JP2016075523A - 物品検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1において、本発明の一実施形態に係る物品検査装置1は、搬送部2と、検査部3と、表示操作部4と、判定部5と、制御回路6と、を備えている。
2 搬送部
3 検査部
3A X線検出部
3B 金属検出部
3C 重量検出部
4 表示操作部
5 判定部
6 制御回路
7 記憶部
8 制御部
52 搬入センサ
81 制限設定部
82 検査条件設定制御部
W 被検査物
Claims (8)
- 被検査物(W)を検査する検査部(3)と、
前記被検査物の検査に用いる前記検査部の検査条件及び前記検査条件の設定項目ごとの設定値の制限設定を設定させる制限設定部(81)と、
前記制限設定に従って作業者に前記検査条件の設定項目を設定させる検査条件設定制御部(82)と、を備える物品検査装置。 - 前記検査条件設定制御部は、前記制限設定に設定された設定値を当該設定項目の初期値とする請求項1に記載の物品検査装置。
- 前記検査条件設定制御部は、前記制限設定に固定値が設定されていた場合、当該設定項目の設定値の変更を制限する請求項1に記載の物品検査装置。
- 前記検査条件設定制御部は、前記制限設定に非表示が設定されていた場合、当該設定項目を作業者に非表示とする請求項1に記載の物品検査装置。
- 前記検査条件設定制御部は、前記制限設定に設定範囲が設定されていた場合、当該設定項目の設定値を設定された範囲内に制限する請求項1に記載の物品検査装置。
- 前記検査条件設定制御部は、前記制限設定に正常範囲が設定されていた場合、前記検査条件の設定後のサンプル品を用いて得られた当該設定項目の値が前記正常範囲内であるか否かを判定する請求項1から5のいずれかに記載の物品検査装置。
- 前記制限設定を複数記憶する記憶部(7)を備え、
前記検査条件設定制御部は、記憶されている複数の前記制限設定から選択された前記制限設定に従って作業者に前記検査条件の設定項目を設定させる請求項1から6のいずれかに記載の物品検査装置。 - 前記検査条件設定制御部は、記憶されている複数の前記制限設定から複数の前記制限設定が選択された場合、選択された複数の前記制限設定に従って作業者に前記検査条件の設定項目を設定させる請求項7に記載の物品検査装置。
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2014
- 2014-10-03 JP JP2014204893A patent/JP6438260B2/ja active Active
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