JP2016122099A - ペリクル - Google Patents
ペリクル Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016122099A JP2016122099A JP2014261769A JP2014261769A JP2016122099A JP 2016122099 A JP2016122099 A JP 2016122099A JP 2014261769 A JP2014261769 A JP 2014261769A JP 2014261769 A JP2014261769 A JP 2014261769A JP 2016122099 A JP2016122099 A JP 2016122099A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pellicle
- adhesive layer
- mask adhesive
- pellicle frame
- photomask
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
- G03F1/62—Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof
- G03F1/64—Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof characterised by the frames, e.g. structure or material, including bonding means therefor
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
- G03F1/62—Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
Abstract
本発明の目的は、貼付後のフォトマスクの形状に与える影響が極めて小さく、フォトマスクの歪を大幅に抑制することができるペリクルを提供することである。
【解決手段】
本発明は、長辺と短辺からなる矩形のペリクルフレーム11から構成されるペリクル10であって、そのペリクルフレーム11にマスク粘着層12が少なくとも2か所に形成されているとともに、そのマスク粘着層12の間の領域には非粘着性の樹脂からなる弾性体層13が隙間なく形成されていることを特徴とする。
そして、本発明のマスク粘着層12は、ペリクルフレーム11の角部を含んで形成されていることが好ましいが、ペリクルフレームの直線部だけに形成されていてもよい。また、このマスク粘着層は、そのペリクルフレーム内側に沿った長さの総和がペリクルフレーム11の内周長の10〜70%の範囲であることが好ましい。
【選択図】図1
Description
以下、本発明の実施例について具体的に説明するが、実施例1では、先ず、図1に示す斜視図のペリクル10を製作したので、その製作手順について説明する。
実施例2では、上記実施例1と同様に製作した同仕様のペリクルフレーム11を用いて、同様の工程にてペリクル10を製作した。そして、実施例2では、実施例1と異なる図2(c)に示す態様例のように、マスク粘着層12をペリクルフレーム11の各長辺の中央部に100mmに渡って、また、各短辺の中央部にも60mmに渡ってそれぞれ形成し、ペリクルフレーム全体で4か所に形成するとともに、各マスク粘着層12の間の角部を含む残部の4か所には弾性体層13を形成した。
11 ペリクルフレーム
12 マスク粘着層
13 弾性体層
14 ペリクル膜接着層
15 ペリクル膜
16 治具孔
17 通気孔
18 フィルタ
Claims (10)
- 長辺と短辺からなる矩形のペリクルフレームから構成されるペリクルであって、該ペリクルフレームにマスク粘着層が少なくとも2か所に形成されているとともに、各マスク粘着層の間の領域には非粘着性の樹脂からなる弾性体層が隙間なく形成されていることを特徴とするペリクル。
- 前記マスク粘着層は、前記長辺と前記短辺の何れか一方または両方の各辺の少なくとも1箇所に形成されていることを特徴とする請求項1に記載のペリクル。
- 前記マスク粘着層は、前記ペリクルフレームの角部を含んで形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載のペリクル。
- 前記マスク粘着層は、前記ペリクルフレームの直線部だけに形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載のペリクル。
- 前記マスク粘着層は、そのペリクルフレーム内側に沿った長さの総和が前記ペリクルフレームの内周長の10〜70%の範囲であることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載のペリクル。
- 前記マスク粘着層は、其々の表面が平面度30μm以下の平面に加工されていることを特徴とする請求項1〜5の何れかに記載のペリクル。
- 前記マスク粘着層は、其々の厚さが最大値と最低値の差が0.1mm以下であることを特徴とする請求項1〜6の何れかに記載のペリクル。
- 前記弾性体層は、その表面が平面度30μm以下の平面に加工されているとともに、前記マスク粘着層の表面と面一であることを特徴とする請求項1〜7の何れかに記載のペリクル。
- 前記弾性体層は、その硬度がデュロメータ硬度A50以下であることを特徴とする請求項1〜8の何れかに記載のペリクル。
- 前記弾性体層は、その材質がSBS樹脂、SEBS樹脂、SEPS樹脂、フッ素系樹脂、シリコーン樹脂およびフッ素変性シリコーン樹脂からなる群より選択されることを特徴とする請求項1〜9の何れかに記載のペリクル。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014261769A JP6347741B2 (ja) | 2014-12-25 | 2014-12-25 | ペリクル |
KR1020150165362A KR102399704B1 (ko) | 2014-12-25 | 2015-11-25 | 펠리클 |
EP15197716.2A EP3037877B1 (en) | 2014-12-25 | 2015-12-03 | A pellicle |
US14/971,268 US9740093B2 (en) | 2014-12-25 | 2015-12-16 | Pellicle |
TW104142582A TWI578095B (zh) | 2014-12-25 | 2015-12-18 | Dust film components |
CN201510958619.8A CN105739234B (zh) | 2014-12-25 | 2015-12-18 | 防尘薄膜组件 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014261769A JP6347741B2 (ja) | 2014-12-25 | 2014-12-25 | ペリクル |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016122099A true JP2016122099A (ja) | 2016-07-07 |
JP6347741B2 JP6347741B2 (ja) | 2018-06-27 |
Family
ID=54780191
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014261769A Active JP6347741B2 (ja) | 2014-12-25 | 2014-12-25 | ペリクル |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9740093B2 (ja) |
EP (1) | EP3037877B1 (ja) |
JP (1) | JP6347741B2 (ja) |
KR (1) | KR102399704B1 (ja) |
CN (1) | CN105739234B (ja) |
TW (1) | TWI578095B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022009094A (ja) * | 2018-04-03 | 2022-01-14 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレーム、ペリクル、ペリクル付フォトマスク、露光方法、及び半導体デバイスの製造方法 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6532428B2 (ja) * | 2016-05-26 | 2019-06-19 | 信越化学工業株式会社 | ペリクル |
US20230135575A1 (en) * | 2020-02-04 | 2023-05-04 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Pellicle Frame, Pellicle, Exposure Original Plate with Pellicle and Exposure Method, and Method for Manufacturing Semiconductor Device or Liquid Crystal Display Board |
US20230066653A1 (en) * | 2021-08-30 | 2023-03-02 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Reticle enclosure for lithography systems |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003307832A (ja) * | 2002-04-16 | 2003-10-31 | Asahi Glass Co Ltd | ペリクル及びペリクル装着フォトマスク |
JP2006146234A (ja) * | 2004-11-23 | 2006-06-08 | Asml Netherlands Bv | 表皮部材をパターン付与装置に接合する方法および表皮部材を有するパターン付与装置 |
JP2006163035A (ja) * | 2004-12-08 | 2006-06-22 | Dainippon Printing Co Ltd | 大型ペリクル、ペリクル搬送方法、ペリクルケース及びペリクル移載装置 |
US20080131795A1 (en) * | 2005-01-05 | 2008-06-05 | International Business Machines Corporation | Method for adjusting lithographic mask flatness using thermally induced pellicle stress |
JP2008158116A (ja) * | 2006-12-22 | 2008-07-10 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | ペリクルフレーム |
JP2013228582A (ja) * | 2012-04-26 | 2013-11-07 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクル |
JP2014081454A (ja) * | 2012-10-16 | 2014-05-08 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクル |
JP2014211591A (ja) * | 2013-04-22 | 2014-11-13 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルおよびこのペリクルを装着するフォトマスク |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009008294A1 (ja) * | 2007-07-06 | 2009-01-15 | Asahi Kasei E-Materials Corporation | 大型ペリクルの枠体及び該枠体の把持方法 |
JP4979088B2 (ja) | 2008-05-14 | 2012-07-18 | 信越化学工業株式会社 | 半導体リソグラフィー用ペリクル |
JP5411595B2 (ja) | 2009-06-24 | 2014-02-12 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレーム及びリソグラフィ用ペリクル |
JP5481106B2 (ja) | 2009-06-24 | 2014-04-23 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレーム及びリソグラフィ用ペリクル |
JP5411596B2 (ja) | 2009-06-24 | 2014-02-12 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレーム及びリソグラフィ用ペリクル |
JP5436296B2 (ja) | 2010-03-26 | 2014-03-05 | 信越化学工業株式会社 | リソグラフィー用ペリクル |
JP5746662B2 (ja) | 2012-05-11 | 2015-07-08 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレーム |
-
2014
- 2014-12-25 JP JP2014261769A patent/JP6347741B2/ja active Active
-
2015
- 2015-11-25 KR KR1020150165362A patent/KR102399704B1/ko active IP Right Grant
- 2015-12-03 EP EP15197716.2A patent/EP3037877B1/en active Active
- 2015-12-16 US US14/971,268 patent/US9740093B2/en active Active
- 2015-12-18 CN CN201510958619.8A patent/CN105739234B/zh active Active
- 2015-12-18 TW TW104142582A patent/TWI578095B/zh active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003307832A (ja) * | 2002-04-16 | 2003-10-31 | Asahi Glass Co Ltd | ペリクル及びペリクル装着フォトマスク |
JP2006146234A (ja) * | 2004-11-23 | 2006-06-08 | Asml Netherlands Bv | 表皮部材をパターン付与装置に接合する方法および表皮部材を有するパターン付与装置 |
JP2006163035A (ja) * | 2004-12-08 | 2006-06-22 | Dainippon Printing Co Ltd | 大型ペリクル、ペリクル搬送方法、ペリクルケース及びペリクル移載装置 |
US20080131795A1 (en) * | 2005-01-05 | 2008-06-05 | International Business Machines Corporation | Method for adjusting lithographic mask flatness using thermally induced pellicle stress |
JP2008158116A (ja) * | 2006-12-22 | 2008-07-10 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | ペリクルフレーム |
JP2013228582A (ja) * | 2012-04-26 | 2013-11-07 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクル |
JP2014081454A (ja) * | 2012-10-16 | 2014-05-08 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクル |
JP2014211591A (ja) * | 2013-04-22 | 2014-11-13 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルおよびこのペリクルを装着するフォトマスク |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022009094A (ja) * | 2018-04-03 | 2022-01-14 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレーム、ペリクル、ペリクル付フォトマスク、露光方法、及び半導体デバイスの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20160187772A1 (en) | 2016-06-30 |
TWI578095B (zh) | 2017-04-11 |
CN105739234A (zh) | 2016-07-06 |
KR20160078871A (ko) | 2016-07-05 |
EP3037877A2 (en) | 2016-06-29 |
US9740093B2 (en) | 2017-08-22 |
JP6347741B2 (ja) | 2018-06-27 |
EP3037877A3 (en) | 2016-07-27 |
KR102399704B1 (ko) | 2022-05-19 |
EP3037877B1 (en) | 2019-06-19 |
CN105739234B (zh) | 2019-11-29 |
TW201631380A (zh) | 2016-09-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6532428B2 (ja) | ペリクル | |
JP5411596B2 (ja) | ペリクルフレーム及びリソグラフィ用ペリクル | |
JP6347741B2 (ja) | ペリクル | |
JP6304884B2 (ja) | ペリクルの貼り付け方法 | |
JP2014211591A (ja) | ペリクルおよびこのペリクルを装着するフォトマスク | |
JP2011076042A (ja) | ペリクル | |
TWI779072B (zh) | 防護薄膜組件、貼附有防護薄膜組件之光罩、曝光方法、半導體之製造方法、及顯示器之製造方法 | |
KR102070074B1 (ko) | 펠리클 프레임 | |
TWI585516B (zh) | A pellicle frame, and a pellicle assembly using the pellicle frame | |
US9594300B2 (en) | Pellicle | |
KR102259620B1 (ko) | 펠리클 | |
TWI834264B (zh) | 防護薄膜框架、防護薄膜組件、貼附有防護薄膜組件的光罩、曝光方法、半導體之製造方法、及顯示器之製造方法 | |
JP2020201517A (ja) | ペリクルフレーム及びペリクル |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161221 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170913 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170926 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171106 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20180312 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180423 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20180508 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180529 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180529 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6347741 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |