JP2016125867A - 穀粒品位判別装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の穀粒品位判別装置は、基準板が、移送部と異なる位置に配設され、
光学ブロックが、穀粒に光を照射し、前記穀粒からの反射光及び/又は透過光を受光する第1の位置と、前記基準板に光を照射し、前記基準板からの反射光及び/又は透過光を受光する第2の位置の間を移動できるように配設されることを特徴とする。
【選択図】図4
Description
そして、前記品位判別部は、前記光学検出部で取得される前記受光信号(受光量)に基づいて前記穀粒の品位を判別する。
そのため、特許文献1,2に記載された穀粒品位判別装置は、前記回転円盤の前記凹部の一部に基準板が装着されており、前記基準板に前記光源から光を照射し、該基準板からの反射光及び/又は透過光を前記センサで受光し、該センサの受光量と予め設定される基準光量との比較に基づいて、前記センサの受光量を補正するための補正係数を求めている。
穀粒を移送する移送部と、
前記移送部で移送される穀粒に光を照射する光源、前記光源から照射された光の前記穀粒からの反射光及び/又は透過光を受光するセンサ、を有する光学ブロックと、
前記センサの受光量に基づいて前記穀粒の品位を判別する品位判別部と、
前記センサの受光量を補正するための基準板と、
を備える穀粒品位判別装置であって、
前記基準板は、前記移送部と異なる位置に配設され、
前記光学ブロックは、前記光源が前記穀粒に光を照射し、前記センサが前記穀粒からの反射光及び/又は透過光を受光する第1の位置と、前記光源が前記基準板に光を照射し、前記センサが前記基準板からの反射光及び/又は透過光を受光する第2の位置の間を移動できるように配設されることを特徴とする。
前記移送部が、穀粒を移送する回転円盤を有し、
前記基準板が、前記回転円盤と異なる位置に配設されることが好ましい。
前記光学ブロックが、前記回転円盤の回転軸と平行な軸を中心に回動移動可能に配設されることが好ましい。
前記光学ブロックが、前記第1の位置と前記第2の位置に直線移動及び/又は回動移動可能に配設されることが好ましい。
前記光学ブロックが、前記第1の位置における前記光源と前記穀粒との距離と、前記第2の位置における前記光源と前記基準板との距離が等しくなるように配設されることが好ましい。
前記光学ブロックが、前記第1の位置における前記センサと前記穀粒との距離と、前記第2の位置における前記センサと前記基準板との距離が等しくなるように配設されることが好ましい。
前記センサが受光する前記基準板からの反射光及び/又は透過光の受光量と予め設定される基準光量に基づいて、前記センサの受光量を補正する補正係数を赤色光・緑色光及び青色光のそれぞれについて求めることが好ましい。
前記基準板が、前記移送部と異なる位置に配設され、
前記光学ブロックが、前記光源が前記穀粒に光を照射し、前記センサが前記穀粒からの反射光及び/又は透過光を受光する第1の位置と、前記光源が前記基準板に光を照射し、前記センサが前記基準板からの反射光及び/又は透過光を受光する第2の位置の間を移動できるように配設されるので、
移送部に供給される穀粒等の接触により基準板に傷や汚れが発生することがなく、基準板が破損した場合でも移送部に供給される穀粒に欠けらが混入することがない。よって、食品である穀粒に前記欠けらが混入することを防ぐことができる。
さらに、本発明の穀粒品位判別装置は、基準板を交換する頻度が格段に減少するために、基準板の個体差の影響を受けにくく、穀粒の品位判別精度が安定する。
前記移送部が、穀粒を移送する回転円盤を有し、
前記基準板が、前記回転円盤と異なる位置に配設されてなり、
前記光学ブロックが、前記回転円盤の回転軸と平行な軸を中心に回動移動可能に配設されることとすれば、
前記光学ブロックを前記回転円盤の回転面に対し平行に移動させることができるため、前記第1の位置における前記光学ブロックと穀粒及び前記第2の位置における前記光学ブロックと前記基準板の位置関係を容易に同じものとすることができる。よって、穀粒と基準板とで、光学ブロックとの位置に関する測定条件も同一にできるので、補正に必要な適切な受光信号を取得できる。
前記光学ブロックが、前記第1の位置と前記第2の位置の間を直線移動及び/又は回動移動可能に配設されることとすれば、前記第1の位置における前記光学ブロックと穀粒及び前記第2の位置における前記光学ブロックと前記基準板の位置関係を同じものとすることができる。
前記光学ブロックが、前記第1の位置における前記光源と前記穀粒との距離と、前記第2の位置における前記光源と前記基準板との距離が等しくなるように配設されることとすれば、前記センサの受光量を補正するための補正係数を適切に求めることができる。
前記光学ブロックが、前記第1の位置における前記センサと前記穀粒との距離と、前記第2の位置における前記センサと前記基準板との距離が等しくなるように配設されることとすれば、前記センサの受光量を補正するための補正係数を適切に求めることができる。
前記センサが受光する前記基準板からの反射光及び/又は透過光の受光量と予め設定される基準光量に基づいて、前記センサの受光量を補正する補正係数を赤色光・緑色光及び青色光のそれぞれについて求めることとすれば、穀粒の品位判別精度が向上する。
図1乃至図3は、本発明の実施の形態における穀粒品位判別装置の概略説明図であって、図1は移送部及び光学ブロックの概略平面図、図2は図1の移送部及び光学ブロックの概略右側面図、図3は図1の移送部及び光学ブロックの概略正面図を示す。
前記基準板81は、前記移送部2における前記円盤21と離れた異なる位置に配設される保持部材82に装着されている。
ここでは、前記基準板81として、例えば白色と乳白色のように濃度等の異なる2枚を用いるが、3枚以上を用いることもできる。
本発明の実施の形態において、前記光学ブロック3は、前記モータ95の回転駆動により、前記回動部材92を介して、円盤21上の穀粒測定位置Aと、前記円盤21と離れた異なる位置の基準板位置Bの間を移動することができる。
さらに、本発明の実施の形態における穀粒品位判別装置は、基準板を交換する頻度が格段に減少するために、基準板の個体差の影響を受けにくく、穀粒の品位判別精度が安定する。
したがって、本発明の実施の形態における穀粒品位判別装置によれば、前記穀粒測定位置Aにおける前記光学ブロック3と穀粒及び前記基準板位置Bにおける前記光学ブロック3と基準板81の位置関係を容易に同じものとすることができる。
前記光学ブロック3は、光源31〜35、センサ41,42、集光レンズ47及びダイクロイックショートパスフィルタ51を有する。
また、前記光源は、穀粒Gの裏面側に配設される青色光源(B光源)31、緑色光源(G光源)32、及び赤色・緑色光源(RG光源)33を含む。前記青色光源31は、穀粒の平面形状を特定するために必要な青色光を照射する。前記各光源には、それぞれ赤色・緑色・青色の各LEDを用いることが好ましいが、その他の照明を用いることもできる。
また、前記第2受光センサ42は、前記穀粒Gの裏面側からの反射光及び/又は透過光を受光する第2受光領域42a、及び前記穀粒Gの側面側からの反射光及び/又は透過光を受光する第3受光領域42bを含む。
ここで、前記各受光センサにはリニアイメージセンサを用いることが好ましいが、その他の受光センサを用いることもできる。
また、第2受光センサ42の第2受光領域42aは、前記穀粒Gの裏面側からの反射光及び/又は透過光を受光し、該第2受光センサ42の第3受光領域42bは、前記穀粒G又は基準板81の側面側からの反射光及び/又は透過光を受光する。
その場合、各光学ブロックをそれぞれ移動可能に配設すればよい。また、基準板は、複数の光学ブロックに対しそれぞれ配設してもよく、複数の光学ブロックに対し共通に配設してもよい。
2 移送部
21 円盤
22 凹部
23 底板
24 回転軸
3 光学ブロック
31〜35 光源
41,42 センサ(受光センサ)
47 集光レンズ
51 ダイクロイックショートパスフィルタ
61 反射材
7 品位判別部
81 基準板
82 保持部材
91 軸
92 回動部材
93 歯車
95 モータ
96 歯車
A 穀粒測定位置
B 基準板位置
G 穀粒
Claims (7)
- 穀粒を移送する移送部と、
前記移送部で移送される穀粒に光を照射する光源、前記光源から照射された光の前記穀粒からの反射光及び/又は透過光を受光するセンサ、を有する光学ブロックと、
前記センサの受光量に基づいて前記穀粒の品位を判別する品位判別部と、
前記センサの受光量を補正するための基準板と、
を備える穀粒品位判別装置であって、
前記基準板は、前記移送部と異なる位置に配設され、
前記光学ブロックは、前記光源が前記穀粒に光を照射し、前記センサが前記穀粒からの反射光及び/又は透過光を受光する第1の位置と、前記光源が前記基準板に光を照射し、前記センサが前記基準板からの反射光及び/又は透過光を受光する第2の位置の間を移動できるように配設されることを特徴とする穀粒品位判別装置。 - 前記移送部は、穀粒を移送する回転円盤を有し、
前記基準板は、前記回転円盤と異なる位置に配設される請求項1記載の穀粒品位判別装置。 - 前記光学ブロックは、前記回転円盤の回転軸と平行な軸を中心に回動移動可能に配設される請求項2記載の穀粒品位判別装置。
- 前記光学ブロックは、前記第1の位置と前記第2の位置の間を直線移動及び/又は回動移動可能に配設される請求項1又は2記載の穀粒品位判別装置。
- 前記光学ブロックは、前記第1の位置における前記光源と前記穀粒との距離と、前記第2の位置における前記光源と前記基準板との距離が等しくなるように配設される請求項1乃至4のいずれかに記載の穀粒品位判別装置。
- 前記光学ブロックは、前記第1の位置における前記センサと前記穀粒との距離と、前記第2の位置における前記センサと前記基準板との距離が等しくなるように配設される請求項1乃至5のいずれかに記載の穀粒品位判別装置。
- 前記センサが受光する前記基準板からの反射光及び/又は透過光の受光量と予め設定される基準光量に基づいて、前記センサの受光量を補正する補正係数を赤色光・緑色光及び青色光のそれぞれについて求める請求項1乃至6のいずれかに記載の穀粒品位判別装置。
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Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61191944A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-26 | Kanebo Ltd | 粉粒体検査装置 |
JPH0590353U (ja) * | 1992-05-08 | 1993-12-10 | 静岡製機株式会社 | 円板に基準板を設けた品質判定機 |
JP2002202265A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Satake Corp | 米粒品位判別装置 |
JP2004132706A (ja) * | 2002-10-08 | 2004-04-30 | Arkray Inc | 分析方法、分析装置およびこれの製造方法 |
JP2004205463A (ja) * | 2002-12-26 | 2004-07-22 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光沢度測定装置、光沢度測定方法およびキャリブレーション方法 |
JP2005077221A (ja) * | 2003-08-29 | 2005-03-24 | Maki Mfg Co Ltd | 農産物の品質評価装置 |
JP2006200945A (ja) * | 2005-01-18 | 2006-08-03 | Satake Corp | 穀粒品位判別装置 |
JP2007322206A (ja) * | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Yokogawa Electric Corp | 濁度/濁色度測定器 |
JP2014036969A (ja) * | 2012-08-13 | 2014-02-27 | Amada Co Ltd | 加工機におけるワーク板厚検出装置および方法 |
JP2014157086A (ja) * | 2013-02-15 | 2014-08-28 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パターン検査装置 |
-
2014
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Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61191944A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-26 | Kanebo Ltd | 粉粒体検査装置 |
JPH0590353U (ja) * | 1992-05-08 | 1993-12-10 | 静岡製機株式会社 | 円板に基準板を設けた品質判定機 |
JP2002202265A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Satake Corp | 米粒品位判別装置 |
JP2004132706A (ja) * | 2002-10-08 | 2004-04-30 | Arkray Inc | 分析方法、分析装置およびこれの製造方法 |
JP2004205463A (ja) * | 2002-12-26 | 2004-07-22 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光沢度測定装置、光沢度測定方法およびキャリブレーション方法 |
JP2005077221A (ja) * | 2003-08-29 | 2005-03-24 | Maki Mfg Co Ltd | 農産物の品質評価装置 |
JP2006200945A (ja) * | 2005-01-18 | 2006-08-03 | Satake Corp | 穀粒品位判別装置 |
JP2007322206A (ja) * | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Yokogawa Electric Corp | 濁度/濁色度測定器 |
JP2014036969A (ja) * | 2012-08-13 | 2014-02-27 | Amada Co Ltd | 加工機におけるワーク板厚検出装置および方法 |
JP2014157086A (ja) * | 2013-02-15 | 2014-08-28 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パターン検査装置 |
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