JP2016201962A - 力率改善回路及びその制御方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】寿命末期の判定後であっても出力を低下させることなく延命措置を実施し、且つ利用者に装置の交換を促すことができるようにする。【解決手段】入力する交流電圧を整流する整流回路11と、整流回路11の出力側に接続されたインダクタL1と、インダクタL1に流れる電流をスイッチングするスイッチング素子MN1と、平滑用の電解コンデンサC1と、電解コンデンサC1の両端間電圧に応じてスイッチング素子MN1のスイッチングを制御するとともに電解コンデンサC1の寿命を判定する制御装置13と、判定された寿命が末期であるときそれを通達する通達装置14とを備える。制御装置13は、電解コンデンサC1の寿命が末期であると判定されたときスイッチング素子MN1のスイッチング周波数をより高い周波数に切り替える。【選択図】図1

Description

本発明は、電解コンデンサの長寿命化を図った力率改善回路及びその制御方法に関するものである。
力率改善(PFC:power factor correction)回路は、入力交流電流波形を入力交流電圧波形に近似した波形になるように処理して力率を改善する回路であり、入力交流電圧を昇圧し直流電圧に変換して出力するLEDアレイ用の電源回路などに組み込まれている。この力率改善回路の寿命は、この回路の出力部分に配置される平滑用の電解コンデンサの寿命で決まる。
電解コンデンサは使い続けると経年劣化で容量値が低下し、リプル電流が多くなる。リプル電流が多くなると内部での発熱量が増加して電解液が蒸発し、内部圧力が上昇する。最終的には内部圧力を解放するための防爆弁が開き、容量値が加速度的に減少する。容量値が加速度的に減少すると、電解コンデンサは力率改善回路の出力リプル電流を吸収できず、その電流が他の部品へ流れ込んで過電流状態となり、過剰な発熱を招く可能性がある。
このような事態を回避するためには、電解コンデンサの防爆弁が開く前に寿命末期を判定する必要があり、これまでに種々検討されている。寿命末期を判定する従来技術を特許文献1〜特許文献5に示す。
特許文献1と特許文献2では、定常運転状態での電解コンデンサの両端間電圧をモニターすることで寿命を判定している。電解コンデンサは使用時間とともに容量値が減少するため、寿命末期ではその両端間電圧の挙動が使用開始時とは異なってくる。そして、この両端間電圧が予め設定された閾値に達したとき寿命末期と判定し、2度と電源が入らない状態にすることで利用者に装置の交換を促している。
特許文献3では、負荷駆動の始動時に発生する電解コンデンサの両端間電圧のリンギング波形の最大値と最小値をモニターすることで寿命を判定している。リンギング波形の最大値と最小値が予め設定された閾値に達した場合、出力を低下させることにより利用者に寿命が近いことを知らせる。出力を低下させることは電解コンデンサヘの熱的負担を減少させ、延命させる効果がある。この延命措置期間中に利用者に装置の交換を促す。
特許文献4では、電解コンデンサの両端間電圧をモニターし、その電圧が予め設定された閾値に達した場合、出力停止や断続的な出力に変更することで、利用者に寿命が近いことを知らせることを提案している。また、これらの出力の変化とともに、付属する装置に寿命末期であることを知らせるメッセージや音声などを出力することを提案している。なお、断続的な出力に変更することで電解コンデンサヘの熱的負担が減少し、電解コンデンサを延命させる効果がある。
特許文献5では、電解コンデンサが寿命末期であると判定されたとき、その電解コンデンサの両端間電圧を低下させるようにスイッチング素子を制御したり、電解コンデンサへの電路を遮断するスイッチング手段を設けることが提案されている。
特開2007−207708号公報 特開2010−57343号公報 特開2011−108518号公報 特開2012−60814号公報 特開2011−97680号公報
特許文献1〜特許文献5では電解コンデンサの寿命末期を判定しているが、寿命末期を迎えた場合の対応は出力停止、出力低下、断続的な出力への変更、電解コンデンサの力率改善回路からの開放などであり、この手法ではこれまでの出力を得られない短所がある。例えばLEDアレイ回路の電源回路にこのような力率改善回路が組み込まれた場合には、突然の消灯や照度低下を引き起こす。これは、利用者にとっては利便性が損なわれるだけではなく、危険な場合もある。
本発明の目的は、寿命末期が判定されたときであっても出力を低下させることなく延命措置を実施でき、且つ利用者に装置の交換を促すことができるようにした力率改善回路及びその制御方法を提供することである。
上記目的を達成するために、請求項1にかかる発明の力率改善回路は、入力する交流電圧を整流する整流回路と、該整流回路の出力側に接続されたインダクタと、該インダクタに流れる電流をスイッチングするスイッチング素子と、平滑用の電解コンデンサと、該電解コンデンサの両端間の電圧を検出して前記スイッチング素子のスイッチングを制御するとともに前記電解コンデンサの寿命を判定する制御装置と、該制御装置で前記電解コンデンサの寿命が末期であると判定されたときそれを通達する通達装置とを備える力率改善回路であって、前記制御装置は、前記電解コンデンサの寿命が末期であると判定されたとき前記スイッチング素子のスイッチング周波数をより高い周波数に切り替えることを特徴とする。
請求項2にかかる発明は、請求項1に記載の力率改善回路において、前記電解コンデンサの温度を検出する温度センサを備え、前記制御装置は、前記温度センサで検出した温度に応じて前記電解コンデンサの寿命の判定のための前記電解コンデンサの両端間の検出電圧を補正することを特徴とする。
請求項3にかかる発明は、請求項1又は2に記載の力率改善回路において、前記スイッチング周波数をより高い周波数に切り替える際の周波数を選択するスイッチング周波数選択手段を備えることを特徴とする。
請求項4に係る発明の力率改善回路の制御方法は、入力する交流電圧を整流する整流回路と、該整流回路の出力側に接続されたインダクタと、該インダクタに流れる電流をスイッチングするスイッチング素子と、平滑用の電解コンデンサと、該電解コンデンサの両端間の電圧を検出して前記スイッチング素子のスイッチングを制御するとともに前記電解コンデンサの寿命を判定する制御装置と、該制御装置で前記電解コンデンサの寿命が末期であると判定されたときそれを通達する通達装置とを備える力率改善回路の制御方法であって、前記制御装置により、前記電解コンデンサの寿命が末期であると判定されたとき前記スイッチング素子のスイッチング周波数をより高い周波数に切り替えることを特徴とする。
請求項5にかかる発明は、請求項4に記載の力率改善回路の制御方法において、前記電解コンデンサの温度に応じて前記電解コンデンサの寿命判定のための前記電解コンデンサの両端間の検出電圧を補正することを特徴とする。
本発明によれば、電解コンデンサが寿命末期であると判定されたときであっても出力を低下させることなく延命措置を実施でき、且つ利用者に装置の交換を促すことができる。また、電解コンデンサの周囲温度によって電解コンデンサの両端間の検出電圧を補正することで、より精度の高い寿命末期の判定を行うことができる。また、スイッチング周波数をより高い周波数に切り替える際の周波数を選択できるようにすることで、寿命と効率の調整ができ、利用者の利便性向上を図ることができる。
本発明の第1の実施例の力率改善回路を組み込んだ電源装置のブロック図である。 電解コンデンサの寿命のリプル電流依存性を示す特性図である。 リプル電流のスイッチング周波数依存性を示す特性図である。 電解コンデンサの寿命のスイッチング周波数依存性を示す特性図である。 本発明の第2の実施例の力率改善回路を組み込んだ電源装置のブロック図である。 電解コンデンサの容量値の温度変動率を示す特性図である。 本発明の第3の実施例の力率改善回路を組み込んだ電源装置のブロック図である。 電源装置の効率のスイッチング周波数依存性を示す特性図である。 本発明の第3の実施例のスイッチング周波数選択装置の表示画面を示す図である。 本発明の第3の実施例におけるスイッチング周波数調整のフローチャートである。
<第1の実施例>
図1は本発明の第1の実施例の力率改善回路10を組み込んだ電源装置のブロック図である。力率改善回路10において、11はダイオードブリッジによる第1整流回路であり、交流電圧Vinが入力するライン端子Lとニュートラル端子Nに接続されていて、その交流電圧Vinを両波整流する。第1整流回路11の正出力側にはインダクタL1の一端が接続されている。このインダクタL1の他端と整流回路11の負入力側との間にはスイッチング素子としてのNMOSのパワートランジスタMN1が接続されている。また、インダクタL1の他端にはさらに第2整流回路としてのダイオードD1のアノードが接続されている。このダイオードD1のカソードと第1整流回路11の負入力側との間には平滑用の電解コンデンサC1が接続されている。
12は電圧変換回路であり、力率改善回路10の出力電圧Vpを取り込んで抵抗分割により分圧した電圧検出信号を出力する。13は制御装置であり、電圧変換回路12で得られた電圧検出信号を取り込んでパワートランジスタMN1のON時間を制御するとともに電解コンデンサC1の推定寿命を演算する。14はその制御装置13によって演算された寿命を報知する通達装置である。
この力率改善回路10の出力側には、出力電圧Vpを入力して昇圧あるいは降圧した所定の電圧を出力するDC−DCコンバータ20が接続され、そのDC−DCコンバータ20の出力側に、複数のLEDが直列接続された負荷回路としてのLEDアレイ回路30が接続されている。
次に、電解コンデンサC1の寿命末期の判定について説明する。ただし力率改善回路10は、例えば、インダクタL1に流れる電流が0にならない電流連続モードで動作するものとする。電解コンデンサC1は使用を続けると、前述したように徐々に容量値が低下する。容量値が低下すると、電解コンデンサC1がリプル電流を吸収できなくなり、そのリプル電圧が大きくなる。すなわち、力率改善回路10の出力電圧Vpの振幅が大きくなる。この出力電圧Vpの情報は電圧変換回路12によって制御回路13に取り込まれ、振幅が事前に設定された閾値に達した場合、制御装置13において寿命末期と判定される。
このように、制御装置13による電解コンデンサC1の寿命判定は、容量値の低下を検出するものであるが、直接的には、容量低下の結果の現象として現れる出力電圧Vpのリプル電圧の増大を閾値と比較することで判定する。
そして、本実施例では、寿命末期と判定された場合、制御装置13がパワートランジスタMN1を制御するスイッチング周波数fsを増加させる。スイッチング周波数fsが増加することで、リプル電流が低下する。リプル電流が低下することで、電解コンデンサC1の自己発熱量が低下する。自己発熱量が低下するとアニレウスの法則により、電解コンデンサC1の負担が減り、寿命が延びる。
これが延命措置となる。スイッチング周波数fsが変わっただけなので、力率改善回路10の出力電圧Vpの振幅が小さくなるが平均値はスイッチング周波数fsの増加の前後で変わらない。なお、アニレウスの法則とは、温度が10℃高くなる毎に寿命が1/2づつに低下し、温度が10℃低くなる毎に寿命が2倍づつ長くなるという法則である。
制御装置13において電解コンデンサC1の寿命が末期と判定されると、制御装置13に接続された通達装置14で利用者にその旨が伝えられる。この通達装置14は、例えばメッセージ表示出力装置、音声出力装置、通信インターフェイスを用いたパーソナルコンピュータ画面などで実現できる。通信インターフェイスを用いれば、通知先は利用者だけでなく、この力率改善回路10を製造するメーカーにも寿命末期であることを知らせることができる。
ところで、特許文献3や特許文献4では、力率改善回路の出力を低下させる等で延命措置を実現し、その間に利用者に装置の交換を促している。これに対し、本実施例の力率改善回路10では、寿命末期判定後も、出力電圧Vpを低下させることなく延命措置を実施し、通達装置14によって利用者に装置の交換を促すものである。このため、LEDアレイ回路30用の電源装置にその力率改善回路10が組み込まれた場合、突然の照度低下などで利用者の利便性を損なわない利点がある。
なお、電解コンデンサC1の寿命を導くアニレウスの法則を近似した計算式は、電解コンデンサのメーカー等が公開している。具体的には次式で表される。この計算式に従うと、図2のように、電解コンデンサC1の寿命は、リプル電流の増加とともに減少する。そのときの推定寿命Lx(Hr)は、
Figure 2016201962
で表される。ここで、
Lr:定格寿命(Hr)
To:最大定格温度(℃)
Tx:実際に使用している周囲の温度(℃)
ΔTo:最大定格リプル電流の重畳時の上昇温度(℃)
Io:最大定格リプル電流(Arms)
Ix:実際に流れているリプル電流(Arms)
である。
また、電流連続モードでのリプル電流Ixはスイッチング周波数fsに概ね反比例して、次式で表される。
Figure 2016201962
この式(2)に従うと、図3のように、リプル電流Ixはスイッチング周波数fsの増加とともに減少する。そして式(1)と式(2)より電解コンデンサC1の寿命Lxのスイッチング周波数fsの依存性を導くと、図4のように、スイッチング周波数fsの増加とともに寿命Lxが延びることが分かる。
よって、電解コンデンサC1が寿命末期になったとき、スイッチング周波数fsを高い周波数に切り替えると、寿命を延命させることができる。
<第2の実施例>
図5は本発明の第2の実施例の力率改善回路10Aを組み込んだ電源装置のブロック図である。この第2の実施例は第1の実施例に電解コンデンサC1の周囲温度Txを検出する温度センサ15を追加したものである。温度センサ15は電解コンデンサC1の付近に設置し、その検出信号を制御装置13Aに入力する。
第2の実施例の動作を説明する。電解コンデンサC1の寿命末期判定の基本的な動作は第1の実施例と同じである。違いは温度センサ15で周囲温度を検出することで、電解コンデンサC1の容量値の温度補正ができることである。電解コンデンサC1の容量値は、図6のように、温度によって変化する。例えば、温度が低下すると容量値が低下し、リプル電流が増大して出力電圧Vpが閾値に達し、寿命末期と誤判定される可能性がある。また、温度が上昇すると容量値が増加して、実際には寿命末期であっても出力電圧Vpが閾値に達せずに、寿命末期と判定されない場合がある。
第2の実施例はこのような誤判定を回避するため、温度センサ15で電解コンデンサC1の周囲温度を検出し、この温度センサ15で検出した温度信号を制御装置13Aで処理する。具体的には、例えば、出力電圧Vpの検出信号を温度信号によって補正することで、電解コンデンサC1の容量値の温度による変化を補正する。
以上から、第2の実施例の力率改善回路によれば、温度補償により、第1の実施例の力率改善回路よりも、高精度な寿命判定をできる利点がある。
<第3の実施例>
図7は本発明の第3の実施例の力率改善回路10Bを組み込んだ電源装置のブロック図である。この第3の実施例の力率改善回路10Bは、第1の実施例の力率改善回路10にスイッチング周波数選択装置16を追加し、制御装置13Bに接続したものである。本実施例でのスイッチング周波数選択装置16はパーソナルコンピュータで実現することができ、この場合、パーソナルコンピュータと制御装置13Bは通信ケーブルで接続される。
第3の実施例の動作を説明する。電解コンデンサC1の寿命末期の判定の基本的な動作は第1の実施例の力率改善回路10と同じである。違いは、スイッチング周波数fsをどの程度増加させるか、つまり寿命をどの程度伸ばすかを利用者が選択できる機能を追加した点である。
図10のフローチャートを用いて、スイッチング周波数選択装置16によりスイッチング周波数fsが変更されることを説明する。スイッチング周波数選択装置16は、図9のような画面161をパーソナルコンピュータで表示し、操作する。図9に示すように、この画面161には、推定寿命表示部162、目標寿命表示部163、目標寿命設定可否部164、スイッチング周波数表示部164、効率表示部166が設けられる。
ここで、利用者は推定寿命の表示を確認し(ステップS1)、推定寿命が短くなったら、つまり寿命が末期になったら、目標寿命をパーソナルコンピュータ画面上で入力する(ステップS2)。制御装置13Bはパーソナルコンピュータからの目標寿命のデータを受け取り、式(1)と式(2)を用いてあるいは図4の特性図から、スイッチング周波数fsを取得する(ステップS3)。取得したスイッチング周波数fsが予め定められた周波数範囲内であった場合(ステップS4がYes)、制御装置13BはパワートランジスタMN1のスイッチング周波数fsを取得した当該の周波数に変更する(ステップS5)。その周波数範囲は、力率改善回路10で使用できる周波数であるか、あるいはその他の条件などによって定められる。
そして、変更された周波数に対応する推定寿命の表示更新(ステップS6)、目標寿命設定可否についてOKの表示(ステップS7)、算出されたスイッチング周波数の値の表示(ステップS8)、電源装置の効率の表示(ステップS9)を、図9に示されるように画面161において実施する。
電源装置の効率の表示については、スイッチング周波数fsが増加すると、パワートランジスタMN1でのスイッチングロスが多くなり、図8のように、電源装置の効率が低下する。そこで、この効率を画面161に表示して、スイッチング周波数変更後の効率が利用者にとって許容できるものであれば(ステップS10がYes)、スイッチング周波数の選択が完了する。もし効率が利用者にとって許容できるものでなければ(ステップS10がNo)、利用者は再び別の目標寿命を入力して(ステップS2)、スイッチング周波数fsを新たな値に設定することができる。
また、利用者が目標寿命を入力した(ステップS2)ものの、その目標寿命を達成するためのスイッチング周波数fsが予め設定された周波数範囲外だった場合(ステップS4がNo)、制御装置13Bはスイッチング周波数fsを従来通りとし(ステップS11)、画面161において目標寿命設定可否についてNGを表示する(ステップS12)。この場合、利用者は再び目標寿命を入力できる。
以上のように、第3の実施例の力率改善回路10Bは、電解コンデンサC1の寿命末期の判定後に利用者がスイッチング周波数を調整可能であるので、寿命と効率の調整ができ、利用者の利便性向上につながる利点がある。例えば、寿命末期の判定後、すぐに装置を交換するのであればスイッチング周波数を増加させる必要はない。一方、装置の交換まで時間を要する場合、効率を低下させてでも、寿命を延ばすことを選択できる。
<その他の実施例>
なお、以上の各実施例において、パワートランジスタMN1はPMOSトランジスタに代えることも、またバイポーラのPNPあるいはNPNトランジスタに代えることもできる。また、以上の各実施例では、インダクタL1に流れる電流が0とならない電流連続モードで動作する力率改善回路の場合について説明したが、インダクタL1に流れる電流が一定時間だけ0になる電流不連続モードや、スイッチング素子のONタイミングをインダクタL1に流れる電流が0になったときとする電流臨界モードで動作する力率改善回路にも同様に適用することができる。
10,10A,10B:力率改善回路
11:第1整流回路、12:電圧変換回路、13,13A,13B:制御装置、14:通達装置、15:温度センサ、16:スイッチング周波数選択装置
20:DC−DCコンバータ
30:LEDアレイ回路

Claims (5)

  1. 入力する交流電圧を整流する整流回路と、該整流回路の出力側に接続されたインダクタと、該インダクタに流れる電流をスイッチングするスイッチング素子と、平滑用の電解コンデンサと、該電解コンデンサの両端間の電圧を検出して前記スイッチング素子のスイッチングを制御するとともに前記電解コンデンサの寿命を判定する制御装置と、該制御装置で前記電解コンデンサの寿命が末期であると判定されたときそれを通達する通達装置とを備える力率改善回路であって、
    前記制御装置は、前記電解コンデンサの寿命が末期であると判定されたとき前記スイッチング素子のスイッチング周波数をより高い周波数に切り替えることを特徴とする力率改善回路。
  2. 請求項1に記載の力率改善回路において、
    前記電解コンデンサの温度を検出する温度センサを備え、
    前記制御装置は、前記温度センサで検出した温度に応じて前記電解コンデンサの寿命の判定のための前記電解コンデンサの両端間の検出電圧を補正することを特徴とする力率改善回路。
  3. 請求項1又は2に記載の力率改善回路において、
    前記スイッチング周波数をより高い周波数に切り替える際の周波数を選択するスイッチング周波数選択手段を備えることを特徴とする力率改善回路。
  4. 入力する交流電圧を整流する整流回路と、該整流回路の出力側に接続されたインダクタと、該インダクタに流れる電流をスイッチングするスイッチング素子と、平滑用の電解コンデンサと、該電解コンデンサの両端間の電圧を検出して前記スイッチング素子のスイッチングを制御するとともに前記電解コンデンサの寿命を判定する制御装置と、該制御装置で前記電解コンデンサの寿命が末期であると判定されたときそれを通達する通達装置とを備える力率改善回路の制御方法であって、
    前記制御装置により、前記電解コンデンサの寿命が末期であると判定されたとき前記スイッチング素子のスイッチング周波数をより高い周波数に切り替えることを特徴とする力率改善回路の制御方法。
  5. 請求項4に記載の力率改善回路の制御方法において、
    前記電解コンデンサの温度に応じて前記電解コンデンサの寿命判定のための前記電解コンデンサの両端間の検出電圧を補正することを特徴とする力率改善回路の制御方法。
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