JP2016511399A - 部品を測定する方法および装置 - Google Patents
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- G05B2219/37043—Touch probe, store position of touch point on surface
Abstract
Description
Claims (31)
- 座標位置決め機械上に取り付けられている接触プローブを用いて部品を測定する方法であって、前記部品および前記接触プローブがどちらも前記座標位置決め機械の内部の異なる位置の間で継続的に移動している場合に、前記部品上の複数の点を測定するステップを含み、前記プローブは、測定されている曲線または曲面に沿って共に接近して配置されている実質的な一致点が、前記機械内の比較的遠く離れた位置でかつ走査経路に沿った比較的遠く離れた位置で測定されるように、前記部品に対して前記走査経路に沿って移動することを特徴とする方法。
- 前記走査経路は実質的な同一走査経路の複数の走査を含み、前記一致点は、前記実質的な同一走査経路の別個の走査において測定されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記走査経路は前記部品を取り巻く複数の完全なナビゲーションを含み、前記一致点は、前記部品の別個の完全なナビゲーションにおいて測定されることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 各完全なナビゲーションは前記部品の同一の外周を巡っていることを特徴とする請求項3に記載の方法。
- 各完全なナビゲーションはその他の完全なナビゲーション(複数可)から方向にずらされていることを特徴とする請求項3に記載の方法。
- 前記走査経路は、前記部品を取り巻く螺旋または3次元渦巻きであることを特徴とする請求項5に記載の方法。
- 前記方法は、測定されている前記曲線または前記曲面上で共に比較的接近している前記実質的な一致点を測定するステップの間に、前記実質的な一致点より、測定されている前記曲線または前記曲面上の互いにさらに遠く離れた他の点を測定するステップを含むことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記継続する運動は、非直交方向の前記プローブおよび前記部品の移動を含むことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記接触プローブは、複数の測定方向の任意の1つにおける前記プローブのスタイラスの振れにより測定が実施され得る多軸接触プローブであり、前記プローブは、前記振れの大きさおよび方向の両方を示す信号を生成し、前記方法は、前記継続する運動中に前記接触プローブが前記スタイラスの前記振れにより測定を実施するように、前記測定方向の少なくとも2つに前記接触プローブおよび前記部品を移動させるステップを含むことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載の方法。
- 座標位置決め機械上に取り付けられている多軸接触プローブを用いて部品を測定する方法であって、前記多軸接触プローブは、複数の測定方向の任意の1つにおいて前記プローブのスタイラスの振れにより測定を実施することができ、前記プローブは、前記振れの大きさおよび方向の両方を示す信号を生成し、前記方法は、前記部品および前記接触プローブがどちらも前記座標位置決め機械の内部の異なる位置の間で継続的に移動している場合に、前記部品の表面上の複数の点を測定するステップを含み、前記継続する運動は前記接触プローブが前記測定方向の少なくとも2つにおいて前記スタイラスの振れにより前記測定を実施するということであることを特徴とする方法。
- 分析曲線または分析曲面を前記複数の点に適合させて、前記部品の表現を得るステップを含むことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載の方法。
- 座標位置決め機械上に取り付けられている接触プローブを用いて部品を測定する方法であって、前記部品および前記接触プローブ各々が前記座標位置決め機械の内部の複数の異なる位置に配置されている状態で、前記部品の表面上の複数の点を測定するステップと、分析曲線または分析曲面を前記複数の点に適合させて、前記表面の表現を得るステップとを含むことを特徴とする方法。
- 測定座標系内の各点の位置を、前記部品上の前記点の相対位置が画定される部品座標系内の位置に変換するステップを含むことを特徴とする請求項1乃至12のいずれか一項に記載の方法。
- 前記座標位置決め機械の内部の前記部品の位置は、各点が測定された時に判定され、前記座標位置決め機械の内部の前記点の前記位置は、前記部品の前記判定された位置を用いて、前記部品座標系内の前記位置に変換されることを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 前記点が前記部品座標系に変換されたら、前記曲線または前記曲面は前記点に適合されることを特徴とする請求項11または12まで従属している場合に請求項13または14に記載の方法。
- 前記異なる位置の間で前記座標位置決め機械の内部の前記部品を回転させるステップを含むことを特徴とする請求項1乃至15のいずれか一項に記載の方法。
- 前記座標位置決め機械の内部の前記異なる位置の間の前記部品の並進を含むことを特徴とする請求項1乃至16のいずれか一項に記載の方法。
- 前記接触プローブが、測定中の前記部品の意図された変位に基づいて進行するための経路を決定するステップを含むことを特徴とする請求項1乃至17のいずれか一項に記載の方法。
- 前記接触プローブの前記経路および/または前記部品の前記変位は設定規準に基づいて選択されることを特徴とする請求項18に記載の方法。
- 前記設定規準は前記接触プローブの限定された測定範囲を含むことを特徴とする請求項19に記載の方法。
- 前記部品上に互いに接近して配置されている点が、前記座標位置決め機械内で比較的遠く離れた2つ以上の位置で測定されるように、前記接触プローブの前記経路および/または前記部品の前記変位を選択するステップを含むことを特徴とする請求項19に記載の方法。
- 座標位置決め機械の内部での移動のために接触プローブを取り付ける第1のマウントと、前記座標位置決め機械の内部での移動のために部品を取り付ける第2のマウントと、前記第1のマウントおよび前記第2のマウントの移動を制御するコントローラとを含む座標位置決め機械であって、前記コントローラは前記第1のマウントおよび前記第2のマウントの移動を制御して、前記部品および前記接触プローブがどちらも前記座標位置決め機械の内部の異なる位置間で継続的に移動している場合に、前記部品の表面上の複数の点を前記接触プローブを用いて測定するようになされており、前記プローブは、測定されている曲線または曲面に沿って共に接近して配置されている実質的な一致点が前記機械内の比較的遠く離れた位置でかつ走査経路に沿った比較的遠く離れた位置で測定されるように、前記部品に対して前記走査経路に沿って移動することを特徴とする座標位置決め機械。
- 座標位置決め機械の内部での移動のために多軸接触プローブを取り付ける第1のマウントであり、前記多軸接触プローブは、複数の測定方向の任意の1つに前記プローブのスタイラスの振れにより測定を実施することができ、前記プローブは、前記振れの大きさおよび方向の両方を示す信号を生成する、第1のマウントと、前記座標位置決め機械の内部での移動のために部品を取り付ける第2のマウントと、前記第1のマウントおよび前記第2のマウントの移動を制御するコントローラであって、前記継続する運動中、前記接触プローブが前記測定方向の少なくとも2つにおいて前記スタイラスの前記振れにより測定を実施するように、前記部品および前記接触プローブがどちらも前記座標位置決め機械の内部の異なる位置間で継続的に移動している場合に、前記第1のマウントおよび前記第2のマウントの移動を制御して、前記接触プローブを用いて前記部品の表面上の複数の点を測定するようになされている、コントローラと、を含むことを特徴とする座標位置決め機械。
- 座標位置決め機械の内部での移動のために接触プローブを取り付ける第1のマウントと、前記座標位置決め機械の内部での移動のために部品を取り付ける第2のマウントと、前記第1のマウントおよび前記第2のマウントの移動を制御するコントローラと、前記座標位置決め機械および前記接触プローブからの信号を分析する評価ユニットとを含む座標位置決め機械であって、前記コントローラは前記第1のマウントおよび前記第2のマウントの移動を制御して、前記部品および前記接触プローブ各々が前記座標位置決め機械の内部の複数の異なる位置に配置されている状態で、前記部品の表面上の複数の点を前記接触プローブを用いて測定するようになされており、前記評価ユニットは分析曲線または分析曲面を前記複数の点に適合させて、前記表面の表現を得るようになされていることを特徴とする座標位置決め機械。
- 命令を有するデータ媒体であって、プロセッサにより前記命令が実行された場合、前記プロセッサは、座標位置決め機械の第1のマウントおよび第2のマウントの移動と、前記座標位置決め機械の内部で接触プローブを取り付ける前記第1のマウントと、前記座標位置決め機械の内部で部品を取り付ける前記第2のマウントとを制御させられるデータ媒体であって、前記部品および前記接触プローブがどちらも前記座標位置決め機械の内部の異なる位置間で継続的に移動している場合に、前記プロセッサは前記第1のマウントおよび前記第2のマウントを移動させて、前記部品の表面上の複数の点を前記接触プローブを用いて測定し、測定されている曲線または曲面に沿って共に接近して配置されている実質的な一致点が前記機械内の比較的遠く離れた位置でかつ走査経路に沿った比較的遠く離れた位置で測定されるように、前記プローブは前記部品に対して前記走査経路に沿って移動することを特徴とするデータ媒体。
- 命令を有するデータ媒体であって、プロセッサにより前記命令が実行された場合、前記プロセッサは、座標位置決め機械の第1のマウントおよび第2のマウントの移動と、前記座標位置決め機械の内部で多軸接触プローブを取り付ける前記第1のマウントであり、前記多軸接触プローブは複数の測定方向の任意の1つにおいて前記プローブのスタイラスの振れにより測定を実施することができ、前記プローブは前記振れの大きさおよび方向の両方を示す信号を生成する、前記第1のマウントと、前記座標位置決め機械の内部で部品を取り付ける前記第2のマウントとを制御させられるデータ記憶媒であって、前記部品および前記接触プローブがどちらも前記座標位置決め機械の内部の異なる位置間で継続的に移動している場合、かつ前記接触プローブが前記測定方向の少なくとも2つにおいて前記スタイラスの前記振れにより測定を実施するように、前記プロセッサは前記第1のマウントおよび前記第2のマウントを移動させて、前記部品の表面上の複数の点を前記接触プローブを用いて測定することを特徴とするデータ媒体。
- 命令を有するデータ媒体であって、プロセッサにより前記命令が実行された場合、前記プロセッサは、座標位置決め機械上に取り付けられている接触プローブを使用して、部品の表面上で測定された複数の点の測定データを受信させられ、前記複数の点は、前記部品および前記接触プローブ各々が前記座標位置決め機械の内部の複数の異なる位置に配置されている状態で得られ、分析曲線または分析曲面を前記複数の点に適合させて、前記表面の表現を得ることを特徴とするデータ媒体。
- 座標位置決め機械上に取り付けられている接触プローブを用いて部品を測定する方法であって、前記部品および前記接触プローブ各々が前記座標位置決め機械の内部の複数の異なる位置に配置されている状態で、前記部品の表面上の複数の点を測定するステップと、各点を、前記点が測定されたら前記座標位置決め機械内の前記部品の判定された位置に基づいて、前記部品上の前記複数の点の相対位置が画定される共通部分座標系に変換するステップとを含むことを特徴とする方法。
- 前記座標位置決め機械の内部の部品基準点に対する前記部品の位置に関する部品位置データを記録するステップを含み、前記共通部分座標系への各点の前記変換は前記部品位置データに基づいていることを特徴とする請求項28に記載の方法。
- 座標位置決め機械の内部での移動のために接触プローブを取り付ける第1のマウントと、前記座標位置決め機械の内部での移動のために部品を取り付ける第2のマウントと、前記第1のマウントおよび前記第2のマウントの移動を制御するコントローラと、前記座標位置決め機械および前記接触プローブからの信号を分析する評価ユニットとを含む座標位置決め機械であって、前記部品および前記接触プローブ各々が前記座標位置決め機械の内部の複数の異なる位置に配置されている状態で、前記部品の表面上の複数の点が測定され得るように、前記コントローラは前記第1のマウントおよび前記第2のマウントの移動を制御するようになされており、前記評価ユニットは、各点を、前記点が測定されたら前記座標位置決め機械内の前記部品の判定された位置に基づいて、前記部品上の前記複数の点の相対位置が画定される共通部分座標系に変換するようになされていることを特徴とする座標位置決め機械。
- 命令を有するデータ媒体であって、プロセッサにより前記命令が実行された場合、前記プロセッサは、座標位置決め機械上に取り付けられている接触プローブを使用して部品の表面上で測定された複数の点の測定データを受信させられ、前記複数の点は、前記部品および前記接触プローブ各々が前記座標位置決め機械の内部の複数の異なる位置に配置されている状態で得られ、各点を、前記点が測定されたら、前記座標位置決め機械内の前記部品の判定された位置に基づいて、前記部品上の前記複数の点の相対位置が画定される共通部分座標系に変換することを特徴とするデータ媒体。
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---|---|---|---|
GB201302012A GB201302012D0 (en) | 2013-02-05 | 2013-02-05 | Method and apparatus for measuring a part |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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---|---|
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019533142A (ja) * | 2016-09-09 | 2019-11-14 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company | 測定方法および装置 |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6153816B2 (ja) * | 2013-08-23 | 2017-06-28 | 株式会社ミツトヨ | 形状測定装置及びロータリテーブル座標系の登録方法 |
JP6484108B2 (ja) * | 2015-05-22 | 2019-03-13 | 株式会社ミツトヨ | 形状測定装置の制御方法 |
CA2939029A1 (en) * | 2015-08-21 | 2017-02-21 | Williams & White Machine Inc. | Feed finger positioning apparatus and methods |
WO2017033581A1 (ja) * | 2015-08-27 | 2017-03-02 | 株式会社東京精密 | 表面形状測定方法、心ずれ量算出方法、及び表面形状測定装置 |
CN105458833A (zh) * | 2015-12-04 | 2016-04-06 | 重庆大学 | 一种工件旋转中心测定设备和方法 |
JP6428667B2 (ja) * | 2016-02-12 | 2018-11-28 | トヨタ自動車株式会社 | 基準面の位置測定方法 |
CN105674936A (zh) * | 2016-03-01 | 2016-06-15 | 湖州织里华宁园艺工程有限公司 | 圆形花盆外圆圆度自动检测装置 |
CN105588535A (zh) * | 2016-03-01 | 2016-05-18 | 湖州织里华宁园艺工程有限公司 | 圆形花盆外圆圆度检测装置 |
CN105737779B (zh) * | 2016-04-26 | 2019-03-15 | 京东方科技集团股份有限公司 | 坐标测量方法及装置 |
US10254099B1 (en) * | 2016-06-01 | 2019-04-09 | Gagemaker, Lp | In-process diameter measurement gage |
KR102508280B1 (ko) * | 2016-06-14 | 2023-03-09 | 주식회사 디엔솔루션즈 | 틸팅 헤드용 회전중심 보정장치 |
US10215547B2 (en) * | 2016-06-24 | 2019-02-26 | Mitutoyo Corporation | Method for operating a coordinate measuring machine |
JP6752092B2 (ja) * | 2016-09-13 | 2020-09-09 | 株式会社ミツトヨ | 真円度測定機 |
CN109964098B (zh) | 2016-11-16 | 2022-10-14 | 瑞尼斯豪公司 | 坐标定位设备以及操作方法 |
JP6807599B2 (ja) * | 2017-02-27 | 2021-01-06 | 中村留精密工業株式会社 | 工作機械の誤差同定方法 |
CN107358641A (zh) * | 2017-07-06 | 2017-11-17 | 林嘉恒 | 质数螺旋扫描方法及系统 |
CN107389011A (zh) * | 2017-09-01 | 2017-11-24 | 凯里市浪金科技有限责任公司 | 一种可多方位测量的坐标测量装置 |
DE102017121087A1 (de) * | 2017-09-12 | 2019-03-14 | Index-Werke Gmbh & Co. Kg Hahn & Tessky | Verfahren zum Positionieren eines Mittelpunkts auf einer geometrischen Achse bei einer Werkzeugmaschine |
CN108955491B (zh) * | 2018-07-30 | 2020-08-25 | 陕西柴油机重工有限公司 | 圆度仪测量活塞型线的多功能底盘工装及其测量方法 |
DE102020108182A1 (de) * | 2019-05-07 | 2020-11-12 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Oberflächenmessgerät |
DE102019208946A1 (de) * | 2019-06-19 | 2020-12-24 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Lage einer Drehachse eines Drehtisches sowie Drehtisch und Koordinatenmessgerät |
CN110174067B (zh) * | 2019-07-01 | 2024-03-12 | 上海科华实验系统有限公司 | 检验生化分析仪码盘中心偏移的方法及系统 |
CN110531699B (zh) * | 2019-08-22 | 2022-05-06 | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 | 一种机床测头自动测量设定工件平面的方法 |
DE102019008821A1 (de) * | 2019-12-18 | 2021-06-24 | Mitutoyo Corporation | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Zweipunktgröße eines Werkstücks |
EP3901574B1 (de) * | 2020-04-21 | 2023-05-31 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung von messpunkten einer angepassten messbahn zur vermessung eines messobjekts durch eine koordinatenmesseinrichtung sowie programm |
CN112255701A (zh) * | 2020-10-09 | 2021-01-22 | 中国石油天然气集团有限公司 | 多触点井下落物成像方法及装置、电子设备和存储介质 |
EP4001827A1 (de) * | 2020-11-11 | 2022-05-25 | Klingelnberg GmbH | Verfahren zum vermessen eines werkstücks |
CN112720074B (zh) * | 2020-12-22 | 2022-04-08 | 珠海格力智能装备有限公司 | 数控机床上工件信息的处理方法及装置 |
CN113283025B (zh) * | 2021-05-11 | 2022-09-06 | 北京理工大学 | 一种包含系统误差的渐开线齿廓误差建模方法 |
EP4293444A1 (de) * | 2022-06-14 | 2023-12-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Einbindung eines kontinuierlichen messtasters in eine numerische steuerung |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0384408A (ja) * | 1989-08-29 | 1991-04-10 | Mitsutoyo Corp | 座標測定用プローブの回転テーブル倣い制御方法 |
JPH10300455A (ja) * | 1997-03-21 | 1998-11-13 | Carl Zeiss:Fa | 座標測定装置を目標データに従って制御する方法 |
JP2001264048A (ja) * | 2000-03-17 | 2001-09-26 | Mitsutoyo Corp | V溝形状測定方法及び装置 |
US20040148791A1 (en) * | 2003-02-05 | 2004-08-05 | Eaton Homer L. | Articulation measuring arm having rotatable part-carrying platen |
JP2005337921A (ja) * | 2004-05-27 | 2005-12-08 | Olympus Corp | 3次元形状測定方法及び3次元形状測定装置 |
JP2012507029A (ja) * | 2008-10-29 | 2012-03-22 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 座標測定システムのための方法 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3866829A (en) | 1973-06-14 | 1975-02-18 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | Method and apparatus for measuring concentricity |
EP0335474B2 (en) | 1986-03-04 | 1999-09-01 | Taylor Hobson Limited | Metrological apparatus |
GB8605324D0 (en) | 1986-03-04 | 1986-04-09 | Rank Taylor Hobson Ltd | Metrological apparatus |
DE3717666A1 (de) | 1987-05-26 | 1988-12-08 | Hoefler Willy | Verfahren und vorrichtung zur pruefung des flankenprofils der zahnflanken von zahnraedern |
US5209131A (en) | 1989-11-03 | 1993-05-11 | Rank Taylor Hobson | Metrology |
GB2294327A (en) | 1994-10-18 | 1996-04-24 | Rank Taylor Hobson Ltd | Roundness measuring |
JP2701141B2 (ja) | 1995-05-23 | 1998-01-21 | 株式会社ミツトヨ | 真円度測定装置 |
US6697748B1 (en) | 1995-08-07 | 2004-02-24 | Immersion Corporation | Digitizing system and rotary table for determining 3-D geometry of an object |
GB2307988A (en) | 1995-12-07 | 1997-06-11 | Rank Taylor Hobson Ltd | Surface form measurement |
GB9612383D0 (en) | 1995-12-07 | 1996-08-14 | Rank Taylor Hobson Ltd | Surface form measurement |
GB2350429B (en) | 1999-05-28 | 2003-11-12 | Taylor Hobson Ltd | A metrological instrument |
US7036238B2 (en) | 2003-12-22 | 2006-05-02 | Mitutoyo Corporation | Width-measuring method and surface texture measuring instrument |
GB0508217D0 (en) | 2005-04-25 | 2005-06-01 | Renishaw Plc | Method for scanning the surface of a workpiece |
GB0508273D0 (en) * | 2005-04-25 | 2005-06-01 | Renishaw Plc | Method for scanning the surface of a workpiece |
GB0605796D0 (en) * | 2006-03-23 | 2006-05-03 | Renishaw Plc | Apparatus and method of measuring workpieces |
DE602007005778D1 (de) * | 2007-04-18 | 2010-05-20 | Hexagon Metrology Ab | Tastkopf mit konstanter Rastergeschwindigkeit |
TWI510756B (zh) | 2010-10-27 | 2015-12-01 | 尼康股份有限公司 | A shape measuring device, a shape measuring method, a manufacturing method and a program for a structure |
JP5763419B2 (ja) * | 2011-05-27 | 2015-08-12 | 株式会社ミツトヨ | 断面形状測定方法 |
JP5260703B2 (ja) | 2011-06-10 | 2013-08-14 | パナソニック株式会社 | 3次元測定方法 |
-
2014
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- 2014-02-03 JP JP2015556564A patent/JP6574137B2/ja active Active
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- 2014-02-03 CN CN201480020124.4A patent/CN105102927B/zh active Active
- 2014-02-03 EP EP14702940.9A patent/EP2954285B1/en active Active
- 2014-02-05 TW TW103103823A patent/TWI495846B/zh active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0384408A (ja) * | 1989-08-29 | 1991-04-10 | Mitsutoyo Corp | 座標測定用プローブの回転テーブル倣い制御方法 |
JPH10300455A (ja) * | 1997-03-21 | 1998-11-13 | Carl Zeiss:Fa | 座標測定装置を目標データに従って制御する方法 |
JP2001264048A (ja) * | 2000-03-17 | 2001-09-26 | Mitsutoyo Corp | V溝形状測定方法及び装置 |
US20040148791A1 (en) * | 2003-02-05 | 2004-08-05 | Eaton Homer L. | Articulation measuring arm having rotatable part-carrying platen |
JP2005337921A (ja) * | 2004-05-27 | 2005-12-08 | Olympus Corp | 3次元形状測定方法及び3次元形状測定装置 |
JP2012507029A (ja) * | 2008-10-29 | 2012-03-22 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 座標測定システムのための方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019533142A (ja) * | 2016-09-09 | 2019-11-14 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company | 測定方法および装置 |
JP7086055B2 (ja) | 2016-09-09 | 2022-06-17 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 測定方法および装置 |
Also Published As
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