JP2017044708A - 滞留時間の決定または確認のための窓処理質量分析データの使用 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】試料を分離する走査が、複数の間隔の各間隔において、質量分析計によって受信される。分光計は、各間隔において、1回以上の質量分析走査を行う。走査は、各間隔において、質量範囲全体に及ぶために、1つ以上の順次質量窓幅を有し、複数の間隔の間の質量範囲全体に対するスペクトル集合を生成する。スペクトル集合内の1つ以上の異なる間隔における1つ以上のピークが、断片イオンに対して同定される。質量範囲全体の質量スペクトルは、各ピークの各間隔に対して読み出される。各ピークに対応する質量スペクトル内の質量電荷比ピークの1つ以上のイオン特性に対する値は、断片イオンに対する1つ以上の既知の値と比較される。各ピークは、比較に基づいてスコア化される。
【選択図】図3
Description
本出願は、2011年12月29日に出願された米国仮特許出願第61/581,423号の利益を主張する。上記文献の内容は、本明細書においてその全体として参照することによって援用される。
質量分析計は、多くの場合、溶出着目化合物を試料から同定および特性評価するために、クロマトグラフィまたは他の分離システムと連結される。そのような連結されたシステムでは、溶出溶媒は、イオン化され、一連の質量スペクトルは、規定された時間間隔において、溶出溶媒から取得される。これらの時間間隔は、例えば、1秒から100分以上に及ぶ。一連の質量スペクトルは、クロマトグラムを形成する。
本願明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
(項目1)
スペクトル集合から、既知の着目化合物のピークをスコア化するためのシステムであって、
1つ以上の化合物を試料混合物から分離する分離デバイスと、
質量範囲全体に及ぶために、1つ以上の順次質量窓幅を使用して、複数の間隔の各間隔において、分離試料混合物に1回以上の質量分析走査を行い、前記複数の間隔の間の質量範囲全体に対するスペクトル集合を生成する質量分析計と、
プロセッサと
を備え、
前記プロセッサは、
(a)既知の化合物の断片イオンを選択することと、
(b)前記スペクトル集合内の複数の間隔の1つ以上の異なる間隔において、前記断片イオンに対して、1つ以上のピークを同定することと、
(c)前記スペクトル集合から、各ピークの各間隔に対する前記質量範囲全体の質量スペクトルを取得し、前記各ピークに対応する質量スペクトル内の質量電荷比ピークの1つ以上のイオン特性の値を、前記断片イオンに対する1つ以上の既知の値と比較し、前記比較の結果を前記各ピークのスコアの基礎とすることによって、前記1つ以上のピークの各ピークをスコア化することと
を行う、システム。
(項目2)
前記複数の間隔は、複数の間隔を含む、項目1に記載のシステム。
(項目3)
前記複数の間隔は、複数のイオン移動度を含む、項目1に記載のシステム。
(項目4)
前記1つ以上のイオン特性は、電荷状態を含む、項目1に記載のシステム。
(項目5)
前記1つ以上のイオン特性は、等方性状態を含む、項目1に記載のシステム。
(項目6)
前記1つ以上のイオン特性は、質量精度を含む、項目1に記載のシステム。
(項目7)
前記1つ以上のイオン特性は、前記既知の化合物の既知の断片化プロファイルと関連付けられる1つ以上の質量差を含む、項目1に記載のシステム。
(項目8)
前記プロセッサはさらに、前記1つ以上のピークのスコアに基づいて、前記既知の化合物の分離間隔を同定する、項目1に記載のシステム。
(項目9)
前記分離間隔は、滞留時間を含む、項目8に記載のシステム。
(項目10)
前記分離間隔は、イオン移動度を含む、項目8に記載のシステム。
(項目11)
前記プロセッサは、最高スコアを伴う前記1つ以上のピークのピークの間隔として、前記既知の化合物の分離間隔を同定する、項目8に記載のシステム。
(項目12)
前記プロセッサはさらに、
前記既知の化合物の1つ以上の付加的断片イオンに対して、ステップ(a)〜(c)を行い、前記既知の化合物の2つ以上の断片イオンのピークに対するスコアを生成することと、
前記複数の間隔の2つ以上の異なる間隔を同定することであって、前記2つ以上の断片イオンの各断片イオンは、前記スペクトル集合内にピークを有する、ことと、
前記2つ以上の異なる間隔のそれぞれにおける前記2つ以上の断片イオンからのピークのスコアを組み合わせ、前記2つ以上の間隔のそれぞれの間の組み合わせられたスコアを生成ことと、
前記既知の化合物に対する分離間隔として、最高スコアを伴う前記2つ以上の異なる間隔の間隔を同定することと
を行う、項目1に記載のシステム。
(項目13)
前記分離間隔における前記スペクトル集合からの質量範囲全体の質量スペクトルは、前記既知の化合物の定量化のために使用される、項目12に記載のシステム。
(項目14)
前記分離間隔における前記スペクトル集合からの質量範囲全体の質量スペクトルは、前記既知の化合物の修飾形態を特定するために使用される、項目12に記載のシステム。
(項目15)
スペクトル集合から、既知の着目化合物のピークをスコア化するための方法であって、
質量範囲全体に対するスペクトル集合を取得することであって、1つ以上の化合物は、分離デバイスを使用して、試料混合物から分離され、1回以上の質量分析走査が、質量範囲全体に及ぶために、1つ以上の順次質量窓幅を使用して、複数の間隔の各間隔において、分離試料混合物に行われ、質量分析計を使用して、前記複数の間隔の間、前記質量範囲全体に対するスペクトル集合を生成する、ことと、
既知の化合物の断片イオンを選択することと、
前記スペクトル集合内の複数の間隔の1つ以上の異なる間隔において、前記断片イオンに対して、1つ以上のピークを同定することと、
前記スペクトル集合から、各ピークの各間隔に対する質量範囲全体の質量スペクトルを取得し、前記各ピークに対応する質量スペクトル内の質量電荷比ピークの1つ以上のイオン特性の値を、前記断片イオンに対する1つ以上の既知の値と比較し、前記比較の結果を前記各ピークのスコアの基礎とすることによって、前記1つ以上のピークの各ピークをスコア化することと
を含む、方法。
(項目16)
非一過性および有形コンピュータ可読記憶媒体を備えるコンピュータプログラム製品であって、前記非一過性および有形コンピュータ可読記憶媒体のコンテンツが、スペクトル集合から、既知の着目化合物のピークをスコア化するための方法を行うように、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含み、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを備え、前記個別のソフトウェアモジュールは、測定モジュールおよび分析モジュールを備える、ことと、
前記測定モジュールを使用して、質量範囲全体に対するスペクトル集合を取得することであって、1つ以上の化合物は、分離デバイスを使用して、試料混合物から分離され、1回以上の質量分析走査が、質量範囲全体に及ぶために、1つ以上の順次質量窓幅を使用して、複数の間隔の各間隔において、前記分離試料混合物に行われ、質量分析計を使用して、前記複数の間隔の間、前記質量範囲全体に対するスペクトル集合を生成する、ことと、
前記分析モジュールを使用して、既知の化合物の断片イオンを選択することと、
前記分析モジュールを使用して、前記スペクトル集合内の複数の間隔の1つ以上の異なる間隔において、前記断片イオンに対して、1つ以上のピークを同定することと、
前記スペクトル集合から、各ピークの各間隔に対する質量範囲全体の質量スペクトルを取得し、前記各ピークに対応する質量スペクトル内の質量電荷比ピークの1つ以上のイオン特性の値を、前記断片イオンに対する1つ以上の既知の値と比較し、前記比較の結果を前記各ピークのスコアの基礎とすることによって、前記分析モジュールを使用して、前記1つ以上のピークの各ピークをスコア化することと
を含む、コンピュータプログラム製品。
図1は、本教示の実施形態が実装され得る、コンピュータシステム100を図示する、ブロック図である。コンピュータシステム100は、情報を通信するためのバス102または他の通信機構と、情報を処理するためのバス102と連結される、プロセッサ104とを含む。コンピュータシステム100はまた、プロセッサ104によって実行されるべき命令を記憶するために、バス102に連結される、ランダムアクセスメモリ(RAM)または他の動的記憶デバイスであり得る、メモリ106を含む。メモリ106はまた、プロセッサ104によって実行されるべき命令の実行の間、一時的変数または他の中間情報を記憶するために使用されてもよい。コンピュータシステム100はさらに、プロセッサ104のための静的情報および命令を記憶するために、バス102に連結される、読取専用メモリ(ROM)108または他の静的記憶デバイスを含む。磁気ディスクまたは光ディスク等の記憶デバイス110は、情報および命令を記憶するために提供され、バス102に連結される。
前述のように、分離システムと連結された質量分析計は、試料から分離する着目化合物を同定および特性評価するために使用される。分離試料は、イオン化され、試料に対する一連の質量スペクトルが、規定された間隔において取得される。クロマトグラフシステムでは、経時的に収集される一連のスペクトルは、例えば、クロマトグラムと呼ばれる。任意の分離デバイスまたはシステムに対して、分離システムのいくつかの間隔にわたって収集される一連のスペクトルは、本明細書では、スペクトル集合と称される。
分離連結質量分析システム
図2は、種々の実施形態による、スペクトル集合から、既知の着目化合物のピークをスコア化するためのシステム200を示す、概略図である。システム200は、分離デバイス210、質量分析計220、およびプロセッサ230を含む。分離デバイス210は、1つ以上の化合物を試料混合物から分離する。分離デバイス210として、限定ではないが、電気泳動デバイス、クロマトグラフデバイス、または移動支援デバイスが挙げられ得る。
図3は、種々の実施形態による、スペクトル集合から、既知の着目化合物のピークをスコア化するための方法300を示す、例示的流れ図である。
種々の実施形態では、コンピュータプログラム製品は、そのコンテンツが、スペクトル集合から、既知の着目化合物のピークをスコア化するための方法を行うように、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含む、非一過性および有形コンピュータ可読記憶媒体を含む。本方法は、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを含むシステムによって行われる。
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Families Citing this family (24)
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JP6362611B2 (ja) * | 2012-11-15 | 2018-07-25 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 前駆体イオン情報を使用することなくms/msデータから化合物を同定するシステムおよび方法 |
US10141169B2 (en) | 2012-11-15 | 2018-11-27 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Systems and methods for identifying compounds from MS/MS data without precursor ion information |
WO2015056066A1 (en) * | 2013-10-16 | 2015-04-23 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Systems and methods for identifying precursor ions from product ions using arbitrary transmission windowing |
EP3058582B1 (en) | 2013-10-16 | 2023-09-06 | DH Technologies Development PTE. Ltd. | Systems and methods for arbitrary quadrupole transmission windowing |
US10041907B2 (en) * | 2014-09-26 | 2018-08-07 | Micromass Uk Limited | Accurate mobility chromatograms |
WO2016075565A1 (en) * | 2014-11-13 | 2016-05-19 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Determining the identity of modified compounds |
WO2016125059A1 (en) * | 2015-02-05 | 2016-08-11 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Interference detection and peak of interest deconvolution |
CA2976165A1 (en) * | 2015-02-05 | 2016-08-11 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Detecting mass spectrometry based similarity via curve subtraction |
WO2016142863A1 (en) * | 2015-03-11 | 2016-09-15 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Method of increasing quality of tandem mass spectra |
EP3304382A4 (en) | 2015-05-29 | 2019-07-17 | Waters Technologies Corporation | TECHNIQUES FOR PROCESSING SPECTRAL MASS DATA |
CN109643633B (zh) * | 2016-08-10 | 2021-09-14 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 自动化质谱库保留时间校正 |
US11183376B2 (en) * | 2016-11-23 | 2021-11-23 | Atonarp Inc. | System and method for determining set of mass to charge ratios for set of gases |
US11474087B2 (en) * | 2016-12-20 | 2022-10-18 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Automated expected retention time and optimal expected retention time window detection |
GB2559395B (en) | 2017-02-03 | 2020-07-01 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | High resolution MS1 based quantification |
EP3410463B1 (en) | 2017-06-02 | 2021-07-28 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) GmbH | Hybrid mass spectrometer |
US11709156B2 (en) | 2017-09-18 | 2023-07-25 | Waters Technologies Corporation | Use of vapor deposition coated flow paths for improved analytical analysis |
US11709155B2 (en) | 2017-09-18 | 2023-07-25 | Waters Technologies Corporation | Use of vapor deposition coated flow paths for improved chromatography of metal interacting analytes |
EP3740964A4 (en) * | 2018-01-17 | 2021-10-06 | DH Technologies Development Pte. Ltd. | DM SWATH COLLECTION TO IMPROVE MSMS CONFIDENCE |
WO2020044161A1 (en) | 2018-08-31 | 2020-03-05 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Identification and scoring of related compounds in complex samples |
EP3942593A4 (en) * | 2019-03-22 | 2023-01-11 | DH Technologies Development Pte. Ltd. | DETERMINING THE ELUTION OF AGNOSTIC COMPOUNDS |
US20200335315A1 (en) * | 2019-04-22 | 2020-10-22 | Amit, Inc. | Method for generating data set for training a prediction model and apparatus comprising the prediciton model |
US20220189754A1 (en) * | 2019-05-31 | 2022-06-16 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Method for Real Time Encoding of Scanning SWATH Data and Probabilistic Framework for Precursor Inference |
EP3840014A1 (en) * | 2019-12-17 | 2021-06-23 | F. Hoffmann-La Roche AG | Automated method for maintaining a clinical diagnostics system |
US11918936B2 (en) | 2020-01-17 | 2024-03-05 | Waters Technologies Corporation | Performance and dynamic range for oligonucleotide bioanalysis through reduction of non specific binding |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011034981A (ja) * | 2010-11-05 | 2011-02-17 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム |
JP2011216425A (ja) * | 2010-04-02 | 2011-10-27 | Shimadzu Corp | Ms/ms型質量分析装置 |
JP2011242255A (ja) * | 2010-05-18 | 2011-12-01 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4142869C1 (ja) * | 1991-12-23 | 1993-05-19 | Bruker - Franzen Analytik Gmbh, 2800 Bremen, De | |
JPH05258713A (ja) | 1992-03-11 | 1993-10-08 | Hitachi Ltd | 質量分析計 |
JPH0817391A (ja) * | 1994-06-28 | 1996-01-19 | Hitachi Ltd | 質量スペクトル解析法 |
EP2385543B1 (en) * | 2003-01-24 | 2013-05-08 | Thermo Finnigan Llc | Controlling ion populations in a mass analyzer |
US7473892B2 (en) * | 2003-08-13 | 2009-01-06 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometer system |
WO2005079263A2 (en) * | 2004-02-13 | 2005-09-01 | Waters Investments Limited | Apparatus and method for identifying peaks in liquid chromatography/mass spectrometry data and for forming spectra and chromatograms |
US7488935B2 (en) * | 2005-06-24 | 2009-02-10 | Agilent Technologies, Inc. | Apparatus and method for processing of mass spectrometry data |
US7417223B2 (en) | 2005-10-28 | 2008-08-26 | Mds Inc. | Method, system and computer software product for specific identification of reaction pairs associated by specific neutral differences |
WO2008008919A2 (en) * | 2006-07-12 | 2008-01-17 | Applera Corporation | Methods and systems for sequence-based design of multiple reaction monitoring transitions and experiments |
US8304719B2 (en) * | 2009-02-22 | 2012-11-06 | Xin Wang | Precise and thorough background subtraction |
GB2471155B (en) * | 2009-05-06 | 2016-04-20 | Agilent Technologies Inc | Data dependent acquisition system for mass spectrometery and methods of use |
US8935101B2 (en) * | 2010-12-16 | 2015-01-13 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for correlating precursor and product ions in all-ions fragmentation experiments |
CN102081703A (zh) * | 2011-01-12 | 2011-06-01 | 广西工学院 | 多变量体系中的纯信号分析方法 |
-
2012
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- 2012-12-15 CN CN201611153278.8A patent/CN107066789B/zh active Active
- 2012-12-15 EP EP12863233.8A patent/EP2798664B1/en active Active
- 2012-12-15 CA CA2862255A patent/CA2862255A1/en not_active Abandoned
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2016
- 2016-04-13 US US15/098,197 patent/US9791424B2/en active Active
- 2016-11-24 JP JP2016227513A patent/JP6494588B2/ja active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011216425A (ja) * | 2010-04-02 | 2011-10-27 | Shimadzu Corp | Ms/ms型質量分析装置 |
JP2011242255A (ja) * | 2010-05-18 | 2011-12-01 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
JP2011034981A (ja) * | 2010-11-05 | 2011-02-17 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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