JP2016177917A - Circuit connection material and connection method - Google Patents

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Shinichi Sato
伸一 佐藤
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a circuit connection material excellent in electrical connection even when a first circuit member and a second circuit member having a protective layer are connected and the circuit connection material is arranged to overlap with the protective layer of the second circuit member.SOLUTION: There is provided a circuit connection material having an anisotropic conductive layer containing conductive particles and being belt like, where the anisotropic conductive layer has a belt like thick film part and a belt like thin film part neighboring in a width direction of the circuit connection material and the average thickness of the thin film part is 40% o 60% to the average thickness of the thin film part.SELECTED DRAWING: Figure 3B

Description

本発明は、回路接続材料、及び接続方法に関する。   The present invention relates to a circuit connection material and a connection method.

従来より、電子部品を基板と接続する手段として、導電性粒子が分散された熱硬化性樹脂を剥離フィルムに塗布したテープ状の接続材料(例えば、異方性導電フィルム(ACF;Anisotropic Conductive Film))が用いられている。   Conventionally, as a means for connecting an electronic component to a substrate, a tape-like connection material in which a thermosetting resin in which conductive particles are dispersed is applied to a release film (for example, anisotropic conductive film (ACF)) ) Is used.

この異方性導電フィルムは、例えば、フレキシブルプリント基板(FPC)やIC(Integrated Circuit)チップの端子と、LCD(Liquid Crystal Display)パネルのガラス基板上に形成されたITO(Indium Tin Oxide)電極とを接続する場合を始めとして、種々の端子同士を接着すると共に電気的に接続する場合に用いられている。   The anisotropic conductive film includes, for example, a terminal of a flexible printed circuit (FPC) or an IC (Integrated Circuit) chip, and an ITO (Indium Tin Oxide) electrode formed on a glass substrate of an LCD (Liquid Crystal Display) panel. It is used when various terminals are bonded and electrically connected to each other, starting with the case of connecting the terminals.

最近、ディスプレイパネルの狭額縁化のために、前記ACFを用いた、前記ディスプレイパネルと、前記フレキシブルプリント基板との接続部は、前記ディスプレイパネルの端部に近くなっている。そして、前記フレキシブルプリント基板は、前記ディスプレイパネルの前記接続部側とは反対面(裏面)側へ折り曲げて使用されることがある。その際、前記フレキシブルプリント基板上の配線が、前記ディスプレイパネルの端部に接触して断線することを防ぐために、前記フレキシブルプリント基板には、保護層が設けられている(例えば、特許文献1参照)。   Recently, for the purpose of narrowing the display panel, a connection portion between the display panel and the flexible printed board using the ACF is close to an end portion of the display panel. And the said flexible printed circuit board may be bent and used for the surface (back surface) side opposite to the said connection part side of the said display panel. At that time, in order to prevent the wiring on the flexible printed circuit board from coming into contact with the end of the display panel and being disconnected, a protective layer is provided on the flexible printed circuit board (see, for example, Patent Document 1). ).

特開2002−358026号公報JP 2002-358026 A

前記ACFである回路接続材料を用いた、前記ディスプレイパネルなどの第1の回路部材と、前記フレキシブルプリント基板などの第2の回路部材との接続部においては、前記接続部の接着強度を高めるために、前記回路接続材料が、前記保護層に重なるように配置されることがある。
しかし、従来の回路接続材料では、前記保護層に重なるように配置すると、前記接続部における前記回路接続材料中の導電性粒子が十分に潰れず、電気的接続が不十分になるという問題がある。
In the connection portion between the first circuit member such as the display panel and the second circuit member such as the flexible printed board using the circuit connection material which is the ACF, in order to increase the adhesive strength of the connection portion. In addition, the circuit connection material may be disposed so as to overlap the protective layer.
However, when the conventional circuit connection material is arranged so as to overlap the protective layer, there is a problem that the conductive particles in the circuit connection material in the connection portion are not sufficiently crushed and electrical connection becomes insufficient. .

本発明は、従来における前記諸問題を解決し、以下の目的を達成することを課題とする。即ち、本発明は、第1の回路部材と、保護層を有する第2の回路部材との接続において、回路接続材料を、前記第2の回路部材の前記保護層に重なるように配置した場合でも、電気的接続に優れる回路接続材料、及びそれを用いた接続方法を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to solve the above-described problems and achieve the following objects. That is, according to the present invention, in the connection between the first circuit member and the second circuit member having the protective layer, the circuit connection material is disposed so as to overlap the protective layer of the second circuit member. An object of the present invention is to provide a circuit connection material excellent in electrical connection and a connection method using the same.

前記課題を解決するための手段としては、以下の通りである。即ち、
<1> 導電性粒子を含有する異方性導電層を有し、帯状である回路接続材料であって、
前記異方性導電層が、帯状の厚膜部と帯状の薄膜部とを、前記回路接続材料の幅方向に隣接して有し、
前記厚膜部の平均厚みに対する前記薄膜部の平均厚みが、40%〜60%であることを特徴とする回路接続材料である。
<2> 前記異方性導電層の幅に対する前記薄膜部の幅が、30%〜50%である前記<1>に記載の回路接続材料である。
<3> 更に、剥離フィルムを有し、
前記異方性導電層における前記薄膜部の少なくとも一部、及び前記厚膜部が、前記剥離フィルム上に配されている前記<1>から<2>のいずれかに記載の回路接続材料である。
<4> 更に、前記異方性導電層の前記剥離フィルム側と反対側に第2の剥離フィルムを有し、
前記第2の剥離フィルムが、前記異方性導電層における前記厚膜部及び前記薄膜部のうちの前記薄膜部上であって、前記薄膜部の少なくとも一部上に配されている前記<3>に記載の回路接続材料である。
<5> 前記第2の剥離フィルムと、前記厚膜部と、前記薄膜部とが、以下の式(1)を満たす前記<4>に記載の回路接続材料である。
0(μm)≦R−(A−B)≦18(μm) 式(1)
ただし、前記式(1)中、Rは、前記第2の剥離フィルムの平均厚みを表し、Aは、前記厚膜部の平均厚みを表し、Bは、前記薄膜部の平均厚みを表す。
<6> 端子を有する第1の回路部材と、配線を保護する保護層及び端子を有する第2の回路部材とを接続する接続方法であって、
前記第1の回路部材の前記端子上に、前記<1>から<5>のいずれかに記載の回路接続材料における前記異方性導電層を配置する第1の配置工程と、
前記異方性導電層上に、前記厚膜部に前記第2の回路部材の前記端子が接し、前記薄膜部に前記第2の回路部材における前記保護層が接するように、前記第2の回路部材を配置する第2の配置工程と、
前記第2の回路部材を、加熱押圧部材により加熱及び押圧する加熱押圧工程とを含むことを特徴とする接続方法である。
Means for solving the problems are as follows. That is,
<1> A circuit connection material having an anisotropic conductive layer containing conductive particles and having a strip shape,
The anisotropic conductive layer has a strip-shaped thick film portion and a strip-shaped thin film portion adjacent to the width direction of the circuit connecting material,
The circuit connection material is characterized in that an average thickness of the thin film portion is 40% to 60% with respect to an average thickness of the thick film portion.
<2> The circuit connection material according to <1>, wherein a width of the thin film portion with respect to a width of the anisotropic conductive layer is 30% to 50%.
<3> Furthermore, it has a release film,
The circuit connection material according to any one of <1> to <2>, wherein at least a part of the thin film portion and the thick film portion in the anisotropic conductive layer are arranged on the release film. .
<4> Furthermore, it has a 2nd peeling film on the opposite side to the said peeling film side of the said anisotropic conductive layer,
<3 where the second release film is disposed on the thin film portion of the thick film portion and the thin film portion in the anisotropic conductive layer and on at least a part of the thin film portion. > Is a circuit connecting material.
<5> The circuit connection material according to <4>, wherein the second release film, the thick film portion, and the thin film portion satisfy the following formula (1).
0 (μm) ≦ R− (AB) ≦ 18 (μm) Formula (1)
However, in said Formula (1), R represents the average thickness of a said 2nd peeling film, A represents the average thickness of the said thick film part, and B represents the average thickness of the said thin film part.
<6> A connection method for connecting a first circuit member having a terminal and a second circuit member having a protective layer and a terminal for protecting the wiring,
A first disposing step of disposing the anisotropic conductive layer in the circuit connection material according to any one of <1> to <5> on the terminal of the first circuit member;
On the anisotropic conductive layer, the second circuit is arranged such that the terminal of the second circuit member is in contact with the thick film portion and the protective layer of the second circuit member is in contact with the thin film portion. A second arrangement step of arranging the members;
And a heating and pressing step of heating and pressing the second circuit member with a heating and pressing member.

本発明によれば、従来における前記諸問題を解決し、前記目的を達成することができ、第1の回路部材と、保護層を有する第2の回路部材との接続において、回路接続材料を、前記第2の回路部材の前記保護層に重なるように配置した場合でも、電気的接続に優れる回路接続材料、及びそれを用いた接続方法を提供することができる。   According to the present invention, the conventional problems can be solved and the object can be achieved. In the connection between the first circuit member and the second circuit member having the protective layer, a circuit connection material is used. Even when it arrange | positions so that it may overlap with the said protective layer of a said 2nd circuit member, the circuit connection material excellent in electrical connection and the connection method using the same can be provided.

図1Aは、本発明の回路接続材料の一例の上面概略図である。FIG. 1A is a schematic top view of an example of the circuit connection material of the present invention. 図1Bは、本発明の回路接続材料の一例の幅方向の断面概略図であり、図1AにおけるA−A断面図である。FIG. 1B is a schematic cross-sectional view in the width direction of an example of the circuit connection material of the present invention, and is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1A. 図2Aは、本発明の回路接続材料の他の一例の上面概略図である。FIG. 2A is a schematic top view of another example of the circuit connection material of the present invention. 図2Bは、本発明の回路接続材料の他の一例の幅方向の断面概略図であり、図2AにおけるA−A断面図である。FIG. 2B is a schematic cross-sectional view in the width direction of another example of the circuit connection material of the present invention, and is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 2A. 図3Aは、本発明の回路接続材料の他の一例の上面概略図である。FIG. 3A is a schematic top view of another example of the circuit connection material of the present invention. 図3Bは、本発明の回路接続材料の他の一例の幅方向の断面概略図であり、図3AにおけるA−A断面図である。FIG. 3B is a schematic cross-sectional view in the width direction of another example of the circuit connecting material of the present invention, and is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 3A. 図4Aは、本発明の回路接続材料の製造方法の一例を説明するための概略図である(その1)。FIG. 4A is a schematic diagram for explaining an example of a method for producing a circuit connecting material according to the present invention (part 1). 図4Bは、本発明の回路接続材料の製造方法の一例を説明するための概略図である(その2)。FIG. 4B is a schematic diagram for explaining an example of a method for producing a circuit connecting material of the present invention (part 2). 図4Cは、本発明の回路接続材料の製造方法の一例を説明するための概略図である(その3)。FIG. 4C is a schematic diagram for explaining an example of a method for producing a circuit connecting material according to the present invention (part 3). 図4Dは、本発明の回路接続材料の製造方法の一例を説明するための概略図である(その4)。FIG. 4D is a schematic diagram for explaining an example of a method for producing a circuit connecting material according to the present invention (part 4). 図4Eは、本発明の回路接続材料の製造方法の一例を説明するための概略図である(その5)。FIG. 4E is the schematic for demonstrating an example of the manufacturing method of the circuit connection material of this invention (the 5). 図5Aは、本発明の接続方法の一例を説明するための概略図である(その1)。FIG. 5A is a schematic diagram for explaining an example of the connection method of the present invention (part 1). 図5Bは、本発明の接続方法の一例を説明するための概略図である(その2)。FIG. 5B is a schematic diagram for explaining an example of the connection method of the present invention (part 2). 図5Cは、本発明の接続方法の一例を説明するための概略図である(その3)。FIG. 5C is a schematic diagram for explaining an example of the connection method of the present invention (part 3). 図5Dは、本発明の接続方法の一例を説明するための概略図である(その4)。FIG. 5D is a schematic diagram for explaining an example of the connection method of the present invention (part 4). 図5Eは、本発明の接続方法の一例を説明するための概略図である(その5)。FIG. 5E is a schematic diagram for explaining an example of the connection method of the present invention (part 5). 図5Fは、本発明の接続方法の一例を説明するための概略図である(その6)。FIG. 5F is a schematic diagram for explaining an example of the connection method of the present invention (part 6). 図5Gは、本発明の接続方法の一例を説明するための概略図である(その7)。FIG. 5G is a schematic diagram for explaining an example of the connection method of the present invention (part 7).

(回路接続材料)
本発明の回路接続材料は、異方性導電層を少なくとも有し、好ましくは、剥離フィルム、第2の剥離フィルムを有し、更に必要に応じて、その他の部材を有する。
前記回路接続材料は、帯状である。前記帯状とは言い換えれば、矩形であり、短冊状などとも言われる。
(Circuit connection material)
The circuit connection material of this invention has an anisotropic conductive layer at least, Preferably, it has a peeling film and a 2nd peeling film, and also has another member as needed.
The circuit connection material has a strip shape. In other words, the strip shape is a rectangle, and is also referred to as a strip shape.

前記回路接続材料の幅としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、0.5mm〜5mmなどが挙げられる。
前記回路接続材料の長さとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、リールに巻かれた状態では、例えば、50m〜200mなどが挙げられる。また、リールから取り外され使用される際には、例えば、1cm〜10cmの長さに切り取られる。
There is no restriction | limiting in particular as the width | variety of the said circuit connection material, According to the objective, it can select suitably, For example, 0.5 mm-5 mm etc. are mentioned.
There is no restriction | limiting in particular as the length of the said circuit connection material, According to the objective, it can select suitably, For example, 50m-200m etc. are mentioned in the state wound by the reel. Moreover, when removing and using from a reel, it is cut out to the length of 1 cm-10 cm, for example.

<異方性導電層>
前記異方性導電層は、導電性粒子を少なくとも含有し、更に必要に応じて、膜形成樹脂、硬化性樹脂、硬化剤などのその他の成分を含有する。
<Anisotropic conductive layer>
The anisotropic conductive layer contains at least conductive particles, and further contains other components such as a film-forming resin, a curable resin, and a curing agent as necessary.

前記異方性導電層は、帯状の厚膜部と帯状の薄膜部とを、前記回路接続材料の幅方向に隣接して有する。   The anisotropic conductive layer has a strip-shaped thick film portion and a strip-shaped thin film portion adjacent to each other in the width direction of the circuit connecting material.

<<厚膜部>>
前記厚膜部の平均厚みとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、5μm〜50μmが好ましく、10μm〜30μmがより好ましい。
前記平均厚みは、任意の10箇所の厚みを測定した際の算術平均値である。前記厚みは、例えば、走査型電子顕微鏡観察により測定できる。
<< Thick film part >>
There is no restriction | limiting in particular as average thickness of the said thick film part, Although it can select suitably according to the objective, 5 micrometers-50 micrometers are preferable, and 10 micrometers-30 micrometers are more preferable.
The average thickness is an arithmetic average value when the thicknesses of arbitrary 10 locations are measured. The thickness can be measured, for example, by observation with a scanning electron microscope.

<<薄膜部>>
前記薄膜部の平均厚みは、前記厚膜部の平均厚みに対して、40%〜60%である。
前記薄膜部の平均厚みが、前記厚膜部の平均厚みに対して40%未満でも、60%超でも、導電性粒子の潰れが十分ではなく、その結果、電気的接続が不十分になる。
<< Thin film part >>
The average thickness of the thin film portion is 40% to 60% with respect to the average thickness of the thick film portion.
Even if the average thickness of the thin film portion is less than 40% or more than 60% with respect to the average thickness of the thick film portion, the conductive particles are not sufficiently crushed, and as a result, the electrical connection becomes insufficient.

前記薄膜部の幅としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記異方性導電層の幅に対して、30%〜50%が好ましい。前記薄膜部の幅が、前記異方性導電層の幅に対して、30%未満であると、FPC等の回路部材の端子間に充填される樹脂成分が過剰となり、電気的接続が不十分になることがあり、50%を超えると、FPC等の回路部材の端子間に充填される樹脂成分が不足し、電気的接続が不十分になることがある。前記薄膜部の幅が、好ましい範囲内であると、FPC等の回路部材の端子間に充填される樹脂成分が過不足なく充填され、安定した電気的接続を得られる点で有利である。   There is no restriction | limiting in particular as a width | variety of the said thin film part, Although it can select suitably according to the objective, 30%-50% are preferable with respect to the width | variety of the said anisotropic conductive layer. If the width of the thin film portion is less than 30% of the width of the anisotropic conductive layer, the resin component filled between terminals of circuit members such as FPC becomes excessive, and electrical connection is insufficient. If it exceeds 50%, the resin component filled between terminals of circuit members such as FPC may be insufficient, and electrical connection may be insufficient. When the width of the thin film portion is within a preferable range, it is advantageous in that a resin component filled between terminals of a circuit member such as an FPC is filled without excess and deficiency, and a stable electrical connection can be obtained.

<<導電性粒子>>
前記導電性粒子としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、金属粒子、金属被覆樹脂粒子などが挙げられる。
<< Conductive particles >>
There is no restriction | limiting in particular as said electroconductive particle, According to the objective, it can select suitably, For example, a metal particle, a metal covering resin particle, etc. are mentioned.

前記金属粒子としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ニッケル、コバルト、銀、銅、金、パラジウム、半田などが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
これらの中でも、ニッケル、銀、銅が好ましい。これらの金属粒子は、表面酸化を防ぐ目的で、その表面に金、パラジウムを施していてもよい。更に、表面に金属突起や有機物で絶縁皮膜を施したものを用いてもよい。
There is no restriction | limiting in particular as said metal particle, According to the objective, it can select suitably, For example, nickel, cobalt, silver, copper, gold | metal | money, palladium, solder etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.
Among these, nickel, silver, and copper are preferable. These metal particles may be provided with gold or palladium on the surface for the purpose of preventing surface oxidation. Furthermore, you may use what gave the insulating film with the metal protrusion and organic substance on the surface.

前記金属被覆樹脂粒子としては、樹脂粒子の表面を金属で被覆した粒子であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、樹脂粒子の表面をニッケル、銀、半田、銅、金、及びパラジウムの少なくともいずれかの金属で被覆した粒子などが挙げられる。更に、表面に金属突起や有機物で絶縁皮膜を施したものを用いてもよい。低抵抗を考慮した接続の場合、樹脂粒子の表面を銀で被覆した粒子が好ましい。
前記樹脂粒子への金属の被覆方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、無電解めっき法、スパッタリング法などが挙げられる。
前記樹脂粒子の材質としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、スチレン−ジビニルベンゼン共重合体、ベンゾグアナミン樹脂、架橋ポリスチレン樹脂、アクリル樹脂、スチレン−シリカ複合樹脂などが挙げられる。
The metal-coated resin particles are not particularly limited as long as the surfaces of the resin particles are coated with metal, and can be appropriately selected according to the purpose. For example, the surface of the resin particles is nickel, silver, solder , Particles coated with at least one of copper, gold, and palladium. Furthermore, you may use what gave the insulating film with the metal protrusion and organic substance on the surface. In the case of connection considering low resistance, particles in which the surface of resin particles is coated with silver are preferable.
There is no restriction | limiting in particular as the coating method of the metal to the said resin particle, According to the objective, it can select suitably, For example, an electroless-plating method, sputtering method, etc. are mentioned.
There is no restriction | limiting in particular as a material of the said resin particle, According to the objective, it can select suitably, For example, a styrene- divinylbenzene copolymer, a benzoguanamine resin, a crosslinked polystyrene resin, an acrylic resin, a styrene-silica composite resin etc. Is mentioned.

前記導電性粒子は、異方性導電接続の際に、導電性を有していればよい。例えば、金属粒子の表面に絶縁皮膜を施した粒子であっても、異方性導電接続の際に前記粒子が変形し、前記金属粒子が露出するものであれば、前記導電性粒子である。   The conductive particles only need to have conductivity during anisotropic conductive connection. For example, even if the surface of the metal particle is an insulating film, the conductive particle may be used as long as the particle is deformed during the anisotropic conductive connection and the metal particle is exposed.

前記導電性粒子の平均粒子径としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、1μm〜50μmが好ましく、2μm〜25μmがより好ましく、2μm〜10μmが特に好ましい。
前記平均粒子径は、任意に10個の導電性粒子について測定した粒子径の算術平均値である。
前記粒子径は、例えば、走査型電子顕微鏡観察により測定できる。
There is no restriction | limiting in particular as an average particle diameter of the said electroconductive particle, Although it can select suitably according to the objective, 1 micrometer-50 micrometers are preferable, 2 micrometers-25 micrometers are more preferable, and 2 micrometers-10 micrometers are especially preferable.
The average particle diameter is an arithmetic average value of particle diameters arbitrarily measured for 10 conductive particles.
The particle diameter can be measured, for example, by observation with a scanning electron microscope.

前記導電性粒子は、前記異方性導電層において前記厚膜部、及び前記薄膜部に均一に分散されていることが好ましい。   It is preferable that the conductive particles are uniformly dispersed in the thick film portion and the thin film portion in the anisotropic conductive layer.

前記異方性導電層における前記導電性粒子の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、0.5質量%〜10質量%が好ましく、1質量%〜5質量%がより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said electroconductive particle in the said anisotropic conductive layer, Although it can select suitably according to the objective, 0.5 mass%-10 mass% are preferable, and 1 mass%- 5 mass% is more preferable.

<<膜形成樹脂>>
前記膜形成樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、フェノキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、飽和ポリエステル樹脂、ウレタン樹脂、ブタジエン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリオレフィン樹脂などが挙げられる。前記膜形成樹脂は、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、製膜性、加工性、接続信頼性の点からフェノキシ樹脂が好ましい。
前記フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールAとエピクロルヒドリンより合成される樹脂などが挙げられる。
前記フェノキシ樹脂は、適宜合成したものを使用してもよいし、市販品を使用してもよい。
<< Film-forming resin >>
There is no restriction | limiting in particular as said film formation resin, According to the objective, it can select suitably, For example, phenoxy resin, unsaturated polyester resin, saturated polyester resin, urethane resin, butadiene resin, polyimide resin, polyamide resin, polyolefin Resin etc. are mentioned. The film forming resin may be used alone or in combination of two or more. Among these, phenoxy resin is preferable from the viewpoint of film forming property, processability, and connection reliability.
Examples of the phenoxy resin include a resin synthesized from bisphenol A and epichlorohydrin.
As the phenoxy resin, an appropriately synthesized product or a commercially available product may be used.

前記膜形成樹脂は、前記異方性導電層において前記厚膜部、及び前記薄膜部に均一に分布していることが好ましい。   It is preferable that the film forming resin is uniformly distributed in the thick film portion and the thin film portion in the anisotropic conductive layer.

前記異方性導電層における前記膜形成樹脂の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、25質量%〜65質量%が好ましく、35質量%〜55質量%がより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said film formation resin in the said anisotropic conductive layer, Although it can select suitably according to the objective, 25 mass%-65 mass% are preferable, 35 mass%-55 mass% % Is more preferable.

<<硬化性樹脂>>
前記硬化性樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、エポキシ樹脂、アクリレート樹脂などが挙げられる。
<< Curable resin >>
There is no restriction | limiting in particular as said curable resin, According to the objective, it can select suitably, For example, an epoxy resin, an acrylate resin, etc. are mentioned.

−エポキシ樹脂−
前記エポキシ樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、それらの変性エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂などが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
-Epoxy resin-
There is no restriction | limiting in particular as said epoxy resin, According to the objective, it can select suitably, For example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, novolak type epoxy resin, those modified epoxy resins, alicyclic type An epoxy resin etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.

−アクリレート樹脂−
前記アクリレート樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、メチルアクリレート、エチルアクリレート、イソプロピルアクリレート、イソブチルアクリレート、エポキシアクリレート、エチレングリコールジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、ジメチロールトリシクロデカンジアクリレート、テトラメチレングリコールテトラアクリレート、2−ヒドロキシ−1,3−ジアクリロキシプロパン、2,2−ビス[4−(アクリロキシメトキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(アクリロキシエトキシ)フェニル]プロパン、ジシクロペンテニルアクリレート、トリシクロデカニルアクリレート、トリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート、ウレタンアクリレートなどが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
また、前記アクリレートをメタクリレートにしたものが挙げられ、これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
-Acrylate resin-
The acrylate resin is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. For example, methyl acrylate, ethyl acrylate, isopropyl acrylate, isobutyl acrylate, epoxy acrylate, ethylene glycol diacrylate, diethylene glycol diacrylate, trimethylol Propane triacrylate, dimethylol tricyclodecane diacrylate, tetramethylene glycol tetraacrylate, 2-hydroxy-1,3-diaacryloxypropane, 2,2-bis [4- (acryloxymethoxy) phenyl] propane, 2, 2-bis [4- (acryloxyethoxy) phenyl] propane, dicyclopentenyl acrylate, tricyclodecanyl acrylate, tris (acryloxyethyl) i Cyanurates, such as urethane acrylate, and the like. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.
Moreover, what made the said acrylate into the methacrylate is mentioned, These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.

前記異方性導電層における前記硬化性樹脂の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、25質量%〜65質量%が好ましく、35質量%〜55質量%がより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said curable resin in the said anisotropic conductive layer, Although it can select suitably according to the objective, 25 mass%-65 mass% are preferable, and 35 mass%-55 mass% % Is more preferable.

<<硬化剤>>
前記硬化剤としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、イミダゾール類、有機過酸化物、アニオン系硬化剤、カチオン系硬化剤などが挙げられる。
<< Curing agent >>
There is no restriction | limiting in particular as said hardening | curing agent, According to the objective, it can select suitably, For example, imidazoles, an organic peroxide, an anionic hardening | curing agent, a cationic hardening | curing agent etc. are mentioned.

前記有機過酸化物としては、例えば、ラウロイルパーオキサイド、ブチルパーオキサイド、ベンジルパーオキサイド、ジラウロイルパーオキサイド、ジブチルパーオキサイド、パーオキシジカーボネート、ジベンゾイルパーオキサイドなどが挙げられる。
前記アニオン系硬化剤としては、例えば、有機アミン類などが挙げられる。
前記カチオン系硬化剤としては、例えば、スルホニウム塩、オニウム塩、アルミニウムキレート剤などが挙げられる。
Examples of the organic peroxide include lauroyl peroxide, butyl peroxide, benzyl peroxide, dilauroyl peroxide, dibutyl peroxide, peroxydicarbonate, dibenzoyl peroxide, and the like.
Examples of the anionic curing agent include organic amines.
Examples of the cationic curing agent include a sulfonium salt, an onium salt, and an aluminum chelating agent.

前記異方性導電層における前記硬化剤の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、1質量%〜10質量%が好ましく、2質量%〜8質量%がより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said hardening | curing agent in the said anisotropic conductive layer, Although it can select suitably according to the objective, 1 mass%-10 mass% are preferable, 2 mass%-8 mass% Is more preferable.

前記硬化性樹脂と前記硬化剤との組合せとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記エポキシ樹脂と前記カチオン系硬化剤との組合せ、前記アクリレート樹脂と前記有機過酸化物との組合せが好ましい。   The combination of the curable resin and the curing agent is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose. The combination of the epoxy resin and the cationic curing agent, the acrylate resin and the organic A combination with a peroxide is preferred.

<剥離フィルム>
前記剥離フィルムとしては、離型性を有するフィルムであれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、プラスチックフィルム上に剥離剤を塗布して得られる。
<Peeling film>
The release film is not particularly limited as long as it is a film having releasability, and can be appropriately selected according to the purpose. For example, it can be obtained by applying a release agent on a plastic film.

前記回路接続材料が、前記剥離フィルムを有する場合、前記異方性導電層における前記薄膜部の少なくとも一部、及び前記厚膜部は、前記剥離フィルム上に配されていることが好ましい。   When the circuit connection material has the release film, it is preferable that at least a part of the thin film portion and the thick film portion in the anisotropic conductive layer are arranged on the release film.

前記プラスチックフィルムの材質としては、例えば、PET(Poly Ethylene Terephthalate)、OPP(Oriented Polypropylene)、PMP(Poly−4−methylpentene−1)、PTFE(Polytetrafluoroethylene)などが挙げられる。   Examples of the material of the plastic film include PET (Poly Ethylene Terephthalate), OPP (Oriented Polypropylene), PMP (Poly-4-methylpentene-1), and PTFE (Polytetrafluoroethylene).

前記剥離剤としては、例えば、シリコーンなどが挙げられる。   Examples of the release agent include silicone.

前記剥離フィルムの平均厚みとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。   There is no restriction | limiting in particular as average thickness of the said peeling film, According to the objective, it can select suitably.

<第2の剥離フィルム>
前記回路接続材料は、更に、前記異方性導電層の前記剥離フィルム側と反対側に第2の剥離フィルムを有することが好ましい。
<Second release film>
The circuit connection material preferably further includes a second release film on the opposite side of the anisotropic conductive layer to the release film side.

前記第2の剥離フィルムは、前記異方性導電層における前記厚膜部及び前記薄膜部のうちの前記薄膜部上であって、前記薄膜部の少なくとも一部上に配されていることが好ましい。
そうすることにより、前記回路接続材料をリールに巻きとった際の、巻き品質において、巻き崩れ、及びブロッキングの少なくともいずれかを防ぐことができる。
The second release film is preferably disposed on at least a part of the thin film portion on the thin film portion of the thick film portion and the thin film portion in the anisotropic conductive layer. .
By doing so, it is possible to prevent at least one of collapse and blocking in the winding quality when the circuit connecting material is wound on a reel.

前記回路接続材料において、前記第2の剥離フィルムと、前記厚膜部と、前記薄膜部とは、以下の式(1)を満たすことが好ましく、式(2)を満たすことがより好ましい。
0(μm)≦R−(A−B)≦18(μm) 式(1)
0(μm)≦R−(A−B)≦15(μm) 式(2)
ただし、前記式(1)及び前記式(2)中、Rは、前記第2の剥離フィルムの平均厚みを表し、Aは、前記厚膜部の平均厚みを表し、Bは、前記薄膜部の平均厚みを表す。
〔R−(A−B)〕が0μm未満であると、リールに前記回路接続材料を巻き取る際に、巻き崩れは生じない。しかし、リールに前記回路接続材料を巻き取る際に、前記厚膜部のバインダーが前記第2の剥離フィルムの表面に回り込む。その結果、前記回路接続材料をリールから引き出し、前記第2の剥離フィルムを剥離する際に、前記異方性導電層が前記第2の剥離フィルムと同時に前記剥離フィルムより引き離されてブロッキングが発生する。
一方、〔R−(A−B)〕が18μmを超えると、前記回路接続材料をリールから引き出す際に、ブロッキングは生じない。しかし、リールに前記回路接続材料を巻き取る際に、前記回路接続材料がリールから脱落し、巻き崩れが発生する。
巻き崩れの防止とブロッキングの防止とを両立する点で、〔R−(A−B)〕は、前記式(1)を満たすことが好ましく、前記式(2)を満たすことがより好ましい。
In the circuit connection material, the second release film, the thick film portion, and the thin film portion preferably satisfy the following formula (1), and more preferably satisfy the formula (2).
0 (μm) ≦ R− (AB) ≦ 18 (μm) Formula (1)
0 (μm) ≦ R− (AB) ≦ 15 (μm) Formula (2)
However, in said Formula (1) and said Formula (2), R represents the average thickness of the said 2nd peeling film, A represents the average thickness of the said thick film part, B represents the said thin film part. Represents the average thickness.
When [R- (AB)] is less than 0 [mu] m, no winding collapse occurs when the circuit connecting material is wound around the reel. However, when the circuit connection material is wound around the reel, the binder of the thick film portion wraps around the surface of the second release film. As a result, when the circuit connection material is pulled out from the reel and the second release film is peeled off, the anisotropic conductive layer is pulled away from the release film simultaneously with the second release film, and blocking occurs. .
On the other hand, when [R- (AB)] exceeds 18 μm, blocking does not occur when the circuit connecting material is pulled out from the reel. However, when the circuit connection material is wound around the reel, the circuit connection material falls off the reel, and the winding collapses.
[R- (AB)] preferably satisfies the above formula (1) and more preferably satisfies the above formula (2) from the viewpoint of achieving both prevention of collapse and blocking.

前記第2の剥離フィルムは、両面が離型処理された剥離フィルムであることが、ブロッキングを防ぐ観点から好ましい。   From the viewpoint of preventing blocking, the second release film is preferably a release film whose both surfaces have been release-treated.

前記第2の剥離フィルムとしては、離型性を有するフィルムであれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、プラスチックフィルム上に剥離剤を塗布して得られる。前記プラスチックフィルム、及び前記剥離剤としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記剥離フィルムの説明において例示した前記プラスチックフィルム、及び前記剥離剤がそれぞれ挙げられる。   The second release film is not particularly limited as long as it is a film having releasability, and can be appropriately selected according to the purpose. For example, the second release film can be obtained by applying a release agent on a plastic film. There is no restriction | limiting in particular as said plastic film and said release agent, According to the objective, it can select suitably, For example, the said plastic film illustrated in description of the said release film, and the said release agent are each mentioned.

<回路接続材料の製造方法>
前記回路接続材料の製造方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、フィルム積層体作製工程と、裁断工程と、配置工程と、押圧工程とを含み、更に必要に応じて、その他の工程を含むことが好ましい。
<Manufacturing method of circuit connection material>
The method for producing the circuit connection material is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose, but includes a film laminate production process, a cutting process, an arrangement process, and a pressing process, and is further necessary. Depending on the, it is preferable to include other steps.

<<フィルム積層体作製工程>>
前記フィルム積層体作製工程としては、剥離フィルム上に、異方性導電組成物を塗布して、平坦な異方性導電層が形成されたフィルム積層体を作製する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
<< Film Laminate Production Step >>
The film laminate production step is not particularly limited as long as it is a step of producing a film laminate in which a flat anisotropic conductive layer is formed by applying an anisotropic conductive composition on a release film. And can be appropriately selected according to the purpose.

−異方性導電組成物−
前記異方性導電組成物は、導電性粒子を少なくとも含有し、更に必要に応じて、膜形成樹脂、硬化性樹脂、硬化剤などのその他の成分を含有する。
これらの各成分としては、例えば、前記回路接続材料における前記異方性導電層の説明において例示した各成分が挙げられる。
-Anisotropic conductive composition-
The anisotropic conductive composition contains at least conductive particles, and further contains other components such as a film-forming resin, a curable resin, and a curing agent as necessary.
As these each component, each component illustrated in description of the said anisotropic conductive layer in the said circuit connection material is mentioned, for example.

前記塗布の方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。   There is no restriction | limiting in particular as the method of the said application | coating, According to the objective, it can select suitably.

<<裁断工程>>
前記裁断工程としては、前記フィルム積層体を裁断して、帯状のフィルム積層体を得る工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
前記帯状のフィルム積層体の幅としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、0.5mm〜5mmなどが挙げられる。
<< Cutting process >>
The cutting step is not particularly limited as long as it is a step of cutting the film laminate to obtain a strip-shaped film laminate, and can be appropriately selected according to the purpose.
There is no restriction | limiting in particular as the width | variety of the said strip | belt-shaped film laminated body, According to the objective, it can select suitably, For example, 0.5 mm-5 mm etc. are mentioned.

<<配置工程>>
前記配置工程としては、前記帯状のフィルム積層体における前記平坦な異方性導電層の表面の一部に、帯状の第2の剥離フィルムを、前記帯状のフィルム積層体の長手方向に沿って配置する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
<< Placement process >>
As the arrangement step, a second strip-like release film is arranged along a longitudinal direction of the belt-like film laminate on a part of the surface of the flat anisotropic conductive layer in the belt-like film laminate. If it is a process to perform, there will be no restriction in particular and it can choose suitably according to the object.

前記帯状の第2の剥離フィルムの材質等としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記回路接続材料における前記第2の剥離フィルムの説明において例示した前記第2の剥離フィルムの材質等が挙げられる。   There is no restriction | limiting in particular as a material etc. of the said strip | belt-shaped 2nd peeling film, According to the objective, it can select suitably, For example, the said 1st illustrated in description of the said 2nd peeling film in the said circuit connection material The material of the release film of 2 is mentioned.

<<押圧工程>>
前記押圧工程としては、前記帯状の第2の剥離フィルムを押し、前記帯状の第2の剥離フィルムを、前記平坦な異方性導電層に押し込む工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
<< Pressing process >>
The pressing step is not particularly limited as long as it is a step of pressing the strip-shaped second release film and pressing the strip-shaped second release film into the flat anisotropic conductive layer, depending on the purpose. Can be selected as appropriate.

以上の工程により、前記回路接続材料が製造される。   The circuit connection material is manufactured through the above steps.

ここで、図を用いて本発明の回路接続材料、及びその製造方法の一例を説明する。
図1Aは、本発明の回路接続材料の一例の上面概略図である。
図1Bは、本発明の回路接続材料の一例の幅方向の断面概略図であり、図1AにおけるA−A断面図である。
図1A及び図1Bの回路接続材料1は、厚膜部2Aと薄膜部2Bとからなる異方性導電層2を有する。
厚膜部2A、及び薄膜部2Bはともに帯状である。
異方性導電層2は、厚膜部2Aと薄膜部2Bとを、回路接続材料1の幅方向に隣接して有している。
Here, an example of the circuit connection material of the present invention and the manufacturing method thereof will be described with reference to the drawings.
FIG. 1A is a schematic top view of an example of the circuit connection material of the present invention.
FIG. 1B is a schematic cross-sectional view in the width direction of an example of the circuit connection material of the present invention, and is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1A.
1A and 1B has an anisotropic conductive layer 2 composed of a thick film portion 2A and a thin film portion 2B.
The thick film portion 2A and the thin film portion 2B are both strip-shaped.
The anisotropic conductive layer 2 has a thick film portion 2 </ b> A and a thin film portion 2 </ b> B adjacent to the width direction of the circuit connection material 1.

図2Aは、本発明の回路接続材料の他の一例の上面概略図である。
図2Bは、本発明の回路接続材料の他の一例の幅方向の断面概略図であり、図2AにおけるA−A断面図である。
図2A及び図2Bの回路接続材料1は、剥離フィルム3、厚膜部2Aと薄膜部2Bとからなる異方性導電層2、及び第2の剥離フィルム4を有する。
厚膜部2A、及び薄膜部2Bはともに帯状である。
異方性導電層2は、厚膜部2Aと薄膜部2Bとを、回路接続材料1の幅方向に隣接して有している。
異方性導電層2は、剥離フィルム3上に形成されている。
第2の剥離フィルム4は、薄膜部2B上に配置されている。
FIG. 2A is a schematic top view of another example of the circuit connection material of the present invention.
FIG. 2B is a schematic cross-sectional view in the width direction of another example of the circuit connection material of the present invention, and is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 2A.
2A and 2B includes a release film 3, an anisotropic conductive layer 2 including a thick film portion 2A and a thin film portion 2B, and a second release film 4.
The thick film portion 2A and the thin film portion 2B are both strip-shaped.
The anisotropic conductive layer 2 has a thick film portion 2 </ b> A and a thin film portion 2 </ b> B adjacent to the width direction of the circuit connection material 1.
The anisotropic conductive layer 2 is formed on the release film 3.
The 2nd peeling film 4 is arrange | positioned on the thin film part 2B.

図3Aは、本発明の回路接続材料の他の一例の上面概略図である。
図3Bは、本発明の回路接続材料の他の一例の幅方向の断面概略図であり、図3AにおけるA−A断面図である。
図3A及び図3Bの回路接続材料1は、剥離フィルム3、厚膜部2Aと薄膜部2Bとからなる異方性導電層2、及び第2の剥離フィルム4を有する。
厚膜部2A、及び薄膜部2Bはともに帯状である。
異方性導電層2は、厚膜部2Aと薄膜部2Bとを、回路接続材料1の幅方向に隣接して有している。
異方性導電層2は、剥離フィルム3上に形成されている。
第2の剥離フィルム4は、薄膜部2B上に配置されている。
薄膜部2Bの一部は、剥離フィルム3上からはみ出ている。
第2の剥離フィルム4の一部は、薄膜部2B上からはみ出ている。
第2の剥離フィルム4は、厚膜部2Aと同程度の厚みを有する。
FIG. 3A is a schematic top view of another example of the circuit connection material of the present invention.
FIG. 3B is a schematic cross-sectional view in the width direction of another example of the circuit connecting material of the present invention, and is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 3A.
3A and 3B includes a release film 3, an anisotropic conductive layer 2 including a thick film portion 2A and a thin film portion 2B, and a second release film 4.
The thick film portion 2A and the thin film portion 2B are both strip-shaped.
The anisotropic conductive layer 2 has a thick film portion 2 </ b> A and a thin film portion 2 </ b> B adjacent to the width direction of the circuit connection material 1.
The anisotropic conductive layer 2 is formed on the release film 3.
The 2nd peeling film 4 is arrange | positioned on the thin film part 2B.
A part of the thin film portion 2B protrudes from the release film 3.
A part of the second release film 4 protrudes from the thin film portion 2B.
The second release film 4 has the same thickness as the thick film portion 2A.

次に、図4A〜図4Bを用いて、本発明の回路接続材料の製造方法の一例を図を用いて説明する。
まず、剥離フィルム3上に、異方性導電組成物を塗布し、平坦な異方性導電層2Cを作製する(図4A及び図4B)。なお、図4Bは、図4AのA−A断面図である。ここで、剥離フィルム3は帯状である。
次に、平坦な異方性導電層2Cの表面の一部に、第2の剥離フィルム4を、剥離フィルム3の長手方向に沿って配置する(図4C及び図4D)。なお、図4Dは、図4CのA−A断面図である。ここで、第2の剥離フィルム4は帯状である。
次に、第2の剥離フィルム4を押し、第2の剥離フィルム4を、平坦な異方性導電層2Cに押し込む。そうすることにより、平坦な異方性導電層2Cから、厚膜部2Aと薄膜部2Bとが形成される。
その結果、図4Eに示すような、回路接続材料が得られる。
Next, an example of the method for producing the circuit connecting material of the present invention will be described with reference to FIGS. 4A to 4B.
First, an anisotropic conductive composition is applied on the release film 3 to produce a flat anisotropic conductive layer 2C (FIGS. 4A and 4B). 4B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 4A. Here, the release film 3 has a strip shape.
Next, the 2nd peeling film 4 is arrange | positioned along the longitudinal direction of the peeling film 3 in a part of surface of the flat anisotropic conductive layer 2C (FIG. 4C and FIG. 4D). 4D is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 4C. Here, the 2nd peeling film 4 is strip | belt shape.
Next, the second release film 4 is pressed, and the second release film 4 is pressed into the flat anisotropic conductive layer 2C. By doing so, the thick film portion 2A and the thin film portion 2B are formed from the flat anisotropic conductive layer 2C.
As a result, a circuit connection material as shown in FIG. 4E is obtained.

(接続方法)
本発明の接続方法は、第1の配置工程と、第2の配置工程と、加熱押圧工程とを少なくとも含み、更に必要に応じて、その他の工程を含む。
前記接続方法は、端子を有する第1の回路部材と、配線を保護する保護層及び端子を有する第2の回路部材とを接続する方法である。
(Connection method)
The connection method of the present invention includes at least a first arrangement step, a second arrangement step, and a heating and pressing step, and further includes other steps as necessary.
The connection method is a method of connecting a first circuit member having a terminal and a second circuit member having a protective layer and a terminal for protecting the wiring.

<第1の回路部材>
前記第1の回路部材としては、端子を有し、前記回路接続材料を用いた異方性導電接続の対象となる回路部材であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、端子を有するガラス基板、端子を有するプラスチック基板、IC(Integrated Circuit)、TAB(Tape Automated Bonding)テープ、Flex−on−Glass(フレックスオンガラス、FOG)、Chip−on−Glass(チップオンガラス、COG)、Chip−on−Flex(チップオンフレックス、COF)、Flex−on−Board(フレックスオンボード、FOB)、Flex−on−Flex(フレックスオンフレックス、FOF)、液晶パネルなどが挙げられる。
<First circuit member>
The first circuit member is not particularly limited as long as it is a circuit member that has terminals and is an object of anisotropic conductive connection using the circuit connection material, and can be appropriately selected according to the purpose. For example, a glass substrate having terminals, a plastic substrate having terminals, IC (Integrated Circuit), TAB (Tape Automated Bonding) tape, Flex-on-Glass (Flex-on-glass, FOG), Chip-on-Glass (chip) On-glass, COG), Chip-on-Flex (chip-on-flex, COF), Flex-on-Board (flex-on-board, FOB), Flex-on-Flex (flex-on-flex, FOF), liquid crystal panels, etc. It is done.

<第2の回路部材>
前記第2の回路部材としては、保護層及び端子を有し、前記回路接続材料を用いた異方性導電接続の対象となる回路部材であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、端子を有するガラス基板、端子を有するプラスチック基板、IC(Integrated Circuit)、TAB(Tape Automated Bonding)テープ、Flex−on−Glass(フレックスオンガラス、FOG)、Chip−on−Glass(チップオンガラス、COG)、Chip−on−Flex(チップオンフレックス、COF)、Flex−on−Board(フレックスオンボード、FOB)、Flex−on−Flex(フレックスオンフレックス、FOF)、液晶パネルなどが挙げられる。
<Second circuit member>
The second circuit member is not particularly limited as long as it is a circuit member that has a protective layer and a terminal and is an object of anisotropic conductive connection using the circuit connection material, and is appropriately selected according to the purpose. For example, a glass substrate having terminals, a plastic substrate having terminals, IC (Integrated Circuit), TAB (Tape Automated Bonding) tape, Flex-on-Glass (Flex-on-glass, FOG), Chip-on- Glass (chip-on-glass, COG), Chip-on-Flex (chip-on-flex, COF), Flex-on-Board (flex-on-board, FOB), Flex-on-Flex (flex-on-flex, FOF), liquid crystal panel Etc.

前記第2の回路部材における前記保護層としては、前記第2の回路部材における配線を保護する限り、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、絶縁樹脂層などが挙げられる。前記絶縁樹脂層は、例えば、ソルダーレジストを塗布することにより形成できる。   The protective layer in the second circuit member is not particularly limited as long as the wiring in the second circuit member is protected, and can be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include an insulating resin layer. It is done. The insulating resin layer can be formed, for example, by applying a solder resist.

前記第1の回路部材、及び前記第2の回路部材の形状、大きさとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。   There is no restriction | limiting in particular as a shape and a magnitude | size of a said 1st circuit member and a said 2nd circuit member, According to the objective, it can select suitably.

<第1の配置工程>
前記第1の配置工程としては、前記第1の回路部材の前記端子上に、前記回路接続材料における前記異方性導電層を配置する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
<First arrangement step>
The first disposing step is not particularly limited as long as it is a step of disposing the anisotropic conductive layer in the circuit connecting material on the terminal of the first circuit member. You can choose.

前記第1の配置工程において、前記第1の回路部材の前記端子上に配置される前記異方性導電層は、前記厚膜部のみであってもよいし、前記厚膜部及び前記薄膜部であってもよい。   In the first arrangement step, the anisotropic conductive layer arranged on the terminal of the first circuit member may be only the thick film part, or the thick film part and the thin film part. It may be.

<第2の配置工程>
前記第2の配置工程としては、前記異方性導電層上に、前記厚膜部に前記第2の回路部材の前記端子が接し、前記薄膜部に前記第2の回路部材における前記保護層が接するように、前記第2の回路部材を配置する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
<Second arrangement step>
In the second disposing step, the terminal of the second circuit member is in contact with the thick film portion on the anisotropic conductive layer, and the protective layer in the second circuit member is in contact with the thin film portion. If it is the process of arrange | positioning the said 2nd circuit member so that it may contact, there will be no restriction | limiting in particular, According to the objective, it can select suitably.

<加熱押圧工程>
前記加熱押圧工程としては、前記第2の回路部材を、加熱押圧部材により加熱及び押圧する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
<Heat pressing process>
The heating and pressing step is not particularly limited as long as it is a step of heating and pressing the second circuit member with a heating and pressing member, and can be appropriately selected according to the purpose.

前記加熱押圧部材としては、例えば、加熱機構を有する押圧部材などが挙げられる。前記加熱機構を有する押圧部材としては、例えば、ヒートツールなどが挙げられる。
前記加熱の温度としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、140℃〜200℃が好ましい。
前記押圧の圧力としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、0.1MPa〜80MPaが好ましい。
前記加熱及び押圧の時間としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、0.5秒間〜120秒間などが挙げられる。
Examples of the heating and pressing member include a pressing member having a heating mechanism. Examples of the pressing member having the heating mechanism include a heat tool.
There is no restriction | limiting in particular as temperature of the said heating, Although it can select suitably according to the objective, 140 to 200 degreeC is preferable.
There is no restriction | limiting in particular as the pressure of the said press, Although it can select suitably according to the objective, 0.1 MPa-80 MPa are preferable.
There is no restriction | limiting in particular as the time of the said heating and press, According to the objective, it can select suitably, For example, 0.5 second-120 second etc. are mentioned.

(接合体)
本発明に関する接合体は、第1の回路部材と、第2の回路部材と、前記回路接続材料の硬化物とを少なくとも有し、更に必要に応じて、その他の部材を有する。
(Joint)
The joined body according to the present invention includes at least a first circuit member, a second circuit member, and a cured product of the circuit connection material, and further includes other members as necessary.

前記接合体は、本発明の前記接続方法により得られる。   The joined body is obtained by the connection method of the present invention.

ここで、図を用いて本発明の接続方法の一例を説明する。
図5A〜図5Gは、本発明の接続方法の一例を説明するための概略図である。
まず、図5A及び図5Bに示すような第1の回路部材11を用意する。第1の回路部材11は、基板11Aと、表示パネル部11Bと、集積回路11Cと、端子11Dとを有する。表示パネル部11B、集積回路11C、及び端子11Dは、基板11A上に形成されており、不図示の配線により接続されている。端子11Dは、基板11Aの端部に形成されている。ここで、図5Aは、上面図であり、図5Bは断面図である。
Here, an example of the connection method of the present invention will be described with reference to the drawings.
5A to 5G are schematic views for explaining an example of the connection method of the present invention.
First, a first circuit member 11 as shown in FIGS. 5A and 5B is prepared. The first circuit member 11 includes a substrate 11A, a display panel unit 11B, an integrated circuit 11C, and a terminal 11D. The display panel unit 11B, the integrated circuit 11C, and the terminal 11D are formed on the substrate 11A and are connected by wiring (not shown). The terminal 11D is formed at the end of the substrate 11A. Here, FIG. 5A is a top view and FIG. 5B is a cross-sectional view.

次に、図4Eに示す回路接続材料1を用意する。そして、回路接続材料1から第2の剥離フィルム4を剥離する。そして、図5Cに示すように、第1の回路部材11の端子11D上に、異方性導電層2と、剥離フィルム3とを有する回路接続材料を、異方性導電層2の厚膜部2Aが端子11Dと接するように、配置する。
そして、図5D(断面図)及び図5E(上面図)に示すように、異方性導電層2から剥離フィルム3を剥離する。
Next, a circuit connection material 1 shown in FIG. 4E is prepared. Then, the second release film 4 is peeled from the circuit connection material 1. Then, as shown in FIG. 5C, the circuit connecting material having the anisotropic conductive layer 2 and the release film 3 on the terminal 11 </ b> D of the first circuit member 11 is replaced with the thick film portion of the anisotropic conductive layer 2. It arrange | positions so that 2A may contact the terminal 11D.
Then, as shown in FIG. 5D (sectional view) and FIG. 5E (top view), the release film 3 is peeled from the anisotropic conductive layer 2.

次に、第2の回路部材12(図5F)を用意する。第2の回路部材12は、基板12Aと、端子12Bと、保護層12Cとを有する。端子12B、及び保護層12Cは、基板12A上に形成されている。端子12Bは、基板12Aの端部に形成されている。保護層12Cは、不図示の配線を保護している。
そして、図5Fに示すように、異方性導電層上に、厚膜部2Aに第2の回路部材12の端子12Bが接し、薄膜部2Bに第2の回路部材12における保護層12Cが接するように、第2の回路部材12を配置する。
Next, the second circuit member 12 (FIG. 5F) is prepared. The second circuit member 12 includes a substrate 12A, a terminal 12B, and a protective layer 12C. The terminal 12B and the protective layer 12C are formed on the substrate 12A. The terminal 12B is formed at the end of the substrate 12A. The protective layer 12C protects wiring (not shown).
As shown in FIG. 5F, the terminal 12B of the second circuit member 12 is in contact with the thick film portion 2A and the protective layer 12C of the second circuit member 12 is in contact with the thin film portion 2B on the anisotropic conductive layer. In this manner, the second circuit member 12 is arranged.

次に、図5Gに示すように、不図示の加熱押圧部材により、第2の回路部材12を加熱及び押圧することにより、端子11Dと端子12Bとが、回路接続材料1により接続される。   Next, as illustrated in FIG. 5G, the terminal 11 </ b> D and the terminal 12 </ b> B are connected to each other by the circuit connecting material 1 by heating and pressing the second circuit member 12 with a heating pressing member (not illustrated).

このとき、回路接続材料1における異方性導電層2が、厚膜部2Aと薄膜部2Bとを有することにより、第2の回路部材12が保護層12Cを有することよる異方性導電層2の押し込み不足を防ぎ、良好な接続を行うことができる。   At this time, the anisotropic conductive layer 2 in the circuit connecting material 1 has the thick film portion 2A and the thin film portion 2B, so that the anisotropic conductive layer 2 in which the second circuit member 12 has the protective layer 12C. Insufficiency can be prevented and a good connection can be made.

なお、図5Gの構造から第2の回路部材12は、第1の回路部材11の端子11D側の端部で折り曲げられ、第2の回路部材12の端子12B側の端部と反対側の端部は、第1の回路部材11の表示パネル部11B側と反対側に折り込まれていてもよい。   5G, the second circuit member 12 is bent at the end on the terminal 11D side of the first circuit member 11, and the end opposite to the end on the terminal 12B side of the second circuit member 12 The portion may be folded on the opposite side of the first circuit member 11 from the display panel portion 11B side.

以下、本発明の実施例を説明するが、本発明は、これらの実施例に何ら限定されるものではない。   Examples of the present invention will be described below, but the present invention is not limited to these examples.

(実施例1)
<回路接続材料の作製>
以下の配合を均一に混合し、混合物を作製した。
−配合−
フェノキシ樹脂(品名:jER4256、三菱化学社製) 46質量部
ウレタンアクリレート(品名:U−2PPA、新中村化学社製) 25質量部
2官能アクリレート(品名:A−200、新中村化学社製) 20質量部
リン酸エステル型アクリレート(品名:PM−2、日本化薬社製) 1質量部
導電性粒子(品名:AUL704、積水化学工業社製) 2質量部
ジラウロイルパーオキサイド 3質量部
ジベンゾイルパーオキサイド 3質量部
Example 1
<Production of circuit connection material>
The following formulations were mixed uniformly to prepare a mixture.
-Formulation-
Phenoxy resin (Product name: jER4256, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) 46 parts by mass Urethane acrylate (Product name: U-2PPA, manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.) 25 parts by mass Bifunctional acrylate (Product name: A-200, manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.) 20 Part by mass Phosphate ester acrylate (Product name: PM-2, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 1 part by mass Conductive particles (Product name: AUL704, manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.) 2 parts by mass Dilauroyl peroxide 3 parts by mass Dibenzoylper 3 parts by mass of oxide

得られた混合物をポリエステルフィルム(剥離フィルム)上に乾燥後の平均厚みが25μmとなるように塗布し、70℃の熱風を5分間吹き掛けて乾燥し、前記剥離フィルム上に平坦な異方性導電層(平坦AC層)が形成されたフィルム積層体を得た。   The obtained mixture was coated on a polyester film (release film) so that the average thickness after drying was 25 μm, dried by blowing hot air at 70 ° C. for 5 minutes, and flat anisotropy was formed on the release film. A film laminate in which a conductive layer (flat AC layer) was formed was obtained.

次に、前記フィルム積層体を、2.0mm幅に裁断し、続いて、裁断幅と同じ幅の平均厚み25μmのスペーサーフィルム(SF:第2の剥離フィルム)を前記フィルム積層体の裁断幅(2.0mm)の50%(ラップ幅:1.0mm)を覆うように積層させ、60℃での熱ラミネートにより加熱加圧し、スペーサーフィルムを10μm前記異方性導電層に埋没させプラリールに巻き取り、回路接続材料の巻取り体を得た。
なお、スペーサーフィルムは、両面が離型処理されたフィルムを用いた。
Next, the film laminate is cut into a width of 2.0 mm, and then a spacer film (SF: second release film) having the same width as the cut width and an average thickness of 25 μm is cut into the cut width of the film laminate ( 2.0 mm) is laminated so as to cover 50% (wrap width: 1.0 mm), heated and pressurized by heat lamination at 60 ° C., and a spacer film is buried in 10 μm of the anisotropic conductive layer and wound on a plastic reel. Thus, a wound body of the circuit connecting material was obtained.
The spacer film used was a film whose both surfaces were release-treated.

<接合体の製造>
以下の方法により接合体を製造した。
<<FPC>>
評価用フレキシブルプリント基板(評価用FPC)として、以下のA、及びBを用意した。
<Manufacture of joined body>
The joined body was manufactured by the following method.
<< FPC >>
The following A and B were prepared as evaluation flexible printed circuit boards (evaluation FPC).

なお、前記保護層は、ソルダーレジストにより形成された。   The protective layer was formed from a solder resist.

<<ディスプレイパネル>>
評価用ディスプレイパネルとして、アルミ蒸着ガラスを用いた。
<< Display panel >>
Aluminum vapor-deposited glass was used as a display panel for evaluation.

前記巻取体からスペーサーフィルムを剥離し、前記スペーサーフィルムを剥離した前記回路接続材料を、前記異方性導電層が前記アルミ蒸着ガラスに接するように、前記アルミ蒸着ガラスのエッジ側に配置した。
200μm厚みの緩衝材(シリコンラバー)を介し、2.0mm幅の圧着ヘッドを前記剥離フィルム上面に押し当てて、80℃、1MPa、1秒間の条件で、前記フィルム積層体を加熱加圧することにより前記アルミ蒸着ガラス上に前記異方性導電層を貼り付けた。
前記剥離フィルムを剥離し、前記評価用FPC(A)の保護層が100μm重なるように前記異方性導電層上に配置した。
200μm厚みの緩衝材(シリコンラバー)を介し、2.0mm幅の圧着ヘッドの押し当て位置を、前記アルミ蒸着ガラスのエッジに合わせ、前記評価用FPC(A)側から、160℃、3MPa、5秒間の条件で加熱加圧し、前記アルミ蒸着ガラスと前記評価用FPC(A)を接続し、接合体を得た。
The spacer film was peeled from the wound body, and the circuit connection material from which the spacer film was peeled was disposed on the edge side of the aluminum vapor-deposited glass so that the anisotropic conductive layer was in contact with the aluminum vapor-deposited glass.
By pressing a pressure-bonding head having a width of 2.0 mm against the upper surface of the release film through a buffer material (silicon rubber) having a thickness of 200 μm, and heating and pressurizing the film laminate under the conditions of 80 ° C., 1 MPa, and 1 second. The anisotropic conductive layer was affixed on the aluminum vapor-deposited glass.
The release film was peeled off and placed on the anisotropic conductive layer so that the protective layer of the evaluation FPC (A) overlapped by 100 μm.
Through a buffer material (silicon rubber) having a thickness of 200 μm, the pressing position of a 2.0 mm-wide crimping head is aligned with the edge of the aluminum-deposited glass, and from the FPC (A) side for evaluation, 160 ° C., 3 MPa, The aluminum vapor-deposited glass and the evaluation FPC (A) were connected by heating and pressurizing for 2 seconds to obtain a joined body.

<評価>
作製した接合体について、以下の評価を行った。結果を表2−1に示した。
<Evaluation>
The following evaluation was performed about the produced joined_body | zygote. The results are shown in Table 2-1.

<<接続状態>>
金属顕微鏡(オリンパス株式会社製、商品名:MX51)を使用し、観察にあたっては、微分干渉プリズムと偏光板を装着して観察する微分干渉観察法にて観察を行った。
前記評価用FPCの端部側で粒子痕が観察された位置から保護層の端部までの幅(圧着有効幅)のうち、粒子痕が観察された幅を測定し、以下の評価基準で評価した。
〔評価基準〕
○:粒子痕が観察された幅が圧着有効幅の平均90%以上
△:粒子痕が観察された幅が圧着有効幅の平均80%以上90%未満
×:粒子痕が観察された幅が圧着有効幅の平均80%未満
ここで、粒子痕とは、潰れた状態の導電性粒子を意味する。
<< Connection status >>
A metal microscope (manufactured by Olympus Co., Ltd., trade name: MX51) was used, and the observation was performed by a differential interference observation method in which a differential interference prism and a polarizing plate were attached for observation.
Of the width from the position where the particle trace was observed on the end side of the FPC for evaluation to the end of the protective layer (the effective crimping width), the width where the particle trace was observed was measured and evaluated according to the following evaluation criteria. did.
〔Evaluation criteria〕
○: The width in which the particle trace was observed is 90% or more on the average of the effective crimping width Δ: The width in which the particle trace was observed is 80% to less than 90% on the average in the effective crimping width ×: The width in which the particle trace was observed was crimped The average effective width is less than 80% Here, the particle mark means the conductive particles in a crushed state.

<<巻き品質の評価>>
回路接続材料の巻取り体を得る際に、幅2.0mm×長さ100mの前記回路接続材料を、コアの直径が55mmのリールに0.2N/mmのテンションで巻き取った。そして、30℃環境で巻取り体の端部の前記回路接続材料に50gの分銅をぶら下げ放置した。
外観観察により巻き崩れの確認を行った。
また、回路接続材料をリールから引き出し、スペーサーフィルムを剥離し、剥離フィルムからの異方性導電層の剥がれ(ブロッキング)の有無の確認を行った。
以下に評価基準を示す。
<< Evaluation of winding quality >>
When obtaining the wound body of the circuit connection material, the circuit connection material having a width of 2.0 mm and a length of 100 m was wound around a reel having a core diameter of 55 mm with a tension of 0.2 N / mm 2 . Then, a weight of 50 g was left hanging on the circuit connecting material at the end of the wound body in a 30 ° C. environment.
The collapse was confirmed by appearance observation.
Moreover, the circuit connection material was pulled out from the reel, the spacer film was peeled off, and the presence or absence of peeling (blocking) of the anisotropic conductive layer from the peeling film was confirmed.
The evaluation criteria are shown below.

〔巻き崩れの評価基準〕
○:回路接続材料の巻き崩れが発生無しなかった。
△:リールフランジにスペーサーフィルム、又は異方性導電層のバインダーが接触した。
×:回路接続材料がリールから脱落し、巻き崩れが発生した。
[Evaluation criteria for rollover]
○: No collapse of the circuit connection material occurred.
(Triangle | delta): The spacer film or the binder of the anisotropic conductive layer contacted the reel flange.
X: The circuit connecting material dropped from the reel and collapsed.

〔ブロッキングの評価基準〕
○:ブロッキングが発生しなかった。
×:ブロッキングが発生した。
[Evaluation criteria for blocking]
○: Blocking did not occur.
X: Blocking occurred.

(実施例2〜実施例15、及び比較例1〜6)
実施例1において、スペーサーフィルムの平均厚み、スペーサーフィルムの埋没深さ、スペーサーフィルムのラップ幅、異方性導電層における厚膜部の平均厚み、及び異方性導電層における薄膜部の平均厚み、及び評価用FPCの種類を、表2−1〜表2−3に記載のように変更した以外は、実施例1と同様にして、回路接続材料の巻取り体を作製した。
得られた回路接続材料について、実施例1と同様の評価を行った。結果を表2−1〜表2−3に示した。
(Examples 2 to 15 and Comparative Examples 1 to 6)
In Example 1, the average thickness of the spacer film, the buried depth of the spacer film, the wrap width of the spacer film, the average thickness of the thick film portion in the anisotropic conductive layer, and the average thickness of the thin film portion in the anisotropic conductive layer, And the winding body of the circuit connection material was produced like Example 1 except having changed the kind of FPC for evaluation as described in Table 2-1-Table 2-3.
About the obtained circuit connection material, evaluation similar to Example 1 was performed. The results are shown in Tables 2-1 to 2-3.

ここで、スペーサーフィルム(SF)の埋没深さは、平坦な異方性導電層に対して、スペーサーフィルムが埋没した深さを表し、厚膜部の平均厚みと薄膜部の平均厚みとの差に対応する。そして、その割合は、1−(厚膜部の平均厚み/薄膜部の平均厚み)に対応する。
スペーサーフィルム(SF)のラップ幅は、薄膜部の幅に対応し、その割合は、異方性導電層の幅に対する前記薄膜部の幅の割合に対応する。
Here, the buried depth of the spacer film (SF) represents the depth at which the spacer film is buried with respect to the flat anisotropic conductive layer, and the difference between the average thickness of the thick film portion and the average thickness of the thin film portion. Corresponding to The ratio corresponds to 1- (average thickness of thick film portion / average thickness of thin film portion).
The wrap width of the spacer film (SF) corresponds to the width of the thin film portion, and the ratio corresponds to the ratio of the width of the thin film portion to the width of the anisotropic conductive layer.

実施例1〜15では、異方性導電層が、厚膜部と薄膜部とを有し、前記厚膜部の平均厚みに対する前記薄膜部の平均厚みが、40%〜60%であるため、回路部材が保護層を有する場合でも良好な接続状態が得られた。
一方、比較例3では、異方性導電層が、厚膜部と薄膜部とを有さないために、接続状態が不十分であった。
また、比較例1、2、4〜6では、異方性導電層が、厚膜部と薄膜部とを有していても、前記厚膜部の平均厚みに対する前記薄膜部の平均厚みが、40%未満又は60%超であると、接続状態が不十分であった。
In Examples 1 to 15, the anisotropic conductive layer has a thick film part and a thin film part, and the average thickness of the thin film part with respect to the average thickness of the thick film part is 40% to 60%. Even when the circuit member has a protective layer, a good connection state was obtained.
On the other hand, in Comparative Example 3, since the anisotropic conductive layer did not have the thick film portion and the thin film portion, the connection state was insufficient.
In Comparative Examples 1, 2, 4 to 6, even if the anisotropic conductive layer has a thick film portion and a thin film portion, the average thickness of the thin film portion with respect to the average thickness of the thick film portion is If it is less than 40% or more than 60%, the connection state was insufficient.

また、前記式(1)を満たすと、巻き崩れの防止とブロッキングの防止との両立において優れ、前記式(2)を満たすと、巻き崩れの防止とブロッキングの防止との両立においてより優れた。   Moreover, when satisfy | filling said Formula (1), it was excellent in coexistence with prevention of collapse and prevention of blocking, and satisfying said Formula (2) was more excellent in coexistence of prevention of collapse and prevention of blocking.

本発明の回路接続材料は、保護層を有する回路部材の電気的接続に好適に用いることができる。   The circuit connection material of the present invention can be suitably used for electrical connection of a circuit member having a protective layer.

1 回路接続材料
2 異方性導電層
2A 厚膜部
2B 薄膜部
2C 平坦な異方性導電層
3 剥離フィルム
4 第2の剥離フィルム
11 第1の回路部材
11A 基板
11B 表示パネル部
11C 集積回路
11D 端子
12 第2の回路部材
12A 基板
12B 端子
12C 保護層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit connection material 2 Anisotropic conductive layer 2A Thick film part 2B Thin film part 2C Flat anisotropic conductive layer 3 Peeling film 4 2nd peeling film 11 1st circuit member 11A Board | substrate 11B Display panel part 11C Integrated circuit 11D Terminal 12 Second circuit member 12A Substrate 12B Terminal 12C Protective layer

Claims (6)

導電性粒子を含有する異方性導電層を有し、帯状である回路接続材料であって、
前記異方性導電層が、帯状の厚膜部と帯状の薄膜部とを、前記回路接続材料の幅方向に隣接して有し、
前記厚膜部の平均厚みに対する前記薄膜部の平均厚みが、40%〜60%であることを特徴とする回路接続材料。
A circuit connecting material having an anisotropic conductive layer containing conductive particles and having a strip shape,
The anisotropic conductive layer has a strip-shaped thick film portion and a strip-shaped thin film portion adjacent to the width direction of the circuit connecting material,
The circuit connection material, wherein an average thickness of the thin film portion with respect to an average thickness of the thick film portion is 40% to 60%.
前記異方性導電層の幅に対する前記薄膜部の幅が、30%〜50%である請求項1に記載の回路接続材料。   The circuit connection material according to claim 1, wherein a width of the thin film portion with respect to a width of the anisotropic conductive layer is 30% to 50%. 更に、剥離フィルムを有し、
前記異方性導電層における前記薄膜部の少なくとも一部、及び前記厚膜部が、前記剥離フィルム上に配されている請求項1から2のいずれかに記載の回路接続材料。
Furthermore, it has a release film,
The circuit connection material according to claim 1, wherein at least a part of the thin film portion and the thick film portion in the anisotropic conductive layer are arranged on the release film.
更に、前記異方性導電層の前記剥離フィルム側と反対側に第2の剥離フィルムを有し、
前記第2の剥離フィルムが、前記異方性導電層における前記厚膜部及び前記薄膜部のうちの前記薄膜部上であって、前記薄膜部の少なくとも一部上に配されている請求項3に記載の回路接続材料。
Furthermore, it has a second release film on the side opposite to the release film side of the anisotropic conductive layer,
The said 2nd peeling film is distribute | arranged on the said thin film part of the said thick film part and the said thin film part in the said anisotropic conductive layer, Comprising: At least one part of the said thin film part is distribute | arranged. Circuit connection material described in 1.
前記第2の剥離フィルムと、前記厚膜部と、前記薄膜部とが、以下の式(1)を満たす請求項4に記載の回路接続材料。
0(μm)≦R−(A−B)≦18(μm) 式(1)
ただし、前記式(1)中、Rは、前記第2の剥離フィルムの平均厚みを表し、Aは、前記厚膜部の平均厚みを表し、Bは、前記薄膜部の平均厚みを表す。
The circuit connection material according to claim 4, wherein the second release film, the thick film portion, and the thin film portion satisfy the following expression (1).
0 (μm) ≦ R− (AB) ≦ 18 (μm) Formula (1)
However, in said Formula (1), R represents the average thickness of a said 2nd peeling film, A represents the average thickness of the said thick film part, and B represents the average thickness of the said thin film part.
端子を有する第1の回路部材と、配線を保護する保護層及び端子を有する第2の回路部材とを接続する接続方法であって、
前記第1の回路部材の前記端子上に、請求項1から5のいずれかに記載の回路接続材料における前記異方性導電層を配置する第1の配置工程と、
前記異方性導電層上に、前記厚膜部に前記第2の回路部材の前記端子が接し、前記薄膜部に前記第2の回路部材における前記保護層が接するように、前記第2の回路部材を配置する第2の配置工程と、
前記第2の回路部材を、加熱押圧部材により加熱及び押圧する加熱押圧工程とを含むことを特徴とする接続方法。
A connection method for connecting a first circuit member having a terminal, a protective layer for protecting a wiring, and a second circuit member having a terminal,
A first disposing step of disposing the anisotropic conductive layer in the circuit connection material according to any one of claims 1 to 5 on the terminal of the first circuit member;
On the anisotropic conductive layer, the second circuit is arranged such that the terminal of the second circuit member is in contact with the thick film portion and the protective layer of the second circuit member is in contact with the thin film portion. A second arrangement step of arranging the members;
And a heating and pressing step of heating and pressing the second circuit member with a heating and pressing member.
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