JP2016029371A - Ｘ線後方散乱の適用のための可視可能なｘ線の表示及び検出のシステム - Google Patents

Abstract

【課題】後方散乱Ｘ線について、Ｘ線を検出及び特性評価する新しい改善された技法を提供する。
【解決手段】Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステム１００は、Ｘ線１０４を発生し且つＸ線１０４をターゲット１０８の一部である対象領域１０６に向けて方向付けるＸ線発生器１０２を含み、Ｘ線１０４は対象領域から散乱し、後方散乱Ｘ線が発生され、後方散乱Ｘ線は、対象領域１０６から離れるように向き、後方散乱Ｘ線のうちの幾つかは、パネル１１０又はパネル１１２のうちの１つに当たり、パネル１１０及びパネル１１２は、両方とも昔ながらのＸ線検出器又は従来のＸ線検出器であってもよく、その表面はＱドットソリューションで処理される。
【選択図】図１

Description

［０００１］本開示は、Ｘ線の表示、検出、及び特性評価に関し、より具体的には、後方散乱Ｘ線に関する。

［０００２］Ｘ線は、人の目では見ることができない光のエネルギー形態である。良く知られているように、Ｘ線は、医薬、歯科医学、及び科学研究などで数多くの有用な用途がある。

［０００３］しかしながら、Ｘ線は、あまりにもエネルギーが高いため、高価な最先端設備を使用せずに検出することは難しい。同様に、Ｘ線の束を定量的に特性評価することは、通常、高価な最先端設備を必要とする。したがって、特に後方散乱Ｘ線について、Ｘ線を検出及び特性評価する新しい改善された技法が望ましい。後方散乱Ｘ線は、対象領域に当たって、それからその対象領域から散乱するＸ線であり、潜在的に対象物以外の１つ又は複数の追加領域に当たる。

［０００４］例示的な実施形態は、幾つかの異なる実行形態を提供する。例えば、例示的な実施形態は、対象領域から後方散乱するＸ線が物体の表面に当たるように、Ｘ線の対象とされる対象領域に対して配置される物体を含む、Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステムを提供する。物体の表面は、後方散乱されたＸ線によって接触されたときに可視光で蛍光するＸ線感知指標物質（Ｘ−ｒａｙ ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ ｉｎｄｉｃａｔｏｒ ｓｕｂｓｔａｎｃｅ）を含む。

［０００５］例示的な実施形態は、更にＸ線漏洩検出器を提供する。この検出器は、Ｘ線発生器、Ｘ線発生器によって発生されるＸ線が当たるように配置される対象領域、及び発生器の前方に配置されるシールドを含む。このシールドは、対象領域から後方散乱されたＸ線を遮断するように構成される。この検出器は、対象領域に関連してシールドの背後に配置される第１パネルを更に含む。Ｘ線感知Ｑドットソリューション（Ｘ−ｒａｙ ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ Ｑ−ｄｏｔ ｓｏｌｕｔｉｏｎ）は、第１パネル上に配置されており、Ｘ線がＸ線感知Ｑドットソリューションに当たったときに可視光で蛍光するように構成される。

［０００６］例示的実施形態は、更に方法を提供する。この方法は、アーティクルを検査することを含む。このアーティクルは、アーティクルの少なくとも一部の上に配置されるＸ線感知Ｑドットソリューションを有する。このＸ線感知Ｑドットソリューションは、Ｘ線が当たったときに可視光を蛍光するように構成される。検査は、Ｘ線感知Ｑドットソリューションが蛍光しているかどうかを判定することを含む。

［０００７］例示的実施形態は、更にアーティクルを提供する。このアーティクルは、表面を備える物体、及びこの表面上に配置されるＸ線感知Ｑドットソリューションを含む。Ｘ線感知Ｑドットソリューションは、Ｘ線が当たったときに可視光で蛍光するように構成される。Ｑドットソリューションは、単語、英数字、及びイメージからなるグループから選択されるパターンで表面上に配置される。

［０００８］例示的な実施形態は、更にＸ線モニターを提供する。このモニターは、ハウジングを備えるＸ線測定ツール、ハウジング上にあり、且つＸ線束を受けるように構成されるセンサー対象領域、ハウジングの内部に配置され、且つＸ線束を測定するように構成されるＸ線検出器を含む。このモニターは、センサー対象領域の上に配置されるＸ線感知Ｑドットソリューションを更に含み、Ｘ線感知Ｑドットソリューションは、Ｘ線が当たったときに可視光で蛍光するように構成される。

［０００９］例示的な実施形態の特徴と考えられる新規のフィーチャは、添付の特許請求の範囲に明記される。しかしながら、例示的な実施形態と、好ましい使用モードと、その更なる目的及び特徴とは、添付図面を参照して本発明の例示的な実施形態の以下の詳細な説明を読むことにより最もよく理解されるであろう。

例示的な実施形態による、Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステムの側面図を示す。 例示的な実施形態による、図１に示されるＸ線後方散乱の表示及び検出のシステムの上面図を示す。 例示的な実施形態による、別のＸ線後方散乱の表示及び検出のシステムを示す。 例示的な実施形態による、Ｘ線漏洩の表示及び検出のシステムを示す。 例示的な実施形態による、Ｘ線モニターを示す。 例示的な実施形態による、図５のＸ線モニターの前面図を示す。 例示的な実施形態による、Ｑドットソリューションを適用するための技法を示す。 例示的な実施形態による、検出器に当たるＸ線を特性評価するための技法を示す。 例示的な実施形態による、表面上のＸ線感知Ｑドットのパターンを示す。 例示的な実施形態による、表面上のＸ線感知Ｑドットの別のパターンを示す。 例示的な実施形態による、Ｘ線感知Ｑドットで処理されたアパレルのアーティクルを示す。 例示的な実施形態による、Ｘ線感知Ｑドットで処理されたアパレルの別のアーティクルを示す。 例示的な実施形態による、Ｘ線感知Ｑドットで処理されたアパレルの別のアーティクルを示す。 例示的な実施形態による、Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステムを示す。 例示的な実施形態による、Ｘ線漏洩検出器を示す。 例示的な実施形態による、アーティクルを検査するための方法のフロー図である。 例示的な実施形態による、物体の表面上のＸ線感知Ｑドットソリューションのパターンを含むアーティクルを示す。 例示的な実施形態による、Ｘ線モニターを示す。 例示的な実施形態による、Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステムを示す。 例示的な実施形態による、データ処理システムを示す。

［００３０］例示的な実施形態は、幾つかの有用な機能を提供する。例えば、例示的な実施形態では、後方散乱されたＸ線を含むＸ線を費用をかけずに検出することは、依然として課題であることが認識及び考慮されている。例示的な実施形態では、更に、光の可視スペクトルの中のインジケータでＸ線の存在を検出するための機構が、Ｘ線の存在に対する迅速な反応を可能にすることが認識及び考慮されている。例示的な実施形態では、更に、可視光を使用して示されるＸ線の存在及び分布によって、通常の可視光カメラが、Ｘ線発生器、Ｘ線ターゲット、Ｘ線モニター、及び同等物を含むＸ線関連装置を誘導及び制御することを可能にすることが認識及び考慮されている。

［００３１］本明細書で使用されるように、可視光のように「Ｘ線」は、光子、すなわち電磁放射線の一形態である。Ｘ線は、約３０ペタヘルツ（３＊１０＾１６ Ｈｚ）から約３０エクサヘルツ（３＊１０＾１９ Ｈｚ）の範囲内の周波数、及び約１００電子ボルト（ｅＶ）から約１００キロ電子ボルト（Ｋｅｖ）の範囲内のエネルギーに対応する、約０．０１ナノメートルから約１０ナノメートルの範囲内の波長を有する。

［００３２］電磁放射線は、通常の可視光を含む。しかしながら、電磁放射線は光子の多くのエネルギーを含み、可視光は、電磁スペクトル全体に沿った小範囲のエネルギーである。電磁スペクトルの範囲を真っ直ぐな線に沿ってエネルギー順に配置した場合、電波が右端にあり、次にマイクロ波、赤外線、可視光、紫外線、Ｘ線、及びガンマ線が続く。光子は、粒子と波の両方の挙動を示し、波のパケットとして特徴付けることができる。波は、波長、振幅、及び周波数を有すると説明してもよく、したがって、可視光を含む光子は、波長及び周波数を有すると特徴付けてもよい。光子のエネルギーが低いほど波長は長く、逆に光子のエネルギーが高いほど波長は短い。同様に、光子のエネルギーが低いほど周波数は低く、逆に光子のエネルギーが高いほど周波数は速い。

［００３３］本明細書で使用されるように、「蛍光」とは、物質に当たる入射光子の種々の周波数を吸収した物質によって、放出光子が放出されることを指す。蛍光は、発光の一形態である。蛍光は、入射光子に起因して分子又は原子がエネルギー状態を増大し、その後、エネルギー状態の減少が続き、それにより分子又は原子が蛍光を放出する結果として起こる。蛍光は、更に、高エネルギー電子の照射から生じる蛍光など、異なる励起技法の結果として起こってもよい。例示的な実施形態を更にこれらの他の種類の蛍光に対して適用してもよい。

［００３４］ほとんどの場合、蛍光により放出された光は、波長がより長く、入射され且つ吸収された光よりもエネルギーが低い。場合によっては、二重光子吸収などのように、蛍光により放出される光は、吸収された光と同じ波長又はより短い波長を有してもよく、吸収された光と同じエネルギーを有するか、又は吸収された光よりもエネルギーが高い。しかしながら、本明細書に記載される例示的な実施形態は、主に単一光子吸収、及びより低いエネルギーの放出光子に言及する。具体的には、本明細書に記載される例示的な実施形態は、主にＸ線の吸収から生じる可視光の蛍光を指す。

［００３５］以上で示されるように、Ｘ線は人の目には見えないため、Ｘ線装置の使用者は、通常、Ｘ線の存在を示すために高価で特殊なセンサー又はモニターを使用する。Ｘ線装置の使用者は、Ｘ線露光が行われたことを示すフィルムバッジを身に着けることがある。しかしながら、このようなバッチは、Ｘ線の過去の存在のみを検出し、このようなバッジに当たるＸ線束の定量的特性の生成が不十分となる。

［００３６］Ｘ線露光の下で可視光で蛍光する量子ドット（Ｑドット）が開発されている。Ｑドットは、可視光を使用してＸ線を検出することを可能にすると言ってもよく、より適切な言い方をすると、可視光の蛍光は、単純にＸ線がＱドットによって最近吸収されたことを示す。これらのＱドットはＸ線の存在の中で迅速に蛍光し、且つＱドットの分子は追加のＸ線がＱドットの同じ領域に当たるときに再度蛍光できるように迅速に回復するため、Ｑドットは、可視光を使用してＸ線を迅速に特性評価することを可能にする。

［００３７］エネルギーがより高いガンマ線への露出に反応して、可視光で蛍光するＱドットが開発されている。したがって、Ｘ線に関連する、本明細書に記載のすべての例示的な実施形態をガンマ線の検出と特性評価に関して更に使用してもよい。同様に、例示的な実施形態は、高エネルギー電子の検出及び特性評価に関連して使用してもよい。

［００３８］例示的な実施形態では、Ｑドット及びＱドットベースナノ複合体（Ｑ−Ｄｏｔ−ｂａｓｅｄ ｐｏｌｙｍｅｒ ｎａｎｏ−ｃｏｍｐｏｓｉｔｅ）は、Ｘ線シンチレーション及び撮像用途の指標として使用してもよい。Ｑドット指標（Ｑ−ｄｏｔ ｉｎｄｉｃａｔｏｒ）は、高解像度、高速減衰、無残光、高い阻止能、及び電荷結合素子検出器に対する卓越したスペクトルマッチを含む卓越したＸ線発光を提供する。したがって、Ｑドットは、Ｘ線の表示及び検出の用途のために有用なナノ蛍光体技術でありうる。Ｑドットは、様々な企業、例えば、ニューヨーク州トロイのＥｖｉｄｅｎｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ， Ｉｎｃ．などから購入することができる。特定の非限定的な例示的実施形態では、Ｑドットは、テルル化カドミウム（ＣｄＴｅ）であってもよい。他のＱドットも使用することができる。

［００３９］Ｑドット及びそのナノ複合体は、Ｘ線の視覚表示から恩恵を受ける新規のプロセス及び構成において使用することができる。例示的な実施形態は、これらの新規のプロセス及び構成に対応する。

［００４０］図１は、例示的な実施形態による、Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステム１００の側面図を示す。Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステム１００は、Ｘ線１０４を発生し且つＸ線１０４をターゲット１０８の一部である対象領域１０６に向けて方向付けるＸ線発生器１０２を含む。Ｘ線１０４は対象領域から散乱し、後方散乱Ｘ線が発生される。後方散乱Ｘ線は、対象領域１０６から離れるように向く矢印で示される。

［００４１］後方散乱Ｘ線のうちの幾つかは、パネル１１０又はパネル１１２のうちの１つに当たる。例示的な実施形態では、パネル１１０及びパネル１１２は、両方とも昔ながらのＸ線検出器又は従来のＸ線検出器であってもよく、その表面はＱドットソリューションで処理されている。パネルは、Ｑドットが適用されている、他の形状及び機能を有する物体の表面上にあってもよい。したがって、例示的な実施形態は、図１及び図２に示されるような平坦な長方形物体に限定されず、例えば、曲線又は他の形状などの任意の所望の形状を有してもよい。２つのパネルは、特に後方散乱Ｘ線を捕まえるためにＸ線発生器１０２の両側に配置される。異なる例示的な実施形態では、Ｘ線検出器パネルは、より多くてもよく、又はより少なくてもよい。１つの例示的な実施形態において、パネル１１０及びパネル１１２は、実際には、Ｘ線発生器１０２からのＸ線を伝達させる孔を有する単一パネルである。

［００４２］図１に示される例示的な実施形態では、パネル１１０は、指標ソリューションの層１１４、例えば、以上で説明されたようなＱドットソリューションを含む。パネル１１２は、以上で説明されたようなＱドットソリューションの層１１６を含む。これらのＱドットソリューションは同じであってもよいが、更に後方散乱Ｘ線モニターの所望の実装形態に応じて、濃度や原子の結合状態において異なってもよく、或いは互いに異なっていてもよい。いかなる場合でも、Ｑドットソリューションは、後方散乱Ｘ線の存在の中で蛍光する。

［００４３］任意選択的に、画像取り込みデバイスなどの１つ又は複数の検出デバイス、例えばカメラ１１８が提供されてもよい。カメラ１１８は、Ｘ線が当たったときにＱドットソリューションによって放出される可視光の蛍光を記録するように構成されてもよい。カメラ１１８は任意選択のものであり、場合によっては、人間のオペレーターが可視光の蛍光を検出することができる。他の例示的な実施形態では、コンピュータがカメラ１１８と通信してもよい。コンピュータの一例は、図２０に示されるデータ処理システム２０００であってもよい。Ｘ線発生器１０２に接続されるサーボ又は他の機械装置との組み合わせで、コンピュータは、蛍光の特定の特性に応じてＸ線発生器１０２の動作を変えるために使用してもよい。例えば、蛍光が、Ｘ線の束が望ましくない程度に高いことを示す場合、Ｘ線発生器１０２は、より少ないＸ線を発生するように命令されることがある。逆に、蛍光が、Ｘ線の束が望ましくない程度に低いことを示す場合、Ｘ線発生器１０２は、より多くのＸ線を発生するように命令されることがある。別の例示的な実施形態では、蛍光が、Ｘ線の束がターゲット１０８上で不正確な位置に当たっていることを示す場合、Ｘ線発生器１０２は、向いている方向を変えるように命令されることがある。これらの例示的な実施形態は、ただの例示であり、他の実施例も可能である。したがって、これらの例示的な実施形態は、必ずしも特許請求の範囲に記載されている発明を限定しない。

［００４４］同様に、パネル１１０又はパネル１１２は、機械式アクチュエータに接続されてもよく、カメラ１１８によって検出された蛍光に応じて動かされてもよい。更に、ターゲット１０８が、機械式アクチュエータに接続されてもよく、カメラ１１８によって検出された蛍光に応じて動かされてもよい。別の例示的な実施形態では、パネル１１０と１１２、ターゲット１０８、及びＸ線発生器１０２のすべては、カメラ１１８によって検出される蛍光に応じて動作するコンピュータによって制御されてもよい。

［００４５］図２は、例示的な実施形態による、図１に示されるＸ線後方散乱の表示及び検出のシステム１００の上面図を示す。したがって、Ｘ線発生器２００は図１のＸ線発生器１０２に対応し、パネル２０２は図１のパネル１１０に対応し、及びパネル２０４は図１のパネル１１２に対応する。図２は、図１のターゲット１０８に面するパネル１１０と１１２の表面を示す。図２は、後方散乱Ｘ線によって、パネルの表面上のＱドットなどの指標が蛍光し、パネル１１０と１１２内の検出器が収集している可視光の画像が生成されることを示す。

［００４６］したがって、Ｘ線後方散乱検出器の表面は、Ｑドットソリューションで被覆されるか、又はＱドットソリューションを吹き付けてもよい。これらの検出器は、逆方向又は順方向で、散乱領域のエネルギー、程度、及び形状を示す。Ｑドットなどの蛍光指標を使用する後方散乱の適用例においては、検出器の表面は、Ｘ線の存在によって可視的に光り、それによりパネル内の検出器が感知しているエネルギー及びＸ線束の分散の測定が示される。検出器の間隔、大きさ、ソースエネルギー（散乱に影響を与える）を含むシステムパラメータは、すべて最適化することができ、それにより、検査されている各々の部分と構造からの散乱を最善な形で検出する。検出器の表面をオペレーターが視認することが難しい場合、電荷結合素子（ＣＣＤ）、相補型金属酸化膜半導体（ＣＭＯＳ）カメラ、又は何らかの他の検出装置を、パネルに向くようにパネルの上又はパネルの近くに設置し、オペレーターが見ることができるモニターにつなぐことができる。同様に、上述のように、Ｘ線発生器、パネル、又はターゲットの動作を修正するためにカメラをコンピュータに接続してもよい。このようなコンピュータの一例は、図２０に示されるデータ処理システム２０００であってもよい。パネル１１０及びパネル１１２が他の種類のＸ線検出器を備える場合、Ｑドットソリューションは、このような他の種類の検出器を使用して測定されるＸ線の特性評価を検証する第２の手段、或いは予想されるＸ線束に関連してＸ線検出の所望される位置を迅速に検証する第２の手段を提供することに留意されたい。

［００４７］矢印２０６が示す一般領域で見られるように、蛍光の強度及び／又は色は、パネル２０２又はパネル２０４に当たるＸ線束の性質に応じて変動してもよい。蛍光の色又は強度は、パネル２０２又はパネル２０４の所与の部分上のＸ線束の高低を示すことができる。このようにして、Ｘ線束を可視的に特性評価することができる。カメラに連動して、コンピュータも更に可視的な蛍光を入力値として取り入れ、デジタル特性及び／又はＸ線束の記録を生成してもよい。

［００４８］図３は、例示的な実施形態による、別のＸ線後方散乱の表示及び検出のシステムを示す。図３に示されるシステムは、図１及び図２に示されるシステムの変形例である。したがって、図１に関連して、Ｘ線発生器３００はＸ線発生器１０２に対応し、Ｘ線３０２はＸ線１０４に対応し、対象領域３０６は対象領域１０６に対応し、ターゲット３０４はターゲット１０８に対応し、パネル３０８はパネル１１０に対応し、パネル３１０はパネル１１２に対応し、及びカメラ３１２はカメラ１１８に対応する。

［００４９］しかしながら、図３に示される変形例では、パネルの位置が修正されている。パネル３０８は、Ｘ線発生器３００の前方にあるが、Ｘ線発生器３００の第１側面にある第１パネルと特徴付けてもよく、且つパネル３１０は、Ｘ線発生器３００の前方にあるが、第１側面の反対側のＸ線発生器３００の第２側面にある第２パネルと特徴付けてもよい。

［００５０］例示的な実施形態では、「第１」及び「第２」という用語は置き換えることができ、それによりパネル３０８又はパネル３１０の他の１つを「第１パネル」とみなす。例示的な実施形態では、パネル３０８とパネル３１０の両方が、Ｘ線３０２を伝達させることができる孔又は他の開口を有する単一パネルであってもよい。

［００５１］更に、パネル３１４とパネル３１６が、パネル３０８とパネル３１０それぞれに対してほぼ直角に設けられる。パネル３１４は、Ｘ線発生器３００に対して、第１パネルの第１遠位端部において第１パネルに対して略垂直な第３パネルと特徴付けてもよい。パネル３１６は、Ｘ線発生器３００に対して、第２パネルの第２遠位端部において第２パネルに対して略垂直な第４パネルと特徴付けてもよい。Ｘ線蛍光Ｑドット（Ｘ−ｒａｙ ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｔ Ｑ−ｄｏｔ）は、対象領域３０６から散乱するＸ線の一部を視覚的に特性評価するためにパネル３１４とパネル３１６に適用される。

［００５２］例示的な実施形態では、パネル３１４及びパネル３１６は、パネル３０８及び／又はパネル３１０の周囲を完全に又は部分的に包囲する円形パネル又は他のパネル形状などの単一パネルである。例示的な実施形態では、パネル３０８、３１０、３１４、及び３１６は、図示されているような形状の単一の連続的な物体である。例示的な実施形態では、図示されている任意のパネルの角度は、互いに対して変えることができる。例示的な実施形態では、Ｘ線蛍光Ｑドットをパネル３０８又はパネル３１０のうちの１つ或いはそれらの両方の上に追加的に置いてもよい。したがって、例示的な実施形態は、図３に示される厳密な構成に必ずしもに限定されない。

［００５３］任意選択的に、パネル３１８を対象領域３０６の背後に配置してもよい。パネル３１８は、Ｘ線発生器３００に対する対象領域３０６の背後にある第５パネルと特徴付けてもよい。パネル３１８も更にＸ線蛍光Ｑドットで被覆してもよい。パネル３１８上のＸ線Ｑドットの蛍光によって、対象領域３０６から散乱するが、Ｘ線発生器３００に向かって一般的方向で反映して戻らないＸ線の存在を視覚的に示すことができる。

［００５４］図３に示される例示的な実施形態は、Ｘ線散乱指標（Ｘ−ｒａｙ ｓｃａｔｔｅｒ ｉｎｄｉｃａｔｏｒ）と特徴付けてもよい。この例示的な実施形態では、図示のパネルは、Ｘ線感知Ｑドットソリューションで被覆してもよく、Ｘ線後方散乱の試験的構成の周りの様々な位置に配置してもよい。これらのパネルは、検査されている部分、すなわち、ターゲット１０８の両側において、順方向又は逆方向のエネルギーの分散及びＸ線束の散乱の測定をもたらすことができる。これらの散乱指標によってもたらされる情報は、検査手順テスト及びシステムパラメータの最適化に役立つことができる。可視光に対して感度が高いカメラ１１８は、モニター表示、並びに画像データの保存及び解析のために、蛍光の画像を取り込むために使用することができる。

［００５５］図４は、例示的な実施形態による、Ｘ線漏洩の表示及び検出のシステムを示す。図４に示されるＸ線漏洩の表示及び検出のシステムは、図１から図３に示されるＸ線後方散乱検出システムの変形例である。

［００５６］Ｘ線発生器４００は、ターゲット４２２に向けて放出することを意図していない追加のＸ線を発生してもよい。このようなＸ線は、「漏洩した」Ｘ線と特徴付けてもよい。図４で示されるように、Ｘ線４０８とＸ線４１０は、漏洩したＸ線である。漏洩したＸ線は、Ｘ線４０８によって示されるように、通常、Ｘ線発生器４００のコリメータ４１２から放出されてもよい。漏洩したＸ線は、更に、Ｘ線４０８によって示されるように、一般的に領域４１４においてなど、ケーブルが出てくるＸ線発生器４００のハウジングの一部から放出されてもよい。ケーブルが出てくるＸ線発生器４００のハウジングの領域は、通常、遮蔽部分がより少ない。これは、場合によっては、漏洩したＸ線がこれらの領域から放出されうることを意味する。

［００５７］漏洩したＸ線を検出するための有用で可視可能な指標は、Ｘ線蛍光Ｑドットなどの指標で被覆されるパネルなどの物体の形態をとってもよい。したがって、パネル４１６とパネル４１８が、それぞれＸ線蛍光Ｑドットで被覆されて設けられる。パネル４１６は、漏洩したＸ線４０８を効率的に検出するように配置し、角度を付けてもよい。同様に、パネル４１８は、漏洩したＸ線４１０を効率的に検出するように配置し、角度を付けてもよい。

［００５８］例示的な実施形態では、パネル４１６及びパネル［［４１０］］４１８は、互いに相対する角度で、且つ放出されたＸ線４０２が進む方向に、Ｘ線発生器４００の両側に配置されてもよい。この角度は、任意の漏洩したＸ線束の検出又は表示がセンサー領域内で最大化されるように、互いに対して任意の所望の角度であってもよい。言い換えれば、この角度は、漏洩したＸ線が進む予期される方向に基づいて、選択されてもよい。この角度は、代替的に、何らか他の物体に関連して方向付けられてもよい。

［００５９］漏洩したＸ線のみが検出されることを確実にするため、ターゲットから後方散乱するＸ線を捕まえるための１つ又は複数のシールドが存在してもよい。例えば、シールド４０４及びシールド４０６は、ターゲット４２２から後方散乱するＸ線が伝達されることを防ぐ。ターゲット４２２は、図１のターゲット１０８であってもよい。これらのシールドは、更に、後方散乱Ｘ線を検出するためのＸ線蛍光Ｑドットで被膜された後方散乱Ｘ線検出器又はパネルとして、２重の目的をもつことができる。したがって、例えば、シールド４０４は図１のパネル１１０に対応してもよく、且つシールド４０６は図１のパネル１１２に対応してもよい。いかなる場合でも、シールド４０４及びシールド４０６は、ターゲット４２２から後方散乱するＸ線が、例えば、Ｘ線発生器４００から放出されうる漏洩したＸ線と混同されることを防ぐ。

［００６０］上述の例示的な実施形態に対する変形が可能である。一例では、パネル４１６及びパネル４１８は、任意の所望の形状を有してもよい。別の例では、パネルがより多くてもよく、又はより少なくてもよい。別の例では、シールド４０４及びシールド４０６は、単一の単体シールドであってもよく、又は複数の追加のシールドであってもよい。シールド４０４及びシールド４０６は、任意の所望の形状を有してもよい。パネル４１６、パネル４１８、シールド４０４、及びシールド４０６のうちの任意のものは、Ｘ線検出器材料、Ｘ線膜、又はＸ線感知カメラとして、更に二重の機能を有してもよい。パネル４１６及びパネル４１８のどちらか一方又はその両方は、漏洩したＸ線がＸ線発生装置の領域から離れることを阻むことを意図する遮蔽部分として、二重の機能を有してもよい。

［００６１］任意選択的に、カメラ４２０は、パネル４１６及び／又はパネル４１８からの蛍光を光学的にモニターするために設けられてもよい。図２０のデータ処理システム２０００などのコンピュータは、カメラ４２０に接続されてもよい。コンピュータは、カメラから光学的データを受信し、次いで、パネル４１６及び／又はパネル４１８から放出される蛍光のパターンを保存又は分析してもよい。例示的な実施形態では、Ｘ線発生器４００の動作は、このような分析に基づいて制御されてもよい。例えば、漏洩したＸ線束が閾値を越えた場合、Ｘ線発生器４００は、停止されるか、又は放出Ｘ線４０２をより少なく発生するように命令を受けてもよい。代替的に、パネル４１６及び／又はパネル４１８からの蛍光の分析に基づいて、Ｘ線の検出される漏洩を最小限にするために、Ｘ線発生器４００の任意の部分に対して手動的又は自動的に調整を行ってもよい。

［００６２］したがって、図４は、１つ又は複数のＸ線漏洩検出スクリーンの一例を示す。１つの例示的な実施形態では、Ｘ線蛍光Ｑドットは、キャリア内に混ぜ込み、パネル４１６及び／又はパネル４１８などのスクリーンに吹き付けられてもよい。このスクリーンは、Ｘ線発生器４００などのＸ線システムに隣接するように配置してもよい。Ｘ線システムは、他のＸ線ソース、Ｘ線後方散乱システム、携帯デジタルＸ線システムなども含む。このスクリーンは、Ｘ線システム内の漏洩を確認又はモニターするために使用してもよい。Ｘ線の漏洩は、通常、コリメータでソースからケーブルが出てくるソース取付部（ｓｏｕｒｃｅ ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ）、及びＸ線発生器４００上の他の位置において生じることがある。スクリーンからの蛍光をモニターすることは、オペレーターが一定距離で観察することによって行うことができる。代替的に、モニター表示又はコンピュータ分析のためにカメラがＱドット蛍光画像を取り込むことができるように、ＣＣＤカメラ又はＣＭＯＳカメラなどの可視光カメラを、スクリーンの上又はその近くに、カバーに向けて備え付けてもよい。

［００６３］以上で示されるように、図４に示される構成は、異なっていてもよい。したがって、図４に示される例示的な実施形態は、特許請求される発明を必ずしも制限するものではない。

［００６４］図５は、例示的な実施形態による、Ｘ線モニターを示す。図６は、例示的な実施形態による、図５のＸ線モニターの前面図を示す。図５及び図６は、同一のＸ線モニターを指す。したがって、図５及び図６は、共通の参照番号を使用する。例示的な実施形態では、Ｘ線モニター５００は、図１から図４に示されるＸ線蛍光Ｑドットによって被覆されたパネルのうちの任意のものの代わりに使用してもよい。例示的な実施形態では、Ｘ線モニター５００は、イオンチャンバＸ線モニター（ｉｏｎ ｃｈａｍｂｅｒ Ｘ−ｒａｙ ｍｏｎｉｔｏｒ）であってもよいが、Ｘ線モニター５００は、Ｘ線サーベイメータ又は任意の他のＸ線検出器であってもよい。

［００６５］Ｘ線モニター５００がどのような形態であろうと、Ｘ線モニター５００は、Ｘ線を検出及び測定する装置が置かれるハウジング５０２を含む。携帯のために、Ｘ線モニター５００には、ハンドル５０４が設けられてもよい。スクリーン５０６は、任意の検出されたＸ線束の読み取りを表示してもよい。図５に示される例示的な実施形態では、Ｘ線モニター５００は、Ｘ線束がＸ線モニター５００の前方５０８で方向付けられるときに、最も感度が高い。

［００６６］これより図６を見ると、センサー領域６００は、入射されるＸ線束に対して最も感度が高いＸ線モニター５００の領域であってもよい。Ｘ線蛍光Ｑドット６０２は、センサー領域６００の上又はその周りに配置され、スポット指標（ｓｐｏｔ ｉｎｄｉｃａｔｏｒ）を形成してもよい。したがって、Ｘ線蛍光Ｑドット６０２は、センサー領域６００を越えて延在し、且つセンサー領域６００を囲んでもよく、並びに／或いはセンサー領域６００の一部又はすべてを覆ってもよい。

［００６７］Ｘ線蛍光Ｑドット６０２は、Ｘ線束の存在で蛍光してもよい。Ｘ線束のソースが比較的緊密なビームである場合、Ｘ線蛍光Ｑドット６０２は、Ｘ線モニター５００の位置又は角度の誘導を助けるために使用されてもよく、それによりＸ線束の方向がセンサー領域６００の内部で最適化される。

［００６８］例えば、Ｘ線蛍光Ｑドット６０２による蛍光が、Ｘ線モニター５００の動きにつれて増大する場合、より多くのＸ線がセンサー領域６００に入っていると推定されうる。逆に、Ｘ線蛍光Ｑドット６０２による蛍光が、Ｘ線モニター５００の動きにつれて減少する場合、より少ないＸ線がセンサー領域６００に入っていると推定されうる。Ｘ線束がセンサー領域６００に最大限入るまで、Ｘ線蛍光Ｑドット６０２の可視可能な蛍光をＸ線モニター５００を動かす指針として使用して、Ｘ線モニター５００を前後に動かしてもよく、又は角度付けしてもよい。

［００６９］Ｘ線モニター５００がコンピュータ及び動作機構に接続されている場合、且つＸ線蛍光Ｑドット６０２の蛍光が１つ又は複数の可視光カメラでモニターされている場合、Ｘ線モニター５００は、センサー領域６００に入るＸ線の量を最大化するために自動的に調整されてもよい。例えば、カメラは、Ｘ線蛍光Ｑドット６０２からの蛍光をモニターしてもよく、且つ対応データをコンピュータに送信してもよい。同様に、コンピュータは、Ｘ線蛍光Ｑドット６０２から放出される可視可能な蛍光の量が最大化されるように、動作機構に命令してＸ線モニター５００を動かすことができる。

［００７０］図７は、例示的な実施形態による、Ｑドットソリューションを適用するための技法を示す。この技法は、図１から図６に示されるパネル又はデバイスのうちの任意のものにＸ線蛍光Ｑドットを適用することに関連して使用されてもよい。

［００７１］Ｘ線蛍光Ｑドット７００が、吹き付け、塗装、浸し塗り、又は他の手段によって、パネルの表面に適用されてもよい。例えば、Ｘ線蛍光Ｑドット７００は、ソリューション内に入れてもよく、且つエアゾール装置７０２内に入れてもよい。エアゾール装置７０２は、次いで、物体７０４の表面を吹き付けるか、又は被覆するために使用されてもよい。物体７０４は、図１から図４に関連して説明されるパネルのうちの任意のもの、又は図５及び図６のＸ線モニター５００などのＸ線モニターであってもよい。エアゾール装置７０２は、手押しポンプ式スプレー装置、又は物体にソリューションを適用するための任意の他の適切なデバイスと交換してもよい。

［００７２］したがって、Ｘ線感知Ｑドット混合物（Ｘ−ｒａｙ ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ Ｑ−ｄｏｔ ｍｉｘｔｕｒｅ）は、衝突するＸ線を色で表示するように生成することができる。これらのソリューションは、Ｘ線証明として様々な構造物に吹き付けられる又は適用される被覆物又は塗装物に混ぜ込むことができる。

［００７３］このようにして、図７は、検査Ｘ線感知指標スプレー（ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ Ｘ−ｒａｙ ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ ｉｎｄｉｃａｔｏｒ ｓｐｒａｙ）を提供する。Ｑドットは、液体キャリア内で混ぜ合わされてもよく、エアゾール又は圧搾空気を使用して指標構造物に吹き付けられ、Ｘ線ヴォールト（ｘ−ｒａｙ ｖａｕｌｔ）でＸ線の衝突を可視的に示す。表面は、Ｘ線透視台又はソースからＸ線が照射される後壁であることができる。物体７０４は、Ｘ線がどこにあるかを可視的に示すために、Ｘ線検出器又は膜の背後又は傍らに配置される平面パネルであってもよい。スプレーは、取り外し式であってもよく、又は固定式であってもよい。

［００７４］図８は、例示的な実施形態による、検出器に当たるＸ線を特性評価するための技法を示す。図８は、Ｘ線の表示及び検査のための図１から図６に示されるシステム及び方法の変形例である。

［００７５］Ｘ線発生器８００は、Ｘ線８０２を発生する。Ｘ線８０２は、ターゲット８０４において少なくとも部分的に方向付けられる。ターゲット８０４は、Ｘ線８０２を使用して検査される研究対象物体又は部品であってもよい。Ｘ線８０２のうちの幾つかは、ターゲット８０４を通して遮断又は送信されてもよい。検出器８０６に到達するＸ線のパターンは、検出器８０６上に配置されるＸ線蛍光Ｑドット８０８を用いて可視的に示されてもよい。

［００７６］したがって、Ｘ線蛍光Ｑドットは、液体キャリア内に混ぜ込まれ、検出器８０６の前方のカバー８１０に吹き付けられるか、又は塗装されてもよい。Ｘ線蛍光Ｑドットは、Ｘ線照射が当たったときに蛍光し、それによりオペレーターが、Ｘ線が検出器８０６にいつ衝突し、どこに衝突したかを容易に可視化することが可能になる。この可視化情報は、例えば、検出装置を使用せずに、Ｘ線が存在するときにオペレーターに情報を迅速に伝達するために使用することができる。

［００７７］この可視化情報は、更に、検出器８０６が使用される前のターゲット８０４の検査前イメージングのために使用されてもよい。例えば、この可視化情報は、検査のためにターゲット８０４を設定する前及び／又は後の、Ｘ線発生器８００から一定距離におけるＸ線８０２の断面及び大きさを示すことができる。この可視化情報は、更に、Ｘ線８０２がどのようにターゲット８０４を通して減衰するかを示すことができる。

［００７８］図９は、例示的な実施形態による、表面上のＸ線感知Ｑドットのパターンを示す。図１０は、例示的な実施形態による、表面上のＸ線感知Ｑドットの別のパターンを示す。したがって、図９及び図１０は、それぞれ、物体の上に置くことができるＸ線蛍光Ｑドットの例示的なパターンを示す。その他多数のパターンも可能である。これらのパターンは、図１から図８に関連して示されるパネル又は物体のうちの任意のものの上に配置することができる。

［００７９］図９は、サイン９００を示す。例示的な実施形態では、サイン９００上の「Ｘ−ＲＡＹ ＩＮ ＵＳＥ（Ｘ線使用中）」という文言における一部又は全ての文字をＸ線蛍光Ｑドットを使用して形成することができる。したがって、Ｘ線がサイン９００に当たるとき、これらの文字の一部又は全てが可視光で光ることがあり、それによりＸ線がサイン９００に当たっていることがユーザーに示される。ユーザーは、Ｘ線が近くにあることを知り、適切な行動をとることができる。

［００８０］図１０は、サイン１０００を示す。サイン９００のように、Ｘ線の存在を示すためにＸ線蛍光Ｑドットをパターンで使用してもよい。しかしながら、サイン１０００に関しては、Ｘ線蛍光Ｑドットは、放射能警告シンボル１００２の形状で構成される。したがって、Ｘ線が放射能警告シンボル１００２に当たるとき、Ｘ線の存在を示す検出装置の助けなく、シンボルは、観察者によって「光っている」と検出されることができる。例示的な実施形態では、放射能警告シンボル１００２を囲む文言も、Ｘ線蛍光Ｑドットで処理され、Ｘ線の存在で光ってもよい。例示的な実施形態では、放射能警告シンボル１００２を囲む文言のみがＸ線蛍光Ｑドットで処理され、Ｘ線の存在で光る。その他多数の変形例も可能である。

［００８１］したがって、図９及び図１０は、Ｘ線の存在の無給電指標を表す。文字又はシンボルは、Ｘ線の存在で光を発するＸ線蛍光Ｑドットを使用してつくってもよい。これらのサイン又は安全確認、すなわち指標は、生成されたビームがオンのときにサインが光を発するように、生成されたビームの端に配置されてもよい。オペレーターは、検査のセットアップに近づいたときに直ぐにサインを視認することができる。

［００８２］異なる例示的な実施形態では、カメラを、サインの画像を取り込み、他の位置の１つ又は複数のモニターで表示するために使用することができる。したがって、Ｘ線の存在は、遠い場所から可視的にモニターすることができる。

［００８３］図１１は、例示的な実施形態による、Ｘ線感知Ｑドットで処理されたアパレルのアーティクルを示す。図１２は、例示的な実施形態による、Ｘ線感知Ｑドットで処理されたアパレルの別のアーティクルを示す。図１３は、例示的な実施形態による、Ｘ線感知Ｑドットで処理されたアパレルの別のアーティクルを示す。したがって、図１１から図１３は、Ｘ線の存在を可視的に示すためにＸ線蛍光Ｑドットで処理されたアパレルのアーティクルの異なる例示的な実施形態を表す。

［００８４］図１１は、Ｘ線蛍光Ｑドットで処理されたリストバンド１１００を示す。図１２は、Ｘ線蛍光Ｑドットで処理されたリング１２００を示す。図１３は、Ｘ線蛍光Ｑドットで処理された粘着ストリップ１３００を示す。これらのアパレルのアーティクルはそれぞれＸ線の存在を可視的に示すために人体の一部に装着することができる。

［００８５］例示的な実施形態では、自然背景のＸ線のみが存在するときに、Ｘ線蛍光Ｑドットによって放出される蛍光を検出することが難しいように、Ｘ線蛍光Ｑドットの濃度又は密度を設定してもよい。したがって、これらのアパレルのアーティクルは、Ｘ線の背景強度よりも高いＸ線が存在するときのみに明るい強度で蛍光し、それによりＸ線の閾値量が放出されていることが観察者に合図される。

［００８６］他の例示的な実施形態では、指標は、他の携帯式物体の表面に適用されてもよい。例えば、粘着ストリップ１３００は、Ｘ線ヴォールト内の任意の適当な表面又はＸ線束がモニターされる他の領域に適用されうるテープであってもよい。別の例では、リストバンド１１００は、Ｘ線束に接触すると予期される機械又は移動ロボットの周りに巻き付けてもよい。別の例では、Ｘ線蛍光Ｑドットで処理されたアパレルのアーティクルは、バッジ、シャツ、帽子、又は任意の他の物体であってもよい。したがって、例示的な実施形態は、図１１から図１３に示される物体に必ずしもに限定されない。

［００８７］図１１から図１３に示される例示的な実施形態は、放射能被曝を迅速に可視表示する手段を提供する。この指標は、医療、産業、及び商業の分野において、Ｘ線放射の周りで働く人々に提供されてもよい。

［００８８］図１４は、例示的な実施形態による、Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステムを示す。後方散乱の表示及び検出のシステム１４００は、図１から図３に示した実施形態の変形例であってもよい。

［００８９］後方散乱の表示及び検出のシステム１４００は、対象領域１４０４から後方散乱するＸ線発生器１４０６からのＸ線１４０８が物体１４０２に当たるように、Ｘ線発生器１４０６の対象とされる対象領域１４０４に対して配置される物体１４０２を含む。物体１４０２の表面は、Ｘ線１４１２がＸ線感知Ｑドットソリューション１４１０に当たったときに可視光で蛍光するように構成されるＸ線感知Ｑドットソリューション１４１０で被覆される。

［００９０］この例示的な実施形態は、変化してもよい。したがって、例えば、後方散乱の表示及び検出のシステム１４００は、カメラ１４１４がＸ線感知Ｑドットソリューション１４１０の蛍光から生じる可視光１４１６を検出することができるように、物体１４０２に対して動作的（連動的）に配置されるカメラ１４１４を更に含んでもよい。

［００９１］例示的な実施形態では、後方散乱の表示及び検出のシステム１４００は、カメラ１４１４と通信するコンピュータ１４１８を更に含んでもよい。コンピュータ１４１８は、可視光１４１６の画像１４２０を保存し、画像１４２０の分析を実行するように構成されてもよい。コンピュータ１４１８の一例は、図２０に示されるデータ処理システム２０００であってもよい。

［００９２］例示的な実施形態では、後方散乱の表示及び検出のシステム１４００は、コンピュータ１４１８と通信している可能性があるＸ線発生器１４０６を含んでもよい。コンピュータ１４１８は、カメラ１４１４によって撮られた可視光１４１６の画像１４２０の分析に基づいて、Ｘ線発生器１４０６の動作を修正するように更に構成されてもよい。

［００９３］例示的な実施形態では、コンピュータ１４１８は、可視光１４１６に基づいて後方散乱Ｘ線１４１２のパターン１４２２を分析し、このパターン１４２２が後方散乱Ｘ線の予期されるパターンに合致するかどうか判定するように更に構成されてもよい。Ｘ線発生器１４０６の動作を修正するように構成されることによって、コンピュータ１４１８は、パターン１４２２に基づいてＸ線発生器１４０６の動作を修正するように構成される。

［００９４］例示的な実施形態では、後方散乱の表示及び検出のシステム１４００は、第１パネル１４２４、第２パネル１４２６、第３パネル１４２８、第４パネル１４３０、及び第５パネル１４３２のうちの１つ又は複数を含んでもよい。第１パネル１４２４は、Ｘ線発生器１４０６の前方にありながらも、Ｘ線発生器１４０６の第１側面にあってもよい。第２パネル１４２６は、Ｘ線発生器１４０６の前方にありながらも、第１側面の反対側のＸ線発生器１４０６の第２側面にあってもよい。第３パネル１４２８は、Ｘ線発生器１４０６に対して、第１パネル１４２４の第１遠位端部において第１パネル１４２４に対して略垂直であってもよい。第４パネル１４３０は、Ｘ線発生器１４０６に対して、第２パネル１４２６の第２遠位端部において第２パネル１４２６に対して略垂直であってもよい。第５パネル１４３２は、Ｘ線発生器１４０６に対する対象領域１４０４の背後にあってもよい。

［００９５］例示的な実施形態では、Ｘ線感知Ｑドットソリューション１４１０をパネル１４２４からパネル１４３２のうちの１つ又は複数の上に配置してもよい。したがって、Ｘ線感知Ｑドットソリューション１４１０は、
１）第１パネル１４２４及び第２パネル１４２６、２）第１パネル１４２４、第２パネル１４２６、及び第５パネル１４３２、並びに３）第１パネル１４２４、第２パネル１４２６、第３パネル１４２８、第４パネル１４３０、及び第５パネル１４３２
からなるグループから選択されるパネル上にあってもよい。

［００９６］後方散乱の表示及び検出のシステム１４００の他の変形例が可能である。例えば、第１パネル１９２４、第２パネル１９２６、第３パネル１９２８、第４パネル１９２０、及び第５パネル１９３２のうちの任意のものは、形状がパネルに限定されていないため、図１４及び図１５に関連して既に説明され、以下で特許請求されているように、「物体」と特徴付けてもよい。同様に、物体１４０２は、第１パネル１９２４から第５パネル１４３２の任意のもの又はそれらの組み合わせと特徴付けてもよい。例示的な実施形態では、物体１４０２は、図１５に関連して既に説明されたように、以下で「第１物体」と特徴付けてもよい。したがって、図１４の例示的な実施形態は、特許請求される発明を必ずしも制限するものではない。

［００９７］図１５は、例示的な実施形態による、Ｘ線漏洩検出器を示す。Ｘ線漏洩検出器１５００は、図４に示されるＸ線漏洩検出器の変形例であってもよい。

［００９８］例示的な実施形態では、Ｘ線漏洩検出器１５００は、Ｘ線発生器１５０２によって発生されるＸ線１５０６が対象領域１５０４に当たるように配置されるＸ線発生器１５０２及び対象領域１５０４を含む。Ｘ線漏洩検出器１５００は、Ｘ線発生器１５０２の前方に配置されるシールド１５０８を更に含んでもよい。シールド１５０８は、対象領域１５０４から後方散乱されるＸ線１５１０を遮断するように構成されてもよい。シールド１５０８は、１つ又は複数のパネルであってもよい。

［００９９］Ｘ線漏洩検出器１５００は、対象領域１５０４に対するシールド１５０８の背後に配置される第１物体１５１２を更に含んでもよい。Ｘ線感知Ｑドットソリューション１５１４は、第１パネル第１物体１５１２上に配置されてもよい。Ｘ線感知Ｑドットソリューション１５１４は、Ｘ線１５１８がＸ線感知Ｑドットソリューション１５１４に当たったときに可視光１５１６で蛍光するように構成されてもよい。

［００１００］例示的な実施形態では、Ｘ線漏洩検出器１５００は、カメラ１５２０がＸ線感知Ｑドットソリューション１５１４の蛍光から生じる可視光１５１６を検出することができるように、第１物体１５１２に対して動作的（連動的）に配置されるカメラ１５２０を更に含んでもよい。この場合、Ｘ線漏洩検出器１５００は、カメラ１５２０と通信するコンピュータ１５２２を更に含んでもよい。コンピュータ１５２２は、可視光１５１６の画像１５２４を保存し、可視光１５１６の分析を実行するように構成されてもよい。コンピュータ１５２２の一例は、図２０に示されるデータ処理システム２０００であってもよい。

［００１０１］例示的な実施形態では、Ｘ線漏洩検出器１５００は、対象領域１５０４に対するシールド１５０８の背後に配置される第２物体１５２６を含んでもよい。第２物体１５２６は、Ｘ線発生器１５０２に対する第１物体１５１２の反対側に更に配置されてもよい。この場合、第２Ｘ線感知Ｑドットソリューション１５２８が、第２物体１５２６上に配置されてもよい。第２Ｘ線感知Ｑドットソリューション１５２８は、Ｘ線１５３２が第２Ｘ線感知Ｑドットソリューション１５２８に当たったときに可視光１５３０で蛍光するように構成されてもよい。

［００１０２］例示的な実施形態では、第１物体１５１２及び第２物体１５２６は、互いに相対する角度で配置されてもよい。この角度は、Ｘ線発生器１５０２によって放出されることを意図するＸ線１５０６の方向に関連する。別の例示的な実施形態では、第１物体１５１２は、コリメータ１５３４から漏洩するＸ線１５１８（第１Ｘ線と特徴付けることができる）を受けるように配置されてもよい。Ｘ線発生器１５０２及び第２物体１５２６は、ケーブル１５３８がＸ線発生器１５０２から出る位置１５３６から漏洩するＸ線１５３２（第２Ｘ線と特徴付けることができる）を受けるように配置されてもよい。例示的な実施形態では、第１物体１５１２又は第２物体１５２６のいずれか又は両方が、それぞれ第１パネル及び第２パネルと特徴付けられてもよい。

［００１０３］図１６は、例示的な実施形態による、アーティクルを検査するための方法のフロー図である。方法１６００は、図１１から図１３に示されるＸ線蛍光Ｑドットによって処理された物体のうちの任意のものを使用して実行してもよい。

［００１０４］方法１６００は、Ｘ線が、蛍光を検出するために物体の表面の少なくとも一部の上に配置される物質に当たるとき、可視光を蛍光するＸ線感知物質を有する物体を検査することから始まってもよい（オペレーション１６０２）。その後、プロセスは終了してもよい。

［００１０５］この方法は、変化してもよい。例えば、アーティクルは、リング、ブレスレット、布、及びバッジからなるグループから選択されるアパレルのアーティクルであってもよい。アーティクルは、個人が身に着けようと、又は機械に付着させようと、任意の物体であってもよい。

［００１０６］図１７は、例示的な実施形態による、物体の表面上のＸ線感知Ｑドットソリューションのパターンを含むアーティクルを示す。アーティクル１７００は、図９及び図１０に示されるサインのうちの任意のものの変形例であってもよい。

［００１０７］アーティクル１７００は、表面１７０４を含む物体１７０２であってもよい。Ｘ線感知Ｑドットソリューション１７０６は、表面１７０４上に配置されてもよい。Ｘ線感知Ｑドットソリューション１７０６は、Ｘ線がＸ線感知Ｑドットソリューション１７０６に当たったときに可視光で蛍光するように構成されてもよい。Ｘ線感知Ｑドットソリューション１７０６は、単語、英数字、及びイメージからなるグループから選択されたパターンで表面１７０４上に置かれてもよい。このパターンは、任意の形状、文字、数字、又はシンボルであってよい。

［００１０８］図１８は、例示的な実施形態による、Ｘ線モニターを示す。Ｘ線モニター１８００は、図５及び図６のＸ線モニター５００の一例であってもよい。

［００１０９］Ｘ線モニター１８００は、Ｘ線測定ツール１８０２を含んでもよい。Ｘ線測定ツール１８０２は、ハウジング１８０４を含んでもよい。Ｘ線測定ツール１８０２は、ハウジング１８０４上にあり、Ｘ線束１８０８を受けるように構成されるセンサー対象領域１８０６を含んでもよい。Ｘ線測定ツール１８０２は、ハウジング１８０４の内部に配置され、Ｘ線束１８０８を測定するように構成されるＸ線検出器１８１０を含んでもよい。Ｘ線測定ツール１８０２は、センサー対象領域１８０６上に配置されるＸ線感知Ｑドットソリューション１８１２を更に含んでもよい。Ｘ線感知Ｑドットソリューション１８１２は、Ｘ線束１８０８などのＸ線がＸ線感知Ｑドットソリューション１８１２に当たったときに可視光１８１４で蛍光するように構成されてもよい。

［００１１０］この例示的な実施形態は、変化してもよい。例えば、Ｘ線感知Ｑドットソリューション１８１２は、センサー対象領域１８０６を更に越えて延在し、且つセンサー対象領域１８０６を囲んでもよい。しかしながら、Ｘ線感知Ｑドットソリューション１８１２は、より少ない領域を占めてもよいし、より多くの領域を占めてもよい。

［００１１１］追加の例示的な実施形態では、可視光１８１４をモニターするようにカメラ１８１６を配置してもよい。コンピュータ１８１８は、カメラ１８１６に接続されてもよい。コンピュータ１８１８は、可視光１８１４の特性評価に基づいて、Ｘ線束の予想される量がセンサー対象領域１８０６に入っているかどうかを判定するように構成されてもよい。コンピュータ１８１８の一例は、図２０に示されるデータ処理システム２０００であってもよい。

［００１１２］更に別の例示的な実施形態では、機構１８２０がコンピュータ１８１８に接続されてもよい。機構１８２０は、Ｘ線測定ツール１８０２の配向を調整するように構成されてもよい。コンピュータ１８１８は、Ｘ線束の所望される量がセンサー対象領域１８０６に入るように、前記特性評価に基づいて、配向を調整するために機構１８２０に命令するように更に構成されてもよい。

［００１１３］他の変形例も更に可能である。したがって、図１８に関連して示される例示的な実施形態は、特許請求される発明を必ずしも制限するものではない。

［００１１４］図１９は、例示的な実施形態による、Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステムを示す。後方散乱の表示及び検出のシステム１９００は、図１から図３に示される実施形態の変形例、並びに図１４の後方散乱の表示及び検出のシステム１４００の変形例であってもよい。

［００１１５］Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステム１９００は、対象領域１９０４から後方散乱する後方散乱Ｘ線１９０８が物体１９０２の表面１９１０に当たるように、Ｘ線１９０６の対象とされる対象領域１９０４に対して配置される物体１９０２を含む。物体１９０２の表面１９１０は、後方散乱されたＸ線１９０８によって接触されたときに可視光１９１４で蛍光するＸ線感知指標物質１９１２を含む。

［００１１６］Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステム１９００は変化してもよい。例えば、例示的な実施形態では、蛍光するＸ線感知指標物質は、Ｑドットソリューションであってもよい。別の例示的な実施形態では、追加のＸ線感知指標物質が提供されてもよい。この追加のＸ線感知指標物質は、Ｘ線感知指標物質１９１２の上に、その隣に、又はその下に配置されてもよい。この追加のＸ線感知指標物質は、表面１９１０の一部を覆ってもよいが、Ｘ線感知指標物質１９１２は、表面１９１０の別の部分を覆う。

［００１１７］別の例示的な実施形態では、Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステム１９００は、Ｘ線感知指標物質１９１２の蛍光から生じる可視光１９１４を検出するために物体１９０２に対して動作的（連動的）に配置される画像取り込みデバイス１９１６を更に含んでもよい。更に別の例示的な実施形態では、Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステム１９００は、可視光１９１４の画像１９２０を保存し、且つ画像１９２０の分析を実行する、画像取り込みデバイス１９１６と通信するコンピュータ１９１８を更に含んでもよい。コンピュータ１９１８の一例は、図２０に示されるデータ処理システム２０００であってもよい。

［００１１８］更に別の例示的な実施形態では、Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステム１９００は、Ｘ線発生器１９２２を含んでもよい。しかしながら、Ｘ線発生器１９２２は、図１９に示される例示的な実施形態の動作に必要ではない。Ｘ線発生器１９２２は、画像取り込みデバイス１９１６と通信するコンピュータ１９１８と通信してもよい。この場合、コンピュータ１９１８は、画像取り込みデバイス１９１６によって撮られた可視光１９１４の画像１９２０の分析に基づいて、Ｘ線発生器１９２２の動作を修正してもよい。

［００１１９］更に別の例示的な実施形態では、物体１９０２は、様々な形態をとることができる。例えば、物体１９０２は、Ｘ線発生器１９２２の前方にありながらも、Ｘ線発生器１９２２の第１側面にある第１パネル１９２４であってもよい。第１パネル１９２４に加えて、又はその代わりに、物体１９０２は、Ｘ線発生器１９２２の前方にありながらも、第１側面の反対側のＸ線発生器１９２２の第２側面にある第２パネル１９２６を更に含んでもよい。第１パネル１９２４及び／又は第２パネル１９２６に加えて、又はその代わりに、物体１９０２は、Ｘ線発生器１９２２に対して、第１パネル１９２４の第１遠位端部において第１パネル１９２４に対して略垂直な第３パネル１９２８を更に含んでもよい。第１パネル１９２４、第２パネル１９２６、及び／又は第３パネル１９２８に加えて、又はその代わりに、物体１９０２は、Ｘ線発生器１９２２に対して、第２パネル１９２６の第２遠位端部において第２パネル１９２６に対して略垂直な第４パネル１９３０を更に含んでもよい。第１パネル１９２４、第２パネル１９２６、第３パネル１９２８、及び／又は第４パネル１９３０に加えて、又はその代わりに、物体１９０２は、Ｘ線発生器１９２２に対する対象領域１９０４の背後にある第５パネル１９３２を更に含んでもよい。

［００１２０］更なる変形例も可能である。したがって、例示的な実施形態は、図１９に示される例示的な実施形態に必ずしもに限定されない。したがって、図１９に示される例示的な実施形態は、特許請求される発明を必ずしも制限するものではない。

［００１２１］ここで図２０を参照すると、例示的な実施形態に従って、データ処理システムが例示されている。図２０のデータ処理システム２０００は、例示的な実施形態（例えば、図１６の方法１６００）、図１から図１３の蛍光の特性評価、或いは本明細書に開示される任意の他のモジュール又はシステム又はプロセスを実施するために使用されうるデータ処理システムの一例である。この例示的な実施例では、データ処理システム２０００は、通信ファブリック２００２を含み、これによりプロセッサユニット２００４、メモリ２００６、固定記憶域２００８、通信ユニット２０１０、入出力（Ｉ／Ｏ）ユニット２０１２、及びディスプレイ２０１４の間の通信が行われる。

［００１２２］プロセッサユニット２００４は、メモリ２００６に読み込まれうるソフトウェアに対する命令を実行するよう機能する。プロセッサユニット２００４は、特定の実行形態に応じて、幾つかのプロセッサ、マルチプロセッサコア、又は何らかの他の種類のプロセッサであってもよい。本明細書でアイテムに言及して「幾つかの」というとき、１つ又は複数のアイテムを意味する。更に、プロセッサユニット２００４は、単一チップ上でメインプロセッサが二次プロセッサと共存する幾つかの異種プロセッサシステムを使用して実装してもよい。別の例示的な実施例として、プロセッサユニット２００４は、同じ種類のプロセッサを複数個含む対称型マルチプロセッサシステムであってもよい。

［００１２３］メモリ２００６及び固定記憶域２００８は、記憶デバイス２０１６の一例である。記憶装置は、例えば限定しないが、データ、機能的な形態のプログラムコード、並びに／或いは一時的及び／又は永続的な他の適切な情報などの情報を格納できる任意のハードウェアである。これらの例では、記憶デバイス２０１６は、コンピュータで読込可能な記憶デバイスとされることもある。メモリ２００６は、これらの実施例では、例えば、ランダムアクセスメモリ、或いは、任意の他の適切な揮発性又は不揮発性の記憶デバイスであってもよい。固定記憶域２００８は、特定の実行形態に応じて様々な形態をとってもよい。

［００１２４］例えば、固定記憶域２００８は、１つ又は複数の構成要素又はデバイスを含んでもよい。例えば、固定記憶域２００８は、ハードドライブ、フラッシュメモリ、書換え型光学ディスク、書換え可能磁気テープ、又はそれらの何らかの組み合わせであってもよい。固定記憶域２００８によって使用される媒体も着脱可能であってもよい。例えば、着脱可能ハードドライブは、固定記憶域２００８用に使用してもよい。

［００１２５］通信ユニット２０１０は、これらの例では、他のデータ処理システム又はデバイスとの通信を提供する。これらの実施例では、通信ユニット２０１０は、ネットワークインターフェースカードである。通信ユニット２０１０は、物理的通信リンク及び無線通信リンクのいずれか一方又は両方を使用することによって、通信を提供することができる。

［００１２６］入／出力（Ｉ／Ｏ）ユニット２０１２により、データ処理システム２０００に接続可能な他のデバイスによるデータの入力及び出力が可能になる。例えば、入／出力（Ｉ／Ｏ）ユニット２０１２は、キーボード、マウス、及び／又は他の何らかの適切な入力デバイスによりユーザー入力のための接続を提供することができる。更に、入／出力（Ｉ／Ｏ）ユニット２０１２は、プリンタに出力を送信することができる。ディスプレイ２０１４は、ユーザーに対して情報を表示する機構を提供する。

［００１２７］オペレーティングシステム、アプリケーション、及び／又はプログラムに対する命令は、通信ファブリック２００２を介してプロセッサユニット２００４と通信している記憶デバイス２０１６内に位置してもよい。これらの例示的な実施例では、命令は、固定記憶域２００８上の機能形態である。これらの命令は、プロセッサユニット２００４で実行するためメモリ２００６に読み込むことができる。種々の実施形態のプロセスは、メモリ２００６などのメモリ内に配置されうるコンピュータ実装指令を使用して、プロセッサユニット２００４によって実行してもよい。

［００１２８］これらの指令は、プログラムコード、コンピュータ使用可能プログラムコード、又はコンピュータ可読プログラムコードと称され、プロセッサユニット２００４内のプロセッサによって読み取られ、実行されてもよい。種々の実施形態のプログラムコードは、メモリ２００６又は固定記憶域２００８といった種々の物理的な記憶媒体又はコンピュータ可読の記憶媒体上で具現化されうる。

［００１２９］プログラムコード２０１８は、選択的に着脱可能なコンピュータ可読媒体２０２０上に機能的な形態で配置され、或いはプロセッサユニット２００４による実行のためにデータ処理システム２０００に読込み又はデータ処理システム２０００に転送可能である。プログラムコード２０１８及びコンピュータ可読媒体２０２０は、このような実施例においてコンピュータプログラム製品２０２２を形成する。１つの実施例では、コンピュータ可読媒体２０２０は、コンピュータ可読記憶媒体１２２４又はコンピュータ可読信号媒体２０２６であってもよい。コンピュータ可読記憶媒体２０２４は、例えば、固定記憶域２００８の一部であるハードドライブなどの、記憶デバイス上に転送するための固定記憶域２００８の一部であるドライブ又は他のデバイスに挿入又は配置される光学ディスク又は磁気ディスクを含んでもよい。コンピュータ可読記憶媒体２０２４は、更に、データ処理システム２０００に接続された固定記憶域（例えば、ハードドライブ、サムドライブ、又はフラッシュメモリ）の形態であってもよい。幾つかの例では、コンピュータ可読記憶媒体２０２４は、データ処理システム２０００から着脱可能ではないことがある。

［００１３０］代替的に、プログラムコード２０１８は、コンピュータ可読信号媒体２０２６を用いてデータ処理システム２０００に転送することができる。コンピュータで読み取り可能な信号媒体２０２６は、例えば、プログラムコード２０１８を含む伝播データ信号であってもよい。例えば、コンピュータで読取可能な信号媒体２０２６は、電磁信号、光信号、及び／又は他の任意の適切な種類の信号であってもよい。これらの信号は、無線通信リンク、光ファイバケーブル、同軸ケーブル、有線などの通信リンク、及び／又は他の任意の適切な種類の通信リンクを介して送信されてもよい。すなわち、通信リンク及び／又は接続は、例示的な実施例では、物理的なもの又は無線によるものであってもよい。

［００１３１］幾つかの例示的な実施形態では、プログラムコード２０１８は、データ処理システム２０００内で使用するために、コンピュータ可読信号媒体２０２６により、別のデバイス又はデータ処理システムから固定記憶域２００８にネットワークを介してダウンロードされてもよい。例えば、サーバーデータ処理システム内のコンピュータ可読記憶媒体に保存されているプログラムコードは、ネットワークを介してサーバーからデータ処理システム２０００にダウンロードすることができる。プログラムコード２０１８を提供するデータ処理システムは、サーバーコンピュータ、クライアントコンピュータ、又はプログラムコード２０１８を保存及び転送することができる何らか他のデバイスであってもよい。

［００１３２］データ処理システム２０００に例示されている種々の構成要素は、種々の実施形態が実装可能な方法に対して構造的な制限を与えることを意図していない。種々の例示的な実施形態は、データ処理システム２０００に対して図解されている構成要素に対して追加的又は代替的な構成要素を含むデータ処理システム内に実装されてもよい。図２０に示した他の構成要素は、例示的な実施例と異なることがある。種々の実施形態は、プログラムコードを実行できる任意のハードウェアデバイス又はシステムを用いて実施してもよい。一実施例として、データ処理システムは、無機構成要素と一体化した有機構成要素を含んでもよく、及び／又は人間を除く有機構成要素で全体を構成してもよい。例えば、記憶デバイスは、有機半導体で構成されてもよい。

［００１３３］別の例示的な実施例では、プロセッサユニット２００４は、特定の用途のために製造又は構成される回路を有するハードウェアユニットの形態をとってもよい。この種類のハードウェアは、操作を実施するために構成される記憶デバイスからメモリに読込まれるプログラムコードを必要とせずに操作を実施することができる。

［００１３４］例えば、プロセッサユニット２００４がハードウェアユニットの形態をとる場合、プロセッサユニット２００４は、回路システム、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス、又は幾つかの操作を実行するように構成された他の何らか適切な種類のハードウェアであってもよい。プログラマバル論理デバイスにおいては、デバイスは任意の数の操作を実行するように構成される。デバイスは後で再構成されてもよく、又は任意の数の操作を実行するように恒久的に構成されてもよい。プログラマブル論理デバイスの例として、例えば、プログラマブル論理アレイ、プログラマブルアレイ論理、フィールドプログラマブル論理アレイ、フィールドプログラマブルゲートアレイ、及び他の適切なハードウェアデバイスが挙げられる。この種類の実装形態では、種々の実施形態のプロセスがハードウェアユニット内に実装されるため、プログラムコード２０１８は除いてもよい。

［００１３５］更に別の例示的な実施例では、プロセッサユニット２００４は、コンピュータ及びハードウェア装置の中に見られるプロセッサの組み合わせを使用して実装されてもよい。プロセッサユニット２００４は、プログラムコード２０１８を実行するように構成される幾つかのハードウェアユニット及び幾つかのプロセッサを有してもよい。図示された実施例の場合、幾つかのプロセスは任意の数のハードウェアユニットで実装されてもよいが、他のプロセスは任意の数のプロセッサで実装されてもよい。

［００１３６］別の実施例として、データ処理システム２０００内の記憶装置は、データを保存することができる任意のハードウェア装置である。メモリ２００６、固定記憶域２００８、及びコンピュータ可読媒体２０２０は、有形の形態の記憶装置の例である。

［００１３７］別の実施例では、バスシステムは、通信ファブリック２００２を実装するために使用されてもよく、システムバス又は入出力バスといった１つ又は複数のバスを含んでもよい。言うまでもなく、バスシステムは、バスシステムに取り付けられた種々の構成要素又はデバイスの間でのデータ伝送を提供する任意の適切な種類のアーキテクチャを使用して実装されてもよい。加えて、通信ユニットは、モデム又はネットワークアダプタといったデータの送受信に使用される１つ又は複数のデバイスを含んでもよい。更に、メモリは、例えば、通信ファブリック２００２に備わっている場合があるインターフェース及びメモリコントローラハブにみられるようなメモリ２００６又はキャッシュであってもよい。

［００１３８］データ処理システム２０００は、アソシエーティブメモリ２０２８を更に含んでもよい。アソシエーティブメモリ２０２８は、内容参照可能メモリと称されてもよい。アソシエーティブメモリ２０２８は、通信ファブリック２００２と通信することができる。アソシエーティブメモリ２０２８は、更に記憶デバイス２０１６と通信してもよく、又は幾つかの例示的な実施形態では、記憶デバイス２０１６の一部とみなしてもよい。図に示されているアソシエーティブメモリ２０２８は１つであるが、追加のアソシエーティブメモリも存在してもよい。アソシエーティブメモリ２０２８は、本明細書で説明される任意のコンピュータで実装される方法のために命令を実行するのに使用される非一時的コンピュータ可読記憶媒体であってもよい。

［００１３９］種々の例示的な実施形態は、全体がハードウェアからなる実施形態、全体がソフトウェアからなる実施形態、又はハードウェア要素とソフトウェア要素との両方を含む実施形態をとることができる。幾つかの実施形態は、例えば、ファームウェア、常駐ソフトウェア、及びマイクロコードなどの形態を含むがこれらに限定されないソフトウェアで実施される。

［００１４０］更に、種々の実施形態は、コンピュータプログラム製品の形態をとることができる。このコンピュータプログラム製品は、コンピュータで使用可能な媒体又はコンピュータで読み取り可能な媒体からアクセス可能である。この媒体は、命令を実行するコンピュータ或いは任意のデバイス又はシステムによって、使用されるプログラムコード又はそれらに接続されて使用されるプログラムコードを提供する。本開示の目的のために、コンピュータで使用可能な媒体或いはコンピュータで読み取り可能な媒体は、一般に、指示実行システム、装置、又はデバイスによって使用されるプログラム又はそれらに接続されて使用されるプログラムの収容、格納、通信、伝播、又は運搬を行うことができる任意の有形装置とすることができる。

［００１４１］コンピュータで使用可能な媒体又はコンピュータで読み取り可能な媒体は、例えば、限定しないが、電子システム、磁気システム、光学システム、電磁システム、赤外システム、又は半導体システム、或いは伝播媒体であることができる。コンピュータで読み取り可能な媒体の非限定的な例は、半導体又は固体記憶装置、磁気テープ、着脱式コンピュータディスケット、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、剛体磁気ディスク、及び光学ディスクを含む。光学ディスクには、コンパクトディスク−リードオンリーメモリ（ＣＤ−ＲＯＭ）、コンパクトディスク−リード／ライト（ＣＤ−Ｒ／Ｗ）、及びＤＶＤが含まれる。

［００１４２］更に、コンピュータで使用可能な媒体又はコンピュータで読み取り可能な媒体は、コンピュータで読み取り可能なプログラムコード又はコンピュータで使用可能なプログラムコードを収容又は格納してもよい。このコンピュータで読み取り可能プログラムコード又はコンピュータで使用可能なプログラムコードがコンピュータ上で実行されるとき、このコンピュータで読み取り可能なプログラムコード又はコンピュータで使用可能なプログラムコードの実行によって、コンピュータが、別のコンピュータで読み取り可能なプログラムコード又はコンピュータで使用可能なプログラムコードを通信リンクを介して伝送する。この通信リンクは、例えば、限定しないが、物理的媒体又は無線媒体を使用してもよい。

［００１４３］コンピュータ可読プログラムコード又はコンピュータ可用プログラムコードを格納及び／又は実行するのに適したデータ処理システムは、システムバスのような通信ファブリックによりメモリ要素に直接的に又は間接的に連結された１つ又は複数のプロセッサを含む。メモリ要素は、プログラムコードを実際に実行する中で使用されるローカルメモリ、大容量記憶装置、及びキャッシュメモリを含んでもよい。これらは、少なくとも幾つかのコンピュータで読み取り可能なプログラムコード又はコンピュータで使用可能なプログラムコードの一時的な保存域を提供し、コードの実行中に大容量記憶装置からコードが読み出されうる回数を低減する。

［００１４４］入／出力又はＩ／Ｏ装置は、直接的に、又はＩ／Ｏ制御装置を介して、システムに連結することができる。このようなデバイスには、例えば、限定されないが、キーボード、タッチスクリーンディスプレイ、及びポインティングデバイスが含まれてもよい。更に種々の通信アダプタもシステムに連結させてもよく、それにより、データ処理システムを、構内ネットワーク又は公衆ネットワークを介在させて、他のデータ処理システム、又は遠隔プリンタ、又は記憶装置に連結させることができる。モデム及びネットワークアダプタの非限定的な例は、現在利用可能な種類の通信アダプタのうちのごく一部に過ぎない。

［００１４５］種々の例示的な実施形態の記載は、例示及び説明を目的とするものであり、完全な説明であること、又は開示された形態の実施形態に限定されることを意図していない。当業者には、多数の修正例及び変形例が明らかになるであろう。更に、種々の例示的な実施形態は、他の例示的な実施形態と比べて種々の特徴を提供することができる。選択された１つ又は複数の実施形態は、実施形態の原理、実際の用途を最もよく説明するため、及び他の当業者に対し、様々な実施形態の開示内容と、考慮される特定の用途に適した様々な修正との理解を促すために選択及び記述されている。

１００ Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステム
１０２ Ｘ線発生器
１０４ Ｘ線
１０６ 対象領域
１０８ ターゲット
１１０ パネル
１１２ パネル
１１４ 指標ソリューションの層
１１６ Ｑドットソリューションの層
１１８ カメラ
２００ Ｘ線発生器
２０２ パネル
２０４ パネル
２０６ 矢印
３００ Ｘ線発生器
３０２ Ｘ線
３０４ ターゲット
３０６ 対象領域
３０８ パネル
３１０ パネル
３１２ カメラ
３１４ パネル
３１６ パネル
３１８ パネル
４００ Ｘ線発生器
４０２ 放出されたＸ線
４０４ シールド
４０６ シールド
４０８ 漏洩したＸ線
４１０ 漏洩したＸ線
４１２ コリメータ
４１４ 領域
４１６ パネル
４１８ パネル
４２０ カメラ
４２２ ターゲット
５００ Ｘ線モニター
５０２ ハウジング
５０４ ハンドル
５０６ スクリーン
５０８ 前方
６００ センサー領域
６０２ Ｘ線蛍光Ｑドット
７００ Ｘ線蛍光Ｑドット
７０２ エアゾール装置
７０４ 物体
８００ Ｘ線発生器
８０２ Ｘ線
８０４ ターゲット
８０６ 検出器
８０８ Ｘ線蛍光Ｑドット
８１０ カバー
９００ サイン
１０００ サイン
１００２ 放射能警告シンボル
１１００ リストバンド
１２００ リング
１３００ 粘着ストリップ
１４００ 後方散乱の表示及び検出のシステム
１４０８ Ｘ線
１４１２ Ｘ線
１４１６ 可視光
１５００ Ｘ線漏洩検出器
１５０６ Ｘ線
１５１０ Ｘ線
１５１６ 可視光
１５１８ Ｘ線
１５３０ 可視光
１５３２ Ｘ線
１５３２ 漏洩するＸ線
１５３６ 位置
１５３８ ケーブル
１６００ 方法
１６０２ オペレーション
１８００ Ｘ線モニター
１８０２ Ｘ線測定ツール
１８０８ Ｘ線束
１８１４ 可視光
１９００ 後方散乱の表示及び検出のシステム
１９０６ Ｘ線
１９０８ 後方散乱Ｘ線
１９１４ 可視光
２００２ 通信ファブリック

Claims (20)

1. Ｘ線後方散乱の表示及び検出のシステムであって、
   対象領域から後方散乱する後方散乱Ｘ線が物体の表面に当たるように、Ｘ線の対象とされる前記対象領域に対して配置される前記物体を含み、前記物体の前記表面は、後方散乱されたＸ線によって接触されたときに可視光で蛍光するＸ線感知指標物質を含む、システム。
2. 蛍光する前記Ｘ線感知指標物質が、Ｑドットソリューションである、請求項１に記載のＸ線後方散乱の表示及び検出のシステム。
3. 追加のＸ線感知指標物質を更に含む、請求項１に記載のＸ線後方散乱の表示及び検出のシステム。
4. 前記Ｘ線感知指標物質の蛍光から生じる可視光を検出するために前記物体に対して動作可能に配置される画像取り込みデバイス
   を更に含む、請求項１に記載のＸ線後方散乱の表示及び検出のシステム。
5. 前記可視光の画像を保存し、且つ前記画像の解析を実行する、前記画像取り込みデバイスと通信するコンピュータ
   を更に含む、請求項４に記載のＸ線後方散乱の表示及び検出のシステム。
6. Ｘ線発生器を更に含む、請求項１に記載のＸ線後方散乱の表示及び検出のシステム。
7. 前記Ｘ線発生器が、前記画像取り込みデバイスと通信するコンピュータと通信し、前記コンピュータが、前記画像取り込みデバイスによって撮られた前記可視光の前記画像の前記解析に基づいて、前記Ｘ線発生器の動作を修正する、請求項６に記載のＸ線後方散乱の表示及び検出器システム。
8. 前記物体が、
   前記Ｘ線発生器の前方にあるが、前記Ｘ線発生器の第１側面にある第１パネル、
   前記Ｘ線発生器の前方にあるが、前記第１側面の反対側の前記Ｘ線発生器の第２側面にある第２パネル、
   前記Ｘ線発生器に対して、前記第１パネルの第１遠位端部において前記第１パネルに対して略垂直な第３パネル、
   前記Ｘ線発生器に対して、前記第２パネルの第２遠位端部において前記第２パネルに対して略垂直な第４パネル、及び
   前記Ｘ線発生器に対する前記対象領域の背後にある第５パネル
   を含む、請求項１に記載のＸ線後方散乱の表示及び検出システム。
9. Ｘ線発生器、
   前記Ｘ線発生器によって発生されるＸ線が当たるように配置される対象領域、
   前記Ｘ線発生器の前方に配置され、前記対象領域から後方散乱されるＸ線を遮断するように構成されるシールド、
   前記対象領域に対して前記シールドの背後に配置される第１物体、及び
   前記第１物体上に配置され、Ｘ線が当たったときに可視光で蛍光するように構成されるＸ線感知Ｑドットソリューション
   を含む、Ｘ線漏洩検出器。
10. 前記Ｘ線感知Ｑドットソリューションの蛍光から生じる前記可視光を検出できるように、前記第１物体に対して動作可能に配置されるカメラ
    を更に含む、請求項９に記載のＸ線漏洩検出器。
11. 前記可視光の画像を保存し、且つ対象領域上のＸ線の存在を識別するために前記可視光を解析するコンピュータ
    を更に含む、請求項１０に記載のＸ線漏洩検出器。
12. 前記対象領域に対して前記シールドの背後に配置され、且つ前記Ｘ線発生器に対して前記第１物体の反対側に更に配置される第２物体、及び
    前記第２物体上に配置され、Ｘ線に当たったときに可視光で蛍光するように構成される第２Ｘ線感知Ｑドットソリューション
    を更に含む、請求項９に記載のＸ線漏洩検出器。
13. 前記第１物体が、前記Ｘ線発生器のコリメータから漏洩した第１Ｘ線を受けるように配置され、前記第２物体が、前記Ｘ線発生器からケーブルが出る位置から漏洩する第２Ｘ線を受けるように配置される、請求項１２に記載のＸ線漏洩検出器。
14. 蛍光を検出するために、Ｘ線が物体の表面の少なくとも一部の上に配置されるＸ線感知物質に当たったときに可視光を蛍光させる前記Ｘ線感知物質を有する前記物体を検査すること
    を含む、Ｘ線を検出する方法。
15. 前記物質がＱドットソリューションである、請求項１４に記載の方法。
16. 表面を備える物体と、
    前記物体の前記表面上に配置され、Ｘ線が当たったときに可視光で蛍光するように構成されるＸ線感知Ｑドットソリューションと
    を含む、アーティクル。
17. ハウジングと、前記ハウジング上にあり、且つＸ線束を受けるように構成されるセンサー対象領域と、前記ハウジングの内部に配置され、且つ前記Ｘ線束を測定するように構成されるＸ線検出器とを備えるＸ線測定ツール、及び
    前記センサー対象領域の上に配置され、Ｘ線が当たったときに可視光で蛍光するように構成されるＸ線感知Ｑドットソリューション
    を備える、Ｘ線モニター。
18. 前記Ｘ線感知Ｑドットソリューションが、前記センサー対象領域を更に越えて延在し、且つ前記センサー対象領域を囲む、請求項１７に記載のＸ線モニター。
19. 前記可視光をモニターするように配置されるカメラ、及び
    前記カメラに接続されるコンピュータであって、前記可視光の特性評価に基づいて、Ｘ線束の予想される量が前記センサー対象領域に入っているかどうかを判定するように構成される、コンピュータ
    を更に備える、請求項１８に記載のＸ線モニター。
20. 前記コンピュータに接続される機構であって、前記機構が、前記Ｘ線測定ツールの配向を調整するように構成され、前記コンピュータが、Ｘ線束の所望される量が前記センサー対象領域に入るように、前記特性評価に基づいて、前記配向を調整するために前記機構に命令するように更に構成される、機構
    を更に備える、請求項１９に記載のＸ線モニター。

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