JP2016149430A - 逆導通igbtを備える電子装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 逆導通IGBTがターンオンするときに発生するスナップバック現象を抑える技術を提供すること。
【解決手段】 電子装置100は、逆導通IGBT1と整流素子2を備える。逆導通IGBT1は、IGBT構造に含まれるコレクタ電極21及びダイオード構造に含まれるカソード電極22を有する。コレクタ電極21とカソード電極22が分離されている。整流素子2は、カソード電極22に電気的に接続されており、カソード電極22に向かう方向が逆方向となるように構成されている。
【選択図】図1
【解決手段】 電子装置100は、逆導通IGBT1と整流素子2を備える。逆導通IGBT1は、IGBT構造に含まれるコレクタ電極21及びダイオード構造に含まれるカソード電極22を有する。コレクタ電極21とカソード電極22が分離されている。整流素子2は、カソード電極22に電気的に接続されており、カソード電極22に向かう方向が逆方向となるように構成されている。
【選択図】図1
Description
本明細書で開示される技術は、逆導通IGBT(Reverse Conducting Insulated Gate Bipolar Transistor)を備える電子装置に関する。
IGBT構造が形成されている半導体層内にダイオード構造を一体化させた逆導通IGBTが開発されている。このような逆導通IGBTでは、半導体層の表層部に絶縁ゲートが形成されており、半導体層の裏層部にp型のコレクタ領域とn型のカソード領域が形成されている。p型のコレクタ領域が設けられている範囲がIGBT範囲として区画され、n型のカソード領域が設けられている範囲がダイオード範囲として区画される。逆導通IGBTでは、ダイオード構造がフリーホイールダイオードとして動作する。
絶縁ゲートにオン電圧が印加されると、逆導通IGBTがターンオンする。このとき、ダイオード範囲に設けられた絶縁ゲートに寄生するMOSも動作し、その寄生MOSを介してダイオード範囲に電流が流れる。ダイオード範囲を一定以上の電流が流れると、p型のコレクタ領域から正孔注入が始まり、IGBT構造が動作する。このように、逆導通IGBTでは、低電流領域において、ダイオード範囲を電流が優先的に流れる。ダイオード範囲を優先的に流れる電流は電子キャリアのみが担っているので、ターンオンする過渡的なタイミングでは、逆導通IGBTがユニポーラトランジスタとして動作する。このため、図3に示されるように、逆導通IGBTがターンオンするときの過渡的なタイミングでは、低電流領域において順方向電圧が大きく増加するスナップバック現象が発生する。このようなスナップバック現象は、低電流領域の損失を増加させてしまう。また、このようなスナップバック現象は、不均一動作の原因にもなってしまう。
特許文献1は、p型のコレクタ領域とn型のカソード領域の面内レイアウトを工夫することで、スナップバック現象を抑える技術を提案する。
特許文献1の技術では、p型のコレクタ領域とn型のカソード領域の面内レイアウトが制限される。p型のコレクタ領域とn型のカソード領域の面内レイアウトが制限されずに、スナップバック現象が抑えられる技術が求められている。
本願明細書で開示される電子装置の一実施形態は、逆導通IGBT及び整流素子を備える。逆導通IGBTは、IGBT構造に含まれるコレクタ電極及びダイオード構造に含まれるカソード電極を有する。コレクタ電極とカソード電極が分離されている。整流素子は、カソード電極に電気的に接続されており、カソード電極に向かう方向が逆方向となるように構成されている。
上記したように、逆導通IGBTがターンオンするときの過渡的なタイミングにおいて、ダイオード範囲の寄生MOSが動作すると、ダイオード範囲に電流が流れる。上記実施形態の電子装置では、カソード電極に向かう方向が逆方向となるように構成されている整流素子がカソード電極に接続されているので、その整流素子は、このような電流が流れることを抑制することができる。このように、上記実施形態の電子装置では、逆導通IGBTがターンオンするときの過渡的なタイミングにおいて、ダイオード範囲を流れる電流が抑えられ、これにより、スナップバック現象が抑えられる。上記実施形態の電子装置では、逆導通IGBTの構成に制限が加えられることなく、スナップバック現象が抑えられる。
以下、本明細書で開示される技術の特徴を整理する。なお、以下に記す事項は、各々単独で技術的な有用性を有している。
本明細書で開示される電子装置の一実施形態は、逆導通IGBTと整流素子を少なくとも備えていてもよい。逆導通IGBTは、IGBT構造に含まれるコレクタ電極及びダイオード構造に含まれるカソード電極を有する。コレクタ電極とカソード電極が分離されている。整流素子は、カソード電極に電気的に接続されており、カソード電極に向かう方向が逆方向となるように構成されている。ここで、整流素子は、電流を一方向のみに流す整流作用を有する素子である。整流素子の種類は、特に限定されるものではない。整流素子には、例えば、PNダイオード又はショットキーバリアダイオードの半導体ダイオード、ダイオード接続したMOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)が用いられてもよい。整流素子は、逆導通IGBTと一体化して構成されてもよく、逆導通IGBTに外付けされる素子であってもよい。
本明細書で開示される電子装置の一実施形態は、縦型で構成されていてもよい。この場合、逆導通IGBTは、半導体層及び表面電極をさらに有していてもよい。半導体層の材料は、特に限定されるものではない。半導体層の材料には、例えば、シリコン、炭化珪素又は窒化物半導体が用いられてもよい。表面電極は、半導体層の表面の少なくとも一部に設けられている。表面電極は、IGBT構造におけるエミッタ電極であり、ダイオード構造におけるアノード電極である。コレクタ電極は、半導体層の裏面の少なくとも一部に設けられている。カソード電極は、半導体層の裏面の少なくとも他の一部に設けられている。半導体層は、第1導電型のドリフト領域、第2導電型のコレクタ領域及び第1導電型のカソード領域を少なくとも含んでいてもよい。コレクタ領域は、ドリフト領域の下方の少なくとも一部に設けられており、コレクタ電極に電気的に接続する。カソード領域は、ドリフト領域の下方の少なくとも他の一部に設けられており、カソード電極に電気的に接続する。ここで、コレクタ領域とカソード領域のレイアウトは、特に限定されない。例えば、半導体層を特定の断面で観測したときに、コレクタ領域とカソード領域が交互に配置されるレイアウトであってもよい。
本明細書で開示される電子装置の一実施形態は、絶縁ゲートをさらに有していてもよい。この場合、半導体層は、第2導電型のボディ領域及び第1導電型のエミッタ領域をさらに含んでいてもよい。ボディ領域は、ドリフト領域の上方の少なくとも一部に設けられており、絶縁ゲートに接する。エミッタ領域は、ボディ領域の上方の少なくとも一部に設けられており、絶縁ゲートに接する。絶縁ゲートは、半導体層の表面から深部に向けて伸びるトレンチゲートを有していてもよい。
図1に示されるように、電子装置100は、逆導通IGBT1及び整流素子2を備える。逆導通IGBT1は、IGBT範囲とダイオード範囲に区画された半導体層10、半導体層10の裏面の一部を被覆するコレクタ電極21、半導体層の裏面の他の一部を被覆するカソード電極22、半導体層10の表面を被覆する表面電極24及び半導体層10の表層部に形成されている複数のトレンチゲート30を備える。一例では、コレクタ電極21、カソード電極22及び表面電極24の材料にアルミニウムが用いられている。コレクタ電極21とカソード電極22は、半導体層10の裏面において分離して設けられている。コレクタ電極21とカソード電極22の間には、必要に応じて、絶縁膜が設けられていてもよい。トレンチゲート30は、ポリシリコンを材料とするトレンチゲート電極32と、そのトレンチゲート電極32を被覆する酸化シリコンを材料とするゲート絶縁膜34を有する。一例では、複数のトレンチゲート30は、半導体層10の表面に直交する方向から観測したときに、ストライプ状に配置されている。
半導体層10は、シリコン基板であり、p+型のコレクタ領域11、n+型のカソード領域12、n+型のバッファ領域13、n型のドリフト領域14、p型のボディ領域15、p+型のボディコンタクト領域16及びn+型のエミッタ領域17を有する。
コレクタ領域11は、半導体層10の裏層部の一部に設けられている。また、コレクタ領域11は、ドリフト領域14の下方の一部に設けられており、IGBT範囲に配置されている。半導体層10では、コレクタ領域11が存在する範囲をIGBT範囲という。コレクタ領域11は、その不純物濃度が濃く、コレクタ電極21にオーミック接触する。コレクタ領域11は、例えば、イオン注入技術を利用して、半導体層10の裏面からボロンを導入することで形成されている。
カソード領域12は、半導体層10の裏層部の一部に設けられている。また、カソード領域12は、ドリフト領域14の下方の一部に設けられており、ダイオード範囲に配置されている。半導体層10では、カソード領域12が存在する範囲をダイオード範囲という。カソード領域12は、その不純物濃度が濃く、カソード電極22にオーミック接触する。カソード領域12は、例えば、イオン注入技術を利用して、半導体層10の裏面からリンを導入することで形成されている。なお、この例では、IGBT範囲とダイオード範囲が明確に区画されるように、複数のトレンチゲート30に対応して1つのコレクタ領域11が配置され、複数のトレンチゲート30に対応して1つのカソード領域12が配置されている。このレイアウトは一例であり、この例に代えて、様々なレイアウトを採用することができる。例えば、複数のカソード領域12がコレクタ領域11に対して分散して配置されたレイアウトであってもよい。
バッファ領域13は、コレクタ領域11とドリフト領域14の間、及びカソード領域12とドリフト領域14の間に設けられており、IGBT範囲とダイオード範囲の双方に配置されている。バッファ領域13は、例えば、イオン注入技術を利用して、半導体層10の裏面からボロンを導入することで形成されている。
ドリフト領域14は、バッファ領域13とボディ領域15の間に設けられており、IGBT範囲とダイオード範囲の双方に配置されている。ドリフト領域14は、トレンチゲート30の底部に接する。ドリフト領域14は、半導体層10に他の領域を形成した残部であり、不純物濃度は厚み方向に一定である。
ボディ領域15は、ドリフト領域14の上方に設けられており、ドリフト領域14に接しており、IGBT範囲とダイオード範囲の双方に配置されている。ボディ領域15は、トレンチゲート30の側面に接する。換言すると、トレンチゲート30は、半導体層10の表面から深部に向けて伸びており、ボディ領域15を貫通してドリフト領域14に達する。ボディ領域15は、例えば、イオン注入技術を利用して、半導体層10の表面からボロンを導入することで形成されている。
複数のボディコンタクト領域16は、ボディ領域15の上方に設けられており、ボディ領域15に接しており、IGBT範囲とダイオード範囲の双方に配置されており、半導体層10の表面に露出する。ボディコンタクト領域16は、その不純物濃度がボディ領域15よりも濃く、エミッタ電極24にオーミック接触する。複数のボディコンタクト領域16は、例えば、イオン注入技術を利用して、半導体層10の表面からボロンを導入することで形成されている。
複数のエミッタ領域17は、ボディ領域15の上方に設けられており、ボディ領域15に接しており、IGBT範囲とダイオード範囲の双方に配置されており、トレンチゲート30の側面に接しており、半導体層10の表面に露出する。エミッタ領域17は、その不純物濃度が濃く、エミッタ電極24にオーミック接触する。複数のエミッタ領域17は、例えば、イオン注入技術を利用して、半導体層10の表面からリンを導入することで形成されている。
逆導通IGBT1では、コレクタ電極21、コレクタ領域11、バッファ領域13、ドリフト領域14、ボディ領域15、ボディコンタクト領域16、エミッタ領域17、表面電極24及びトレンチゲート30がIGBT構造を構成する。IGBT構造における表面電極24は、エミッタ電極として機能する。逆導通IGBT1では、カソード電極22、カソード領域12、バッファ領域13、ドリフト領域14、ボディ領域15、ボディコンタクト領域16及び表面電極24がダイオード構造を構成する。ダイオード構造における表面電極24は、アノード電極として機能する。
整流素子2は、逆導通IGBT1のカソード電極22に選択的に接続されたダイオードであり、そのアノードが逆導通IGBT1のカソード電極22に接続されており、そのカソードが逆導通IGBT1のコレクタ電極21に接続されている。整流素子2は、アノードからカソードへ向かう方向が順方向となる整流作用を有する。このため、この整流素子2は、逆導通IGBT1のカソード電極22に向かう方向が逆方向となるように接続されている。
図2に示されるように、整流素子2は、逆導通IGBT1に一体化したショットキーダイオードとして構成することができる。この例の整流素子2は、半導体部40及び整流電極23を有する。半導体部40は、シリコン層であり、ドナー濃度が低濃度なn型半導体層42とドナー濃度が高濃度なn+型半導体層44を含む。n型半導体層42は、カソード電極22とn+型半導体層44の間に配置されており、カソード電極22とn+型半導体層44の双方に接する。n型半導体層42のドナー濃度は、1×1018cm-3よりも薄く調整されている。このため、n型半導体層42は、カソード電極22にショットキー接触する。n+型半導体層44は、n型半導体層42と整流電極23の間に配置されており、n型半導体層42と整流電極23の双方に接する。n+型半導体層44のドナー濃度は、1×1018cm-3よりも濃く調整されている。このため、n+型半導体層44は、整流電極23にオーミック接触する。整流電極23は、逆導通IGBT1のコレクタ電極21に接続される。このように、整流素子2は、逆導通IGBT1のカソード電極22へ向かう向きが逆向きとなる整流作用を発揮するショットキーダイオードとして構成される。
また、図3に示されるように、整流素子2は、逆導通IGBT1に一体化したPNダイオードとして構成することができる。この例の整流素子2は、半導体部50及び整流電極23を有する。半導体部50は、シリコン層であり、p型の不純物を高濃度に含むp型半導体層52とn型の不純物を高濃度に含むn+型半導体層54を含む。p型半導体層52は、カソード電極22とn+型半導体層54の間に配置されており、カソード電極22とn+型半導体層54の双方に接する。p型半導体層52は、カソード電極22にオーミック接触する。n+型半導体層54は、p型半導体層52と整流電極23の間に配置されており、p型半導体層52と整流電極23の双方に接する。n+型半導体層54は、整流電極23にオーミック接触する。整流電極23は、逆導通IGBT1のコレクタ電極21に接続される。このように、整流素子2は、逆導通IGBT1のカソード電極22へ向かう向きが逆向きとなる整流作用を発揮するPNダイオードとして構成される。
逆導通IGBT1では、コレクタ電極21及びカソード電極22に表面電極24よりも正となる電圧が印加され、トレンチゲート30に表面電極24よりも正となる電圧が印加されると、ターンオンする。このとき、トレンチゲート30の側面に対向するボディ領域15に反転層が形成され、ドリフト領域14とエミッタ領域17が反転層で接続される。
背景技術で説明したように、カソード電極22に整流素子2が接続されていない例では、ダイオード範囲に存在する寄生MOS(この例の寄生MOSは、ドリフト領域14とボディ領域15とエミッタ領域17とトレンチゲート30で構成される)にも反転層が形成され、その寄生MOSを介してダイオード範囲に電流が流れ、スナップバック現象が発生する。このスナップバック現象による電流は、カソード電極22から表面電極24に流れる。一方、本実施例の電子装置100では、逆導通IGBT1のカソード電極22に整流素子2が接続されており、その整流素子2がスナップバック現象による電流の流れる方向に対して逆向きとなるように接続されている。このため、電子装置100の逆導通IGBT1では、整流素子2がカソード電極22に接続されていることにより、ダイオード範囲をカソード電極22から表面電極24に向けて電流が流れることが防止されている。
このように、電子装置100では、逆導通IGBT1がターンオンするときの低電流領域でダイオード範囲を電流が流れることが抑えられる。このため、図2に示されるように、電子装置100では、逆導通IGBT1がターンオンするときの低電流領域で生じるスナップバック現象が抑えられる。
また、電子装置100では、逆導通IGBT1のコレクタ電極21とカソード電極22が分離されており、整流素子2がカソード電極22に選択的に接続されている。このため、整流素子2が設けられていても、逆導通IGBT1のIGBT構造が動作するときに、コレクタ電極21から表面電極24に流れる電流が阻害されることがない。このように、整流素子2は、逆導通IGBT1のIGBT構造の動作を阻害するものではない。さらに、逆導通IGBT1では、ダイオード構造がフリーホイールダイオードとして動作するときの電流は、表面電極24からカソード電極22に流れる。整流素子2は、逆導通IGBT1のダイオード構造を流れる電流に対して順方向に接続されている。このように、整流素子2は、逆導通IGBT1のダイオード構造のフリーホイールダイオードとしての動作も阻害するものではない。
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
1:逆導通IGBT、 2:整流素子、 10:半導体層、 11:コレクタ領域、 12:カソード領域、 13:バッファ領域、 14:ドリフト領域、 15:ボディ領域、 16:ボディコンタクト領域、 17:エミッタ領域、 21:コレクタ電極、 22:カソード電極、 24:表面電極、 30:トレンチゲート、 32:トレンチゲート電極、 34:ゲート絶縁膜、 100:電子装置
Claims (6)
- 逆導通IGBTと整流素子を備えており、
前記逆導通IGBTは、
IGBT構造に含まれるコレクタ電極と、
ダイオード構造に含まれるカソード電極と、を有しており、
前記コレクタ電極と前記カソード電極が分離されており、
前記整流素子は、前記カソード電極に電気的に接続されており、前記カソード電極に向かう方向が逆方向となるように構成されている、電子装置。 - 前記整流素子は、前記カソード電極にショットキー接触する半導体部を有する、請求項1に記載の電子装置。
- 前記整流素子は、前記カソード電極に接触する半導体部を有し、
前記半導体部は、前記カソード電極に向かう方向が逆方向となるPN接合を含む、請求項1に記載の電子装置。 - 前記逆導通IGBTは、半導体層と表面電極をさらに有しており、
前記表面電極は、前記半導体層の表面の少なくとも一部に設けられており、
前記コレクタ電極は、前記半導体層の裏面の少なくとも一部に設けられており、
前記カソード電極は、前記半導体層の裏面の少なくとも他の一部に設けられており、
前記半導体層は、
第1導電型のドリフト領域と、
前記ドリフト領域の下方の少なくとも一部に設けられており、前記コレクタ電極に電気的に接続する第2導電型のコレクタ領域と、
前記ドリフト領域の下方の少なくとも他の一部に設けられており、前記カソード電極に電気的に接続する第1導電型のカソード領域と、を含む、請求項1〜3のいずれか一項に記載の電子装置。 - 前記逆導通IGBTは、絶縁ゲートをさらに有しており、
前記半導体層は、
前記ドリフト領域の上方の少なくとも一部に設けられており、前記絶縁ゲートに接する第2導電型のボディ領域と、
前記ボディ領域の上方の少なくとも一部に設けられており、前記絶縁ゲートに接する第1導電型のエミッタ領域と、をさらに含む、請求項4に記載の電子装置。 - 前記絶縁ゲートは、前記半導体層の前記表面から深部に向けて伸びるトレンチゲートを有する、請求項5に記載の電子装置。
Priority Applications (1)
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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