Co Ltd | プローブ装置及び形状測定装置 |
JP2010533303A (ja) * | 2007-07-13 | 2010-10-21 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 表面センサオフセット |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021506598A (ja) * | 2017-12-15 | 2021-02-22 | ライシャウァー アーゲー | 創成加工工具の測定を行う方法及び装置 |
JP7356977B2 (ja) | 2017-12-15 | 2023-10-05 | ライシャウァー アーゲー | 創成加工工具の測定を行う方法及び装置 |
EP3566809A1 (en) | 2018-05-08 | 2019-11-13 | DGSHAPE Corporation | Machining device and correction value determination method |
JP2019195869A (ja) * | 2018-05-08 | 2019-11-14 | Dgshape株式会社 | 補正装置および補正方法 |
US10768607B2 (en) | 2018-05-08 | 2020-09-08 | DGSHAPE Corporation | Machining device and correction value determination method |
JP7032994B2 (ja) | 2018-05-08 | 2022-03-09 | Dgshape株式会社 | 補正装置および補正方法 |
KR20200027393A (ko) * | 2018-08-31 | 2020-03-12 | 주식회사 큐비콘 | 3d 프린터용 다중 노즐의 위치 보정방법 |
KR102164931B1 (ko) * | 2018-08-31 | 2020-10-13 | 주식회사 큐비콘 | 3d 프린터용 다중 노즐의 위치 보정방법 |
JP6719684B1 (ja) * | 2019-04-11 | 2020-07-08 | 三菱電機株式会社 | 数値制御装置 |
WO2020208783A1 (ja) * | 2019-04-11 | 2020-10-15 | 三菱電機株式会社 | 数値制御装置 |
CN113711143A (zh) * | 2019-04-11 | 2021-11-26 | 三菱电机株式会社 | 数控装置 |
KR102252795B1 (ko) * | 2020-03-04 | 2021-05-17 | 주식회사 큐비콘 | 3d 프린터용 다중 노즐의 간격 보정장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10184774B2 (en) | 2019-01-22 |
US20170138717A1 (en) | 2017-05-18 |
JP6585476B2 (ja) | 2019-10-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6585476B2 (ja) | 補正方法および補正装置 | |
JP5987073B2 (ja) | 撮像部を用いたワークの位置決め装置 | |
JP6182320B2 (ja) | 穴中心座標の検出方法 | |
JP5897671B1 (ja) | モータ端及び機械端の軌跡を表示する軌跡表示装置 | |
JP2016024051A (ja) | 形状測定装置の測定誤差の補正方法及び形状測定装置 | |
JP2013069231A (ja) | 工具の軌跡表示機能を備えた数値制御装置 | |
JP2011020233A (ja) | 機上測定方法及び測定装置 | |
US10768607B2 (en) | Machining device and correction value determination method | |
JP4613955B2 (ja) | 回転軸線算出方法、プログラムの作成方法、動作方法およびロボット装置 | |
JP2017193043A (ja) | 工作機械における対象物の位置計測方法及び位置計測システム | |
JP6400390B2 (ja) | 検出方法、検出装置および治具 | |
JP2008268118A (ja) | 形状測定方法及び装置 | |
JP5272598B2 (ja) | 加工装置の治具座標特定方法及びその方法を用いた加工装置 | |
JP2015134407A (ja) | 視覚センサ及び力センサを備えたバリ取り装置 | |
JP6956138B2 (ja) | 波形表示装置、及び波形表示方法 | |
JP6425009B2 (ja) | 三次元測定機、及びこれを用いた形状測定方法 | |
JP2020500288A (ja) | 物体を測定するための方法および装置 | |
JP2020019126A (ja) | 自動バリ取りおよび/またはエッジ仕上げ装置、ならびにバリ取りおよび/またはエッジ仕上げの自動化方法 | |
JP6254965B2 (ja) | スカイビング加工における工具補正機能を有する数値制御装置 | |
JP5919125B2 (ja) | 回転保持装置および回転保持装置における回転方法 | |
JP2017087357A (ja) | 設置対象物の自動位置調整システム | |
JP2010201581A (ja) | 工作機械のワーク姿勢制御装置 | |
JP2006112861A (ja) | 三次元座標測定システム及びそれに用いるパートプログラム | |
JP5121292B2 (ja) | 形状測定方法及び装置 | |
JP2018025507A (ja) | 駆動部傾斜調整方法、及び駆動部傾斜調整プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181012 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190717 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190730 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190813 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190903 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190905 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6585476 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |