JP2016197140A - 光照射装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】効率良く光照射を行うことができる小型の光照射装置を提供する。【解決手段】光照射装置は、予め設定された照射領域を通過するワークに光を照射する光照射装置であって、照射領域をワークが通過する通過方向に延び、ワークの下に気体を吹き出してワークを浮上させる浮上台31と、浮上台31を通過方向と交わる方向に挟んだ両脇に一対で設けられ、一対の各々が、ワークを保持して通過方向へと移動する機能を有し、一対の一方がワークを保持して移動する際に、一対の他方がワークとすれ違って移動する保持移動機32、33と、を備える。【選択図】図1

Description

本発明は、光照射領域内を通過するワークに光を照射する光照射装置に関し、特に、液晶パネル用のガラス基板などの大型で重量の大きいワークを光処理するための光照射装置に関する。
従来、液晶パネル用基板(ワーク)に対して効率よく(高いスループットで)光照射処理を行う装置として、例えば特許文献1には、基板を2つのステージで交互に光照射領域内を通過させる光照射装置が記載されている。
液晶パネル用基板などは近年特に大型化し、例えば2mを超える長さのものも用いられている。ワークの大型化につれて重量も重くなっているため、上述したようなステージによる搬送の場合、大型で重いワークを搬送するためには、その分大型で重いステージが必要となり、搬送の機構を含んだ光照射装置全体も大型で重量が重いものとなる。
このようなステージを用いずにワークを搬送して処理する光照射装置として、例えば特許文献2には、エアの噴出でワークを浮かせて搬送するものが記載されている。
特許5344105号公報 特開2014−123769号公報
特許文献2に記載の光照射装置の場合、ステージを用いないのでワークが大型化しても光照射装置は比較的小型であるが、特許文献2に記載の光照射装置では特許文献1に記載の光照射装置のような高いスループットは実現できない。
このため、ワークが大型化しても装置全体の軽量化小型化が図られ、高いスループットで光照射が可能な光照射装置が望まれている。
そこで、本発明は、効率良く光照射を行うことができる小型の光照射装置を提供することを課題とする。
上記課題を解決するために、本発明に係る光照射装置の一態様は、予め設定された照射領域を通過するワークに光を照射する光照射装置であって、前記照射領域を前記ワークが通過する通過方向に延び、該ワークの下に気体を吹き出して該ワークを浮上させる浮上台と、前記浮上台を前記通過方向と交わる方向に挟んだ両脇に一対で設けられ、該一対の各々が、前記ワークを保持して前記通過方向へと移動する機能を有し、該一対の一方が該ワークを保持して移動する際に、該一対の他方が該ワークとすれ違って移動する保持移動機と、を備える。
このような光照射装置によれば、浮上台の両脇に設けられた一対の保持移動機が前記通過方向に交互に移動することで複数のワークを続けて搬送することができ、高いスループットが実現する。また、気体の吹き出しでワークを浮上させるのでステージ不要であるとともに、搬送方向が前記通過方向の一方向であるので照射領域を前記通過方向に挟んだそれぞれのサイズはワーク1つ分が載るサイズであればよい。このため、光照射装置の軽量化小型化が図られる。
前記光照射装置において、前記保持搬送機が、前記ワークとすれ違う方向に移動するに際して該ワークよりも下方に下がった状態で移動するものであることが好ましい。このような好ましい構成の光照射装置によれば、ワークと保持搬送機とのすれ違いにおける接触を容易に防ぐことができる。
また、前記光照射装置において、前記保持搬送機が、前記浮上台から突き出した前記ワークの一部を下方から吸着して保持するものであることも好ましい。このような好ましい構成の光照射装置によれば、前記ワークの保持性を確保するとともに、保持された一部に対する光照射も可能となる。
また、前記光照射装置において、前記浮上台上のワークを回転させる回転機をさらに備え、前記ワークは矩形状のワークであり、前記保持搬送機が、前記回転機による回転で前記浮上台の脇から突き出た前記ワークの角部を保持するものであることが好適である。
この好適な構成の光照射装置によれば、浮上台から吹き出す気体を受ける面積を確保してワークの十分な浮上を図りつつワークを十分に保持することができる。
本発明の光照射装置によれば、効率良く光照射を行うことができるとともに装置の小型化も図られる。
本発明の光照射装置の一実施形態に相当する偏光光照射装置の概略的構成を示す斜視図である。 本発明の光照射装置の一実施形態に相当する偏光光照射装置の概略的構成を示す上面図である。 ワークWが偏光光照射装置に搬送されてきた状態を示す上面図である ワークWが偏光光照射装置に搬送されてきた状態を示す側面図である。 ワークWの向きが所望の向きに調整される様子を示す上面図である。 ワークWの向きが所望の向きに調整される様子を示す側面図である。 ワーク保持移動機構の移動を示す上面図である。 ワーク保持移動機構の移動を示す正面図である。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1と図2は、本発明の光照射装置の一実施形態に相当する偏光光照射装置の概略的構成を示す図である。図1は斜視図であり、図2は上面図である。
偏光光照射装置100は、高い剛性を有する土台5上に、所定の波長の偏光光(偏光した光)を照射する光照射部10と、ワークWの向きを所定の向きに合わせるアライメント部20(図1では図示省略、図2参照)と、ワークWを搬送する搬送部30とを備える。ここで、ワークWは、光配向膜が形成された、例えば液晶パネルの製造に用いられる、例えば300mm×500mmを超す大型の矩形状の基板である。なお、本実施形態ではワークWを矩形状としているが、本発明にいうワークはこれに限定されるものではなく、任意の形状とすることができる。
偏光光照射装置100は、光照射部10から偏光光を照射しながら、搬送部30によってワークWを直線移動させ、ワークWの光配向膜に偏光光を照射して光配向処理をするものである。
光照射部10は、線状の光源であるランプ11と、ランプ11の光を反射するミラー12とを備える。また、光照射部10は、その光出射側に配置された偏光子ユニット13を備える。さらに、光出射部10は、ランプ11、ミラー12及び偏光子ユニット13を収容するランプハウス14を備える。
光照射部10は、ランプ11の長手方向をワークWの搬送方向(X方向)に直交する方向(Y方向)に一致させた状態で設置されている。
ランプ11は長尺状のランプであり、その発光部が、搬送方向に直交する方向におけるワークWの幅に相応した長さを有する。このランプ11は、例えば、高圧水銀ランプや、水銀に他の金属を加えたメタルハライドランプ等であり、波長200nm〜400nmの紫外光を放射する。
光配向膜の材料としては、波長254nmの光で配向されるもの、波長313nmの光で配向されるもの、波長365nmの光で配向されるものなどが知られており、光源の種類は必要とされる波長に応じて適宜選択される。
なお、光源としては、紫外光を放射するLEDやLDを直線状に並べて配置した線状光源を用いることもできる。その場合、LEDやLDを並べる方向がランプの長手方向に相当する。また、複数のランプを上記Y方向に並べて構成してもよい。
ミラー12は、ランプ11からの放射光をランプハウス14の底面側に反射するものであり、断面が楕円形または放物線状となった樋状集光鏡である。ミラー12は、その長手方向がランプ11の長手方向と一致するように配置されている。
ランプハウス14は底面に、ランプ11からの放射光およびミラー12による反射光が通過する光出射口を有する。偏光子ユニット13は、ランプハウス14の光出射口に取り付けられ、当該光出射口を通過する光を偏光する。光出射口を通過した光は、光照射部10の下に形成された偏光光照射領域Rに照射される。
偏光子ユニット13は、複数の偏光子をランプ11の長手方向に沿って並べて配置した構成を有する。これら複数の偏光子は、例えばフレーム等により支持されている。
偏光子は、例えばワイヤーグリッド型偏光素子であり、偏光子の個数は、偏光光を照射する領域の大きさに合わせて適宜選択される。なお、各偏光子は、それぞれ透過軸が同一方向を向くように配置されている。
アライメント部20は、アライメントカメラ21と、回転ステージ22とを備え、アライメントマークの検出に基づいてワークWを予め設定された方向に向けるものである。回転ステージ22が、本発明にいう回転機の一例に相当する。
アライメントカメラ21はワークWの上方に例えば2つ配置されており、ワークW上に例えば2つ設けられたアライメントマークMを、アライメントカメラ21各々が1つずつ検出する。
回転ステージ22は上面が丸板状のものであり、その上面には、ワークWを吸着保持できるように、例えば真空吸着孔や真空吸着溝が形成されている。なお、本実施形態では、ワークWを丸板状の上面で吸着保持する構成となっているが、本発明にいう回転機はこの構成に限定されるものではなく、複数のピンによってワークWを吸着保持するものであってもよい。
回転ステージ22はX軸とY軸とが含まれる平面に対して直交するZ軸を回転軸として回転する(θ回転)。この回転ステージ22がワークW下面を吸着保持して回転させ、アライメントカメラ21により検出されるアライメントマークMの位置が予め決められた位置となる角度にワークWを向けることにより、ワークWの方向と偏光光の偏光軸の方向とが、所望の関係になるように位置合せがなされる。
搬送部30は、ワークWの下面にエアを噴出してワークWを浮上させるエア浮上ユニット31と、エア浮上ユニット31で浮上されているワークWを保持して移動する一対のワーク保持移動機構(第1のワーク保持移動機構32と第2のワーク保持移動機構33)と、ワーク保持移動機構32,33がエア浮上ユニット31に沿って移動するためのレール34と、ワーク保持移動機構32,33を駆動する駆動機(図示省略)とを備えている。
エア浮上ユニット31が、本発明にいう浮上台の一例に相当し、ワーク保持移動機構32,33が、本発明にいう保持移動機の一例に相当する。
搬送部30は、ワークWを上記搬送方向に搬送して偏光光照射領域Rを通過させるものである。
偏光光照射領域Rを挟んだ両側(図2の左右両側)における搬送部30のサイズは、例えば、それぞれワークW1つ分程度のサイズとなっており、ワークWが大型化した場合であっても偏光光照射装置100は比較的小型の装置となる。
エア浮上ユニット31は、エアが吹き出す例えば孔や溝が上面に形成されたブロック状の部材が例えば3列に連結された構造を一例として有する。エアの吹き出す孔や溝、およびエアを吹き出すための構造については、図示が省略されている。エア浮上ユニット31の幅(上記Y方向のサイズ)はワークWのサイズよりも狭く、ワークWの一部はエア浮上ユニット31をY方向に挟んだ両脇から突き出る。
第1および第2のワーク保持移動機構32,33は、エア浮上ユニット31の両脇に設けられ、エア浮上ユニット31から突き出したワークWの部分を下面から真空吸着等の方法により吸着してワークWを保持する。これらのワーク保持移動機構32,33は上面が平板状のものであり、その上面には、ワークWを吸着保持できるように、例えば真空吸着孔や真空吸着溝が形成されている。なお、本実施形態では、ワークWを平板状の上面で吸着保持する構成となっているが、本発明にいう保持移動機はこの構成に限定されるものではなく、複数のピンによってワークWを吸着保持するものであってもよい。
第1および第2のワーク保持移動機構32,33はいずれも、図2の左側でワークWを保持して図2の右側に移動する。ワーク保持移動機構32,33のこのような移動によってワークWは図2の左から右へと搬送される。搬送中にワークWは偏光光照射領域Rを通過し、光配向の処理が行われる。
このような偏光光照射装置100による光配向処理の手順について以下説明する。
光配向処理の第1段階では、偏光光照射装置100の外部からワークWが偏光光照射装置100のエア浮上ユニット31上に搬送されて来る。
図3および図4は、ワークWが偏光光照射装置に搬送されてきた状態を示す上面図および側面図である。図4には、偏光光照射装置100を図3の左方から見た状態が示されている。
ワークWがエア浮上ユニット31上に搬送されてきた時点でのアライメントマークMの位置は、図3に示すように、アライメントカメラ21の視野から外れている。この搬送されて来たワークWはエア浮上ユニット31によって浮上され、浮上したワークWに対し、図4に示すように、回転ステージ22の上面が上昇してきてワークWの下面を吸着保持する。
このような第1段階に続く光配向処理の第2段階では、ワークWの向きが所望の向きに調整される。
図5および図6は、ワークWの向きが所望の向きに調整される様子を示す上面図および側面図である。図6には、偏光光照射装置100を図5の左方から見た状態が示されている。
回転ステージ22は、図5に示すように、ワークWの向きが光照射部10に対して例えば20°程度傾くように回転する。回転ステージ22が回転した結果ワークW上のアライメントマークMがアライメントカメラ21の視野に入って検出される。また、回転ステージ22の回転角度の調整により、アライメントマークMの位置がアライメントカメラ21の視野中の所定位置に位置合わせされる。このような位置合わせにより、ワークWの方向と偏光光照射領域Rに照射される偏光光の偏光軸の方向とが所望の関係になる。また、ワークWが回転されることでワークWの角部Cがエア浮上ユニット31から突き出した状態となる。
その後、図6に示すように、ワーク保持移動機構(ここでは一例として第1のワーク保持移動機構32)の上面が上昇し、エア浮上ユニット31から突き出したワークWの一部(この例では角部C)をワークWの下面から吸着して保持する。一方、回転ステージ22は上面が下降して待避する。1つのワークWは、第1および第2のワーク保持移動機構32,33のうちのどちらか一方(図6の例では第1のワーク保持移動機構32)によって保持される。
図5および図6に示す例のようにワーク保持移動機構32がワークWの角部Cを保持すると、エア浮上ユニット31からのエアを受ける面積が充分に広く、エア浮上ユニット31によりワークWが容易且つ充分に浮上する。また、角部Cは面積としては小さいものの、エア浮上ユニット31に直近の付け根部分では搬送方向に充分な長さを有しているので、ワーク保持移動機構32が角部Cを保持することで充分な保持性が確保される。
このような第2段階に続く光配向処理の第3段階では、ワーク保持移動機構32が移動してワークWが搬送される。
図7および図8は、ワーク保持移動機構の移動を示す上面図および正面図である。図8には、偏光光照射装置100を図7の下方側から見た状態が示されている。
ワークWを保持したワーク保持移動機構(ここでは一例として第1のワーク保持移動機構32)はレール34に沿って上記搬送方向に移動してワークWを搬送する。ワーク保持移動機構による搬送によってワークWは偏光光照射領域Rを通過し、偏光光照射領域Rで偏光光が照射されることによって光配向処理が行われる。ワークWの角部Cについても、ワーク保持移動機構が下面を吸着して保持しているので偏光光が照射されて光配向処理が施される。
ワークWを保持した一方のワーク保持移動機構(例えば第1のワーク保持移動機構32)が上記搬送方向に移動する際に、他方のワーク保持移動機構(例えば第2のワーク保持移動機構33)は、ワークWとすれ違って上記搬送方向とは逆方向に移動する。この逆方向の移動に際し、他方のワーク保持移動機構の上面は、一方のワーク保持移動機構に保持されたワークWの下面よりも下まで下がっており、ワークWとのすれ違いにおける接触が容易に回避される。
光配向処理の実行中でも偏光光照射装置100には、図7の左側にワークWが納まるスペースが空くので、偏光光照射装置100の外部から次のワークWが搬送されてきて、アライメント部20による位置合わせが行われる。
また、ワークWが偏光光照射領域Rを通過する通過速度は光配向処理のために制限された速度となるが、ワークWとすれ違う他方のワーク保持移動機構にはそのような速度制限はなく、光配向処理が完了する前に、次のワークWの搬入箇所(図7の左側)まで戻ることができる。そして、次のワークWが他方のワーク保持移動機構に保持され、前のワークWの光配向処理に続けて間断なく次のワークWの光配向処理が実行される。このため光配向処理のスループットが高い。
なお、上記実施形態においては、偏光光照射装置に本発明を適用する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、ワークの下に気体を吹き出してワークを浮上させる浮上台を有する光照射装置であれば、本発明を適用することで上記実施形態と同様の効果が得られる。このような光照射装置としては、例えば、DI(ダイレクト・イメージ:直描)露光装置や、紫外線により熱硬化処理を行う紫外線照射装置等がある。
また、上記実施形態においては、光照射部が1つ設けられた例について説明したが、本発明の光照射装置は、複数の光照射部がワークの搬送方向に直列に設けられたものであってもよい。
10…光照射部、11…放電ランプ、12…ミラー、13…偏光子ユニット、14…ランプハウス、20…アライメント部、21…アライメントカメラ、22…回転ステージ、30…搬送部、31…エア浮上ユニット、32…第1のワーク保持移動機構、33…第2のワーク保持移動機構、34…レール、100…偏光光照射装置

Claims (4)

  1. 予め設定された照射領域を通過するワークに光を照射する光照射装置であって、
    前記照射領域を前記ワークが通過する通過方向に延び、該ワークの下に気体を吹き出して該ワークを浮上させる浮上台と、
    前記浮上台を前記通過方向と交わる方向に挟んだ両脇に一対で設けられ、該一対の各々が、前記ワークを保持して前記通過方向へと移動する機能を有し、該一対の一方が該ワークを保持して移動する際に、該一対の他方が該ワークとすれ違って該通過方向とは逆方向に移動する保持移動機と、
    を備えたことを特徴とする光照射装置。
  2. 前記保持移動機が、前記通過方向とは逆方向に移動する際、前記ワークよりも下方に下がった状態で移動することを特徴とする請求項1記載の光照射装置。
  3. 前記保持移動機が、前記浮上台から突き出した前記ワークの一部を下方から吸着して保持することを特徴とする請求項1または2記載の光照射装置。
  4. 前記浮上台上のワークを回転させる回転機をさらに備え、前記ワークは矩形状のワークであり、
    前記保持移動機が、前記回転機による回転で前記浮上台の脇から突き出た前記ワークの角部を保持することを特徴とする請求項1または2記載の光照射装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019123517A1 (ja) * 2017-12-18 2019-06-27 株式会社Fuji 作業装置及びその制御方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108594539B (zh) * 2018-03-12 2021-09-17 昆山龙腾光电股份有限公司 配向方法与配向系统
CN108761926A (zh) * 2018-05-09 2018-11-06 深圳市华星光电技术有限公司 配向微观检测设备及配向检测方法
JP7342680B2 (ja) * 2019-12-18 2023-09-12 ウシオ電機株式会社 光照射装置および光照射方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05344105A (ja) 1992-06-08 1993-12-24 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 誤り除去通信方法
JP2009085865A (ja) * 2007-10-02 2009-04-23 Olympus Corp 基板検査装置
JP4495752B2 (ja) * 2007-11-06 2010-07-07 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置及び塗布装置
JP5344105B1 (ja) * 2013-03-08 2013-11-20 ウシオ電機株式会社 光配向用偏光光照射装置及び光配向用偏光光照射方法
KR102222005B1 (ko) * 2014-01-09 2021-03-04 삼성디스플레이 주식회사 노광 장치 및 이를 이용한 노광 방법
JP2014123769A (ja) 2014-03-06 2014-07-03 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd 紫外線照射装置および紫外線照射方法
JP5734494B1 (ja) * 2014-05-29 2015-06-17 株式会社飯沼ゲージ製作所 光配向処理装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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