JP2016509667A - 多数のデータパケット信号送受信機を同時に試験する方法 - Google Patents

Abstract

多数のデータパケット信号送受信機のビット誤差率（ＢＥＲ）などを試験し、その間に試験機及びデータパケット信号送受信機が試験データパケット及び要約データパケットのシーケンスを交換する方法が提供される。試験機は、対応する規定のビットパターンを備える、対応する複数のデータビットを含む、試験データパケットを提供する。これに応答して、データパケット信号送受信機は要約データパケットを提供し、これは、データパケット信号送受信機の対応する１つずつにより適切に受信される、対応する規定のビットパターンを備えるデータビットの数を示す、対応する要約データを含む。

Description

本発明は、多数のデータパケット信号送受信機を同時に試験する方法、特に、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ技術を含む、周波数ホッピングスペクトル拡散信号技術を使用して、このような被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験することに関する。

Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ接続技術を使用する無線デバイスはますます一般的になってきている。このようなデバイスは、これらデバイスが動作可能であること、さらに適切な動作を確保するとともに、他のＢｌｕｅｔｏｏｔｈデバイス並びに他の無線信号技術に従って動作する他の無線デバイスとの最小限の干渉を確保する一定基準の信号特性を満たしていることを確実にするため、製造中に試験される。このような試験は主に、大量製造中にデバイスの製造欠陥を特定することを意図している。

スマートフォン、ラップトップ、及びタブレットなど、無線技術を使用する消費者製品は、大きな価格及びコスト上の圧力がかかる市場において、非常に大量に製造及び販売される非常に精密なデバイスである。製造試験はコスト抑制のために重要な関心事項である。試験結果の品質を悪化させず、また試験システム設計者は試験結果の正確性を低下させず、さらに様々な無線技術の試験に必要な時間を低減させるように努力しなくてはならない。

Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ無線技術は、非常に広範な消費者製品中に利用されている。包括的な基準が、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈを備える装置が従うべき周波数スペクトル、変調特性、及び電力レベルなどの信号特性を統制する。この基準によりもたらされる制約の範囲内において、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈデバイスメーカーは、この技術に従った設計及び試験のコストを削減するように常に努力している。

コスト抑制のための焦点となる領域の１つは、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈデバイスの同時（例えば、平行的又は同時的）試験である。同時試験を達成するための最も直接的な方法は、同時に動作する多数の試験システム又は試験機で多数のデバイスを試験することであり、このようなシステムはそれぞれ、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈに特有の信号特性（例えば、規定の周波数スペクトルの順守、変調特性及び品質、電力レベル、感度など）の送受信のための、デバイスの能力を試験する手段を備えている。しかしながら、被試験装置、又はＤＵＴのそれぞれに、１つの試験機を割り当てることはコスト高となる。したがって、単一の信号源、及び単一の受信信号分析器を有する単一の試験システムを使用する試験システム設計者は、単一の試験機に多数のＤＵＴを割り当てるために、信号スプリッタ及びマルチプレクサを使用してきた。

しかしながら、各ＤＵＴに対する試験機の必要性を回避する際に、コスト節約の実現を達成するために、かなりの妥協を要する。例えば、信号スプリッタ機能を使用して単一のソース信号を同時に複製することができるが、受信された信号を、単一の受信信号分析器で同時に試験することはできない。代わりに、このような信号は、多重化され、同時ではなく連続的に捕捉される必要がある。

そのため、課題は、どのように試験速度を最適化し、試験コストを最小化し、さらにこうしたことを、信号源及び受信信号分析器の数が、同時に試験されるＤＵＴの数と１対１であるものよりも少ない試験システムを使用しながら、どのように行うかである。

本発明に従って、多数のデータパケット信号送受信機のビット誤差率（ＢＥＲ）などを試験し、その間に試験機及びデータパケット信号送受信機が試験データパケット及び要約データパケットのシーケンスを交換する方法が提供される。試験機は、対応する規定のビットパターンを備える、対応する複数のデータビットを含む試験データパケットを提供する。これに応答して、データパケット信号送受信機は要約データパケット（これは、データ信号送受信機の対応する１つずつにより適切に受信される、対応する規定のビットパターンを備えるデータビットの数を示す、対応する要約データを含む）を提供する。

本発明の代表的な実施形態に従って、多数のデータパケット信号送受信機を試験する方法は、複数のデータパケット信号送受信機に、共通の試験データパケット信号を複製した、同様の複数の試験データパケット信号を提供する工程と（ここで、この試験データパケット信号は、対応する所定のビットパターンを備える、対応する複数のデータビットを含む複数のシーケンシャル試験データパケットを含み）、上記複数のデータパケット信号送受信機から、同様の複数の要約データパケット信号を受信する工程とを含み、ここで、上記複数の要約データパケット信号の各１つが、上記複数の試験データパケット信号の対応する１つに応答し、上記複数のデータパケット信号送受信機の対応する１つにより適切に受信された、上記対応する所定のビットパターンを備える上記複数のデータビットのビット数を示す、対応する要約データを含む複数のシーケンシャル要約データパケットを含む。

本発明の別の代表的な実施形態に従って、多数のデータパケット信号送受信機を試験する方法は、複数のデータパケット信号送受信機により、共通の試験データパケット信号を複製した、同様の複数の試験データパケット信号を受信する工程と（ここで、この試験データパケット信号は、対応する規定のビットパターンを備える、対応する複数のデータビットを含む複数のシーケンシャル試験データパケットを含み）、上記複数のデータパケット信号送受信機により、同様の複数の要約データパケット信号を提供する工程とを含み、ここで、上記複数の要約データパケット信号の各１つが、上記複数の試験データパケット信号の対応する１つに応答し、そして上記複数のデータパケット信号送受信機の対応する１つにより適切に受信された、上記対応する規定のビットパターンを備える上記複数のデータビットのビット数を示す、対応する要約データを含む、複数のシーケンシャル要約データパケットを含む。

図１は、本発明の代表的な実施形態に係る、多数のデータパケット信号送受信機を同時に試験するための試験環境を示す。 図２は、本発明の代表的な実施形態に係る、試験機とＤＵＴとの間の試験データパケット及び要約データパケットのシーケンスの交換を示す。 図３は、本発明の代表的な実施形態に係る、交換した試験データパケット及び要約データの間のタイミング関係をより詳細に示す。 図４は、本発明の代表的な実施形態に係る、交換したデータパケット及び要約データパケットの別の一連のシーケンスを示す。 図５は、本発明の代表的な実施形態に係る、試験データパケット及び要約データパケットのシーケンスを使用することによって実現され得る、試験時間の節約を示す。 図６は、本発明の代表的な実施形態に係る、試験データパケット及び要約データパケットのシーケンスの交換と、多数のＤＵＴの同時試験の組み合わせにより、更に時間節約が実現される様子を示す。 図７は、本発明の代表的な実施形態に係る、試験データパケットの受信に応答して送信される要約データパケットをＤＵＴが提供する様子を、機能ブロック図の形態で表す。

以下の「発明を実施するための形態」は、添付図面を参照してここで請求されている発明の例示の実施形態に関するものである。かかる記載は、本発明の範囲に関して例示的なものであり、かつ限定するものではないということを意図している。かかる実施形態は、当業者が本発明を実施することを可能にするのに十分詳細に説明されており、本発明の趣旨及び範囲を逸脱することなく、一部の変形を用いる他の実施形態が実施され得るということが理解されよう。

本発明の開示を通じて、内容から反対であるという明確な指示がなければ、説明するような個々の回路要素は、数において単数の場合もあれば複数の場合もあることが理解されるであろう。例えば「回路（circuit）」及び「回路（circuitry）」という用語は、説明される機能を提供するために能動的及び／又は受動的であり、かつ互いに接続されるか又は他の方法で結合されている単一の構成要素又は複数の構成要素のいずれかを含み得る。更に、「信号」という用語は、１つ以上の電流、１つ以上の電圧、又はデータ信号を指す場合がある。図面内では、同様の又は関連する要素は、同様の又は関連の英字、数字、又は英数字符号を有する。更に、本発明は、個別の電子回路（好ましくは、１つ又はそれよりも多くの集積回路チップの形態）を使用する実施例という関連で説明されているが、このような回路のいかなる部分の機能も、代替的に、処理される信号周波数又はデータ転送速度により、１つ以上の適切にプログラムされたプロセッサを使用して実施することができる。更に、図が様々な実施形態の機能ブロックの略図を例示する範囲において、機能ブロックはハードウェア回路間の境界を必ずしも示さない。

以下の説明は、４つのＤＵＴの同時試験を含む。しかしながら、容易に理解できるように、本発明の代表的な実施形態に係る、多数のＤＵＴを試験するための、以下に記載されるシステム、技術、及び原理は、他の多数のＤＵＴのために、その規模を拡張又は縮小することができる。換言すると、本発明に従って、２つ以上のＤＵＴが、同時に試験され得る。

図１に示されているように、本発明の代表的な実施形態に係る、多数のＤＵＴを試験するための試験環境１０は、信号源２２（例えば、ベクトル信号分析器、ＶＳＧ）、及び受信信号分析器２４（例えば、ベクトル信号分析器、ＶＳＡ）を含む、試験機２０と、第１信号経路指定回路３２（例えば、信号分割、又は分離回路）と、第２信号経路指定回路３４（例えば、信号スイッチング、又は多重化回路）と、第３信号経路指定回路３６（例えば、信号スイッチング回路、又は信号分割回路及び結合回路の組み合わせ）と、試験されるＤＵＴ ４０とを含み、これらは図示されるように実質的に相互接続されている。容易に理解されるように、ＤＵＴ ４０は、典型的には無線信号送受信機であるが、試験機２０とＤＵＴとの間の様々な信号経路は、確実かつ実質的に損失のない信号接続を確保するために、典型的にはケーブル接続した信号経路である。

本実施例において、ここに示されるように、試験機２０は信号源２２及び信号分析器２４を含み、外部回路３０は信号経路指定回路３２、３４、３６、及び任意の必要な信号接続（例えば、ケーブル及びコネクタ）を含む。したがって、完全な試験システム（例えば、所望又は必要とされ得るいずれの外部制御装置（図示されない）も存在しない）は、試験機２０、及び外部試験回路３０を含む。しかしながら、容易に理解されるように、試験機は、試験機２０及び外部試験回路３０の機能及び回路の両方を含み得る。

当該技術分野において既知であるように、ＶＳＧ ２２は、ＤＵＴ ４０により受信される複製されたソース信号３３を提供するために、第１信号経路指定回路３２により複製されるデータパケット２７を含むソース信号２３を提供する。対応する複製されたソース信号３３ａ、３３ｂ、３３ｃ、３３ｄは、第３信号経路指定回路３６ａ、３６ｂ、３６ｃ、３６ｄ（以下でより詳細に記載される）を介して、対応するＤＵＴ ４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄに伝達される。複製されたソース信号３３（以下により詳細に記載される）に応答して、ＤＵＴ ４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄは応答信号３７を提供し、対応する応答信号３７ａ、３７ｂ、３７ｃ、３７ｄは、第２経路指定回路３４により経路付けされて、ＶＳＡ ２４への受信信号２５を提供する。以下でより詳細に記載されるように、対応する信号３７ａ、３７ｂ、３７ｃ、３７ｄ内の異なるタイムスロットからの対応するデータパケット３７ａａ、３７ｂｂ、３７ｃｃ、３７ｄｄが、受信信号２５として提供されるデータパケット３５の群を形成する。

図２に示されているように、本発明の代表的な実施形態に従って、試験機２０は、一定基準のデータパケット（例えば、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ規格による、８１８４ビットＰＲＢＳ９）を含む送信信号２３を提供し、ＤＵＴ ４０は、より短い要約データパケット４１ｔで応答し、この要約データパケットは、完全データパケットループバック試験を実施する際に元来必要とされる典型的な５タイムスロットと比べ、１信号時間のみを必要とする。結果的に、戻りデータパケットを折り返すのにかかる時間が８０％削減される（例えば、戻りデータパケットの各セットの、１タイムスロット対５タイムスロット）ため、全体的な試験時間が４０％削減され得る。各要約データパケット４１ｔは、対応するＤＵＴ ４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄにより計算されるビット誤差率（ＢＥＲ）を示すデータを含み、各連続的な要約データパケット４０ｔは累積ＢＥＲを示すデータを含む。

したがって、試験信号２３（これは、上記のように、多数の試験信号３３を提供するために複製される）は、試験データパケットのシーケンス２７ａ、２７ｂ、２７ｃ、．．．を含み、試験データパケットのそれぞれに、各ＤＵＴ ４０は、対応する要約データパケット４１ｔａ、４１ｔｂ、４１ｔｃ、．．．で応答し、要約データパケットのそれぞれは、各ＤＵＴ ４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄにより内部で判定される累積ＢＥＲを示すデータを含む（以下でより詳細に記載される）。

容易に理解されるように、これは、通常の完全データパケットループバック試験（試験データパケット２７ａ、２７ｂ、２７ｃ、．．．はそれぞれ、受信され、複製され、ＤＵＴ ４０によって返送され、試験機２０により受信され、その後、試験機２０が、受信した複製されたデータパケットを送信されたものと比較し、各ＤＵＴ ４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄのＢＥＲを算出する）と比較された際に、大幅に試験時間を節約する。しかしながら、本発明に従って、各ＤＵＴ ４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄは、プログラミングされているか、ないしは別の方法により、試験データパケットの内容の情報を与えられ、それ自体の内部ＢＥＲを計算し（以下でより詳細に記載される）、このＢＥＲはその後、ＢＥＲを示すデータを提供する要約データパケット４１ｔの形態で、試験機２０に返送される（例えば、受信された合計ビット数、受信された有効ビット数、及び受信された無効ビット数を表すデータ）。更に、本発明に従って、各連続的に受信された試験データパケットにより、各ＤＵＴ ４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄはその累積ＢＥＲを計算し、試験機２０に返送される次の連続的な要約データパケットに、これらの累積ＢＥＲデータを提供する。

図３に示されているように、上記のように、一定基準の試験データパケット３３（３３ｘａ、３３ｘｂ、３３ｘｃ、３３ｘｄ、．．．、ここで「ｘ」は対応する複製された信号３３ａ、３３ｂ、３３ｃ、３３ｄを表す）が試験機２０により提供され、ＤＵＴ ４０は、対応する要約データパケット３７（３７ｘａ、３７ｘｂ、３７ｘｃ、３７ｘｄ、．．．）で、対応する連続的な時間スロットｔ_０、ｔ_１、ｔ_２、ｔ_３、ｔ_４、ｔ_５、ｔ_６、ｔ_７内に応答する。上記のように（図１）、要約データパケット（３７ａａ、３７ｂｂ、３７ｃｃ、３７ｄｄ、．．．）のシーケンス３５をもたらすために、ＤＵＴ ４０からの戻り要約データパケット３７が経路付けされる（例えば、第２経路指定回路により多重化され、又は切り替えられる）（各ＤＵＴ ４０から１つの要約データパケット３７ｘｘ（ここで２つ目の「ｘ」は、連続的な戻りデータパケットタイムスロットａ、ｂ、ｃ、ｄ、．．．を表す））。換言すると、ＤＵＴ ４０のこの実施例において、それぞれ、時間間隔ｔ_０、ｔ_２、ｔ_４、及びｔ_６の間にＤＵＴ ４０により受信される第１の複製された試験データパケット３３ａａ、第２の複製された試験データパケット３３ｃｃ、第３の複製された試験データパケット３３ｃｃ、及び第４の複製された試験データパケット３３ｄｄに応答して、第１のＤＵＴ ４０ａ、第２のＤＵＴ ４０ｂ、第３のＤＵＴ ４０ｃ、及び第４のＤＵＴ ４０ｄからそれぞれ返送された第１の要約データパケット３７ａａ、第２の要約データパケット３７ｂｂ、第３の要約データパケット３７ｃｃ、及び第４の要約データパケット３７ｄｄが、戻り要約データパケットのシーケンス３５の一部として試験機２０に提供される。

図４に示されているように、上記のように、試験データパケット３３ｘｘ及び要約データパケット３７ｘｘが、試験機２０とＤＵＴ ４０との間で交換される。本発明の代表的な実施形態により、データパケット３３ｘｘ、３７ｘｘのこの交換は、第１試験サブシーケンス間隔Ｓ_１の間に実施される。この試験間隔Ｓ_１の終了時において、試験機２０は、ＤＵＴ ４０に、所定数のＢＥＲ試験データパケット３３ｘを同時に提供し、これに応答して、ＤＵＴ ４０は、上記のように、ＢＥＲ要約データパケット３７ｘｘを提供する。試験機２０が所定数の試験データパケット３３ｘｘがＤＵＴ ４０により送受信されたと判定すると、試験間隔Ｓ_１は終了する。この時点において、別の試験サブシーケンス間隔Ｓ_２が開始して、試験機２０が試験データパケット３３ｘｘの新しいシーケンスを送信し、ＤＵＴ ４０により受信され、各対応するＤＵＴ ４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄにより測定される新しい、累積ＢＥＲを示す、対応する要約データパケット３７ｘｘが試験機２０により受信される。この第２試験間隔Ｓ_２が実行され、１つ以上の異なる信号特性（例えば、信号周波数、信号変調タイプ、又はデータレート）を備える試験データパケットが送信され得る。これにより、有利なことに、上記の多数のサブシーケンスＳ_１、Ｓ_２、．．．を含む、単一のシーケンス内の、異なる信号特性（例えば、全ての所定のデータレート）についてＢＥＲ試験を行うことができる。最小数のデータビットにわたりＢＥＲが計算される際、試験機２０は、１つのＤＵＴ ４０においてそのような最小数が達成されるまで、累積するビット数をモニタリングし、次のＤＵＴ ４０に移り、これが続いていく（より多くのデータビットの使用は、ＢＥＲの計算に影響しないため）。

図５に示されているように、本発明の代表的な実施形態により、試験データパケット３３ｘｘに応答する要約データパケット３７ｘｘの使用は、一度に１つのＤＵＴ ４０のみを試験するとき（例えば、連続的試験）でさえも、試験時間を大幅に節約することができる。上記のように、データパケット３７ｘｘの使用により、完全データパケットループバック試験に対し、各要約データパケット３７ｘｘの戻りにおいて、およそ８０％の時間節約、試験時間全体の４０％の節約をもたらす。例えば、各ＤＵＴ ４０の試験時間がｔ_ｓである場合、ｎ個のＤＵＴの試験時間はほぼ、ｎとｔ_ｓの積（ｎ^＊ｔ_ｓ）となる。

図６に示されているように、本発明の別の代表的な実施形態に従って、このようなｎ個のＤＵＴ ４０を同時に試験することにより、全体的な試験時間は、ｔ_ｓ＋以降の累積ＢＥＲ要約データパケット３７ｘｘの経路付け（例えば、多重化又はスイッチング）に必要な追加時間となる。しかしながら、このような追加的な試験時間ｔ_ｅは元の初期試験時間ｔ_ｓよりも実質的に短い。したがって、全体的な試験時間ｔ_ｓ＋ｔ_ｅがおよそｔ_ｓ（ｔ_ｓ＞＞ｔ_ｅ）と等しいままであるため、ｎ個のＤＵＴ ４０を同時に試験する際に、各ＤＵＴ ４０のＢＥＲ試験は、およそｔ_ｓ／ｎの試験時間を必要とする。

図７に示されているように、代表的な実施形態に従って、各ＤＵＴ ４０は信号経路指定回路４２（例えば、信号分離、及び結合回路の組み合わせ）、受信回路４４、データ比較回路４６、メモリ回路４８（又は、外部メモリへのリモートアクセスなどの、他のデータソース等）、データ生成回路５０、及び送信回路５２を含み、図示されるように実質的に相互接続されている。この説明の目的のため、通常はＤＵＴ ４０の一部として含まれないが、受信信号４１ｒとして受信試験データパケット３３を提供し、戻り要約データパケット３７として内部で生成した要約データパケット４１ｔを提供するために、第３信号経路指定回路３６もまた示されている。（典型的には、ＤＵＴ ４０内において、これらの受信信号４１ｒ及び送信信号４１ｔを伝達するために、単一の有線信号経路４１が使用される）。

着信試験データパケット信号４３が受信され、受信回路４４（これは受信データビット４５をデータ比較回路４６へと提供する）によって処理される。データ比較回路４６はまた、メモリ回路４８から、対応する時間間隔内に受信される予定である試験データビット（例えば、上記の試験サブシーケンス_１、Ｓ_２、．．．）を表す、データ４９を受信する。受信データビット４５、及び予定されるデータビット４９の比較により、受信される有効及び無効データビットの数を示すＢＥＲ計算値を表すデータ４７が生じる。この計算されたデータ４７は、測定されたＢＥＲを示す要約データ５１を提供するために、データ生成回路５０により使用される。送信回路５２は、この要約データ５１を、試験機２０（図１）に戻す要約データパケット信号５３を提供するために、（例えば、既知の原理及び技術により、信号変調及び周波数変換により）変換する。

本発明の範囲及び思想から逸脱することなく、本発明の構造及び動作方法の様々な他の修正及び変更を行えることが当業者に明らかであろう。本発明は、特定の好ましい実施形態に関連して説明したが、特許請求の範囲に示す本発明は、このような特定的な実施形態に不当に限定されるべきではないことを理解すべきである。以下の「特許請求の範囲」が本発明の範囲を規定し、かつこれらの請求項及びその均等物の範囲内の構造及び方法がそれによって包含されることを意図している。

Claims (12)

1. 多数のデータパケット信号送受信機を試験する方法であって、
   複数のデータパケット信号送受信機に、共通の試験データパケット信号を複製した、同様の複数の試験データパケット信号を提供する工程と、ここで前記試験データパケット信号は、対応する所定のビットパターンを備える、対応する複数のデータビットを含む複数のシーケンシャル試験データパケットを含み、
   前記複数のデータパケット信号送受信機から、同様の複数の要約データパケット信号を受信する工程と、を含み、ここで前記複数の要約データパケット信号の各１つが、前記複数の試験データパケット信号の対応する１つに応答し、前記複数のデータパケット信号送受信機の対応する１つにより適切に受信された、前記対応する規定のビットパターンを備える前記複数のデータビットのビット数を示す、対応する要約データを含む複数のシーケンシャル要約データパケットを含む、方法。
2. 前記複数のシーケンシャル要約データパケットの各１つが、前記複数のシーケンシャル試験データパケットの対応する１つに応答する、請求項１に記載の方法。
3. 前記複数のシーケンシャル要約データパケットの連続的な１つずつが、前記複数のデータパケット信号送受信機の対応する１つにより適切に受信された、前記対応する規定のビットパターンを備える前記複数のデータビットの累積ビット数を示す要約データを含む、請求項１に記載の方法。
4. 前記対応する要約データが更に、前記複数のデータパケット信号送受信機の対応する１つのＢＥＲを更に示す、請求項１に記載の方法。
5. 前記複数のシーケンシャル要約データパケットの連続する１つずつが、累積ＢＥＲを示す要約データを含む、請求項４に記載の方法。
6. 前記共通の試験データパケット信号が複数のデータレートを含む、請求項１に記載の方法。
7. 多数のデータパケット信号送受信機を試験する方法であって、
   複数のデータパケット信号送受信機で、共通の試験データパケット信号を複製した、同様の複数の試験データパケット信号を受信する工程と、ここで、前記試験データパケット信号は、対応する規定のビットパターンを備える、対応する複数のデータビットを含む、複数のシーケンシャル試験データパケットを含み、
   前記複数のデータパケット信号送受信機で、同様の複数の要約データパケット信号を受信する工程と、を含み、前記複数の要約データパケット信号の各１つが、前記複数の試験データパケット信号の対応する１つに応答し、前記複数のデータパケット信号送受信機の対応する１つにより適切に受信された、前記対応する規定のビットパターンを備える前記複数のデータビットのビット数を示す、対応する要約データを含む、複数のシーケンシャル要約データパケットを含む、方法。
8. 前記複数のシーケンシャル要約データパケットの各１つが、前記複数のシーケンシャル試験データパケットの対応する１つに応答する、請求項７に記載の方法。
9. 前記複数のシーケンシャル要約データパケットの連続的な１つずつが、前記複数のデータパケット信号送受信機の対応する１つにより適切に受信された、前記対応する規定のビットパターンを備える、前記複数のデータビットの累積ビット数を示す要約データを含む、請求項７に記載の方法。
10. 前記対応する要約データが更に、前記複数のデータパケット信号送受信機の対応する１つのＢＥＲを更に示す、請求項７に記載の方法。
11. 前記複数のシーケンシャル要約データパケットの連続する１つずつが、累積ＢＥＲを示す要約データを含む、請求項１０に記載の方法。
12. 前記共通の試験データパケット信号が複数のデータレートを含む、請求項７に記載の方法。

Images