JP5331198B2 - 光源装置及びそれを用いた分析装置 - Google Patents
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Description
2 サンプルカップ
3 サンプルディスク
4 試薬
5 試薬ボトル
6 試薬ディスク
7 反応液
8 セル
9 セルディスク
10 サンプル分注機構
11 試薬分注機構
12 攪拌部
13 測定部
14 洗浄部
15 発光部
21 光源部
22 発光ダイオード
23 フィルタ
24 温度制御ユニット
25 光源電源
26 設定波長メモリ
27 光量制御部
31 光源部
32 フォトダイオード
42 恒温槽
51 バックライト
53 導光板
54 液晶パネル
55 光源電源
56 映像制御回路
57 液晶駆動回路
58 液晶表示装置
71〜73 発光ダイオード
74〜76 光学フィルタ
77 光源要素
92 恒温水使用型温度調節モジュール
93 放熱板
94 ペルチェ素子
95 ブロック
96 絶縁体
97 恒温水循環ベース
98,99 水路
103 フィルタ
104,106 スリット
107 恒温水
108 フォトダイオード
121 温度調節ユニット
122 温度制御用電源
123 放熱板
Claims (15)
- 発光ダイオードと、
前記発光ダイオードを駆動する電源と、
前記発光ダイオードの温度を制御する温度制御部と、
前記温度制御部の設定温度下における前記発光ダイオードの発光スペクトルにおいて、ピーク波長に対して長波長側に設定された、ピーク波長よりも温度による光量変化率が小さい設定波長よりも短波長側の光をカットする部材と
を有することを特徴とする光源装置。 - 発光ダイオードと、
前記発光ダイオードを駆動する電源と、
前記発光ダイオードの温度を制御する温度制御部と、
前記発光ダイオードからの光をフィルタリングして設定波長よりも短波長側の光をカットする部材とを有し、
前記部材は、前記温度制御部の設定温度下における前記発光ダイオードの発光スペクトルにおいて、前記部材透過後の光の温度に対する光量変動率R、前記温度制御部の温度制御幅ΔT、要求される光量安定度Sに対して、R<S/ΔTとなるように前記設定波長を選択したことを特徴とする光源装置。 - 請求項1又は2に記載の光源装置において、前記設定波長が前記発光スペクトルのピーク強度の90%以上の強度となる波長範囲にあることを特徴とする光源装置。
- 請求項1又は2に記載の光源装置において、前記設定波長が前記発光スペクトルのピーク強度の90%以上の強度となる波長範囲のなかで前記ピーク波長より短波長側の波長であることを特徴とする光源装置。
- 請求項1又は2に記載の光源装置において、前記部材が色ガラスフィルタ、プラスチックフィルタ、又は波長依存性のある光学薄膜フィルタであることを特徴とする光源装置。
- 試料を入れる試料容器と、
試薬を入れる試薬容器と、
前記試料容器内の試料と前記試薬容器内の試薬とが分注される反応容器と、
前記反応容器に測定光を照射する光源装置と、
前記反応容器中の溶液と相互作用した後の測定光を検出する検出器とを含み、
前記光源装置は、発光ダイオードと、前記発光ダイオードを駆動する電源と、前記発光ダイオードの温度を制御する温度制御部と、前記温度制御部の設定温度下における前記発光ダイオードの発光スペクトルにおいてピーク波長に対して長波長側に設定された、ピーク波長よりも温度による光量変化率が小さい設定波長よりも短波長側の光をカットする部材とを有することを特徴とする分析装置。 - 試料を入れる試料容器と、
試薬を入れる試薬容器と、
前記試料容器内の試料と前記試薬容器内の試薬とが分注される反応容器と、
前記反応容器に測定光を照射する光源装置と、
前記反応容器中の溶液と相互作用した後の測定光を検出する検出器とを含み、
前記光源装置は、発光ダイオードと、前記発光ダイオードを駆動する電源と、前記発光ダイオードの温度を制御する温度制御部と、前記発光ダイオードからの光をフィルタリングして設定波長よりも短波長側の光をカットする部材を有し、
前記部材は、前記温度制御部の設定温度下における前記発光ダイオードの発光スペクトルにおいて、前記部材透過後の光の温度に対する光量変動率R、前記温度制御部の温度制御幅ΔT、要求される光量安定度Sに対して、R<S/ΔTとなるように前記設定波長を選択したことを特徴とする分析装置。 - 請求項6又は7に記載の分析装置において、前記設定波長が前記発光スペクトルのピーク波長の90%以上の強度となる波長範囲にあることを特徴とする分析装置。
- 請求項6又は7に記載の分析装置において、前記設定波長が前記発光スペクトルのピーク強度の90%以上の強度となる波長範囲のなかで前記ピーク波長より短波長側の波長であることを特徴とする分析装置。
- 請求項6又は7に記載の分析装置において、前記部材が、測定に必要なスペクトルを含む波長幅を選択するロングパスフィルタ又はバンドパスフィルタであることを特徴とする分析装置。
- 請求項6又は7に記載の分析装置において、一定温度に保たれた流体を保持する恒温槽を有し、前記反応容器は前記恒温槽内の流体に浸漬され、前記温度制御部は前記恒温槽の流体を前記光源装置に循環させて前記発光ダイオードの温度を制御することを特徴とする分析装置。
- 請求項6又は7に記載の分析装置において、前記発光ダイオードの、前記部材で前記設定波長よりも短波長側の光をカットされた後の光量を制御する光量制御手段を有することを特徴とする分析装置。
- 請求項6又は7に記載の分析装置において、前記電源は定電流電源又は駆動電力を変調した電源であることを特徴とする分析装置。
- 請求項6又は7に記載の分析装置において、前記温度制御部は、前記発光スペクトルのピーク強度の90%の強度となる短波長側の波長より短波長の光を前記部材によってカットできるように前記発光ダイオードの温度を制御することを特徴とする分析装置。
- 請求項6又は7に記載の分析装置において、前記温度制御部は、前記部材の前記設定波長と制御温度情報を対にして記録する記録部と出力部を有する温度制御部であることを特徴とする分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011508382A JP5331198B2 (ja) | 2009-04-08 | 2010-04-07 | 光源装置及びそれを用いた分析装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009093942 | 2009-04-08 | ||
JP2009093942 | 2009-04-08 | ||
PCT/JP2010/056330 WO2010117026A1 (ja) | 2009-04-08 | 2010-04-07 | 光源装置及びそれを用いた分析装置及び液晶表示装置 |
JP2011508382A JP5331198B2 (ja) | 2009-04-08 | 2010-04-07 | 光源装置及びそれを用いた分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2010117026A1 JPWO2010117026A1 (ja) | 2012-10-18 |
JP5331198B2 true JP5331198B2 (ja) | 2013-10-30 |
Family
ID=42936307
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011508382A Active JP5331198B2 (ja) | 2009-04-08 | 2010-04-07 | 光源装置及びそれを用いた分析装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5331198B2 (ja) |
WO (1) | WO2010117026A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105738283B (zh) * | 2014-12-25 | 2019-07-30 | 株式会社岛津制作所 | 光学分析器 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN103201632A (zh) * | 2010-11-18 | 2013-07-10 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
AT518433B1 (de) * | 2016-04-18 | 2017-10-15 | Scan Messtechnik Ges Mbh | Spektrometer und Verfahren zur Untersuchung der Inhaltsstoffe eines Fluids |
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GB2578920A (en) * | 2018-11-14 | 2020-06-03 | Duvas Tech Limited | Lighting arrangement for fluid analysis system |
JP7021717B2 (ja) * | 2019-03-12 | 2022-02-17 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
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JP2007309840A (ja) * | 2006-05-19 | 2007-11-29 | Olympus Corp | 光源装置及び分析装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US9194793B2 (en) * | 2008-07-30 | 2015-11-24 | Hitachi High-Technologies Corporation | Sample analysis device |
-
2010
- 2010-04-07 WO PCT/JP2010/056330 patent/WO2010117026A1/ja active Application Filing
- 2010-04-07 JP JP2011508382A patent/JP5331198B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2010117026A1 (ja) | 2012-10-18 |
WO2010117026A1 (ja) | 2010-10-14 |
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