JP2016520818A - 非球面の波面及び形状に基づく測定を行うための装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
装置10を操作する例示的な方法において、試験される非球面素子14が基部230上に載置される。この載置は、上述したように、基準方位REFに対し、選択された方位であってもよい。装置10は波面に基づく測定又は形状に基づく測定のいずれかを行うことができるため、どちらを先に行うかは操作者によって決定される。
12 非球面
14 非球面素子
20 干渉波面測定システム
22 検知光学系
24 ヌル光学素子
80 形状測定システム
190 支持構造体
200 プラットフォーム
210 第1支持柱
220 可動ステージ
230 基部
240 第2支持柱
300 回転支持部材
312 第1アーム
314 第2アーム
320 光学ヘッド
350 コントローラ
Claims (10)
- 非球面素子の非球面の形状を測定する装置であって、
支持構造体と、
前記支持構造体に移動可能に取り付けられた可動ステージと、
前記可動ステージ上に配置され、装置軸に沿って前記非球面を回転可能に支持するよう構成された回転可能な基部と、
前記支持構造体に動作可能に支持され、測定波面を用いて前記非球面を光学的に観察し、該非球面の波面に基づく測定データを収集するよう構成された干渉波面測定システムと、
前記支持構造体に動作可能に支持され、前記非球面に対し少なくとも1回の非接触式の形状に基づく測定を行い、該非球面の形状に基づく測定データを収集するよう構成された形状測定システムと、
前記波面に基づく測定データと前記形状に基づく測定データとを受信し処理することにより、前記非球面の総合評価を決定するよう構成されたコントローラと、
を備えたことを特徴とする装置。 - 前記支持構造体が、第1及び第2の支持柱を支持するプラットフォームを備え、前記干渉波面測定システムが前記第1の支持柱によって支持され、前記形状測定システムが前記第2の支持柱によって支持されて成ることを特徴とする請求項1記載の装置。
- 前記干渉波面測定システムが、前記第1の支持柱に移動可能に取り付けられたヌル光学素子を備えて成ることを特徴とする請求項2記載の装置。
- 前記コントローラがプロセッサと、理想非球面形状データを含むメモリとを備え、
前記波面に基づく測定データが、非回転対称データ成分と中間空間周波数成分とを含み、前記形状に基づく測定データが、回転対称データ成分を含み、
前記コントローラが前記非回転対称データ成分、前記中間空間周波数成分、前記回転対称データ成分、及び前記理想非球面形状データをプロセッサに処理させ、前記非球面の前記総合評価を決定する、コンピュータ可読媒体に体現された命令によって動作するよう構成されて成ることを特徴とする請求項1記載の装置。 - 実際に製造された非球面形状と目標とする非球面形状とを有する非球面素子の非球面の形状を測定する装置であって、
前記非球面素子を装置軸に沿って回転可能に支持するよう構成された回転可能な基部を支持する可動ステージと、
前記非球面素子に対し動作可能に相対配置され、測定用波面を用いて前記非球面を光学的に観察し、該非球面の波面に基づく測定データを収集するよう構成された干渉波面測定システムと、
前記非球面素子に対し動作可能に相対配置され、プローブ光を用いて前記非球面に対し少なくとも1回の非接触式の形状に基づく測定を行い、該非球面の形状に基づく測定データを収集するよう構成された形状測定システムと、
前記波面に基づく測定データと前記形状に基づく測定データとを受信し処理することにより、前記非球面の総合評価を決定するよう構成されたコントローラと
を備えたことを特徴とする装置。 - 前記コントローラが、プロセッサと、前記目標とする非球面形状を表すデータを含むメモリとを備え、
前記波面に基づく測定データが非回転対称データ成分と中間空間周波数成分とを含み、前記形状に基づく測定データが回転対称データ成分を含み、
前記コントローラが、前記非回転対称データ成分、前記中間空間周波数成分、前記回転対称データ成分、及び前記目標とする非球面形状を表す前記データをプロセッサに処理させ、前記非球面の前記総合評価を決定する、コンピュータ可読媒体に体現された命令によって動作するよう構成されて成ることを特徴とする請求項5記載の装置。 - 実際に製造された非球面形状と目標とする非球面形状とを有する非球面素子の非球面の特性を明らかにする方法であって、
前記非球面素子を回転可能な基部上に支持するステップと、
前記非球面に対し少なくとも1回の波面に基づく測定を行い、非回転対称データ成分と中間空間周波数データ成分とを含む波面に基づく測定データを取得するステップと、
前記非球面に対し、少なくとも1回の形状に基づく測定を行い、回転対称データ成分を含む形状に基づく測定データを取得するステップと、
前記非回転対称データ成分、前記中間空間周波数データ成分、前記回転対称データ成分、 及び前記目標とする非球面形状から、前記実際に製造された非球面形状の前記目標とする非球面形状からの偏差を決定するステップと、
を有し、
前記回転可能な基部から前記非球面素子を移動せずに、前記少なくとも1回の波面に基づく測定と前記少なくとも1回の形状に基づく測定とを行うことを特徴とする方法。 - 前記回転可能な基部の異なる角度位置において、前記非球面に対し、複数の波面に基づく測定を行うステップと、
前記複数の波面に基づく測定の結果を処理し、非回転対称データ成分の測定誤差を低減するステップと、
を更に有して成ることを特徴とする請求項7記載の方法。 - 前記少なくとも1回の形状に基づく測定を行うステップが、1〜10回の形状に基づく測定を行うことを含んで成ることを特徴とする請求項7記載の方法。
- 前記少なくとも1回の波面に基づく測定が波面干渉計システムにより行われ、前記少なくとも1回の形状に基づく測定が形状測定システムにより行われ、該波面干渉計システムおよび該形状測定システムの各々は、可動ステージ上の前記回転可能な基部も支持する支持フレームによって、各々動作可能に支持されたことを特徴とする請求項7記載の方法。
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