JP2016078964A - 用紙不良検査システム - Google Patents
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Abstract
【課題】用紙に発生する様々な不良を一台で検知することができる装置を提供する。【解決手段】本発明に係る用紙不良検査システム1は,用紙2の厚みを測定する変位センサ10と,厚みが変化する不良が発生していない用紙2を搬送させた時に変位センサ10から得られる厚みの時間的推移を示す正常波形が予め設定され,検査対象となる用紙2を搬送させた時に変位センサ10が測定した厚みの時間的推移を測定波形として取得し,測定波形が正常波形に一致しないと判定した場合,検査対象となる用紙2に不良が発生していると判定する検査装置11を備えている【選択図】図1
Description
本発明は,2枚差し不良や抜きカス不良など,用紙に発生する不良を検査する技術に関する。
用紙の厚みは,古くから,用紙に発生する係る様々な不良の検査に用いられている。例えば,用紙の厚みは,用紙が2枚重ねになる2枚差し不良の検査に用いられ,本出願人が既に出願した特許文献1では,ローラを利用して用紙の厚みを検知して2枚差し不良を検査する考案が開示されている。また,本出願人が既に出願した特許文献2では,ローラを利用して,孔加工された用紙の厚みを検知し,用紙上に抜きカスが混入する抜きカス不良を検査する発明が開示されている。
しかしながら,用紙に係る不良は,上述の2枚差し不良や抜きカス不良ばかりではなく,ラベルを貼り付ける用紙の場合は,ラベルが正常に貼られていないラベル貼り付け不良が発生する場合もあるし,また,用紙の一部が破損(例えば,破れる)する破損不良が発生する場合もあるが,従来の技術では,一つの装置で,用紙に発生する様々な不良を検査することはできなかった。
そこで,本発明は,用紙に発生する様々な不良を一台で検知することができる装置を提供することを目的とする。
上述した課題を解決する本発明は,用紙の厚みを測定する変位センサと,厚みが変化する不良が発生していない用紙を搬送させた時に前記変位センサから得られる厚みの時間的推移を示す正常波形が予め設定され,検査対象となる用紙を搬送させた時に前記変位センサが測定した厚みの時間的推移を測定波形として取得し,前記測定波形が前記正常波形に一致しないと判定した場合,検査対象となる用紙に前記不良が発生していると判定する検査装置を備えたことを特徴とする用紙不良検査システムである。
厚みが変化する不良が用紙に発生すると,この不良によって用紙の厚みが変化し,用紙を搬送させた時に変位センサが計測した厚みの時間的推移である測定波形も不良で発生する厚みに応じて変化するため,本発明のように,検査装置が,検査対象となる用紙を搬送させた時に変位センサが測定した厚みの時間的推移を測定波形として取得し,正常波と一致するか判定することで,不良が用紙に発生しているか否かを検査できる。
ここから,本発明の好適な実施形態を記載する。なお,以下の記載は本発明の範囲を束縛するものでなく,理解を助けるために記述するものである。
図1は,本実施形態に係る用紙不良検査システム1の構成を説明する図である。図1に図示したように,本実施形態に係る用紙不良検査システム1は,シート状の用紙2の厚みを測定する変位センサ10と,変位センサ10が測定した厚みを利用して,用紙2に発生している不良を検査する検査装置11とから少なくとも構成される。
本実施形態に係る用紙不良検査システム1が備える変位センサ10は,ワークの変位を連続して測定可能なセンサである。変位センサ10の種類は様々あるが,ワークが用紙2であることを考えると,差動変圧器を利用する接触式変位センサやレーザ光を利用する非接触式変位センサを用いることが好適である。
図1では,変位センサ10を接触式変位センサとして図示し,搬送ベルトによって搬送される用紙2と変位センサ10の先端を接触させている。このようにすることで,搬送ベルトによって用紙2を搬送すると,変位センサ10から得られる厚みは,用紙2の搬送方向の凹凸形状に応じて時間的に推移することになる。
図2は,本実施形態に係る検査装置11のブロック図である。本実施形態に係る用紙不良検査システム1は,本発明に必要な機能として,検査対象となる用紙2を搬送させた時に変位センサ10が測定した厚みの時間的推移を測定波形として取得する測定波形取得部110と,変位センサ10が測定した厚みから得られた測定波形を利用して,用紙2に発生している不良を検査する用紙検査部111を備える。このような機能を備えた検査装置11は,PLC(Programmable Logic Controller)やパーソナルコンピュータを利用して実現できるが,デジタルオシロスコープを利用して実現することもできる。
本実施形態に係る検査装置11が備える測定波形取得部110は,検査対象となる用紙2を搬送させた時に変位センサ10が測定した厚みの時間的推移を測定波形として取得する際,用紙2を搬送する搬送ベルトと連動するエンコーダのパルス信号を利用して生成され,一枚の用紙2が変位センサ10の測定スポット(ここでは,変位センサ10の先端になる)を通過するタイミングを示すゲート信号を利用する。検査装置11の測定波形取得部110は,ゲート信号がONの区間に変位センサ10が測定した厚みを時系列で取り込むことで測定波形を取得する。なお,変位センサ10が測定した厚みを時系列で取り込む際,変位センサ10が測定した厚みをA/D変換し,デジタルデータとして取り込むことが一般的である。
検査装置11の用紙検査部111には,厚みが変化する不良が発生していない用紙2を搬送させた時に変位センサ10から得られる厚みの時間的推移を示す正常波形が予め設定され,測定波形取得部110が取得した測定波形が正常波形に一致しないと判定した場合,検査対象となる用紙2に不良が発生していると判定する。厚みが変化する不良が発生していない幾つかの用紙2を実際に搬送させ,変位センサ10から得られた厚みの時間的推移である波形の平均を正常波形として利用するよく,また,正常波形と一致すると判定する範囲も予め決め設定しておくとよい。また,検査装置11の用紙検査部111は,不良が用紙2に発生していると判定すると,不良が発生している用紙2にテープを挿入するテープインサータや警報装置などに警報信号を出力するように構成することが望ましい。
厚みが変化する不良が用紙2に発生すると,この不良によって用紙2の厚みが変化し,用紙2を搬送させた時に変位センサ10から得られる厚みの時間的推移である測定波形も不良で発生する厚みに応じて変化するため,厚みが変化する不良が用紙2に発生していない場合の正常波形と測定波形が一致するか判定することで,厚みが変化する不良が用紙2に発生しているか否かを検査できる。
ここから,用紙2に発生した不良と測定波形について説明する。図3は,本実施形態に係る用紙2を説明する図,図4は,不良が発生していない場合の測定波形である正常波形を説明する図,図5は,厚みが変化する不良として2枚差し不良が発生した時の測定波形を説明する図,図6は,厚みが変化する不良として抜きカス不良が発生した時の測定波形を説明する図,図7は,厚みが変化する不良としてラベル貼り付け不良が発生した時の測定波形を説明する図,そして,図8は,厚みが変化する不良として破損不良が発生した時の測定波形を説明する図である。
まず,図3を参照しながら,本実施形態に係る用紙2について説明する。本実施形態に係る用紙2には,用紙2の厚みに影響を及ぼす加工として,矩形の孔20をあける加工と矩形のラベル21を貼り付ける加工が施されている。図3の点線22は,搬送コンベア3にて用紙2を搬送した際,変位センサ10によって厚みが測定される個所を示し,変位センサ10によって厚みが測定される個所は,矩形の孔20および矩形のラベル21を通過するように設定されている。また,本実施形態に係る用紙2に係るゲート信号に対応する区間は,用紙2の搬送方向の長さよりも若干長くなっている。
次に,図4を参照しながら,不良が発生していない場合の測定波形である正常波形について説明する。不良が発生していない場合,搬送した際に用紙2の先端となる測定点Aにおいて,変位センサ10が厚みを測定する個所は用紙2になるため,変位センサ10が測定する厚みは用紙2の厚みになる。また,孔20の先端になる測定点Bでは,変位センサ10が厚みを測定する個所は用紙2に形成された孔20になるため,変位センサ10が測定する厚みは初期値(例えば,0)になる。また,孔20の後端になる測定点Cでは,変位センサ10が厚みを測定する個所は用紙2になるため,変位センサ10が測定する厚みは用紙2の厚みになる。また,ラベル21の先端になる測定点Dでは,変位センサ10が厚みを測定する個所は用紙2に貼られたラベル21になるため,変位センサ10が測定する厚みは,用紙2の厚みにラベル21の厚みを加算した厚みになる。また,ラベル21の後端になる測定点Eでは,変位センサ10が厚みを測定する個所は用紙2になるため,変位センサ10が測定する厚みは用紙2の厚みになる。また,ラベル21の後端になる測定点Fでは,変位センサ10が厚みを測定する個所は用紙2を外れるため,変位センサ10が測定する厚みは初期値になる。
次に,図5を参照しながら,2枚差し不良が発生した場合の測定波形について説明する。2枚差し不良が発生すると,図4で図示した正常波形と比較して,厚みが初期値でない区間(測定点A−測定点Bの区間と測定点C−測定点Fの区間)の厚みが2倍になるため,2枚差し不良が発生した場合の測定波形は正常波形と一致しない。
次に,図6を参照しながら,抜きカス不良が発生した場合の測定波形について説明する。抜きカス不良が発生すると,図4で図示した正常波形と比較して,抜きカスがある区間(測定点G−測定点G’の区間)の厚みが抜きカスの厚みだけ増えるため,抜きカス不良が発生した場合の測定波形は正常波形と一致しない。
次に,図7を参照しながら,ラベル貼り付け不良が発生した場合の測定波形について説明する。ラベル21が貼り付けられていないラベル貼り付け不良が発生すると,図4で図示した正常波形と比較して,用紙2の厚みにラベル21の厚みを加算した厚みが測定される区間(測定点D−測定点Eの区間)において,用紙2の厚みしか測定されないため,抜きカス不良が発生した場合の測定波形は正常波形と一致しない。
次に,図8を参照しながら,破損不良が発生した場合の測定波形について説明する。用紙2のみがある区間(測定点E−測定点Fの区間)において穴があく破損不良が発生すると,図4で図示した正常波形と比較して,破損不良が発生した区間(測定点H−測定点H’の区間)において用紙2の厚みではなく初期値が測定されるため,破損不良が発生した場合の測定波形は正常波形と一致しない。
このように,用紙2の厚みが変化する不良が発生すると,この不良が発生した用紙2から得られる測定波形は正常波形と一致しなくなるため,検査対象となる用紙2から得られた測定波形と正常波形を比較することで,用紙2に発生した不良を検査できる。
なお,本実施形態は一つの形態にしか過ぎず,本実施形態以外の他の形態も考えられる。例えば,本実施形態では,変位センサ10として接触式変位センサを用いているが,変位センサ10として非接触式変位センサを用いることもできる。この場合,用紙2を挟み込むように2つの非接触式変位センサを対向させ,2つの非接触式変位センサの出力から用紙2の厚みを測定するようにするとよい。また,本実施形態では,用紙2の幅方向に配置する変位センサ10を一つとしているが,用紙2の幅方向に変位センサ10を複数配置する形態も考えられる。
1 用紙不良検査システム
10 変位センサ
11 検査装置
110 測定波形取得部
111 用紙検査部
2 用紙
20 孔
21 ラベル
10 変位センサ
11 検査装置
110 測定波形取得部
111 用紙検査部
2 用紙
20 孔
21 ラベル
Claims (1)
- 用紙の厚みを測定する変位センサと,
厚みが変化する不良が発生していない用紙を搬送させた時に前記変位センサから得られる厚みの時間的推移を示す正常波形が予め設定され,検査対象となる用紙を搬送させた時に前記変位センサが測定した厚みの時間的推移を測定波形として取得し,前記測定波形が前記正常波形に一致しないと判定した場合,検査対象となる用紙に前記不良が発生していると判定する検査装置と,
を備えたことを特徴とする用紙不良検査システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2014210313A JP2016078964A (ja) | 2014-10-14 | 2014-10-14 | 用紙不良検査システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2014210313A JP2016078964A (ja) | 2014-10-14 | 2014-10-14 | 用紙不良検査システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2016078964A true JP2016078964A (ja) | 2016-05-16 |
Family
ID=55957602
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014210313A Pending JP2016078964A (ja) | 2014-10-14 | 2014-10-14 | 用紙不良検査システム |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2016078964A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59200387A (ja) * | 1983-04-27 | 1984-11-13 | 株式会社東芝 | 印刷物判別装置 |
WO2004022465A1 (ja) * | 2002-08-30 | 2004-03-18 | Fujitsu Limited | 紙葉類角折れ検出方法および紙葉類角折れ検出プログラム |
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2014
- 2014-10-14 JP JP2014210313A patent/JP2016078964A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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WO2004022465A1 (ja) * | 2002-08-30 | 2004-03-18 | Fujitsu Limited | 紙葉類角折れ検出方法および紙葉類角折れ検出プログラム |
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