TWM479416U

TWM479416U - 元件檢測裝置

Info

Publication number: TWM479416U
Application number: TW103201865U
Authority: TW
Inventors: Siang-Yng Wong; chun-ming Yang; Hsun-Chang Chang; Wen-Yi Jen
Original assignee: Ching Chan Optical Technology Co Ltd
Priority date: 2014-01-28
Filing date: 2014-01-28
Publication date: 2014-06-01

Description

元件檢測裝置

本創作係關於一種元件檢測裝置，尤其是一種能夠取得一待測元件之外周面於各個角度下的影像，據以檢測該待測元件之瑕疵的元件檢測裝置。

諸如螺絲、螺帽、插銷或鉚釘等元件於工業上之應用範圍相當廣泛，舉凡機械、製造、電子或營建等各式產業均需大量採用所述元件。近年來，歸功於科技演進日新月異，自動化生產線日漸興盛，由於在自動化生產線中一旦上述元件存在瑕疵而導致生產流程中任一步驟無法進行，將直接造成整條生產線停擺，造成業者鉅額損失。因此，自動化生產與精密科技的發展連帶使得業界對於所述元件的品質要求大幅提升。

為此，生產上述元件之廠商無不極力嘗試提升產品良率，試圖降低產品存在瑕疵的機率。以螺絲為例，傳統螺絲廠商主要仰賴人力進行產品檢驗，通常係透過肉眼辨識螺絲是否存在瑕疵，或者利用螺紋環規(Ring Thread Gauge)對螺絲進行抽驗。然而，肉眼辨識存在人為判斷誤差的問題，其準確度早已不符合業界需求；而螺紋環規雖然具有較佳之準確度，但在檢測過程中可能對螺紋造成損傷，容易帶來無謂的損失。況且，所述人力檢驗方式效率不彰，對於產量較大的廠商而言通常僅能對產品進行分批抽驗，無法確實對每一顆生產的螺絲進行檢驗。

為了解決上述問題，請參照第1圖所示，係一種習用元件檢測裝置9，包含一元件接承轉盤91及一影像擷取模組92。該元件接承轉盤91可供承置數個待測元件S，該影像擷取模組92係供拍攝該待測元件S之影像，以作為檢測該待測元件S是否存在瑕疵之依據，進而取代傳統人力檢驗方式。所述習用元件檢測裝置9之一實施例已揭露於中華民國專利公告第M323343號「元件檢測成像裝置改良」專利案中。

請一併參照第2圖所示，係該待測元件S之放大示意圖，該待測元件S以螺絲為例，若該待測元件S存在一瑕疵部位S1，所述瑕疵部位S1可能為該待測元件S之寬度、牙距與內外牙徑等規格大於公差，或者是該待測元件S是否存在缺角、牙尖擴展或牙鋒寬度異常等問題。注意到，若該影像擷取模組92係正對該瑕疵部位S1所在位置拍攝，由於該影像擷取模組92所拍攝為平面影像，因此有相當高的機率無法透過影像辨識而偵測到該瑕疵部位S1；況且，若該影像擷取模組92係背對該瑕疵部位S1所在位置拍攝，則該影像擷取模組92將完全無法拍攝到該瑕疵部位S1。換言之，該影像擷取模組92必須與由該瑕疵部位S1所在位置的二側拍攝，才能有效利用影像辨識偵測出該瑕疵部位S1。

雖然該影像擷取模組92可以包含數個影像擷取裝置921、922以拍攝取得該待測元件S於不同角度下的影像，然而受限於空間限制，該影像擷取模組92之數量有所限制，無法確實拍攝該待測元件S之外周面於所有角度下的影像。據此，該習用元件檢測裝置9勢必無法完整檢測待測元件S之外周面之各個角度所可能存在的瑕疵，故即便採用該習用元件檢測裝置9對所生產的元件進行檢驗，仍然無法保證能將所有存在瑕疵的元件檢出，對於產品品質而言係屬難以克服之隱憂。

有鑑於此，亟需提供一種進一步改良之元件檢測裝置，取得一待測元件之外周面於各個角度下的影像，據以檢測該待測元件之瑕疵的元件檢測裝置，以提升元件瑕疵檢測之準確率，確保廠商所生產之元件的品質能夠符合業界日漸嚴苛的需求。

本創作之一目的係提供一種元件檢測裝置，包含一元件載台及一元件驅動裝置，利用該元件載台提供數個定位槽，各該定位槽係可活動地結合一待測元件；經由該元件驅動裝置之驅動裝置驅動一磁性件旋轉，該元件載台可以驅動一定位槽與該磁性件相互對位，以利用該磁性件吸附該待測元件並且一併帶動該待測元件旋轉，配合由一光源朝向該待測元件投射線性光，同時以一攝影裝置連續拍攝該待測元件之線性影像，以取得該待測元件之外周面於各個角度下的線性影像，具有提升元件瑕疵檢測準確率之功效。

本創作之另一目的係提供一種元件檢測裝置，藉由一支撐模組穩定支撐該待測元件，該支撐模組包含二支撐桿，該二支撐桿可以抵接該待測元件，避免該待測元件受該磁性件帶動旋轉的過程中產生晃動，以確保該攝影裝置所拍攝之線性影像的品質，具有進一步提升元件瑕疵檢測準確率之功效。

為達到前述創作目的，本創作所運用之技術手段包含有：

一種元件檢測裝置，包含：一元件載台，該元件載台設有數個定位槽，該定位槽係供支撐一待測元件；一元件驅動裝置，包含一基座、一驅動裝置及一磁性件，該驅動裝置結合於該基座，且該驅動裝置係連接該磁性件，用以驅動該磁性件相對一軸向方向樞轉，該磁性件係沿該軸向方向與其中一定位槽形成同軸；一光源模組，包含一光源，該光源具有一發光端，該發光端係朝向與該磁性件形成同軸之定位槽投射光線；及一攝影模組，包含一攝影裝置，該攝影裝置連接一鏡頭，用以拍攝與該磁性件形成同軸之定位槽中的待測元件之影像。

本創作之元件檢測裝置，其中，該元件載台係驅使所述數個定位槽於垂直該軸向方向之平面上移動，使得所述數個定位槽分別沿該軸向方向與該磁性件形成同軸。

本創作之元件檢測裝置，其中，該定位槽係可活動地結合該待測元件，使得該待測元件能夠沿著該軸向方向於該定位槽中滑移。

本創作之元件檢測裝置，其中，該光源為線性光源，用以產生與該軸向方向平行之一線性光，並且將該線性光經由該發光端投射於與該磁性件形成同軸之定位槽中的待測元件。

本創作之元件檢測裝置，其中，該攝影裝置為線掃描攝影機(Line-scan camera)，係經由該鏡頭對與該磁性件形成同軸之定位槽中的待測元件拍攝，以取得與該軸向方向平行之一線性影像。

本創作之元件檢測裝置，該攝影裝置係連續對該待測元件拍攝，以取得該待測元件之外周面於各個角度下的線性影像。

本創作之元件檢測裝置，其中，該元件載台係包含相互結合之一轉軸及一承載盤，該轉軸能夠受一動力元件而相對該軸向方向樞轉，所述數個定位槽環繞設置於該承載盤之外周緣。

本創作之元件檢測裝置，其中，該磁性件為銣磁鐵。

本創作之元件檢測裝置，其中，另設有一支撐模組，該支撐模組包含一支架、二支撐桿及一驅動部，該二支撐桿係結合於該支架，並且朝向與該磁性件形成同軸之定位槽中的待測元件設置，各該支撐桿均設有一導輪，該導輪係樞接結合於該支撐桿，該驅動部係連接該支架，以供驅動該二支撐桿朝該待測元件接近，使該待測元件分別抵接該二導輪，或者供該驅動該二支撐桿遠離該待測元件，使該待測元件與該二之導輪。

本創作之元件檢測裝置，其中，各該支撐桿均另設有一永久磁鐵，該永久磁鐵與該導輪係延該軸向方向排列設置。

本創作之元件檢測裝置，其中，該元件驅動裝置另包含一調整部，該調整部係連接該基座，且該調整部係包含一水平調整部及一垂直調整部，該水平調整部係供調整該基座於垂直該軸向方向之平面上的位置，該垂直調整部係供調整該基座於該軸向方向上的位置。

本創作之元件檢測裝置，其中，該光源模組另包含一調整部，該調整部係連接該光源，且該調整部係包含一水平調整部及一垂直調整部，該水平調整部係供調整該光源於垂直該軸向方向之平面上的位置，該垂直調整部係供調整該光源於該軸向方向上的位置。

本創作之元件檢測裝置，其中，該攝影模組另包含一調整部，該調整部係連接該攝影裝置，且該調整部係包含一水平調整部及一垂直調整部，該水平調整部係供調整該攝影裝置於垂直該軸向方向之平面上的位置，該垂直調整部係供調整該攝影裝置於該軸向方向上的位置。

〔本創作〕

1‧‧‧元件載台

11‧‧‧轉軸

12‧‧‧承載盤

121‧‧‧定位槽

2‧‧‧元件驅動裝置

21‧‧‧基座

22‧‧‧驅動裝置

23‧‧‧樞軸

24‧‧‧磁性件

25‧‧‧第一調整部

251‧‧‧水平調整部

252‧‧‧垂直調整部

3‧‧‧光源模組

31‧‧‧光源

311‧‧‧發光端

32‧‧‧第二調整部

321‧‧‧水平調整部

322‧‧‧垂直調整部

4‧‧‧攝影模組

41‧‧‧攝影裝置

411‧‧‧鏡頭

42‧‧‧第三調整部

421‧‧‧水平調整部

422‧‧‧垂直調整部

5‧‧‧支撐模組

51‧‧‧支架

52‧‧‧支撐桿

521‧‧‧永久磁鐵

522‧‧‧導輪

53‧‧‧驅動部

X‧‧‧軸向方向

P‧‧‧平台

S‧‧‧待測元件

S’‧‧‧待測元件

〔習知〕

9‧‧‧習用元件檢測裝置

91‧‧‧元件接承轉盤

92‧‧‧影像擷取模組

921‧‧‧影像擷取裝置

922‧‧‧影像擷取裝置

S‧‧‧待測元件

S1‧‧‧瑕疵部位

第1圖係一種習用元件檢測裝置之外觀圖。

第2圖係一種待測元件之放大示意圖。

第3圖係本創作一實施例之外觀示意圖。

第4圖係本創作一實施例置入待測元件之外觀示意圖。

第5圖係本創作一實施例置入待測元件之側視示意圖。

第6圖係本創作一實施例以磁性件吸附待測元件之動作示意圖。

第7圖係本創作一實施例之光源與攝影裝置的設置方向示意圖。

第8圖係本創作一實施例切換與該磁性件相互對位之定位槽之動作示意圖。

第9圖係本創作一實施例之支撐模組放大示意圖。

第10圖係本創作一實施例置入另一種待測元件之側視示意圖。

第11圖係本創作一實施例之支撐模組驅動支撐桿朝待測元件接近之動作示意圖。

第12圖係本創作一實施例之支撐模組驅動支撐桿遠離待測元件之動作示意圖。

為讓本創作之上述及其它目的、特徵及優點能更明顯易懂，下文特舉本創作之較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

請參照第3圖所示，係本創作一實施例之元件檢測裝置，包含一元件載台1、一元件驅動裝置2、一光源模組3及一攝影模組4。該元件載台1、該元件驅動裝置2、該光源模組3及該攝影模組4可以共同設置於一平台P上。

該元件載台1係供承置並輸送待測元件，在本實施例中，該元件載台1係包含相互結合之一轉軸11及一承載盤12。該轉軸11可以耦接一動力元件(圖未繪示)，以受該動力元件之驅動而旋轉，且該動力元件較佳驅動該轉軸11相對一軸向方向X樞轉，該軸向方向X較佳垂直於水平面。該承載盤12之外周緣則環繞設置數個定位槽121，該定位槽121可供支撐定位待測元件，且該承載盤12之中心係結合於該轉軸11，因此可以隨著該轉軸11一併旋轉，使得該定位槽121於垂直該軸向方向X之平面上移動，以輸送該定位槽121中的待測元件。惟，該元件載台1除了由所述轉軸11與承載盤12所構成外，亦可由其他習用輸送裝置(例如：輸送帶)取代，本創作並不以此為限。

該元件驅動裝置2包含一基座21、一驅動裝置22、一樞軸23、一磁性件24及一第一調整部25。該驅動裝置22可以結合於該基座21，該樞軸23之二端係分別連接該驅動裝置22與該磁性件24，該驅動裝置22 可以為習用馬達，用以驅動該樞軸23旋轉，且該驅動裝置22較佳驅動該樞軸23相對該軸向方向X樞轉；該磁性件24較佳為永久磁鐵，且所述永久磁鐵較佳由具有強磁性之永久磁鐵材質(例如：銣磁鐵)製成，惟，該磁性件24亦可為電磁鐵等非永久磁鐵。據此，當該驅動裝置22驅動該樞軸23旋轉時，該樞軸23將一併帶動該磁性件24旋轉。其中，該磁性件24係與該元件載台1之其中一定位槽121相互對位，詳言之，該磁性件24係沿該軸向方向X與該定位槽121相互對位，使得該磁性件24與該定位槽121形成同軸。

該第一調整部25係連接該基座21，用以供使用者調整該基座21之位置，進而調整設置於該基座21之驅動裝置22、樞軸23與磁性件24等各個構件的位置。在本實施例中，該第一調整部25係包含一水平調整部251及一垂直調整部252，該水平調整部251係供調整該基座21於垂直該軸向方向X之平面上的位置；該垂直調整部252則供調整該基座21於該軸向方向X上的位置。

該光源模組3包含一光源31及一第二調整部32。其中，該光源31具有一發光端311，該發光端311係朝向該承載盤12之外周緣設置，且該光源31較佳為線性光源，用以產生與該軸向方向X平行之一線性光，並且將該線性光經由該發光端311朝向與該磁性件24相對位之定位槽121投射。所述線性光源可以由光源產生器(例如：發光二極體光源)、導光器(例如：光纖)以及光柵結構共同組成，係本創作所屬領域中具有通常知識者所能輕易理解實施。該第二調整部32係連接該光源31，用以供使用者調整該光源31之位置。在本實施例中，該第二調整部32同樣包含一水平調整部321及一垂直調整部322，該水平調整部321係供調整該光源31於垂直該軸向方向X之平面上的位置；該垂直調整部322則供調整該光源31於該軸向方向X上的位置。

該攝影模組4包含一攝影裝置41及一第三調整部42。其中，該攝影裝置41連接一鏡頭411，該鏡頭411係朝向該承載盤12之外周緣設置，且該攝影裝置41較佳為線掃描攝影機(Line-scan camera)，用以拍攝與該軸向方向X平行之一線性影像。由於該鏡頭411係朝向該承載盤12之外周緣設置，因此該攝影裝置41可以拍攝取得與該磁性件24相對位之定位槽121的線性影像。該第三調整部42係連接該攝影裝置41，用以供使用者調整該攝影裝置41之位置。在本實施例中，該第三調整部42同樣包含一水平調整部421及一垂直調整部422，該水平調整部421係供調整該攝影裝置41於垂直該軸向方向X之平面上的位置；該垂直調整部422則供調整該攝影裝置41於該軸向方向X上的位置。

請參照第4及5圖所示，本創作實施例之元件檢測裝置實際使用時，可以經由一送料機構(圖未繪示)依序將數個待測元件S分別置入該元件載台1之各個定位槽121當中，所述待測元件S係為磁性材料(包含軟磁性材料及硬磁性材料)所製成。該定位槽121可供支撐定位該待測元件S，且該定位槽121係可活動地結合該待測元件S，使得該待測元件S定位於該定位槽121時，能夠沿著該軸向方向X於該定位槽121中滑移。同時，該元件驅動裝置2之驅動裝置22係經由該樞軸23以驅動該磁性件24旋轉。

請一併參照第6圖所示，該元件載台1之轉軸11所耦接之動力元件較佳為步進馬達，因此該動力元件可以驅動該承載盤12旋轉至一預定位置，使得其中一定位槽12沿該軸向方向X與該磁性件24相互對位，該磁性件24係與該定位槽12行程同軸，且該定位槽12支撐有一待測元件S，由於該待測元件S係為磁性材料所製成，因此該磁性件24能夠利用磁力吸附該待測元件S。其中，該磁性件24係受該驅動裝置22之驅動而旋轉，因此該待測元件S為該磁性件24所吸附後，將一併受該磁性件24之帶動而旋轉。為了使該磁性件24之磁力足以確實吸附該待測元件S，同時避免該待測元件S受該磁性件24吸附後所產生之位移量過大，該磁性件24與該待測元件S延該軸向方向X之間距較佳落在0.1公分~3公分之間，且所述間距可以藉由該第一調整部25之垂直調整部252來進行調整。

此時，該光源模組3之光源31可以經由該發光端311朝向該定位槽121中的待測元件S投射光線，且該攝影模組4之攝影裝置41可以同時經由該鏡頭411拍攝取得該待測元件S之影像。注意到，在本實施例當中，該驅動裝置22係驅動該磁性件24相對該軸向方向X樞轉，因此該待測元件S將隨著該磁性件24相對該軸向方向X樞轉；該光源31係產生與該軸向方向X平行之一線性光，並經由該發光端311將該線性光投射於該待測元件S；該攝影裝置41係為線掃描攝影機，以對該待測元件S拍攝與該軸向方向X平行之一線性影像。藉此，當該待測元件S隨著該磁性件24旋轉時，該攝影裝置41可以連續對該待測元件S拍攝，進而取得該待測元件S之外周面於各個角度下的線性影像。詳言之，該攝影裝置41之拍攝頻率應對應該待測元件S之旋轉速度，以正確取得該待測元件S之外周面於各個角度下的線性影像，舉例而言，若該攝影裝置41為掃描頻率(Line Rate)約等於〝4.8kHz〞之線掃描攝影機，且使用者欲環繞該待測元件S之外周面取得3600張線性影像，則該待測元件S每秒應旋轉0.75圈，換言之，該驅動裝置22應驅動該磁性件24以〝45rpm〞之轉速旋轉。

該攝影裝置41拍攝取得該待測元件S之外周面於各個角度下的線性影像後，可以經由電腦或工作站習用運算裝置將該待測元件S之外周面於各個角度下的線性影像合併形成一平面影像，據以檢測該待測元件S是否存在瑕疵。在本實施例當中，該待測元件S係為一螺絲，因此由該平面影像能夠有效檢驗該待測元件S之寬度、牙距與內外牙徑等規格是否小於公差，並且偵測該待測元件S是否存在缺角、牙尖擴展或牙鋒寬度異常等問題。

更詳言之，請參照第7圖所示，係該光源31之發光端311與該攝影裝置41之鏡頭411的設置方向示意圖。該發光端311係朝向該待測元件S之一端緣投射該線性光，同時該鏡頭411係朝向該端緣設置以拍攝取得該待測元件S之線性影像，該待測元件S之中心係朝向該端緣延伸形成一法線方向N。其中該發光端311與該端緣之連線和該法線方向N間形成一第一夾角θ₁ ；該鏡頭411與該端緣之連線和該法線方向N間形成一第二夾角θ₂ ，透過設計使該第一夾角θ₁ 等於該第二夾角θ₂ 時，該發光端311所投射之光線將直接反射至該鏡頭411，因此若該待測元件S是否存在缺角等瑕疵，將導致該攝影裝置41所拍攝的線性影像於瑕疵明亮度不均或線條不連續，即可有效檢測該待測元件S是否存在瑕疵。惟，對於經電鍍處理或其它亮面處理之待測元件S而言，若設計使該第一夾角θ₁ 等於該第二夾角θ₂ ，將造成該攝影裝置41所拍攝的線性影像過於明亮而無法辨識瑕疵部位，因此可以設計使該第一夾角θ₁ 不等於該第二夾角θ₂ ，以對該攝影裝置41所拍攝的線性影像進行減光。

換言之，該光源31之發光端311與該攝影裝置41之鏡頭411的設置方向應視該待測元件S之種類以及所欲檢測之瑕疵類型而調整，據此，該光源模組3之第二調整部32必須包含該水平調整部321，以供調整該光源31於垂直該軸向方向X之平面上的位置，進而改變該發光端311的設置方向；同理，該攝影模組4之第三調整部42必須包含該水平調整部421，以供調整該攝影裝置41於垂直該軸向方向X之平面上的位置，進而改變該鏡頭411的設置方向。

請參照第8圖所示，當該攝影裝置41完成拍攝該待測元件S之外周面於各個角度下的線性影像後，該轉軸11所耦接之動力元件可以再次驅動該承載盤12旋轉，使得該定位槽121於垂直該軸向方向X之平面上移動，由於該待測元件S係定位於該定位槽121當中，因此該承載盤 12旋轉時將迫使該待測元件S自該磁性件24脫離，且該動力元件可以驅動該承載盤12持續旋轉至另一預定位置，使得支撐有另一待測元件S之一定位槽12沿該軸向方向X與該磁性件24相互對位。藉此，透過重複上述動作，該攝影裝置41即可對各該定位槽12當中的待測元件S進行拍攝，以完成檢測各該待測元件S是否存在瑕疵。除此之外，完成檢測之待測元件S可以經由一取料機構(圖未繪示)依序自該各該定位槽121當中被取出，關於上述送料機構及該取料機構均為本創作所屬領域中具有通常知識者均能輕易理解之習知技術，恕不另行贅述。

另一方面，在本實施例中，該承載盤12較佳與該轉軸11形成可拆分之結合。藉此當使用者欲對不同規格之待測元件S進行檢測時，即可對應更換該承載盤12，以提供適當之定位槽121來支撐定位不同規格之待測元件S。為此，該元件驅動裝置2必須設置該第一調整部25，使得該承載盤12更換後，能夠藉由該水平調整部251將該磁性件24之位置調整至與其中一定位槽121相互對位。此外，由於該對應不同規格之待測元件S的承載盤12可能需設置於不同的水平高度，因此該光源模組3之第二調整部32必須包含該垂直調整部322，以供調整該光源31於該軸向方向X上的位置，確保該發光端311所投射之線性光能夠完整照射於該待測元件S；同理，該攝影模組4之第三調整部42必須包含該垂直調整部422，以供調整該攝影裝置41於該軸向方向X上的位置，確保所拍攝之線性影像係完整涵蓋該待測元件S。

藉由上述結構，本創作實施例之元件檢測裝置經由該元件驅動裝置2之驅動裝置22驅動該磁性件24旋轉，可以利用該磁性件24吸附該待測元件S，以一併帶動該待測元件S旋轉，配合由該光源31朝向該待測元件S投射線性光，同時以該攝影裝置41連續拍攝該待測元件S之線性影像，即可取得該待測元件S之外周面於各個角度下的線性影像，據以檢測該待測元件S是否存在瑕疵。

值得注意的是，請一併參照第9及10圖所示，若該定位槽121中所支撐之待測元件S’延該軸向方向X之長度較長，當該待測元件S’受該磁性件24所吸附並帶動旋轉時，該待測元件S’遠離該定位槽121的部份可能會產生晃動，因而造成該攝影裝置41所拍攝的線性影像模糊不清，可能會導致該待測元件S’被誤判為瑕疵品。據此，本創作實施例之元件檢測裝置還可以設有一支撐模組5，該支撐模組5包含一支架51、二支撐桿52及一驅動部53，該二支撐桿52係結合於該支架51，並且朝向與該磁性件24相對位之定位槽121中的待測元件S’設置，且該二支撐桿52與該磁性件24係分別形成於該承載盤12之二側。各該支撐桿52均設有一永久磁鐵521及一導輪522，該永久磁鐵521與該導輪522可以延該軸向方向X排列設置，且該導輪522係樞接結合於該支撐桿52。該驅動部53係連接該支架51，以供驅動該支架51及該二支撐桿52朝該待測元件S’接近或遠離該待測元件S’。

藉此，請一併參照第11圖所示，當該待測元件S受該磁性件24所吸附並帶動旋轉時，該驅動部53可以驅動該二支撐桿52朝該待測元件S’接近，使該待測元件S’分別抵接該二導輪522，進而達成穩定支撐該待測元件S’的效果。由於該導輪522之係樞接結合於該支撐桿52，因此該二支撐桿52不會阻礙該待測元件S’旋轉，且該二支撐桿52能夠經由該永久磁鐵521以吸引該待測元件S’，有效避免該待測元件S’於旋轉過程中產生晃動。

惟，請參照第12圖所示，當該攝影裝置41完成拍攝該待測元件’S之外周面於各個角度下的線性影像後，該轉軸11所耦接之動力元件需驅動該承載盤12旋轉，使得支撐有另一待測元件S’之一定位槽12沿該軸向方向X與該磁性件24相互對位。然而，若該待測元件S’抵接於該二支撐桿52之導輪522將導致該承載盤12無法順暢旋轉，甚至對會對該待測元件S’造成損傷。因此，該驅動部53必須驅動該二支撐桿52遠離該待測元件S’，使該待測元件S’與該二支撐桿52之導輪522分離，該承載盤12方能順利旋轉。

所述驅動部53係可以為壓缸或馬達等各式習用動力輸出裝置，惟，該驅動部53較佳經由一傳動結構(圖未繪示)與該轉軸11所耦接之動力元件相結合，使得該動力元件驅動該轉軸11旋轉時，能夠同步利用該傳動結構將驅動該轉軸11產生軸向樞轉之動力轉換為驅動該支架51產生徑向位移之動力，藉此能夠使該二支撐桿52之動作與該承載盤12之轉動過程同步，進一步確保該承載盤12可以順利旋轉，以切換與該磁性件24相互對位之定位槽121。

藉由前揭之結構特徵，本創作實施例之元件檢測裝置的主要特點在於：

利用一元件載台1提供數個定位槽121，各該定位槽121係可活動地結合一待測元件S；經由一元件驅動裝置2之驅動裝置22驅動一磁性件24旋轉，該元件載台1可以驅使支撐有待測元件S之數個定位槽12於垂直該軸向方向X之平面上移動，以分別沿該軸向方向X與該磁性件24相互對位，以利用該磁性件24吸附該待測元件S並且一併帶動該待測元件S旋轉；配合由一光源31朝向該待測元件S投射線性光，同時以一攝影裝置41連續拍攝該待測元件S之線性影像，進而取得該待測元件S之外周面於各個角度下的線性影像。

由此可知，相較前述習用元件檢測裝置9僅能利用數個影像擷取裝置921、922以拍攝取得該待測元件S於不同角度下的影像，本創作實施例之元件檢測裝置可以取得該待測元件S之外周面於各個角度下的影像，據以檢測該待測元件S是否存在瑕疵，因此能夠完整檢測待測元件S 之外周面之各個角度所可能存在的瑕疵，確實具有提升元件瑕疵檢測準確率之功效。

再者，若該定位槽121中所支撐之待測元件S’長度較長，本創作實施例之元件檢測裝置可以藉由一支撐模組5穩定支撐該待測元件S，，該支撐模組5包含二支撐桿52，且該二支撐桿52與該磁性件24係分別形成於該元件載台1之二側，該二支撐桿52可以抵接該待測元件S’，避免該待測元件S’受該磁性件24帶動旋轉的過程中產生晃動，以確保該攝影裝置41所拍攝之線性影像的品質，降低該待測元件S’被誤判為瑕疵品的機率，確實具有進一步提升元件瑕疵檢測準確率之功效。

綜上所述，本創作元件檢測裝置確可達到元件瑕疵檢測準確率之功效。

雖然本創作已利用上述較佳實施例揭示，然其並非用以限定本創作，任何熟習此技藝者在不脫離本創作之精神和範圍之內，相對上述實施例進行各種更動與修改仍屬本創作所保護之技術範疇，因此本創作之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。