JP2016046315A - モールド成形方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】金型の損傷を抑制可能なモールド成形方法を提供する。【解決手段】保圧された状態で硬化収縮するモールド材によって電子部品を封止するモールド成形工程であって、金型のキャビティに電子部品を設置した状態で、モータにより駆動されるプランジャによってキャビティにモールド材を注入する注入工程と、金型のキャビティに充填されたモールド材が金型を押圧する圧力を所定の値に制御する内圧制御工程と、モータのトルクを所定の値に制御するトルク制御工程と、を含む。トルク制御工程は、内圧制御工程において、モールド材の硬化度が所定値以上となった場合に行う。【選択図】図2
Description
本発明は、電子部品をモールド材によって封止するモールド成形方法に関する。
従来、半導体素子等の電子部品が設置された金型のキャビティに、熱硬化性樹脂等のモールド材を充填して硬化させることにより、電子部品を封止する技術が広く知られている。
特許文献1には、モールド材を金型のキャビティに注入するためのプランジャを、キャビティにモールド材がほぼ充填されるまでは、第一のモータにより一定の速度で上昇させ、その後は、第二のモータにより一定のトルクで上昇させる技術が開示されている。
特許文献1に開示された技術は、一定の品質でモールド体を形成することを実現している。
特許文献1に開示された技術は、一定の品質でモールド体を形成することを実現している。
しかしながら、特許文献1に開示された技術は、以下のような点で不利である。
一般的に、モールド材は、加熱されると一度膨張した後、硬化収縮する性質を有する。キャビティにモールド材がほぼ充填された後、一定のトルクでプランジャを上昇させると、モールド材の膨張により、キャビティ内の圧力が狙いの値よりも過剰に上昇する。その結果、金型の型締め推力が増加し、金型が破損する等の問題が生じるおそれがある。
一般的に、モールド材は、加熱されると一度膨張した後、硬化収縮する性質を有する。キャビティにモールド材がほぼ充填された後、一定のトルクでプランジャを上昇させると、モールド材の膨張により、キャビティ内の圧力が狙いの値よりも過剰に上昇する。その結果、金型の型締め推力が増加し、金型が破損する等の問題が生じるおそれがある。
本発明は、金型の損傷を抑制可能なモールド成形方法を提供することを課題とする。
本発明に係るモールド成形方法は、保圧された状態で硬化収縮するモールド材によって電子部品を封止するモールド成形方法であって、金型のキャビティに前記電子部品を設置した状態で、注入装置によって前記キャビティに前記モールド材を注入する注入工程と、前記金型のキャビティに充填された前記モールド材が前記金型を押圧する圧力を所定の値に制御する内圧制御工程と、前記注入装置のトルクを所定の値に制御するトルク制御工程と、を含み、前記トルク制御工程は、前記内圧制御工程において、前記モールド材の硬化度が所定値以上となった場合に行われる。
本発明によれば、金型の損傷を抑制できる。
以下では、図面を参照して、本発明に係るモールド成形方法の一実施形態であるモールド成形工程について説明する。
モールド成形工程は、モールド成形装置1を用いて、電子部品Eをモールド材Mによって封止する工程である。
電子部品Eは、トランジスタ、ダイオード、レジスタならびにコンデンサ等、またはそれらを組み合わせた部品である。本実施形態において、電子部品Eは、インテリジェントパワーモジュールの一部を成す、半導体素子を含む部品である。
モールド材Mは、電子部品Eを封止するための部材であり、保圧された状態で硬化収縮する。本実施形態において、モールド材Mは、熱硬化性樹脂のエポキシ樹脂であり、タブレットとして構成されている。タブレット状のモールド材Mは、加熱されることによって溶融し、流体となった後、硬化収縮する。
モールド成形工程は、モールド成形装置1を用いて、電子部品Eをモールド材Mによって封止する工程である。
電子部品Eは、トランジスタ、ダイオード、レジスタならびにコンデンサ等、またはそれらを組み合わせた部品である。本実施形態において、電子部品Eは、インテリジェントパワーモジュールの一部を成す、半導体素子を含む部品である。
モールド材Mは、電子部品Eを封止するための部材であり、保圧された状態で硬化収縮する。本実施形態において、モールド材Mは、熱硬化性樹脂のエポキシ樹脂であり、タブレットとして構成されている。タブレット状のモールド材Mは、加熱されることによって溶融し、流体となった後、硬化収縮する。
まず、図1を参照して、モールド成形装置1について説明する。
図1に示すように、モールド成形装置1は、金型10と、圧力センサ20と、プランジャ30と、モータ40と、制御装置50とを具備する。
なお、説明の便宜上、図1における上下方向をモールド成形装置1の上下方向と定義する。
図1に示すように、モールド成形装置1は、金型10と、圧力センサ20と、プランジャ30と、モータ40と、制御装置50とを具備する。
なお、説明の便宜上、図1における上下方向をモールド成形装置1の上下方向と定義する。
金型10は、下型11および上型12から成る。金型10は、型締めされた状態(下型11および上型12のパーティング面同士が接触した状態)において、溶融したモールド材Mを硬化させるための空間であるキャビティ10aが内部に形成されるように構成されている。金型10は、モールド材Mを加熱するためのヒータ(不図示)を内部に有する。金型10のキャビティ10aには、電子部品Eが設置され、前記ヒータによって加熱されて溶融したモールド材Mが、キャビティ10aに充填されて硬化することにより、電子部品Eがモールド材Mによって封止されることとなる。
下型11は、金型10の下部を成す部材であり、所定の位置に固定されている。下型11の上面には、金型10のキャビティ10aの下部を成す凹部が形成されている。
下型11の内部には、金型10のキャビティ10a内の圧力を計測するための圧力センサ20が設けられている。圧力センサ20の構成については後述する。
下型11の内部には、ポット11aが設けられている。詳細には、下型11の凹部の側方(図1における右方)には、下型11を上下方向に貫通する円柱状の貫通孔が形成されており、当該貫通孔にポット11aが嵌装されている。
ポット11aは、円筒状に形成された部材である。ポット11aの内部には、プランジャ30がポット11aの内周面を上下方向に摺動可能に設けられている。なお、プランジャ30の構成については後述する。
下型11の内部には、金型10のキャビティ10a内の圧力を計測するための圧力センサ20が設けられている。圧力センサ20の構成については後述する。
下型11の内部には、ポット11aが設けられている。詳細には、下型11の凹部の側方(図1における右方)には、下型11を上下方向に貫通する円柱状の貫通孔が形成されており、当該貫通孔にポット11aが嵌装されている。
ポット11aは、円筒状に形成された部材である。ポット11aの内部には、プランジャ30がポット11aの内周面を上下方向に摺動可能に設けられている。なお、プランジャ30の構成については後述する。
上型12は、金型10の上部を成す部材であり、所定のサーボモータによって下型11に対して近接および離間するように構成されている。上型12の下面には、金型10のキャビティ10aの上部を成す凹部が形成されている。
上型12の下面には、金型10のキャビティ10aにモールド材Mを供給するための供給溝12aが形成されている。
供給溝12aは、上型12の下面における、ポット11aに対向する部分から、上型12の凹部にかけて形成されている。詳細には、供給溝12aは、金型10が型締めされた状態において、ポット11aの内部と、金型10のキャビティ10aとが連通するように形成されている。つまり、金型10の内部空間であるキャビティ10aと、金型10の外部とが、供給溝12aおよびポット11aを介して連通している。
上型12の下面には、金型10のキャビティ10aにモールド材Mを供給するための供給溝12aが形成されている。
供給溝12aは、上型12の下面における、ポット11aに対向する部分から、上型12の凹部にかけて形成されている。詳細には、供給溝12aは、金型10が型締めされた状態において、ポット11aの内部と、金型10のキャビティ10aとが連通するように形成されている。つまり、金型10の内部空間であるキャビティ10aと、金型10の外部とが、供給溝12aおよびポット11aを介して連通している。
圧力センサ20は、金型10のキャビティ10a内の圧力、つまりキャビティ10aに供給されたモールド材Mが金型10を押圧する圧力を計測するためのセンサである。圧力センサ20は、下型11の凹部の底面(下面)における、電子部品Eが載置されていない部分から露出するように、下型11の内部に設けられている。圧力センサ20は、制御装置50と電気的に接続されている。
プランジャ30は、モールド材Mを金型10のキャビティ10aに注入するための部材であり、モータ40と共に本発明に係る注入装置として機能する。プランジャ30は、ポット11a内を上下方向に摺動可能に構成されている。プランジャ30は、モータ40によって駆動される。
プランジャ30の上端面には、タブレット状のモールド材Mが載置される。タブレット状のモールド材Mが流動性を有する程度にまで前記ヒータによって加熱されつつ、プランジャ30が所定位置まで上昇することで、溶融したモールド材Mが供給溝12aを通って金型10のキャビティ10aに供給されることとなる。
プランジャ30の上端面には、タブレット状のモールド材Mが載置される。タブレット状のモールド材Mが流動性を有する程度にまで前記ヒータによって加熱されつつ、プランジャ30が所定位置まで上昇することで、溶融したモールド材Mが供給溝12aを通って金型10のキャビティ10aに供給されることとなる。
モータ40は、プランジャ30を駆動するサーボモータである。モータ40は、制御装置50と電気的に接続されており、制御装置50によって制御される。
制御装置50は、圧力センサ20と電気的に接続されており、圧力センサ20が計測したキャビティ10a内の圧力を参照可能となっている。また、制御装置50は、モータ40と電気的に接続されており、モータ40を任意のトルクで駆動可能となっている。
次に、図2を参照して、モールド成形工程について詳細に説明する。
なお、図2は、経過時間と金型10の内圧(キャビティ10a内の圧力)との関係、および経過時間とモータ40の電流値(トルク)との関係を示す図である。
なお、図2は、経過時間と金型10の内圧(キャビティ10a内の圧力)との関係、および経過時間とモータ40の電流値(トルク)との関係を示す図である。
図2に示すように、モールド成形工程は、注入工程と、内圧制御工程と、トルク制御工程とを含む。モールド成形工程においては、注入工程、内圧制御工程、およびトルク制御工程が順に行われる。
注入工程は、金型10のキャビティ10aに電子部品Eを設置した状態で、プランジャ30によってキャビティ10aにモールド材Mを注入する工程である。
注入工程において、制御装置50は、モータ40を駆動させることにより、タブレット状のモールド材Mが載置されたプランジャ30を上昇させ、前記ヒータによって溶融したモールド材Mを金型10のキャビティ10aに注入していく。
この時、キャビティ10aにモールド材Mが完全に充填されていないので、圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)に変化はない。さらにプランジャ30が上昇し、キャビティ10aにモールド材Mが完全に充填されると、プランジャ30の推力によりキャビティ10a内の圧力が上昇することとなる。
注入工程において、制御装置50は、モータ40を駆動させることにより、タブレット状のモールド材Mが載置されたプランジャ30を上昇させ、前記ヒータによって溶融したモールド材Mを金型10のキャビティ10aに注入していく。
この時、キャビティ10aにモールド材Mが完全に充填されていないので、圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)に変化はない。さらにプランジャ30が上昇し、キャビティ10aにモールド材Mが完全に充填されると、プランジャ30の推力によりキャビティ10a内の圧力が上昇することとなる。
内圧制御工程は、金型10の内圧(キャビティ10a内の圧力)を所定の値に制御する工程である。
内圧制御工程において、制御装置50は、圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)が圧力P1に達すると、キャビティ10a内の圧力が圧力P1で一定に維持されるように、モータ40を制御する。時間経過に伴い、モールド材Mが徐々に硬化して収縮するため、制御装置50は、モールド材Mが収縮した分だけプランジャ30を上昇させるようにモータ40の制御を行うのである。
また、制御装置50は、圧力センサ20による計測値が一定になるようにモータ40の電流値(トルク)を制御しているため、モールド材Mが膨張してキャビティ10a内の圧力が上昇した場合であっても、圧力センサ20による計測値が一定になるように、モータ40の電流値(トルク)を低減させる。そのため、キャビティ10a内の圧力の上昇分を、モータ40の電流値(トルク)の変動によって吸収することが可能となり、キャビティ10a内の圧力の上昇を抑制することができる。
したがって、金型10の型締め推力が増加して、金型10が破損することを抑制できる。
なお、プランジャ30は、モールド材Mの注入方向の反対方向(下方向)に退避可能に構成することも可能である。
これにより、モールド材Mが膨張してキャビティ10a内の圧力が上昇した場合であっても、キャビティ10a内の圧力の上昇分を、プランジャ30の退避動作によって吸収することが可能となり、キャビティ10a内の圧力の上昇を抑制することができる。
内圧制御工程において、制御装置50は、圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)が圧力P1に達すると、キャビティ10a内の圧力が圧力P1で一定に維持されるように、モータ40を制御する。時間経過に伴い、モールド材Mが徐々に硬化して収縮するため、制御装置50は、モールド材Mが収縮した分だけプランジャ30を上昇させるようにモータ40の制御を行うのである。
また、制御装置50は、圧力センサ20による計測値が一定になるようにモータ40の電流値(トルク)を制御しているため、モールド材Mが膨張してキャビティ10a内の圧力が上昇した場合であっても、圧力センサ20による計測値が一定になるように、モータ40の電流値(トルク)を低減させる。そのため、キャビティ10a内の圧力の上昇分を、モータ40の電流値(トルク)の変動によって吸収することが可能となり、キャビティ10a内の圧力の上昇を抑制することができる。
したがって、金型10の型締め推力が増加して、金型10が破損することを抑制できる。
なお、プランジャ30は、モールド材Mの注入方向の反対方向(下方向)に退避可能に構成することも可能である。
これにより、モールド材Mが膨張してキャビティ10a内の圧力が上昇した場合であっても、キャビティ10a内の圧力の上昇分を、プランジャ30の退避動作によって吸収することが可能となり、キャビティ10a内の圧力の上昇を抑制することができる。
制御装置50は、モータ40の電流値(トルク)が閾値Ctに達した場合、トルク制御工程に移行する。
内圧制御工程において、モールド材Mの硬化が進むに伴って、プランジャ30がモールド材Mを押圧する圧力が、圧力センサ20に伝わり難くなり、その結果、モータ40の電流値(トルク)が増加する。そのため、モータ40の電流値(トルク)が閾値Ctに達したことは、モールド材Mの硬化度が所定値以上となったことを意味する。換言すれば、モールド材Mの硬化度が所定値以上となったか否かを判断するために、本実施形態においては、モータ40の電流値(トルク)を用いている。そのため、別途、モールド材Mの硬化度を計測する装置を設ける必要がない。
内圧制御工程において、モールド材Mの硬化が進むに伴って、プランジャ30がモールド材Mを押圧する圧力が、圧力センサ20に伝わり難くなり、その結果、モータ40の電流値(トルク)が増加する。そのため、モータ40の電流値(トルク)が閾値Ctに達したことは、モールド材Mの硬化度が所定値以上となったことを意味する。換言すれば、モールド材Mの硬化度が所定値以上となったか否かを判断するために、本実施形態においては、モータ40の電流値(トルク)を用いている。そのため、別途、モールド材Mの硬化度を計測する装置を設ける必要がない。
トルク制御工程は、モータ40の電流値(トルク)を所定の値に制御する工程である。
トルク制御工程において、制御装置50は、モータ40の電流値(トルク)が、閾値Ctよりも小さい電流値C1で一定に維持されるように、モータ40を制御する。
これにより、モールド材Mの硬化に伴い、プランジャ30がモールド材Mを押圧する圧力が、圧力センサ20に伝わり難くなった場合でも、モータ40の電流値(トルク)の極端な上昇を抑制しつつ、モールド材Mに適当な圧力を付与することができる。
したがって、良好にモールド材Mによる電子部品Eの封止を行うことができる。
なお、本実施形態においては、トルク制御工程において、モータ40の電流値(トルク)を、閾値Ctよりも小さい電流値C1で一定に維持されるように制御したが、少なくとも、モールド材Mによる電子部品Eの封止に悪影響を与えないように、閾値Ctよりも小さい電流値に制御すればよい。
トルク制御工程において、制御装置50は、モータ40の電流値(トルク)が、閾値Ctよりも小さい電流値C1で一定に維持されるように、モータ40を制御する。
これにより、モールド材Mの硬化に伴い、プランジャ30がモールド材Mを押圧する圧力が、圧力センサ20に伝わり難くなった場合でも、モータ40の電流値(トルク)の極端な上昇を抑制しつつ、モールド材Mに適当な圧力を付与することができる。
したがって、良好にモールド材Mによる電子部品Eの封止を行うことができる。
なお、本実施形態においては、トルク制御工程において、モータ40の電流値(トルク)を、閾値Ctよりも小さい電流値C1で一定に維持されるように制御したが、少なくとも、モールド材Mによる電子部品Eの封止に悪影響を与えないように、閾値Ctよりも小さい電流値に制御すればよい。
なお、前述のように、モールド材Mの硬化に伴い、プランジャ30がモールド材Mを押圧する圧力が、圧力センサ20に伝わり難くなる。さらにモールド材Mの硬化が進むと、プランジャ30がモールド材Mを押圧する圧力が、圧力センサ20に殆ど伝わらなくなり、圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)が徐々に小さくなる。
これに注目し、モールド材Mの硬化度が所定値以上となったか否かを判断するために、「モータ40の電流値(トルク)が閾値Ctに達したこと」に加え、「圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)が圧力P1より小さくなったこと」も条件とすることが好ましい。つまり、モータ40の電流値(トルク)が閾値Ctに達し、かつ、圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)が圧力P1より小さくなった場合に、トルク制御工程に移行することが好ましい。
圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)が、保持内圧である圧力P1よりも小さくなったことは、モールド材Mの硬化収縮が始まっていると判断することができるため、トルク制御工程に移行するための条件として、「圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)が圧力P1より小さくなったこと」を追加することにより、モールド材Mが硬化する際に、モールド材Mに付与される圧力が不足することを防止できる。
これに注目し、モールド材Mの硬化度が所定値以上となったか否かを判断するために、「モータ40の電流値(トルク)が閾値Ctに達したこと」に加え、「圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)が圧力P1より小さくなったこと」も条件とすることが好ましい。つまり、モータ40の電流値(トルク)が閾値Ctに達し、かつ、圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)が圧力P1より小さくなった場合に、トルク制御工程に移行することが好ましい。
圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)が、保持内圧である圧力P1よりも小さくなったことは、モールド材Mの硬化収縮が始まっていると判断することができるため、トルク制御工程に移行するための条件として、「圧力センサ20による計測値(キャビティ10a内の圧力)が圧力P1より小さくなったこと」を追加することにより、モールド材Mが硬化する際に、モールド材Mに付与される圧力が不足することを防止できる。
トルク制御工程において、圧力センサ20による計測値(キャビティ内の圧力)が大気圧に戻った際には、モールド材Mが完全に硬化したと判断する。そして、上型12を下型11から離間させ、モールド材Mで封止された電子部品Eを取り出す。その後、硬化したモールド材Mにおける不要部分(上型12の供給溝12bにて硬化した部分)を除去することにより、製品としてのインテリジェントパワーモジュールを得ることができる。
1 モールド成形装置
10 金型
10a キャビティ
20 圧力センサ
30 プランジャ(注入装置)
40 モータ(注入装置)
50 制御装置
E 電子部品
M モールド材
10 金型
10a キャビティ
20 圧力センサ
30 プランジャ(注入装置)
40 モータ(注入装置)
50 制御装置
E 電子部品
M モールド材
Claims (1)
- 保圧された状態で硬化収縮するモールド材によって電子部品を封止するモールド成形方法であって、
金型のキャビティに前記電子部品を設置した状態で、注入装置によって前記キャビティに前記モールド材を注入する注入工程と、
前記金型のキャビティに充填された前記モールド材が前記金型を押圧する圧力を所定の値に制御する内圧制御工程と、
前記注入装置のトルクを所定の値に制御するトルク制御工程と、を含み、
前記トルク制御工程は、前記内圧制御工程において、前記モールド材の硬化度が所定値以上となった場合に行われる、
ことを特徴とするモールド成形方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014167581A JP2016046315A (ja) | 2014-08-20 | 2014-08-20 | モールド成形方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2014167581A JP2016046315A (ja) | 2014-08-20 | 2014-08-20 | モールド成形方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Country | Link |
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2014
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