JP2016156805A5 - - Google Patents

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Claims (13)

  1. 互いに相対的に動く二つの物体の位置を検出する光学位置測定装置であって、
    これらの二つの物体の中の一方と連結され、少なくとも一つの第一の目盛方向(x)に沿って目盛領域を周期的に配置した測定目盛を備えた基準尺と、
    この基準尺に対して相対的に動くように配置された、複数の光学素子を備えた走査ユニットと、
    を有し、
    この走査ユニットの光学素子の配置及び構成によって、干渉させる部分光ビームが対称面に関して鏡面対称に進んで、基準尺上にV字形状に入射することと基準尺によるV字形状の反射を受けることとの中の一つ以上を実行する走査光路が得られる、
    光学位置測定装置において、
    この対称面(SE)が、基準尺(10’;110’;210’;310’;410’)の表面に対して平行な方向を向くとともに、第一の目盛方向(x)に対して直角に延びる回転軸の周りを所定の傾斜角(α)だけ傾斜することと、
    走査ユニット(20;120;220;320.1,320.2;420.1〜420.6)内の走査光路は、対称面(SE)が基準尺(10’;110’;210’;310’;410’)の表面に対して直角の方向を向いた非傾斜状態の走査光路と同じになるように、測定目盛(12’;112’;212’;312’;412’)の目盛周期(d )と傾斜角(α)が選定されることと、
    を特徴とする光学位置測定装置。
  2. 測定目盛(12’;112’;212’;312’;412’)での非対称な回折次数から得られる部分光ビーム(A,B)を干渉させることを特徴とする請求項1に記載の光学位置測定装置。
  3. 測定目盛(12’;112’;212’;312’;412’)での次の回折次数の組合せ、
    +3/−1回折次数、
    +1/0回折次数、
    −3/+1回折次数、
    −1/0回折次数、
    の中の一つから得られる部分光ビーム(A,B)を干渉させることを特徴とする請求項に記載の光学位置測定装置。
  4. 測定目盛(12’;112’;212’;312’;412’)が、信号生成に使用される回折次数の回折効率を最適化して高くした反射位相格子として構成されることを特徴とする請求項に記載の光学位置測定装置。
  5. 走査ユニット(20;220;320.1,320.2;420.1〜420.6)が、複数の光学素子を備えた少なくとも一つの走査板(21;223;323.1,323.2)を有し、この走査板(21;223;323.1,323.2)が対称面(SE)に対して直角に配置されることを特徴とする請求項1に記載の光学位置測定装置。
  6. 走査ユニット(20)に配置された走査板(21)が透明に構成されて、その基準尺(10’)の方を向いた側に、二つの第一の走査格子(22A1,22B1)と二つの第二の走査格子(22A2,22B2)が配置されるとともに、その基準尺と逆の方を向いた側に、二つの反射器(23,23)が配置され、これらの反射器(23,23)の反射する側が基準尺(10’)の方向を向いていることを特徴とする請求項1からまでのいずれか一つに記載の光学位置測定装置。
  7. 光源から放出された光ビーム(SIN)が、
    測定目盛(12’)に当たり、そこで、走査ユニット(20)の方にV字形状に反射される、二つの異なる回折次数に対応する二つの部分光ビーム(A,B)に分割され、
    これらの反射された二つの部分光ビーム(A,B)が、走査ユニット(20)において、二つの反射器(22,22)の方向に向かって二つの第一の走査格子(22A1,22B1)を通過し、その際、入射方向に対して逆平行の方向を向く偏向作用と第一の目盛方向(x)に対して直角の集束作用だけを受け、
    次に、そのように偏向、集束された部分光ビーム(A,B)が、それぞれ反射器(23,23)に当たって、基準尺(10’)の方向に反射され、
    次に、これらの二つの部分光ビーム(A,B)が、基準尺(10’)の方向に向かって二つの第二の走査格子(22A2,22B2)を通過し、その際、第一の目盛方向(x)への偏向作用と第一の目盛方向(x)に対して直角のコリメーション作用だけを受け、その結果、これらの二つの部分光ビーム(A,B)が、次に、基準尺(10’)の方向にV字形状に進み、
    そこで、重なり合った部分光ビーム(A,B)の走査ユニット(20)の方向への新たな回折と反射が起こるように、
    走査ユニット(20)が構成されることを特徴とする請求項に記載の光学位置測定装置。
  8. 走査ユニット(120)が、少なくとも一つの分割素子(123)、二つの偏向素子(124,124)、二つの反射器(126,126)及び二つのレンズ(125,125)を有することを特徴とする請求項1からまでのいずれか一つに記載の光学位置測定装置。
  9. 光源(121)から放出された光ビームが、
    分割素子(123)によって、二つの部分光ビーム(A,B)に分割されて、これらの部分光ビームが、次に、それぞれ偏向素子(124,124)の方向に進み、
    これらの二つの部分光ビーム(A,B)が、偏向素子(124,124)によって偏向され、その結果、測定目盛(112’)上の第一の衝突地点(P’)の方向に向かってV字形状に進み、
    これらの部分光ビーム(A,B)が、測定目盛(112’)上の第一の衝突地点(P’)で、それぞれ走査ユニット(120)のレンズ(125,125)及び反射器(126,126)の方向への第一の回折とV字形状の反射を受け、
    これらの部分光ビーム(A,B)が、一回目にレンズ(125,125)を通過して、反射器(126,126)によって、入射方向にV字形状に反射されて、二回目にレンズ(125,125)を通過し、
    次に、これらの部分光ビームが、第二の衝突地点(P’)で測定目盛(112’)に当たって、それぞれ走査ユニット(120)の偏向素子(124,124)の方向への第二の回折とV字形状の反射を受けるように、
    走査ユニット(120)が構成されることを特徴とする請求項に記載の光学位置測定装置。
  10. 走査ユニット(220)が、少なくとも一つの透明な走査板(223)と構造化された光検出器(225)を有し、この走査板(223)の入射光ビームの方を向いた側に、第一と第二の走査格子(224,224)が配置されることを特徴とする請求項1からまでのいずれか一つに記載の光学位置測定装置。
  11. 光源(221)から放出された光ビームが、
    影響を受けること無く走査板(223)を通過した後、測定目盛(212’)に当たり、そこで、走査ユニット(220)の方にV字形状に反射される、二つの異なる回折次数に対応する二つの部分光ビーム(A,B)に分割され、
    これらの二つの反射された部分光ビーム(A,B)が、走査ユニット(220)において、それぞれ二つの走査格子(224,224)の中の一方を通過し、その際、対称面(SE)の方向に偏向された後、構造化された光検出器(225)の方向に進み、そこで、重なり合って干渉するように、
    走査ユニット(220)が構成されることを特徴とする請求項1に記載の光学位置測定装置。
  12. 同じように構成された第二の走査ユニット(320.2)が、走査ユニット(320.1)と機械的に堅く連結されており、これらの二つの走査ユニット(320.1,320.2)が、それらに対応する互いに平行な方向を向いた回転軸の周りを同じ大きさの角度であるが、互いに逆の方向に傾斜して配置されることを特徴とする請求項1に記載の光学位置測定装置。
  13. 測定目盛(412’)が第一と第二の目盛方向(x,y)に沿って目盛領域を周期的に配置した二次元交差格子として構成され、請求項1による位置測定装置が三対配備されて、二対が第一の目盛方向(x)に対して平行に配置され、第三の対が第二の目盛方向(y)に対して平行に配置されることを特徴とする測定構成。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016210434A1 (de) 2016-06-13 2017-12-14 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Optische Positionsmesseinrichtung
DE102017201257A1 (de) * 2017-01-26 2018-07-26 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
DE102017219125A1 (de) 2017-10-25 2019-04-25 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Optische Positionsmesseinrichtung
DE102020202080A1 (de) * 2020-02-19 2021-08-19 Dr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mit Beschränkter Haftung Optische Positionsmesseinrichtung
CN115993088A (zh) * 2021-10-20 2023-04-21 约翰内斯.海德汉博士有限公司 光学位置测量设备

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5953209U (ja) * 1982-10-01 1984-04-07 ソニ−マグネスケ−ル株式会社 光学式測長スケ−ル
JP4023923B2 (ja) * 1998-07-02 2007-12-19 ソニーマニュファクチュアリングシステムズ株式会社 光学式変位測定装置
KR100531458B1 (ko) * 1998-08-20 2005-11-25 소니 매뉴펙츄어링 시스템즈 코포레이션 광학식 변위측정장치
DE10144659A1 (de) * 2000-09-14 2002-05-02 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Positionsmesseinrichtung
JP4722474B2 (ja) * 2004-12-24 2011-07-13 株式会社ミツトヨ 変位検出装置
DE102005043569A1 (de) * 2005-09-12 2007-03-22 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
JP4924884B2 (ja) * 2006-05-19 2012-04-25 株式会社ニコン エンコーダ
JP5147368B2 (ja) * 2006-11-20 2013-02-20 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング エンコーダ
DE102010029211A1 (de) * 2010-05-21 2011-11-24 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Optische Positionsmesseinrichtung
JP5618898B2 (ja) * 2010-08-31 2014-11-05 Dmg森精機株式会社 変位検出装置
CN104040296B (zh) * 2011-11-09 2016-08-24 齐戈股份有限公司 双通干涉测量编码器系统
WO2013070957A1 (en) * 2011-11-09 2013-05-16 Zygo Corporation Compact encoder head for interferometric encoder system
DE102014208988A1 (de) 2013-09-11 2015-03-12 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Optische Positionsmesseinrichtung

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