JP2016121926A5 - - Google Patents
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Description
ＬＥＤでは、本来のピーク以外に、結晶内部の不純物に由来するピークが本来のピーク波長よりも短波長領域又は長波長領域に現れることがよくある。例えば、２００〜３５０nmの深紫外波長領域にピークを有する深紫外ＬＥＤは４００〜６００nmの可視波長領域にもピークを有することがよくある。深紫外波長領域のピークを照射光として利用する光学分析装置では、可視波長領域にピークを有する光は分析には必要のない不要光である。こうした不要光の強度は分析に使用される波長領域の光に比べて格段に低いため、従来は問題視されていなかった。これに対し、本願発明者は、実験等により、こうした不要光の光量は小さいものの、その光量の時間的な変動は無視できない程度に大きく、そうした不要光の光量変動がノイズやドリフトの大きな要因となるとの知見を得た。なお、こうした問題は、ＬＥＤのみならずスーパールミネッセンスダイオード（ＳＬＤ）などの他の半導体光学素子でも多少の差はあれ存在する。
ここで半導体発光素子は、発光ダイオード（ＬＥＤ）、スーパールミネッセンスダイオード（ＳＬＤ）、レーザダイオード（ＬＤ）などである。
もちろん、バンドパスフィルタの代わりに、ロングパスフィルタとショートパスフィルタとを組み合わせて上記のような波長特性の光学フィルタを構成してもよい。例えば、図５に示した吸光光度計において、光学フィルタ４Ａをロングパスフィルタ、光学フィルタ４Ｂをショートパスフィルタとすればよい。
また、上記各実施例では光源としてＬＥＤを用いていたが、スーパールミネッセンスダイオード（ＳＬＤ）やレーザダイオード（ＬＤ）などのＬＥＤ以外の半導体発光素子を光源として用いた光学分析装置でも同様の構成とすることで、それら素子由来のノイズやドリフトの影響を軽減することができる。
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