JP2016099236A - 外観検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
また、電子部品を保持する複数の支持部が、平面視して、所定ピッチで円状に取り付けられた回転体を有し、複数の電子部品の外観を、順次、検査する装置においては、回転体を回転させるモータ等の存在により、電子部品の複数の側部をそれぞれ同時に撮像可能な位置に、複数の撮像手段を設けるのは困難であった。
本発明は、かかる事情に鑑みてなされるもので、電子部品の複数の側部の外観を、検出精度の低下を抑制して、検査する外観検査装置を提供することを目的とする。
図1、図2に示すように、本発明の一実施の形態に係る外観検査装置10は、複数の電子部品11をそれぞれ保持する複数の支持部16が、平面視して、間隔を空け円状に取り付けられた回転体17と、電子部品11の側部12、13、14、15(それぞれ側部A、B、C、D)をそれぞれ撮像する撮像手段18、19、20、21(それぞれ撮像手段α、β、γ、δ)とを備え、複数の電子部品11の側部12、13、14、15を外観検査する装置である。以下、詳細に説明する。
本実施の形態において、複数の電子部品11は、チューブに格納された状態で所定の位置に配置され、チューブから取り出されて、順次、外観検査装置10に供給される。
本実施の形態では、各支持部16が、真空圧によって電子部品11の上面27を吸着して保持する。
本実施の形態では、昇降手段28が、サーボモータを有している。
電子部品11を保持した支持部16は、昇降手段28が再び作動することによって、上限位置まで上昇し、モータ25の作動により、回転体17の回転方向下流側に、昇降手段28の配置ピッチ分、移動する。
以下、支持部16が電子部品11を取得する位置を、「取得位置」とも言う。
撮像位置P、Q、R、Sは、回転体17の回転方向下流側に向かって、順に、設けられ、回転体17は、出力軸24を中心に間欠的に回転して、複数の支持部16と共に、各支持部16に保持された電子部品11を、撮像位置P、Q、R、Sに、順次、配置する。
スライド機構35は、駆動源、ボールねじ及びガイドを有する周知の構造を備えて、角度位置調整手段32を、水平方向に進退させる。本実施の形態では、角度位置調整手段31、32、33それぞれに取り付けられたスライド機構35が、それぞれ、スライド機構F、G、Hに該当する。
回転軸37は、図2、図3に示すように、保持部36の下側中央に連結され、保持部36は、保持部36の中心を基準にして回転する。
その後、電子部品11は、支持部16の上方に設けられた昇降手段28の作動により、支持部16と共に降下し、図4(B)に示すように、角度位置調整手段30の保持部36の溝39内に嵌入されて、角度位置調整手段30の保持部36に固定された状態となる。
本実施の形態では、支持部16が、真空破壊、あるいは、大気開放によって、支持部16による電子部品11の保持状態を解除して、電子部品11を保持部36に受け渡し、昇降手段28の作動により、支持部16は、電子部品11の上方に上昇する。
撮像位置Qにおける電子部品11の側部13の撮像、撮像位置Rにおける電子部品11の側部14の撮像、及び、撮像位置Sにおける電子部品11の側部15の撮像は、撮像位置Pで電子部品11の側部12が撮像されたのと同じ手順でそれぞれ行われる。
そして、撮像位置Qに配置された電子部品11は、撮像位置Qにおいて、昇降手段28(昇降手段q’)の作動に伴い、支持部16と共に降下して、角度位置調整手段31の保持部36に固定された状態となり、角度位置調整手段31の保持部36と共に、90度、時計回りに回転した後、支持部16によって、角度位置調整手段31の保持部36から上方に持ち上げられ、側部13全体が、撮像手段19により撮像される。
更に、支持部16は電子部品11の上面27を吸着保持するものであり、かつ、角度位置調整手段30、31、32、33それぞれの保持部36に、電子部品11が嵌入される溝39が形成されていることから、支持部16と角度位置調整手段30、31、32、33それぞれとの電子部品11の受け渡しを円滑に行うことができる。
そして、支持部16を昇降可能に設計しているため、角度位置調整手段それぞれの保持部を昇降可能に設計するのに比べ、外観検査装置を簡素な構造にすることができる。
以下、外観検査装置10の変形例であり、撮像位置P、Q、Rにおいて、電子部品11の側部12、13、14をそれぞれ撮像した後に、電子部品11を回動させる図6に示す外観検査装置50について説明する。なお、外観検査装置10と同じ構成については、外観検査装置10と同じ符号を付して詳しい説明は省略する。
角度位置調整手段51は、図7に示すように、角度位置調整手段51を水平方向に進退させるスライド機構55(スライド機構E’)を介して、ベース台34に取り付けられている。
その他、角度位置調整手段51、52、53、54それぞれの配置及び構成は、外観検査装置10の角度位置調整手段30、31、32、33と同じであるので、詳細な説明は省略する。
その後、回転体17が時計回りに所定角度、回転することによって、電子部品11は、撮像位置Qに搬送され、側部13が、撮像手段19によって撮像された後、撮像位置Qで、角度位置調整手段52が、電子部品11を、90度、時計回りに回転させる。
これは、角度位置調整手段52、53、54それぞれに取り付けられたスライド機構55についても同様であり、角度位置調整手段52に取り付けられたスライド機構55は、角度位置調整手段52(即ち、角度位置調整手段52の保持部36)を、撮像手段19の撮像方向に(撮像経路に沿って)進退させて、撮像手段19の焦点に、電子部品11の側部13を配置可能である。
例えば、電子部品の形状に特に制限はなく、リード線を備えたものでなくてもよく、保持部の溝は、電子部品の形状に応じた形状に形成させる。
また、電子部品は、外観検査装置に対して、チューブから取り出されて供給される必要はなく、テープから取り出されて供給されてもよいし、トレイから取り出されて供給されてもよい。あるいは、ボールフィーダによって電子部品を外観検査装置に供給することや、電子部品をウェハから取り外し、直接、外観検査装置に供給することも可能である。
更に、プリズムや、ミラーを用いて、電子部品の側部で反射した光の進行方向を曲げて、撮像手段が電子部品の側部を撮像できるようにしてもよい。
また、回転体は円盤状に限定されないのは言うまでもなく、回転体の回転する向きや、撮像位置P、Q、R、Sにおける電子部品の回転方向は、反時計回りであってもよい。
また、電子部品を保持する複数の支持部が、平面視して、所定ピッチで円状に取り付けられた回転体を有し、複数の電子部品の外観を、順次、検査する装置においては、回転体を回転させるモータ等の存在により、電子部品の複数の側部をそれぞれ同時に撮像可能な位置に、複数の撮像手段を設けるのは困難であった。
本発明は、かかる事情に鑑みてなされるもので、電子部品の複数の側部の外観を、検出精度の低下を抑制して、検査する外観検査装置を提供することを目的とする。
図1、図2に示すように、本発明の一実施の形態に係る外観検査装置10は、複数の電子部品11をそれぞれ保持する複数の支持部16が、平面視して、間隔を空け円状に取り付けられた回転体17と、電子部品11の側部12、13、14、15(それぞれ側部A、B、C、D)をそれぞれ撮像する撮像手段18、19、20、21(それぞれ撮像手段α、β、γ、δ)とを備え、複数の電子部品11の側部12、13、14、15を外観検査する装置である。以下、詳細に説明する。
本実施の形態において、複数の電子部品11は、チューブに格納された状態で所定の位置に配置され、チューブから取り出されて、順次、外観検査装置10に供給される。
本実施の形態では、各支持部16が、真空圧によって電子部品11の上面27を吸着して保持する。
本実施の形態では、昇降手段28が、サーボモータを有している。
電子部品11を保持した支持部16は、昇降手段28が再び作動することによって、上限位置まで上昇し、モータ25の作動により、回転体17の回転方向下流側に、昇降手段28の配置ピッチ分、移動する。
以下、支持部16が電子部品11を取得する位置を、「取得位置」とも言う。
撮像位置P、Q、R、Sは、回転体17の回転方向下流側に向かって、順に、設けられ、回転体17は、出力軸24を中心に間欠的に回転して、複数の支持部16と共に、各支持部16に保持された電子部品11を、撮像位置P、Q、R、Sに、順次、配置する。
スライド機構35は、駆動源、ボールねじ及びガイドを有する周知の構造を備えて、角度位置調整手段32を、水平方向に進退させる。本実施の形態では、角度位置調整手段31、32、33それぞれに取り付けられたスライド機構35が、それぞれ、スライド機構F、G、Hに該当する。
回転軸37は、図2、図3に示すように、保持部36の下側中央に連結され、保持部36は、保持部36の中心を基準にして回転する。
その後、電子部品11は、支持部16の上方に設けられた昇降手段28の作動により、支持部16と共に降下し、図4(B)に示すように、角度位置調整手段30の保持部36の溝39内に嵌入されて、角度位置調整手段30の保持部36に固定された状態となる。
本実施の形態では、支持部16が、真空破壊、あるいは、大気開放によって、支持部16による電子部品11の保持状態を解除して、電子部品11を保持部36に受け渡し、昇降手段28の作動により、支持部16は、電子部品11の上方に上昇する。
撮像位置Qにおける電子部品11の側部13の撮像、撮像位置Rにおける電子部品11の側部14の撮像、及び、撮像位置Sにおける電子部品11の側部15の撮像は、撮像位置Pで電子部品11の側部12が撮像されたのと同じ手順でそれぞれ行われる。
そして、撮像位置Qに配置された電子部品11は、撮像位置Qにおいて、昇降手段28(昇降手段q’)の作動に伴い、支持部16と共に降下して、角度位置調整手段31の保持部36に固定された状態となり、角度位置調整手段31の保持部36と共に、90度、時計回りに回転した後、支持部16によって、角度位置調整手段31の保持部36から上方に持ち上げられ、側部13全体が、撮像手段19により撮像される。
更に、支持部16は電子部品11の上面27を吸着保持するものであり、かつ、角度位置調整手段30、31、32、33それぞれの保持部36に、電子部品11が嵌入される溝39が形成されていることから、支持部16と角度位置調整手段30、31、32、33それぞれとの電子部品11の受け渡しを円滑に行うことができる。
そして、支持部16を昇降可能に設計しているため、角度位置調整手段それぞれの保持部を昇降可能に設計するのに比べ、外観検査装置を簡素な構造にすることができる。
以下、外観検査装置10の変形例であり、撮像位置P、Q、Rにおいて、電子部品11の側部12、13、14をそれぞれ撮像した後に、電子部品11を回動させる図6に示す外観検査装置50について説明する。なお、外観検査装置10と同じ構成については、外観検査装置10と同じ符号を付して詳しい説明は省略する。
角度位置調整手段51は、図7に示すように、角度位置調整手段51を水平方向に進退させるスライド機構55(スライド機構E’)を介して、ベース台34に取り付けられている。
その他、角度位置調整手段51、52、53、54それぞれの配置及び構成は、外観検査装置10の角度位置調整手段30、31、32、33と同じであるので、詳細な説明は省略する。
その後、回転体17が時計回りに所定角度、回転することによって、電子部品11は、撮像位置Qに搬送され、側部13が、撮像手段19によって撮像された後、撮像位置Qで、角度位置調整手段52が、電子部品11を、90度、時計回りに回転させる。
これは、角度位置調整手段52、53、54それぞれに取り付けられたスライド機構55についても同様であり、角度位置調整手段52に取り付けられたスライド機構55は、角度位置調整手段52(即ち、角度位置調整手段52の保持部36)を、撮像手段19の撮像方向に(撮像経路に沿って)進退させて、撮像手段19の焦点に、電子部品11の側部13を配置可能である。
例えば、電子部品の形状に特に制限はなく、リード線を備えたものでなくてもよく、保持部の溝は、電子部品の形状に応じた形状に形成させる。
また、電子部品は、外観検査装置に対して、チューブから取り出されて供給される必要はなく、テープから取り出されて供給されてもよいし、トレイから取り出されて供給されてもよい。あるいは、ボールフィーダによって電子部品を外観検査装置に供給することや、電子部品をウェハから取り外し、直接、外観検査装置に供給することも可能である。
更に、プリズムや、ミラーを用いて、電子部品の側部で反射した光の進行方向を曲げて、撮像手段が電子部品の側部を撮像できるようにしてもよい。
また、回転体は円盤状に限定されないのは言うまでもなく、回転体の回転する向きや、撮像位置P、Q、R、Sにおける電子部品の回転方向は、反時計回りであってもよい。
Claims (10)
- 複数の電子部品の側部A、B、C、Dを外観検査する外観検査装置において、
前記複数の電子部品をそれぞれ保持する複数の支持部が、平面視して、間隔を空け円状に取り付けられ、鉛直の回転軸を中心に間欠的に回転して、前記複数の支持部と共に、前記複数の電子部品を、撮像位置P、Q、R、Sに、順次、配置する回転体と、
前記撮像位置Pに配置された前記電子部品の側部Aを撮像する撮像手段αと、
前記撮像位置Qに配置された前記電子部品を、鉛直の回転軸を基準にして、所定角度、回転させる角度位置調整手段qと、
前記角度位置調整手段qによって回転された前記電子部品の側部Bを、前記撮像位置Qで撮像する撮像手段βと、
前記撮像位置Rに配置された前記電子部品を、鉛直の回転軸を基準にして、所定角度、回転させる角度位置調整手段rと、
前記角度位置調整手段rによって回転された前記電子部品の側部Cを、前記撮像位置Rで撮像する撮像手段γと、
前記撮像位置Sに配置された前記電子部品を、鉛直の回転軸を基準にして、所定角度、回転させる角度位置調整手段sと、
前記角度位置調整手段sによって回転された前記電子部品の側部Dを、前記撮像位置Sで撮像する撮像手段δとを備えることを特徴とする外観検査装置。 - 請求項1記載の外観検査装置において、前記撮像位置Qに配置された前記支持部を昇降する昇降手段q’と、前記撮像位置Rに配置された前記支持部を昇降する昇降手段r’と、前記撮像位置Sに配置された前記支持部を昇降する昇降手段s’とを更に備え、
前記角度位置調整手段q、r、sはそれぞれ、前記電子部品を固定して回転する保持部を有し、
前記撮像位置Qに配置された前記電子部品は、前記支持部と共に降下して、前記角度位置調整手段qの前記保持部に固定された状態となり、該角度位置調整手段qの該保持部と共に回転し、前記支持部によって、該角度位置調整手段qの該保持部から上方に持ち上げられ、前記側部Bが撮像され、
前記撮像位置Rに配置された前記電子部品は、前記支持部と共に降下して、前記角度位置調整手段rの前記保持部に固定された状態となり、該角度位置調整手段rの該保持部と共に回転し、前記支持部によって、該角度位置調整手段rの該保持部から上方に持ち上げられ、前記側部Cが撮像され、
前記撮像位置Sに配置された前記電子部品は、前記支持部と共に降下して、前記角度位置調整手段sの前記保持部に固定された状態となり、該角度位置調整手段sの該保持部と共に回転し、前記支持部によって、該角度位置調整手段sの該保持部から上方に持ち上げられ、前記側部Dが撮像されることを特徴とする外観検査装置。 - 請求項2記載の外観検査装置において、前記角度位置調整手段qの前記保持部を、前記撮像手段βの撮像経路に沿って進退させるスライド機構Fと、前記角度位置調整手段rの前記保持部を、前記撮像手段γの撮像経路に沿って進退させるスライド機構Gと、前記角度位置調整手段sの前記保持部を、前記撮像手段δの撮像経路に沿って進退させるスライド機構Hとを更に備えることを特徴とする外観検査装置。
- 請求項2又は3記載の外観検査装置において、前記支持部は、前記電子部品の上面を吸着して保持することを特徴とする外観検査装置。
- 請求項2〜4のいずれか1に記載の外観検査装置において、前記撮像位置Qに配置された前記電子部品は、前記支持部から解放された状態で、前記角度位置調整手段qの前記保持部と共に回転し、前記撮像位置Rに配置された前記電子部品は、前記支持部から解放された状態で、前記角度位置調整手段rの前記保持部と共に回転し、前記撮像位置Sに配置された前記電子部品は、前記支持部から解放された状態で、前記角度位置調整手段sの前記保持部と共に回転することを特徴とする外観検査装置。
- 請求項1〜5のいずれか1に記載の外観検査装置において、前記撮像手段αと前記撮像位置Pに配置された前記電子部品と前記回転体の回転中心とは、順に、平面視して、直線上に配され、前記撮像手段βと前記撮像位置Qに配置された前記電子部品と前記回転体の回転中心とは、順に、平面視して、直線上に配され、前記撮像手段γと前記撮像位置Rに配置された前記電子部品と前記回転体の回転中心とは、順に、平面視して、直線上に配され、前記撮像手段δと前記撮像位置Sに配置された前記電子部品と前記回転体の回転中心とは、順に、平面視して、直線上に配されることを特徴とする外観検査装置。
- 複数の電子部品の側部A、B、C、Dを外観検査する外観検査装置において、
前記複数の電子部品をそれぞれ保持する複数の支持部が、平面して、間隔を空け円状に取り付けられ、鉛直の回転軸を中心に間欠的に回転して、前記複数の支持部と共に、前記複数の電子部品を、撮像位置P、Q、R、Sに、順次、配置する回転体と、
前記撮像位置Pに配置された前記電子部品の前記側部Aを撮像する撮像手段αと、
前記側部Aが撮像された前記電子部品を、前記撮像位置Pで、鉛直の回転軸を基準にして、所定角度、回転させる角度位置調整手段p’’と、
前記撮像位置Qに配置された前記電子部品の前記側部Bを撮像する撮像手段βと、
前記側部Bが撮像された前記電子部品を、前記撮像位置Qで、鉛直の回転軸を基準にして、所定角度、回転させる角度位置調整手段q’’と、
前記撮像位置Rに配置された前記電子部品の前記側部Cを撮像する撮像手段γと、
前記側部Cが撮像された前記電子部品を、前記撮像位置Rで、鉛直の回転軸を基準にして、所定角度、回転させる角度位置調整手段r’’と、
前記撮像位置Sに配置された前記電子部品の前記側部Dを撮像する撮像手段δとを備えることを特徴とする外観検査装置。 - 請求項7記載の外観検査装置において、前記撮像位置Pに配置された前記支持部を昇降する昇降手段p’と、前記撮像位置Qに配置された前記支持部を昇降する昇降手段q’と、前記撮像位置Rに配置された前記支持部を昇降する昇降手段r’とを更に備え、
前記角度位置調整手段p’’、q’’、r’’はそれぞれ、前記電子部品を固定して回転する保持部を有し、
前記側部Aが撮像された前記電子部品は、前記撮像位置Pで、前記支持部と共に降下して、前記角度位置調整手段p’’の前記保持部に固定された状態となり、該角度位置調整手段p’’の該保持部と共に回転し、前記支持部によって、該角度位置調整手段p’’の該保持部の上方に持ち上げられ、
前記側部Bが撮像された前記電子部品は、前記撮像位置Qで、前記支持部と共に降下して、前記角度位置調整手段q’’の前記保持部に固定された状態となり、該角度位置調整手段q’’の該保持部と共に回転し、前記支持部によって、該角度位置調整手段q’’の該保持部の上方に持ち上げられ、
前記側部Cが撮像された前記電子部品は、前記撮像位置Rで、前記支持部と共に降下して、前記角度位置調整手段r’’の前記保持部に固定された状態となり、該角度位置調整手段r’’の該保持部と共に回転し、前記支持部によって、該角度位置調整手段r’’の該保持部の上方に持ち上げられることを特徴とする外観検査装置。 - 請求項8記載の外観検査装置において、前記角度位置調整手段p’’の前記保持部を、前記撮像手段αの撮像経路に沿って進退させるスライド機構E’と、前記角度位置調整手段q’’の前記保持部を、前記撮像手段βの撮像経路に沿って進退させるスライド機構F’と、前記角度位置調整手段r’’の前記保持部を、前記撮像手段γの撮像経路に沿って進退させるスライド機構G’とを更に備えることを特徴とする外観検査装置。
- 請求項8又は9記載の外観検査装置において、前記支持部は、前記電子部品の上面を吸着して保持することを特徴とする外観検査装置。
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