KR20150100637A - 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버를 동시에 검사하는 방법 - Google Patents

다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버를 동시에 검사하는 방법 Download PDF

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Abstract

검사기 및 데이터 패킷 신호 트랜시버가 검사 데이터 패킷 및 요약 데이터 패킷의 순서를 교환하는 동안 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버를 비트 에러율(BER)등에 대해 검사하는 방법. 이러한 검사기는 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 각각의 복수의 데이터 비트를 기록하는 검사 데이터 패킷을 제공한다. 이에 응답하여, 데이터 패킷 신호 트랜시버는 데이터 패킷 신호 트랜시버중 상응하는 트랜시버에 의해 정확하게 수신된 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 데이터 비트의 수를 나타내는 각 요약 데이터를 기록한 요약 데이터 패킷을 제공한다.

Description

다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버를 동시에 검사하는 방법{METHOD OF TESTING MULTIPLE DATA PACKET SIGNAL TRANSCEIVERS CONCURRENTLY}
본 발명은 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버를 병렬로 검사하기 위한 방법에 관한 것이고, 특히, 블루투쓰 기술을 포함하는 주파수 도약 확산 스펙트럼 신호 기술을 사용하여 이러한 피검사 장치(DUT)를 검사하는 것에 관한 것이다.
블루투쓰 접속 기술을 특징으로 하는 무선 장치가 점차 흔해지고 있다. 이러한 장치는 사용가능하다는 것을 보장하고 다른 무선 신호 기술에 따라 동작하는 다른 무선 장치는 물론 다른 블루투쓰 장치와의 적절한 동작 및 최소 간섭을 보장하는 규정된 신호 특성을 충족하는 것을 보장하도록 제조 동안 검사된다. 이러한 검사는 주로 대용량 생산 동안 장치의 제조 결함을 식별하기 위한 것이다.
스마트폰, 랩탑 및 태블릿과 같은 무선 기술의 특징을 갖는 소비자 제품은 극단적인 가격책정과 비용 압력으로 유명한 시장에서 대량으로 생산되고 판매되는 매우 정교한 장치이다. 제조 검사는 비용 억제에 있어서 핵심 영역이다. 검사 결과의 품질을 해치지 않으면서 검사 시스템 설계자는 검사 결과의 정확도에 있어서 어떤 원칙도 무시해서는 안되고 다양한 무선 기술을 검사하는데 필요한 검사 시간 역시 줄여야 한다.
블루투쓰 무선 기술은 매우 다양한 소비자 제품에서 발견된다. 블루투쓰 장착 장치가 충실해야 하는 주파수 스펙트럼, 변조 특성 및 출력 레벨과 같은 신호 특성에 매우 중요한 규격이 적용된다. 이러한 규격에 의해 제공된 범위안에서 블루투쓰 장치 제조자는 이러한 기술에 따라 구축하고 검사하는 비용을 계속 줄여나간다.
비용 억제를 위한 초점 영역중 하나는 블루투쓰 장치를 동시에(예를 들어, 병렬로 또는 함께) 검사하는 것이다. 동시 검사를 위한 가장 직접적인 방법은 다수의 장치를 다수의 동시 작동되는 검사 시스템, 또는 검사기에 의해 검사하는 것인데, 이러한 각각의 시스템은 블루투쓰 특정 신호 특성의 전송 및 수신을 위한 장치의 기능(예를 들어, 규정된 주파수 스펙트럼, 변조 특성 및 품질, 출력 레벨, 감도등에 대한 충실도)을 검사하기 위한 수단이 장착되어 있다. 그러나, 각 검사되는 장치, 또는 DUT 전용의 하나의 검사기를 갖는 자본비가 높다. 따라서, 단일 신호 소스 및 단일 수신 신호 분석기를 갖는 단일 검사 시스템을 사용하는 시스템 설계자는 단일 검사기로 다수의 DUT를 수용하기 위해 신호 분할기 및 멀티플렉서를 사용하여왔다.
그러나, 각 DUT에 대한 검사기에 대한 필요를 피할 때 실현되는 비용 절감을 얻기 위해 상당한 타협이 요구된다. 예를 들어, 단일 소스 신호를 동시에 복제하기 위해 신호 분할기 기능을 사용할 수 있지만, 수신 신호는 단일 수신 신호 분석기에 의해 동시에 조사될 수 없다. 대신에, 이러한 신호는 동시가 아니라 멀티플렉싱되고 연속으로 포착될 필요가 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 검사 속도를 최적화하고 검사 비용을 최소화하는 방법, 및 신호 소스 및 수신 신호 분석기의 수가 동시에 검사되는 DUT의 수와의 일대일 대응 보다 적은 경우에 검사 시스템을 사용하는 동안 검사 속도를 최적화하고 검사 비용을 최소화하는 방법을 얻는 것이다.
본 발명에 따라, 검사기 및 데이터 패킷 신호 트랜시버가 검사 데이터 패킷 및 요약 데이터 패킷의 순서를 교환하는 동안 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버를 비트 에러율(BER)등에 대해 검사하는 방법이 제공된다. 이러한 검사기는 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 각각의 복수의 데이터 비트를 기록하는 검사 데이터 패킷을 제공한다. 이에 응답하여, 데이터 패킷 신호 트랜시버는 데이터 패킷 신호 트랜시버중 상응하는 트랜시버에 의해 정확하게 수신된 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 데이터 비트의 수를 나타내는 각 요약 데이터를 기록한 요약 데이터 패킷을 제공한다.
본 발명의 실시예에 따라, 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버를 검사하는 방법은 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버에 대해, 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 각 복수의 데이터 비트를 기록하고 있는 복수의 순차 검사 데이터 패킷을 포함하는 공통 검사 데이터 패킷 신호를 복제하는 유사한 복수의 검사 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계; 및 상기 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버로부터, 유사한 복수의 요약 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계를 포함하고, 상기 복수의 요약 데이터 패킷 신호의 각각은 상기 복수의 검사 데이터 패킷 신호의 각각에 응답하고, 상기 복수의 데이터 비트중에서, 상기 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버중 상응하는 트랜시버에 의해 정확하게 수신된 상기 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 비트의 수를 나타내는 각 요약 데이터를 기록하고 있는 복수의 순차 요약 데이터 패킷을 포함한다.
본 발명의 다른 실시예에 따라, 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버를 검사하는 방법은 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버에 의해, 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 각 복수의 데이터 비트를 기록하고 있는 복수의 순차 검사 데이터 패킷을 포함하는 공통 검사 데이터 패킷 신호를 복제하는 유사한 복수의 검사 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계; 및 상기 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버에 의해, 유사한 복수의 요약 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계를 포함하고, 상기 복수의 요약 데이터 패킷 신호의 각각은 상기 복수의 검사 데이터 패킷 신호의 각각에 응답하고, 상기 복수의 데이터 비트중에서, 상기 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버중 상응하는 트랜시버에 의해 정확하게 수신된 상기 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 비트의 수를 나타내는 각 요약 데이터를 기록하고 있는 복수의 순차 요약 데이터 패킷을 포함한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따라 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버를 동시에 검사하기 위한 검사 환경을 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따라 검사기와 DUT 사이에서 검사 데이터 패킷 및 요약 데이터 패킷의 순서의 교환을 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 교환된 검사 데이트 패킷 및 요약 데이터 패킷 사이의 타이밍 관계를 보다 상세하게 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 교환된 검사 데이터 패킷 및 요약 데이터 패킷의 다른 일련의 순서를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 검사 데이터 패킷 및 요약 데이터 패킷의 순서를 사용함으로써 실현될 수 있는 검사 시간 절감을 도시하는 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 검사 데이터 패킷 및 요약 데이터 패킷의 순서의 교환을 다수의 DUT를 동시에 검사하는 것과 결합함으로써 추가 시간 절감이 실현될 수 있는 방법을 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 검사 데이터 패킷의 수신에 응답하여 전송되는 요약 데이터 패킷을 DUT가 제공하는 방법을 기능 블록도의 형태로 도시한 도면이다.
다음의 상세한 설명은 첨부된 도면을 참조한 본 발명의 실시예에 대한 것이다. 이러한 설명은 설명을 위한 것이고, 본 발명의 범위를 제한하지 않는다. 이러한 실시예는 당업자중 하나가 본 발명을 실시할 수 있을 정도로 충분히 상세하게 설명되어 있고, 다른 실시예가 본 발명의 정신 또는 범위로부터 벗어남 없이 일부 변형으로 실시될 수 있다는 것을 이해할 것이다.
본원 전체에서, 문맥과 대조되는 명백한 지시가 없으면, 기술된 개별적인 회로 소자는 단수 또는 복수일 수 있다는 것을 이해할 것이다. 예를 들어, 용어 "회로"는 능동 및/또는 수동이고 접속되거나 함께 결합되어(예를 들어, 하나 이상의 집적 회로 칩) 기술된 기능을 제공하는 단일 구성요소 또는 복수의 구성요소를 포함할 수 있다. 또한, 용어 "신호"는 하나 이상의 전류, 하나 이상의 전압, 또는 데이터 신호를 가리킬 수 있다. 도면에서, 동일하거나 관련된 요소는 동일하거나 관련된 알파벳, 숫자 또는 영숫자 표시를 가질 것이다. 또한, 본 발명이 이산 전자 회로를 사용하여 (바람직하게는 하나 이상의 집적 회로 칩의 형태로) 구현되는 것으로 기술되었지면, 이러한 회로의 임의의 부분의 기능은 신호 주파수 또는 처리되는 데이터 전송속도에 따라, 하나 이상의 적절하게 프로그래밍된 프로세서를 사용하여 대안으로 구현될 수 있다. 또한, 도면이 다양한 실시예의 기능 블록의 도면을 도시하므로, 기능 블록은 하드웨어 회로 사이에 분할을 반드시 표시할 필요가 없다.
다음의 설명은 4개의 DUT의 동시 검사에 관한 것이다. 그러나, 용이하게 이해되는 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따라 다수의 DUT를 동시에 검사하기 위한 하술된 시스템, 기술 및 원리는 다른 다수의 DUT에 대해 확장되거나 축소될 수 있다. 즉, 2개 이상의 DUT가 본 발명에 따라 동시에 검사될 수 있다.
도 1에서, 본 발명의 실시예에 따라 도시된 바와 같이 실질상 상호접속된, 다수의 DUT를 검사하기 위한 검사 환경(10)은 신호원(22)(예를 들어, 벡터 신호 발생기, VSG) 및 수신 신호 분석기(24)(예를 들어, 벡터 신호 분석기, VSA)를 포함하는 검사기(20), 제1 신호 루팅 회로(32)(예를 들어, 신호 분할 회로), 제2 신호 루팅 회로(34)(예를 들어, 신호 스위칭 또는 멀티플렉싱 회로), 제3 신호 루팅 회로(36)(예를 들어, 신호 스위칭 회로 또는 신호 분할 및 결합 회로의 결합부), 및 검사되는 DUT(40)를 포함하고 있다. 용이하게 이해되는 바와 같이, DUT(40)는 무선 신호 트랜시버이지만, 검사기(20)와 DUT 사이의 다양한 신호 경로는 보통 유선 신호 경로이어서 확실하고 거의 무손실의 신호 접속을 보정한다.
이러한 예에서, 여기에 도시된 바와 같이, 검사기(20)는 신호원(22) 및 신호 분석기(24)를 포함하고, 외부 회로(30)는 신호 루팅 회로(32, 34, 36) 및 임의의 필요한 신호 접속부(예를 들어, 케이블 및 커넥터)를 포함하고 있다. 따라서, (예를 들어, 요구되거나 필요할 수 있는 임의의 외부 제어기(도시되지 않음)가 없는) 완전한 검사 시스템은 검사기(20) 및 외부 검사 회로(30)를 포함하고 있다. 그러나, 용이하게 이해되는 바와 같이, 검사기는 검사기(20) 및 외부 검사 회로(30)의 기능부 및 회로 모두를 포함할 수 있다.
당업계에 주지된 바와 같이, VSG(22)는 DUT(40)에 의해 수신되기 위한 복제된 소스 신호(33)를 제공하기 위해 제1 신호 루팅 회로(32)에 의해 복제되는, 데이터 패킷(27)을 포함하는 소스 신호(23)를 제공한다. 각 복제된 소스 신호(33a, 33b, 33c, 33d)는 (아래에 보다 상세하게 설명되는) 제3 신호 루팅 회로(36a, 36b, 36c, 36d)를 통해 상응하는 DUT(40a, 40b, 40c, 40d)에 전송된다. (아래에 보다 상세하게 설명되는) 복제된 소스 신호(33)에 응답하여, DUT(40a, 40b, 40c, 40d)는 응답 신호(37)을 제공하는데, 각 응답 신호(37a, 37b, 37c, 37d)는 제2 루팅 회로(34)에 의해 전송되어 VSA(24)를 위한 수신 신호(25)를 제공한다. 아래에 보다 상세하게 설명되는 바와 같이, 응답 신호(37a, 37b, 37c, 37d) 내의 상이한 타임 슬롯으로부터의 각 데이터 패킷(37aa, 37bb, 37cc, 37dd)은 수신 신호(25)로서 제공된 데이터 패킷(35)의 그룹을 형성한다.
도 2에서, 본 발명의 실시예에 따라, 검사기(20)는 규정된 데이터 패킷(예를 들어, 블루투쓰 규격에 따른 8184-bit PRBS9)을 포함하는 전송 신호(23)를 제공하고 DUT(40)는 완전한 데이터 패킷 루프백 검사를 실행할 때 요구되는 보통의 5개의 타임 슬롯이 아닌 하나의 신호 타임 슬롯만을 필요로 하는 보다 짧은 데이터 패킷(41t)으로 응답한다. 결국, 전체 검사 시간은 40% 감소될 수 있는데, 그 이유는 루프백 복귀 데이터 패킷에서 소요되는 시간이 80% 감소되기 때문이다(예를 들어, 각 복귀 데이터 패킷의 세트에 대해 5개의 타임 슬롯에 대한 하나의 타임 슬롯). 각 요약 데이터 패킷(41t)은 각 DUT(40a, 40b, 40c, 40d)에 의해 계산된 비트 에러율(BER)을 나타내는 데이터를 포함하고 있고, 각 후속 요약 데이터 패킷(40t)은 누적 BER를 나타내는 데이터를 포함하고 있다.
그래서, (상술된 바와 같이, 다수의 검사 신호(33)를 제공하기 위해 복제되는) 검사 신호(23)는 일련의 검사 데이터 패킷(27a, 27b, 27c)을 포함하고, 각 검사 데이터 패킷(27a, 27b, 27c,...)에, DUT(40)의 각각은 각각의 요약 데이터 패킷(41ta, 41tb, 41tc,...)으로 응답하고, 각 요약 데이터 패킷(41ta, 41tb, 41tc,...)은 (하술되는 바와 같은) 각 DUT(40a, 40b, 40c, 40d)에 의해 내부적으로 결정되는 누적 BER를 나타내는 데이터를 포함한다.
용이하게 이해되는 바와 같이, 이것은 검사 데이터 패킷(27a, 27b, 27c,...)이 각각 DUT(40)에 의해 수신되고, 복제되고 전송되어 검사기(20)에 의해 수신될 필요가 있는 정상적인 완전한 데이터 패킷 루프백에 비교할 때 상당한 양의 검사 시간을 절감한다. 이러한 검사기(20)는 그다음, 수신한 복제 데이터 패킷을 전송된 것과 비교하여 각 DUT(40a, 40b, 40c, 40d)에 대한 BER를 계산한다. 그러나, 본 발명에 따라, 각 DUT(40a, 40b, 40c, 40d)는 프로그래밍되었거나 검사 데이터 패킷의 내용의 지식이 제공되고 자체 내부 BER를 계산한 다음(아래에 보다 상세하게 설명되어 있다), BER를 나타내는 데이터(예를 들어, 수신된 비트의 전체 수, 유효 비트의 수 및 수신된 무효 비트의 수를 나타내는 데이터)를 제공하는 요약 데이터 패킷(41t)의 형태로 검사기(20)에 다시 전송된다. 또한, 본 발명에 따라, 각 후속 수신된 검사 데이터 패킷에 의해, 각 DUT(40a, 40b, 40c, 40d)는 그 누적 BER를 계산하고 이러한 누적 BER 데이터를 검사기(20)에 복귀되는 다음 후속 요약 데이터 패킷에 제공한다.
도 3에서, 상술된 바와 같이, 규정된 검사 데이터 패킷(33)(33xa, 33xb, 33xc, 33xd,..., 여기에서 "x"는 각 복제된 신호(33a, 33b, 33c, 33d)를 나타낸다)이 검사기(20)에 의해 제공되고, DUT(40)는 각, 후속 타임 슬롯(t0, t1, t2, t3, t4, t5, t6, t7,...) 동안 상응하는 요약 데이터 패킷(37)(37xa, 37xb, 37xc, 37xd,...)에 의해 응답한다. 상술된 바와 같이(도 1), DUT(40)로부터의 복귀 요약 데이터 패킷(37)은 전송되어(예를 들어, 제2 루팅 회로(34)에 의해 멀티플렉싱되거나 스위칭되어) 요약 데이터 패킷(37aa, 37bb, 37cc, 37dd,...)의 시퀀스(35)에 각 DUT(40)로부터의 하나의 요약 데이터 패킷(37xx)(여기에서, "x"는 후속 복귀 데이터 패킷 타임 슬롯 a, b, c, d,...를 나타낸다)을 제공한다. 즉, 이러한 4개의 DUT(40)의 예에서, 시간 간격(t0, t2, t4, t6) 동안 DUT(40)에 의해 수신된 제1 33aa, 제2 33bb, 제3 33cc 및 제4 33dd 복제된 검사 데이터 패킷에 각각 응답하여, 제1 40a, 제2 40b, 제3 40c 및 제4 40d DUT로부터 복귀된 제1 37aa, 제2 37bb, 제3 37cc 및 제4 37dd 요약 데이터 패킷 각각이, 검사기(20)에 제공된 복귀된 요약 데이터 패킷의 시퀀스(35)의 일부로서 제공된다.
도 4에서, 상술된 바와 같이, 검사 데이터 패킷(33xx) 및 요약 데이터 패킷(37xx)이 검사기(20)와 DUT(40) 사이에서 교환된다. 본 발명의 실시예에 따라, 이러한 데이터 패킷(33xx, 37xx)의 교환은 제1 검사 서브시퀀스 인터벌(S1) 동안 실행된다. 이러한 검사 인터벌(S1)의 끝에서, 검사기(20)는 BER 검사 데이터 패킷(33xx)의 사전결정된 수를 DUT(40)에 동시에 제공하였을 것이고, 이에 응답하여 DUT(40)는 상술된 바와 같이, BER 요약 데이터 패킷(37xx)을 제공하였을 것이다. 이러한 검사 인터벌(S1)의 종료는 사전결정된 수의 검사 데이터 패킷(33xx)이 DUT(40)에 의해 전송되고 수신되었다고 검사기(20)가 판정하였을 때 발생한다. 이 시점에서, 다른 검사 서브시퀀스 인터벌(S2)이 검사기(20)가 DUT(40)에 의해 수신될 검사 데이터 패킷(33xx)의 새로운 시퀀스를 전송하고 검사기(20)가 각 DUT(40a, 40b, 40c, 40d)에 의해 측정되는 새로운 누적 BER를 나타내는 응답 요약 데이터 패킷(37xx)을 수신할 때 시작된다. 이러한 제2 검사 인터벌(S2)은 하나 이상의 상이한 신호 특징(예를 들어, 신호 주파수, 신호 변조 타입 또는 데이터 전송속도)을 갖고 전송되는 검사 데이터 패킷(33xx)에 의해 실행될 수 있다. 이로 인해, 상술된 바와 같이, 다수의 서브시퀀스(Si, S2,...)로 구성된 단일 시퀀스에서, 상이한 신호 특징, 예를 들어, 모든 규정된 데이터 전송속도에 대해 BER 검사가 실행될 수 있는 장점을 얻을 수 있다. BER이 최소 수의 데이터 비트에서 계산되기 때문에, 검사기(20)는 이러한 최소 카운트가 하나의 DUT(40)에 대해 달성될 때까지 누적 비트 카운트를 감시한 다음, 다음 DUT(40)등으로 이동할 수 있다(그 이유는 보다 많은 데이터 비트를 사용하는 것이 BER 계산에 영향을 주지 않기 때문이다).
도 5에서, 본 발명의 실시예에 따라, 검사 데이터 패킷(33xx)에 응답하는 요약 데이터 패킷(37xx)을 사용함으로써 한 번에 오직 하나의 DUT(40)를 검사할 때도(예를 들어, 순차 검사), 검사 시간을 상당히 감소시킬 수 있다. 상술된 바와 같이, 요약 데이터 패킷(37xx)을 사용함으로써 완전한 데이터 패킷 루프백 검사에 비해, 각 요약 데이터 패킷(37xx)에 대해 대략 80% 만큼 검사 시간을 감소시킬 수 있고, 전체적으로 검사 시간을 40% 감소시킬 수 있다. 예를 들어, 각 DUT(40)에 대한 검사 시간이 ts이라면, n개의 DUT를 검사하기 위한 검사 시간은 대략 n과 ts의 곱(n*ts)이 된다.
도 6에서, 본 발명의 다른 실시예에 따라, 이러한 n개의 DUT(40)를 동시에 검사함으로써, 전체 검사 시간은 ts 더하기, 후속 누적 BER 요약 데이터 패킷(37xx)을 전송(예를 들어, 멀티플렉싱 또는 스위칭)하는데 필요한 추가 시간 te가 된다. 그러나, 이러한 추가 검사 시간 te는 본래의 초기 검사 시간 ts 보다 상당히 짧다. 따라서, 전체 검사 시간 ts+te는 대략 ts와 동일하게 되기 때문에(여기에서, ts>>te), n개의 DUT(40)를 동시에 검사할 때, 각 DUT(40)의 BER 검사는 대략 ts/n의 검사 시간을 필요로 한다.
도 7에서, 본 발명의 실시예에 따라, 각 DUT(40)는 도시된 바와 같이 실질상 상호 접속된, 신호 루팅 회로(42)(예를 들어, 신호 분할 및 결합 회로의 조합부), 수신기 회로(44), 데이터 비교 회로(46), 메모리 회로(48)(또는 외부 메모리등으로의 원격 접근과 같은 임의의 다른 데이터 소스), 데이터 발생기 회로(50) 및 전송기 회로(52)를 포함하고 있다. 또한 이러한 설명을 위해, DUT(40)의 일부로서 보통은 포함되어 있지만, 수신 신호(41r)로서 수신 검사 데이터 패킷(33)을 제공하고 복귀 요약 데이터 패킷(37)으로서 내부 발생된 요약 데이터 패킷(41t)을 제공하기 위한 제3 신호 루팅 회로(36)가 도시되어 있다. (보통, DUT(40)의 내부에서, 단일 배선 신호 경로(41)가 이러한 수신 신호(41r) 및 전송 신호(41t)를 전달하는데 사용된다.)
인입 검사 데이터 패킷 신호(43)가 수신기 회로(44)에 의해 수신되고 처리되고, 이러한 수신기 회로(44)는 수신된 데이터 비트(45)를 데이터 비교 회로(46)에 제공한다. 데이터 비교 회로(46)는 또한 메모리 회로(48)로부터, 대상 시간 간격(예를 들어, 검사 서브시퀀스(상술된 바와 같은, S1, S2,...) 동안 수신되는 것으로 예상되는 검사 데이터 비트를 나타내는 데이터(49)를 수신한다. 수신된 데이터 비트(45)와 예상되는 데이터 비트(49)를 비교하여 수신된 유효 및 무효 데이터 비트의 수를 나타내는 BER 계산값을 나타내는 데이터(47)를 산출한다. 이렇게 계산된 데이터(47)는 측정된 BER를 나타내는 요약 데이터(51)를 제공하기 위해 데이터 발생기 회로(50)에 의해 사용된다. 전송기 회로(52)는 이러한 요약 데이터(51)를 (예를 들어, 주지된 원리 및 기술에 따른 신호 변조 및 주파수 변환을 통해) 전환하여 검사기(20)(도 1)로 복귀되는 요약 데이터 패킷 신호(53)를 제공한다.
당업자는 본 발명의 구조 및 동작 방법의 다른 수정 및 변형이 본 발명의 범위 및 정신으로부터 벗어남 없이 가능하다는 것을 이해할 것이다. 본 발명이 특정 바람직한 실시예에 대해 설명되었지만, 본 발명은 이러한 특정 실시예에 제한되지 않는다는 것을 이해해야 한다. 다음의 청구범위는 본 발명의 범위를 한정하고 이러한 청구범위 내의 구조 및 방법 그리고 그 등가물은 본 발명에 포함되어 있다.

Claims (12)

  1. 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버를 검사하는 방법으로서,
    복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버에 대해, 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 각 복수의 데이터 비트를 기록하고 있는 복수의 순차 검사 데이터 패킷을 포함하는 공통 검사 데이터 패킷 신호를 복제하는 유사한 복수의 검사 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계; 및
    상기 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버로부터, 유사한 복수의 요약 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계를 포함하고,
    상기 복수의 요약 데이터 패킷 신호의 각각은 상기 복수의 검사 데이터 패킷 신호의 각각에 응답하고, 상기 복수의 데이터 비트중에서, 상기 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버중 상응하는 트랜시버에 의해 정확하게 수신된 상기 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 비트의 수를 나타내는 각 요약 데이터를 기록하고 있는 복수의 순차 요약 데이터 패킷을 포함하는 것을 특징으로 하는 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 검사 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 복수의 순차 요약 데이터 패킷의 각각은 상기 복수의 순차 검사 데이터 패킷의 각각에 응답하는 것을 특징으로 하는 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 검사 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 복수의 순차 요약 데이터 패킷의 후속 패킷은 상기 복수의 데이터 비트중에서, 상기 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버중 상응하는 트랜시버에 의해 정확하게 수신된 상기 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 비트의 누적 수를 나태는 요약 데이터를 기록한 것을 특징으로 하는 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 검사 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 각 요약 데이터는 또한 상기 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버중 상응하는 트랜시버에 대한 BER를 나타내는 것을 특징으로 하는 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 검사 방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 복수의 순차 요약 데이터 패킷의 후속 패킷은 누적 BER를 나타내는 요약 데이터를 기록한 것을 특징으로 하는 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 검사 방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 공통 검사 데이터 패킷 신호는 복수의 데이터 전송속도를 포함하는 것을 특징으로 하는 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 검사 방법.
  7. 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버를 검사하는 방법으로서,
    복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버에 의해, 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 각 복수의 데이터 비트를 기록하고 있는 복수의 순차 검사 데이터 패킷을 포함하는 공통 검사 데이터 패킷 신호를 복제하는 유사한 복수의 검사 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계; 및
    상기 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버에 의해, 유사한 복수의 요약 데이터 패킷 신호를 제공하는 단계를 포함하고,
    상기 복수의 요약 데이터 패킷 신호의 각각은 상기 복수의 검사 데이터 패킷 신호의 각각에 응답하고, 상기 복수의 데이터 비트중에서, 상기 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버중 상응하는 트랜시버에 의해 정확하게 수신된 상기 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 비트의 수를 나타내는 각 요약 데이터를 기록하고 있는 복수의 순차 요약 데이터 패킷을 포함하는 것을 특징으로 하는 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 검사 방법.
  8. 제7항에 있어서, 상기 복수의 순차 요약 데이터 패킷의 각각은 상기 복수의 순차 검사 데이터 패킷의 각각에 응답하는 것을 특징으로 하는 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 검사 방법.
  9. 제7항에 있어서, 상기 복수의 순차 요약 데이터 패킷의 후속 패킷은 상기 복수의 데이터 비트중에서, 상기 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버중 상응하는 트랜시버에 의해 정확하게 수신된 상기 각 사전결정된 비트 패턴을 갖는 비트의 누적 수를 나태는 요약 데이터를 기록한 것을 특징으로 하는 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 검사 방법.
  10. 제7항에 있어서, 상기 각 요약 데이터는 또한 상기 복수의 데이터 패킷 신호 트랜시버중 상응하는 트랜시버에 대한 BER를 나타내는 것을 특징으로 하는 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 검사 방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 복수의 순차 요약 데이터 패킷의 후속 패킷은 누적 BER를 나타내는 요약 데이터를 기록한 것을 특징으로 하는 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 검사 방법.
  12. 제7항에 있어서, 상기 공통 검사 데이터 패킷 신호는 복수의 데이터 전송속도를 포함하는 것을 특징으로 하는 다수의 데이터 패킷 신호 트랜시버 검사 방법.
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