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  1. 座標位置決め機械上に取り付けられている接触プローブを用いて部品を測定する方法であって、前記部品および前記接触プローブがどちらも前記座標位置決め機械の内部の異なる位置の間で継続的に移動している場合に、前記部品上の複数の点を測定するステップを含み、前記プローブは、測定されている曲線または曲面に沿って共に接近して配置されている、複数の実質的な一致点を測定するように、また、前記複数の実質的な一致点のそれぞれが、前記機械内の比較的遠く離れた位置でかつ走査経路に沿った比較的遠く離れた位置で測定されるように、前記部品の座標系によって画定される前記走査経路に沿って移動することを特徴とする方法。
  2. 前記走査経路は実質的な同一走査経路の複数の走査を含み、前記複数の実質的な一致点のそれぞれは、前記実質的な同一走査経路の別個の走査において測定されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 前記走査経路は前記部品を取り巻く複数の完全なナビゲーションを含み、前記一致点は、前記部品の別個の完全なナビゲーションにおいて測定されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  4. 各完全なナビゲーションは前記部品の同一の外周を巡っていることを特徴とする請求項3に記載の方法。
  5. 各完全なナビゲーションはその他の完全なナビゲーションから方向にずらされていることを特徴とする請求項3に記載の方法。
  6. 前記走査経路は、前記部品を取り巻く螺旋または3次元渦巻きであることを特徴とする請求項5に記載の方法。
  7. 前記方法は、前記複数の実質的な一致点のそれぞれを測定するステップの間に、前記実質的な一致点より、測定されている前記曲線または前記曲面上の互いにさらに遠く離れた他の点を測定するステップを含むことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。
  8. 前記継続する運動は、非直交方向の前記プローブおよび前記部品の移動を含むことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。
  9. 前記接触プローブは、複数の測定方向の任意の1つにおける前記プローブのスタイラスの振れにより測定が実施され得る多軸接触プローブであり、前記プローブは、前記振れの大きさおよび方向の両方を示す信号を生成し、前記方法は、前記継続する運動中に前記接触プローブが前記スタイラスの前記振れにより測定を実施するように、前記測定方向の少なくとも2つに前記接触プローブおよび前記部品を移動させるステップを含むことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。
  10. 分析曲線または分析曲面を前記複数の点に適合させて、前記部品の表現を得るステップを含むことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。
  11. 測定座標系内の各点の位置を、前記部品上の前記点の相対位置が画定される部品座標系内の位置に変換するステップを含むことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。
  12. 前記座標位置決め機械の内部の前記部品の位置は、各点が測定された時に判定され、前記座標位置決め機械の内部の前記点の前記位置は、前記部品の前記判定された位置を用いて、前記部品座標系内の前記位置に変換されることを特徴とする請求項11に記載の方法。
  13. 前記点が前記部品座標系に変換されると、前記複数の点に分析曲線または分析曲面を適合させて、前記部品の表現を得ることを特徴とする請求項11に記載の方法。
  14. 前記異なる位置の間で前記座標位置決め機械の内部の前記部品を回転させるステップを含むことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。
  15. 前記座標位置決め機械の内部の前記異なる位置の間の前記部品の並進を含むことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。
  16. 前記接触プローブが、測定中の前記部品の意図された変位に基づいて進行するための経路を決定するステップを含むことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。
  17. 前記接触プローブの前記経路および/または前記部品の前記変位は設定規準に基づいて選択されることを特徴とする請求項16に記載の方法。
  18. 前記設定規準は前記接触プローブの限定された測定範囲を含むことを特徴とする請求項17に記載の方法。
  19. 前記複数の実質的な一致点のそれぞれが、前記座標位置決め機械内で比較的遠く離れた2つ以上の位置で測定されるように、前記接触プローブの前記経路および/または前記部品の前記変位を選択するステップを含むことを特徴とする請求項17に記載の方法。
  20. 座標位置決め機械の内部での移動のために接触プローブを取り付ける第1のマウントと、前記座標位置決め機械の内部での移動のために部品を取り付ける第2のマウントと、前記第1のマウントおよび前記第2のマウントの移動を制御するコントローラとを含む座標位置決め機械であって、前記コントローラは前記第1のマウントおよび前記第2のマウントの移動を制御して、前記部品および前記接触プローブがどちらも前記座標位置決め機械の内部の異なる位置の間で継続的に移動している場合に、前記部品の表面上の複数の点を測定する前記接触プローブを用いて測定するようになされており、前記プローブは、測定されている曲線または曲面に沿って共に接近して配置されている、複数の実質的な一致点を測定するように、また、前記複数の実質的な一致点のそれぞれが、前記機械内の比較的遠く離れた位置でかつ走査経路に沿った比較的遠く離れた位置で測定されるように、前記部品の座標系によって画定される前記走査経路に沿って移動することを特徴とする座標位置決め機械。
  21. 前記座標位置決め機械および前記接触プローブからの信号を分析する評価ユニットを含み、前記評価ユニットは分析曲線または分析曲面を前記複数の点に適合させて、前記表面の表現を得るようになされていることを特徴とする請求項20に記載の座標位置決め機械。
  22. 前記評価ユニットは、点が測定されると、それぞれの点を、前記部品上の複数の点の相対位置が座標位置決め機械において決定される部品の位置に基づいて画定される、共通部分座標系に変換するようにされていることを特徴とする請求項21に記載の座標位置決め機械。
  23. 命令を有するデータ媒体であって、プロセッサにより前記命令が実行された場合、前記プロセッサは、座標位置決め機械の第1のマウントおよび第2のマウントの移動と、前記座標位置決め機械の内部で接触プローブを取り付ける前記第1のマウントと、前記座標位置決め機械の内部で部品を取り付ける前記第2のマウントとを制御させられるデータ媒体であって、前記部品および前記接触プローブがどちらも前記座標位置決め機械の内部の異なる位置間で継続的に移動している場合に、前記プロセッサは前記第1のマウントおよび前記第2のマウントを移動させて、前記部品の表面上の複数の点を前記接触プローブを用いて測定し、前記プローブは、測定されている曲線または曲面に沿って共に接近して配置されている、複数の実質的な一致点を測定するように、また、前記複数の実質的な一致点のそれぞれが、前記機械内の比較的遠く離れた位置でかつ走査経路に沿った比較的遠く離れた位置で測定されるように、前記部品の座標系によって画定される前記走査経路に沿って移動することを特徴とするデータ媒体。
  24. 命令を有するデータ媒体であって、プロセッサにより前記命令が実行された場合、前記プロセッサは、座標位置決め機械上に取り付けられている接触プローブを使用して、部品の表面上で測定された複数の点の測定データを受信させられ、分析曲線または分析曲面を前記複数の点に適合させて、前記表面の表現を得ることを特徴とする請求項23に記載のデータ媒体。
  25. 命令を有するデータ媒体であって、プロセッサにより前記命令が実行された場合、前記プロセッサは、各点を、前記点が測定されたら、前記座標位置決め機械内の前記部品の判定された位置に基づいて、前記部品上の前記複数の点の相対位置が画定される共通部分座標系に変換することを特徴とする請求項23または24に記載のデータ媒体。
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