JP2016514260A - タンデム質量分析のための方法及びシステム - Google Patents
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Abstract
Description
[0015]或る実施形では、データ非依存性MS−MS分析のダイナミックレンジは、第1の親選別質量分析計(MS1)での幅広(少なくとも10amu)親質量ウインドーを実質的に連続して傾斜化(又は小段に階段化)し、更に、衝突セルを通る高速イオン移動を配設し、直交加速器を一連の時間符号化パルスで頻繁にパルシングし、多重反射飛行時間型質量分析計の中でフラグメントイオンを分析し、データをデータロギングフォーマットで捕捉し、親質量の走査全体に対応する信号ストリングを復号する、ことによって改善することができる
[0016]図1を参照して、例示としての装置11は、先行クロマトグラフ12(LCか又はGCのどちらか)、試料をイオン化するためのイオン源13、分析四重極型分析部14、CIDセル15、生成器18によって頻回符号化パルスで駆動されている直交加速器17を有する多重反射型分析部16、及びイオン信号によって送給を受けていてトリガパルスのタイミングの情報を取得しているデータ復号システム19、を備えている。クロマトグラフ12の出力プロファイル12pは、実質的に、LCの場合には5秒乃至10秒幅、またGCの場合には1秒又は約1秒幅、であるものと予想される。或る実施形では、四重極型質量分析計14は、図表14pに示されているように、親イオンを選別するための比較的幅広(実質的には10Th乃至20Th)の質量ウインドーを瞬時的に伝送するように大凡1000Th/sの速さで傾斜化されている。或る実施形では、親イオンは、実質的に20eV乃至50eVのエネルギーで衝突セルの中へ射入されて断片化を誘導する。結果として、CIDセル15の出力には、大凡1ms時間スケールで相関付けられる親イオンとフラグメントイオンの系統が出現することになる。例示としての系統がプロファイル15pによって描写されており、ここに、鋭いピークは概して個々の系統に対応しており、より幅広の曲線は概してクロマトグラフピークのはるかに低速の変調プロファイルを描写している。或る実施形では、イオンビーム全体が実質的に連続して直交加速器17の中へ送り込まれる。或る実施形では、加速器17は実質的に100kHz又は約100kHzの平均レートで符号化式にパルシングされ、ここに、パルス間隔の大半は固有であり、よって重なり合ったスペクトルは復号部19で復号させることができる。
12 先行クロマトグラフ
12p 出力プロファイル
13 イオン源
14 分析四重極型分析部
14p 傾斜化を示す図表
15 CIDセル
15p 親イオンとフラグメントイオンの系統を示すプロファイル
16 多重反射型分析部
17 直交加速器
18 生成器
19 データ復号システム
21 RF振幅の直線状傾斜を表すグラフ
22 オフセット又は比がウインドーの質量幅を決定付けることを表すグラフ
23 ウインドーの質量幅
24 親イオンの時間プロファイル
25 娘イオンの時間プロファイル
26 OAのトリガを表すグラフ
31 装置
32 先行ガスクロマトグラフ
32p 出力プロファイル
33 蓄積イオン源
34 飛行時間型分離部
34a 補助電極
34g 時間ゲート
35 CIDセル
35p 親質量ウインドーの傾斜化を表す図表
36 多重反射型分析部
37 直交加速器
38 生成器
39 データ復号システム
41 ゲート選別器時間の直線状の傾斜を表すグラフ
42 グラフ41の拡大図
43 時間ウインドー
44 親イオンの時間プロファイル
45 娘イオンの時間プロファイル
Claims (3)
- データ非依存性MS−MS分析の方法において、次の段階、即ち、
第1の親選別質量分析計(MS1)での幅広(少なくても10amu)親質量ウインドーを傾斜化する又は小段に階段化する段階と、
衝突セルを通る高速イオン移動を軸方向ガス流れによるか又は軸方向DC場によるか又は進行RF波によるかの何れかで配設する段階と、
直交加速器を一連の時間符号化パルスで頻繁にパルシングする段階と、
多重反射飛行時間型質量分析計の中でフラグメントイオンを分析する段階と、
データをデータロギングフォーマットで捕捉する段階と、
親質量の走査全体に対応する信号ストリングを復号してフラグメント質量と親質量の間の時間相関に基づいてフラグメントスペクトルを形成させる段階と、を備えている方法。 - 前記方法はガスクロマトグラフィーか又は液体クロマトグラフィーのどちらかの先行クロマトグラフィー分離を更に備えており、前記親質量選別の段階での走査時間は、クロマトグラフピーク幅より少なくとも3倍高速に調節され、前記親質量選別の段階での前記質量スパンはクロマトグラフ保持時間と相関する予想質量スパンに従って調節される、請求項1に記載の方法。
- 前記親質量選別の段階は、イオン源からのイオンパケットのパルス式放出に続く四重極型質量分析計又は飛行時間型質量分析計での親選別を備えている、請求項1に記載の方法。
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