JP2016174759A - Slit lamp microscope - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、細隙灯顕微鏡に関する。 The present invention relates to a slit lamp microscope.
細隙灯顕微鏡は、細隙光を用いて被検眼の注目部位の光切片を切り取ることにより注目部位の断面を観察したり、当該断面の画像を取得したりするための眼科装置である。角膜や水晶体などの診断には、細隙灯顕微鏡が用いられる。 The slit lamp microscope is an ophthalmologic apparatus for observing a cross section of a target region by cutting out a light section of the target region of a subject's eye using slit light and acquiring an image of the cross section. A slit lamp microscope is used for diagnosing the cornea and the crystalline lens.
一般的に、細隙灯顕微鏡は、照明系と撮影系(観察系)とを備えている。照明系は、被検眼上で固定された照明位置を検者などのユーザによりスリット幅が調整された細隙光で照明するように構成されている。照明系および撮影系は、回転機構により所定の回転軸を中心にそれぞれ独立に回転可能に構成される。ユーザは、照明系を回転させることで照明系の合焦状態を維持したまま様々な照明位置を細隙光で照明させることができる。同様に、ユーザは、撮影系を回転させることで様々な観察方向から細隙光で照明された注目部位を撮影(観察)することができる。照明系および撮影系は、スライド機構により横方向および前後方向に一体的に移動可能に構成され、任意の位置を任意の角度から細隙光で照明し、所望の観察方向から観察が可能になるように構成されている。 In general, a slit lamp microscope includes an illumination system and an imaging system (observation system). The illumination system is configured to illuminate the illumination position fixed on the eye to be examined with slit light whose slit width is adjusted by a user such as an examiner. The illumination system and the imaging system are configured to be independently rotatable around a predetermined rotation axis by a rotation mechanism. The user can illuminate various illumination positions with slit light while maintaining the focused state of the illumination system by rotating the illumination system. Similarly, the user can image (observe) the region of interest illuminated with the slit light from various observation directions by rotating the imaging system. The illumination system and the imaging system are configured to be integrally movable in the lateral direction and the front-rear direction by a slide mechanism, and can illuminate an arbitrary position with a slit light from an arbitrary angle, allowing observation from a desired observation direction. It is configured as follows.
しかしながら、従来の細隙灯顕微鏡は、照明系や撮影系を回転させるための回転機構や横方向および前後方向に移動させるためのスライド機構などを含んで構成されているため、構造が複雑化し、装置の大型化を招くという問題がある。また、回転機構やスライド機構をなくすと、様々な観察方向から様々な細隙光の照明位置を観察することができなくなるという問題がある。 However, the conventional slit lamp microscope is configured to include a rotation mechanism for rotating the illumination system and the imaging system and a slide mechanism for moving in the lateral direction and the front-rear direction. There is a problem that the size of the apparatus is increased. Further, if the rotation mechanism and the slide mechanism are eliminated, there is a problem that it is impossible to observe various illumination positions of slit light from various observation directions.
この発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、様々な観察方向から様々な細隙光の照明位置を観察するための細隙灯顕微鏡の新たな技術を提供することにある。 The present invention has been made to solve such problems, and its purpose is to develop a new technique of a slit lamp microscope for observing illumination positions of various slit lights from various observation directions. It is to provide.
実施形態に係る細隙灯顕微鏡は、照明系と、固視系と、撮影系とを含む。照明系は、細隙光生成部を含む。細隙光生成部は、被検眼に対する照明位置および照明角度のうち少なくとも一方が変更可能な細隙光を生成する。照明系は、被検眼を細隙光で照明する。固視系は、被検眼に対する投影位置が変更可能な固視標を被検眼に投影する。撮影系は、被検眼からの細隙光の戻り光を撮像装置に導く。 The slit lamp microscope according to the embodiment includes an illumination system, a fixation system, and an imaging system. The illumination system includes a slit light generation unit. The slit light generation unit generates slit light in which at least one of an illumination position and an illumination angle with respect to the eye to be examined can be changed. The illumination system illuminates the eye to be examined with slit light. The fixation system projects a fixation target whose projection position on the eye to be examined can be changed onto the eye to be examined. The imaging system guides the return light of the slit light from the eye to be examined to the imaging device.
この発明によれば、様々な観察方向から様々な細隙光の照明位置を観察するための細隙灯顕微鏡の新たな技術を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a new technique of a slit lamp microscope for observing illumination positions of various slit lights from various observation directions.
この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書に記載された文献の記載内容を、以下の実施形態の内容として適宜援用することが可能である。 An example of an embodiment of a slit lamp microscope according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, it is possible to use suitably the description content of the literature described in this specification as the content of the following embodiment.
まず方向を定義しておく。装置光学系において最も被検者側に位置する光学素子から被検者に向かう方向を前方向とし、その逆方向を後方向とする。また、前方向に直交する水平方向を左右方向とする。更に、前後方向と左右方向の双方に直交する方向を上下方向とする。 First, the direction is defined. The direction from the optical element located closest to the subject in the apparatus optical system toward the subject is defined as the front direction, and the opposite direction is defined as the rear direction. The horizontal direction orthogonal to the front direction is the left-right direction. Furthermore, the direction orthogonal to both the front-rear direction and the left-right direction is defined as the up-down direction.
図1に、この実施形態に係る細隙灯顕微鏡の構成例のブロック図を示す。細隙灯顕微鏡1には、たとえば、被検者の顔を安定配置させるための顎受部や額当てが設けられている。細隙灯顕微鏡1は、細隙光を用いて安定配置された被検者の眼(被検眼)の注目部位の光切片を切り取ることにより注目部位の断面を観察したり、当該断面の画像を取得したりすることが可能な装置である。 FIG. 1 shows a block diagram of a configuration example of a slit lamp microscope according to this embodiment. The slit lamp microscope 1 is provided with, for example, a jaw holder and a forehead for stably arranging the face of the subject. The slit lamp microscope 1 observes a cross section of the target region by cutting out a light section of the target region of the subject's eye (test eye) stably arranged using the slit light, or displays an image of the cross section. It is a device that can be acquired.
細隙灯顕微鏡1には、制御部100が接続されている。制御部100は、各種の制御処理や演算処理を行う。なお、細隙灯顕微鏡1の本体(光学系などを格納する筐体)とは別に制御部100を設ける代わりに、細隙灯顕微鏡1の本体に同様の制御部を搭載した構成を適用することも可能である。
A
細隙灯顕微鏡1は、照明系10と、撮影系(観察系)20と、固視系30と、対物レンズ40と、操作部50とを含んで構成されている。また、細隙灯顕微鏡1は、撮影系20により撮影された被検眼の画像などを表示するための図示しない表示部を更に含んで構成されていてもよい。
The slit lamp microscope 1 includes an
照明系10は、細隙光を生成し、生成された細隙光で被検眼を照明するための光学系を含む。細隙光は、少なくともスリット幅が変更可能な照明光である。撮影系20は、被検眼からの細隙光の戻り光を撮像装置に導くための光学系を含む。撮影系20は、撮像装置を含んで構成されていてもよい。固視系30は、被検眼に対する投影位置が変更可能な固視標を被検眼の眼底に投影するための光学系を含む。対物レンズ40は、細隙光の経路に配置されている。照明系10は、対物レンズ40を介して被検眼を細隙光で照明する。撮影系20は、対物レンズ40を介して被検眼からの細隙光の戻り光を撮像装置に導く。固視系30は、対物レンズ40を介して固視標を被検眼の眼底に投影する。照明系10、撮影系20、および固視系30に対して共通の対物レンズ40が設けられる。操作部50は、細隙灯顕微鏡1を制御するための操作入力を受け付ける操作デバイスなど含んで構成される。
The
たとえば、少なくとも照明系10および撮影系20は、図示しない基台に搭載されている。基台は、スライド機構により水平方向および前後方向に移動可能に構成されている。基台は、検者などのユーザが操作部50に対して操作を行うことにより移動される。たとえば、操作部50が操作ハンドルを含んで構成される場合、基台は操作ハンドルを傾倒操作することにより移動される。
For example, at least the
照明系10は、被検眼に対する照明位置および照明角度のうち少なくとも一方が変更可能な細隙光で被検眼を照明する。照明系10は、一般的な細隙灯顕微鏡と異なり、所定の回動軸を中心に回動可能に構成されていなくてよい。この実施形態では、照明系10は、回動軸を中心に回動できないように構成されているものとする。照明系10は上下方向にも振れるように構成されていてもよい。つまり、細隙光の仰角や俯角を変更できるように構成されていてもよい。
The
撮影系20もまた、一般的な細隙灯顕微鏡と異なり、所定の回動軸を中心に回動可能に構成されていなくてよい。この実施形態では、撮影系20は、回動軸を中心に回動できないように構成されているものとする。撮影系20は、たとえば、細隙光の被検眼からの反射光を撮像装置に案内する光学系を備えている。後述のように、固視系30により固視誘導を行うことにより被検眼に対する観察方向を変更することができる。なお、細隙光の反射光には、たとえば散乱光のように被検眼を経由した各種の光が含まれるが、これら各種の光を含めて「戻り光」または「反射光」と呼ぶことにする。また、照明光を励起光として用いる蛍光造影撮影や蛍光造影観察においては、励起光により発せられた蛍光が「戻り光」に含まれる。
Unlike the general slit lamp microscope, the photographing
[光学系の構成]
図2に、細隙灯顕微鏡1の光学系の構成例を模式的に示す。なお、図2では、説明の便宜上、細隙光生成部11と光スキャナ12との間に配置されるレンズなどの光学部材の図示が適宜省略されている。図2において、図1と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
[Configuration of optical system]
In FIG. 2, the structural example of the optical system of the slit lamp microscope 1 is shown typically. In FIG. 2, for convenience of explanation, an optical member such as a lens disposed between the slit
〔照明系〕
照明系10は、細隙光生成部11と、光スキャナ12と、コリメートレンズ13と、第1光路結合部材14と、第2光路結合部材15とを含んで構成されている。符号O1は、照明系10の光軸(照明光軸)を示す。
[Lighting system]
The
細隙光生成部11は、細隙光を生成する。細隙光生成部11は、操作部50を用いて指定されたスリット幅を有する細隙光を生成する。細隙光生成部11は、更に、スリットの向き、細隙光の長さ、細隙光の形状(所定の照射面における形状)、および細隙光の照射位置(所定の照射面における照射位置)のうち少なくとも1つを変更可能な細隙光を生成するようにしてもよい。スリットの向き、細隙光の長さ、形状、および照射位置は、操作部50を用いることによりユーザが指定可能である。
The slit
細隙光生成部11は、被検眼Eに対する細隙光の照明位置(観察面)と光学的に略共役な位置に配置されている。
The slit
細隙光生成部11は、たとえば、プロジェクタを含んで構成される。プロジェクタは、制御部100による制御に基づいてあらかじめ設定された照明パターンの光を出力することが可能である。それにより、プロジェクタは、スリット幅やスリットの向きや細隙光の長さや形状や照射位置を任意に変更可能な細隙光を出力することができる。たとえば、プロジェクタは、照明パターンの位置を変更することにより所定の照射面における照射位置を変更することで、光スキャナ12における細隙光の入射位置を任意に変更することが可能である。
The slit
照明パターンは、たとえば、操作部50を用いてユーザが設定可能である。ユーザが操作部50を用いて、たとえば、形状パターン、外形、サイズなどを指定すると、制御部100は、指定された形状パターンなどに基づいて照明パターンを特定し、特定された照明パターンに基づいてプロジェクタを制御することが可能である。
The illumination pattern can be set by the user using the
プロジェクタは、デジタルマイクロミラーデバイスを用いた公知のプロジェクタであってよい。プロジェクタは、更に、光源を含んで構成されていてもよい。光源には、LED(Light Emitting Diode)光源やRGBの各色成分の光を出力可能な光源などがある。プロジェクタは、更に、リレー光学系や、コリメータレンズや、投影レンズなどを含んで構成されてもよい。 The projector may be a known projector using a digital micromirror device. The projector may further include a light source. Examples of the light source include an LED (Light Emitting Diode) light source and a light source capable of outputting light of each color component of RGB. The projector may further include a relay optical system, a collimator lens, a projection lens, and the like.
また、プロジェクタは、LCoS(Liquid Crystal on Silicon)や、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)を用いたものであってもよい。更に、プロジェクタは、液晶ディスプレイ(Liquid Crystal Display:以下、LCD)(透過型、反射型)を用いたものであってもよい。このような構成は公知であるため、詳細な説明を省略する。プロジェクタは、形状や照射位置を任意に変更可能な照明パターンに対応した照明光を出力可能なものであればよい。 Further, the projector may be one using LCoS (Liquid Crystal on Silicon) or MEMS (Micro Electro Mechanical Systems). Furthermore, the projector may use a liquid crystal display (LCD) (transmission type, reflection type). Since such a configuration is known, detailed description thereof is omitted. Any projector can be used as long as it can output illumination light corresponding to an illumination pattern whose shape and irradiation position can be arbitrarily changed.
また、細隙光生成部11は、照明位置を変更するようにしてもよい。この場合、細隙光生成部11は、前述と同様のプロジェクタを含んで構成されていてもよい。また、細隙光生成部11は、照明光源と、細隙形成部とを含んで構成されていてもよい。照明光源は照明光を細隙形成部に照射する。細隙光生成部11は、照明光源として複数の光源を含んで構成されていてもよい。たとえば、定常光を出力する光源(ハロゲンランプ、LED等)と、フラッシュ光を出力する光源(キセノンランプ、LED等)の双方を照明光源として設けることができる。また、角膜観察用の光源と眼底観察用の光源とを別々に設けてもよい。照明光源は、可視光を出力する可視光源を少なくとも含む。照明光源は、たとえば、赤外光(たとえば、中心波長が800nm〜1000nm)を出力する光源を含み、照明光として赤外光を出力してもよい。細隙形成部は、細隙光を生成するために用いられる。細隙形成部は、たとえば、一対のスリット刃を有する。これらスリット刃の間隔(スリット幅)を変更することにより細隙光の幅が変更される。
Further, the slit
光スキャナ12は、1次元的にまたは2次元的に細隙光を偏向する。光スキャナ12は、偏向部材の偏向面の向きを変更することにより、入射した細隙光のスリットの向きを変更することが可能である。光スキャナ12による細隙光の偏向方向は、操作部50を用いることによりユーザが指定可能である。光スキャナ12は、被検眼Eに対する細隙光の照明位置(観察面)と光学的に略共役な位置に配置されている。たとえば、光スキャナ12における細隙光の偏向面は、被検眼Eに対する細隙光の照明位置と光学的に略共役な位置に配置されている。すなわち、細隙光生成部11と光スキャナ12と被検眼Eに対する細隙光の照明位置とは、光学的に略共役な位置に配置されている。
The
1次元的に細隙光を偏向する場合、光スキャナ12として1軸の偏向部材を用いることが可能である。たとえば、この偏向部材による細隙光の偏向方向は、細隙光のスリットの向きに略直交(交差)する方向とする。2次元的に細隙光を偏向する場合、光スキャナ12として第1方向に偏向する第1偏向部材と第2方向に偏向する第2偏向部材とを用いることが可能である。第1方向は、第2方向に略直交(交差)する方向である。光スキャナ12に用いられる偏向部材の例として、ガルバノミラー、ポリゴンミラー、回転ミラーなどがある。また、ダボプリズム(Dove Prism)、ダブルダボプリズム(Double Dove Prism)、ローテーションプリズム(Rotation Prism)、MEMSミラースキャナーなどが用いられてもよい。
When the slit light is deflected one-dimensionally, it is possible to use a uniaxial deflecting member as the
コリメートレンズ13は、光スキャナ12により偏向された細隙光を平行光束にする。
The collimating
第1光路結合部材14は、照明系10の光路に固視系30の光路を結合する。コリメートレンズ13により平行光束とされた細隙光は、第1光路結合部材14を透過する。後述の固視系30により生成された被検眼を固視させるための光は、第1光路結合部材14により対物レンズ40に向けて反射される。第1光路結合部材14には、たとえば、ダイクロイックミラーやハーフミラーが用いられる。
The first optical
第2光路結合部材15は、照明系10の光路に撮影系20の光路を結合する。第1光路結合部材14を透過した細隙光は、第2光路結合部材15を透過する。被検眼Eからの細隙光の戻り光は、第2光路結合部材15により撮影系20に向けて反射される。第2光路結合部材15には、たとえば、ダイクロイックミラーやハーフミラーが用いられる。
The second optical
照明系10は、細隙光の合焦位置を変更可能に構成することが可能である。たとえば、照明系10は、細隙光の合焦位置を変更するための1以上の光学素子を含んで構成される。また、細隙光生成部11または照明系10の全体を、照明系10の光軸O1に沿って移動可能に構成されていてもよい。
The
図3に、細隙灯顕微鏡1の照明系10の光学系の説明図を示す。図3では、細隙光生成部11と光スキャナ12との間にコリメートレンズ11aと集光レンズ11bとが配置されているものとする。コリメートレンズ11aおよび集光レンズ11bは、細隙光生成部11に含まれていてもよい。また、図3において、光スキャナ12は、2つの偏向部材により2次元的に細隙光を偏向するものとし、偏向部材の軸については図示を簡略化している。更に、図3において、被検眼Eにおける細隙光の照明位置は、観察面Mとして図示されている。図3において、図2と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
FIG. 3 is an explanatory diagram of the optical system of the
前述のように、細隙光生成部11と光スキャナ12と観察面Mとは、光学的に略共役な位置に配置されている。照明系10では、細隙光生成部11が細隙光を生成する。細隙光生成部11により所定の照射面の照射位置Qに照射された細隙光はコリメートレンズ11aにより平行光束とされた後、集光レンズ11bにより光スキャナ12の偏向面における所定の位置に収斂する。光スキャナ12は、細隙光を1次元的にまたは2次元的に偏向する。光スキャナ12により偏向された細隙光は、コリメートレンズ13により平行光束とされる。コリメートレンズ13により平行光束とされた細隙光は、平行光束とされた細隙光は、第1光路結合部材14、第2光路結合部材15、および対物レンズ40を通過し、観察面Mにおける照明位置Pに再び収斂する。
As described above, the slit
また、被検眼Eを固視させるための固視系からの光は、第1光路結合部材14により反射され、第2光路結合部材15、および対物レンズ40を通過し、被検眼Eの眼底Efに投影される。被検眼Eからの細隙光の戻り光は、第2光路結合部材15により撮影系20に向けて反射される。
The light from the fixation system for fixing the eye E is reflected by the first optical
〔撮影系〕
撮影系20は、図2に示すように、撮像装置21を含んで構成されている。符号O2は、撮影系20の光軸(撮影光軸、観察光軸)を示す。
[Shooting system]
As shown in FIG. 2, the
撮像装置21は、撮像素子を含んで構成されている。撮像素子は、光を検出して画像信号(電気信号)を出力する光電変換素子である。画像信号は制御部100に入力される。撮像素子としては、たとえばCCD(Charge Coupled Device)イメージセンサや、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサが用いられる。
The
撮影系20において、被検眼Eからの細隙光の戻り光は、第2光路結合部材15により反射され、撮像装置21の撮像素子に導かれる。撮像素子は、この戻り光を検出して画像信号を生成する。
In the
撮影系20は、たとえば、左右一対の光学系を備えていてもよい。この場合、左右の光学系は、ほぼ同様の構成を備え、一方の光学系の光路をビームスプリッタなどにより分割し、分割された光路を撮像装置21に導く。それにより、ユーザは、一対の左右の光学系により被検眼Eを双眼で観察することができる。
The
撮影系20は、被検眼Eからの細隙光の戻り光の合焦位置を変更可能に構成することが可能である。たとえば、撮影系20は、細隙光の戻り光の合焦位置を変更するための1以上の光学素子を含んで構成される。また、撮像装置21または撮影系20の全体を、撮影系20の光軸O2に沿って移動可能に構成されていてもよい。
The
〔固視系〕
固視系30は、LCD31を含んで構成されている。符号O3は、固視系30の光軸(固視光軸)を示す。
[Fixation system]
The
LCD31には、内部固視標などが表示される。このLCD31からの光は、第1光路結合部材14により第2光路結合部材15に向けて反射され、対物レンズ40を経由して、被検眼Eの眼底Efに入射する。それにより、被検眼Eの眼底Efに内部固視標などが投影される。
An internal fixation target or the like is displayed on the
LCD31は、その画面上における固視標の表示位置を変更可能に構成されている。LCD31における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Eの眼底Efにおける固視標の投影位置を変更することが可能である。LCD31における固視標の表示位置は、操作部50を用いることによりユーザが指定可能である。
The
なお、固視系30は、LCD31に代えて、たとえば複数のLEDが配列されたパネルを含み、いずれかのLEDを点灯させることにより固視標の投影を行うように構成されていてもよい。
Note that the
また、被検眼Eの眼底Efにおける固指標の投影位置を変更することにより固視を誘導することができるため、観察方向を変更することも可能になる。 Further, since the fixation can be induced by changing the projection position of the fixation index on the fundus oculi Ef of the eye E to be examined, the observation direction can be changed.
以上のように光学系が構成された細隙灯顕微鏡1は、次のように、細隙光の照明角度や照明位置を変更することができる。 The slit lamp microscope 1 having the optical system as described above can change the illumination angle and the illumination position of the slit light as follows.
図4に、細隙灯顕微鏡1の第1動作説明図を示す。図4は、細隙光生成部11による所定の照射面における細隙光の照射位置Qを固定したまま、光スキャナ12により細隙光の偏向方向を変更したときの動作説明図を表す。なお、図4では、撮影系20、固視系30、第1光路結合部材14、および第2光路結合部材15の図示が省略されている。図4において、図3と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
FIG. 4 shows a first operation explanatory diagram of the slit lamp microscope 1. FIG. 4 is an operation explanatory diagram when the slit light deflection direction is changed by the
細隙灯顕微鏡1では、前述の共役関係を有するように光学系が構成されているため、光スキャナ12により細隙光を1次元的にまたは2次元的に偏向したとき、観察面Mにおける細隙光の照明位置Pは変わらないが、観察面Mにおける細隙光の照明角度が変わる。したがって、被検眼Eと照明系10との位置関係を変化させることなく、光スキャナ12により観察面Mにおける細隙光の照明角度を変更することが可能である。すなわち、光スキャナ12により細隙光の偏向方向を変更することにより、被検眼Eを照明する細隙光の照明角度を変更することができる。
In the slit lamp microscope 1, the optical system is configured so as to have the above-described conjugate relationship. Therefore, when the slit light is deflected one-dimensionally or two-dimensionally by the
図5に、細隙灯顕微鏡1の第2動作説明図を示す。図5は、光スキャナ12による細隙光の偏向方向を固定したまま、細隙光生成部11により細隙光の照射位置を変更したときの動作説明図を表す。なお、図5では、図4と同様に、撮影系20、固視系30、第1光路結合部材14、および第2光路結合部材15の図示が省略されている。図5において、図4と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
FIG. 5 shows a second operation explanatory view of the slit lamp microscope 1. FIG. 5 is an operation explanatory diagram when the irradiation position of the slit light is changed by the slit
細隙灯顕微鏡1では、所定の照射面における細隙光の照射位置Qを照射位置Q´に変更したとき、観察面Mにおける細隙光の照明位置Pが照明位置P´に変わり、観察面Mにおける細隙光の照明角度が変わる。したがって、被検眼Eと照明系10との相対位置関係を変化させることなく、細隙光生成部11により観察面Mにおける細隙光の照明位置および照明角度を変更することが可能である。すなわち、細隙光生成部11により所定の照射面における細隙光の照射位置を変更することにより、被検眼Eを照明する細隙光の照明位置および照明角度を変更することができる。
In the slit lamp microscope 1, when the irradiation position Q of the slit light on the predetermined irradiation surface is changed to the irradiation position Q ′, the illumination position P of the slit light on the observation surface M changes to the illumination position P ′, and the observation surface The illumination angle of the slit light at M changes. Accordingly, it is possible to change the illumination position and the illumination angle of the slit light on the observation surface M by the slit
図6に、細隙灯顕微鏡1の第3動作説明図を示す。図6は、固視系30のLCD31における固指標の表示位置rを表示位置r´に変更したときの動作説明図を表す。なお、図6では、被検眼Eの眼底Efに対応する観察面M´における固指標の投影位置が表されている。図6において、図3と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
FIG. 6 shows a third operation explanatory diagram of the slit lamp microscope 1. FIG. 6 is an operation explanatory diagram when the display position r of the fixation index on the
細隙灯顕微鏡1では、LCD31における固指標の表示位置rを表示位置r´に変更したとき、観察面M´における固指標の投影位置Rが投影位置R´に変わる。したがって、LCD31における固指標の表示位置を変更することにより、被検眼Eの眼底Efに投影される固指標の投影位置を変更することが可能である。すなわち、LCD31における固指標の表示位置を変更することにより、被検眼Eの固視を誘導することができる。
In the slit lamp microscope 1, when the display position r of the fixed index on the
[制御系の構成]
細隙灯顕微鏡1の制御系について、図7および図8を参照しながら説明する。図7および図8に示すように、細隙灯顕微鏡1の制御系は、制御部100を中心に構成されている。なお、制御系の構成の少なくとも一部が細隙灯顕微鏡1に含まれていてもよい。
[Control system configuration]
A control system of the slit lamp microscope 1 will be described with reference to FIGS. As shown in FIGS. 7 and 8, the control system of the slit lamp microscope 1 is configured around a
〔制御部〕
制御部100は、細隙灯顕微鏡1の各部を制御する。制御部100は、照明系10の制御、撮影系20の制御、固視系30の制御、および表示部60の制御などを行う。
(Control part)
The
照明系10の制御としては、細隙光生成部11の制御、光スキャナ12の制御などがある。また、細隙光の合焦位置などを行ってもよい。細隙光生成部11の制御としては、細隙光の点灯や消灯の切り替え、細隙光のスリット幅などの制御、細隙光の光量の変更制御などがある。細隙光のスリット幅などの制御としては、スリットの向き、細隙光の長さ、形状、および照射位置の制御などがある。細隙光生成部11がプロジェクタを含む場合、細隙光生成部11の制御は、細隙光の点灯や消灯の切り替え、照明パターンに基づく細隙光の形状などの制御、細隙光の光量の変更制御などがある。
Control of the
撮影系20の制御としては、撮像装置21が有する撮像素子21Aの制御、撮影系20の合焦位置の変更制御などがある。撮像素子21Aの制御としては、撮像素子21Aの電荷蓄積時間、感度、フレームレート等を変更する制御などがある。また、撮影系20の制御として、撮像素子21Aにより得られた画像信号を受け、画像信号に基づいて被検眼Eの画像を生成するための制御を含んでもよい。
Control of the
また、制御部100は、図8に示すように、注目部位特定部101と、固視制御部102と、細隙光制御部103と、シーケンス制御部104とを含む。
Further, as shown in FIG. 8, the
注目部位特定部101は、撮像装置21により撮影された被検眼Eの画像に基づいて注目部位を特定する。注目部位としては、瞳孔、虹彩などがある。注目部位は、あらかじめ決められていてもよいし、操作部50を用いてユーザにより指定されてもよい。注目部位を特定する処理は、たとえば、画像中の特徴的な部分領域を特定するための公知の画像解析を含む。また、撮像装置21による被検眼Eの動画撮影と並行して、注目部位を特定する処理を所定の時間間隔で繰り返し実行することが可能である。また、固視位置の変更などをトリガにして(撮影および)注目部位の特定を行うように構成してもよい。
The site-of-
固視制御部102は、被検眼Eの眼底Efに投影される固視標の投影位置を制御する。たとえば、固視制御部102は、LCD31における固視標の表示位置を制御することにより、被検眼Eの眼底Efに投影される固視標の投影位置を変更する。
The
細隙光制御部103は、細隙光生成部11や光スキャナ12を制御する。それにより、細隙光生成部130は、被検眼Eに対する細隙光の照明位置や照明角度を制御することができる。
The slit
シーケンス制御部104は、あらかじめ決められた順序で固視標の投影位置と細隙光の照明位置を制御する。たとえば、シーケンス制御部104は、記憶部110にあらかじめ記憶されたシーケンス情報110Aに基づいて、上記の制御を実行する。
The
図9A〜図9Cに、制御部100による制御内容の説明図を示す。図9A〜図9Cは、正面から見た被検眼Eを模式的に表す。図9A〜図9Cにおいて、符号Epは被検眼Eの瞳孔を示し、符号SPは細隙光による被検眼Eの照明野を示す。
9A to 9C are explanatory diagrams of the contents of control by the
前述の観察方向を変更するための固視の誘導は眼の動きを伴うため、細隙光の照明位置や照明角度が所望の位置や角度からずれてしまう場合がある。たとえば、図9Aに示すように被検眼Eの瞳孔Epに細隙光の照明位置が設定されている状態から固視が誘導されると、眼の動きを伴い、図13Bに示すように細隙光の照明位置が瞳孔Epからずれてしまう。 Since the guidance of the fixation for changing the observation direction described above involves the movement of the eye, the illumination position and illumination angle of the slit light may deviate from the desired position and angle. For example, when fixation is guided from a state in which the illumination position of the slit light is set in the pupil Ep of the eye E as shown in FIG. 9A, the eye movement is accompanied by the slit as shown in FIG. 13B. The illumination position of light shifts from the pupil Ep.
そこで、制御部100は、注目部位特定部101により特定された注目部位に基づいて、細隙光による照明野SPを上記の眼の動きに追従させるように、細隙光制御部103により細隙光の照明位置や照明角度を制御する。たとえば、制御部100は、被検眼Eの画像に基づいて特定された注目部位の位置に基づく投影位置に固視標を投影させるように固視系30を制御し、当該投影位置に基づく照明位置を細隙光で照明するように照明系10を制御する。それにより、図9Cに示すように、固視が誘導された位置に細隙光の照明位置を変更することができる。したがって、観察方向を変更するために固視を誘導した場合でも、被検眼Eに対する細隙光の照明位置や照明角度を一定に維持しつつ、所望の観察方向から被検眼の観察部位(注目部位)の観察が可能になる。
Therefore, the
また、従来の一般的な細隙灯顕微鏡では、検者がスライド機構や回動機構により装置の調整を手動で行う必要があるため、装置に不慣れな場合に撮影条件を同一にすることが非常に難しい。そこで、前述のように、制御部100は、被検眼Eに対する照明位置や照明角度やその観察方向を自動で制御することができるため、シーケンス制御部104によりあらかじめ決められたシーケンスにしたがって固視誘導を制御することが可能である。それにより、どのような被検眼に対しても、あらかじめ決められた撮影条件で画像の取得が可能になる。
In addition, in conventional general slit lamp microscopes, it is necessary for the examiner to manually adjust the apparatus by means of a slide mechanism or a rotation mechanism. It is difficult. Therefore, as described above, the
更に、医療機関において細隙灯顕微鏡1を用いた被検眼の検査内容を検査情報として保存する場合、照明系10や撮影系20や固視系30に対する制御部100の制御内容を保存することにより、同一の撮影条件での経過観察などが可能になる。このとき、取得された被検眼Eの画像に関連付けて、制御部100の制御内容を保存することが可能である。
Further, when the examination contents of the eye to be examined using the slit lamp microscope 1 are stored as examination information in a medical institution, the control contents of the
〔記憶部〕
記憶部110は、各種のコンピュータプログラムやデータを記憶する。コンピュータプログラムには、各種の検査を細隙灯顕微鏡1に実行させるための演算プログラムや制御プログラムが含まれる。データには、各種の検査において使用されるデータが含まれる。
[Storage section]
The
記憶部110は、シーケンス情報110Aと、撮影条件情報110Bとを記憶する。シーケンス情報110Aは、あらかじめ決められた順序で観察や撮影を行うための情報である。撮影条件情報110Bは、照明系10や撮影系20や固視系30に対する制御部100の制御内容を含む。
The
シーケンス情報110Aは、固視標の投影位置と細隙光の照明位置との2以上の組み合わせを含む。シーケンス情報110Aは、操作部50を用いてユーザにより設定されてもよい。制御部100は、記憶部110に記憶されたシーケンス情報110Aを参照することにより、固視標の投影位置および細隙光の照明位置の少なくとも一方を変更しつつ複数回の撮影を順次に行うことが可能である。シーケンス情報110Aは、上記の組み合わせに加えて、細隙光の照明角度を更に含んでもよい。
The
撮影条件情報110Bは、制御部100により保存される。撮影条件情報110Bは、照明系10、撮影系20、および固視系30のうち少なくとも1つに対して実行された制御部100の制御内容を含む。制御部100は、記憶部110に記憶された撮影条件情報110Bを読み出し、読み出された撮影条件情報110Bにより特定された撮影条件となるように、照明系10、撮影系20、および固視系30のうち少なくとも1つを制御することが可能である。照明系10に対する制御内容としては、細隙光の照明位置(所定の照射面に対する照射位置)、細隙光のスリットの幅、細隙光の照明角度、光量(照明光量)などがある。撮影系20に対する制御内容としては、撮像装置21の撮像素子21Aにより撮影された画像の取得条件(撮像素子21Aの電荷蓄積時間、感度、フレームレートなど)などがある。固視系30に対する制御内容としては、観察方向に対応する固視標の投影位置などがある。また、撮影条件情報110Bは、撮像装置21により取得された当該被検眼の画像に関連付けて保存されてもよい。なお、撮影条件情報110Bは、照明系10や撮影系20の合焦位置などを更に含んでもよい。
The
制御部100は、マイクロプロセッサ、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、ハードディスクドライブ等を含んで構成される。ROMやハードディスクドライブ等の記憶装置には、制御プログラムがあらかじめ記憶されている。制御部100の動作は、この制御プログラムとハードウェアとが協働することによって実現される。制御部100は、記憶部110を含んでもよい。制御部100は、細隙灯顕微鏡1の装置本体(たとえば基台内)や装置本体とは別の筐体内に配置されていてもよい。
The
〔表示部〕
表示部60は、制御部100の制御を受けて各種の情報を表示する。表示部60は、LCD(Liquid Crystal Display)等のフラットパネルディスプレイなどの表示デバイスを含んで構成される。表示部60は、細隙灯顕微鏡1の装置本体に設けられていてもよいし、制御部100に設けられていてもよい。
[Display section]
The
〔操作部〕
操作部50は、操作デバイスや入力デバイスを含んで構成される。操作部50には、細隙灯顕微鏡1に設けられたボタンやスイッチ(たとえば操作ハンドル、観察倍率操作ノブ等)や、制御部100に設けられた操作デバイス(マウス、キーボード等)が含まれる。また、操作部50は、トラックボール、操作パネル、スイッチ、ボタン、ダイアルなど、任意の操作デバイスや入力デバイスを含んでいてよい。
(Operation section)
The
図7では、操作部50と表示部60とを別々に表しているが、これらの少なくとも一部を一体的に構成することも可能である。その具体例として、タッチスクリーンを用いることができる。
In FIG. 7, the
[動作]
細隙灯顕微鏡1の動作について説明する。細隙灯顕微鏡1の動作例を図10〜図13に示す。以下では、撮影条件を変更しつつ被検眼Eの画像を撮影する場合の動作例を説明する。前述のシーケンス情報に基づいて複数回の撮影を行う場合には、以下のS5〜S8の撮影シーケンスが繰り返し実行される。
[Operation]
The operation of the slit lamp microscope 1 will be described. Examples of the operation of the slit lamp microscope 1 are shown in FIGS. Below, the operation example in the case of image | photographing the image of the to-be-tested eye E, changing imaging | photography conditions is demonstrated. When photographing a plurality of times based on the above sequence information, the following photographing sequences of S5 to S8 are repeatedly executed.
(S1)
ユーザが細隙灯顕微鏡1の電源をオンにし、顎受部に被検者の顔を載せると、制御部100は、あらかじめ設定されたLCD31の中央位置に固指標を表示させる。それにより、LCD31の中央位置に対応した被検眼Eの眼底Efの所定の投影位置に固指標が投影される。
(S1)
When the user turns on the slit lamp microscope 1 and puts the subject's face on the chin rest, the
(S2)
次に、たとえば、所望の観察部位を観察するために、被検眼Eに対し、照明系10および撮影系20のアライメントが行われる。アライメントは、ユーザにより手動で行われてもよいし、自動で行われてもよい。
(S2)
Next, for example, in order to observe a desired observation site, the
(S3)
続いて、ユーザは、操作部50を用いて細隙光のスリット幅などの形状を調整する。細隙灯顕微鏡1では、操作部50に対する操作を受け、制御部100は、細隙光の形状などを変更する。細隙灯顕微鏡1は、この細隙光でS2において決定された照明位置を照明する。
(S3)
Subsequently, the user uses the
(S4)
操作部50を用いたユーザなどの指示を受け、制御部100は、撮像素子21Aを制御することにより、被検眼Eの画像を撮影する。制御部100は、撮影された被検眼Eの画像と、撮影条件情報110Bとしての当該画像の撮影条件とを記憶部に保存する。
(S4)
Upon receiving an instruction from the user using the
(S5)
制御部100は、撮影条件を変更するか否かを判定する。たとえば、操作部50を用いてユーザにより撮影条件の変更が指定されたとき、制御部100は、撮影条件を変更すると判定する。また、たとえば、操作部50を用いてユーザにより撮影条件の変更が指定されなかったとき、制御部100は、撮影条件を変更しないと判定する。制御部100により撮影条件をすると判定されたとき(S5:Y)、細隙灯顕微鏡1の動作はS6に移行する。制御部100により撮影条件を変更しないと判定されたとき(S5:N)、細隙灯顕微鏡1の動作はS8に移行する。
(S5)
The
(S6)
制御部100により撮影条件を変更すると判定されたとき(S5:Y)、制御部100は、操作部50を用いてユーザにより指定されたように撮影条件を変更する。S6では、たとえば、後述のように、細隙光の照明位置、照明角度、観察方向、細隙光の光量、細隙光の形状などが変更される。
(S6)
When it is determined by the
(S7)
次に、S4と同様に、操作部50を用いたユーザなどの指示を受け、制御部100は、撮像素子21Aを制御することにより、S6において変更された撮影条件で被検眼Eの画像を撮影する。制御部100は、撮影された被検眼Eの画像と、撮影条件情報110Bとしての当該画像の撮影条件とを記憶部に保存する。
(S7)
Next, similarly to S4, upon receiving an instruction from the user or the like using the
(S8)
S5において制御部100により撮影条件を変更しないと判定されたとき(S5:N)、制御部100は細隙灯顕微鏡1による被検眼Eの撮影を終了するか否かを判定する。たとえば、操作部50を用いてユーザにより撮影の終了が指定されたとき、制御部100は、撮影を終了すると判定する。また、たとえば、操作部50を用いてユーザにより撮影の終了が指定されなかったとき、制御部100は、撮影を終了しないと判定する。細隙灯顕微鏡1による被検眼Eの撮影を終了しないと判定されたとき(S8:N)、細隙灯顕微鏡1の動作はS5に移行する。細隙灯顕微鏡1による被検眼Eの撮影を終了すると判定されたとき(S8:Y)、細隙灯顕微鏡1の動作は終了する(エンド)。
(S8)
When it is determined in S5 that the imaging condition is not changed by the control unit 100 (S5: N), the
図10のS6では、細隙灯顕微鏡1は、たとえば、図11および図12に示すように動作する。 In S6 of FIG. 10, the slit lamp microscope 1 operates as shown in FIGS. 11 and 12, for example.
(S10)
制御部100は、細隙光の照明位置を変更するか否かを判定する。たとえば、細隙光の照明位置の変更は、操作部50を用いてユーザにより指示される。制御部100は、操作部50に対するユーザの操作内容に基づいて、細隙光の照明位置を変更するか否かを判定することが可能である。細隙光の照明位置を変更すると判定されたとき(S10:Y)、細隙灯顕微鏡1の動作はS11に移行する。細隙灯の照明位置を変更しないと判定されたとき(S10:N)、細隙灯顕微鏡1の動作はS12に移行する。
(S10)
The
(S11)
S10において細隙光の照明位置を変更すると判定されたとき(S10:Y)、制御部100は、細隙光生成部11を制御することによって、指定された位置に所定の照射面における細隙光の照射位置を変更する。それにより、被検眼Eにおける細隙光の照明位置が変更される。
(S11)
When it is determined in S10 that the illumination position of the slit light is changed (S10: Y), the
なお、前述のように細隙光の照明位置の変更が細隙光の照明角度の変更を伴う場合には、制御部100は、細隙光の照明位置の変更に伴う細隙光の照明角度の変更分をキャンセルするように光スキャナ12を制御することが可能である。細隙灯顕微鏡1の動作はS22に移行する。
When the change of the illumination position of the slit light is accompanied by the change of the illumination angle of the slit light as described above, the
(S12)
S10において細隙光の照明位置を変更しないと判定されたとき(S10:N)、制御部100は、細隙光の照明角度を変更するか否かを判定する。たとえば、細隙光の照明角度の変更は、操作部50を用いてユーザにより指示される。制御部100は、操作部50に対するユーザの操作内容に基づいて、細隙光の照明角度を変更するか否かを判定することが可能である。細隙光の照明角度を変更すると判定されたとき(S12:Y)、細隙灯顕微鏡1の動作はS13に移行する。細隙灯の照明角度を変更しないと判定されたとき(S12:N)、細隙灯顕微鏡1の動作はS14に移行する。
(S12)
When it is determined in S10 that the illumination position of the slit light is not changed (S10: N), the
(S13)
S12において細隙光の照明角度を変更すると判定されたとき(S12:Y)、制御部100は、光スキャナ12を制御することにより被検眼Eにおける細隙光の照明角度を変更する。細隙灯顕微鏡1の動作はS22に移行する。
(S13)
When it is determined that the illumination angle of the slit light is changed in S12 (S12: Y), the
(S14)
S12において細隙光の照明角度を変更しないと判定されたとき(S12:N)、制御部100は、観察方向を変更するか否かを判定する。たとえば、観察方向の変更は、操作部50を用いてユーザにより指示される。制御部100は、操作部50に対するユーザの操作内容に基づいて、観察方向を変更するか否かを判定することが可能である。観察方向を変更すると判定されたとき(S14:Y)、細隙灯顕微鏡1の動作はS15に移行する。観察方向を変更しないと判定されたとき(S14:N)、細隙灯顕微鏡1の動作はS18に移行する。
(S14)
When it determines with not changing the illumination angle of slit light in S12 (S12: N), the
(S15)
S14において観察方向を変更すると判定されたとき(S14:Y)、制御部100は、固視系30のLCD31における固指標の表示位置を制御することにより被検眼Eの眼底Efにおける固指標の投影位置を変更する。それにより、固視誘導が行われ、観察方向が変更される。
(S15)
When it is determined in S14 that the observation direction is changed (S14: Y), the
(S16)
制御部100は、眼の動きに追従した照明系10および固視系30の制御を実行するか否かを判定する。たとえば、眼の動きに追従した制御を実行するか否かは、操作部50を用いてユーザにより指示される。制御部100は、操作部50に対するユーザの操作内容に基づいて、眼の動きに追従した照明系10および固視系30の制御を実行するか否かを判定することが可能である。眼の動きに追従した制御を実行すると判定されたとき(S16:Y)、細隙灯顕微鏡1の動作はS17に移行する。眼の動きに追従した制御を実行しないと判定されたとき(S16:N)、細隙灯顕微鏡1の動作はS22に移行する。
(S16)
The
(S17)
眼の動きに追従した照明系10および固視系30の制御を実行すると判定されたとき(S16:Y)、制御部100は、被検眼Eに対する細隙光の照明位置や照明角度が維持されるように、照明系10および固視系30を制御する追従制御を開始する。追従制御の詳細については、後述する。細隙灯顕微鏡1の動作はS22に移行する。
(S17)
When it is determined that the control of the
(S18)
S14において観察方向を変更しないと判定されたとき(S14:N)、制御部100は、細隙光の光量(照明光量)を変更するか否かを判定する。たとえば、細隙光の光量の変更は、操作部50を用いてユーザにより指示される。制御部100は、操作部50に対するユーザの操作内容に基づいて、細隙光の光量を変更するか否かを判定することが可能である。細隙光の光量を変更すると判定されたとき(S18:Y)、細隙灯顕微鏡1の動作はS19に移行する。細隙光の光量を変更しないと判定されたとき(S18:N)、細隙灯顕微鏡1の動作はS20に移行する。
(S18)
When it is determined in S14 that the observation direction is not changed (S14: N), the
(S19)
S18において細隙光の光量を変更すると判定されたとき(S18:Y)、制御部100は、細隙光生成部11を制御することにより細隙光の光量を変更する。たとえば、細隙光生成部11がプロジェクタを含んで構成されている場合には、制御部100は、プロジェクタの光源に対し、光源のオン/オフのデューティ比を変更する。細隙灯顕微鏡1の動作はS22に移行する。
(S19)
When it is determined in S18 that the amount of slit light is to be changed (S18: Y), the
(S20)
S18において細隙光の光量を変更しないと判定されたとき(S18:N)、制御部100は、細隙光の形状を変更するか否かを判定する。たとえば、細隙光の形状の変更は、操作部50を用いてユーザにより指示される。制御部100は、操作部50に対するユーザの操作内容に基づいて、細隙光の形状を変更するか否かを判定することが可能である。細隙光の形状を変更すると判定されたとき(S20:Y)、細隙灯顕微鏡1の動作はS21に移行する。細隙光の形状を変更しないと判定されたとき(S20:N)、細隙灯顕微鏡1の動作はS22に移行する。
(S20)
When it is determined in S18 that the amount of the slit light is not changed (S18: N), the
(S21)
S20において細隙光の形状を変更すると判定されたとき(S20:Y)、制御部100は、照明パターンを変更し、変更された照明パターンに基づいて細隙光生成部11を制御することにより細隙光の形状を変更する。照明パターンは、たとえば、操作部50を用いてユーザにより指定される。細隙灯顕微鏡1の動作はS22に移行する。
(S21)
When it is determined in S20 that the shape of the slit light is to be changed (S20: Y), the
(S22)
制御部100は、撮影条件の変更を終了するか否かを判定する。たとえば、撮影条件の変更の終了は、操作部50を用いてユーザにより指示される。制御部100は、操作部50に対するユーザの操作内容に基づいて、撮影条件の変更を終了するか否かを判定することが可能である。撮影条件の変更を終了しないと判定されたとき(S22:N)、細隙灯顕微鏡1の動作はS10に移行する。撮影条件の変更を終了すると判定されたとき(S22:Y)、細隙灯顕微鏡1の動作は図10のS7に移行する。
(S22)
The
図13は、図11のS17において開始される追従制御の動作例を示す。 FIG. 13 shows an example of the follow-up control operation started in S17 of FIG.
(S30)
まず、注目部位特定部101は、たとえばS4において取得された被検眼Eの画像について、瞳孔などのあらかじめ決められた注目部位の位置と固視標の投影位置と細隙光の照明位置との配置関係と、当該画像が取得されたときの細隙光の照明角度とを特定する。配置関係は、被検眼Eの画像を解析することにより注目部位の位置を特定し、特定された注目部位の位置を基準とした固視標の投影位置と細隙光の照明位置との相対位置を求めることにより特定することが可能である。細隙光の照明角度は、照明系10に対する制御内容に基づいて特定することが可能である。また、照明角度は、角度センサや位置センサなどを用いて特定するようにしてもよい。
(S30)
First, the site-of-
(S31)
次に、制御部100は、撮像装置21により被検眼Eの新たな画像が取得されるまで待つ(S31:N)。被検眼Eの新たな画像が取得されたとき(S31:Y)、細隙灯顕微鏡1の動作はS32に移行する。
(S31)
Next, the
(S32)
被検眼Eの新たな画像が取得されたとき(S32:Y)、注目部位特定部101は、新たに取得された被検眼Eの画像を解析することにより、当該画像における注目部位の位置を特定する。
(S32)
When a new image of the eye E is acquired (S32: Y), the attention
(S33)
固視制御部102は、S32において特定された注目部位の位置を基準に、S30において特定された配置関係に基づいて、固視標の新たな投影位置を特定する。
(S33)
The
(S34)
固視制御部102は、S33において特定された固視標の新たな投影位置に固視標を投影させるように固視系30のLCD31を制御する。それにより、LCD31には、新たな投影位置に対応した表示位置に固視標が表示される。
(S34)
The
(S35)
続いて、細隙光制御部103は、S32において特定された注目部位の位置を基準に、S30において特定された配置関係に基づいて、被検眼Eに対する細隙光の新たな照明位置を特定する。
(S35)
Subsequently, the slit
(S36)
細隙光制御部103は、S35において特定された新たな照明位置を細隙光で照明するように照明系10を制御する。それにより、被検眼Eにおいて、注目部位と一定の位置関係を有する新たな照明位置が細隙光で照明される。
(S36)
The slit
なお、S35において、細隙光制御部103は、S32において特定された注目部位の位置を基準に、S30において特定された細隙光の照明角度に基づいて、被検眼Eに対する細隙光の新たな照明角度を特定してもよい。そして、S36において、細隙光制御部103は、S35において特定された新たな照明角度で新たな照明位置を細隙光で照明するように照明系10を制御してもよい。
In S35, the slit
(S37)
次に、制御部100は、追従制御を終了するか否かを判定する。たとえば、追従制御の終了は、操作部50を用いてユーザにより指示される。制御部100は、操作部50に対するユーザの操作内容に基づいて、追従制御を終了するか否かを判定することが可能である。追従制御を終了すると判定されたとき(S37:Y)、細隙灯顕微鏡1の動作は終了する(エンド)。追従制御を終了しないと判定されたとき(S37:N)、細隙灯顕微鏡1の動作はS32に移行する。
(S37)
Next, the
[作用・効果]
実施形態に係る細隙灯顕微鏡の作用および効果について説明する。
[Action / Effect]
The operation and effect of the slit lamp microscope according to the embodiment will be described.
実施形態に係る細隙灯顕微鏡(たとえば、細隙灯顕微鏡1)は、照明系(たとえば、照明系10)と、固視系(たとえば、固視系30)と、撮影系(たとえば、撮影系20)とを含む。照明系は、細隙光生成部(たとえば、細隙光生成部11)を含む。細隙光生成部は、被検眼(たとえば、被検眼E)に対する照明位置および照明角度のうち少なくとも一方が変更可能な細隙光を生成する。照明系は、被検眼を細隙光で照明する。固視系は、被検眼に対する投影位置が変更可能な固視標を被検眼に投影する。撮影系は、被検眼からの細隙光の戻り光を撮像装置(たとえば、撮像装置21)に導く。 The slit lamp microscope (for example, the slit lamp microscope 1) according to the embodiment includes an illumination system (for example, the illumination system 10), a fixation system (for example, the fixation system 30), and an imaging system (for example, an imaging system). 20). The illumination system includes a slit light generation unit (for example, a slit light generation unit 11). The slit light generation unit generates slit light in which at least one of the illumination position and the illumination angle with respect to the eye to be examined (for example, eye E to be examined) can be changed. The illumination system illuminates the eye to be examined with slit light. The fixation system projects a fixation target whose projection position on the eye to be examined can be changed onto the eye to be examined. The imaging system guides the return light of the slit light from the eye to be examined to the imaging device (for example, the imaging device 21).
このような構成によれば、被検眼と照明系との位置関係を変化させることなく、照明系だけを制御することで細隙光の少なくとも照明位置や照明角度を変更することが可能になる。更に、固視系を制御して固視を誘導することにより、撮影系の回転機構を設けることなく、注目部位の観察方向を変更することが可能になる。それにより、装置を簡素化して装置の小型化を図りつつ、細隙灯顕微鏡の新たな技術を提供することができる。 According to such a configuration, it is possible to change at least the illumination position and the illumination angle of the slit light by controlling only the illumination system without changing the positional relationship between the eye to be examined and the illumination system. Further, by guiding the fixation by controlling the fixation system, it is possible to change the observation direction of the region of interest without providing a rotation mechanism of the imaging system. Accordingly, it is possible to provide a new technique for the slit lamp microscope while simplifying the apparatus and reducing the size of the apparatus.
また、実施形態に係る細隙灯顕微鏡は、細隙光の経路に配置された対物レンズ(たとえば、対物レンズ40)を含み、対物レンズを介して被検眼に固視標を投影してもよい。 In addition, the slit lamp microscope according to the embodiment may include an objective lens (for example, the objective lens 40) arranged in the path of the slit light, and project the fixation target onto the eye to be examined through the objective lens. .
このような構成によれば、内部固視により固視を誘導することで、注目部位の観察方向を変更することができるため、装置を簡素化して装置の小型化を図ることが可能になる。 According to such a configuration, it is possible to change the observation direction of the site of interest by inducing fixation by internal fixation, so that the apparatus can be simplified and the apparatus can be reduced in size.
また、実施形態に係る細隙灯顕微鏡は、撮像装置により撮影された被検眼の画像に基づいて細隙光生成部を制御することにより照明位置および照明角度の少なくとも一方を変更する制御部(たとえば、制御部100)を含んでもよい。 In addition, the slit lamp microscope according to the embodiment controls a slit light generation unit based on an image of an eye to be examined photographed by an imaging device, thereby changing a lighting unit and / or an illumination angle (for example, The control unit 100) may be included.
このような構成によれば、観察方向を変更するために固視を誘導した場合でも、被検眼に対する細隙光の照明位置や照明角度を一定に維持しつつ、所望の観察方向から被検眼の注目部位の観察が可能になる。 According to such a configuration, even when fixation is guided to change the observation direction, the illumination position and the illumination angle of the slit light with respect to the subject eye are maintained constant, and the eye of the subject eye is observed from the desired observation direction. Observation of the site of interest becomes possible.
また、制御部は、被検眼の画像に基づいて特定された注目部位の位置に基づく投影位置に固視標を投影させるように固視系を制御し、投影位置に基づく照明位置を細隙光で照明するように照明系を制御してもよい。 Further, the control unit controls the fixation system to project the fixation target on the projection position based on the position of the target region identified based on the image of the eye to be examined, and determines the illumination position based on the projection position as the slit light. The illumination system may be controlled so as to illuminate.
このような構成によれば、眼の動きに追従して同じ位置を細隙光で照明することができるようになり、細隙灯顕微鏡の新たな技術を提供することができる。 According to such a configuration, it becomes possible to illuminate the same position with the slit light following the movement of the eye, and it is possible to provide a new technique for the slit lamp microscope.
また、制御部は、固視標の投影位置と細隙光の照明位置との2以上の組み合わせに基づいて、投影位置および照明位置の少なくとも一方を変更しつつ複数回の撮影を順次に行ってもよい。 In addition, the control unit sequentially performs a plurality of shootings while changing at least one of the projection position and the illumination position based on a combination of two or more of the projection position of the fixation target and the illumination position of the slit light. Also good.
このような構成によれば、照明角度などの撮影条件をデジタル的に管理することができるため毎回同一条件での撮影が可能になり、同一または互いに異なる複数の被検眼に対して、あらかじめ決められた撮影条件で被検眼の注目部位の画像を取得できる。それにより、細隙灯顕微鏡の新たな技術を提供することができる。 According to such a configuration, imaging conditions such as an illumination angle can be digitally managed, so that imaging under the same conditions is possible every time, and a plurality of eyes to be examined that are the same or different from each other are determined in advance. It is possible to acquire an image of a region of interest of the eye under examination conditions. Thereby, a new technique of the slit lamp microscope can be provided.
また、制御部は、照明系、固視系、および撮影系のうち少なくとも1つに対して実行された制御内容を記憶手段(たとえば、記憶部110)に記憶させてもよい。 In addition, the control unit may cause the storage unit (for example, the storage unit 110) to store the control content executed on at least one of the illumination system, the fixation system, and the imaging system.
このような構成によれば、照明系や固視系や撮影系を制御することができるため、センサなどを設けることなく、これらに対する制御内容をデジタル的に保存することが可能になる。 According to such a configuration, since the illumination system, the fixation system, and the imaging system can be controlled, it is possible to digitally store the control contents for these without providing a sensor.
また、制御部は、撮像装置により取得された被検眼の画像に関連付けて制御内容を記憶手段に記憶させてもよい。 The control unit may store the control content in the storage unit in association with the image of the eye to be examined acquired by the imaging device.
このような構成によれば、過去の撮影条件で撮影することにより新たな画像を取得して、経過観察などの長期的な検査に有用な情報を提供することができる。 According to such a configuration, a new image can be acquired by photographing under past photographing conditions, and information useful for long-term examination such as follow-up observation can be provided.
また、細隙光生成部は、照明位置と光学的に略共役な位置に配置されていてもよい。 The slit light generation unit may be disposed at a position that is optically substantially conjugate with the illumination position.
このような構成によれば、細隙光生成部により細隙光の照明位置や照明角度を変更しても、細隙灯生成部と照明位置とは共役関係にあるため、被検眼における照明位置などを高精度に変更し、且つ、効率よく細隙光で被検眼を照明することが可能になる。 According to such a configuration, even if the illumination position and the illumination angle of the slit light are changed by the slit light generation unit, the slit lamp generation unit and the illumination position are in a conjugate relationship. Etc. can be changed with high accuracy, and the eye to be examined can be efficiently illuminated with the slit light.
また、細隙光生成部は、あらかじめ設定されたパターンの光を出力可能なプロジェクタを含んでもよい。 The slit light generation unit may include a projector that can output light having a preset pattern.
このような構成によれば、細隙光の照明位置を高精度に、かつ、簡素に変更することが可能になる。 According to such a configuration, the illumination position of the slit light can be changed with high accuracy and simply.
また、照明系は、1次元的にまたは2次元的に細隙光を偏向する光スキャナ(たとえば、光スキャナ12)を含んでもよい。 The illumination system may include an optical scanner (for example, the optical scanner 12) that deflects the slit light in one or two dimensions.
このような構成によれば、光スキャナにより被検眼における細隙光の照明角度を変更することができる。それにより、様々な観察方向から様々な細隙光の照明位置を観察する機能を維持しつつ、照明系の回転機構を不要にし、装置の小型化が可能になる。 According to such a configuration, the illumination angle of the slit light in the eye to be examined can be changed by the optical scanner. Thereby, while maintaining the function of observing the illumination position of various slit lights from various observation directions, the rotation mechanism of the illumination system is unnecessary, and the apparatus can be miniaturized.
また、光スキャナは、照明位置と光学的に略共役な位置に配置されていてもよい。 The optical scanner may be disposed at a position that is optically conjugate with the illumination position.
このような構成によれば、光スキャナにより細隙光を偏向しても、光スキャナと照明位置とは共役関係にあるため、被検眼における照明角度を高精度に変更し、且つ、効率よく細隙光で被検眼を照明することが可能になる。 According to such a configuration, even if the slit light is deflected by the optical scanner, since the optical scanner and the illumination position are in a conjugate relationship, the illumination angle in the eye to be examined can be changed with high accuracy and efficiently reduced. It becomes possible to illuminate the eye to be examined with gap light.
また、実施形態に係る細隙灯顕微鏡は、照明系の光路に固視系の光路を結合する第1光路結合部材(たとえば、第1光路結合部材14)を含んでもよい。 Moreover, the slit lamp microscope according to the embodiment may include a first optical path coupling member (for example, the first optical path coupling member 14) that couples the optical path of the fixation system to the optical path of the illumination system.
このような構成によれば、固視系の光路を照明系の光路に結合するようにしたので、装置の小型化が可能になる。 According to such a configuration, since the optical path of the fixation system is coupled to the optical path of the illumination system, the apparatus can be reduced in size.
また、実施形態に係る細隙灯顕微鏡は、照明系の光路に撮影系の光路を結合する第2光路結合部材(たとえば、第2光路結合部材15)を含んでもよい。
このような構成によれば、撮影系の光路を照明系の光路に結合するようにしたので、装置の小型化が可能になる。
The slit lamp microscope according to the embodiment may include a second optical path coupling member (for example, the second optical path coupling member 15) that couples the optical path of the imaging system to the optical path of the illumination system.
According to such a configuration, since the optical path of the photographing system is coupled to the optical path of the illumination system, the apparatus can be reduced in size.
なお、上記の実施形態では、照明系10および撮影系20が、回動不可能な構成である場合を例に説明したが、照明系10や撮影系20は、一般的な細隙灯顕微鏡と同様に、移動機構により所定の回動軸を中心に回動可能に構成されていてもよい。この場合、たとえば、基台または基台に設けられた支持部に、照明系10および撮影系20を支持する支持アームが所定の回動軸を中心に左右方向に回動可能に設けられる。移動機構には、支持アームを回動させるための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を支持アームに伝達する伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、たとえばステッピングモータ(パルスモータ)により構成される。伝達機構は、たとえば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。なお、照明系10や撮影系20は、支持アームを手動で回動させることで移動されてもよい。たとえば、照明角度を大きく変更するとき回転機構により手動で調整し、照明角度をデジタル的に高精度に変更するとき光スキャナ12の偏向制御を行うようにすることが可能になる。
In the above-described embodiment, the case where the
照明系10が撮影系20と同軸に回動できるように構成しつつ、照明系10の回動と光スキャナ12による偏向とを組み合わせられるように構成してもよい。それにより、たとえば、照明系10を所望の回動位置に配置させて細隙光の照明位置を固定した状態で、光スキャナ12により照明角度を変更しつつ様々な照明角度で撮影を行うことで、様々な方向からの画像を取得することができる。また、たとえば、照明系10所望の回動位置に配置させて細隙光の照射角度を固定した状態で、細隙光生成部11により細隙光の照射位置を変更しつつ被検眼Eにおいて様々な照明位置で撮影を行うことで、様々な照明位置での画像を取得することができる。なお、細隙光生成部11により所定の照射面における細隙光の照射位置を変更した場合、照射位置の変更に伴う被検眼Eにおける細隙光の照明角度の変更分を光スキャナ12の偏向制御によりキャンセルしてもよい。
You may comprise so that the rotation of the
また、上記の実施形態では、内部固視により被検眼Eの眼底Efに固視標を投影した場合について説明したが、外部固視により被検眼Eの眼底Efに固視標を投影してもよい。 In the above embodiment, the case where the fixation target is projected onto the fundus oculi Ef of the eye E to be examined by internal fixation has been described, but even if the fixation target is projected onto the fundus oculi Ef of the eye E to be examined by external fixation. Good.
(変形例)
以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。
(Modification)
The embodiment described above is merely an example for carrying out the present invention. A person who intends to implement the present invention can make arbitrary modifications, omissions, additions and the like within the scope of the present invention.
上記の実施形態では、細隙灯顕微鏡について説明したが、この発明を適用可能な装置はこれに限定されるものではない。たとえば、眼軸長測定機能、眼圧測定機能、眼底撮影機能、光干渉断層撮影(OCT)機能、超音波検査機能など、眼科分野において使用可能な任意の機能を有する装置は、本発明の機能を具備することが可能である。なお、眼軸長測定機能は光干渉断層計等により実現される。また、眼軸長測定機能は、被検眼に光を投影し、当該被検眼に対する光学系のZ方向(前後方向)の位置を調整しつつ眼底からの戻り光を検出することにより、当該被検眼の眼軸長を測定するようにしてもよい。眼圧測定機能は眼圧計等により実現される。眼底撮影機能は眼底カメラや走査型検眼鏡(SLO)等により実現される。OCT機能は光干渉断層計等により実現される。超音波検査機能は超音波診断装置等により実現される。また、このような機能のうち2つ以上を具備した装置(複合機)に対してこの発明を適用することも可能である。 Although the slit lamp microscope has been described in the above embodiment, an apparatus to which the present invention can be applied is not limited to this. For example, an apparatus having any function that can be used in the ophthalmic field, such as an axial length measurement function, an intraocular pressure measurement function, a fundus imaging function, an optical coherence tomography (OCT) function, and an ultrasonic examination function, is a function of the present invention. It is possible to comprise. The axial length measurement function is realized by an optical coherence tomometer or the like. The axial length measurement function projects light onto the eye to be examined and detects return light from the fundus while adjusting the position of the optical system in the Z direction (front-rear direction) with respect to the eye to be examined. Alternatively, the axial length of the eye may be measured. The intraocular pressure measurement function is realized by a tonometer or the like. The fundus photographing function is realized by a fundus camera, a scanning ophthalmoscope (SLO), or the like. The OCT function is realized by an optical coherence tomograph or the like. The ultrasonic inspection function is realized by an ultrasonic diagnostic apparatus or the like. In addition, the present invention can be applied to an apparatus (multifunction machine) having two or more of such functions.
1 細隙灯顕微鏡
10 照明系
11 細隙光生成部
11a、13 コリメートレンズ
11b 集光レンズ
12 光スキャナ
14 第1光路結合部材
15 第2光路結合部材
20 撮影系
21 撮像装置
21A 撮像素子
30 固視系
31 LCD
40 対物レンズ
50 操作部
60 表示部
100 制御部
101 注目部位特定部
102 固視制御部
103 細隙光制御部
104 シーケンス制御部
110 記憶部
110A シーケンス情報
110B 撮影条件情報
E 被検眼
Ef 眼底
M 観察面
1
40
Claims (13)
前記被検眼に対する投影位置が変更可能な固視標を前記被検眼に投影する固視系と、
前記被検眼からの前記細隙光の戻り光を撮像装置に導く撮影系と、
を含む細隙灯顕微鏡。 An illumination system that illuminates the eye to be examined with the slit light, comprising a slit light generation unit that generates a slit light that can change at least one of an illumination position and an illumination angle with respect to the eye to be examined;
A fixation system that projects a fixation target whose projection position with respect to the subject's eye can be changed onto the subject's eye; and
An imaging system that guides the return light of the slit light from the eye to the imaging device;
Including slit lamp microscope.
前記対物レンズを介して前記被検眼に前記固視標を投影する
ことを特徴とする請求項1に記載の細隙灯顕微鏡。 An objective lens disposed in the path of the slit light,
The slit lamp microscope according to claim 1, wherein the fixation target is projected onto the eye to be examined through the objective lens.
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