JP2016033497A - 裁断対象検査装置、裁断対象検査方法、裁断対象検査装置用のプログラム、および、裁断対象検査システム - Google Patents
裁断対象検査装置、裁断対象検査方法、裁断対象検査装置用のプログラム、および、裁断対象検査システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016033497A JP2016033497A JP2014156883A JP2014156883A JP2016033497A JP 2016033497 A JP2016033497 A JP 2016033497A JP 2014156883 A JP2014156883 A JP 2014156883A JP 2014156883 A JP2014156883 A JP 2014156883A JP 2016033497 A JP2016033497 A JP 2016033497A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cutting
- cutting object
- inspection
- stacked
- feature point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【課題】多段積みされた裁断対象を精度良く検査できる裁断対象検査装置等を提供する。
【解決手段】多段積みされた裁断対象Bkを検査する裁断対象検査装置において、多段積みされた裁断対象の各裁断対象を横切る線状のレーザ光L1が投影された裁断対象の画像データを取得し、レーザ光の画像から、各裁断対象の端部を示す特徴点を算出し、算出された特徴点と、多段積みされた裁断対象の基準位置とから、各裁断対象の検査領域を決定し、決定された検査領域内の画像データから特徴量を抽出し、特徴量に基づき、多段積みされた裁断対象の積み方の良否を判定する。
【選択図】図1
【解決手段】多段積みされた裁断対象Bkを検査する裁断対象検査装置において、多段積みされた裁断対象の各裁断対象を横切る線状のレーザ光L1が投影された裁断対象の画像データを取得し、レーザ光の画像から、各裁断対象の端部を示す特徴点を算出し、算出された特徴点と、多段積みされた裁断対象の基準位置とから、各裁断対象の検査領域を決定し、決定された検査領域内の画像データから特徴量を抽出し、特徴量に基づき、多段積みされた裁断対象の積み方の良否を判定する。
【選択図】図1
Description
本発明は、裁断対象を検査する裁断対象検査装置、裁断対象検査方法、裁断対象検査装置用のプログラム、および、裁断対象検査システムに関する。
従来、本や冊子等の印刷物が製本機で丁合いされた後、不要な部分を切り捨てる裁断が行われる。多段積みされた裁断対象が断裁される前に、各裁断対象の向きが正しいか、検査が行われている。複数の重なった対象の解析方法として、例えば、特許文献1には、書架に配置されている複数の書籍の背表紙をカメラで撮影した解析対象画像を解析して書籍毎に背表紙に含まれる文字データおよび位置情報を取得し、文字データから目的の書籍を特定し、位置情報に基づいて作成した位置判別画像を解析対象画像に重ね合わせて表示する検索用端末装置が開示されている。
しかしながら、位置検出用のマークを設置しても、裁断により発生したくず等により、マークが十分機能しないため、多段積みされた裁断対象を撮像した画像から各裁断対象を精度良く継続して抽出し、裁断対象を精度良く検査することが難しかった。
そこで、本発明は上記の問題点等に鑑みて為されたもので、その課題の一例は、多段積みされた裁断対象を精度良く検査できる裁断対象検査装置等を提供することを目的とする。
上記の課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、多段積みされた裁断対象を検査する裁断対象検査装置において、前記多段積みされた裁断対象の各裁断対象を横切る線状のレーザ光が投影された前記裁断対象の画像データを取得する画像データ取得手段と、前記レーザ光の画像から、前記各裁断対象の端部を示す特徴点を算出する特徴点算出手段と、前記算出された特徴点と、前記多段積みされた裁断対象の基準位置とから、前記各裁断対象の検査領域を決定する検査領域決定手段と、前記決定された検査領域内の前記画像データから特徴量を抽出する特徴量抽出手段と、前記特徴量に基づき、前記多段積みされた裁断対象の積み方の良否を判定する良否判定手段と、を備えることを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の裁断対象検査装置において、前記各裁断対象を横切る線状のレーザ光が、2本投影され、前記基準位置が、前記投影された2本のレーザ光のうちの1本のレーザ光の画像から、前記特徴点算出手段により算出された基準特徴点であり、前記検査領域決定手段が、前記算出された特徴点と、当該特徴点に対応する前記基準特徴点とを通る線により、前記検査領域を決定することを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の裁断対象検査装置において、前記基準位置が、所定位置に設置された前記裁断対象を撮像する撮像装置の設置位置および撮像方向に基づき、前記画像データの画像の前記裁断対象に対応する部分の基準点に設定され、前記検査領域決定手段が、前記算出された特徴点と、当該特徴点に対応する前記基準点とを通る線により、前記検査領域を決定することを特徴とする。
また、請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の裁断対象検査装置において、画像データ取得手段が、照明装置により光が当てられて陰が生じた前記裁断対象の画像データを取得し、前記基準点が、前記裁断対象の画像の明暗の境界上の点に設定されることを特徴とする。
また、請求項5に記載の発明は、請求項1に記載の裁断対象検査装置において、前記基準位置が、所定位置に設置された前記裁断対象を撮像する撮像装置の設置位置および撮像方向に基づき、前記画像データの画像の前記裁断対象に対応する部分の基準線に設定され、前記検査領域決定手段が、前記算出された特徴点を通る基準線により、前記検査領域を決定することを特徴とする。
また、請求項6に記載の発明は、請求項1から5のいずれか1項に記載の裁断対象検査装置において、前記特徴点算出手段は、前記レーザ光の画像の位置の変化が閾値以上の場合の点から前記特徴点を算出することを特徴とする。
また、請求項7に記載の発明は、請求項6に記載の裁断対象検査装置において、良に設定された前記多段積みされた裁断対象の画像データから、前記レーザ光の画像の位置の変化の前記閾値を算出する閾値算出手段を更に備えたことを特徴とする。
また、請求項8に記載の発明は、裁断対象検査装置が、多段積みされた裁断対象を検査する裁断対象検査方法において、前記多段積みされた裁断対象の各裁断対象を横切る線状のレーザ光が投影された前記裁断対象の画像データを取得する画像データ取得ステップと、前記レーザ光の画像から、前記各裁断対象の端部を示す特徴点を算出する特徴点算出ステップと、前記算出された特徴点と、前記多段積みされた裁断対象の基準位置とから、前記各裁断対象の検査領域を決定する検査領域決定ステップと、前記決定された検査領域内の前記画像データから特徴量を抽出する特徴量抽出ステップと、前記特徴量に基づき、前記多段積みされた裁断対象の積み方の良否を判定する良否判定ステップと、を有することを特徴とする。
また、請求項9に記載の発明は、多段積みされた裁断対象を検査する裁断対象検査装置のプログラムにおいて、コンピュータを、前記多段積みされた裁断対象の各裁断対象を横切る線状のレーザ光が投影された前記裁断対象の画像データを取得する画像データ取得手段、前記レーザ光の画像から、前記各裁断対象の端部を示す特徴点を算出する特徴点算出手段、前記算出された特徴点と、前記多段積みされた裁断対象の基準位置とから、前記各裁断対象の検査領域を決定する検査領域決定手段、前記決定された検査領域内の前記画像データから特徴量を抽出する特徴量抽出手段、および、前記特徴量に基づき、前記多段積みされた裁断対象の積み方の良否を判定する良否判定手段として機能させることを特徴とする。
また、請求項10に記載の発明は、多段積みされた裁断対象の各裁断対象を横切る線状のレーザ光を投射するレーザ投射装置と、前記レーザ光が投影された裁断対象の画像を撮像する撮像装置と、前記多段積みされた裁断対象を検査する裁断対象検査装置と、を備えた裁断対象検査システムにおいて、前記裁断対象検査装置が、前記レーザ光が投影された前記裁断対象の画像データを、前記撮像装置から取得する画像データ取得手段と、前記レーザ光の画像から、前記各裁断対象の端部を示す特徴点を算出する特徴点算出手段と、前記算出された特徴点と、前記多段積みされた裁断対象の基準位置とから、前記各裁断対象の検査領域を決定する検査領域決定手段と、前記決定された検査領域内の前記画像データから特徴量を抽出する特徴量抽出手段と、前記特徴量に基づき、前記多段積みされた裁断対象の積み方の良否を判定する良否判定手段と、を有することを特徴とする。
本発明によれば、レーザ光の画像から算出された各裁断対象の端部を示す特徴点と、多段積みされた裁断対象の基準位置とから、裁断対象毎の検査領域を決定することにより、検査領域における各裁断対象の特徴量を精度良く抽出できるため、多段積みされた裁断対象を精度良く検査できる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、裁断システムに対して本発明を適用した場合の実施形態である。
[1.裁断システムおよび制御装置10の構成および機能概要]
(1.1 裁断システム1の構成および機能)
まず、本発明の一実施形態に係る裁断システムの構成および概要機能について、図1を用いて説明する。
(1.1 裁断システム1の構成および機能)
まず、本発明の一実施形態に係る裁断システムの構成および概要機能について、図1を用いて説明する。
図1は、本実施形態に係る裁断システム1の概要構成例を示す模式図である。
図1に示すように、裁断システム1は、裁断システム1を制御する制御装置10(裁断対象検査装置の一例)と、多段積みされた裁断対象Bkを搬送する搬送装置20と、裁断対象Bkに光を当てる照明装置25と、多段積みされた裁断対象Bkを裁断する裁断装置30と、多段積みされた裁断対象Bkにレーザ光を投射するレーザ投射装置40と、多段積みされた裁断対象Bkを撮像する撮像装置50と、を備えている。
制御装置10と、搬送装置20と、裁断装置30と、レーザ投射装置40と、撮像装置50とは、データを送受信するためのケーブルにより接続されていて、搬送装置20や裁断装置30等は、制御装置10により制御される。
制御装置10は、コントローラ(例えば、プログラマブルロジックコントローラ)として、搬送装置20による裁断対象Bkの搬送や、裁断装置30による裁断対象Bkの裁断を制御する。また、制御装置10は、レーザ投射装置40によるレーザ光の投射のタイミング、撮像装置50による裁断対象の撮像等を制御する。また、制御装置10は、撮像装置50からの画像データを画像処理する。
搬送装置20は、裁断対象Bkを搬送する搬送部21と、制御装置10からの指令に従い搬送装置20を制御する制御部22とを有する。そして搬送装置20は、製本機で丁合いされ、糊付けされ、表紙が付けられた印刷物等の裁断対象Bkを多段積みされた状態で、搬送部21のコンベア等により裁断装置30まで搬送する。
照明装置25は、蛍光灯、白熱電球、LED(Light Emitting Diode)照明等のライトである。照明装置25は、裁断装置30に設置された裁断対象Bkを照らす。なお、搬送装置20の制御部22を介して、制御装置10により、照明装置25のライトのオンオフが制御されている。照明装置25は、所定位置に設置された光源の一例である。
裁断装置30は、裁断対象Bkを裁断する断裁刃部31と、多段積みされた裁断対象Bkを上方から押さえつける押さえ板部32と、制御装置10からの指令に従い裁断装置30を制御する制御部33と、を有する。断裁刃部31は、本の天・地・小口の三方向を裁断する断裁刃を有する。押さえ板部32は、エンコーダ付きの駆動部(図示せず)により、多段積みされた裁断対象Bkを押さえつける。駆動部のエンコーダにより、裁断対象Bkを押さえるために、押さえ板部32がどれだけ下降したかの位置が検出される。制御部33は、エンコーダの情報を読み取り、データを制御装置10に送信する。なお、駆動部は、断裁刃部31を下降させ裁断対象Bkを裁断する。
レーザ投射装置40は、裁断対象Bkの背側にレーザ光の投射するレーザ投射部41、42と、裁断対象Bkの地側にレーザ光の投射するレーザ投射部43、44と、制御装置10からの指令に従いレーザ投射装置40を制御する制御部45と、を有する。レーザ投射部41は、スリットから線状のレーザ光L1を、多段積みされた裁断対象Bkの側面(本束の背の面)に投射する。レーザ投射部42も、スリットから線状のレーザ光L2を、多段積みされた裁断対象Bkの側面(本束の背の面)に投射する。レーザ投射部43、44は、スリットから線状のレーザ光L3、L4を、多段積みされた裁断対象Bkの側面(本束の地の面)に投射する。
ここで、レーザ投射部41およびレーザ投射部42は、各裁断対象Bkを横切る線状のレーザ光を投射し、裁断対象Bkの背側の検査領域を決定するために使用される。レーザ投射部43およびレーザ投射部44は、多段積みされた裁断対象Bkの設置位置を測定するために使用される。
撮像装置50(画像データ取得手段の一例)は、CCD(Charge Coupled Device)イメージセンサやCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサ等の撮像素子を有するデジタルカメラである。撮像装置50は、裁断対象Bkが多段積みさる方向が、撮像装置50により撮像される画像の向きのy軸(鉛直)となるように設置される。撮像装置50は、撮像方向および所定位置が定められ、裁断装置30に設置された多段積みされた裁断対象Bkの画像を撮像する。
撮像装置50の設置位置および撮像方向は、図1に示すように、裁断対象Bkの背側と地側が撮像される位置である。さらに、撮像装置50の撮像方向は、裁断対象Bkの背側に投射されたレーザ光が、各裁断対象の境界で窪んだ様子を撮像できる方向、すなわち、裁断対象Bkの背側を斜めから撮像できる方向である。
(1.2 制御装置10の構成および機能)
次に、制御装置10の構成および機能について、図2を用いて説明する。
図2は、制御装置10の概要構成の一例を示すブロック図である。
次に、制御装置10の構成および機能について、図2を用いて説明する。
図2は、制御装置10の概要構成の一例を示すブロック図である。
図2に示すように、裁断対象検査装置として機能する制御装置10は、例えば、パーソナルコンピュータやプログラマブルロジックコントローラ等であり、通信部11と、記憶部12と、表示部13と、操作部14と、入出力インターフェース部15と、システム制御部16とを備えている。そして、システム制御部16と入出力インターフェース部15とは、システムバス17を介して接続されている。
通信部11は、制御部22と、制御部33と、制御部45と、撮像装置50等とのデータや信号の送受信を行う。
記憶部12は、例えば、ハードディスクドライブ等からなり、オペレーティングシステム、制御用のプログラムや画像処理用のプログラム等を記憶する。また、記憶部12は、データベースを有する。例えば、記憶部12のデータベースには、裁断対象のIDと共に裁断対象の寸法、積まれる裁断対象の段数、および、裁断対象の背表紙の画像の特徴量等が記憶される。また、記憶部12のデータベースには、撮像装置50の設置位置や撮像方向の情報、レーザ投射部41、42およびレーザ投射部43、44の設置位置や投射方向の情報、裁断ステージに設置された多段積みの裁断対象の位置の基準位置や基準の底辺、学習された閾値、レーザ光の投影パターン等が記憶されている。
表示部13は、例えば、液晶表示素子またはEL(Electro Luminescence)素子等によって構成されている。表示部13には、裁断システム1を制御するための入力情報や画像処理の結果等が表示される。
操作部14は、例えば、キーボードおよびマウス等によって構成されている。ユーザは、操作部14を使用して、裁断システム1を制御するための入力情報を入力する。
入出力インターフェース部15は、通信部11および記憶部12とシステム制御部16とのインターフェースである。
システム制御部16は、例えば、CPU16aと、ROM16bと、RAM16cとを有する。システム制御部16は、CPU16aが、ROM16bや、RAM16cや、記憶部12に記憶された各種プログラムを読み出して実行する。例えば、システム制御部16は、画像処理のプログラムを実行し、画像処理の結果に基づき、裁断対象の検査の判定を行う。
[2.裁断システムの動作]
次に、本発明の1実施形態に係る裁断システムの動作について図3から図10を用いて説明する。
次に、本発明の1実施形態に係る裁断システムの動作について図3から図10を用いて説明する。
(2.1 製本工程)
まず、裁断対象が本等の印刷物である場合における製本工程について図3を用いて説明する。なお、製本工程の一例として無線綴じについて説明する。
まず、裁断対象が本等の印刷物である場合における製本工程について図3を用いて説明する。なお、製本工程の一例として無線綴じについて説明する。
図3は、無線綴じ製本工程を示す模式図である。
図3に示すように、無線綴じ製本工程は、印刷された折丁をページ順に集積する”(1)丁合い工程”と、丁合いした折丁の背に切れ込みを入れる”(2)ミーリング工程”と、切れ込みを入れた背部に接着剤を塗布する”(3)塗布工程”と、塗布した接着剤に表紙を貼り付ける”(4)表紙付け工程”と、折部や余白を切断して本を所定のサイズにする”(5)断裁工程”と、を有する。なお、(5)の断裁工程は、(4)の表紙付け工程により表紙付けされた印刷物が、多段積みされた状態で行われる。(5)の断裁工程について、次の”裁断対象の供給”および”裁断対象の検査”で詳細に説明する。なお、裁断対象の一例である印刷物は、無線綴じ製本に限らず、平綴じ製本や中綴じ製本でもよい。
(2.2 裁断対象の供給)
次に、多段積みされた裁断対象を裁断装置30に供給する動作について図4を用いて説明する。
次に、多段積みされた裁断対象を裁断装置30に供給する動作について図4を用いて説明する。
図4は、裁断装置30に裁断対象Bkを供給する動作例を示すフローチャートである。図5は、多段積みされた裁断対象の背側の一例を示す模式図である。
図4に示すように、裁断システム1は、多段積みされた裁断対象を受け入れる(ステップS1)。具体的には、図1に示すように、表紙付けされた印刷物(裁断対象Bk)が多段積みされた状態で、搬送装置20に供給される。なお、制御装置10に、良に設定された、正解の多段積みされた裁断対象Bkを学習させる学習モードの場合、図5に示すように、印刷物の向きそろえ、背表紙の面を揃えて多段積みされた裁断対象Bkを、搬送装置20に供給する。
次に、裁断システム1は、裁断対象を整える(ステップS2)。具体的には、本束等の多段積みされた裁断対象Bkは、搬送装置20の側壁やガイドを利用し、整列される。
次に、裁断システム1は、裁断装置30に裁断対象Bkを供給する(ステップS3)。具体的には、整列された裁断対象Bkは、裁断装置30の断裁ステージ上に搬送される。なお、裁断対象の検査の学習モードの際は、断裁ステージ上における多段積みされた裁断対象Bkを、メジャー等で図りながら、所定の設置位置に設置してもよい。
(2.3 裁断対象の検査の学習モード)
次に、制御装置10に、正解の多段積みされた裁断対象Bkを利用して学習させる、裁断対象の検査の学習モードについて図6から図10を用いて説明する。
次に、制御装置10に、正解の多段積みされた裁断対象Bkを利用して学習させる、裁断対象の検査の学習モードについて図6から図10を用いて説明する。
図6は、制御装置10における裁断対象の検査のための学習モードの動作例を示すフローチャートである。図7は、多段積みされた裁断対象にレーザ光が投影された様子の一例を示す模式図である。図8は、多段積みされた裁断対象の背側にレーザ光が投影された様子の一例を示す模式図である。図9は、多段積みされた裁断対象の背側に投影されたレーザ光の画像の一例を示す模式図である。図10は、レーザ光の画像から特徴点を算出する様子の一例を示す模式図である。
図6に示すように、制御装置10は、搬送装置20から供給された多段積みされた裁断対象Bkの固定を確認する(ステップS10)。具体的には、制御装置10のシステム制御部16は、裁断装置30の断裁ステージ上に搬送された裁断対象Bkの束を、押さえ板部32により上面から押さえるように指令の信号を裁断装置30の制御部33に送信する。そして、裁断装置30の制御部33は、駆動部により押さえ板部32を下降させ、駆動部のエンコーダや位置センサで機械位置情報を検出し所定の位置で停止させる。裁断装置30の制御部33は、裁断対象Bkの押さえが終了した信号を制御装置10に送信する。制御装置10のシステム制御部16は、裁断対象Bkの押さえが終了した信号を制御装置10から受信して、多段積みされた裁断対象Bkの押さえを確認する。
次に、制御装置10は、レーザ光の投射を行う(ステップS11)。具体的には、制御装置10のシステム制御部16は、レーザ投射装置40にレーザを投射させる指令を送信する。そして、レーザ投射装置40の制御部45は、図1や図7に示すように、複数本のレーザ光(例えば、2本のレーザ光L1、L2)を、レーザ投射部41およびレーザ投射部42から、多段積みされた裁断対象Bkの側面(本束の背の面)に投射する。また、レーザ投射装置40の制御部45は、多段積みされた裁断対象Bkの設置された位置を測定するため、図1や図7に示すように、複数本のレーザ光(例えば、2本のレーザ光L3、L4)を、レーザ投射部43およびレーザ投射部44から、多段積みされた裁断対象Bkの側面(本束の地の面)に投射する。
なお、照明装置25による照明がなされていない状態で、レーザ光が投射される。また、2本のレーザ光L1、L2は、裁断対象Bkが多段積みされた方向に、ほぼ並行に投射される。2本のレーザ光L3、L4は、裁断対象Bkが多段積みされた方向に、ほぼ並行に投射される。
次に、制御装置10は、画像を撮像する(ステップS12)。具体的には、システム制御部16は、撮像装置50に撮像の指令を送信する。照明装置25が点灯していない状態で、撮像装置50は、レーザ投射装置40にレーザ光L1、L2、L3、L4が投射された裁断対象Bkの画像を撮像する。図7に示すように、裁断対象Bk1、Bk2、Bk3の背側に投影されたレーザ光L1、L2画像を取得する。そして、撮像後、レーザ投射装置40は、レーザ光の投射を止める。ここで、図7において、画像の座標は、x軸およびy軸により規定される。また、Z軸は鉛直方向、X軸は裁断対象Bkの背側の底辺の方向、および、Y軸は裁断対象Bkの地側の底辺の方向を示す。
なお、制御装置10は、レーザ投射装置40を制御して、レーザ投射部43、44を作動させず、レーザ投射部41、42のみ投射させてもよい。また、制御装置10は、レーザ投射装置40を制御して、レーザ投射部43とレーザ投射部44とを別々に作動させて、レーザ光L1のみが投射された裁断対象Bkの画像、および、レーザ光L2のみが投射された裁断対象Bkの画像のように、制御装置10は別々に画像を撮像してもよい。
また、制御装置10は、照明装置25により光が照らされた状態で、レーザ投射装置40によりレーザ光が投射され、撮像装置50により撮像された画像の画像データを取得してもよい。
次に、制御装置10は、投影パターンを抽出して記憶する(ステップS13)具体的には、システム制御部16は、レーザ光L1の部分の座標およびレーザ光L2の部分の座標を算出して、記憶部12に記憶する。例えば、図8に示すように、レーザ光L1が、多段積みされた裁断対象Bkに投射されると、各裁断対象Bkの境界で、線状のレーザ光L1にくびれ(各裁断対象の端部の一例)が生じた投射パターン(レーザ光の画像の位置の変化の一例)となる。図9に示すように、撮像された画像における、レーザ光L1、L2の投射パターンの線上の各点の座標を算出して、記憶部12に記憶する。
制御装置10は、数回分の多段積みされた裁断対象に対するレーザ光L1、L2の投射パターンを記憶する。
次に、制御装置10は、閾値を算出する(ステップS14)。具体的には、システム制御部16は、記憶部12から、数回分のレーザ光L1、L2の投射パターンを読み出し、例えば、各レーザ光L1、L2の投射パターンの平均を求め、図10に示すように、標準の投射パターンを算出する。システム制御部16は、この標準の投射パターンから、閾値θを算出する。例えば、標準の投射パターンの底面部分と、標準の投射パターンのピーク値(デップ値)との1/2のところの値を閾値θにする。システム制御部16は、標準の投射パターンの座標および閾値θを記憶部12のデータベースに記憶する。
数回分の多段積みされた裁断対象により学習させて、標準の投射パターンの座標、および、閾値θが算出される。
(2.4 裁断対象の検査)
次に、裁断対象の検査について図11から図17を用いて説明する。
次に、裁断対象の検査について図11から図17を用いて説明する。
図11は、制御装置10における裁断対象の検査の動作例を示すフローチャートである。図12は、検査領域の決定のサブルーチンの一例を示すフローチャートである。図13は、位置測定の様子の一例を示す模式図である。図14は、多段積みされた裁断対象の背側に投影されたレーザ光の特徴点から、検査領域を決定するための基準位置の一例を示す模式図である。図15は、多段積みされた裁断対象の背側の一例を示す模式図である。図16は、多段積みされた裁断対象の背側にレーザ光が投影された様子の一例を示す模式図である。図17は、レーザ光の画像から特徴点を算出する様子の一例を示す模式図である。
図11に示すように、制御装置10は、ステップS10と同様に、搬送装置20から供給された多段積みされた裁断対象Bkの固定を確認する(ステップS20)。
次に、制御装置10は、レーザ光の投射を行う(ステップS21)。具体的には、制御装置10のシステム制御部16は、レーザ投射装置40にレーザ光を投射させる指令を送信する。そして、レーザ投射装置40の制御部45は、検査領域の決定のため、図1や図7に示すように、複数本のレーザ光(例えば、2本のレーザ光L1、L2)を、レーザ投射部41およびレーザ投射部42から、多段積みされた裁断対象Bkの側面(本束の背の面)に投射する。また、レーザ投射装置40の制御部45は、多段積みされた裁断対象Bkの設置された位置を測定するため、図1や図7に示すように、複数本のレーザ光(例えば、2本のレーザ光L3、L4)を、レーザ投射部43およびレーザ投射部44から、多段積みされた裁断対象Bkの側面(本束の地の面)に投射する。
なお、照明装置25による照明がなされていない状態で、レーザ光が投射される。また、2本のレーザ光L1、L2は、裁断対象Bkが多段積みされた方向に、ほぼ並行に投射される。2本のレーザ光L3、L4は、裁断対象Bkが多段積みされた方向に、ほぼ並行に投射される。
次に、制御装置10は、画像を撮像する(ステップS22)。具体的には、システム制御部16は、撮像装置50に撮像の指令を送信する。照明装置25が点灯していない状態で、撮像装置50は、レーザ投射装置40にレーザ光L1、L2、L3、L4が投射された裁断対象Bkの画像を撮像する。そして、撮像後、レーザ投射装置40は、レーザ光の投射を止める。
なお、制御装置10は、レーザ投射装置40を制御して、レーザ投射部41、42と、レーザ投射部43、44とを、別々に投射させ、レーザ光L1、L2のみが投射された裁断対象Bkの画像、および、レーザ光L3、L4のみが投射された裁断対象Bkの画像のように、制御装置10は別々に画像を撮像してもよい。
次に、制御装置10は、検査領域を決定する(ステップS23)。具体的には、システム制御部16は、検査領域を決定のサブルーチンにより、多段積みされた裁断対象の各裁断対象Bkの背側の画像部分を切り出すための検査領域を決定する。
ここで、検査領域を決定のサブルーチンについて、図12を用いて説明する。
図12に示すように、制御装置10は、画像データを取り込む(ステップS30)。具体的には、制御装置10のシステム制御部16は、撮像装置50から撮像された画像の画像データを取得する。図7に示すように、裁断対象Bk1、Bk2、Bk3の背側に投影されたレーザ光L1、L2、および、裁断対象Bk1、Bk2、Bk3の地側に投影されたレーザ光L3、L4の画像を取得する。
なお、制御装置10のシステム制御部16は、照明装置25により光が照らされ、かつ、レーザ投射装置40によりレーザが投射された状態で、撮像装置50により撮像された画像の画像データを取得してもよい。
このように、制御装置10は、前記多段積みされた裁断対象の各裁断対象を横切る線状のレーザ光が投影された前記裁断対象の画像データを取得する画像データ取得手段の一例として機能する。
次に、制御装置10は、裁断ステージに設置された多段積みの裁断対象Bk1、Bk2、Bk3の位置を測定する(ステップS31)。具体的には、システム制御部16は、前処理の後、微分処理等により画像のエッジを抽出して、背側に投射されたレーザ光L1、L2の部分の画像、および、地側に投射されたレーザ光L3、L4の部分の画像を抽出する。そして、制御装置10は、レーザ光L1、L2およびレーザ光L3、L4の部分の画像から、多段積みされた裁断対象Bkが搬入された位置を測定し、多段積みされた裁断対象Bkが定位置からのずれを測定する。なお、照明装置25により光が照らされ、かつ、レーザ投射装置40によりレーザが投射された状態で、撮像装置50により撮像された画像の画像データを取得した場合、レーザ光の色の情報に基づき、レーザ光の画像を抽出してもよいし、輝度が所定以上の画素からレーザ光の画像を抽出してもよいし、微分処理等に所定以上の画素からレーザ光の画像を抽出してもよい。
図13に示すように、多段積みされた裁断対象Bkの設置位置にずれがある場合、多段積みされた裁断対象Bkの下面または上面におけるレーザ光L1、L2またはレーザ光L3、L4がL字型に屈曲した部分が移動する。制御装置10は、これらの屈曲点の位置のずれから、多段積みされた裁断対象Bkが基準点s0(基準位置の一例)から、新たな基準点s0’ (基準位置の一例)へのずれを測定し、記憶部12のデータベースに記憶する。なお、制御装置10は、基準底辺c0(基準位置の一例)から新たな基準底辺c0’ (基準位置の一例)を算出してもよい。
次に、制御装置10は、特徴点を算出する(ステップS32)具体的には、システム制御部16は、レーザ光L1の部分の画像(投射パターン)から、各裁断対象Bkの境界に対応する特徴点を算出する。例えば、図10に示すように、レーザ光L1が、多段積みされた裁断対象Bkに投射されると、各裁断対象Bkの境界で、線状のレーザ光L1がくびれ部分(各裁断対象の端部の一例)を算出するために、システム制御部16は、記憶部12のデータベースを参照して、図10に示すように、投射パターン(レーザ光の画像の位置の変化の一例)が、学習モードで算出した閾値θを越える点を算出する。そして、システム制御部16は、記憶部12のデータベースを参照して、裁断対象のサイズや段数の情報に基づき、閾値θを越える点を特徴点としたり、閾値θを越える点が近傍に2つ以上ある場合は、平均等した点を特徴点f1、f2、f3・・・としたりする。
図14に示すように、多段積みされた一番下の裁断対象Bkの端の部分から、各裁断対象Bkの境界の部分、多段積みされた一番上の裁断対象Bkの端の部分までの、特徴点f1、f2、f3、f4の撮像画像におけるx座標、y座標が算出される。
ここで、不良の場合の例として、図15に示すように、裁断対象Bk1が、背側の背表紙が左右逆転している場合、裁断対象Bk2が、背側と小口側が逆転している場合等が挙げられる。図15の場合、レーザ光L1が、多段積みされた裁断対象Bkに投射されると、図16に示すように、裁断対象Bk1の場合、投射パターンに変化がないが、裁断対象Bk2の場合、投射パターンに、カバー部分に対応した突起が現れ、紙が重なった部分に対応したギザギザした投影パターンが現れる。
図17に示すように、システム制御部16は、記憶部12のデータベースを参照して、裁断対象のサイズや段数の情報に基づき、閾値θを越える点を特徴点としたり、閾値θを越える点が近傍に2つ以上ある場合は、平均等した点を特徴点f1、f2、f3・・・としたりする。
このように、制御装置10は、前記レーザ光の画像から、前記各裁断対象の端部を示す特徴点を算出する特徴点算出手段の一例として機能する。制御装置10は、前記レーザ光の画像の位置の変化が閾値以上の場合の点から前記特徴点を算出する特徴点算出手段の一例として機能する。
次に、制御装置10は、基準位置を取得する(ステップS33)。具体的には、システム制御部16は、レーザ光L2の部分の画像(投射パターン)から、ステップS32のように、各裁断対象Bkの境界に対応する特徴点を基準特徴点(基準位置の一例)として算出する。
図14に示すように、多段積みされた一番下の裁断対象Bkの端の部分から、各裁断対象Bkの境界の部分、多段積みされた一番上の裁断対象Bkの端の部分までの、基準特徴点s1、s2、s3、s4の撮像画像におけるx座標、y座標が算出される。
このように、制御装置10は、前記投影された2本のレーザ光のうちの1本のレーザ光の画像から、基準特徴点を算出する特徴点算出手段の一例として機能する。
次に、制御装置10は、検査領域を決定する(ステップS34)。システム制御部16は、図14に示すように、互いに対応する基準特徴点および特徴点を結ぶ線を算出する。例えば、基準特徴点s1と特徴点f1とを結ぶ線c1、基準特徴点s2と特徴点f2とを結ぶ線c2、基準特徴点s3と特徴点f3とを結ぶ線c3、基準特徴点s4と特徴点f1とを結ぶ線c4である。システム制御部16は、線c1、c2、c3、c4の線上の座標を、記憶部12のデータベースに記憶する。
線c1および線c2により挟まれた領域R1、線c2および線c3により挟まれた領域R2、線c3および線c4により挟まれた領域R3が、検査領域となる。
なお、線c1、c2、c3、c4は直線とは限らず、撮像装置50の設置位置、撮像方向、および、レンズと、裁断対象の基準の設置位置や裁断対象の形状とにより決まる曲線でもよい。また、基準特徴点s1の代わりに、裁断対象の基準の設置位置と撮像装置50の設置位置や撮像方向とから決まる基準点s0または基準底辺c0を利用してよい。また、裁断対象のサイズの情報、または、背側を照らす照明装置25により生じる地側の陰により、検査領域は、水平(X軸)方向の範囲が限定されるようにしてもよい。
このように、制御装置10は、前記算出された特徴点と、前記多段積みされた裁断対象の基準位置とから、前記各裁断対象の検査領域を決定する検査領域決定手段の一例として機能する。制御装置10は、前記算出された特徴点と、当該特徴点に対応する前記基準特徴点とを通る線により、前記検査領域を決定する検査領域決定手段の一例として機能する。
次に、制御装置10は、検査領域を決定のサブルーチンを終了する。
次に、制御装置10は、照明装置25の点灯して、照明する(ステップS24)。具体的には、システム制御部16は、照明装置25のライトをオンにする指令を、搬送装置20の制御部22に送信する。搬送装置20の制御部22は、照明装置25を点灯させる。照明装置25は、多段積みされた裁断対象Bkの地側を照らす。
次に、制御装置10は、画像を撮像する(ステップS25)。具体的には、システム制御部16は、撮像装置50に撮像の指令を送信する。レーザ光が投射されない状態で、照明装置25が点灯して、裁断対象Bkの画像を撮像する。
次に、制御装置10は、特徴量を抽出する(ステップS26)。具体的には、システム制御部16は、ステップS25で撮像した画像から、ステップS23で決定された各検査領域により、各検査領域の画像を切り出す。そして、システム制御部16は、各検査領域の画像から、既存の方法により各検査領域の特徴量を抽出する。
このように、制御装置10は、前記決定された検査領域内の前記画像データから特徴量を抽出する特徴量抽出手段の一例として機能する。
次に、制御装置10は、裁断可能か否かを判定する(ステップS27)。具体的には、システム制御部16は、記憶部12のデータベースを参照して、各検査領域における特徴量と、テンプレートの特徴量とを比較して、所定の範囲内ならば、裁断可能と判定する。システム制御部16は、各検査領域の特徴量を比較して、所定値以上の違いがある場合、裁断不可能と判定してもよい。
このように、制御装置10は、前記特徴量に基づき、前記多段積みされた裁断対象の積み方の良否を判定する良否判定手段の一例として機能する。
次に、裁断可能の場合(ステップS27;YES)、制御装置10は裁断指令を送信する(ステップS28)。具体的には、制御装置10のシステム制御部16は、裁断装置30の制御部33に裁断指令を送信する。そして、裁断装置30の制御部33は、断裁刃部31の裁断刃を下降させ、裁断対象Bk1、Bk2、Bk3をまとめて裁断する。切断した断裁片(不要部)は自由落下もしくはエアー等で回収溝へ排出される。
裁断不可能の場合(ステップS27;NO)、制御装置10のシステム制御部16は、断裁前に裁断装置30を停止させる指令の信号を裁断装置30の制御部33に送信する。裁断装置30は裁断の動作を停止する。
以上、本実施形態によれば、レーザ光L1の画像から算出された各裁断対象Bkの端部を示す特徴点f1、f2、f3、f4と、多段積みされた裁断対象の基準位置(基準特徴点s1、s2、s3、s4)とから、裁断対象毎の検査領域(領域R1、R2、R3)を決定することにより、検査領域における各裁断対象の特徴量を精度良く抽出できるため、多段積みされた裁断対象を精度良く検査できる。
各裁断対象を横切る線状のレーザ光L1、L2が、2本投影され、基準位置が、投影された2本のレーザ光のうちの1本のレーザ光の画像から、算出された基準特徴点s1、s2、s3、s4であり、算出された特徴点f1、f2、f3、f4と、当該特徴点に対応する基準特徴点とs1、s2、s3、s4を通る線c1、c2、c4により、検査領域(領域R1、R2、R3)を決定する場合、特徴点と、これに対応した基準特徴点とにより、撮像装置50の設置位置の情報がなくても、容易に検査領域を設定できる。
レーザ光の画像の位置の変化が閾値以上の場合の点から特徴点を算出する場合、多段積みされた各裁断対象の境界部分におけるレーザ光の投射パターンの窪みを、精度良く特徴点を算出できる。
良に設定された多段積みされた裁断対象の画像データから、レーザ光の画像の位置の変化の閾値を算出する場合、多段積みされた裁断対象の種類に応じた精度の良い閾値を算出できる。
次に、変形例について図18から図20を用いて説明する。
図18および図19は、多段積みされた裁断対象の背側に投影されたレーザ光の特徴点から、検査領域を決定するための基準位置の変形例を示す模式図である。図20は、多段積みされた裁断対象に投影するレーザ光の変形例を示す模式図である。
図18および図19は、多段積みされた裁断対象の背側に投影されたレーザ光の特徴点から、検査領域を決定するための基準位置の変形例を示す模式図である。図20は、多段積みされた裁断対象に投影するレーザ光の変形例を示す模式図である。
図18に示すように、裁断対象の画像の明暗の境界上に基準点s5(s0)、s6、s7、s8(基準位置の一例)を設定してもよい。
制御装置10は、ステップS33の基準位置の取得において、裁断対象の画像の明暗の境界部分の線b0を画像処理により算出し、記憶部12のデータベースを参照して、裁断対象の厚みや、基準点s0等の情報に基づき、基準点s5、s6、s7、s8を算出する。
次に、制御装置10は、ステップS34のように、互いに対応する基準点s5、s6、s7、s8および特徴点f1、f2、f3、f4を結ぶ線を算出する。例えば、基準点s5と特徴点f1とを結ぶ線c1、基準点s6と特徴点f2とを結ぶ線c2、基準点s7と特徴点f3とを結ぶ線c3、基準点s8と特徴点f1とを結ぶ線c4である。
そして、検査領域(領域R1、R2、R3)におけるX軸方向の範囲の一方が、画像の明暗の境界部分の線b0により決定される。
このように、照明装置25により光が当てられて陰が生じた裁断対象の画像データを取得し、基準位置が、裁断対象の画像の明暗の境界(線b0)上の基準点s5、s6、s7、s8に設定され、算出された特徴点f1、f2、f3、f4と、当該特徴点に対応する基準点s5、s6、s7、s8とを通る線c1、c2、c3、c4により、検査領域(領域R1、R2、R3)を決定する場合、多段積みされた裁断対象の画像の明暗の境界により、裁断対象の背側と地側の角の部分が、精度良くに容易に求められる。また、特徴点を求めるレーザ光L1の1本でもよく、レーザ投射部を1つ削減できる。
なお、制御装置10は、明暗の境界に限らず、基準点s0を通るZ方向の線b0を求めてもよい。この場合、明暗の境界を算出せずに、検査領域(領域R1、R2、R3)を決定できる。
次に、図19に示すように、基準位置が、所定位置(基準点s0)に設置された裁断対象を撮像する撮像装置50の設置位置および撮像方向に基づき、画像データの画像の裁断対象に対応する部分(背側の底辺部分等)の基準線c5、c6、c7、c8に設定されてもよい。
制御装置10は、記憶部12のデータベースを参照して、基準点s0に設置された裁断対象を撮像する撮像装置50の設置位置および撮像方向と、裁断対象のサイズの情報とに基づき、特徴点f1、f2、f3、f4を通り、基準線c5、c6、c7、c8を算出する。そして、制御装置10は、基準線c5、c6、c7、c8から線c1、c2、c3、c4を算出する。
なお、制御装置10は、基準線c5、c6、c7、c8を延長して、線c1、c2、c3、c4を算出してもよい。また、制御装置10は、記憶部12のデータベースを参照して、基準点s0に設置された裁断対象を撮像する撮像装置50の設置位置および撮像方向と、裁断対象のサイズの情報とに基づき、特徴点f1、f2、f3、f4を通る線c1、c2、c3、c4を算出してもよい。
このように、基準位置が、所定位置に設置された裁断対象を撮像する撮像装置の設置位置および撮像方向に基づき、画像データの画像の前記裁断対象に対応する部分の基準線c5、c6、c7、c8に設定され、算出された特徴点を通る基準線c5、c6、c7、c8により、検査領域(領域R1、R2、R3)を決定する場合、特徴点を求めるレーザ光L1の1本でもよく、レーザ投射部を1つ削減できる。
次に、図20に示すように、2本のレーザ光L1、L2は、多段積みされた裁断対象Bkの各裁断対象を横切る線状のレーザ光であればよい。鉛直方向でなくてもよい。また、2本のレーザ光L1、L2は、非平行でもよい。さらに、レーザ光L1、L2は、直線で無く、曲線でもよい。すなわち、2本のレーザ光L1、L2は、多段積みされた裁断対象Bkの各裁断対象を横切る線状のレーザ光であればよい。
さらに、本発明は、上記各実施形態に限定されるものではない。上記各実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
1:裁断システム
10:裁断対象検査装置
25:照明装置
30:裁断装置
40:レーザ投射装置
50:撮像装置
Bk、Bk1、Bk2、Bk3:裁断対象
L1、L2:レーザ光
f1、f2、f3、f4:特徴点
s1、s2、s3、s4:基準特徴点(基準位置)
s0、s0’、s5、s6、s7、s8::基準点(基準位置)
c5、c6、c7、c8:基準線(基準位置)
R1、R2、R3:領域(検査領域)
10:裁断対象検査装置
25:照明装置
30:裁断装置
40:レーザ投射装置
50:撮像装置
Bk、Bk1、Bk2、Bk3:裁断対象
L1、L2:レーザ光
f1、f2、f3、f4:特徴点
s1、s2、s3、s4:基準特徴点(基準位置)
s0、s0’、s5、s6、s7、s8::基準点(基準位置)
c5、c6、c7、c8:基準線(基準位置)
R1、R2、R3:領域(検査領域)
Claims (10)
- 多段積みされた裁断対象を検査する裁断対象検査装置において、
前記多段積みされた裁断対象の各裁断対象を横切る線状のレーザ光が投影された前記裁断対象の画像データを取得する画像データ取得手段と、
前記レーザ光の画像から、前記各裁断対象の端部を示す特徴点を算出する特徴点算出手段と、
前記算出された特徴点と、前記多段積みされた裁断対象の基準位置とから、前記各裁断対象の検査領域を決定する検査領域決定手段と、
前記決定された検査領域内の前記画像データから特徴量を抽出する特徴量抽出手段と、
前記特徴量に基づき、前記多段積みされた裁断対象の積み方の良否を判定する良否判定手段と、
を備えることを特徴とする裁断対象検査装置。 - 請求項1に記載の裁断対象検査装置において、
前記各裁断対象を横切る線状のレーザ光が、2本投影され、
前記基準位置が、前記投影された2本のレーザ光のうちの1本のレーザ光の画像から、前記特徴点算出手段により算出された基準特徴点であり、
前記検査領域決定手段が、前記算出された特徴点と、当該特徴点に対応する前記基準特徴点とを通る線により、前記検査領域を決定することを特徴とする裁断対象検査装置。 - 請求項1に記載の裁断対象検査装置において、
前記基準位置が、所定位置に設置された前記裁断対象を撮像する撮像装置の設置位置および撮像方向に基づき、前記画像データの画像の前記裁断対象に対応する部分の基準点に設定され、
前記検査領域決定手段が、前記算出された特徴点と、当該特徴点に対応する前記基準点とを通る線により、前記検査領域を決定することを特徴とする裁断対象検査装置。 - 請求項3に記載の裁断対象検査装置において、
画像データ取得手段が、照明装置により光が当てられて陰が生じた前記裁断対象の画像データを取得し、
前記基準点が、前記裁断対象の画像の明暗の境界上の点に設定されることを特徴とする裁断対象検査装置。 - 請求項1に記載の裁断対象検査装置において、
前記基準位置が、所定位置に設置された前記裁断対象を撮像する撮像装置の設置位置および撮像方向に基づき、前記画像データの画像の前記裁断対象に対応する部分の基準線に設定され、
前記検査領域決定手段が、前記算出された特徴点を通る基準線により、前記検査領域を決定することを特徴とする裁断対象検査装置。 - 請求項1から5のいずれか1項に記載の裁断対象検査装置において、
前記特徴点算出手段は、前記レーザ光の画像の位置の変化が閾値以上の場合の点から前記特徴点を算出することを特徴とする裁断対象検査装置。 - 請求項6に記載の裁断対象検査装置において、
良に設定された前記多段積みされた裁断対象の画像データから、前記レーザ光の画像の位置の変化の前記閾値を算出する閾値算出手段を更に備えたことを特徴とする裁断対象検査装置。 - 裁断対象検査装置が、多段積みされた裁断対象を検査する裁断対象検査方法において、
前記多段積みされた裁断対象の各裁断対象を横切る線状のレーザ光が投影された前記裁断対象の画像データを取得する画像データ取得ステップと、
前記レーザ光の画像から、前記各裁断対象の端部を示す特徴点を算出する特徴点算出ステップと、
前記算出された特徴点と、前記多段積みされた裁断対象の基準位置とから、前記各裁断対象の検査領域を決定する検査領域決定ステップと、
前記決定された検査領域内の前記画像データから特徴量を抽出する特徴量抽出ステップと、
前記特徴量に基づき、前記多段積みされた裁断対象の積み方の良否を判定する良否判定ステップと、
を有することを特徴とする裁断対象検査方法。 - 多段積みされた裁断対象を検査する裁断対象検査装置のプログラムにおいて、
コンピュータを、
前記多段積みされた裁断対象の各裁断対象を横切る線状のレーザ光が投影された前記裁断対象の画像データを取得する画像データ取得手段、
前記レーザ光の画像から、前記各裁断対象の端部を示す特徴点を算出する特徴点算出手段、
前記算出された特徴点と、前記多段積みされた裁断対象の基準位置とから、前記各裁断対象の検査領域を決定する検査領域決定手段、
前記決定された検査領域内の前記画像データから特徴量を抽出する特徴量抽出手段、および、
前記特徴量に基づき、前記多段積みされた裁断対象の積み方の良否を判定する良否判定手段として機能させることを特徴とする裁断対象検査装置用のプログラム。 - 多段積みされた裁断対象の各裁断対象を横切る線状のレーザ光を投射するレーザ投射装置と、前記レーザ光が投影された裁断対象の画像を撮像する撮像装置と、前記多段積みされた裁断対象を検査する裁断対象検査装置と、を備えた裁断対象検査システムにおいて、
前記裁断対象検査装置が、
前記レーザ光が投影された前記裁断対象の画像データを、前記撮像装置から取得する画像データ取得手段と、
前記レーザ光の画像から、前記各裁断対象の端部を示す特徴点を算出する特徴点算出手段と、
前記算出された特徴点と、前記多段積みされた裁断対象の基準位置とから、前記各裁断対象の検査領域を決定する検査領域決定手段と、
前記決定された検査領域内の前記画像データから特徴量を抽出する特徴量抽出手段と、
前記特徴量に基づき、前記多段積みされた裁断対象の積み方の良否を判定する良否判定手段と、
を有することを特徴とする裁断対象検査システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014156883A JP2016033497A (ja) | 2014-07-31 | 2014-07-31 | 裁断対象検査装置、裁断対象検査方法、裁断対象検査装置用のプログラム、および、裁断対象検査システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014156883A JP2016033497A (ja) | 2014-07-31 | 2014-07-31 | 裁断対象検査装置、裁断対象検査方法、裁断対象検査装置用のプログラム、および、裁断対象検査システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016033497A true JP2016033497A (ja) | 2016-03-10 |
Family
ID=55452454
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014156883A Pending JP2016033497A (ja) | 2014-07-31 | 2014-07-31 | 裁断対象検査装置、裁断対象検査方法、裁断対象検査装置用のプログラム、および、裁断対象検査システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2016033497A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE112017000980T5 (de) | 2016-02-24 | 2019-02-21 | Denso Corporation | Radiallüfter |
CN112229356A (zh) * | 2020-08-28 | 2021-01-15 | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 | 一种基于点测量数据的零件质量检测方法 |
-
2014
- 2014-07-31 JP JP2014156883A patent/JP2016033497A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE112017000980T5 (de) | 2016-02-24 | 2019-02-21 | Denso Corporation | Radiallüfter |
CN112229356A (zh) * | 2020-08-28 | 2021-01-15 | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 | 一种基于点测量数据的零件质量检测方法 |
CN112229356B (zh) * | 2020-08-28 | 2021-08-03 | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 | 一种基于点测量数据的零件质量检测方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6630545B2 (ja) | 位置決め方法、位置決め装置、プログラムおよびコンピュータ可読記録媒体 | |
JP5861462B2 (ja) | はんだ検査のための検査基準登録方法およびその方法を用いた基板検査装置 | |
WO2012096004A1 (ja) | はんだ付け検査方法、およびはんだ付け検査機ならびに基板検査システム | |
KR101986389B1 (ko) | 보틀캔의 나사부 검사 장치 | |
TW201840991A (zh) | 電路板點膠檢測裝置及檢測方法 | |
JP6893219B2 (ja) | 表面検査システム及び表面検査方法 | |
WO2012096003A1 (ja) | はんだ付け検査方法、および基板検査システムならびにはんだ付け検査機 | |
US9870611B2 (en) | Drug inspection device | |
KR20150091216A (ko) | 검사 장치 및 검사 방법 | |
KR20110089486A (ko) | 실장기판 검사장치 및 검사방법 | |
JP2007292576A (ja) | 電子部品の外観検査装置 | |
JP2016033497A (ja) | 裁断対象検査装置、裁断対象検査方法、裁断対象検査装置用のプログラム、および、裁断対象検査システム | |
JP2007033126A (ja) | 基板検査装置並びにそのパラメータ調整方法およびパラメータ調整装置 | |
TWI244359B (en) | Automatic optical detecting system for defect components on printed circuit board | |
JP5958062B2 (ja) | 裁断対象検査装置、裁断対象検査方法、裁断対象検査装置用のプログラム、および、裁断対象検査システム | |
CN114813761B (zh) | 一种基于双光频闪的薄膜针孔和亮斑缺陷识别系统及方法 | |
US11763445B2 (en) | Inspection of a target object using a comparison with a master image and a strictness of a quality evaluation threshold value | |
TWI753424B (zh) | 外觀檢查管理系統、外觀檢查管理裝置、外觀檢查管理方法以及程式 | |
JP2007333661A (ja) | 電子部品の外観検査方法および外観検査装置 | |
JP6339849B2 (ja) | 検査装置 | |
JP2014035212A (ja) | 裁断対象検査装置、裁断対象検査方法、裁断対象検査装置用のプログラム、および、裁断対象検査システム | |
JP6816463B2 (ja) | 中綴じ検査装置および方法 | |
JP2014001961A (ja) | 裁断対象検査装置、裁断対象検査方法、裁断対象検査装置用のプログラム、および、裁断対象検査システム | |
JP7330524B2 (ja) | 紙製品検査装置、および紙製品加工システム | |
JP2014052875A (ja) | 計数装置、計数方法、および、計数装置用のプログラム |