JP2016131186A - Spinner cleaning device - Google Patents

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JP2016131186A JP2015004273A JP2015004273A JP2016131186A JP 2016131186 A JP2016131186 A JP 2016131186A JP 2015004273 A JP2015004273 A JP 2015004273A JP 2015004273 A JP2015004273 A JP 2015004273A JP 2016131186 A JP2016131186 A JP 2016131186A
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浩吉 湊
Kokichi Minato
浩吉 湊
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spinner cleaning device capable of cleaning the entire surface even of a warped object to be cleaned uniformly and efficiently.SOLUTION: In a spinner cleaning device including cleaning means for cleaning the surface of an object to be cleaned, the cleaning means includes a cleaning arm, a cleaning member for cleaning the object to be cleaned, disposed at the tip of the cleaning arm, by coming into contact therewith, swinging means for swinging the cleaning arm so that the cleaning member passes through the center of rotation of a spinner table, moving means for moving the cleaning member forward and backward with respect to the object to be cleaned held on the spinner table, and a load meter for measuring the load when the cleaning member is brought into contact with the object to be cleaned by the moving means, and sending the load to control means. The control means controls the moving means, so that the cleaning member presses the object to be cleaned with a preset predetermined load.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、円盤状の被洗浄物を洗浄するスピンナ洗浄装置に関する。   The present invention relates to a spinner cleaning apparatus for cleaning a disk-shaped object to be cleaned.

ICやLSI等の電子回路が表面に形成された半導体チップは、円盤状の半導体ウエーハの表面に格子状に形成された複数の分割予定ラインで矩形領域を区画し、これらの矩形領域に電子回路を形成した後、半導体ウエーハを分割予定ラインに沿って切断するといったプロセスを経て製造される。   A semiconductor chip on the surface of which an electronic circuit such as an IC or LSI is formed has a rectangular area defined by a plurality of division lines formed in a lattice shape on the surface of a disk-shaped semiconductor wafer, and the electronic circuit is divided into these rectangular areas. After the semiconductor wafer is formed, the semiconductor wafer is manufactured through a process of cutting along the planned dividing line.

半導体チップの種類として、表面に複数の突起状の金属電極(バンプ)が形成されたものや、絶縁手段として樹脂が塗布されて樹脂膜が形成されたものがあり、これら金属電極及び樹脂膜の両方が表面に設けられた半導体チップもある。   There are semiconductor chip types in which a plurality of protruding metal electrodes (bumps) are formed on the surface, and a resin film is formed by applying a resin as an insulating means. Some semiconductor chips are both provided on the surface.

半導体ウエーハの表面を被覆する樹脂としては、ポリイミドやエポキシといった種類の樹脂が用いられるが、このような樹脂を半導体ウエーハの表面に塗布して乾燥させると、硬化時の樹脂の収縮作用によって半導体ウエーハが樹脂側に反るという変形が生じやすい。この変形は、樹脂を加熱して塗付し、冷却によって硬化させるものにおいては収縮力が大きいため顕著に生じる。   As the resin for coating the surface of the semiconductor wafer, a resin of a kind such as polyimide or epoxy is used. When such a resin is applied to the surface of the semiconductor wafer and dried, the shrinkage action of the resin during curing causes the semiconductor wafer to shrink. Deformation is likely to be warped to the resin side. This deformation occurs remarkably in the case where the resin is heated and applied and cured by cooling because the shrinkage force is large.

半導体ウエーハを研削する研削装置のチャックテーブルが吸引により半導体ウエーハを保持する機構の場合、半導体ウエーハが反ったままではチャックテーブルで吸引保持することができず、研削加工できないという問題が発生している。   In the case where the chuck table of a grinding apparatus for grinding a semiconductor wafer holds the semiconductor wafer by suction, the chuck table cannot be sucked and held if the semiconductor wafer is warped, and there is a problem that grinding cannot be performed. .

そこで、研削加工時には反った半導体ウエーハを平板状の押圧手段によって研削装置のチャックテーブルに押し付けて吸引保持させることが行われている。この方法により、研削加工時には平坦な状態が維持されるが、加工後に半導体ウエーハの洗浄を行う場合には、反った状態の半導体ウエーハを洗浄しなければならない。   In view of this, a semiconductor wafer warped during grinding is pressed against a chuck table of a grinding device by a flat plate pressing means to be sucked and held. By this method, a flat state is maintained during grinding, but when the semiconductor wafer is cleaned after processing, the warped semiconductor wafer must be cleaned.

半導体ウエーハの表面側は加工時や搬送時に汚れが固着することを防ぐため、常に純水等を供給して濡れた状態に維持されており、通常は最終的に2流体ノズル等で洗浄水を噴射して表面側の汚れを除去してから乾燥する。   The surface side of the semiconductor wafer is always kept wet by supplying pure water or the like to prevent dirt from sticking during processing or transportation. Spray to remove dirt on the surface side and dry.

この場合は、半導体ウエーハが反っていても何ら問題なく洗浄することができるが、何らかの原因で表面側に汚れが固着してしまった場合や、薬液によって表面を洗浄する場合には、スポンジ等の洗浄部材が先端に配設されたペンブラシを接触させることにより半導体ウエーハを洗浄する場合がある。   In this case, even if the semiconductor wafer is warped, it can be cleaned without any problem. However, if the surface is contaminated for some reason or if the surface is cleaned with a chemical, In some cases, the semiconductor wafer may be cleaned by bringing a cleaning member into contact with a pen brush disposed at the tip.

半導体ウエーハの表面が平坦の場合には、ペンブラシの高さを一定に保つことで洗浄部材を半導体ウエーハの表面に均一に接触させることができ、洗浄ムラや洗浄残りが発生することはない。   When the surface of the semiconductor wafer is flat, the cleaning member can be uniformly brought into contact with the surface of the semiconductor wafer by keeping the height of the pen brush constant, and no cleaning unevenness or cleaning residue occurs.

特開2000−173954号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-173954

しかし、ペンブラシ洗浄の場合、半導体ウエーハが反っているとペンブラシはその反りに追従することができないため、洗浄ムラが発生したり、反りが著しい場合には洗浄できない部分が発生してしまうという問題がある。   However, in the case of pen brush cleaning, if the semiconductor wafer is warped, the pen brush cannot follow the warpage, so that there is a problem that uneven cleaning occurs, or if the warpage is significant, a portion that cannot be cleaned is generated. is there.

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、反った被洗浄物でも表面全体を均一に効率よく洗浄することのできるスピンナ洗浄装置を提供することである。   The present invention has been made in view of these points, and an object of the present invention is to provide a spinner cleaning apparatus capable of cleaning the entire surface evenly and efficiently even with a warped object to be cleaned. .

本発明によると、被洗浄物を保持して回転可能なスピンナテーブルと、該スピンナテーブルに保持された被洗浄物に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、被洗浄物の表面を洗浄する洗浄手段と、該スピンナテーブル、該洗浄液供給手段及び該洗浄手段を制御する制御手段と、を備えたスピンナ洗浄装置であって、該洗浄手段は、洗浄アームと、該洗浄アームの先端部分に配設された被洗浄物に接触して洗浄物を洗浄する洗浄部材と、該洗浄部材が該スピンナテーブルの回転中心を通るように該洗浄アームを揺動させる揺動手段と、該洗浄部材を該スピンナテーブルに保持された被洗浄物に対して進退させる進退手段と、該洗浄部材が該進退手段によって被洗浄物に接触する荷重を測定して該制御手段に送る荷重計と、を含み、該制御手段は、該洗浄部材が予め設定した所定の荷重で被洗浄物を押圧するように該進退手段を制御することを特徴とするスピンナ洗浄装置が提供される。   According to the present invention, a spinner table that can rotate while holding an object to be cleaned, a cleaning liquid supply unit that supplies a cleaning liquid to the object to be cleaned held on the spinner table, and a cleaning unit that cleans the surface of the object to be cleaned. A spinner cleaning apparatus comprising: a spinner table; a cleaning liquid supply means; and a control means for controlling the cleaning means, wherein the cleaning means is disposed at a cleaning arm and a tip portion of the cleaning arm. A cleaning member that comes into contact with an object to be cleaned and cleans the cleaning object, a swinging means that swings the cleaning arm so that the cleaning member passes through the rotation center of the spinner table, and the cleaning member attached to the spinner table Advancing / retreating means for advancing / retreating the object to be cleaned, and a load meter for measuring the load of the cleaning member contacting the object to be cleaned by the advancing / retreating means and sending the load to the control means, the control means comprising: , Spinner cleaning apparatus characterized by cleaning member controls the 該進 withdrawal means so as to press the object to be cleaned with a predetermined load set in advance is provided.

好ましくは、前記進退手段は、該洗浄部材が先端に装着されたピストンと、該ピストンを上下動するシリンダと、該シリンダにエアーを供給するエアー供給源に連通したエアー供給経路と、該エアー供給経路に配設され該シリンダに供給するエアーの圧力を調整する圧力調整手段と、を含み、該制御手段は、該荷重計の測定結果が予め設定した荷重値となるように該圧力調整手段を制御する。   Preferably, the advancing / retreating means includes a piston having the cleaning member mounted at a tip thereof, a cylinder that moves the piston up and down, an air supply path that communicates with an air supply source that supplies air to the cylinder, and the air supply Pressure adjusting means for adjusting the pressure of the air supplied to the cylinder disposed in the path, and the control means controls the pressure adjusting means so that the measurement result of the load meter becomes a preset load value. Control.

好ましくは、前記スピンナテーブルは、被洗浄物の径方向に移動して被洗浄物の外周縁を保持すると共に保持した被洗浄物の下方に空間を形成する3個以上の外周縁保持部材を備え、該洗浄液供給手段は、該スピンナテーブルに保持された被洗浄物の表面側と裏面側とに洗浄液を供給する。   Preferably, the spinner table includes three or more outer periphery holding members that move in the radial direction of the object to be cleaned to hold the outer periphery of the object to be cleaned and form a space below the object to be cleaned. The cleaning liquid supply means supplies the cleaning liquid to the front surface side and the back surface side of the object to be cleaned held by the spinner table.

本発明のスピンナ洗浄装置によると、洗浄液供給手段から洗浄液を供給しつつ洗浄部材が予め設定した所定の荷重で被洗浄物を押圧しながら揺動手段により揺動されるため、反った被洗浄物でも表面全体を均一に効率よく洗浄することができる。   According to the spinner cleaning apparatus of the present invention, the cleaning member is swung by the swinging means while pressing the object to be cleaned with a predetermined load while supplying the cleaning liquid from the cleaning liquid supply means. But the entire surface can be cleaned uniformly and efficiently.

本発明実施形態のスピンナ洗浄装置を具備した切削装置の斜視図である。It is a perspective view of a cutting device provided with a spinner cleaning device of an embodiment of the present invention. 本発明実施形態に係るスピンナ洗浄装置の斜視図である。1 is a perspective view of a spinner cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention. 洗浄部材の取り付け構造を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the attachment structure of a cleaning member. 洗浄部材の押圧力の調整手段を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the adjustment means of the pressing force of a cleaning member. 実施形態に係るスピンナ洗浄装置の平面図である。It is a top view of the spinner cleaning device concerning an embodiment. 洗浄液の噴射方法を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the injection method of a washing | cleaning liquid.

以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1を参照すると、本発明実施形態に係るスピンナ洗浄装置を具備した切削装置の斜視図が示されている。切削装置2は、ウエーハの外周縁に形成された面取り部を除去するエッジトリミング用の切削装置又はハーフカット用の切削装置である。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Referring to FIG. 1, a perspective view of a cutting device provided with a spinner cleaning device according to an embodiment of the present invention is shown. The cutting device 2 is a cutting device for edge trimming or a cutting device for half cut that removes a chamfered portion formed on the outer peripheral edge of a wafer.

切削装置2は基台4を備えている。基台4の前方の角部には、矩形状の開口4aが形成されており、この開口4a内には、カセット載置台6が昇降可能に設置されている。カセット載置台6の上面には、複数のウエーハを収容する直方体状のカセット8が載置される。なお、図1では、説明の便宜上、カセット8の輪郭のみを示している。   The cutting device 2 includes a base 4. A rectangular opening 4a is formed at the front corner of the base 4, and a cassette mounting table 6 is installed in the opening 4a so as to be movable up and down. On the upper surface of the cassette mounting table 6, a rectangular parallelepiped cassette 8 that houses a plurality of wafers is mounted. In FIG. 1, only the outline of the cassette 8 is shown for convenience of explanation.

カセット載置台6の側方には、X軸方向(前後方向、加工送り方向)に長い矩形状の開口4bが形成されている。この開口4b内には、X軸移動テーブル10、X軸移動テーブル10をX軸方向に移動させるX軸移動機構(加工送り手段)(不図示)、及びX軸移動機構を覆う防塵防滴カバー12が設けられている。   A rectangular opening 4b that is long in the X-axis direction (front-rear direction and processing feed direction) is formed on the side of the cassette mounting table 6. In this opening 4b, an X-axis moving table 10, an X-axis moving mechanism (processing feed means) (not shown) for moving the X-axis moving table 10 in the X-axis direction, and a dustproof and splash-proof cover that covers the X-axis moving mechanism 12 is provided.

X軸移動機構は、X軸方向に平行な一対のX軸ガイドレール(不図示)を備えており、X軸ガイドレールには、X軸移動テーブル10がスライド可能に設置されている。X軸移動テーブル10の下面側には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、X軸ガイドレールと平行なX軸ボールねじ(不図示)が螺合されている。   The X-axis movement mechanism includes a pair of X-axis guide rails (not shown) parallel to the X-axis direction, and the X-axis movement table 10 is slidably installed on the X-axis guide rails. A nut portion (not shown) is provided on the lower surface side of the X-axis moving table 10, and an X-axis ball screw (not shown) parallel to the X-axis guide rail is screwed to the nut portion. .

X軸ボールねじの一端部には、X軸パルスモータ(不図示)が連結されている。X軸パルスモータでX軸ボールねじを回転させることで、X軸移動テーブル10は、X軸ガイドレールに沿ってX軸方向に移動する。   An X-axis pulse motor (not shown) is connected to one end of the X-axis ball screw. By rotating the X-axis ball screw with the X-axis pulse motor, the X-axis moving table 10 moves in the X-axis direction along the X-axis guide rail.

X軸移動テーブル10の上方には、ウエーハ等の被加工物(不図示)を吸引保持するチャックテーブル14が設けられている。このチャックテーブル14は、モータ等の回転駆動源(不図示)と連結されており、Z軸方向(上下方向、鉛直方向)に平行な回転軸の周りに回転する。   A chuck table 14 for sucking and holding a workpiece (not shown) such as a wafer is provided above the X-axis moving table 10. The chuck table 14 is connected to a rotation drive source (not shown) such as a motor, and rotates around a rotation axis parallel to the Z-axis direction (vertical direction, vertical direction).

チャックテーブル14の表面(上面)は、被加工物を吸引保持する保持面14aとなっている。この保持面14aは、チャックテーブル14の内部に形成された流路(不図示)を通じて吸引源(不図示)と接続されている。   The surface (upper surface) of the chuck table 14 is a holding surface 14a for sucking and holding the workpiece. The holding surface 14 a is connected to a suction source (not shown) through a flow path (not shown) formed inside the chuck table 14.

基台4の上面には、切削ユニット(切削手段)18a,18bを支持する門型の支持構造20が、開口4bを跨ぐように配置されている。支持構造20の前面上部には、切削ユニット18a,18bをY軸方向(左右方向、割り出し送り方向)及びZ軸方向に移動させる2組の切削ユニット移動機構22が設けられている。   On the upper surface of the base 4, a gate-type support structure 20 that supports the cutting units (cutting means) 18a and 18b is disposed so as to straddle the opening 4b. Two sets of cutting unit moving mechanisms 22 for moving the cutting units 18a and 18b in the Y-axis direction (left-right direction and index feed direction) and the Z-axis direction are provided on the upper front surface of the support structure 20.

各切削ユニット移動機構22は、支持構造20の前面に配置されY軸方向に平行な一対のY軸ガイドレール24を共通に備えている。Y軸ガイドレール24には、各切削ユニット移動機構22を構成するY軸移動プレート26がスライド可能に設置されている。   Each cutting unit moving mechanism 22 includes a pair of Y-axis guide rails 24 arranged in front of the support structure 20 and parallel to the Y-axis direction. On the Y-axis guide rail 24, a Y-axis moving plate 26 constituting each cutting unit moving mechanism 22 is slidably installed.

各Y軸移動プレート26の裏面側(後面側)には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、Y軸ガイドレール24と平行なY軸ボールねじ28がそれぞれ螺合されている。   A nut portion (not shown) is provided on the rear surface side (rear surface side) of each Y-axis moving plate 26, and a Y-axis ball screw 28 parallel to the Y-axis guide rail 24 is screwed to each nut portion. Are combined.

各Y軸ボールねじ28の一端部には、Y軸パルスモータ30が連結されている。Y軸パルスモータ30でY軸ボールねじ28を回転させれば、Y軸移動プレート26は、Y軸ガイドレール24に沿ってY軸方向に移動する。   A Y-axis pulse motor 30 is connected to one end of each Y-axis ball screw 28. If the Y-axis ball screw 28 is rotated by the Y-axis pulse motor 30, the Y-axis moving plate 26 moves in the Y-axis direction along the Y-axis guide rail 24.

各Y軸移動プレート26の表面(前面)には、Z軸方向に平行な一対のZ軸ガイドレール32が設けられている。Z軸ガイドレール32には、Z軸移動プレート34がスライド可能に設置されている。   A pair of Z-axis guide rails 32 parallel to the Z-axis direction are provided on the surface (front surface) of each Y-axis moving plate 26. A Z-axis moving plate 34 is slidably installed on the Z-axis guide rail 32.

各Z軸移動プレート34の裏面側(後面側)には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、Z軸ガイドレール32と平行なZ軸ボールねじ36がそれぞれ螺合されている。   A nut portion (not shown) is provided on the back surface side (rear surface side) of each Z-axis moving plate 34, and a Z-axis ball screw 36 parallel to the Z-axis guide rail 32 is screwed to each nut portion. Are combined.

各Z軸ボールねじ36の一端部には、Z軸パルスモータ38が連結されている。Z軸パルスモータ38でZ軸ボールねじ36を回転させれば、Z軸移動プレート34は、Z軸ガイドレール32に沿ってZ軸方向に移動する。   A Z-axis pulse motor 38 is connected to one end of each Z-axis ball screw 36. When the Z-axis ball screw 36 is rotated by the Z-axis pulse motor 38, the Z-axis moving plate 34 moves in the Z-axis direction along the Z-axis guide rail 32.

各Z軸移動プレート34の下部には、被加工物を切削する切削ユニット18a,18bが設けられている。また、切削ユニット18aと隣接する位置には、被加工物の上面側を撮像するカメラ(撮像手段)40が設置されている。   Cutting units 18 a and 18 b for cutting a workpiece are provided at the lower part of each Z-axis moving plate 34. A camera (imaging means) 40 that captures an image of the upper surface side of the workpiece is installed at a position adjacent to the cutting unit 18a.

切削ユニット18a,18bは、それぞれ、Y軸方向に平行な回転軸を構成するスピンドルの一端側に装着された円環状の切削ブレード44を備えている。スピンドルの他端側にはモータ等の回転駆動源(不図示)が連結されており、スピンドルに装着された切削ブレード44を回転させる。   Each of the cutting units 18a and 18b includes an annular cutting blade 44 attached to one end side of a spindle that constitutes a rotation axis parallel to the Y-axis direction. A rotational drive source (not shown) such as a motor is connected to the other end of the spindle, and rotates the cutting blade 44 mounted on the spindle.

開口4bに対して開口4aと反対側の位置には、円形状の開口4cが形成されている。開口4c内には、切削後の被加工物を洗浄するスピンナ洗浄装置(スピンナ洗浄手段)46が設けられている。   A circular opening 4c is formed at a position opposite to the opening 4a with respect to the opening 4b. A spinner cleaning device (spinner cleaning means) 46 for cleaning the workpiece after cutting is provided in the opening 4c.

図2を参照すると、スピンナ洗浄装置46の斜視図が示されている。スピンナ洗浄装置46は被加工物を保持するスピンナテーブル48を備えており、スピンナテーブル48はモータ50により回転可能に配設されている。   Referring to FIG. 2, a perspective view of the spinner cleaning device 46 is shown. The spinner cleaning device 46 includes a spinner table 48 that holds a workpiece, and the spinner table 48 is rotatably arranged by a motor 50.

モータ50は、エアーシリンダ54及びピストン56から構成される昇降機構52により上下に移動され、スピンナテーブル48をウエーハ等の被洗浄物をスピンナテーブル上に載置する上昇位置と、被洗浄物をスピン洗浄する下降位置との間に位置づけることができる。   The motor 50 is moved up and down by an elevating mechanism 52 composed of an air cylinder 54 and a piston 56, and a spinner table 48 is moved up to place an object to be cleaned such as a wafer on the spinner table, and the object to be cleaned is spun. It can be positioned between the lowered position to be cleaned.

スピンナテーブル48の外周には3個の外周縁保持部材58が配設されている。各外周縁保持部材58はスピンナテーブル48の半径方向に伸長するように形成された移動溝60に沿って移動可能であり、被洗浄物の直径に応じて外周縁保持部材58を移動して外周縁保持部材58の切欠き59が被洗浄物の外周縁に係合して、被洗浄物をスピンナテーブル48の表面48aから浮いた状態で保持する。   Three outer peripheral edge holding members 58 are disposed on the outer periphery of the spinner table 48. Each outer peripheral edge holding member 58 is movable along a moving groove 60 formed so as to extend in the radial direction of the spinner table 48, and the outer peripheral edge holding member 58 is moved in accordance with the diameter of the object to be cleaned. The notch 59 of the peripheral holding member 58 engages with the outer peripheral edge of the object to be cleaned, and holds the object to be cleaned from the surface 48 a of the spinner table 48.

スピンナテーブル48の表面48aの中心部分には被洗浄物の裏面側に洗浄液を噴射する裏面側洗浄液噴射ノズル62が形成されている。64は洗浄手段であり、洗浄手段64のモータ66がスピンナテーブル48の側面に取り付けられている。   At the center of the surface 48a of the spinner table 48, a back surface side cleaning liquid injection nozzle 62 that injects the cleaning liquid onto the back surface side of the object to be cleaned is formed. Reference numeral 64 denotes cleaning means, and a motor 66 of the cleaning means 64 is attached to the side surface of the spinner table 48.

モータ66の出力軸66aには円筒状部材68が連結されており、この円筒状部材68に洗浄アーム70の基端部が固定されている。モータ66、円筒状部材68及び洗浄アーム70で揺動手段を構成する。   A cylindrical member 68 is connected to the output shaft 66 a of the motor 66, and the base end portion of the cleaning arm 70 is fixed to the cylindrical member 68. The motor 66, the cylindrical member 68, and the cleaning arm 70 constitute swing means.

洗浄アーム70の先端部には、図3に示すように、エアーシリンダ72が取り付けられており、エアーシリンダ72のピストン74の先端には荷重計76を介して洗浄パッド等の洗浄部材78が取り付けられている。エアーシリンダ72の側面には洗浄液供給源88(図6参照)に接続された表面側洗浄液噴射ノズル80が取り付けられている。   As shown in FIG. 3, an air cylinder 72 is attached to the tip of the cleaning arm 70, and a cleaning member 78 such as a cleaning pad is attached to the tip of the piston 74 of the air cylinder 72 via a load meter 76. It has been. A surface-side cleaning liquid jet nozzle 80 connected to a cleaning liquid supply source 88 (see FIG. 6) is attached to the side surface of the air cylinder 72.

図4に示すように、エアーシリンダ72は、エアー供給経路81を介してエアー供給源82に連通しており、エアー供給経路81の途中には圧力調整手段84が介装されている。荷重計76は制御手段86に接続されており、制御手段86は荷重計76の測定結果が予め設定した荷重値となるように圧力調整手段84を制御する。   As shown in FIG. 4, the air cylinder 72 communicates with an air supply source 82 via an air supply path 81, and a pressure adjusting means 84 is interposed in the air supply path 81. The load meter 76 is connected to the control unit 86, and the control unit 86 controls the pressure adjusting unit 84 so that the measurement result of the load meter 76 becomes a preset load value.

従って、被洗浄物11に反りがある場合にも、洗浄部材78は所定の荷重値で被洗浄物11の表面に押し付けられて被洗浄物11の表面を洗浄する。洗浄部材78が先端に装着されたピストン74と、ピストン74を上下動するエアーシリンダ72と、エアーシリンダ72にエアーを供給するエアー供給経路81と、エアー供給源82と、エアー供給経路81に配設された圧力調整手段84とで、洗浄部材78をスピンナテーブル48に保持された被洗浄物11に対して進退させる進退手段を構成する。   Accordingly, even when the object to be cleaned 11 is warped, the cleaning member 78 is pressed against the surface of the object to be cleaned 11 with a predetermined load value to clean the surface of the object to be cleaned 11. A piston 74 with a cleaning member 78 attached to the tip, an air cylinder 72 that moves the piston 74 up and down, an air supply path 81 that supplies air to the air cylinder 72, an air supply source 82, and an air supply path 81 The provided pressure adjusting means 84 constitutes an advancing / retreating means for advancing and retracting the cleaning member 78 with respect to the object to be cleaned 11 held by the spinner table 48.

図5に示すように、被洗浄物11を保持したスピンナテーブル48を矢印R1方向に回転させると共に、表面側洗浄液噴射ノズル80から洗浄液を噴射し、更に洗浄部材78を被洗浄物11の表面に当接させて、洗浄部材78を矢印R2で示すようにスピンナテーブル48の回転中心を通るようにアーム70で揺動させながら被洗浄物11を洗浄する。   As shown in FIG. 5, the spinner table 48 holding the object 11 to be cleaned is rotated in the direction of the arrow R 1, the cleaning liquid is sprayed from the surface side cleaning liquid spray nozzle 80, and the cleaning member 78 is further applied to the surface of the object 11 to be cleaned. The object to be cleaned 11 is cleaned while being swung by the arm 70 so that the cleaning member 78 passes through the center of rotation of the spinner table 48 as shown by an arrow R2 by being brought into contact.

被洗浄物11の洗浄時には、図6に示すように、外周縁保持部材58の切欠き59が被洗浄物11の外周縁に係合して被洗浄物11を下方に空間を形成するように保持しているため、被洗浄物11の表面に表面側洗浄液噴射ノズル80から洗浄液を噴射するのに加えて、スピンナテーブル48の中心部分に形成された裏面側洗浄液噴射ノズル62から被洗浄物11の裏面にも洗浄液を噴射して、被洗浄物11の表裏両面を一度に洗浄することができる。   When cleaning the object 11 to be cleaned, as shown in FIG. 6, the notch 59 of the outer peripheral edge holding member 58 engages with the outer periphery of the object 11 to form a space below the object 11 to be cleaned. Therefore, in addition to injecting the cleaning liquid from the front surface side cleaning liquid spray nozzle 80 onto the surface of the target object 11 to be cleaned, the back surface side cleaning liquid spray nozzle 62 formed in the central portion of the spinner table 48 is used to clean the target object 11. The cleaning liquid can also be sprayed onto the back surface of the substrate 11 to clean both the front and back surfaces of the object 11 to be cleaned at a time.

被洗浄物11の洗浄中には、洗浄部材78が予め設定した所定の荷重で被洗浄物11を押圧しながら洗浄するため、反りをもった被洗浄物でも表面全体を均一に効率よく洗浄することができる。   During the cleaning of the object 11 to be cleaned, the cleaning member 78 performs cleaning while pressing the object 11 to be cleaned with a predetermined load set in advance, so that the entire surface of the object to be cleaned is evenly and efficiently cleaned. be able to.

上述した実施形態では、本発明のスピンナ洗浄装置を切削装置に適用した例について説明したが、本発明のスピンナ洗浄装置はこれに限定されるものではなく、研削装置、研磨装置等の他の加工装置にも同様に適用することができる。   In the above-described embodiment, the example in which the spinner cleaning apparatus of the present invention is applied to a cutting apparatus has been described. However, the spinner cleaning apparatus of the present invention is not limited to this, and other processes such as a grinding apparatus and a polishing apparatus are performed. The same applies to the device.

2 切削装置
14 チャックテーブル
18a,18b 切削ユニット
46 スピンナ洗浄装置
48 スピンナテーブル
58 外周縁保持部材
62 裏面側洗浄液噴射ノズル
64 洗浄手段
66 モータ
70 洗浄アーム
72 エアーシリンダ
74 ピストン
76 荷重計
78 洗浄部材
80 表面側洗浄液噴射ノズル
81 エアー供給経路
84 圧力調整手段
2 Cutting device 14 Chuck table 18a, 18b Cutting unit 46 Spinner cleaning device 48 Spinner table 58 Outer peripheral edge holding member 62 Back surface side cleaning liquid jet nozzle 64 Cleaning means 66 Motor 70 Cleaning arm 72 Air cylinder 74 Piston 76 Load meter 78 Cleaning member 80 Surface Side cleaning liquid injection nozzle 81 Air supply path 84 Pressure adjusting means

Claims (3)

被洗浄物を保持して回転可能なスピンナテーブルと、該スピンナテーブルに保持された被洗浄物に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、被洗浄物の表面を洗浄する洗浄手段と、該スピンナテーブル、該洗浄液供給手段及び該洗浄手段を制御する制御手段と、を備えたスピンナ洗浄装置であって、
該洗浄手段は、洗浄アームと、該洗浄アームの先端部分に配設された被洗浄物に接触して洗浄物を洗浄する洗浄部材と、該洗浄部材が該スピンナテーブルの回転中心を通るように該洗浄アームを揺動させる揺動手段と、該洗浄部材を該スピンナテーブルに保持された被洗浄物に対して進退させる進退手段と、該洗浄部材が該進退手段によって被洗浄物に接触する荷重を測定して該制御手段に送る荷重計と、を含み、
該制御手段は、該洗浄部材が予め設定した所定の荷重で被洗浄物を押圧するように該進退手段を制御することを特徴とするスピンナ洗浄装置。
A spinner table that can rotate while holding an object to be cleaned, a cleaning liquid supply unit that supplies a cleaning liquid to the object to be cleaned held on the spinner table, a cleaning unit that cleans the surface of the object to be cleaned, the spinner table, A spinner cleaning apparatus comprising: the cleaning liquid supply means; and a control means for controlling the cleaning means,
The cleaning means includes a cleaning arm, a cleaning member for cleaning the cleaning object in contact with an object to be cleaned disposed at a tip portion of the cleaning arm, and the cleaning member passing through the rotation center of the spinner table. Swing means for swinging the cleaning arm, advance / retreat means for moving the cleaning member forward / backward with respect to the object to be cleaned held by the spinner table, and load by which the cleaning member contacts the object to be cleaned by the advance / retreat means A load meter that measures and sends to the control means,
The spinner cleaning apparatus, wherein the control means controls the advance / retreat means so that the cleaning member presses the object to be cleaned with a predetermined load set in advance.
前記進退手段は、該洗浄部材が先端に装着されたピストンと、該ピストンを上下動するシリンダと、該シリンダにエアーを供給するエアー供給源に連通したエアー供給経路と、該エアー供給経路に配設され該シリンダに供給するエアーの圧力を調整する圧力調整手段と、を含み、
該制御手段は、該荷重計の測定結果が予め設定した荷重値となるように該圧力調整手段を制御することを特徴とする請求項1記載のスピンナ洗浄装置。
The advancing / retreating means is disposed in the air supply path, a piston having the cleaning member attached to the tip thereof, a cylinder that moves the piston up and down, an air supply path that communicates with an air supply source that supplies air to the cylinder, and the air supply path. And pressure adjusting means for adjusting the pressure of air supplied to the cylinder,
2. The spinner cleaning apparatus according to claim 1, wherein the control means controls the pressure adjusting means so that a measurement result of the load meter becomes a preset load value.
前記スピンナテーブルは、被洗浄物の径方向に移動して被洗浄物の外周縁を保持すると共に保持した被洗浄物の下方に空間を形成する3個以上の外周縁保持部材を備え、
該洗浄液供給手段は、該スピンナテーブルに保持された被洗浄物の表面側と裏面側とに洗浄液を供給することを特徴とする請求項1記載のスピンナ洗浄装置。
The spinner table includes three or more outer periphery holding members that move in the radial direction of the object to be cleaned to hold the outer periphery of the object to be cleaned and form a space below the object to be cleaned.
2. The spinner cleaning apparatus according to claim 1, wherein the cleaning liquid supply means supplies the cleaning liquid to the front surface side and the back surface side of the object to be cleaned held by the spinner table.
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