JP2017072543A - 電子機器および電子機器のテスト方法 - Google Patents

Abstract

【課題】電子機器の起動時における電源電圧変動テストを実現する。【解決手段】ラインカード１０において、ＤＣ／ＤＣコンバータ１８，１９は、電子デバイス１２〜１６およびＣＰＵ２０に電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２をそれぞれ供給する。スクリーニングテスト部２１は、トリミング信号ＴＲおよびオン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦを生成して、スクリーニングテストの際にテスト用電源電圧の電圧レベルを設定する。ＤＣ／ＤＣコンバータ１８，１９は、オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦに基づいて動作が制御され、トリミング信号ＴＲに見合った電圧レベルの電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２を生成して、テスト用電源電圧として電子デバイスに供給する。スクリーニングテスト部２１は、オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦによってＤＣ／ＤＣコンバータ１８，１９の動作を停止させた後、トリミング信号ＴＲを出力しながらＤＣ／ＤＣコンバータ１８，１９を起動させる。【選択図】図１

Description

本発明は、電子機器および電子機器のテスト方法に関し、特に、電子機器の起動時における電気的特性テストに有効な技術に関する。

電子機器においては、製品の高い信頼性を実現するために、製品出荷前のテストであるスクリーニングテストが広く行われている。このスクリーニングテストにおいては、電子機器における電気的特性などのテストであり、例えば電源変動テストがある。

この電源変動テストは、電子機器を構成するマイクロプロセッサやメモリなどの電子デバイスにスクリーニング用電源電圧を供給して、該電子機器の動作確認を行うテストである。

スクリーニング用電源電圧は、例えば電子デバイスに供給される標準の電源電圧よりも高い電圧および低い電圧からなる。このスクリーニング用電源電圧は、例えば電子機器に設けられた電源装置を用いて生成する。電源装置は、例えばＤＣ／ＤＣコンバータなどからなる。

電子機器に設けられた電源装置は、トリミング電圧機能を有している。このトリミング電圧機能は、トリミング信号に応じて出力電圧をトリミングして電源電圧の電圧レベルを調整する。

このトリミング信号は、例えば電子機器に設けられたＣＰＵ（Central Processing Unit）などから出力される。ＣＰＵは、スクリーニングテストの際にテスタから出力される制御信号に基づいてトリミング信号を生成する。

この種の電子機器に設けられる電源装置としては、例えば特許文献１が知られている。この特許文献１は、ネットワークシステムに用いられる中継装置に設けられた電源装置について記載されている。

特開２０１５−１０６９５８号公報

上述したように、所望のスクリーニング用電源電圧を生成するトリミング信号を生成するには、電子機器を起動させて該ＣＰＵを動作状態にしなくてはならい。そのため、電子機器の起動時にスクリーニング用電源電圧を供給することができないという問題がある。

なぜならば、電子機器に電源を供給して起動させると、該ＣＰＵはリセット動作を行うため、トリミング信号も出力されないからである。これは、電子機器の起動時におけるスクリーニングテストができないことを意味している。

その結果、電源装置が生成する電源電圧にばらつきがある場合に、電気機器の起動不良や動作不良などが生じる不良の製品が出荷されてしまう恐れがある。それによって、製品の信頼性を低下させてしまうことにも繋がってしまう。

本発明の目的は、電子機器の起動時における電源電圧変動テストを実現することにより、スクリーニングテストの評価品質を向上させることのできる技術を提供することにある。

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴については、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。

本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。

すなわち、代表的な電気機器は、電子デバイス、第１の電源部、および電圧調整部を有する。第１の電源部は、電子デバイスに第１の電源電圧を供給する。電圧調整部は、電圧調整信号および動作制御信号をそれぞれ生成して、スクリーニングテストの際に電子デバイスに供給するテスト用電源電圧の電圧レベルを設定する。

また、第１の電源部は、電圧調整部が生成する動作制御信号に基づいて動作が制御され、電圧調整部が生成する電圧調整信号に見合った電圧レベルの第１の電源電圧を生成して、テスト用電源電圧として第１の電源電圧を電子デバイスに供給する。

電圧調整部は、動作制御信号によって第１の電源部の動作を停止させた後、電圧調整信号を第１の電源部に出力しながら第１の電源部を起動させる。

特に、電圧調整部は、電圧調整信号を外部から入力される電圧制御信号に基づいて生成する。また、電圧制御信号は、電子機器のスクリーニングテストを行うテスタから出力される。

本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下のとおりである。

（１）電子機器における不良製品の出荷を低減することができる。

（２）上記（１）により、電子機器の信頼性を向上させることができる。

実施の形態によるラインカードにおける構成の一例を示す説明図である。 図１のラインカードにおけるスクリーニングテスト時の電源電圧の設定処理の一例を示すフローチャートである。 図１のラインカードにおけるスクリーニングテストの一例を示すフローチャートである。 図２および図３におけるラインカードの電源シーケンスの一例を示す説明図である。 実施の形態２によるラインカードにおける構成の一例を示す説明図である。 実施の形態３によるラインカードにおける構成の一例を示す説明図である。

以下の実施の形態においては便宜上その必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態に分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それらはお互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、詳細、補足説明等の関係にある。

また、以下の実施の形態において、要素の数等（個数、数値、量、範囲等を含む）に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でもよい。

さらに、以下の実施の形態において、その構成要素（要素ステップ等も含む）は、特に明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではないことは言うまでもない。

同様に、以下の実施の形態において、構成要素等の形状、位置関係等に言及するときは特に明示した場合および原理的に明らかにそうではないと考えられる場合等を除き、実質的にその形状等に近似または類似するもの等を含むものとする。このことは、上記数値および範囲についても同様である。

また、実施の形態を説明するための全図において、同一の部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。

（実施の形態１）
以下、実施の形態を詳細に説明する。

〈ラインカードの構成例および動作〉
以下の説明においては、電子機器として、例えばネットワークシステムに用いられるラインカードを例にとって説明する。

図１は、本実施の形態１によるラインカード１０における構成の一例を示す説明図である。

ラインカード１０は、利用者網との通信インタフェースであり、例えば図示しないスイッチングハブのバックプレーン基板などに装着される。ラインカード１０は、図１に示すように、電源入力部１１、電子デバイス１２〜１６、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７〜１９、ＣＰＵ２０、およびスクリーニングテスト部２１を有する。

電源入力部１１は、ラインカード１０の動作電源が供給される。ラインカード１０の動作電源は、例えば−４８Ｖ程度の直流電源である。電子デバイス１２〜１６およびＣＰＵ２０は、ラインカード１０を構成する電子部品である。電子デバイス１２〜１６は、例えばＬＳＩ（Large-Scale Integration）や半導体メモリなどからなる。

ＤＣ／ＤＣコンバータ１７〜１９は、ある直流電源から異なる電圧の直流電源をそれぞれ生成する。ＤＣ／ＤＣコンバータ１７は、電源入力部１１から供給された−４８Ｖ程度の電源電圧から、例えば１２Ｖ程度の直流電源を生成して出力する。

第１の電源部となるＤＣ／ＤＣコンバータ１８は、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７が生成した１２Ｖ程度の直流電源から、例えば５．０Ｖ程度の直流電源を生成する。第２の電源部となるＤＣ／ＤＣコンバータ１９は、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７が生成した１２Ｖ程度の直流電源から、例えば３．０Ｖ程度の直流電源を生成する。

ＤＣ／ＤＣコンバータ１８が生成した５．０Ｖ程度の直流電源は、第１の電源電圧である電源電圧ＶＤＤ１として電子デバイス１２〜１４にそれぞれ供給される。この電源電圧ＶＤＤ１は、電子デバイス１２〜１４の動作電源となる。

ＤＣ／ＤＣコンバータ１９が生成した３．０Ｖ程度の直流電源は、第２の電源電圧であり、電源電圧ＶＤＤ２として電子デバイス１５，１６およびＣＰＵ２０にそれぞれ供給される。この電源電圧ＶＤＤ２は、電子デバイス１５，１６の動作電源となる。ＣＰＵ２０は、例えばマイクロプロセッサなどからなり、ラインカード１０における動作制御を司る。

なお、図１では、ラインカード１０において、電子デバイスの動作電圧が５．０Ｖ程度と３．０Ｖ程度とをそれぞれ有する場合の構成について記載したが、ラインカード１０に設けられる電子デバイスの数、および該電子デバイスの動作電圧については、これに制限されるものではない。

動作電圧が５．０Ｖ程度および３．０Ｖ程度に加えて、例えば１．３Ｖ程度の動作電源が必要な電子デバイスを有する際には、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７が生成した１２Ｖ程度の直流電源から、例えば１．３Ｖ程度の直流電源を生成するＤＣ／ＤＣコンバータが新たに加えられる構成となる。

また、電子デバイスの動作電圧が、例えば５．０Ｖ程度のみであれば、ＤＣ／ＤＣコンバータ１９は不要となり、電子デバイスに動作電圧を供給するＤＣ／ＤＣコンバータは、１つのＤＣ／ＤＣコンバータ１８のみで構成されることになる。

電圧調整部であるスクリーニングテスト部２１は、ラインカード１０の出荷前のテスト、すなわちスクリーニングテストを実行する際に動作する回路部である。スクリーニングテストは、ラインカード１０における電気的特性のチェックなどを行い、潜在的な欠陥を有する製品を除去するテストである。

スクリーニングテスト部２１は、ＤＣ／ＤＣコンバータ２２、および出力電圧制御部２３を有する。ＤＣ／ＤＣコンバータ２２は、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７が生成した１２Ｖ程度の直流電源から、出力電圧制御部２３の動作電源となる電源電圧ＶＤＤ３を生成する。電源電圧ＶＤＤ３は、例えば５．０Ｖ程度の直流電源である。

なお、図１では、ＤＣ／ＤＣコンバータ２２がＤＣ／ＤＣコンバータ１７が生成した１２Ｖ程度の直流電源から電源電圧ＶＤＤ３を生成する構成としたが、該ＤＣ／ＤＣコンバータ２２は、電源入力部１１に入力される−４８Ｖ程度の直流電源から電源電圧ＶＤＤ３を生成する構成であってもよい。

出力電圧制御部２３は、外部入力される電圧制御信号ＶＣに基づいて、電圧調整信号であるトリミング信号ＴＲ１，ＴＲ２を出力する。また、出力電圧制御部２３は、外部入力されるイネーブル信号ＥＮに基づいて、動作制御信号であるオン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１，ＯＮ／ＯＦＦ２をそれぞれ出力する。

出力電圧制御部２３は、スクリーニングテストのシーケンスを制御するコンピュータＰＣに接続されている。電圧制御信号ＶＣおよびイネーブル信号ＥＮは、ラインカード１０のスクリーニングテストを行うテスタであるコンピュータＰＣから出力される。このコンピュータＰＣは、例えばパーソナルコンピュータなどからなる。

トリミング信号ＴＲ１は、ＤＣ／ＤＣコンバータ１８が生成する直流電源の電圧値、すなわち出力電圧を調整する信号である。同様に、トリミング信号ＴＲ２は、ＤＣ／ＤＣコンバータ１９が生成する直流電源の電圧値を調整する信号である。

オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１は、ＤＣ／ＤＣコンバータ１８の動作を制御し、オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ２は、ＤＣ／ＤＣコンバータ１９の動作を制御する。

オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１がアクティブの場合、ＤＣ／ＤＣコンバータ１８は動作状態となる。同様に、オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ２がアクティブの場合、ＤＣ／ＤＣコンバータ１９は動作状態となる。

一方、オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１がインアクティブの場合、ＤＣ／ＤＣコンバータ１８は非動作状態となり、オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ２がインアクティブの場合、ＤＣ／ＤＣコンバータ１９は非動作状態となる。

〈電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２の設定例〉
続いて、図１のラインカード１０におけるスクリーニングテスト時の電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２の設定処理について、図２および図４を用いて説明する。また、スクリーニングテスト時におけるラインカード１０の動作について図３を用いて説明する。

図２は、図１のラインカードにおけるスクリーニングテスト時の電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２の設定処理の一例を示すフローチャートである。図３は、図１のラインカード１０におけるスクリーニングテストの一例を示すフローチャートである。図４は、図２および図３におけるラインカード１０の電源シーケンスの一例を示す説明図である。

スクリーニングテストである電源変動テストでは、定格の電源電圧の範囲内において標準よりも高いもしくは低い、例えば定格ぎりぎりの範囲の電圧をスクリーニング用電源電圧として印加する。

この際の電源変動幅は、例えば３％〜５％程度であるが、ここでは、標準電圧の＋５％程度および−５％程度の電圧をそれぞれスクリーニング用電源電圧とするものとする。

以下、図２〜図４では、スクリーニングテストの一例として、例えば標準電圧よりも５％程度低い電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２を電子デバイス１２〜１６およびＣＰＵ２０にそれぞれ供給してラインカード１０を起動させる電源電圧変動テストの例について示している。

まず、出力電圧制御部２３を起動させて動作状態とする（ステップＳ１０１）。このステップＳ１０１の処理では、電源入力部１１に−４８Ｖ程度の電源電圧が供給されることにより、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７から１２Ｖ程度の直流電源が出力される（ＳＱ１０１）。

ＤＣ／ＤＣコンバータ２２は、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７が生成する１２Ｖ程度の直流電源から電源電圧ＶＤＤ３を生成して出力電圧制御部２３に供給する（ＳＱ１０２）。これによって、出力電圧制御部２３が動作状態となる。

続いて、ＤＣ／ＤＣコンバータ１８が生成する電源電圧ＶＤＤ１の設定処理を行う（ステップＳ１０２）。このステップＳ１０２の設定処理においては、コンピュータＰＣから出力電圧制御部２３に対して電圧制御信号ＶＣおよびイネーブル信号ＥＮがそれぞれ出力される。

前述したように、標準電圧よりも５％低い電源電圧ＶＤＤ１によって起動させるテストが行われるので、コンピュータＰＣからは、電源電圧ＶＤＤ１が４．７５Ｖ程度の電圧レベルとなるように調整される電圧制御信号ＶＣが出力される。

出力電圧制御部２３は、入力された電圧制御信号ＶＣに基づいて、トリミング信号ＴＲ１を生成してＤＣ／ＤＣコンバータ１８に出力する。このとき、出力電圧制御部２３からは、インアクティブのオン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１が出力されている。よって、ＤＣ／ＤＣコンバータ１８は、非動作状態である。これらの処理によって、ステップＳ１０２の設定処理が終了となる。

その後、ＤＣ／ＤＣコンバータ１９が生成する電源電圧ＶＤＤ２の設定処理を行う（ステップＳ１０３）。このステップＳ１０３の設定処理においても、ステップＳ１０２の処理と同様に、コンピュータＰＣから出力電圧制御部２３に対して電圧制御信号ＶＣおよびイネーブル信号ＥＮがそれぞれ出力される。

標準電圧よりも５％低い電源電圧ＶＤＤ２によって起動させるテストが行われるので、コンピュータＰＣからは、電源電圧ＶＤＤ２が２．８５Ｖ程度の電圧レベルとなるように調整される電圧制御信号ＶＣが出力される。

出力電圧制御部２３は、入力された電圧制御信号ＶＣに基づいて、トリミング信号ＴＲ２を生成してＤＣ／ＤＣコンバータ１９に出力する。このとき、出力電圧制御部２３からは、インアクティブのオン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ２が出力されている。よって、ＤＣ／ＤＣコンバータ１９は、非動作状態である。これらの処理によって、ステップＳ１０３の設定処理が終了となる。

〈スクリーニングテスト例〉
続いて、スクリーニングテストの処理例について、図３および図４を用いて説明する。

スクリーニングテストが開始される場合、図２および図４にて説明したように、すでにＤＣ／ＤＣコンバータ１７からは、１２Ｖ程度の直流電源が出力される。

出力電圧制御部２３は、図２のステップＳ１０２，Ｓ１０３の処理において受け取ったイネーブル信号ＥＮの指示に基づいて、まずアクティブのオン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１をＤＣ／ＤＣコンバータ１８に出力する。これにより、ＤＣ／ＤＣコンバータ１８が起動する（ステップＳ２０１）。

ここで、図２のステップＳ１０２の処理において受け取ったイネーブル信号ＥＮは、ラインカード１０が電子デバイス１２〜１４と電子デバイス１５，１６およびＣＰＵ２０とにそれぞれ異なるタイミングにて電源電圧を供給する仕様となっている場合を示している。

また、出力電圧制御部２３からは、ＤＣ／ＤＣコンバータ１８に対してトリミング信号ＴＲ１が出力されている。よって、ＤＣ／ＤＣコンバータ１８は、起動した際にトリミング信号ＴＲ１によって設定された電圧値の直流電源、すなわち４．７５Ｖ程度のスクリーニングテスト用の電源電圧ＶＤＤ１を生成する（ステップＳ２０２）。

これにより、標準電圧よりも５％程度低い、４．７５Ｖ程度の電源電圧ＶＤＤ１がテスト用電源電圧として出力されて（ステップＳ２０３）、電子デバイス１２〜１４にそれぞれ供給される（ＳＱ１０３）。

続いて、出力電圧制御部２３は、図２のステップＳ１０３の処理において受け取ったイネーブル信号ＥＮの指示に基づいて、アクティブのオン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ２をＤＣ／ＤＣコンバータ１９に出力する。これにより、ＤＣ／ＤＣコンバータ１９が起動する（ステップＳ２０４）。

同様に、出力電圧制御部２３からは、ＤＣ／ＤＣコンバータ１９に対してトリミング信号ＴＲ２が出力されている。よって、ＤＣ／ＤＣコンバータ１９は、起動した際にトリミング信号ＴＲ２によって設定された電圧値の直流電源、すなわち２．８５Ｖ程度のスクリーニングテスト用の電源電圧ＶＤＤ２が生成されて（ステップＳ２０５）、該ＤＣ／ＤＣコンバータ１９から出力される（ステップＳ２０６）。これによって、電子デバイス１５，１６およびＣＰＵ２０に２．８５Ｖ程度の電源電圧ＶＤＤ２がそれぞれ供給される（ＳＱ１０４）。

このように、電子デバイス１２〜１４には４．７５Ｖ程度の電源電圧ＶＤＤ１がそれぞれ供給され、電子デバイス１５，１６およびＣＰＵ２０には２．８５Ｖ程度の電源電圧ＶＤＤ２がそれぞれ供給されることにより、ラインカード１０が起動する。

なお、図３では、前述したように、ラインカード１０の仕様によって、電子デバイス１２〜１４と電子デバイス１５，１６およびＣＰＵ２０とにそれぞれ異なるタイミングにて電源電圧を供給する場合を示した。

しかし、電子デバイスなどの電源供給のタイミングが同じでもよい場合には、ステップＳ２０２，Ｓ２０３の処理とステップＳ２０４，Ｓ２０５の処理を並列に処理して、平行して電源電圧ＶＤＤ１と電源電圧ＶＤＤ２とを供給するようにしてもよい。

以上によって、例えば標準電圧よりも５％程度低い電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２をテスト用電源電圧として電子デバイス１２〜１６およびＣＰＵ２０にそれぞれ供給してラインカード１０を起動させる電源電圧変動テストが終了となる。

続いて、標準電圧よりも５％程度高い電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２をテスト用電源電圧として電子デバイス１２〜１６およびＣＰＵ２０にそれぞれ供給して起動させる電源電圧変動テストを行う際には、出力電圧制御部２３が電圧制御信号ＶＣに基づいて、トリミング信号ＴＲ１を生成してＤＣ／ＤＣコンバータ１８に出力する。

トリミング信号ＴＲ１を生成する電圧制御信号ＶＣは、例えば図２のステップＳ１０２の処理において、予め出力電圧制御部２３に出力される。よって、ステップＳ１０２では、コンピュータＰＣから電源電圧ＶＤＤ１が４．７５Ｖ程度であり、電源電圧ＶＤＤ２が２．８５Ｖ程度の電圧レベルとなるように調整される電圧制御信号ＶＣと、電源電圧ＶＤＤ１が５．２５Ｖ程度であり、電源電圧ＶＤＤ２が３．１５Ｖ程度の電圧レベルとなるように調整される電圧制御信号ＶＣとがそれぞれ出力される。

これらの電圧制御信号ＶＣは、例えば出力電圧制御部２３が有する図示しないメモリ部などに格納される。そして、標準電圧よりも５％程度低い電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２によるスクリーニングテストが終了すると、出力電圧制御部２３は、メモリ部から電源電圧ＶＤＤ１が５．２５Ｖ程度であり、電源電圧ＶＤＤ２が３．１５Ｖ程度の電圧レベルとなるように調整される電圧制御信号ＶＣを読み出し、該電圧制御信号ＶＣに基づいて、トリミング信号ＴＲ１，ＴＲ２を生成する。

その後、図３と同様の処理を行うことによって、標準電圧よりも５％程度高い電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２による電源電圧変動テストを行うことができる。

以上により、電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２を変動させた状態にてラインカード１０を起動させるスクリーニングテストを行うことができる。

これにより、効率的にラインカード１０のスクリーニングを行うことができる。また、潜在的な欠陥を有するラインカード１０を検出する確率が高くなり、ラインカード１０における信頼性を向上させることができる。

（実施の形態２）
〈概略〉
前記実施の形態１では、ＤＣ／ＣＤコンバータ１８，１９にオン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１，ＯＮ／ＯＦＦ２に基づいて動作制御を行う機能がそれぞれ設けられていたが、本実施の形態２においては、該オン／オフ信号に基づく動作制御の機能を有していない場合について説明する。

〈ラインカードの構成例および動作〉
図５は、本実施の形態２によるラインカード１０における構成の一例を示す説明図である。

図５のラインカード１０が前記実施の形態１の図１のラインカード１０と異なるところは、スクリーニングテスト部２１の構成である。また、上記したように、ＤＣ／ＤＣコンバータ１８，１９には、オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１，ＯＮ／ＯＦＦ２に基づく動作制御を行う機能が設けられていない。

スクリーニングテスト部２１は、ＤＣ／ＤＣコンバータ２２、および出力電圧制御部２３からなる図１と同様の構成に、電源供給制御部２４が新たに設けられた構成からなる。電源供給制御部２４には、出力電圧制御部２３から出力されるオン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１，ＯＮ／ＯＦＦ２がそれぞれ入力される。

この電源供給制御部２４は、例えばトランジスタなどのスイッチング素子からなり、オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１がアクティブとなると、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７が生成する直流電源をＤＣ／ＤＣコンバータ１８に供給する。

また、オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ２がアクティブとなると、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７が生成する直流電源をＤＣ／ＤＣコンバータ１９に供給する。さらに、オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１，ＯＮ／ＯＦＦ２がそれぞれインアクティブとなると、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７の直流電源の供給をそれぞれ停止する。すなわち、ＤＣ／ＤＣコンバータ１８，１９の動作が停止する。

〈電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２の設定例〉
図５のラインカード１０におけるスクリーニングテスト時の電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２の設定処理は、前記実施の形態１の図２と同様である。

異なるところは、図２のステップＳ１０２の処理において、出力電圧制御部２３から出力されるインアクティブのオン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１が電源供給制御部２４に入力される点である。これにより、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７の直流電源がＤＣ／ＤＣコンバータ１８に供給されず、該ＤＣ／ＤＣコンバータ１８が非動作状態となる。

さらに、図２のステップＳ１０３の処理において、出力電圧制御部２３から出力されるインアクティブのオン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ２が電源供給制御部２４に入力される点である。これにより、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７の直流電源がＤＣ／ＤＣコンバータ１９に供給されず、該ＤＣ／ＤＣコンバータ１９が非動作状態となる。

〈スクリーニングテスト例〉
また、スクリーニングテストの処理については、図３のステップＳ２０１の処理にて、出力電圧制御部２３から出力されたアクティブのオン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１が電源供給制御部２４に入力される点である。これによって、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７の直流電源がＤＣ／ＤＣコンバータ１８に供給されて、該ＤＣ／ＤＣコンバータ１８が起動して動作を開始する。

さらに、図３のステップＳ２０４の処理にて、出力電圧制御部２３から出力されたアクティブのオン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ２が電源供給制御部２４に入力される点である。これによって、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７の直流電源がＤＣ／ＤＣコンバータ１９に供給されて、該ＤＣ／ＤＣコンバータ１９が起動して動作を開始する。

その他の処理については、前記実施の形態１の図２〜図４と同様であるので説明は省略する。

以上により、電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２を変動させた状態にてラインカード１０を起動させるスクリーニングテストを行うことができる。

これにより、効率的にラインカード１０のスクリーニングを行うことができる。また、潜在的な欠陥を有するラインカード１０を検出する確率が高くなり、ラインカード１０における信頼性を向上させることができる。

また、オン／オフ信号ＯＮ／ＯＦＦ１，ＯＮ／ＯＦＦ２による動作制御の機能を有していないＤＣ／ＤＣコンバータにも対応することができる。

（実施の形態３）
〈概略〉
本実施の形態３では、外部接続されたコンピュータＰＣではなく、ＣＰＵ２０によって電圧制御信号ＶＣおよびイネーブル信号ＥＮを生成する技術について記載する。

〈ラインカードの構成例および動作〉
図６は、本実施の形態３によるラインカード１０における構成の一例を示す説明図である。

図６のラインカード１０が前記実施の形態１の図１のラインカード１０と異なるところは、スクリーニングテスト部２１の構成である。この場合、スクリーニングテスト部２１は、ＤＣ／ＤＣコンバータ２２、および出力電圧制御部２３からなる図１と同様の構成に、ＣＰＵ２０およびメモリ２５が設けられた構成からなる。

図６に示すＣＰＵ２０は、図１のＣＰＵ２０と同じである。しかし、図６のＣＰＵ２０は、ラインカード１０における動作制御を司るだけではなく、スクリーニングテスト部としても構成され、イネーブル信号ＥＮおよび電圧制御信号ＶＣを生成する。

このＣＰＵ２０においては、ＤＣ／ＤＣコンバータ２２が生成する電源電圧ＶＤＤ３が供給される構成となっている。よって、ＣＰＵ２０は、ＤＣ／ＤＣコンバータ２２から出力される電源電圧ＶＤＤ３を動作電源とする。

ＣＰＵ２０には、メモリ２５が接続されている。メモリ２５は、フラッシュメモリに例示される不揮発性メモリなどからなる。このメモリ２５には、テスト情報が格納されている。テスト情報は、例えばスクリーニングテストにおけるテスト情報であり、例えばスクリーニング用電源電圧の電圧値やテストシーケンスのタイミングなどの情報からなる。

ＣＰＵ２０は、メモリ２５に格納されているテスト情報に基づいて、イネーブル信号ＥＮおよび電圧制御信号ＶＣをそれぞれ生成して出力電圧制御部２３に出力する。前記実施の形態１では、イネーブル信号ＥＮおよび電圧制御信号ＶＣを外部接続されるコンピュータＰＣが生成して出力電圧制御部２３に出力する構成としていたが、図６のラインカード１０では、イネーブル信号ＥＮおよび電圧制御信号ＶＣをＣＰＵ２０が生成するものとする。

また、ＣＰＵ２０によってイネーブル信号ＥＮおよび電圧制御信号ＶＣを生成するために、ＤＣ／ＤＣコンバータ２２が生成した電源電圧ＶＤＤ３によって動作する構成とした。

〈電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２の設定例〉
まず、ＤＣ／ＤＣコンバータ２２は、ＤＣ／ＤＣコンバータ１７から出力される１２Ｖ程度の直流電源から電源電圧ＶＤＤ３を生成してＣＰＵ２０および出力電圧制御部２３にそれぞれ供給する。これによって、ＣＰＵ２０および出力電圧制御部２３がそれぞれ起動して動作状態となる。

その後、ＣＰＵ２０は、メモリ２５に格納されているテスト情報を読み出し、該テスト情報に基づいて、電圧制御信号ＶＣおよびイネーブル信号ＥＮをそれぞれ生成して出力電圧制御部２３に出力する。

以下、出力電圧制御部２３は、入力された電圧制御信号ＶＣおよびイネーブル信号ＥＮに基づいて、スクリーニング用電源電圧を生成してスクリーニングテストを実行する。これらの処理については、電圧制御信号ＶＣおよびイネーブル信号ＥＮがＣＰＵ２０からそれぞれ出力される点以外は、前記実施の形態１の図２におけるステップＳ１０２，Ｓ１０３および図３のＳ２０１〜Ｓ２０６の処理と同様となる。

以上によっても、電源電圧ＶＤＤ１，ＶＤＤ２を変動させた状態にてラインカード１０を起動させるスクリーニングテストを行うことができ、ラインカード１０における信頼性を向上させることができる。

以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。

例えば、前記実施の形態１〜３では、電子機器の一例としてラインカードの例を示したが、該ラインカード以外の電子機器であっても適用可能である。その場合、電子機器は、電子デバイス、およびそれら電子デバイスに供給するＤＣ／ＤＣコンバータなどの電源部を有するものであればよい。そして、電子機器に前記実施の形態１〜３にて示したスクリーニングテスト部を設けることによって、該電子機器の起動時における電源電圧変動テストを実施することができる。

なお、本発明は上記した実施の形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施の形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。

また、ある実施の形態の構成の一部を他の実施の形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施の形態の構成に他の実施の形態の構成を加えることも可能である。また、各実施の形態の構成の一部について、他の構成の追加、削除、置換をすることが可能である。

１０ ラインカード
１１ 電源入力部
１２ 電子デバイス
１３ 電子デバイス
１４ 電子デバイス
１５ 電子デバイス
１６ 電子デバイス
１７ ＤＣ／ＤＣコンバータ
１８ ＤＣ／ＤＣコンバータ
１９ ＤＣ／ＤＣコンバータ
２０ ＣＰＵ
２１ スクリーニングテスト部
２２ ＤＣ／ＤＣコンバータ
２３ 出力電圧制御部
２４ 電源供給制御部
２５ メモリ

Claims (11)

1. 電子デバイスと、
   前記電子デバイスに第１の電源電圧を供給する第１の電源部と、
   電圧調整信号および動作制御信号をそれぞれ生成し、スクリーニングテストの際に前記電子デバイスに供給するテスト用電源電圧の電圧レベルを設定する電圧調整部と、
   を有し、
   前記第１の電源部は、前記電圧調整部が生成する前記動作制御信号に基づいて動作が制御され、前記電圧調整部が生成する前記電圧調整信号に見合った電圧レベルの前記第１の電源電圧を生成して、生成した前記第１の電源電圧を前記テスト用電源電圧として前記電子デバイスに供給し、
   前記電圧調整部は、前記動作制御信号によって前記第１の電源部の動作を停止させた後、前記電圧調整信号を前記第１の電源部に出力しながら前記第１の電源部を起動させる、電子機器。
2. 請求項１記載の電子機器において、
   前記電圧調整部は、前記電圧調整信号を外部から入力される電圧制御信号に基づいて生成し、
   前記電圧制御信号は、前記電子機器のスクリーニングテストを行うテスタから出力される、電子機器。
3. 請求項１記載の電子機器において、
   前記電圧調整部は、電圧制御信号を格納するメモリ部を有し、
   前記電圧調整部は、前記電圧調整信号を前記メモリ部に格納される前記電圧制御信号に基づいて生成する、電子機器。
4. 請求項１記載の電子機器において、
   前記電圧調整部が生成する前記動作制御信号に基づいて動作が制御され、前記電子デバイスに前記第１の電源電圧と異なる電圧レベルの第２の電源電圧を供給する第２の電源部を有し、
   前記電圧調整部は、前記第１の電源電圧と前記第２の電源電圧とがそれぞれ異なるタイミングにて出力されるように前記第１の電源部および前記第２の電源部をそれぞれ起動させる、電子機器。
5. 電子デバイスと、
   前記電子デバイスに第１の電源電圧を供給する第１の電源部と、
   電圧調整信号を生成し、スクリーニングテストの際に前記電子デバイスに供給するテスト用電源電圧の電圧レベルを設定する電圧調整部と、
   を有し、
   前記第１の電源部は、前記電圧調整部が生成する動作制御信号に基づいて動作が制御され、前記電圧調整部が生成する前記電圧調整信号に見合った電圧レベルの前記第１の電源電圧を生成して、生成した前記第１の電源電圧を前記テスト用電源電圧として前記電子デバイスに供給し、
   前記電圧調整部は、前記第１の電源部に入力される入力電源電圧の供給を停止させた後、前記電圧調整信号を前記第１の電源部に出力しながら前記第１の電源部に前記入力電源電圧を入力する、電子機器。
6. 請求項５記載の電子機器において、
   前記電圧調整部は、前記電圧調整信号を外部から入力される電圧制御信号に基づいて生成し、
   前記電圧制御信号は、前記電子機器のスクリーニングテストを行うテスタから出力される、電子機器。
7. 請求項５記載の電子機器において、
   前記電圧調整部が生成する前記動作制御信号に基づいて動作が制御され、前記第１の電源電圧と異なる電圧レベルからなる第２の電源電圧を生成する第２の電源部を有し、
   前記電圧調整部は、前記第１の電源電圧と前記第２の電源電圧とがそれぞれ異なるタイミングにて出力されるように前記第１の電源部および前記第２の電源部に前記入力電源電圧をそれぞれ入力する、電子機器。
8. 請求項５記載の電子機器において、
   前記電圧調整部は、電圧制御信号を格納するメモリ部を有し、
   前記電圧調整部は、前記電圧調整信号を前記メモリ部に格納される前記電圧制御信号に基づいて生成する、電子機器。
9. 電子デバイスと、電圧調整信号に見合った電圧レベルの第１の電源電圧を生成して前記電子デバイスに供給する第１の電源部と、を有する電子機器のテスト方法であって、
   前記第１の電源部の動作を停止させるステップと、
   前記電圧調整信号を前記第１の電源部に入力しながら前記第１の電源部を起動させるステップと、
   前記第１の電源部が生成した前記第１の電源電圧をテスト用電源電圧として前記電子デバイスに供給するステップと、
   を有する、電子機器のテスト方法。
10. 請求項９記載の電子機器のテスト方法において、
    前記電子機器は、前記電子デバイスに前記第１の電源電圧と異なる電圧レベルの第２の電源電圧を供給する第２の電源部を有し、
    前記第２の電源部の動作を停止させるステップと、
    前記電圧調整信号を前記第２の電源部に入力しながら前記第２の電源部を起動させるステップと、
    前記第２の電源部が生成した前記第２の電源電圧をテスト用電源電圧として前記電子デバイスに供給するステップと、
    を有する、電子機器のテスト方法。
11. 請求項１０記載の電子機器のテスト方法において、
    前記第１の電源部を起動させるステップと前記第２の電源部を起動させるステップとは、それぞれ異なるタイミングである、電子機器のテスト方法。

Images