JP2016118615A - 顕微鏡装置および光照射方法 - Google Patents

顕微鏡装置および光照射方法 Download PDF

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Abstract

【課題】少ない光量でもレーザ光のS/Nを向上し、鮮明な画像情報を得る。【解決手段】レーザ光を発生する光源3A,3B,3C,3Dと、光源3から発せられたレーザ光を透過させることにより調光可能なNDフィルタ5A,5B,5C,5Dと、光源3の出力をON/OFFにより切り替えるとともに、NDフィルタ5A,5B,5C,5Dの移動によりレーザ光の減光率を切り替え可能な制御基板7と、調光されたレーザ光を標本上で走査させ、標本において発生する蛍光を検出する観察部17とを備える顕微鏡装置1を提供する。【選択図】図1

Description

本発明は、顕微鏡装置および光照射方法に関するものである。
従来、標本に照射するレーザ光の量を可変にした顕微鏡装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載の顕微鏡装置は、レーザ光源によりレーザ光のON/OFFと調光を行うとともに、レーザ光源によって調光する領域をNDフィルタにより切り替えることで、標本に照射するレーザ光の量の連続的な可変を実現している。
特開2006−208589号公報
しかしながら、特許文献1に記載の顕微鏡装置のようにレーザ光源により調光しようとすると、レーザ光源の出力を低くした場合に、レーザ光源の立ち上がり特性やノイズの特性が悪くなる結果、レーザ光のS/Nが低下してしまい、鮮明な画像を得ることができないという不都合がある。
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、少ない光量でもレーザ光のS/Nを向上し、鮮明な画像情報を得ることができる顕微鏡装置および光照射方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明は以下の手段を採用する。
本発明は、レーザ光を発生する光源と、該光源の出力をON/OFFにより切り替える出力制御部と、前記光源から発せられたレーザ光を透過させることにより調光可能な光学部材を有し、該光学部材の移動により前記レーザ光の減光率を切り替え可能な調光部と、該調光部により調光されたレーザ光を標本上で走査させ、該標本において発生する蛍光を検出する観察部とを備える顕微鏡装置を提供する。
本発明によれば、出力制御部によりON状態に切り替えられた光源から発せられたレーザ光が調光部により調光されて観察部により標本上で走査されるとともに、標本において発生した蛍光がその観察部により検出される。したがって、観察部による蛍光の検出結果に基づき、標本の画像情報を得ることができる。
この場合において、光源の出力をON/OFFにより、すなわち、0%か100%かにより切り替えることで、光源において調光した場合に発生するようなノイズがレーザ光に含まれるのを防ぎ、高S/Nのレーザ光を発生させることができる。また、調光部が光学部材の移動により減光率を切り替えてレーザ光を調光することで、電気的な制御により調光する場合に発生するようなノイズがレーザ光に含まれるのを防ぐことができる。したがって、少ない光量でもレーザ光のS/Nを向上し、鮮明な画像情報を得ることができる。
上記構成においては、互いに異なる波長の前記レーザ光を発生する複数の前記光源と、該光源ごとに前記レーザ光を調光可能に配された複数の前記調光部とを備えることとしてもよい。
このように構成することで、各調光部により、各光源から発せられる波長が異なるレーザ光をそれぞれ高精度かつ迅速に調光して標本に照射することができる。
上記構成においては、前記光学部材が、前記減光率が異なる複数の透過領域を有するNDフィルタであり、前記調光部が、前記レーザ光を透過させる前記NDフィルタの前記透過領域を切り替える透過領域切替部を備えることとしてもよい。
このように構成することで、透過領域切替部により、NDフィルタにおけるレーザ光の透過領域を切り替えるだけの簡易な構成で、ノイズを発生させることなく減光率を切り替えてレーザ光を調光することができる。
上記構成においては、前記NDフィルタは、前記減光率が異なる複数の前記透過領域が中心軸回りに周方向に沿って配され、前記透過領域切替部が、前記レーザ光に対する前記NDフィルタの前記透過領域を前記中心軸回りに変更可能であることとしてもよい。
このように構成することで、透過領域切替部によりNDフィルタを中心軸回りに回転させるだけで、減光率を切り替えることができる。
上記構成においては、前記NDフィルタは、前記減光率が異なる複数の前記透過領域が一方向に沿って配され、前記透過領域切替部が、前記レーザ光に対する前記NDフィルタの前記透過領域を前記一方向に変更可能であることとしてもよい。
このように構成することで、透過領域切替部によりNDフィルタを一方向に移動させるだけで、減光率を切り替えることができる。
上記構成においては、前記光学部材が、前記レーザ光の偏光方向を変更可能なλ/2板と、前記レーザ光の偏光方向に応じて透過特性が異なる偏光部材とであり、前記調光部が、前記レーザ光の光軸を中心とした前記λ/2板の回転角度を変更する偏光方向切替部を備えることとしてもよい。
このように構成することで、光軸回りのλ/2板の回転角度に応じてレーザ光の偏光方向が変更され、その偏光方向に応じて偏光部材を透過するレーザ光の透過量が変更される。したがって、偏光方向切替部により、λ/2板を介して偏光部材に入射させるレーザ光の偏光方向を変更するだけの簡易な構成で、ノイズを発生させることなく減光率を切り替えてレーザ光を調光することができる。
上記構成においては、前記出力制御部が、前記観察部による走査タイミングに同期して前記光源のON/OFFを切り替えることとしてもよい。
このように構成することで、標本の画像取り込み期間または標本の光刺激期間においてのみ標本にレーザ光を照射することができる。これにより、標本に対してレーザ光を無駄に照射しなくて済み、レーザ光の照射により標本に与えるダメージを抑制することができる。
上記構成においては、前記出力制御部が、前記調光部による前記減光率の切り替え後に前記光源の出力をOFFからONに切り替えることとしてもよい。
このように構成することで、切り替え後の所望の減光率で調光したレーザ光を標本に照射することができる。
本発明は、レーザ光が透過可能な光学部材を移動させることにより該光学部材における前記レーザ光の減光率を切り替える調光調整工程と、該調光調整工程による前記光学部材の減光率の切り替え後に光源の出力をOFFからONに切り替える出力切替工程と、前記調光調整工程により前記減光率が切り替えられた前記光学部材により、前記光源から発せられたレーザ光を調光する調光工程と、該調光工程により調光された前記レーザ光を標本上で走査させる走査工程とを含む光照射方法を提供する。
本発明によれば、出力切替工程前に調光調整工程を実行することで、切り替え後の所望の減光率でレーザ光を調光することができる。また、調光工程において、光源による調光を行わず、また、光学部材の移動により減光率を切り替えてレーザ光を調光することで、調光時において、光源において調光した場合や電気的な制御により調光した場合に発生するようなノイズがレーザ光に含まれるのを防ぐことができる。したがって、少ない光量でもS/Nを向上したレーザ光を標本に照射することができる。
本発明によれば、少ない光量でもレーザ光のS/Nを向上し、鮮明な画像情報を得ることができるという効果を奏する。
本発明の一実施形態に係る顕微鏡装置の概略構成図である。 図1のNDフィルタの一例を示す図である。 図1の顕微鏡装置による光源のON/OFFの切り替え、NDフィルタの調光レベルの切り替えおよびレーザ光の出力変化の各タイミングを対応付けたタイミングチャートである。 本発明の一実施形態に係る光照明方法を説明するフローチャートである。
以下、本発明の一実施形態に係る顕微鏡装置および光照射方法について、図面を参照して説明する。
本実施形態に係る顕微鏡装置1は、図1に示すように、互いに異なる波長のレーザ光を発生する4つの光源3A,3B,3C,3D(以下、第1光源3A、第2光源3B、第3光源3C、第4光源3Dとする。)と、各光源3A,3B,3C,3Dから発せられたレーザ光をそれぞれ調光可能なグラデーションタイプのNDフィルタ(Neutral Density Filter、光学部材)5A,5B,5C,5D(以下、第1NDフィルタ5A、第2NDフィルタ5B、第3NDフィルタ5C、第4NDフィルタ5Dとする。)と、光源3A,3B,3C,3DおよびNDフィルタ5A,5B,5C,5Dを制御する制御基板(出力制御部)7とを備えている。
また、顕微鏡装置1には、各NDフィルタ5A,5B,5C,5Dを透過したレーザ光を1つの光路に合流させる反射ミラー9およびダイクロイックミラー11,13,15と、これらにより合流したレーザ光を標本(図示略)上で走査させて、標本において発生する蛍光を検出する観察部17とが備えられている。
観察部17は、レーザ光を標本上で2次元的に走査させるガルバノミラーのようなスキャナ(図示略)と、レーザ光が照射されることにより標本において発生する蛍光を検出し、検出した蛍光の輝度に相当する輝度情報を出力するPMT(Photomultiplier Tube)のような光検出器(図示略)とを備えている。
NDフィルタ5A,5B,5C,5Dは、例えば、図2に示すように、円板形状を有し、中心軸回りに周方向に沿って減光率が段階的に変化した複数の透過領域を有している。図2に示す例では、NDフィルタ5A,5B,5C,5Dは、時計回りに減光率が徐々に低くなっているように、すなわち、時計回りに透過率が徐々に高くなっていくように透過領域が分けられている。
これらNDフィルタ5A,5B,5C,5Dは、レーザ光の光路に対して光路の幅方向にそれぞれの中心軸をずらして配されており、モータ等の回転駆動機構(透過領域切替部、図示略)によってそれぞれ中心軸回りに回転可能に支持されている。各回転駆動機構は、制御基板7から送られてくる制御信号に従い、NDフィルタ5A,5B,5C,5Dを中心軸回りに回転させるようになっている。
これにより、各NDフィルタ5A,5B,5C,5Dは、制御基板7の制御信号に応じて、それぞれ所望の減光率の透過領域がレーザ光の光軸上に配置されるようになっている。そして、第1NDフィルタ5Aは第1光源3Aからのレーザ光を透過させて調光し、第2NDフィルタ5Bは第2光源3Bからのレーザ光を透過させて調光し、第3NDフィルタ5Cは第3光源3Cからのレーザ光を透過させて調光し、第4NDフィルタ5Dは第4光源3Dからのレーザ光を透過させて調光するようになっている。このように、NDフィルタ5A,5B,5C,5D、回転駆動機構および制御基板7により調光部が構成されている。
反射ミラー9は、第1NDフィルタ5Aを透過したレーザ光をダイクロイックミラー11に向けて反射するようになっている。
ダイクロイックミラー11は、第2NDフィルタ5Bを透過したレーザ光をダイクロイックミラー13に向けて反射する一方、反射ミラー9からのレーザ光をダイクロイックミラー13に向けて透過させるようになっている。
ダイクロイックミラー13は、第3NDフィルタ5Cを透過したレーザ光をダイクロイックミラー15に向けて反射する一方、ダイクロイックミラー11からのレーザ光をダイクロイックミラー15に向けて透過させるようになっている。
ダイクロイックミラー15は、第4NDフィルタ5Dを透過したレーザ光を観察部17に向けて反射する一方、ダイクロイックミラー13からのレーザ光を観察部17に向けて透過させるようになっている。
制御基板7は、図示しないPC(Personal Computer)との間で制御信号を通信するようになっている。この制御基板7は、PCからの制御信号に基づき、各光源3A,3B,3C,3Dの出力をON(100%)/OFF(0%)により切り替えるようになっている。また、制御基板7は、PCからの制御信号に基づいて回転駆動機構を制御し、NDフィルタ5A,5B,5C,5Dを回転軸回りに回転させて所望の透過領域をレーザ光の光路上に配置することにより、レーザ光の減光率を切り替えるようになっている。
例えば、図3のタイミングチャートに示すように、制御基板7は、観察部17のスキャナによるレーザ光の走査タイミングに同期して光源3A,3B,3C,3Dの出力のON/OFFを切り替えるようになっている。そして、制御基板7は、標本の画像取り込み範囲外では光源3をOFFし、画像取り込み範囲中においてのみ光源3をONするようになっている。
また、制御基板7は、NDフィルタ5A,5B,5C,5Dによるレーザ光の減光率の切り替え後に光源3A,3B,3C,3Dの出力をOFFからONに切り替えるようになっている。例えば、NDフィルタ5A,5B,5C,5Dの調光レベルを60%に設定して画像を取り込む場合は、制御基板7は、光源3A,3B,3C,3DをONする前に、予めNDフィルタ5A,5B,5C,5Dを回転させて減光率が40%の透過領域をレーザ光の光路上に配置するようになっている。これにより、切り替え後の所望の減光率で調光したレーザ光を標本に照射することができる。
次に、本実施形態に係る光照射方法は、図4のフローチャートに示されるように、NDフィルタ5A,5B,5C,5Dを回転させてレーザ光の減光率を切り替える調光調整工程S1と、調光調整工程S1によるNDフィルタ5A,5B,5C,5Dの減光率の切り替え後に光源3A,3B,3C,3Dの出力をOFFからONに切り替える出力切替工程S2と、調光調整工程S1により減光率が切り替えられたNDフィルタ5A,5B,5C,5Dにより、光源3A,3B,3C,3Dから発せられたレーザ光を調光する調光工程S3と、調光工程S3により調光されたレーザ光を観察部17のスキャナにより標本上で走査させる走査工程S4とを含んでいる。
このように構成された顕微鏡装置1および光照射方法の作用について、図3のタイミングチャートおよび図4のフローチャートを参照して説明する。
本実施形態に係る顕微鏡装置1により標本を観察する場合は、まず、PCからいずれかの光源3A,3B,3C,3DおよびいずれかのNDフィルタ5A,5B,5C,5Dを選択する制御信号が制御基板7に送られる。例えば、光源3BとNDフィルタ5Bを使用する場合を例示して説明する。
制御基板7は、PCからの制御信号に従い、回転駆動機構を作動させてNDフィルタ5Bを中心軸回りに回転させ、減光率が40%の透過領域をレーザ光の光路上に配置する。これにより、画像取り込み開始前に、NDフィルタ5Bの調光レベルが60%に設定される(調光調整工程S1)。
続いて、画像取り込みを開始し、制御基板7は、スキャナの走査タイミングに同期して光源3Bの出力をOFFからONに切り替え、光源3Bからレーザ光を発生させる(出力切替工程S2)。光源3Bから発せられたレーザ光は、NDフィルタ5Bにおける減光率が40%の透過領域を透過することにより減光され、60%の光量で出力される(調光工程S3)。そして、レーザ光は、ダイクロイックミラー11により反射されてダイクロイックミラー13,15を透過した後、観察部17においてスキャナにより走査されて標本に照射される(走査工程S4)。
レーザ光が照射されることにより標本において発生した蛍光は、観察部17のPMTにより検出される。例えば、PCにおいて、PMTから出力される蛍光の輝度情報とスキャナの走査位置情報とに基づいて標本の画像情報が生成され、図示しないモニタに表示される。
続いて、制御基板7は、画像取り込み範囲中にNDフィルタ5Bを中心軸回りに回転させて、減光率が0%の透過領域をレーザ光の光路上に配置する。これにより、NDフィルタ5Bの調光レベルが100%に変更される。光源3Bから発せられたレーザ光は、減光されることなくNDフィルタ5Bを透過し、100%の出力で観察部17により標本に照射される。これにより、標本からより強い蛍光を発生させてより明るい画像情報を生成することができる。
画像取り込みが終了すると、制御基板7はスキャナの走査タイミングに同期して光源3Bの出力をONからOFFに切り替える。これにより、レーザ光の出力が0%になり、観察が終了する。
以上説明したように、本実施形態に係る顕微鏡装置1および光照射方法によれば、光源3Bの出力をON/OFFにより、すなわち、0%か100%かにより切り替えることで、光源3Bにおいて調光した場合に発生するようなノイズがレーザ光に含まれるのを防ぎ、高S/Nのレーザ光を発生させることができる。また、NDフィルタ5Bの移動により減光率を切り替えてレーザ光を調光することで、圧電素子に電気信号を加えて振動させた結晶を通過させて回折させることによりレーザ光を調光するAOTF(Acousto−Optic Tunable Filter)のように、電気的な制御により調光する場合に発生するようなノイズがレーザ光に含まれるのを防ぐことができる。したがって、少ない光量でもレーザ光のS/Nを向上して標本に照射し、鮮明な画像情報を得ることができる。
本実施形態では、光源3BおよびNDフィルタ5Bを例示して説明したが、光源3A,3C,3DおよびNDフィルタ5A,5C,5Dを使用する場合も同様である。
また、本実施形態においては、光源および光学部材として、光源3A,3B,3C,3DおよびNDフィルタ5A,5B,5C,5Dを例示して説明したが、光源ごとにレーザ光を調光可能に光学部材を配置することとすればよく、光源および光学部材の数はこれに限定されるものではない。
また、本実施形態においては、いずれかの光源3A,3B,3C,3DおよびいずれかのNDフィルタ5A,5B,5C,5Dを選択する制御信号がPCから制御基板7に送られることとしたが、複数の光源と複数のNDフィルタを同時に選択する制御信号がPCから制御基板7に送られることとしてもよい。このようにすることで、制御基板7により、光源3A,3B,3C,3Dの内の複数とNDフィルタ5A,5B,5C,5Dの内の複数が同時に選択されて制御される。
また、本実施形態においては、光学部材として、NDフィルタ5A,5B,5C,5Dに代えて、減光率が異なる複数の透過領域が一方向に沿って配されたNDフィルタを採用することとしてもよい。この場合、図示しないスライド機構(透過領域切替部)等により、NDフィルタを一方向に移動可能に支持することとすればよい。また、制御基板7が、スライド機構の制御によりNDフィルタを一方向に移動させて、レーザ光に対するNDフィルタの透過領域を一方向に変更することとすればよい。
このようにすることで、制御基板7およびスライド機構によりNDフィルタを一方向に移動させるだけで、減光率を切り替えることができる。
また、本実施形態においては、光学部材として、NDフィルタ5A,5B,5C,5Dに代えて、例えば、レーザ光の偏光方向を変更可能なλ/2板と、λ/2板によるレーザ光の偏光方向に応じて透過特性が異なる変更ビームスプリッタまたは偏光板のような偏光部材とを採用することとしてもよい。
この場合、光源3A,3B,3C,3D側から順にレーザ光の光路上にλ/2板と偏光部材を配置し、モータ等の回転駆動機構(偏光方向切替部、図示略)によってλ/2板を中心軸回りに回転可能に支持することとすればよい。また、制御基板7が、回転駆動機構を制御し、レーザ光の光軸を中心としたλ/2板の回転角度を変更することとすればよい。
このようにすることで、光軸回りのλ/2板の回転角度に応じてレーザ光の偏光方向が変更され、その偏光方向に応じて偏光部材を透過するレーザ光の透過量が変更される。したがって、制御基板7により、λ/2板を回転させて偏光部材に入射させるレーザ光の偏光方向を変更するだけの簡易な構成で、ノイズを発生させることなく減光率を切り替えてレーザ光を調光することができる。
また、本実施形態においては、光源3A,3B,3C,3Dを観察用の励起光源として使用する態様を示したが、標本を刺激する刺激光源としてこれらを使用してもよい。この場合、観察用の励起光源を別途用意してもよい。
1 顕微鏡装置
3A,3B,3C,3D 光源
5A,5B,5C,5D NDフィルタ(光学部材、調光部)
7 制御基板(出力制御部、調光部)
17 観察部
S1 調光調整工程
S2 出力切替工程
S3 調光工程
S4 走査工程

Claims (9)

  1. レーザ光を発生する光源と、
    該光源の出力をON/OFFにより切り替える出力制御部と、
    前記光源から発せられたレーザ光を透過させることにより調光可能な光学部材を有し、該光学部材の移動により前記レーザ光の減光率を切り替え可能な調光部と、
    該調光部により調光されたレーザ光を標本上で走査させ、該標本において発生する蛍光を検出する観察部とを備える顕微鏡装置。
  2. 互いに異なる波長の前記レーザ光を発生する複数の前記光源と、
    該光源ごとに前記レーザ光を調光可能に配された複数の前記調光部とを備える請求項1に記載の顕微鏡装置。
  3. 前記光学部材が、前記減光率が異なる複数の透過領域を有するNDフィルタであり、
    前記調光部が、前記レーザ光を透過させる前記NDフィルタの前記透過領域を切り替える透過領域切替部を備える請求項1または請求項2に記載の顕微鏡装置。
  4. 前記NDフィルタは、前記減光率が異なる複数の前記透過領域が中心軸回りに周方向に沿って配され、
    前記透過領域切替部が、前記レーザ光に対する前記NDフィルタの前記透過領域を前記中心軸回りに変更可能である請求項3に記載の顕微鏡装置。
  5. 前記NDフィルタは、前記減光率が異なる複数の前記透過領域が一方向に沿って配され、
    前記透過領域切替部が、前記レーザ光に対する前記NDフィルタの前記透過領域を前記一方向に変更可能である請求項3に記載の顕微鏡装置。
  6. 前記光学部材が、前記レーザ光の偏光方向を変更可能なλ/2板と、前記レーザ光の偏光方向に応じて透過特性が異なる偏光部材とであり、
    前記調光部が、前記レーザ光の光軸を中心とした前記λ/2板の回転角度を変更する偏光方向切替部を備える請求項1または請求項2に記載の顕微鏡装置。
  7. 前記出力制御部が、前記観察部による走査タイミングに同期して前記光源のON/OFFを切り替える請求項1から請求項5のいずれかに記載の顕微鏡装置。
  8. 前記出力制御部が、前記調光部による前記減光率の切り替え後に前記光源の出力をOFFからONに切り替える請求項1から請求項5のいずれかに記載の顕微鏡装置。
  9. レーザ光が透過可能な光学部材を移動させることにより該光学部材における前記レーザ光の減光率を切り替える調光調整工程と、
    該調光調整工程による前記光学部材の減光率の切り替え後に光源の出力をOFFからONに切り替える出力切替工程と、
    前記調光調整工程により前記減光率が切り替えられた前記光学部材により、前記光源から発せられたレーザ光を調光する調光工程と、
    該調光工程により調光された前記レーザ光を標本上で走査させる走査工程とを含む光照射方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20180045942A1 (en) * 2016-08-09 2018-02-15 Olympus Corporation Microscope apparatus
JP7223451B1 (ja) 2021-09-15 2023-02-16 応用電機株式会社 照明装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20180045942A1 (en) * 2016-08-09 2018-02-15 Olympus Corporation Microscope apparatus
US10133049B2 (en) * 2016-08-09 2018-11-20 Olympus Corporation Microscope apparatus automatically changes illumination according to various observation methods
JP7223451B1 (ja) 2021-09-15 2023-02-16 応用電機株式会社 照明装置
JP2023042668A (ja) * 2021-09-15 2023-03-28 応用電機株式会社 照明装置

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