JP2016067683A

JP2016067683A - 遊技機

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Publication number: JP2016067683A
Application number: JP2014201485A
Authority: JP
Inventors: 田中　勝巳; Katsumi Tanaka; 勝巳田中
Original assignee: Sanei R&D Co Ltd
Current assignee: Sanei R&D Co Ltd
Priority date: 2014-09-30
Filing date: 2014-09-30
Publication date: 2016-05-09
Anticipated expiration: 2034-09-30
Also published as: JP5990837B2

Abstract

【課題】遊技の制御に利用する乱数の異常を検出することが可能な遊技機を提供する。
【解決手段】ＣＰＵは、乱数監視処理Ｓ３を実行することで、乱数生成チップが出力する乱数をサンプル乱数として取得して、複数のサンプル乱数からなる比較サンプルグループＹの先頭のサンプル乱数とそれ以外のサンプル乱数とが同一であるか否かを判別する。そして、同一になった回数が、乱数生成チップが正常であれば理論上あり得ない回数になったことをもって乱数の異常を検出する。
【選択図】図６

Description

本発明は、乱数に基づいて遊技を制御する遊技制御手段を備えた遊技機に関する。

従来、この種の遊技機として、限定個数分の相互に異なる数を、一定の更新周期で乱数として生成する動作を繰り返して限定個数の乱数からなる乱数グループを順次生成する乱数生成回路を備えたものが知られている。また、この遊技機は、乱数生成回路とは別個の遊技制御回路が乱数生成回路から乱数を取得し、その乱数に基づいて遊技を制御するようになっている（例えば、特許文献１参照）。

特開２００３−２９９８６２号公報（段落［００９７］，［００９８］）

ところで、上記した乱数生成回路が故障すると、全て異なる乱数からなるはずの上記乱数グループが同一の乱数を複数含むようになり、その乱数に基づいた遊技の制御に不具合を来たす事態が生じ得た。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、遊技の制御に利用する乱数の異常を検出することが可能な遊技機の提供を目的とする。

上記目的を達成するためになされた請求項１の発明は、予め定められた限定個数分の相互に異なる数を、一定の更新周期で乱数として生成する動作を繰り返して、前記限定個数と前記更新周期との積である乱数群生成周期で前記限定個数の乱数からなる乱数グループを順次生成する乱数生成回路と、前記乱数生成回路から取得した前記乱数に基づいて遊技を制御する遊技制御手段とを備えた遊技機において、前記乱数生成回路が生成する乱数を３回以上の特定複数回に亘ってサンプル乱数としてサンプリングするサンプリング手段と、前記特定複数回の最初から最後までのサンプリングに要するサンプル群取得期間を前記乱数群生成周期で除した解に３を加えたものを基準同一個数とすると、前記特定複数回分の前記サンプル乱数のうち前記基準同一個数以上の前記サンプル乱数が同一であることに基づいて、前記乱数生成回路の異常を検出する乱数生成異常判別手段とを備えたことを特徴とする遊技機である。

請求項１の遊技機が有する乱数生成回路は、限定個数の異なる乱数からなる乱数グループを、乱数群生成周期の１周期が経過する度に、１グループずつ生成する。また、サンプリング手段は、乱数生成回路が生成する乱数を特定複数回に亘ってサンプル乱数としてサンプリングする。ここで、特定複数回分のサンプル乱数を比較サンプルグループとし、サンプリング手段が特定複数回の最初から最後までのサンプリングに要する期間をサンプル群取得期間とすると、サンプル群取得期間が、乱数群生成周期のＮ周期より長く、Ｎ＋１周期以下だとすると、最大、Ｎ＋２つの乱数グループから１つの比較サンプルグループが取得されることになる。よって、１つの比較サンプルグループに含まれる同一の値の乱数の個数がＮ＋３以上になった場合には、乱数生成回路が異常ということになる。本発明では、その「Ｎ＋３」が「サンプル群取得期間を乱数群生成周期で除した解に３を加えたもの」としての「基準同一個数」に相当し、サンプル群取得期間中のサンプル乱数（即ち、１つの比較サンプルグループ）のうち同一の値のサンプル乱数が上記した基準同一個数以上であるか否かを調べることで、乱数の異常を検出することができる。

請求項２の発明は、前記特定複数回が、前記基準同一個数より多いことを特徴とする請求項１に記載の遊技機である。

請求項３の発明は、前記サンプリング手段は、一定のサンプリング周期でサンプリングを行うように構成され、前記サンプリング周期は、前記乱数群生成周期の５〜２０％であり、前記サンプル群取得期間は、前記乱数群生成周期の８５〜１１５％であることを特徴とする請求項１又は２に記載の遊技機である。

上述した乱数生成回路が生成する乱数が全て同一となるような異常であれば、特定複数回が基準同一個数と同じであっても多くても乱数生成異常判別手段による異常検出結果は同じであるが、乱数生成回路が生成する乱数が全て同一ではないが、乱数グループを構成する乱数の数が減って正常時より乱数群生成周期が短くなるような異常や、乱数生成回路が２種類の値を交互に生成するような異常であると、請求項２のように特定複数回を基準同一個数より多くすることで、異常を検出する確率を上げることが可能となる。また、請求項３の構成とすれば、乱数群生成周期の略全体とも言える８５％以上、その乱数群生成周期の５〜２０％の刻みでサンプリングするので、正常時の乱数群生成周期の全体に亘って発生するような異常を検出することが可能となる。

請求項４の発明は、前記サンプリング手段は、前記サンプル群取得期間を含む一定周期で前記サンプル群取得期間が繰り返されるようにサンプリングを行うことを特徴とする請求項１乃至３の何れか１の請求項に記載の遊技機である。

請求項５の発明は、前記サンプル群取得期間を含む前記一定周期と前記乱数群生成周期とのうちの大きい方の一方が小さい方の他方の非整数倍になっていることを特徴とする請求項４に記載の遊技機である。

請求項４の発明のように、サンプル群取得期間を含む一定周期でサンプル群取得期間が繰り返えされるようにサンプリングを行って乱数生成回路の異常を早期に検出できるようにしてもよい。その場合、請求項５の構成とすれば、時間の経過と共に、乱数群生成周期におけるサンプリングの位置をずらすことが可能となる。

上記したように、本発明の遊技機は、限定個数分の相互に異なる数を一定の更新周期で乱数として生成する動作を繰り返す乱数生成回路を備え、乱数生成回路にて生成される乱数に基づいて遊技を制御すると共に、乱数生成回路が生成した乱数を複数サンプリングして、それらサンプル乱数に含まれる同一値の乱数の数に基づいて乱数の異常を判別する。即ち、本発明によれば、遊技の制御に利用する乱数の異常を検出することができる。

本発明の一実施形態に係る遊技機の正面図遊技機の電気的な構成を示したブロック図サンプリングの概念図主制御メインプログラムのフローチャート遊技制御処理のフローチャート乱数監視処理のフローチャート

以下、本発明の「遊技機」としてのパチンコ遊技機１０に係る一実施形態を、図１〜図６に基づいて説明する。図１に示すように、パチンコ遊技機１０は、前面のガラス窓９５Ｗを通して遊技板１１の遊技領域Ｒ１を視認可能になっている。遊技領域Ｒ１には、中央に液晶表示装置３２が備えられ、遊技領域Ｒ１のうち液晶表示装置３２の下方中央に、第１始動入賞口１４Ａ、第２始動入賞口１４Ｂ、大入賞口１５、アウト口１６が上から順番に設けられている。また、液晶表示装置３２の下方両側部に、複数の一般入賞口２０が備えられ、さらに、液晶表示装置３２の左方には、始動ゲート１８が設けられている。

また、第２始動入賞口１４Ｂの左右両側には可動翼片１４Ｃ，１４Ｃが備えられ、それら両可動翼片１４Ｃ，１４Ｃが通常は起立状態になって第２始動入賞口１４Ｂへの入球を規制している。そして、始動ゲート１８を遊技球が通過したことを起因に、後述する乱数生成チップ４０（本発明の「乱数生成回路」に相当する）にて生成される乱数に基づく当否判定（以下、「普図判定」という）が行われ、その普図判定で当りになると、可動翼片１４Ｃ，１４Ｃが所定期間にわたって横に倒されて、可動翼片１４Ｃを案内にして遊技球が第２始動入賞口１４Ｂに入賞可能になる。

大入賞口１５は、遊技板１１の前面に横長の長方形をなして開口し、扉１５Ｔによって通常は閉塞されている。そして、第１及び第２の始動入賞口１４Ａ，１４Ｂへ遊技球が入賞することを起因に、乱数生成チップ４０にて生成される乱数に基づく当否判定（以下、適宜、「特図判定」という）が行われ、その特図判定で当りになると、大入賞口１５の扉１５Ｔが前方に倒れるように開き、その扉１５Ｔを案内にして大入賞口１５が遊技球を受け入れ可能となる（所謂、大当り遊技が実行される）。なお、一般入賞口２０、第１及び第２の始動入賞口１４Ａ，１４Ｂ及び大入賞口１５に遊技球が入賞する度に、所定複数の遊技球が上皿２６に払い出される。

上記した特図判定の判定結果は、液晶表示装置３２で表示演出を伴って報知される。具体的には、液晶表示装置３２には、通常、３つの左、中、右の特別図柄３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃが横並びに停止表示されている。そして、第１又は第２の始動入賞口１４Ａ，１４Ｂに遊技球が入賞したときに、これら３つの特別図柄３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃが変動表示（上下方向にスクロール表示）後、例えば、左、右、中の順に停止表示されて、例えば、ゾロ目となったか否かにより前記した特図判定の判定結果が報知される。その際、特図判定の判定結果が当りであるときに、特別図柄３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃをどのような変動態様及び図柄で停止させるか、また、特図判定の判定結果が外れであるときに、特別図柄３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃをどのような変動態様及び図柄で停止させるかが乱数生成チップ４０によって生成（出力）される乱数に基づいて決定される。

図２には、本実施形態のパチンコ遊技機１０の電気的な構成が示されている。同図に示す主制御基板５０は、ＣＰＵ５０Ａ（本発明の「遊技制御手段」に相当する）とＲＡＭ５０Ｂ及びＲＯＭ５０Ｃを有し、上記した普図判定、特図判定等を行う。サブ制御基板５２は、主制御基板５０と同様に、ＣＰＵ５２Ａ（本発明の「遊技制御手段」に相当する）とＲＡＭ５２Ｂ及びＲＯＭ５２Ｃを有し、主として主制御基板５０からのコマンドを受けて演出の制御を行う。なお、乱数生成チップ４０は、主制御基板５０及びサブ制御基板５２のそれぞれに搭載されている。

乱数生成チップ４０は、クロック発生器４０Ａとカウンタ４０Ｂとを備えていて、クロック発生器４０Ａの１クロックごとにカウンタ４０Ｂの値が１つインクリメントされる。また、カウンタ４０Ｂは、例えば、１６ビット（０〜６５５３５）の値を保持可能で初期値は０になっていて、インクリメントされて予め定められた上限値（６５５３５）に達すると、初期値の０にリセットされ、以降同じ動作を繰り返す。そして、前記したＣＰＵ５０Ａ，５２Ａが乱数生成チップ４０からカウンタ４０Ｂの値をランダムなタイミングで取得して乱数として使用する。詳細には、乱数生成チップ４０は、規則的に変化する数を生成しているが、それら数がＣＰＵ５０Ａ，５２Ａにランダムなタイミングで取得されるので、ランダムな数、即ち、乱数になる。つまり、本発明の「乱数生成回路」としての乱数生成チップ４０は、予め定められた限定個数分（６５５３６個）の相互に異なる数を、一定の更新周期Ｔ１（１クロック）で乱数として生成する動作を繰り返す構成になっている。

また、乱数生成チップ４０が乱数を生成する更新周期Ｔ１である１クロックは、例えば、０．１［μｓ］になっている。なお、乱数生成チップ４０による更新周期Ｔ１は、ＣＰＵ５０Ａ，５２Ａ（遊技制御手段）にて制御可能な周期より短い。従って、乱数生成チップ４０は、図３（Ａ）に示すように、限定個数Ｍ１（６５５３６個）と更新周期Ｔ１（０．１［μｓ］）との積である乱数群生成周期Ｔ２（約６．５［ｍｓ］）で、限定個数（６５５３６個）の乱数からなる乱数グループＧを順次生成する構成になっている。

主制御基板５０上のＣＰＵ５０Ａは、後述する乱数監視処理（Ｓ３、図６参照）を実行して主制御基板５０上の乱数生成チップ４０が更新している乱数をサンプリングし、そのランプリングされた乱数に基づいて乱数生成チップ４０の異常の有無を監視している。これと同様にサブ制御基板５２上のＣＰＵ５２Ａも、サブ制御基板５２上の乱数生成チップ４０の異常の有無を監視している。

乱数確認処理のフローチャートを使用した詳細説明の前に、ＣＰＵ５０Ａによる乱数生成チップ４０の監視の概要について図３を用いて説明する。ＣＰＵ５０Ａは、乱数生成チップ４０が生成し更新する乱数を、サンプル乱数としてサンプリング周期Ｔ３毎にサンプリングする。そして、ＣＰＵ５０Ａは、特定複数回Ｌ分のサンプル乱数を１グループとした比較サンプルグループＹに含まれる同一の値のサンプル乱数の個数をカウントし、その同一の値のサンプル乱数の個数が基準同一個数Ｚを超えたか否かに基づいて異常の有無を判別する。その基準同一個数Ｚは、以下の理論に基づいて設定されている。

ここで、ＣＰＵ５０Ａが、特定複数回Ｌ分のサンプル乱数をサンプリングするのに要する期間（即ち、１つの比較サンプルグループＹの取得に要する時間）をサンプル群取得期間Ｔ４（＝Ｔ３×（Ｌ−１））とすると、そのサンプル群取得期間Ｔ４が乱数群生成周期Ｔ２の１周期以下である場合、図３（Ｂ）に示すように、ＣＰＵ５０Ａは、乱数群生成周期Ｔ２の１周期分の乱数グループＧだけから１つの比較サンプルグループＹを取得することもあるが、乱数群生成周期Ｔ２の２周期分の２つの乱数グループＧから１つの比較サンプルグループＹを取得することもある。つまり、サンプル群取得期間Ｔ４が乱数群生成周期Ｔ２の１周期以下だとすると、ＣＰＵ５０Ａは、最大、２つの乱数グループＧから１つの比較サンプルグループＹを取得する場合がある。

これと同様に、図３（Ｃ）に示すように、サンプル群取得期間Ｔ４が、乱数群生成周期Ｔ２の１周期より長く、２周期以下だとすると、ＣＰＵ５０Ａは、最大、３つの乱数グループＧから１つの比較サンプルグループＹを取得する場合がある（図３（Ｃ）の右側の比較サンプルグループＹ参照）。よって、サンプル群取得期間Ｔ４が、乱数群生成周期Ｔ２のＮ周期より長く、Ｎ＋１周期以下だとすると、ＣＰＵ５０Ａは、最大、Ｎ＋２つの乱数グループＧから１つの比較サンプルグループＹを取得する場合がある。

一方、乱数生成チップ４０が正常である限りは、Ｎ＋２個の乱数グループＧから１つの比較サンプルグループＹを取得した場合には、その１つの比較サンプルグループＹに含まれる同一の値のサンプル乱数の個数がＮ＋３以上になることは理論上あり得ず、そのようになった場合には、乱数生成チップ４０が異常であると判断することができる。ここで、「Ｎ＋３」は、「サンプル群取得期間Ｔ４を乱数群生成周期Ｔ２で除した解Ｎに３を加えたもの」であり、これが本発明の基準同一個数Ｚに相当する。従って、１つの比較サンプルグループＹに含まれる同一の値のサンプル乱数の個数が、基準同一個数Ｚ以上になったことをもって乱数生成チップ４０の異常を検出することができる。

具体的には本実施形態では、前述したように図３（Ｂ）は、乱数群生成周期Ｔ２は約６．５［ｍｓ］であり、後述するようにサンプル群取得期間Ｔ４は６［ｍｓ］である。よって、サンプル群取得期間Ｔ４（＝６［ｍｓ］）を乱数群生成周期Ｔ２（＝約６．５［ｍｓ］）で除した解Ｎは「０」であり、それに「３」を加えた値として基準同一個数Ｚが「３」に設定されている。

また、ＣＰＵ５０Ａが実行する後述の乱数監視処理（図６参照）では、「１つの比較サンプルグループＹに含まれる同一の値のサンプル乱数の個数」を直接カウントするのではなく、「１つの比較サンプルグループＹにおいてその先頭のサンプル乱数と同一の値の他のサンプル乱数が個数」を同一判別カウンタにてカウントすることで、「１つの比較サンプルグループＹに含まれる同一の値のサンプル乱数の個数」を実質的にカウントしている。よって、同一判別カウンタのカウント結果がＸ個であったとすると、そのＸ個のサンプル乱数と先頭のサンプル乱数とを加えたＸ＋１個が、１つの比較サンプルグループＹに含まれる同一の値のサンプル乱数の個数ということになる。そこで、ＣＰＵ５０Ａは、同一判別カウンタのカウント結果が、基準同一個数Ｚである「３」より１つ少ない「２」以上であるときに異常ありと判断し、そうでない場合には異常なしと判断するようになっている。つまりサンプル群取得期間Ｔ４の間に先頭のサンプル乱数を含めた同一の値が３以上である場合に異常と判断している。

ここで、乱数生成チップ４０の異常として、乱数生成チップ４０が生成する乱数が全て同一の値になるような異常しか発生しないとすると、１つの比較サンプルグループＹは、先頭の１つのサンプル乱数とそれ以外の２つサンプル乱数との合計３つのサンプル乱数、即ち、基準同一個数Ｚのサンプル乱数で構成すれば足りることになる。しかしながら、１つの比較サンプルグループＹは、基準同一個数Ｚより多い、例えば、７つのサンプル乱数で構成されている。これにより、乱数生成チップ４０が生成する乱数が全て同一ではないが、乱数グループＧを構成する乱数の数が減って正常時より乱数群生成周期Ｔ２が短くなるような異常や、乱数生成チップ４０が２種類の値を交互に生成するような異常が発生した場合に、それら異常を検出する確率を上げることができる。

また、本実施形態では、サンプリング周期Ｔ３は、乱数生成チップ４０が乱数を更新する更新周期Ｔ１と異なり、ＣＰＵ５０Ａ，５２Ａにて制御可能な周期であり、前記更新周期Ｔ１より長く、具体的には、例えば、１［ｍｓ］になっている。従って７つのサンプル乱数からなる１つの比較サンプルグループＹの取得に要するサンプル群取得期間Ｔ４は、６［ｍｓ］である。このように本実施形態では、乱数群生成周期Ｔ２の略全体とも言える８５％以上（より具体的には、略９２％）を、その乱数群生成周期Ｔ２の５〜２０％（より具体的には、１５％）の刻みでサンプリングするので、正常時の乱数群生成周期Ｔ２の全体に亘って発生するような異常を検出することが可能となる。

さらには、ＣＰＵ５０Ａは、サンプル群取得期間Ｔ４を含む一定周期Ｔ５（＝Ｔ３＋Ｔ４）でサンプル群取得期間Ｔ４が繰り返えされるようにサンプリングを行うので、乱数生成チップ４０の異常を早期検出が可能になる。その上、その一定周期Ｔ５と乱数群生成周期Ｔ２とが異なっているので、時間の経過と共に、乱数群生成周期Ｔ２におけるサンプリングの位置をずらすことができる。しかも、比較サンプルグループＹのサンプル乱数を相互に比較するのではなく、比較サンプルグループＹの先頭のサンプル乱数とその他のサンプル乱数とを比較する構成になっているので、サンプル乱数比較時のＣＰＵ５０Ａの負荷軽減、及び処理に必要な記憶容量の低減が図られる。

また、乱数群生成周期Ｔ２は、サンプル群取得期間Ｔ４を含む一定周期Ｔ５の非整数倍になっている。これにより、時間の経過と共に、乱数群生成周期Ｔ２におけるサンプリングの位置をずらすことができる。

次に、ＣＰＵ５０Ａにて実行されるプログラムについて説明する。パチンコ遊技機１０の電源をオンすると、ＣＰＵ５０Ａは図４に示した主制御メインプログラムＰＧ１を実行する。主制御メインプログラムＰＧ１では、電源投入後の最初の実行の１回に限り、カウンタや変数のリセットの初期設定処理（Ｓ１）を行い、その後、遊技制御処理（Ｓ２）を例えば４［ｍｓ］の周期で繰り返して割り込み実行すると共に、乱数監視処理（Ｓ３）とを例えば１［ｍｓ］の周期で繰り返して割り込み実行する。

なお、遊技制御処理（Ｓ２）及び乱数監視処理（Ｓ３）が重なって実行されないようにタイムシェアリングされている。

図５に示すように、遊技制御処理（Ｓ２）では、まずはコマンド処理（Ｓ１０）を行い、ＲＡＭ５０Ｂの出力バッファにセットされた各種コマンドをサブ制御基板５２、表示制御装置、ランプ制御装置等に出力する。

次いで、始動入賞口スイッチ検出処理（Ｓ１１）を行い、始動ゲート１８、第１及び第２の始動入賞口１４Ａ，１４Ｂそれぞれの通過又は入賞に応じて、当否判定用の乱数を乱数生成チップ４０から取得する。そして、始動ゲート１８の通過に応じて乱数を取得した場合には、普通動作処理（Ｓ１２）で、その乱数が普図判定の当りに設定せれている乱数であるか否かに基づいて普図判定を行い、当りである場合には、第２始動入賞口１４Ｂの可動翼片１４Ｃ，１４Ｃを所定期間にわたって横に倒す。

また、第１及び第２の始動入賞口１４Ａ，１４Ｂへの入賞に応じて乱数を取得した場合には、特別動作処理（Ｓ１３）で、その乱数が特図判定の当りに設定せれている乱数であるか否かに基づいて特図判定を行い、当りである場合には、大入賞口１５の扉１５Ｔを開閉させる大当り遊技を実行する。なお、ＲＡＭ５０Ｂの乱数記憶領域には、始動ゲートに対する遊技球の通過に基づく乱数と、第１及び第２の始動入賞口１４Ａ，１４Ｂへの遊技球の入賞に基づく乱数とが、それぞれ保留球として「４つ」まで記憶され、それら乱数が古いものから順に遊技に使用されるようになっている。

特別動作処理（Ｓ１３）に次いで保留球数処理（Ｓ１４）が行われる。この処理（Ｓ１４）では、上記した保留球の数等が、各種コマンドとしてＲＡＭ５０Ｂの出力バッファにセットされる。そして、電源断状態が続いたか否かを判定する電源断監視処理（Ｓ１５）、本発明に関連しないその他の処理（Ｓ１６）が実行され、遊技制御処理（Ｓ２）から抜ける。

次に、乱数監視処理（Ｓ３）について図６を参照して説明する。ＣＰＵ５０Ａは、この乱数監視処理（Ｓ３）を実行することで、前述の如く、乱数生成チップ４０の異常の有無を判別する。即ち、ＣＰＵ５０Ａは、乱数監視処理（Ｓ３）を実行すると、最初に乱数生成チップ４０からサンプル乱数を取得する（Ｓ２０）。ここで、乱数監視処理（Ｓ３）は、上述したように１［ｍｓ］の周期で割り込み実行されるので、乱数監視処理（Ｓ３）を実行したＣＰＵ５０Ａは、前述の通り、１［ｍｓ］のサンプリング周期Ｔ３で乱数生成チップ４０から乱数をサンプル乱数として取得することになる。

上述の如く取得したサンプル乱数が、前述した比較サンプルグループＹを構成する７つのサンプル乱数のうち先頭のサンプル乱数か否かを判別する（Ｓ２１）。そして、先頭のサンプル乱数である場合には（Ｓ２１でＹｅｓ）、そのサンプル乱数の値をベース値としてセットしてから（Ｓ２２）、同一判別カウンタＣ１を０クリアし（Ｓ２３）、さらに、サンプリングカウンタＣ２を１インクリメントする（Ｓ２８）。そして、サンプリングカウンタＣ２が上限数である「７」と一致したか否かを判別し（Ｓ２９）、一致していれば（Ｓ２９でＹｅｓ）、サンプリングカウンタＣ２を０クリアしてから（Ｓ３０）、乱数監視処理（Ｓ３）を抜け、一致していなければ（Ｓ２９でＮｏ）、直ちに乱数監視処理（Ｓ３）を抜ける。

一方、取得したサンプル乱数が、比較サンプルグループＹの先頭のサンプル乱数でない場合（Ｓ２１でＮｏ）、取得したサンプル乱数の値（以下、適宜、「取得値」という）とベース値とが一致したか否かを判定する（Ｓ２４）。ここで、取得値とベース値とが一致していれば（Ｓ２４でＹｅｓ）、同一判別カウンタＣ１を１つ加算して（Ｓ２５）、その同一判別カウンタＣ１のカウント値が２以上になったか否かを判定する（Ｓ２６）。そして、同一判別カウンタＣ１のカウント値が２以上になった場合には（Ｓ２６でＹｅｓ）、乱数生成チップ４０に異常が発生したことを報知する異常報知処理（Ｓ２７）を行ってから乱数監視処理（Ｓ３）を抜ける。

なお、異常報知処理（Ｓ２７）の異常報知は、パチンコ遊技機１０で行ってもよいし、パチンコホールに備えた異常報知器（ランプ等）で行ってもよい。また、その際、パチンコ遊技機１０を停止するようにしてもよい。

また、取得値とベース値とが一致していない場合（Ｓ２４でＮｏ）、及び、同一判別カウンタＣ１のカウント値が２以上になっていない場合（Ｓ２４でＹｅｓかつＳ２６でＮｏ）は、サンプリングカウンタＣ２を１インクリメントし（Ｓ２８）、そのサンプリングカウンタＣ２が上限数である「７」と一致していれば（Ｓ３０でＹｅｓ）、サンプリングカウンタＣ２を０クリアしてから（Ｓ３０）、乱数監視処理（Ｓ３）を抜ける一方、一致していなければ（Ｓ２９でＮｏ）、直ちに乱数監視処理（Ｓ３）を抜ける。

以上が乱数監視処理（Ｓ３）の説明であって、主制御基板５０のＣＰＵ５０Ａは、この乱数監視処理（Ｓ３）を実行することで、上述の如く、乱数生成チップ４０が生成する乱数をサンプル乱数として取得して、複数（具体的には、７つ）のサンプル乱数からなる比較サンプルグループＹの先頭のサンプル乱数とそれ以外のサンプル乱数とが同一であるか否かを判別する。そして、同一になった回数が、乱数生成チップ４０が正常であれば理論上あり得ない回数（例えば、２回）になったことをもって乱数の異常を検出することができる。また、サブ制御基板５２の乱数生成チップ４０に関しては、サブ制御基板５２のＣＰＵ５２Ａが、乱数監視処理（Ｓ３）と同様の処理を行うことで乱数の異常を検出することができる。

なお、乱数監視処理（Ｓ３）のステップＳ２０を実行したときの主制御基板５０のＣＰＵ５０Ａが、本発明の「サンプリング手段」に相当し、ステップＳ２６を実行したときのＣＰＵ５０Ａが、本発明の「乱数生成異常判別手段」に相当する。サブ制御基板５２のＣＰＵ５２Ａに関しても同様である。

［他の実施形態］
本発明は、前記実施形態に限定されるものではなく、例えば、以下に説明するような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる。

（１）前記実施形態の比較サンプルグループＹを構成するサンプル乱数の数は、例えば「７」であって、基準同一個数Ｚの「３」より多かったが、同じであってもよい。

（２）前記実施形態のサンプル群取得期間Ｔ４と次のサンプル群取得期間Ｔ４との間隔は、サンプリング周期と同じであったが、異なっていてもよい。また、一定時間ごとに乱数グループのサンプリングを行うのではなく、例えば、特図判定の判定報知演出の実行時など、所定条件の成立に起因してサンプル群取得期間Ｔ４が開始されるようにしてもよい。

（３）前記実施形態では、比較サンプルグループＹの先頭のサンプル乱数とそれ以外のサンプル乱数とが同一であるか否かを判別し、先頭のサンプル乱数以外のサンプル乱数同士が同一か否かを判別していなかったが、先頭のサンプル乱数以外のサンプル乱数同士が同一か否かも判別する構成にしてもよい。

（４）前記実施形態では、本発明の乱数生成回路が乱数生成チップ４０であって１つのチップ構造になしていたが、複数の電気部品からなる本発明に係る乱数生成回路が構成されていてもよい。また、本実施形態の乱数生成チップ４０は、クロック発生器４０Ａの１クロック毎にカウンタ４０Ｂの値が１つインクリメントされる構成であったが、例えば、１６ビット（０〜６５５３５）の値の範囲からランダムに一通りの値を取り出してランダムに値を更新（出力）して１６ビット（０〜６５５３５）の値の範囲が終了したら、新たに１６ビット（０〜６５５３５）の値の範囲からランダムに一通りの値を取り出してランダムに値を更新（出力）するものであってもよい。

（５）本実施形態はパチンコ遊技機によって構成されているが、パチンコ遊技機だけでなく回動式遊技機（スロット）等で実施してもよい。

１０パチンコ遊技機
４０乱数生成チップ（乱数生成回路）
５０Ａ，５２ＡＣＰＵ（遊技制御手段）
Ｇ乱数グループ
Ｌ特定複数回
Ｍ１限定個数
Ｓ３乱数監視処理
Ｔ１更新周期
Ｔ２乱数群生成周期
Ｔ３サンプリング周期
Ｔ４サンプル群取得期間
Ｔ５一定周期
Ｙ比較サンプルグループ

上記目的を達成するためになされた請求項１の発明は、予め定められた限定個数分の相互に異なる数を、一定の更新周期で乱数として生成する動作を繰り返して、前記限定個数と前記更新周期との積である乱数群生成周期で前記限定個数の乱数からなる乱数グループを順次生成する乱数生成回路と、前記乱数生成回路から取得した前記乱数に基づいて遊技を制御する遊技制御手段とを備えた遊技機において、前記乱数生成回路が生成する乱数を３回以上の特定複数回に亘ってサンプル乱数としてサンプリングするサンプリング手段と、前記特定複数回の最初から最後までのサンプリングに要するサンプル群取得期間を前記乱数群生成周期で除した解に３を加えたものを基準同一個数とすると、前記特定複数回分の前記サンプル乱数のうち前記基準同一個数以上の前記サンプル乱数が同一であることに基づいて、前記乱数生成回路の異常を検出する乱数生成異常判別手段とを備え、前記サンプリング手段は、一定のサンプリング周期でサンプリングを行うように構成され、前記サンプリング周期は、前記乱数群生成周期の５〜２０％であり、前記サンプル群取得期間は、前記乱数群生成周期の８５〜１１５％であることを特徴とする遊技機である。

請求項１の遊技機が有する乱数生成回路は、限定個数の異なる乱数からなる乱数グループを、乱数群生成周期の１周期が経過する度に、１グループずつ生成する。また、サンプリング手段は、乱数生成回路が生成する乱数を特定複数回に亘ってサンプル乱数としてサンプリングする。ここで、特定複数回分のサンプル乱数を比較サンプルグループとし、サンプリング手段が特定複数回の最初から最後までのサンプリングに要する期間をサンプル群取得期間とすると、サンプル群取得期間が、乱数群生成周期のＮ周期より長く、Ｎ＋１周期以下だとすると、最大、Ｎ＋２つの乱数グループから１つの比較サンプルグループが取得されることになる。よって、１つの比較サンプルグループに含まれる同一の値の乱数の個数がＮ＋３以上になった場合には、乱数生成回路が異常ということになる。本発明では、その「Ｎ＋３」が「サンプル群取得期間を乱数群生成周期で除した解に３を加えたもの」としての「基準同一個数」に相当し、サンプル群取得期間中のサンプル乱数（即ち、１つの比較サンプルグループ）のうち同一の値のサンプル乱数が上記した基準同一個数以上であるか否かを調べることで、乱数の異常を検出することができる。また、請求項１の構成では、乱数群生成周期の略全体とも言える８５％以上、その乱数群生成周期の５〜２０％の刻みでサンプリングするので、正常時の乱数群生成周期の全体に亘って発生するような異常を検出することが可能となる。

上述した乱数生成回路が生成する乱数が全て同一となるような異常であれば、特定複数回が基準同一個数と同じであっても多くても乱数生成異常判別手段による異常検出結果は同じであるが、乱数生成回路が生成する乱数が全て同一ではないが、乱数グループを構成する乱数の数が減って正常時より乱数群生成周期が短くなるような異常や、乱数生成回路が２種類の値を交互に生成するような異常であると、請求項２のように特定複数回を基準同一個数より多くすることで、異常を検出する確率を上げることが可能となる。

請求項３の発明は、前記サンプリング手段は、前記サンプル群取得期間を含む一定周期で前記サンプル群取得期間が繰り返されるようにサンプリングを行うことを特徴とする請求項１又は２に記載の遊技機である。

請求項４の発明は、前記サンプル群取得期間を含む前記一定周期と前記乱数群生成周期とのうちの大きい方の一方が小さい方の他方の非整数倍になっていることを特徴とする請求項３に記載の遊技機である。

請求項３の発明のように、サンプル群取得期間を含む一定周期でサンプル群取得期間が繰り返えされるようにサンプリングを行って乱数生成回路の異常を早期に検出できるようにしてもよい。その場合、請求項４の構成とすれば、時間の経過と共に、乱数群生成周期におけるサンプリングの位置をずらすことが可能となる。

乱数監視処理のフローチャートを使用した詳細説明の前に、ＣＰＵ５０Ａによる乱数生成チップ４０の監視の概要について図３を用いて説明する。ＣＰＵ５０Ａは、乱数生成チップ４０が生成し更新する乱数を、サンプル乱数としてサンプリング周期Ｔ３毎にサンプリングする。そして、ＣＰＵ５０Ａは、特定複数回Ｌ分のサンプル乱数を１グループとした比較サンプルグループＹに含まれる同一の値のサンプル乱数の個数をカウントし、その同一の値のサンプル乱数の個数が基準同一個数Ｚを超えたか否かに基づいて異常の有無を判別する。その基準同一個数Ｚは、以下の理論に基づいて設定されている。

次いで、始動入賞口スイッチ検出処理（Ｓ１１）を行い、始動ゲート１８、第１及び第２の始動入賞口１４Ａ，１４Ｂそれぞれの通過又は入賞に応じて、当否判定用の乱数を乱数生成チップ４０から取得する。そして、始動ゲート１８の通過に応じて乱数を取得した場合には、普通動作処理（Ｓ１２）で、その乱数が普図判定の当りに設定されている乱数であるか否かに基づいて普図判定を行い、当りである場合には、第２始動入賞口１４Ｂの可動翼片１４Ｃ，１４Ｃを所定期間にわたって横に倒す。

また、第１及び第２の始動入賞口１４Ａ，１４Ｂへの入賞に応じて乱数を取得した場合には、特別動作処理（Ｓ１３）で、その乱数が特図判定の当りに設定されている乱数であるか否かに基づいて特図判定を行い、当りである場合には、大入賞口１５の扉１５Ｔを開閉させる大当り遊技を実行する。なお、ＲＡＭ５０Ｂの乱数記憶領域には、始動ゲートに対する遊技球の通過に基づく乱数と、第１及び第２の始動入賞口１４Ａ，１４Ｂへの遊技球の入賞に基づく乱数とが、それぞれ保留球として「４つ」まで記憶され、それら乱数が古いものから順に遊技に使用されるようになっている。

（５）本実施形態はパチンコ遊技機によって構成されているが、パチンコ遊技機だけでなく回動式遊技機（スロット）等で実施してもよい。
［上記実施形態及び上記他の実施形態の構成のまとめ］
上記実施形態及び上記他の実施形態には、以下の［１］〜［５］の構成が含まれている。
［１］
予め定められた限定個数分の相互に異なる数を、一定の更新周期で乱数として生成する動作を繰り返して、前記限定個数と前記更新周期との積である乱数群生成周期で前記限定個数の乱数からなる乱数グループを順次生成する乱数生成回路と、
前記乱数生成回路から取得した前記乱数に基づいて遊技を制御する遊技制御手段とを備えた遊技機において、
前記乱数生成回路が生成する乱数を３回以上の特定複数回に亘ってサンプル乱数としてサンプリングするサンプリング手段と、
前記特定複数回の最初から最後までのサンプリングに要するサンプル群取得期間を前記乱数群生成周期で除した解に３を加えたものを基準同一個数とすると、前記特定複数回分の前記サンプル乱数のうち前記基準同一個数以上の前記サンプル乱数が同一であることに基づいて、前記乱数生成回路の異常を検出する乱数生成異常判別手段とを備えたことを特徴とする遊技機。
［１］の遊技機が有する乱数生成回路は、限定個数の異なる乱数からなる乱数グループを、乱数群生成周期の１周期が経過する度に、１グループずつ生成する。また、サンプリング手段は、乱数生成回路が生成する乱数を特定複数回に亘ってサンプル乱数としてサンプリングする。ここで、特定複数回分のサンプル乱数を比較サンプルグループとし、サンプリング手段が特定複数回の最初から最後までのサンプリングに要する期間をサンプル群取得期間とすると、サンプル群取得期間が、乱数群生成周期のＮ周期より長く、Ｎ＋１周期以下だとすると、最大、Ｎ＋２つの乱数グループから１つの比較サンプルグループが取得されることになる。よって、１つの比較サンプルグループに含まれる同一の値の乱数の個数がＮ＋３以上になった場合には、乱数生成回路が異常ということになる。本構成では、その「Ｎ＋３」が「サンプル群取得期間を乱数群生成周期で除した解に３を加えたもの」としての「基準同一個数」に相当し、サンプル群取得期間中のサンプル乱数（即ち、１つの比較サンプルグループ）のうち同一の値のサンプル乱数が上記した基準同一個数以上であるか否かを調べることで、乱数の異常を検出することができる。
［２］
前記特定複数回が、前記基準同一個数より多いことを特徴とする［１］に記載の遊技機。
［３］
前記サンプリング手段は、一定のサンプリング周期でサンプリングを行うように構成され、
前記サンプリング周期は、前記乱数群生成周期の５〜２０％であり、
前記サンプル群取得期間は、前記乱数群生成周期の８５〜１１５％であることを特徴とする［１］又は［２］に記載の遊技機。
上述した乱数生成回路が生成する乱数が全て同一となるような異常であれば、特定複数回が基準同一個数と同じであっても多くても乱数生成異常判別手段による異常検出結果は同じであるが、乱数生成回路が生成する乱数が全て同一ではないが、乱数グループを構成する乱数の数が減って正常時より乱数群生成周期が短くなるような異常や、乱数生成回路が２種類の値を交互に生成するような異常であると、［２］のように特定複数回を基準同一個数より多くすることで、異常を検出する確率を上げることが可能となる。また、［３］の構成とすれば、乱数群生成周期の略全体とも言える８５％以上、その乱数群生成周期の５〜２０％の刻みでサンプリングするので、正常時の乱数群生成周期の全体に亘って発生するような異常を検出することが可能となる。
［４］
前記サンプリング手段は、前記サンプル群取得期間を含む一定周期で前記サンプル群取得期間が繰り返されるようにサンプリングを行うことを特徴とする［１］乃至［３］の何れか１に記載の遊技機。
［５］
前記サンプル群取得期間を含む前記一定周期と前記乱数群生成周期とのうちの大きい方の一方が小さい方の他方の非整数倍になっていることを特徴とする［４］に記載の遊技機。
［４］の構成のように、サンプル群取得期間を含む一定周期でサンプル群取得期間が繰り返えされるようにサンプリングを行って乱数生成回路の異常を早期に検出できるようにしてもよい。その場合、［５］の構成とすれば、時間の経過と共に、乱数群生成周期におけるサンプリングの位置をずらすことが可能となる。
上記したように、［１］〜［５］の遊技機は、限定個数分の相互に異なる数を一定の更新周期で乱数として生成する動作を繰り返す乱数生成回路を備え、乱数生成回路にて生成される乱数に基づいて遊技を制御すると共に、乱数生成回路が生成した乱数を複数サンプリングして、それらサンプル乱数に含まれる同一値の乱数の数に基づいて乱数の異常を判別する。即ち、［１］〜［５］の構成によれば、遊技の制御に利用する乱数の異常を検出することができる。

Claims

予め定められた限定個数分の相互に異なる数を、一定の更新周期で乱数として生成する動作を繰り返して、前記限定個数と前記更新周期との積である乱数群生成周期で前記限定個数の乱数からなる乱数グループを順次生成する乱数生成回路と、
前記乱数生成回路から取得した前記乱数に基づいて遊技を制御する遊技制御手段とを備えた遊技機において、
前記乱数生成回路が生成する乱数を３回以上の特定複数回に亘ってサンプル乱数としてサンプリングするサンプリング手段と、
前記特定複数回の最初から最後までのサンプリングに要するサンプル群取得期間を前記乱数群生成周期で除した解に３を加えたものを基準同一個数とすると、前記特定複数回分の前記サンプル乱数のうち前記基準同一個数以上の前記サンプル乱数が同一であることに基づいて、前記乱数生成回路の異常を検出する乱数生成異常判別手段とを備えたことを特徴とする遊技機。
前記特定複数回が、前記基準同一個数より多いことを特徴とする請求項１に記載の遊技機。
前記サンプリング手段は、一定のサンプリング周期でサンプリングを行うように構成され、
前記サンプリング周期は、前記乱数群生成周期の５〜２０％であり、
前記サンプル群取得期間は、前記乱数群生成周期の８５〜１１５％であることを特徴とする請求項１又は２に記載の遊技機。
前記サンプリング手段は、前記サンプル群取得期間を含む一定周期で前記サンプル群取得期間が繰り返されるようにサンプリングを行うことを特徴とする請求項１乃至３の何れか１の請求項に記載の遊技機。
前記サンプル群取得期間を含む前記一定周期と前記乱数群生成周期とのうちの大きい方の一方が小さい方の他方の非整数倍になっていることを特徴とする請求項４に記載の遊技機。