JP5986105B2 - 依存的質量分析走査をトリガするための方法 - Google Patents
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Description
本願は、2010年12月29日に出願された米国仮特許出願第61/427,860号の利益を主張し、この米国仮特許出願は、その全体が本明細書中に参考として援用される。
質量分析計は、多くの場合、試験試料から溶出種を同定し、特性評価するために、クロマトグラフィシステムと連結される。そのような連結されたシステムでは、溶出溶媒は、イオン化され、溶出溶媒の一連の質量スペクトル画像が、規定された時間間隔において、取得され、質量スペクトログラムを生成する。これらの時間間隔は、例えば、1秒から100分以上に及ぶ。試験試料は、多くの種または化合物を含有してもよいため、多くの場合、それらが溶出するにつれて、自動的に、着目種または化合物を判定あるいは同定し、かつタンデム型質量分析、すなわち、それらを特性評価するための分析である、MS/MS法を行うことが可能であることが望ましい。しかしながら、複合混合物中の着目種をリアルタイムで同定することは、困難なタスクであり得る。
ある時間周期にわたって、1つ以上の化合物を試料混合物から分離する、分離デバイスと、
前記時間周期の複数の時間間隔において、分離試料混合物に関して、質量分析走査を行う、質量分析計と、
プロセッサであって、
前記複数の時間間隔の各時間間隔において、前記質量分析計から、各質量分析走査を受信することと、
前記複数の時間間隔のある時間間隔において、前記時間間隔において受信した質量分析走査と、1つ以上の先行して受信した質量分析走査とが、既知の化合物の2つ以上の断片イオン遷移を表す、2つ以上の時変イオン信号を含むことを判定することと、
前記2つ以上の時変イオン信号の特性が、選択基準に一致する場合、前記質量分析計に、前記時間間隔において、前記既知の化合物の前駆体イオンのための前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行うように命令することと
を行うプロセッサと
を含む、システムが提供される。
本明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
(項目1)
リアルタイムで情報依存的質量分析走査をトリガするためのシステムであって、
ある時間周期にわたって、1つ以上の化合物を試料混合物から分離する、分離デバイスと、
前記時間周期の複数の時間間隔において、分離試料混合物に関して、質量分析走査を行う、質量分析計と、
プロセッサであって、
前記複数の時間間隔の各時間間隔において、前記質量分析計から、各質量分析走査を受信することと、
前記複数の時間間隔のある時間間隔において、前記時間間隔において受信した質量分析走査と、1つ以上の先行して受信した質量分析走査とが、既知の化合物の2つ以上の断片イオン遷移を表す、2つ以上の時変イオン信号を含むことを判定することと、
前記2つ以上の時変イオン信号の特性が、選択基準に一致する場合、前記質量分析計に、前記時間間隔において、前記既知の化合物の前駆体イオンのための前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行うように命令することと
を行うプロセッサと
を含む、システム。
(項目2)
前記選択基準は、前記2つ以上の時変イオン信号のそれぞれが、前記時間間隔において、超えなければならない、最小信号強度を含む、項目1に記載のシステム。
(項目3)
前記選択基準は、前記2つ以上の時変イオン信号のそれぞれが、前記時間間隔において、超えなければならない、信号強度の最小増加率を含む、項目1に記載のシステム。
(項目4)
前記選択基準は、前記2つ以上の時変イオン信号のそれぞれの前記強度の和が、前記時間間隔において、超えなければならない、最小結合信号強度を含む、項目1に記載のシステム。
(項目5)
前記選択基準は、前記時間間隔において、前記2つ以上の時変イオン信号のそれぞれに対して、非ゼロ強度カウントを含む、項目1に記載のシステム。
(項目6)
リアルタイムで情報依存的質量分析走査をトリガするための方法であって、
ある時間周期の複数の時間間隔の各時間間隔において、質量分析計から、分離試料混合物の質量分析走査を受信することであって、前記質量分析計は、前記分離試料混合物を分離デバイスから受け取る、ことと、
前記複数の時間間隔のある時間間隔において、前記時間間隔において受信した質量分析走査と、1つ以上の先行して受信した質量分析走査とが、既知の化合物の2つ以上の断片イオン遷移を表す、2つ以上の時変イオン信号を含むことを判定することと、
前記2つ以上の時変イオン信号の特性が、選択基準に一致する場合、前記質量分析計に、前記時間間隔において、前記既知の化合物の前駆体イオンのための前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行うように命令することと
を含む、方法。
(項目7)
前記選択基準は、前記2つ以上の時変イオン信号のそれぞれが、前記時間間隔において、超えなければならない、最小信号強度を含む、項目6に記載の方法。
(項目8)
前記選択基準は、前記2つ以上の時変イオン信号のそれぞれが、前記時間間隔において、超えなければならない、信号強度の最小増加率を含む、項目6に記載の方法。
(項目9)
前記選択基準は、前記2つ以上の時変イオン信号のそれぞれの前記強度の和が、前記時間間隔において、超えなければならない、最小結合信号強度を含む、項目6に記載の方法。
(項目10)
前記選択基準は、前記時間間隔において、前記2つ以上の時変イオン信号のそれぞれに対して、非ゼロ強度カウントを含む、項目6に記載の方法。
(項目11)
非一過性かつ有形のコンピュータ可読記憶媒体を含む、コンピュータプログラム製品であって、前記媒体は、そのコンテンツが、リアルタイムで情報依存的質量分析走査をトリガするための方法を行うように、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含み、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを含み、前記個別のソフトウェアモジュールは、測定モジュール、分析モジュール、および依存的走査制御モジュールを含む、ことと、
前記測定モジュールを使用して、ある時間周期の複数の時間間隔の各時間間隔において、質量分析計から、分離試料混合物の質量分析走査を受信することであって、前記質量分析計は、前記分離試料混合物を分離デバイスから受け取る、ことと、
前記分析モジュールを使用して、前記複数の時間間隔のある時間間隔において、前記時間間隔において受信した質量分析走査と、1つ以上の先行して受信した質量分析走査とが、既知の化合物の2つ以上の断片イオン遷移を表す、2つ以上の時変イオン信号を含むことを判定することと、
前記依存的走査制御モジュールを使用して、前記2つ以上の時変イオン信号の特性が、選択基準に一致する場合、前記質量分析計に、前記時間間隔において、前記既知の化合物の前駆体イオンのための前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行うように命令することと
を含む、コンピュータプログラム製品。
(項目12)
前記選択基準は、前記2つ以上の時変イオン信号のそれぞれが、前記時間間隔において、超えなければならない、最小信号強度を含む、項目11に記載のコンピュータプログラム製品。
(項目13)
前記選択基準は、前記2つ以上の時変イオン信号のそれぞれが、前記時間間隔において、超えなければならない、信号強度の最小増加率を含む、項目11に記載のコンピュータプログラム製品。
(項目14)
前記選択基準は、前記2つ以上の時変イオン信号のそれぞれの前記強度の和が、前記時間間隔において、超えなければならない、最小結合信号強度を含む、項目11に記載のコンピュータプログラム製品。
(項目15)
前記選択基準は、前記時間間隔において、前記2つ以上の時変イオン信号のそれぞれに対して、非ゼロ強度カウントを含む、項目11に記載のコンピュータプログラム製品。
(コンピュータ実装システム)
図1は、本教示の実施形態が実装され得る、コンピュータシステム100を図示する、ブロック図である。コンピュータシステム100は、情報を通信するためのバス102または他の通信機構と、情報を処理するためのバス102と連結される、プロセッサ104とを含む。コンピュータシステム100はまた、プロセッサ104によって実行されるべき命令を記憶するために、バス102に連結される、ランダムアクセスメモリ(RAM)または他の動的記憶デバイスであり得る、メモリ106を含む。メモリ106はまた、プロセッサ104によって実行されるべき命令の実行の間、一時的変数または他の中間情報を記憶するために使用されてもよい。コンピュータシステム100はさらに、プロセッサ104のための静的情報および命令を記憶するために、バス102に連結される、読取専用メモリ(ROM)108または他の静的記憶デバイスを含む。磁気ディスクまたは光ディスク等の記憶デバイス110は、情報および命令を記憶するために提供され、バス102に連結される。
種々の実施形態は、分離デバイス/質量分析システム内で分離された化合物を同定するためのシステムおよび方法を含む。1つ以上の依存的質量分析走査が、分離デバイスからの時変画像中に見出される、2つ以上の質量分析/質量分析(MS/MS)遷移標的群の特性に基づいて、トリガされる。種々の実施形態では、質量分析計および分離デバイスと関連付けられたデータ取得ならびに分析ソフトウェアが、本目標を達成するために使用される。
(分離用連結質量分析システム)
図5は、種々の実施形態による、リアルタイムで情報依存的質量分析走査をトリガするための分離用連結質量分析システム500を示す、概略図である。システム500は、分離デバイス510、質量分析計520、およびプロセッサ530を含む。分離デバイス510は、ある時間周期にわたって、1つ以上の化合物を試料混合物から分離する。分離デバイス510は、電気泳動デバイス、クロマトグラフデバイス、または移動度分析デバイスを含むことができるが、それらに限定されない。
図6は、種々の実施形態による、リアルタイムで情報依存的質量分析走査をトリガするための方法600を示す、例示的流れ図である。
種々の実施形態では、コンピュータプログラム製品は、そのコンテンツが、リアルタイムで情報依存的質量分析走査をトリガするための方法を行うように、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含む、非一過性、かつ有形のコンピュータ可読記憶媒体を含む。本方法は、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを含む、システムによって行われる。
Claims (15)
- リアルタイムで情報依存的質量分析走査をトリガするためのシステムであって、
ある時間周期にわたって、1つ以上の化合物を試料混合物から分離する、分離デバイスと、
前記時間周期の複数の時間間隔の各時間間隔において、分離試料混合物に関して、既知の化合物の既知の前駆体イオンの2つ以上の複数の反応モニタリング(MRM)遷移の群の質量分析走査を行う質量分析計であって、前記2つ以上のMRM遷移の群の各MRM遷移は、前記既知の前駆体イオンの異なる断片イオンへの遷移である、質量分析計と、
プロセッサであって、
前記複数の時間間隔の各時間間隔において、前記質量分析計から、前記2つ以上のMRM遷移の群の各遷移に対する断片イオン強度を受信することと、
前記複数の時間間隔の各時間間隔において、前記既知の化合物に対する前記各時間間隔および全ての先行する時間間隔における前記2つ以上のMRM遷移の群の断片イオン強度を表す2つ以上の時変断片イオン信号を判定することと、
前記2つ以上のMRM遷移の群の各断片イオン強度を組み合わせることによって前記2つ以上のMRM遷移の群を表す単一選択基準を割り当てることと、
前記2つ以上のMRM遷移の群の各断片イオン強度が前記単一選択基準に一致する場合、前記質量分析計に、前記各時間間隔において、前記既知の化合物の前記既知の前駆体イオンのための前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行うように命令することと
を行うプロセッサと
を含む、システム。 - 前記単一選択基準は、前記2つ以上の時変断片イオン信号のそれぞれが、前記各時間間隔において、超えなければならない、最小信号強度を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記単一選択基準は、前記2つ以上の時変断片イオン信号のそれぞれが、前記各時間間隔において、超えなければならない、信号強度の最小増加率を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記単一選択基準は、前記2つ以上の時変断片イオン信号のそれぞれの強度の和が、前記各時間間隔において、超えなければならない、最小結合信号強度を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記単一選択基準は、前記各時間間隔において、前記2つ以上の時変断片イオン信号のそれぞれに対して、非ゼロ強度カウントを含む、請求項1に記載のシステム。
- リアルタイムで情報依存的質量分析走査をトリガするための方法であって、
ある時間周期の複数の時間間隔の各時間間隔において、質量分析計から、分離試料混合物の質量分析走査から測定された既知の化合物の既知の前駆体イオンの2つ以上のMRM遷移の群の各遷移に対する断片イオン強度を受信することであって、前記質量分析計は、前記分離試料混合物を分離デバイスから受け取り、前記2つ以上のMRM遷移の群の各MRM遷移は、前記既知の前駆体イオンの異なる断片イオンへの遷移である、ことと、
前記複数の時間間隔の各時間間隔において、前記既知の化合物に対する前記各時間間隔および全ての先行する時間間隔における前記2つ以上のMRM遷移の群の断片イオン強度を表す2つ以上の時変断片イオン信号を判定することと、
前記2つ以上のMRM遷移の群の各断片イオン強度を組み合わせることによって前記2つ以上のMRM遷移の群を表す単一選択基準を割り当てることと、
前記2つ以上のMRM遷移の群の各断片イオン強度が前記単一選択基準に一致する場合、前記質量分析計に、前記各時間間隔において、前記既知の化合物の前記既知の前駆体イオンのための前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行うように命令することと
を含む、方法。 - 前記単一選択基準は、前記2つ以上の時変断片イオン信号のそれぞれが、前記各時間間隔において、超えなければならない、最小信号強度を含む、請求項6に記載の方法。
- 前記単一選択基準は、前記2つ以上の時変断片イオン信号のそれぞれが、前記各時間間隔において、超えなければならない、信号強度の最小増加率を含む、請求項6に記載の方法。
- 前記単一選択基準は、前記2つ以上の時変断片イオン信号のそれぞれの強度の和が、前記各時間間隔において、超えなければならない、最小結合信号強度を含む、請求項6に記載の方法。
- 前記単一選択基準は、前記各時間間隔において、前記2つ以上の時変断片イオン信号のそれぞれに対して、非ゼロ強度カウントを含む、請求項6に記載の方法。
- 非一過性かつ有形のコンピュータ可読記憶媒体を含む、コンピュータプログラム製品であって、前記媒体は、そのコンテンツが、リアルタイムで情報依存的質量分析走査をトリガするための方法を行うように、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含み、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを含み、前記個別のソフトウェアモジュールは、測定モジュール、分析モジュール、および依存的走査制御モジュールを含む、ことと、
前記測定モジュールを使用して、ある時間周期の複数の時間間隔の各時間間隔において、質量分析計から、分離試料混合物の質量分析走査から測定された既知の化合物の既知の前駆体イオンの2つ以上のMRM遷移の群の各遷移に対する断片イオン強度を受信することであって、前記質量分析計は、前記分離試料混合物を分離デバイスから受け取り、前記2つ以上のMRM遷移の群の各MRM遷移は、前記既知の前駆体イオンの異なる断片イオンへの遷移である、ことと、
前記分析モジュールを使用して、前記複数の時間間隔の各時間間隔において、前記既知の化合物に対する前記各時間間隔および全ての先行する時間間隔において前記2つ以上のMRM遷移の群の断片イオン強度を表す2つ以上の時変断片イオン信号を判定することと、
前記2つ以上のMRM遷移の群の各断片イオン強度を組み合わせることによって前記2つ以上のMRM遷移の群を表す単一選択基準を割り当てることと、
前記2つ以上のMRM遷移の群の各断片イオン強度が前記単一選択基準に一致する場合、前記質量分析計に、前記依存的走査制御モジュールを使用して、前記各時間間隔において、前記既知の化合物の前記既知の前駆体イオンのための前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行うように命令することと
を含む、コンピュータプログラム製品。 - 前記単一選択基準は、前記2つ以上の時変断片イオン信号のそれぞれが、前記各時間間隔において、超えなければならない、最小信号強度を含む、請求項11に記載のコンピュータプログラム製品。
- 前記単一選択基準は、前記2つ以上の時変断片イオン信号のそれぞれが、前記各時間間隔において、超えなければならない、信号強度の最小増加率を含む、請求項11に記載のコンピュータプログラム製品。
- 前記単一選択基準は、前記2つ以上の時変断片イオン信号のそれぞれの強度の和が、前記各時間間隔において、超えなければならない、最小結合信号強度を含む、請求項11に記載のコンピュータプログラム製品。
- 前記単一選択基準は、前記各時間間隔において、前記2つ以上の時変断片イオン信号のそれぞれに対して、非ゼロ強度カウントを含む、請求項11に記載のコンピュータプログラム製品。
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