JP2016514896A - イオン操作方法及びイオン操作装置 - Google Patents
イオン操作方法及びイオン操作装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016514896A JP2016514896A JP2016507535A JP2016507535A JP2016514896A JP 2016514896 A JP2016514896 A JP 2016514896A JP 2016507535 A JP2016507535 A JP 2016507535A JP 2016507535 A JP2016507535 A JP 2016507535A JP 2016514896 A JP2016514896 A JP 2016514896A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- ions
- electrodes
- manipulation device
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 327
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims abstract description 81
- 238000003491 array Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 23
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 12
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 11
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 11
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 8
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 claims description 4
- 230000001788 irregular Effects 0.000 claims description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 claims description 2
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000000766 differential mobility spectroscopy Methods 0.000 claims description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 2
- 238000000451 chemical ionisation Methods 0.000 claims 4
- 239000007921 spray Substances 0.000 claims 4
- 101710162453 Replication factor A Proteins 0.000 claims 1
- 102100035729 Replication protein A 70 kDa DNA-binding subunit Human genes 0.000 claims 1
- 238000006557 surface reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 11
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 9
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000037427 ion transport Effects 0.000 description 2
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 2
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000037361 pathway Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 2
- 238000010146 3D printing Methods 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003190 augmentative effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 239000003256 environmental substance Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000002705 metabolomic analysis Methods 0.000 description 1
- 230000001431 metabolomic effect Effects 0.000 description 1
- 238000005191 phase separation Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/622—Ion mobility spectrometry
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Description
Claims (62)
- a.一対の表面と、
b.前記表面に結合された電極のアレイであって、前記表面のうちの少なくとも1つの表面にRF電位が印加され、それにより、前記表面のいずれかに荷電粒子が接近することを妨げる擬似電位が作られるようになっている、電極のアレイと、
c.前記表面の間でのイオンの移動を制御及び制限するためのDC電位の同時印加部と
を備えるイオン操作装置。 - 前記電極のアレイが、内側電極のアレイと、第1の外側電極アレイと、第2の外側電極アレイとを備え、前記内側及び前記外側アレイの電極が実質的に各表面の長さに沿って延在する、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- 前記第1の外側電極アレイが前記内側電極のアレイの一方側に配置され、前記第2の外側電極アレイが前記内側電極のアレイの他方側に配置される、請求項2に記載されたイオン操作装置。
- 前記DC電位が前記第1の外側電極アレイ及び第2の外側電極アレイに印加され、前記RF電位が、重畳する電場と共に、前記内側電極のアレイに印加される、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- 前記RF電位が、前記DC電位と共に、前記第1及び第2の外側電極アレイに印加される、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- 前記RF電位が前記2つの表面のうちの1つの表面のみに印加される、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- 前記RF電位が前記2つの表面の両方に印加される、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- 少なくとも1つの内側電極のRFが隣接する電極から位相がずれている、請求項4に記載されたイオン操作装置。
- 各内側電極が、隣接する内側電極から位相シフトされ、前記擬似電位を形成するようになっている、請求項8に記載されたイオン操作装置。
- 前記内側電極が、隣接する内側電極から位相が約180°ずらされ、前記擬似電位を形成するようになっている、請求項9に記載されたイオン操作装置。
- 複数の対の表面をさらに備え、前記イオンを運ぶことがアパーチャを通して可能となり、前記複数の対の表面の異なる対の表面の間を移動するように一連の電極によって誘導される、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- 前記一連の電極が交互の極性のRF電位を有し、それにより、前記異なる対の平行な表面の間でイオンを移動させるときに前記イオンの損失が防止される、請求項11に記載されたイオン操作装置。
- 前記対の表面上の前記電極が、
a.T形構成の分岐部分のところでイオンを方向転換させることを可能にする概略T形構成、
b.Y形構成の分岐部分のところでイオンを方向転換させることを可能にする概略Y形構成、
c.X形又はクロス形構成の一方又は両方の側の分岐部分のところでイオンを方向転換させることを可能にする概略X形又はクロス形構成、および
d.構成の1つ又は複数の側の分岐部分のところでイオンを方向転換させることを可能にする複数の分岐点を有するアスタリスク(*)形構成などの概略多角形構成
のうちの少なくとも1つの構成を形成する、請求項1に記載されたイオン操作装置。 - 前記電場が、円形経路、長方形経路又は他の不規則な経路で前記イオンを移動させることを可能にし、それにより前記イオンを2回以上通過させることが可能となる、請求項4に記載されたイオン操作装置。
- 前記表面同士の間の空間が、不活性ガス、又は、イオンと反応するガスを有する、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- 複数のサイクロトロン・ステージをさらに備える、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- 前記複数のサイクロトロン・ステージがスタック状に構成される、請求項16に記載されたイオン操作装置。
- 電荷検出器、光学検出器及び質量分析器のうちの少なくとも1つに結合されるようになっている、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- イオン移動度分離の実施に使用されるようになっている、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- 前記イオンが前記装置の外側から導入されるようになっている、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- 前記イオンが前記装置の外側から導入されるようになっており、前記イオンが、光イオン化、コロナ放電、レーザー・イオン化、電子衝撃、フィールド・イオン化、化学イオン化、及び、電子スプレーのうちの少なくとも1つを使用して形成される、請求項20に記載されたイオン操作装置。
- 前記イオンが、光イオン化、コロナ放電、レーザー・イオン化、電子衝撃、フィールド・イオン化、化学イオン化、及び電子スプレーのうちの少なくとも1つを使用して前記装置の内部に形成される、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- 前記電場が静的な電場又は動的な電場である、請求項4に記載されたイオン操作の装置。
- 前記静的な電場がDC勾配であり、前記動的な電場が進行波である、請求項23に記載されたイオン操作装置。
- 2つ以上の別個の周波数及び異なる電場の強さを有する前記RF電位が、単一周波数の他のRF電位で実施されるよりも有意に大きいm/z範囲において前記表面の一方又は両方に荷電粒子が接近することを妨げる擬似電位を作る印加パターンで、前記表面上の前記電極のアレイに同時に印加される、請求項1に記載されたイオン操作の装置。
- 前記内側電極のアレイが2つ以上の電極を有し、隣接し合う電極に1つの位相のRFが印加され、1つの表面に近接するイオンに対して形成されるトラップが大幅に縮小されるようになっている、請求項2に記載されたイオン操作装置。
- 前記表面が、実質的に平面である、略平行である、及び、平坦ではない、のうちのいずれかである、請求項1に記載されたイオン操作装置。
- a.一対の略平行な表面と、
b.各平行な表面に設けられて、実質的に前記表面の長さに沿って延在する内側電極のアレイと、
c.第1の外側アレイの電極及び第2の外側アレイの電極であって、各々が前記内側電極の両側に配置され、各平行な表面に設けられて、実質的に前記表面の長さに沿って延在し、前記平行な表面のいずれかに荷電粒子が接近することを妨げる擬似電位を形成する、第1の外側アレイの電極及び第2の外側アレイの電極と、
d.RF電圧源及びDC電圧源であって、第1のDC電圧源が前記第1の外側アレイ及び第2の外側アレイの電極に印加され、各電極に第2のDC電圧を印加することによりRF周波数が重畳する電場と共に前記内側電極に印加され、それによりイオンを、前記平行な表面同士間のイオン閉じ込め領域内で前記電場の方向に移動させるか又は前記イオン閉じ込め領域内でトラップするようになっている、RF電圧源及びDC電圧源と
を備える、イオン操作装置。 - 少なくとも1つの内側電極上の前記RF周波数が、隣接する電極から位相がずれている、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 各内側電極が、前記擬似電位を形成するように隣接する内側電極から位相シフトされるようになっている、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記内側電極のアレイ、前記第1の外側アレイの電極、及び、前記第2の外側アレイの電極の各々が、前記一対の平行な表面上に少なくとも2つの電極を備える、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記電極に印加される前記RF周波数が0.1kHzから50MHzの間であり、RFのピーク間電圧が10ボルトから2000ボルトまでであり、前記電場が0ボルト/mmから5000ボルト/mmまでの間であり、圧力が0.133Pa(10−3トル)から大気圧までの間である、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記電極が前記表面のうちの少なくとも1つの表面に対して垂直である、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記電極が前記表面上に薄い導電層を備える、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記一対の表面が、
a.T形構成の分岐部分のところでイオンを方向転換させることを可能にする概略T形構成、
b.Y形構成の分岐部分のところでイオンを方向転換させることを可能にする概略Y形構成、
c.X形又はクロス形構成の一方又は両方の側の分岐部分のところでイオンを方向転換させることを可能にする概略X形又はクロス形構成、および
d.構成の1つ又は複数の側の分岐部分のところでイオンを方向転換させることを可能にする複数の分岐点を有するアスタリスク(*)形構成などの概略多角形構成
のうちの少なくとも1つの構成を形成する、請求項28に記載されたイオン操作装置。 - 前記電場が、円形経路、長方形経路又は不規則な経路で前記イオンを移動させることを可能にし、それにより前記イオンを2回以上通過させることが可能となる、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記表面同士の間の空間が、イオンと反応するガスを有する、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 複数のサイクロトロン・ステージをさらに備える、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記複数のサイクロトロン・ステージがスタック状に構成される、請求項38に記載されたイオン操作装置。
- 電荷検出器、光学検出器及び質量分析器のうちの少なくとも1つに結合されるようになっている、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- イオン移動度分離の実施に使用されるようになっている、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- プリント回路基板技術を使用して製作される、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記イオンが、光イオン化、コロナ放電、レーザー・イオン化、電子衝撃、フィールド・イオン化、化学イオン化、及び電子スプレーのうちの少なくとも1つを使用して前記装置の内部に形成される、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記イオンが前記装置の外部から導入される、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記イオンが前記装置の外部から導入され、光イオン化、コロナ放電、レーザー・イオン化、電子衝撃、フィールド・イオン化、化学イオン化、及び電子スプレーのうちの少なくとも1つを使用して形成される、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記装置が、イオン移動度分離、微分型イオン移動度分離(FAIMS)、イオン−分子、イオン−イオン又はイオン−表面の反応、及びイオン・トラップのうちの少なくとも1つのために使用される、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記電場が静的な電場又は動的な電場である、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記静的な電場がDC勾配であり、前記動的な電場が進行波である、請求項47に記載されたイオン操作装置。
- 1つ又は複数の電極が前記表面から0.5〜10mmのレリーフを有する、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 1つ又は複数の電極が前記表面のうちの1つ又は複数の表面から十分なレリーフを有し、その結果、電極間での前記表面の帯電を原因とする装置性能の低下が防止されるようになっている、請求項49に記載されたイオン操作装置。
- 前記略平行な表面が平面である、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- 前記略平行な表面が非平面である、請求項28に記載されたイオン操作装置。
- イオンを操作する方法であって、
a.一対の略平行な表面の間にイオンを射出するステップであって、各対の略平行な表面が、内側電極のアレイと、前記内側電極の両側にある第1及び第2の外側電極のアレイとを含む、イオンを射出するステップと、
b.前記表面同士の間で前記イオンを閉じ込めるためにRF電場を印加するステップと、
c.側方にイオンを閉じ込めるために、前記内側電極に印加される第2のDC電場に等しいか又はそれより大きい第1のDC電場を前記外側電極に印加するステップと、
d.さらなる閉じ込めのために及び前記電場によって設定される方向に沿わせて前記イオンを移動させるために、前記RF電場に前記第2のDC電場を重ねるステップと、
を含む、イオンを操作する方法。 - 前記対の平行な表面のうちの少なくとも1つに設けられたアパーチャを通して前記イオンを運び、前記イオンを別の対の平行な表面まで移動させる、前記イオンを運びステップをさらに含む、請求項53に記載されたイオンを操作する方法。
- a.T形電極構成の分岐部分のところでイオンが方向転換される概略T形電極構成、b.Y形電極構成の分岐部分のところでイオンが方向転換される概略Y形電極構成、c.X形又はクロス形電極構成の一方又は両方の側の分岐部分のところでイオンが方向転換される概略X形又はクロス形電極構成、d.電極構成の1つ又は複数の側の分岐部分のところでイオンを方向転換させることを可能にする複数の分岐点を有するアスタリスク(*)形などの概略多角形電極構成のうちの少なくとも1つの構成を形成するような電極パターンを有する前記対の平行な表面を構成するステップをさらに含む、請求項53に記載されたイオンを操作する方法。
- 前記電極に印加される前記RF電場が0.1kHzから50MHzまでの間であり、前記電場が0ボルト/mmから5000ボルト/mmまでの間であり、圧力が0.133Pa(10−3トル)から大気圧までの間である、請求項53に記載されたイオンを操作する方法。
- 前記電極が前記表面のうちの少なくとも1つの表面に対して垂直である、請求項53に記載されたイオンを操作する方法。
- 前記内側電極及び外側電極に印加される前記電場が静的であるか、時変DCオフセットであるか、又は、静的と時変DCとの組合せである、請求項53に記載されたイオンを操作する方法。
- 前記時変DC電場が円形経路又は長方形経路で前記イオンを移動させることを可能にし、前記円形経路又は長方形経路を前記イオンが2回以上通過する、請求項53に記載されたイオンを操作する方法。
- 正及び負の荷電イオンに、特定の領域内を移動しながら、分裂することを誘起させるか又はイオン−イオン反応を起こさせる、請求項53に記載されたイオンを操作する方法。
- 外部イオン源を使用することなくイオンを形成するステップをさらに含む、請求項53に記載されたイオンを操作する方法。
- a.複数の対の略平行な表面と、
b.各平行な表面に設けられて実質的に前記表面の長さに沿って延在する内側電極のアレイと、
c.複数の外側アレイの電極であって、少なくとも1つの外側アレイの電極が前記内側電極の両側に配置され、各外側アレイが各平行な表面に設けられて実質的に前記表面の長さに沿って延在し、それにより、前記平行な表面のいずれかに荷電粒子が接近することを妨げる擬似電位が形成されるようになっている、複数の外側アレイの電極と、
d.RF電圧源及びDC電圧源であって、DC電圧が前記複数の外側アレイの電極に印加され、各電極に前記DC電圧を印加することにより前記RF電圧が重畳する電場と共に前記内側電極に印加され、その結果、イオンが、前記平行な表面同士の間のイオン閉じ込め領域内を前記電場の方向に移動するか又は前記イオン閉じ込め領域内でトラップされるようになっている、RF電圧源及びDC電圧源と
を備え、
前記複数の対の平行な表面を通して前記イオンを運ぶことが、前記表面のうちの少なくとも1つの表面のアパーチャを介して可能となる、イオン操作装置。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201361809660P | 2013-04-08 | 2013-04-08 | |
US61/809,660 | 2013-04-08 | ||
US14/146,922 | 2014-01-03 | ||
US14/146,922 US8835839B1 (en) | 2013-04-08 | 2014-01-03 | Ion manipulation device |
PCT/US2014/011291 WO2014168660A1 (en) | 2013-04-08 | 2014-01-13 | Ion manipulation method and device |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018201166A Division JP6446158B1 (ja) | 2013-04-08 | 2018-10-25 | イオン操作方法及びイオン操作装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016514896A true JP2016514896A (ja) | 2016-05-23 |
JP6426703B2 JP6426703B2 (ja) | 2018-11-21 |
Family
ID=51493351
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016507535A Active JP6426703B2 (ja) | 2013-04-08 | 2014-01-13 | イオン操作方法及びイオン操作装置 |
JP2018201166A Active JP6446158B1 (ja) | 2013-04-08 | 2018-10-25 | イオン操作方法及びイオン操作装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018201166A Active JP6446158B1 (ja) | 2013-04-08 | 2018-10-25 | イオン操作方法及びイオン操作装置 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (5) | US8835839B1 (ja) |
EP (1) | EP2984675B1 (ja) |
JP (2) | JP6426703B2 (ja) |
CN (2) | CN107507751B (ja) |
AU (1) | AU2014251354B2 (ja) |
CA (1) | CA2908936C (ja) |
SG (1) | SG11201508277XA (ja) |
WO (1) | WO2014168660A1 (ja) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018503931A (ja) * | 2014-09-04 | 2018-02-08 | 株式会社島津製作所 | イオン光学装置および質量分析装置 |
WO2019078377A1 (ko) * | 2017-10-18 | 2019-04-25 | 아이디 퀀티크 에스.에이. | 이온트랩 전극 형성방법 및 그를 이용한 장치 |
US10317364B2 (en) | 2015-10-07 | 2019-06-11 | Battelle Memorial Institute | Method and apparatus for ion mobility separations utilizing alternating current waveforms |
US10424474B2 (en) | 2015-09-11 | 2019-09-24 | Battelle Memorial Institute | Method and device for ion mobility separation |
JP2019530148A (ja) * | 2016-09-08 | 2019-10-17 | バテル メモリアル インスティチュート | 同一または異なる極性のイオンを操作する装置 |
US10497552B2 (en) | 2017-08-16 | 2019-12-03 | Battelle Memorial Institute | Methods and systems for ion manipulation |
US10692710B2 (en) | 2017-08-16 | 2020-06-23 | Battelle Memorial Institute | Frequency modulated radio frequency electric field for ion manipulation |
US10804089B2 (en) | 2017-10-04 | 2020-10-13 | Batelle Memorial Institute | Methods and systems for integrating ion manipulation devices |
JP2021507478A (ja) * | 2017-12-20 | 2021-02-22 | バテル メモリアル インスティチュート | イオン集束デバイス |
JP2021097043A (ja) * | 2019-12-17 | 2021-06-24 | ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッドHoneywell International Inc. | イオントラップのための装置、システム、及び方法 |
JP2021524991A (ja) * | 2018-05-14 | 2021-09-16 | モビリオン・システムズ,インコーポレイテッド | イオン移動度分光計と質量分析計の連結 |
JP7507817B2 (ja) | 2021-08-19 | 2024-06-28 | クオンティニュアム エルエルシー | 彎曲したレッグを有する周期多次元原子対象閉込め装置 |
Families Citing this family (49)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB201111569D0 (en) * | 2011-07-06 | 2011-08-24 | Micromass Ltd | Apparatus and method of mass spectrometry |
US8835839B1 (en) | 2013-04-08 | 2014-09-16 | Battelle Memorial Institute | Ion manipulation device |
US9812311B2 (en) | 2013-04-08 | 2017-11-07 | Battelle Memorial Institute | Ion manipulation method and device |
US9418827B2 (en) * | 2013-07-23 | 2016-08-16 | Hamilton Sundstrand Corporation | Methods of ion source fabrication |
GB2528152B (en) | 2014-04-11 | 2016-09-21 | Micromass Ltd | Ion entry/exit device |
US9824874B2 (en) * | 2014-06-10 | 2017-11-21 | Battelle Memorial Institute | Ion funnel device |
WO2016069104A1 (en) * | 2014-10-30 | 2016-05-06 | Battelle Memorial Institute | Ion manipulation device to prevent loss of ions |
EP3227904A4 (en) * | 2014-12-05 | 2018-08-29 | DH Technologies Development PTE. Ltd. | Device for ion sorting by m/z |
JP6666919B2 (ja) * | 2014-12-30 | 2020-03-18 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 電子誘起解離デバイスおよび方法 |
US9972480B2 (en) * | 2015-01-30 | 2018-05-15 | Agilent Technologies, Inc. | Pulsed ion guides for mass spectrometers and related methods |
GB201507363D0 (en) | 2015-04-30 | 2015-06-17 | Micromass Uk Ltd And Leco Corp | Multi-reflecting TOF mass spectrometer |
US10553414B2 (en) * | 2015-06-26 | 2020-02-04 | Honeywell International Inc. | Apparatus and method for trapping multiple ions generated from multiple sources |
CN106373854B (zh) | 2015-07-23 | 2018-12-21 | 株式会社岛津制作所 | 一种离子导引装置 |
WO2017019852A1 (en) * | 2015-07-28 | 2017-02-02 | The University Of Florida Research Foundation, Inc. | Atmospheric pressure ion guide |
GB2548834A (en) | 2016-03-29 | 2017-10-04 | Shimadzu Corp | Ion manipulation device for guiding or confining ions in an ion processing apparatus |
CN107305833B (zh) | 2016-04-25 | 2019-05-28 | 株式会社岛津制作所 | 离子光学装置 |
US10018592B2 (en) | 2016-05-17 | 2018-07-10 | Battelle Memorial Institute | Method and apparatus for spatial compression and increased mobility resolution of ions |
GB201611732D0 (en) | 2016-07-05 | 2016-08-17 | Micromass Ltd | Standing wave ion manipulation device |
CN107665806B (zh) * | 2016-07-28 | 2019-11-26 | 株式会社岛津制作所 | 质谱仪、离子光学装置及对质谱仪中离子操作的方法 |
WO2018042325A1 (en) | 2016-08-29 | 2018-03-08 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) | A method for characterizing polysaccharides |
CN108735572B (zh) * | 2017-04-19 | 2020-09-15 | 株式会社岛津制作所 | 离子导引装置、方法及质谱仪 |
CN109003877B (zh) * | 2017-06-06 | 2020-10-16 | 岛津分析技术研发(上海)有限公司 | 离子迁移率分析装置及所应用的分析方法 |
US10522337B2 (en) | 2017-12-08 | 2019-12-31 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Efpl) | High-throughput cryogenic spectroscopy for glycan analysis |
US11264227B2 (en) * | 2018-01-30 | 2022-03-01 | Vanderbilt University | Methods and systems for ion mobility and mass analysis |
EP3561853A1 (en) | 2018-04-26 | 2019-10-30 | Tofwerk AG | Ion guide assembly |
US11219393B2 (en) | 2018-07-12 | 2022-01-11 | Trace Matters Scientific Llc | Mass spectrometry system and method for analyzing biological samples |
US10840077B2 (en) | 2018-06-05 | 2020-11-17 | Trace Matters Scientific Llc | Reconfigureable sequentially-packed ion (SPION) transfer device |
US10720315B2 (en) | 2018-06-05 | 2020-07-21 | Trace Matters Scientific Llc | Reconfigurable sequentially-packed ion (SPION) transfer device |
US10460920B1 (en) | 2018-06-26 | 2019-10-29 | Battelle Memorial Institute | Flexible ion conduit |
WO2020237037A1 (en) * | 2019-05-21 | 2020-11-26 | MOBILion Systems, Inc. | Voltage control for ion mobility separation |
US11119069B2 (en) * | 2019-05-28 | 2021-09-14 | Battelle Memorial Institute | Device and method to manipulate ions in multi level system |
US11543384B2 (en) | 2019-11-22 | 2023-01-03 | MOBILion Systems, Inc. | Mobility based filtering of ions |
CN110772718B (zh) * | 2019-12-09 | 2022-02-08 | 哈尔滨海鸿基业科技发展有限公司 | 一种电晕式放电治疗仪 |
WO2021207235A1 (en) | 2020-04-06 | 2021-10-14 | MOBILion Systems, Inc. | Systems and methods for two-dimensional mobility based filtering of ions |
CN115885176A (zh) | 2020-05-22 | 2023-03-31 | 莫比莱昂系统有限公司 | 用于俘获和积累离子的方法和装置 |
US11874252B2 (en) | 2020-06-05 | 2024-01-16 | MOBILion Systems, Inc. | Apparatus and methods for ion manipulation having improved duty cycle |
CN111710586B (zh) * | 2020-06-15 | 2024-07-05 | 成都西奇仪器有限公司 | 一种循环式离子迁移区结构及高分辨率离子迁移谱仪 |
EP3933883A1 (en) * | 2020-07-01 | 2022-01-05 | Tofwerk AG | Method for generating a layout of electrodes for an ion guide |
CN116615649A (zh) | 2020-12-22 | 2023-08-18 | 豪夫迈·罗氏有限公司 | 自动化临床诊断系统和方法 |
GB202102367D0 (en) | 2021-02-19 | 2021-04-07 | Thermo Electron Mfg Limited | High pressure ion optical devices |
GB202102365D0 (en) * | 2021-02-19 | 2021-04-07 | Thermo Electron Mfg Limited | High pressure ion optical devices |
GB202102368D0 (en) * | 2021-02-19 | 2021-04-07 | Thermo Electron Mfg Limited | High pressure ion optical devices |
EP4298658A1 (en) * | 2021-02-25 | 2024-01-03 | DH Technologies Development Pte. Ltd. | Bent pcb ion guide for reduction of contamination and noise |
US20220299473A1 (en) * | 2021-03-22 | 2022-09-22 | Bruker Scientific Llc | Laterally-extended trapped ion mobility spectrometer |
US11605532B2 (en) | 2021-05-27 | 2023-03-14 | Tofwerk Ag | Method and ion guide assembly for modulating a stream of ions |
EP4095525A1 (en) | 2021-05-27 | 2022-11-30 | Tofwerk AG | Method and ion guide assembly for modulating a stream of ions |
US20240038476A1 (en) * | 2022-07-29 | 2024-02-01 | Thermo Finnigan Llc | Ion guide electrode configurations for polarity-independent ion containment |
US20240071741A1 (en) | 2022-08-31 | 2024-02-29 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Electrostatic Ion Trap Configuration |
GB202400068D0 (en) | 2024-01-03 | 2024-02-14 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | An ion guide, a method of manipulating ions using an ion guide, a method of mass spectrometry, a mass spectrometer and computer software |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050040327A1 (en) * | 2003-06-27 | 2005-02-24 | Lee Edgar D. | Virtual ion trap |
JP2009532822A (ja) * | 2005-12-07 | 2009-09-10 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2009535759A (ja) * | 2006-04-29 | 2009-10-01 | ▲復▼旦大学 | イオントラップアレイ |
JP2009537070A (ja) * | 2006-05-12 | 2009-10-22 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | 切換え式分岐形イオンガイド |
WO2011089419A2 (en) * | 2010-01-19 | 2011-07-28 | Micromass Uk Limited | Mass to charge ratio selective ejection from ion guide having supplemental rf voltage applied thereto |
CN102163531A (zh) * | 2011-03-10 | 2011-08-24 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种基于mems工艺的平板线型离子阱质量分析器及其制作方法 |
JP2011529623A (ja) * | 2008-07-28 | 2011-12-08 | レコ コーポレイション | 無線周波数電場内でメッシュを使用してイオン操作を行う方法及び装置 |
JP2012503286A (ja) * | 2008-09-18 | 2012-02-02 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | イオンガイドアレイ |
CN102945786A (zh) * | 2012-11-09 | 2013-02-27 | 清华大学 | 具有减噪功能的平板型高场非对称波形离子迁移谱仪 |
Family Cites Families (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5206506A (en) * | 1991-02-12 | 1993-04-27 | Kirchner Nicholas J | Ion processing: control and analysis |
DE19523859C2 (de) | 1995-06-30 | 2000-04-27 | Bruker Daltonik Gmbh | Vorrichtung für die Reflektion geladener Teilchen |
GB9519033D0 (en) | 1995-09-18 | 1995-11-15 | Smithkline Beecham Plc | Treatment |
US6107628A (en) | 1998-06-03 | 2000-08-22 | Battelle Memorial Institute | Method and apparatus for directing ions and other charged particles generated at near atmospheric pressures into a region under vacuum |
US6495823B1 (en) * | 1999-07-21 | 2002-12-17 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromachined field asymmetric ion mobility filter and detection system |
CA2391140C (en) | 2001-06-25 | 2008-10-07 | Micromass Limited | Mass spectrometer |
US7095013B2 (en) | 2002-05-30 | 2006-08-22 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
US6891157B2 (en) * | 2002-05-31 | 2005-05-10 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
DE112004000453B4 (de) * | 2003-03-19 | 2021-08-12 | Thermo Finnigan Llc | Erlangen von Tandem-Massenspektrometriedaten für Mehrfachstammionen in einer Ionenpopulation |
US20040195503A1 (en) | 2003-04-04 | 2004-10-07 | Taeman Kim | Ion guide for mass spectrometers |
US7405401B2 (en) * | 2004-01-09 | 2008-07-29 | Micromass Uk Limited | Ion extraction devices, mass spectrometer devices, and methods of selectively extracting ions and performing mass spectrometry |
GB0403533D0 (en) | 2004-02-18 | 2004-03-24 | Hoffman Andrew | Mass spectrometer |
US8003934B2 (en) * | 2004-02-23 | 2011-08-23 | Andreas Hieke | Methods and apparatus for ion sources, ion control and ion measurement for macromolecules |
CA2567466C (en) | 2004-05-21 | 2012-05-01 | Craig M. Whitehouse | Rf surfaces and rf ion guides |
DE102004048496B4 (de) | 2004-10-05 | 2008-04-30 | Bruker Daltonik Gmbh | Ionenführung mit HF-Blendenstapeln |
GB0426520D0 (en) | 2004-12-02 | 2005-01-05 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB0427634D0 (en) | 2004-12-17 | 2005-01-19 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US7180078B2 (en) | 2005-02-01 | 2007-02-20 | Lucent Technologies Inc. | Integrated planar ion traps |
JP4621744B2 (ja) | 2005-11-28 | 2011-01-26 | 株式会社日立製作所 | イオンガイド装置、イオン反応装置、及び質量分析装置 |
US7548818B2 (en) | 2005-12-07 | 2009-06-16 | Mds Analytical Technologies | Automated analysis of complex matrices using mass spectrometer |
JP5051222B2 (ja) * | 2006-05-22 | 2012-10-17 | 株式会社島津製作所 | 荷電粒子輸送装置 |
JP5341753B2 (ja) * | 2006-07-10 | 2013-11-13 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
GB0718468D0 (en) | 2007-09-21 | 2007-10-31 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
CN101126738B (zh) | 2007-09-29 | 2011-03-16 | 宁波大学 | 阶梯电极四棱台形四级质量分析器 |
US7888635B2 (en) | 2008-05-30 | 2011-02-15 | Battelle Memorial Institute | Ion funnel ion trap and process |
US7872228B1 (en) | 2008-06-18 | 2011-01-18 | Bruker Daltonics, Inc. | Stacked well ion trap |
US7838826B1 (en) | 2008-08-07 | 2010-11-23 | Bruker Daltonics, Inc. | Apparatus and method for parallel flow ion mobility spectrometry combined with mass spectrometry |
DE102010013546B4 (de) * | 2010-02-01 | 2013-07-25 | Bruker Daltonik Gmbh | Ionenmanipulationszelle mit maßgeschneiderten Potenzialprofilen |
DE102010034078B4 (de) * | 2010-08-12 | 2012-06-06 | Bruker Daltonik Gmbh | Kingdon-Massenspektrometer mit zylindrischen Elektroden |
GB201103361D0 (en) * | 2011-02-28 | 2011-04-13 | Shimadzu Corp | Mass analyser and method of mass analysis |
US8299443B1 (en) * | 2011-04-14 | 2012-10-30 | Battelle Memorial Institute | Microchip and wedge ion funnels and planar ion beam analyzers using same |
US8502138B2 (en) * | 2011-07-29 | 2013-08-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Integrated ion mobility spectrometer |
GB2506362B (en) * | 2012-09-26 | 2015-09-23 | Thermo Fisher Scient Bremen | Improved ion guide |
US8809769B2 (en) * | 2012-11-29 | 2014-08-19 | Bruker Daltonics, Inc. | Apparatus and method for cross-flow ion mobility spectrometry |
US9812311B2 (en) | 2013-04-08 | 2017-11-07 | Battelle Memorial Institute | Ion manipulation method and device |
US8835839B1 (en) | 2013-04-08 | 2014-09-16 | Battelle Memorial Institute | Ion manipulation device |
GB2528152B (en) * | 2014-04-11 | 2016-09-21 | Micromass Ltd | Ion entry/exit device |
WO2015191569A1 (en) | 2014-06-13 | 2015-12-17 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Rf ion guide with axial fields |
WO2016069104A1 (en) | 2014-10-30 | 2016-05-06 | Battelle Memorial Institute | Ion manipulation device to prevent loss of ions |
US9704701B2 (en) * | 2015-09-11 | 2017-07-11 | Battelle Memorial Institute | Method and device for ion mobility separations |
-
2014
- 2014-01-03 US US14/146,922 patent/US8835839B1/en active Active
- 2014-01-13 SG SG11201508277XA patent/SG11201508277XA/en unknown
- 2014-01-13 CA CA2908936A patent/CA2908936C/en active Active
- 2014-01-13 CN CN201710799275.XA patent/CN107507751B/zh active Active
- 2014-01-13 CN CN201480032436.7A patent/CN105264637B/zh active Active
- 2014-01-13 WO PCT/US2014/011291 patent/WO2014168660A1/en active Application Filing
- 2014-01-13 AU AU2014251354A patent/AU2014251354B2/en active Active
- 2014-01-13 EP EP14782685.3A patent/EP2984675B1/en active Active
- 2014-01-13 JP JP2016507535A patent/JP6426703B2/ja active Active
- 2014-05-30 US US14/292,448 patent/US8901490B1/en active Active
- 2014-05-30 US US14/292,437 patent/US8907273B1/en active Active
- 2014-10-30 US US14/528,917 patent/US8969800B1/en active Active
-
2017
- 2017-10-23 US US15/790,701 patent/US9966244B2/en active Active
-
2018
- 2018-10-25 JP JP2018201166A patent/JP6446158B1/ja active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050040327A1 (en) * | 2003-06-27 | 2005-02-24 | Lee Edgar D. | Virtual ion trap |
JP2009532822A (ja) * | 2005-12-07 | 2009-09-10 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2009535759A (ja) * | 2006-04-29 | 2009-10-01 | ▲復▼旦大学 | イオントラップアレイ |
JP2009537070A (ja) * | 2006-05-12 | 2009-10-22 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | 切換え式分岐形イオンガイド |
JP2011529623A (ja) * | 2008-07-28 | 2011-12-08 | レコ コーポレイション | 無線周波数電場内でメッシュを使用してイオン操作を行う方法及び装置 |
JP2012503286A (ja) * | 2008-09-18 | 2012-02-02 | マイクロマス・ユーケイ・リミテッド | イオンガイドアレイ |
WO2011089419A2 (en) * | 2010-01-19 | 2011-07-28 | Micromass Uk Limited | Mass to charge ratio selective ejection from ion guide having supplemental rf voltage applied thereto |
CN102163531A (zh) * | 2011-03-10 | 2011-08-24 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种基于mems工艺的平板线型离子阱质量分析器及其制作方法 |
CN102945786A (zh) * | 2012-11-09 | 2013-02-27 | 清华大学 | 具有减噪功能的平板型高场非对称波形离子迁移谱仪 |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10014167B2 (en) | 2014-09-04 | 2018-07-03 | Shimadzu Corporation | Ion optical apparatus and mass spectrometer |
JP2018503931A (ja) * | 2014-09-04 | 2018-02-08 | 株式会社島津製作所 | イオン光学装置および質量分析装置 |
US10424474B2 (en) | 2015-09-11 | 2019-09-24 | Battelle Memorial Institute | Method and device for ion mobility separation |
US11209393B2 (en) | 2015-10-07 | 2021-12-28 | Battelle Memorial Institute | Method and apparatus for ion mobility separations utilizing alternating current waveforms |
US11761925B2 (en) | 2015-10-07 | 2023-09-19 | Battelle Memorial Institute | Method and apparatus for ion mobility separations utilizing alternating current waveforms |
US10317364B2 (en) | 2015-10-07 | 2019-06-11 | Battelle Memorial Institute | Method and apparatus for ion mobility separations utilizing alternating current waveforms |
JP2019530148A (ja) * | 2016-09-08 | 2019-10-17 | バテル メモリアル インスティチュート | 同一または異なる極性のイオンを操作する装置 |
US10497552B2 (en) | 2017-08-16 | 2019-12-03 | Battelle Memorial Institute | Methods and systems for ion manipulation |
US10692710B2 (en) | 2017-08-16 | 2020-06-23 | Battelle Memorial Institute | Frequency modulated radio frequency electric field for ion manipulation |
US10804089B2 (en) | 2017-10-04 | 2020-10-13 | Batelle Memorial Institute | Methods and systems for integrating ion manipulation devices |
WO2019078377A1 (ko) * | 2017-10-18 | 2019-04-25 | 아이디 퀀티크 에스.에이. | 이온트랩 전극 형성방법 및 그를 이용한 장치 |
JP2021507478A (ja) * | 2017-12-20 | 2021-02-22 | バテル メモリアル インスティチュート | イオン集束デバイス |
JP2021524991A (ja) * | 2018-05-14 | 2021-09-16 | モビリオン・システムズ,インコーポレイテッド | イオン移動度分光計と質量分析計の連結 |
JP2021097043A (ja) * | 2019-12-17 | 2021-06-24 | ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッドHoneywell International Inc. | イオントラップのための装置、システム、及び方法 |
US11600482B2 (en) | 2019-12-17 | 2023-03-07 | Quantinuum Llc | Apparatuses, systems, and methods for ion traps |
JP7090687B2 (ja) | 2019-12-17 | 2022-06-24 | ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド | イオントラップのための装置 |
JP7507817B2 (ja) | 2021-08-19 | 2024-06-28 | クオンティニュアム エルエルシー | 彎曲したレッグを有する周期多次元原子対象閉込め装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2984675B1 (en) | 2022-03-30 |
EP2984675A1 (en) | 2016-02-17 |
AU2014251354A1 (en) | 2015-11-05 |
SG11201508277XA (en) | 2015-11-27 |
CN107507751A (zh) | 2017-12-22 |
EP2984675A4 (en) | 2016-11-23 |
US8901490B1 (en) | 2014-12-02 |
US20140299766A1 (en) | 2014-10-09 |
CN105264637A (zh) | 2016-01-20 |
CN107507751B (zh) | 2019-11-15 |
US20180061621A1 (en) | 2018-03-01 |
JP6446158B1 (ja) | 2018-12-26 |
US8907273B1 (en) | 2014-12-09 |
CA2908936C (en) | 2019-03-05 |
CA2908936A1 (en) | 2014-10-16 |
AU2014251354B2 (en) | 2017-11-02 |
JP6426703B2 (ja) | 2018-11-21 |
US20150076343A1 (en) | 2015-03-19 |
WO2014168660A1 (en) | 2014-10-16 |
JP2019012704A (ja) | 2019-01-24 |
US8969800B1 (en) | 2015-03-03 |
CN105264637B (zh) | 2017-09-19 |
US9966244B2 (en) | 2018-05-08 |
US8835839B1 (en) | 2014-09-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6446158B1 (ja) | イオン操作方法及びイオン操作装置 | |
US9812311B2 (en) | Ion manipulation method and device | |
JP6742390B2 (ja) | イオンモビリティ分離方法及び装置 | |
JP5307844B2 (ja) | イオン移動度分析及びイオントラップ質量分析のための方法及システム | |
US8299443B1 (en) | Microchip and wedge ion funnels and planar ion beam analyzers using same | |
JP5475202B2 (ja) | リニア型イオントラップにおける非対称電界イオン移動度 | |
US9324551B2 (en) | Mass spectrometer and method of driving ion guide | |
WO2016069104A1 (en) | Ion manipulation device to prevent loss of ions | |
WO2019036497A1 (en) | METHODS AND SYSTEMS FOR ION HANDLING | |
CN106663590B (zh) | 离子引导器 | |
WO2014085643A1 (en) | Apparatus and method for cross-flow ion mobility spectrometry | |
US20180005810A1 (en) | Electron Induced Dissociation Devices and Methods | |
Anderson et al. | Ion manipulation device | |
US11264227B2 (en) | Methods and systems for ion mobility and mass analysis | |
Tolmachev et al. | Ion manipulation device to prevent loss of ions | |
Chen et al. | Vacuum chamber for ion manipulation device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151210 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170106 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20171024 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20171121 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20180221 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180423 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180925 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20181025 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6426703 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |