JP2016123722A - 検査装置および検査装置の制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】被測定物が装置の光路長調整範囲の範囲外であっても、コントラストの良い断層像を容易に得る。
【解決手段】測定光を照射した被検査物からの戻り光と測定光に対応する参照光とを合波した合波光に基づいて被検査物の断層画像を取得する断層画像取得手段と、被検査物に対する測定光の合焦状態を得るために合焦部材の位置を変更する合焦位置変更手段と、合焦部材を有する光学ヘッドと被検査物との相対位置を変化させて位置合わせを行う位置合わせ手段と、測定光と参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段と、を有する眼科装置において、合焦位置変更手段による合焦部材の位置変更範囲の内での位置変更にて合焦状態が得られるか否かを判断する判断手段と、判断手段の判断結果に応じて位置合わせ手段を動作させる制御手段と、を配する。
【選択図】図３

Description

本発明は、眼科診療等に用いられる検査装置および当該検査装置の制御方法に関する。

現在、検査装置の一態様である眼科用機器として、光学機器を用いた様々なものが使用されている。例えば、眼を観察する光学機器として、前眼部撮影機、眼底カメラ、共焦点レーザ走査検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ： ＳＬＯ）、等様々な機器が使用されている。

中でも、光干渉断層撮像装置（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ、以下ＯＣＴ装置と記す）は、試料の断層像を高解像度に得る装置であり、眼科用機器として網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつある。該ＯＣＴ装置は、低コヒーレント光を被検査物に照射し且つ該被検査物上で走査する。そして、測定光の被検査物からの戻り光を干渉系により処理することで、被検査物の断層に関する輝度情報等を高感度に測定する。また、その輝度情報に基づいて、被検査物の断層像を高解像度に得ることができる。そのため、被検眼の眼底における網膜について高解像度の断層像を得ることが可能であることから、網膜の眼科診断等において広く利用されている。

ここで、ＯＣＴ断層画像の取得の手順について簡単に述べる。断層像取得時には、被検眼の前眼部観察像を見ながら、ジョイスティック等を用いて被検眼に対する光学系の位置合わせを行う。位置合わせ完了の後、ＳＬＯ眼底画像を取得し、このＳＯＬ眼底画像に基づいてＳＬＯ光学系に配置されたフォーカスレンズを移動させて合焦操作を行う。また、その際に、同時にＯＣＴ光学系の粗い合焦操作を行う。さらに、この後、ＯＣＴ断層画像に基づいて、参照ミラーを移動してコヒーレンスゲートを自動調整し且つＯＣＴ光学系の精密な自動合焦を行う。これらコヒーレンスゲートの調整及びＯＣＴ光学系の自動合焦では、複雑な制御或いは操作が必要になる。

このような操作に関して、特許文献１には、被検眼前眼部の画像に基づいて該前眼部の位置合わせをおこない、位置が適正であると判断された場合にはコヒーレンスゲートの位置調整を自動で行う装置が記載されている。

特許第５２２０１５５号公開公報

被検査物が眼の時、強度の近視或いは遠視の場合にはその視度の影響によって適切な合焦状態が得られないことがある。これまでの装置では、光路長変更手段の調整範囲内の視度である被検眼に対してはフォーカスレンズの合焦操作を全て自動で行えた。しかし、被検眼の視度が調整範囲から少しでも外れた場合、適切な合焦状態が選らず、コントラストの合ったＯＣＴ画像を取得することは困難であった。また、適当なコントラストが容易に得られないことから、検者への負担も大きかった。

本発明はこのような状況に鑑みて為されたものであって、被検眼の視度が眼科装置の調整範囲を超えた場合であっても、簡単に被検眼の適正な断層画像を取得可能とする検査装置及び該検査装置の制御方法の提供を目的とする。

上記課題を解決するために、本発明に係る検査装置は、
測定光を照射した被検査物の画像を取得する画像取得手段と、
前記被検査物に対する前記測定光の合焦状態を得るために合焦部材の位置を変更する合焦位置変更手段と、
前記合焦部材を有する光学ヘッドと前記被検査物との相対位置を変化させて位置合わせを行う位置合わせ手段と、
前記合焦位置変更手段による合焦部材の位置変更範囲の内での位置変更にて前記合焦状態が得られるか否かを判断する判断手段と、
前記判断手段の判断結果に応じて、前記位置合わせ手段を動作させる制御手段と、を有することを特徴とする。

本発明によれば、簡単に適正な断層像を得ることができ、検者の負担を減らすことができる。

本発明の一実施形態に係る眼科システムについて、被検眼測定時にモニタに表示される測定画面を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る眼科装置の各構成を説明するための概略模式図である。 本発明の第１の実施形態における断層画像撮影のための操作を説明する制御のフローチャートである。 本発明の第２の実施形態における断層画像撮影のための操作を説明する制御のフローチャートである。

本発明に係る眼科システム又は装置は、コヒーレンスゲート位置の自動調整或いは変更が終了後の合焦位置の自動調整時に、通常の調整状態にある被検眼と光学系との位置関係ではフォーカスの調整範囲に入らない視度の被検眼の観察の場合対応するものである。本発明では、このような場合に、観察視野を優先するか断層像のコントラストを優先するかを選択できるようにしている。具体的には、断層像解像度を優先した場合には、被検眼と光学系との位置関係を変更し、自動で最適なコントラストが得られる位置へ光学系を移動させる。これにより、検者の操作の負担を減らすことができる。なお、本発明は眼科システム又は装置に限定されるものではなく、人体の皮膚等の被検査物を観察するための内視鏡等の医療システム又は装置に適用可能である。

なお、コヒーレンスゲートとは、ＯＣＴにおいて測定光の光路における参照光の光路長に対応する位置のことである。このため、後述する光路長差変更部により、測定光と参照光との光路長差を変更することにより、コヒーレンスゲートの位置を変更することができる。なお、光路長差変更部としては、参照ミラーの位置を光軸方向に移動する構成や、被検眼に対して装置を光軸方向に移動する構成等が考えられ、例えば、参照ミラーや装置に設けた移動ステージの駆動機構が例示できる。

（装置の概略構成）
本発明の一実施形態に係る眼科装置の概略構成について、眼科装置の側面図である図２（ａ）を用いて説明する。該眼科装置は、光学ヘッド９００、ステージ部９５０、ベース部９５１、パソコン９２５、表示部９２８、入力部９２９、及びあご台３２３を有する。

光学ヘッド９００は、被検眼の前眼部画像及び眼底についての２次元画像或いは断層画像を取得するための測定光学系である。該光学ヘッド９００は、図中ＸＹＺ方向にモータ等により移動するステージ部９５０即ち移動部を用いて、後述する分光器を内蔵するベース部９５１に対して移動することができる。また、ステージ部９５０の制御部を兼ねるパソコン９２５は、ステージ部の制御とともに断層画像の構成等を行う。ステージ部９５０は、これを制御する構成と共に、本実施形態において、後述する合焦レンズ等の合焦部材を有する光学ヘッド９００と被検眼１０７との相対位置を変化させて位置合わせを行う位置合わせ手段を構成する。パソコン９２５はハードディスク９２６を有し、該ハードディスク９２６は被検者情報記憶部を兼ね、断層像撮像用のプログラムなどを記憶する。

パソコン９２５は、モニタ等の表示部９２８及びキーボード、マウス等からなる入力部９２９に接続される。入力部９２９は、不図示の表示制御部への指示等も行う。表示部９２８は、該表示制御部からの指示に応じて、後述する測定画面等を表示画面上に表示するあご台３２３は、測定時において被検者がこれに対してあごと額と当接させることによって被検眼を固定する。

（測定光学系および分光器の構成）
次に、本実施形態に係る眼科装置の測定光学系および分光器の構成について図２（ｂ）を用いて説明する。

まず、光学ヘッド９００部の内部について説明する。被検者の被検眼１０７に対向して対物レンズ１３５−１が設置され、該対物レンズ１３５−１の光軸上には第１ダイクロイックミラー１３２−１及び第２ダイクロイックミラー１３２−２が配置される。被検眼１０７からの光路は、第１ダイクロイックミラー１３２−１によって、波長帯域に応じて前眼部観察用の光路３５３と、固視灯用の光路３５２及びＯＣＴ光学系の光路３５１とに分岐される。また、光路３５３に分岐後の光路は、第２ダイクロイックミラー１３２−２によって、波長帯域に応じて固視灯用の光路３５２とＯＣＴ光学系の光路３５１とに分岐される。光路３５２は、更に第３ダイクロイックミラー１３２−３によって眼底観察用のＣＣＤ１７２への光路と固視灯１９１への光路へと上記と同じく波長帯域ごとに分岐される。

第２ダイクロイックミラー１３２−２から第３ダイクロイックミラー１３２−３に至る光路３５２上には、合焦レンズ１３５−３及びレンズ１３５−４がこの順で配置される。合焦レンズ１３５−３は、固視灯および眼底観察用の合焦調整のため不図示のモータによって、光路３５２に沿った光軸方向に駆動される。

ＣＣＤ１７２は、不図示の眼底観察用照明光の波長、具体的には７８０ｎｍ付近に感度を持つものである。一方固視灯１９１は、可視光を発生して被検者の固視を促すものである。なお、眼底観察用の光学系は、走査型レーザ検眼鏡（ＳＬＯ：Ｓｃａｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈｌｍｏｓｃｏｐｅ）等の光学系により構成しても良い。

第１ダイクロイックミラー１３２−１による分岐後の光路３５３上には、レンズ１３５−２及び前眼観察用の赤外ＣＣＤ１１７がこの順で配置される。赤外ＣＣＤ１７１は、不図示の前眼観察用照明光の波長、具体的には９７０ｎｍ付近に感度を持つものである。また、光路３５３上には、不図示のイメージスプリットプリズムが配置されている。このイメージスプリットプリズムより得られる前眼部のスプリット像に基づいて、被検眼１０７に対する光学ヘッド９００部のＺ方向の距離を検出することができる。

光路３５１は前述の通りＯＣＴ光学系を成しており、被検眼１０７の眼底の断層画像を取得するためのものである。より具体的には、断層画像を形成するための干渉信号を得るものである。ＯＣＴ光学系は、測定光の光路に配置される光学部材、参照光の光路に配置される光学部材、光源１０１、光カップラー１３１、及び干渉光から干渉信号を得る分光器１８０を有する。当該ＯＣＴ光学系は、本実施形態において、測定光を照射した被検査物からの戻り光と、測定光に対応する参照光と、を合波した合波光に基づいて被検眼１０７の眼底の断層画像を取得する断層画像取得手段を構成する。

光源１０１から発せられた光は光ファイバー１３１−１介して光カップラー１３１に導かれてここで測定光として分離され、光ファイバー１３１−２を経て測定光の光路に至る。第２ダイクロイックミラー１３２−２に至る測定光の光路上にはＸＹスキャナ１３４、合焦レンズ１３５−５及びレンズ１３５−６が配置される。

ＸＹスキャナ１３４は、測定光を被検眼１０７の眼底上で走査するために用いられる。なお、ＸＹスキャナ１３４は一枚のミラーとして図示してあるが、ＸＹの２軸方向の走査を行うものであって実際には２枚のミラーが用いられる。合焦レンズ１３５−５は、ファイバー１３１−２から射出する光源１０１からの測定光を眼底上に合焦調整をする。このため、不図示のモータによって測定光の光路に沿ってその光軸上で駆動される。また、この合焦調整によって眼底からの反射或いは散乱光は、同時にファイバー１３１−２先端にスポット状に結像されて入射されることとなる。

次に、光源１０１からの光路と参照光学系の構成について説明する。光源１０１から発せられた光は、光カップラー１３１により参照光に分離され、光ファイバー１３１−３を経て参照光学系に至る。参照光学系には、該光ファイバー１３１−３側から、レンズ１３５−５、分散補償用ガラス１１５、及びミラー１３２−４が配置される。前述した光カプラー１３１には、光カプラーに接続されて一体化しているシングルモードの光ファイバー１３１−１〜４が接続されている。参照光路を経た１３５−７は光ファイバー１３１−４を経て分光器１８０に至る。これらの構成によってマイケルソン干渉計を構成している。

次に干渉光の生成について述べる。前述したように、光源１０１から射出された光は光ファイバー１３１−１を通り、光カプラー１３１を介して光ファイバー１３１−２側に導かれる測定光と光ファイバー１３１−３側に導かれる参照光とに分割される。測定光は前述のＯＣＴ光学系の光路３５１を通じ、観察対象である被検眼１０７の眼底に照射され、網膜による反射や散乱により同じ光路を通じて再び光カプラー１３１に到達する。

一方、参照光は光ファイバー１３１−３及びレンズ１３５−７を経て、測定光と参照光の分散を合わせるために挿入された分散補償ガラス１１５を介してミラー１３２−４に到達し、反射される。そして同じ光路を戻り、再び光カプラー１３１に到達する。光カプラー１３１によって、これら測定光と参照光とは合波されて干渉光（合波光とも呼ぶ）となる。ここで、測定光の光路長と参照光の光路長がほぼ同一となったときに干渉を生じる。

ミラー１３２−４は不図示のモータ及び駆動機構によって参照光の光路に沿った光軸方向に位置調整が可能に保持される。これにより、ミラー１３２−４の位置を動かして参照光の光路長を変化させ、被検眼１０７によって変わる測定光の光路長に参照光の光路長を合わせることが可能である。干渉光は光ファイバー１３１−４を介して分光器１８０に導かれる。

なお、本実施形態では、光ファイバー１３１−２中には測定光側の偏光調整部１３９−１が設けられている。また、光ファイバー１３１−３中には参照光側の偏光調整部１３９−２が設けられている。これらの偏光調整部は、光ファイバーをループ状に引き回した部分を幾つか持つ。このループ状の部分をファイバーの長手方向を中心として回動させてファイバーにねじりを加えることで、測定光と参照光の偏光状態を各々調整して合わせることが可能となる。本装置では、予め測定光と参照光の偏光状態が調整されて固定されている。

分光器１８０は、レンズ１３５−８、１３５−９、回折格子１８１、及びラインセンサ１８２から構成される。光ファイバー１３１−４から射出された干渉光はレンズ１３５−８を介して略平行光となった後、回折格子１８１で分光され、レンズ１３５−３によってラインセンサ１８２に結像される。ラインセンサ１８２により得られた該干渉光に基づく干渉信号はパソコン９２５に送られ、該パソコン９２５によりこの干渉信号を用いて断層画像が生成される。

次に、光源１０１の周辺について説明する。光源１０１は、代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ）である。該光源１０１から得られる光の中心波長は８５５ｎｍ、波長バンド幅は約１００ｎｍである。ここで、バンド幅は、得られる断層画像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメータである。また、光源の種類は、ここではＳＬＤを選択したが、低コヒーレント光が射出できればよく、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等も用いることができる。中心波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。また、中心波長は得られる断層画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましい。双方の理由から、本実施形態では用いる光の中心波長を８５５ｎｍとした。

なお、上述したように、本実施形態では干渉計としてマイケルソン干渉計を用いたが、マッハツェンダー干渉計を用いてもよい。測定光と参照光との光量差が比較的小さい場合には、分割部と合成部とが別々に設けられるマッハツェンダー干渉計よりも、分割部と合成部とが共通に設けられるマイケルソン干渉計を用いる方が望ましい。

（断層画像の取得方法）
続いて、断層画像の取得方法について説明する。不図示の制御部は、パソコン９２５からの指示に応じてＸＹスキャナ１３４を制御する。これにより、被検眼１０７の眼底における所望部位上で測定光を走査し、該部位の断層画像を取得することができる。具体的には、まず眼底上でＸ方向に測定光のスキャンを行い、眼底におけるＸ方向の撮像範囲から得られた所定の撮像本数の干渉光をラインセンサ１８２で結像させる。Ｘ方向のある位置で得られるラインセンサ１８２上の輝度分布は、ＦＦＴにより線状の輝度分布とされる。

ＦＦＴで得られた線状の輝度分布は、表示部９２８上に示す画像とするために、濃度あるいはカラー情報に変換される。この変換後に得られる画像を、Ａスキャン画像と呼ぶ。この複数のＡスキャン画像を並べた２次元の画像をＢスキャン画像と呼ぶ。１つのＢスキャン画像を構築するための複数のＡスキャン画像を撮像し、これを合成する。１つのＢスキャン画像を得た後、Ｙ方向のスキャン位置を移動させて再びＸ方向のスキャンを行うことにより、複数のＢスキャン画像が得られる。

検者は、表示部９２８に表示されるＢスキャン画像あるいは複数のＢスキャン画像から構築した３次元断層画像を見ることにより、被検眼を診断することができる。

（測定画面）
続いて、表示画面に表示される測定画面１０００について、図１を用いて説明する。測定画面１０００上には、画像を表示する前眼観察画面１１０１、眼底２次元像表示画面１２０１、及び断層画像表示画面１３０１が配置される。また各々の表示画面にはこれらの画像の所謂ピント、コントラスト等を調整して好適な画像を表示させるためのスライダ１１０３、１２０３、１３０２が配置される。

前眼観察画面１１０１には、前眼観察用ＣＣＤによって得られた被検眼１０７の前眼部の観察像が表示される。ここで、前眼観察画面１１０１に表示される観察像は、前眼観察系に設けられたイメージスプリットプリズムによって得られる前眼部のスプリット像１１０２である。該スプリット像１１０２は、前述したように光学ヘッド９００と被検眼１０７とのアライメントを行う際に利用する。

また、眼底２次元像表示画面１２０１には、眼底観察用ＣＣＤによって得られた被検眼の眼底の２次元像が表示される。この眼底２次元像表示画面１２０１には、眼底画像における断層画像を撮像する撮像範囲１２０２も併せて表示される。被検眼の断層画像は、断層画像表示画面１３０１のコヒーレンスゲート位置に基づく表示位置に表示される。

被検眼の左右眼を切り替えるためのボタン１００１は検者がＬボタンとＲボタンとのうちいずれか一方を押すと、該押された左右眼のいずれかに対応する位置に光学ヘッド９００が移動される。また、検者が入力手段９２９である図１（ｂ）に示すマウス９３０を机上等で移動させた場合、この移動に連動して測定画面１０００上に重ねて表示されているカーソル１００２の表示位置を移動させることができる。

本実施形態に係る眼科装置においては、不図示の位置検出部により検出されたカーソルの画面上表示位置に応じて、前述したアライメント等を変更することができる。本実施形態では、表示画面上においてボタン等の入力用の表示形態を中心に所定の広さの範囲を設けている。該所定の範囲の画素内にカーソルがある場合には、該カーソルを介して該所定の範囲の中心となる表示形態で定められた調整を行うことができる。即ち、マウス９３０を操作してマウス９３０内のホイール９３１を回転させることにより、カーソル１００２が位置している表示領域の画像に対応する調整の指示を行うことができる。例えば、カーソルが前眼部画像の表示領域に位置している場合にアライメント、眼底画像の表示領域に位置している場合には眼底のフォーカス位置、断層画像の表示領域に位置している場合にはコヒーレンスゲート位置をそれぞれ調整することができる。

なお、この場合、測定画面１０００のアライメントのモード選択ボタン１００４は検者によりマニュアルが選択されている。また、マウス９３０のドラッグ等の操作により、アライメント等の各調整の指示を行うこともできる。なお、アライメント等の各調整が終了した後に、検者が撮像ボタン１００３を押すことで所望の撮像が行われる。

前述したように画像の近傍に配置されている各スライダは、各々対応する表示画面に表示される画像の画質等の調整を行うために用いられる。スライダ１１０３は被検眼１０７に対する光学ヘッド９００のＺ方向の位置を調整するもの、スライダ１２０３はフォーカス位置を調整するもの、スライダ１３０２はコヒーレンスゲート位置を調整するものである。

フォーカス位置の調整は、眼底に対する合焦調整を行うために、合焦レンズ１３５−３及び合焦レンズ１３５−５を各々光軸に沿った図示の矢印の方向に移動することで行われる。これら合焦レンズは、これらを位置制御する駆動系等の構成を含めて、本実施形態において、被検眼１０７或いは眼底に対する測定光の合焦状態を得るために合焦部材たる合焦レンズの光軸上の位置を変更する合焦位置変更手段を構成する。コヒーレンスゲート位置の調整は、断層画像が断層画像表示画面１３０１の所望の位置で観察されるようにするために、反射ミラー１３２−４を光軸に沿った図示の矢印の方向に移動することで行われる。この反射ミラー１３２−４とこれを光軸上で駆動する構成は、本実施形態において、測定光と参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段を構成する。また、これらのスライダは、それぞれの画像上にカーソル１００２を位置させて、マウス９３０によりホイール９３１を操作した際にも連動して動くようになっている。

（オートによる撮影）
《第１の実施形態》
次に、本発明の第１の実施形態に係る眼底の撮影方法について、図３のフローチャートを用いて説明する。なお、ここでは、測定画面１０００のアライメントのモード選択ボタン１００４でオートを選択した場合について述べる。

まず、ステップ３０１において、撮影を開始する。次に、ステップ３０４において、被検眼１０７と装置（光学ヘッド９００）との位置合わせであるアライメントを開始する。このアライメントの終了は、ステップ３０５において判断される。ステップ３０５にて、アライメントが良好になったと判断された場合、アライメントを終了してフローはステップ３０６に進む。また、アライメントが良好でないと判断された場合には、フローはステップ３０４に戻り、以降アライメントが良好と判断されるまでこのループは継続する。なお、アライメントを完了せずに、アライメントを継続したまま、アライメントが良好になったときにフローがステップ３０６に進むこととすることも可能である。

ステップ３０６において、ＳＬＯとＯＣＴとの各々の光学系でのフォーカス調整（合焦操作）を行う。ここで述べるフォーカス調整は、前述した合焦レンズ１３５−３、１３５−５各々の光軸上の位置を調整する操作に対応する。つぎに、ステップ３０７において被検眼の視度が合焦調整範囲内或いは光路長変更範囲に収まるか否かを判断する。範囲内であると判断された場合は、フローはステップ３０８へ進み、測定光と参照光とのうちいずれか一方の偏光の調整を行う。また、ステップ３０８において参照光の光量調整を行う。次に、ステップ３０９において、前述したコヒーレンスゲート位置の調整を行う。コヒーレンスゲート位置の調整の終了の判断はステップ３１０に進み行われる。ステップ３１０で、調整が終了していないと判断されればフローはステップ３０８に戻り、このループは調整が終わるまで継続する。調整が終了したと判断されると、続くステップ３１１で断層画像の取得を開始して、ステップ３１２で撮影を終了する。

また、ステップ３０７にて被検眼の視度が装置の現状のアライメントにおける測定仕様範囲外であると判断された場合には、フローはステップ３１３へ進む。ステップ３１３では、検者へ被検眼１０７と光学系（光学ヘッド９００）との距離（ＷＤ）を初期値（ここでは、３５ｍｍ）から変更するか否かを問う。検者の操作により、ステップ３１３にてＷＤを変更しないことを選択した場合は、フローはステップ３０８へ進み、その後は前述した操作と同様の操作を行う。また、ＷＤを変更することを選択した場合には、フローはステップ３１４へ進む。本実施形態におけるこのステップ３１３の操作は、合焦状態が得られないと判断した場合に行われる光学ヘッド９００による被検眼１０７に対する相対位置の変化を行うか否かを確認する操作となる。当該操作は入力部９２９を介して行われ、パソコン９２５において確認手段として機能する領域により実行に移される。

ステップ３１４ではステップ３０６において得られたＳＬＯフォーカス画像から、ＷＤを初期値からどれだけ変更すればよいかを演算し、その結果をもってＷＤを変更する。なお、ＷＤの変更は、被検眼の視度がマイナスディオプターの場合には被検眼１０７と光学系とが近づく方向（３０〜３５ｍｍの範囲）に光学ヘッド９００を移動させる。また、プラスディオプターの場合には遠ざかる方向（３５〜４０ｍｍの範囲）に光学ヘッド９００が移動される。即ち、合焦状態が得られない場合において、ステップ３１４では、求められる被検眼の視度に応じて相対位置を離間及び接近の何れかを選択してその操作が行われることとなる。

光学ヘッド９００が移動されて、被検眼視度に応じたＷＤとなった後、フローはステップ３１５に進む。ステップ３１５にて、ＳＬＯ像についてのフォーカス調整が合っていなければフローはステップ３１４に戻って、調整が終わるまでこのループを継続する。ステップ３１４におけるＷＤの変更の際には、調整完了をＳＬＯ画像における輝度のピーク値を探してピントがあったことを判断する。ステップ３１５にて調整が終わったと判断された後、フローはステップ３０８へ進み、その後は前述したフローでの操作と同様の操作を行う。

上述したステップ３０７においては、換言すれば、合焦位置変更手段による合焦レンズの位置変更範囲の内での位置変更にて合焦状態が得られるか否かが判断される。この判断はパソコン９２５において判断手段として機能する領域により実行される。或いは、当該判断は、光路長差変更手段による光路長差を変更可能な範囲にて所定の断層画像が得られるか否かであってもよい。この場合得られないと判断された場合には、光学ヘッド９００による被検眼１０７との相対位置の変化が行われる。

また、該パソコン９２５は、この判断手段の判断結果に応じて、ステージ部９５０等の位置合わせ手段を動作させる制御手段として機能する領域も有する。また、前述した判断手段は、より好適には、本実施形態の如く、位置合わせ手段による位置合わせの終了後に合焦操作を行った場合に、合焦状態が得られるか否かを判断するとよい。また、制御手段は、この合焦状態が得られないと判断された場合に、光学ヘッド９００を移動させるとよい。

なお、本実施形態ではステージ部９５０が移動する例を示しているが、あご台３２３を介して被検眼１０７自体の位置を変えてもよい。よって、位置合わせ手段は当該態様も含めて、被検眼１０７と光学ヘッド９００との相対位置を変化させると解釈されることが好ましい。

なお、本第１の実施形態では、ステップ３１３で検者にＷＤを変更するか否かを問うようにしている。しかし、予め装置の設定によりフローを変更することとし、ステップ３１３を省いてステップ３１４へ進むようにすれば、さらに検者の負担を減らすことができる。

また、ＷＤを変更するとその変更量が大きくなるほどＳＬＯ画像とＯＣＴ画像には、所謂「けられ」が発生してくる。このため、ピントの判定範囲は変更距離に応じて画像の中心部に重み付けするように範囲を変更することが好ましい。これにより、「けられ」の影響を無くすことができる。また、被検眼が小瞳孔径の場合にも「けられ」が発生する。このため、前眼像から被検眼の瞳孔径を演算し、同様にピント調整範囲を中心部に重み付けするようにしておくとなお良い。なお、ＷＤの変更や被検眼が小瞳孔径の場合には前述のように画像に「けられ」が発生するため、予め、それぞれにおいてどのくらいのけられ量になるか演算し、断層像撮影におけるＸ方向のスキャン範囲（ＸＹスキャナ１３４の振る角度）を小さくするとなお良い。

このように第１の実施形態では被検眼の視度が光路長変更手段の調整範囲外であった場合に、自動で被検眼と光学系との位置関係を変更することで、コントラストのあった断層画像を得ることができる。

《第２の実施形態》
本発明の第２の実施形態に係る眼底の撮影方法について、図４のフローチャートを用いて説明する。

第１の実施形態ではでは被検眼の視度がわからない状態での撮影におけるフローを説明したが、本実施形態では予め視度がわかっている場合について述べる。なお、図４に示すフローチャートにおけるステップ４０４〜ステップ４１２の工程は、前述した図３に示すフローチャートにおけるステップ３０４〜ステップ３１２の工程と同じであることから、ここでのこれらステップについての説明は省略する。

このような被検眼の視度が予めわかっている場合は、ステップ４０２のように測定開始前にその視度情報を入力することで、ステップ４０３でＷＤ初期値を変更させることとする。このステップを組み込むことで、第１の実施形態であったステップ３０７、およびステップ３１３〜３１５の工程を省略することができ、さらに短時間で撮影を行うことができる。

なお、この視度値の入力は、入力部９２９を介して行ってもよく、ハードディスク９２６から読み出すこととしてもよい。これら構成は、本実施形態において、被検眼１０７の情報を入力する情報入力手段を構成する。また、パソコン９２５に配される先の実施形態で述べた判断手段は、本実施形態においてはこの入力された情報に応じて合焦レンズの位置変更範囲の内で合焦状態が得られるか否かを判断することとなる。そして得られないと判断された場合には、光学ヘッド９００と被検眼１０７との相対位置を変化させてアライメントを行う際の初期の位置関係が変更される。

以上述べたように、本発明では、光路長変更手段の調整範囲外の視度である被検眼の撮影において、眼底画像の視野角を優先するか断層像のコントラストを優先するかを選択できるようにしている。これにより、視野角を優先した場合にはこれまで通りの撮影を行い、コントラストを優先した場合には自動で被検眼と光学系との相対位置を変更することが可能となる。その結果、被検眼の視度が眼科装置の調整範囲を超えた場合であっても、簡単に被検眼の適正な断層画像を取得可能となる。

（その他の実施形態）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

また、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更して実施することができる。例えば、上記の実施形態では、被検査物が眼、特に眼底の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被測定物に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は眼科装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は眼科装置に例示される検査装置として把握され、被検眼は被検査物の一態様として把握されることが望ましい。
また、上記実施形態では、本発明の効果が好適に得られる対象としてＯＣＴ装置を例として述べたが、本発明の適用対象は当該ＯＣＴ装置に限定されない。即ち、測定光によって証明された被検査物の画像を得る装置に対しても適用することは可能である。

Claims (17)

1. 測定光を照射した被検査物の画像を取得する画像取得手段と、
   前記被検査物に対する前記測定光の合焦状態を得るために合焦部材の位置を変更する合焦位置変更手段と、
   前記合焦部材を有する光学ヘッドと前記被検査物との相対位置を変化させて位置合わせを行う位置合わせ手段と、
   前記合焦位置変更手段による合焦部材の位置変更範囲の内での位置変更にて前記合焦状態が得られるか否かを判断する判断手段と、
   前記判断手段の判断結果に応じて、前記位置合わせ手段を動作させる制御手段と、を有することを特徴とする検査装置。
2. 前記判断手段は、前記位置合わせ手段による位置合わせの終了後に前記合焦位置変更手段を動作させた場合に、前記合焦位置変更手段により前記合焦状態が得られるか否かを判断し、
   前記合焦状態が得られないと判断された場合に、前記位置合わせ手段により前記相対位置を変化させる制御手段、を有することを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
3. 前記被検査物の情報を入力する情報入力手段を有し、
   前記判断手段は前記情報入力手段により入力された情報に応じて前記合焦状態が得られるか否かを判断することを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
4. 前記判断手段において前記合焦状態が得られないと判断した場合に、前記制御手段が前記位置合わせ手段による前記相対位置の変化を行うか否かを確認する確認手段、を有することを特徴とする請求項１乃至３の何れか一項に記載の検査装置。
5. 前記被検査物は、被検眼であることを特徴とする請求項１乃至４の何れか一項に記載の検査装置。
6. 前記制御手段は前記合焦状態が得られない場合に求められる前記被検眼の視度に応じて前記相対位置を離間及び接近の何れかを選択することを特徴とする請求項５に記載の検査装置。
7. 前記画像取得手段は、前記測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光と、を合波した合波光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する断層画像取得手段であって、
   前記断層画像取得手段は、前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段を有することを特徴とする請求項１乃至６の何れか一項に記載の検査装置。
8. 前記光路長差変更手段は、前記制御手段による前記相対位置の変化に応じて前記光路長差の変更を行うことを特徴とする請求項７に記載の検査装置。
9. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光と、を合波した合波光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
   前記被検査物に対する前記測定光の合焦状態を得るために合焦部材の位置を変更する合焦位置変更手段と、
   前記合焦部材を有する光学ヘッドと前記被検査物との相対位置を変化させて位置合わせを行う位置合わせ手段と、
   前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段と、
   前記光路長差変更手段による前記光路長差を変更可能な範囲にて所定の断層画像が得られないと判断された場合には、前記位置合わせ手段により前記相対位置を変化させる制御手段と、を有することを特徴とする検査装置。
10. 測定光を照射した被検眼の画像を取得する画像取得手段と、
    前記被検査物に対する前記測定光の合焦状態を得るために合焦部材の位置を変更する合焦位置変更手段と、
    前記合焦部材を有する光学ヘッドと前記被検眼との相対位置を変化させて位置合わせを行う位置合わせ手段と、
    前記被検眼の視度値に応じて前記位置合わせ手段により前記相対位置を変化させる際の初期の位置関係を変更する制御手段と、を有することを特徴とする検査装置。
11. 前記画像取得手段は、前記測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光と、を合波した合波光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する断層画像取得手段であって、
    前記断層画像取得手段は、前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段を有することを特徴とする請求項１０に記載の検査装置。
12. 測定光を照射した被検査物の画像を取得する画像取得手段を有する検査装置の制御方法であって、
    前記被検査物に対する前記測定光の合焦状態を得るための合焦部材を有する光学ヘッドと前記被検査物との相対位置を変化させる位置合わせ手段を用いて位置合わせを行う位置合わせ工程と、
    前記合焦部材の位置を変更して前記合焦状態を得る合焦位置変更工程と、
    前記合焦位置変更工程による合焦部材の位置変更範囲の内での位置変更にて前記合焦状態が得られるか否かを判断する判断工程と、
    前記判断工程での判断結果に応じて、前記位置合わせ手段を動作させる工程と、を有することを特徴とする検査装置の制御方法。
13. 前記画像取得手段は、前記測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光と、を合波した合波光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する断層画像取得手段であることを特徴とする請求項１２記載の検査装置の制御方法。
14. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光と、を合波した合波光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する断層画像取得手段を有する検査装置の制御方法であって、
    前記被検査物に対する前記測定光の合焦状態を得るための合焦部材を有する光学ヘッドと前記被検査物との相対位置を変化させる位置合わせ手段を用いて位置合わせを行う位置合わせ工程と、
    前記合焦部材の位置を変更して前記合焦状態を得る合焦位置変更工程と、
    前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更工程と、
    前記光路長差変更工程における前記光路長差を変更可能な範囲にて所定の断層画像が得られないと判断された場合には、前記位置合わせ手段により前記相対位置を変更する工程を有することを特徴とする検査装置の制御方法。
15. 測定光を照射した被検眼の画像を取得する画像取得手段と、前記被検査物に対する前記測定光の合焦状態を得るための合焦部材を有する光学ヘッドと前記被検査物との相対位置を変化させる位置合わせ手段と、を有する検査装置の制御方法であって、
    前記被検眼の視度値に応じて前記位置合わせ手段により前記相対位置を変化させる際の初期の位置関係を変更する工程と、
    前記位置合わせ手段を用いて前記相対位置の位置合わせを行う位置合わせ工程と、
    前記合焦部材の位置を変更して前記合焦状態を得る合焦位置変更工程と、を有することを特徴とする検査装置の制御方法。
16. 前記画像取得手段は、前記測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光と、を合波した合波光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する断層画像取得手段であることを特徴とする請求項１５に記載の検査装置の制御方法。
17. 請求項１２乃至１６の何れか一項に記載の検査装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。

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