JP2017046276A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017046276A5 JP2017046276A5 JP2015168893A JP2015168893A JP2017046276A5 JP 2017046276 A5 JP2017046276 A5 JP 2017046276A5 JP 2015168893 A JP2015168893 A JP 2015168893A JP 2015168893 A JP2015168893 A JP 2015168893A JP 2017046276 A5 JP2017046276 A5 JP 2017046276A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- node
- potential
- functional module
- power switch
- semiconductor device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 16
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 10
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims 5
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims 5
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2015168893A JP6674699B2 (ja) | 2015-08-28 | 2015-08-28 | 半導体装置 |
| US15/216,883 US10211620B2 (en) | 2015-08-28 | 2016-07-22 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2015168893A JP6674699B2 (ja) | 2015-08-28 | 2015-08-28 | 半導体装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017046276A JP2017046276A (ja) | 2017-03-02 |
| JP2017046276A5 true JP2017046276A5 (enExample) | 2018-07-05 |
| JP6674699B2 JP6674699B2 (ja) | 2020-04-01 |
Family
ID=58096960
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2015168893A Active JP6674699B2 (ja) | 2015-08-28 | 2015-08-28 | 半導体装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10211620B2 (enExample) |
| JP (1) | JP6674699B2 (enExample) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6674699B2 (ja) * | 2015-08-28 | 2020-04-01 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
| JP6712811B2 (ja) * | 2015-09-28 | 2020-06-24 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 検出回路、及び管理装置 |
| KR102336181B1 (ko) * | 2017-06-07 | 2021-12-07 | 삼성전자주식회사 | 누설 전류 측정 회로, 이를 포함하는 집적 회로 및 시스템 |
| JP2019003588A (ja) * | 2017-06-12 | 2019-01-10 | 正仁 櫨田 | Cpuチップ上のコア・ブロックの1個が動作していなかったり、コア・ブロック内のトランジスターが熱崩壊をして異常な消費電流値を示してコア・ブロックが熱破壊した場合等に、cpuのコア・ブロックの今現在の全部の状態をレジスター群に保存してcpuのコア・ブロック自体へのシステム・クロックの供給や電力供給を停止してcpu自体の発熱や消費電力を抑え、cpuの動作を元の状態に復元してプログラムを再実行する時には、外部割込みに依り、cpuのコア・ブロックにシステム・クロックを再供給してレジスター群から情報を読み込んでcpuの状態を戻して、システム・クロックに従ってプログラム・カウンターの値から、メモリー上のプログラムを再起動する方法。 |
| US10215795B1 (en) * | 2018-04-13 | 2019-02-26 | Infineon Technologies Ag | Three level gate monitoring |
| CN111506180A (zh) * | 2020-03-16 | 2020-08-07 | 广州视源电子科技股份有限公司 | 电源控制方法、装置、存储介质以及终端 |
| CN113268132B (zh) * | 2021-05-19 | 2024-09-20 | 维沃移动通信有限公司 | 供电控制方法、装置和电子设备 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4434510B2 (ja) | 2001-03-16 | 2010-03-17 | 株式会社東芝 | 絶縁ゲート型半導体素子の故障検出方法および故障検出装置 |
| JP6674699B2 (ja) * | 2015-08-28 | 2020-04-01 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
-
2015
- 2015-08-28 JP JP2015168893A patent/JP6674699B2/ja active Active
-
2016
- 2016-07-22 US US15/216,883 patent/US10211620B2/en active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2017046276A5 (enExample) | ||
| US9041422B2 (en) | Circuit arrangement with a plurality of on-chip monitor circuits and a control circuit and corresponding methods | |
| US20150115852A1 (en) | Over-current protection circuit and motor driving device | |
| US10401399B2 (en) | Low-power voltage detection circuit | |
| JP2017533529A5 (enExample) | ||
| US7890283B2 (en) | Malfunction detection system and integrated circuit | |
| TWI661631B (zh) | 電池保護裝置與其操作方法 | |
| JP5987819B2 (ja) | 電源装置 | |
| JP2016021536A (ja) | 静電気保護回路 | |
| CN104579266A (zh) | 一种电路系统及其上电复位的方法 | |
| JP5163211B2 (ja) | リセット回路および電源制御用半導体集積回路 | |
| US9639410B2 (en) | Load-control backup signal generation circuit | |
| US20140240884A1 (en) | Over current protection circuit | |
| US9563493B2 (en) | Load-control backup signal generation circuit | |
| JP6327099B2 (ja) | 半導体装置 | |
| US9059685B2 (en) | Circuit and method for pulse width measurement | |
| JP6068310B2 (ja) | 異常検出保護回路および異常検出保護回路の制御方法 | |
| JP4618149B2 (ja) | ハイサイド駆動回路 | |
| US10536141B2 (en) | Semiconductor device | |
| JP6172040B2 (ja) | 電子制御装置 | |
| JP5857562B2 (ja) | 温度検出回路 | |
| JP2009053891A (ja) | 熱感知器 | |
| JP5910693B1 (ja) | 停電検知回路 | |
| JP7758623B2 (ja) | 半導体装置及び故障検出方法 | |
| JP5181761B2 (ja) | リセット回路および電源制御用半導体集積回路 |