JP2016017753A - 圧力センサ装置 - Google Patents
圧力センサ装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016017753A JP2016017753A JP2014138533A JP2014138533A JP2016017753A JP 2016017753 A JP2016017753 A JP 2016017753A JP 2014138533 A JP2014138533 A JP 2014138533A JP 2014138533 A JP2014138533 A JP 2014138533A JP 2016017753 A JP2016017753 A JP 2016017753A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- tft
- common electrode
- film transistor
- connection wiring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
Abstract
【課題】大面積化が容易で、信頼性の高い圧力センサ装置を提供する。【解決手段】薄膜トランジスタ基板20および第1接続配線基板31を有するタイリング薄膜トランジスタ基板40と、タイリング薄膜トランジスタ基板上に形成された感圧層とを有し、薄膜トランジスタ基板は、樹脂基板、その上に形成された薄膜トランジスタおよび共通電極を有し、薄膜トランジスタおよび共通電極に接続された第1薄膜トランジスタ端子部11および共通電極端子部13aは、交互に千鳥状に並列配置されており、感圧層は、薄膜トランジスタに形成されたドレイン電極と、共通電極と、を接続するように、共通電極上に形成されるものであり、タイリング薄膜トランジスタ基板は、薄膜トランジスタ基板の複数の第1薄膜トランジスタ端子部が、第1接続配線基板に形成された複数の第1接続配線部により接続されタイリングされている。【選択図】図1
Description
本発明は、大面積化が容易で、信頼性の高い圧力センサ装置に関するものである。
圧力センサ装置として、導電性粒子をシリコーンゴム等の絶縁樹脂内に分散させた感圧樹脂を使用したものが知られている。
感圧樹脂は、圧力を加えると絶縁樹脂内において導電性粒子同士が接触し、導電経路が形成されて抵抗値が低下する。このため、感圧樹脂を介して電極を接続した場合には、感圧樹脂に加えられた圧力に応じて電流量を変動させることができる。そして、この電流量の変動を検知することにより、感圧樹脂に加えられた圧力を検知できる。
また、電極としてマトリクス状に形成された薄膜トランジスタ(以下、単にTFTと称する場合がある。)を用いることにより、面内の圧力分布を検出することが試みられている。例えば、特許文献1〜5では、ゲート電極とゲート絶縁層を介して形成されたソース電極およびドレイン電極を有するTFTと、感圧樹脂と、共通電極と、がこの順で積層された圧力センサ装置が開示されている。
感圧樹脂は、圧力を加えると絶縁樹脂内において導電性粒子同士が接触し、導電経路が形成されて抵抗値が低下する。このため、感圧樹脂を介して電極を接続した場合には、感圧樹脂に加えられた圧力に応じて電流量を変動させることができる。そして、この電流量の変動を検知することにより、感圧樹脂に加えられた圧力を検知できる。
また、電極としてマトリクス状に形成された薄膜トランジスタ(以下、単にTFTと称する場合がある。)を用いることにより、面内の圧力分布を検出することが試みられている。例えば、特許文献1〜5では、ゲート電極とゲート絶縁層を介して形成されたソース電極およびドレイン電極を有するTFTと、感圧樹脂と、共通電極と、がこの順で積層された圧力センサ装置が開示されている。
ここで、大面積の圧力センサ装置に用いられるTFT基板としては、一枚の大面積のTFT基板を用いることが考えられる。しかしながら、検査、修正および歩留まり等の観点から、複数のTFT基板を用いる方法が有望視されている。
また、複数のTFT基板を用いる方法として、隣接するTFT基板に含まれる電極同士が接続されることでタイリングされたタイリングTFT基板を用いる方法が検討されている。
複数のTFT基板を単に組み合わせて用いる場合には、それぞれのTFT基板に対して駆動集積回路(以下、単に駆動ICと称する場合がある。)等が必要になるのに対して、タイリングTFT基板では、最外周のTFT基板のみに駆動IC等を設置することで、タイリングTFT基板全体を制御することができ、低コスト化、薄層化および軽量化等を図ることができるといった利点がある。また、圧力の印加による駆動IC等の破損の恐れの少ないものとすることができる。
また、複数のTFT基板を用いる方法として、隣接するTFT基板に含まれる電極同士が接続されることでタイリングされたタイリングTFT基板を用いる方法が検討されている。
複数のTFT基板を単に組み合わせて用いる場合には、それぞれのTFT基板に対して駆動集積回路(以下、単に駆動ICと称する場合がある。)等が必要になるのに対して、タイリングTFT基板では、最外周のTFT基板のみに駆動IC等を設置することで、タイリングTFT基板全体を制御することができ、低コスト化、薄層化および軽量化等を図ることができるといった利点がある。また、圧力の印加による駆動IC等の破損の恐れの少ないものとすることができる。
タイリング方法は、例えば、TFT基板の端部同士を折り曲げてTFT基板同士を直接接続する方法(特許文献6)が知られている。
しかしながら、このようなタイリング方法を用いた場合には、TFT基板のタイリング部に基板端部の折り曲げ部および基板同士の重なり箇所等に段差が生じる。このため、タイリング部において圧力の検知ムラが生じる可能性がある。また、圧力が印加された際に、タイリング部において配線の破断が生じる可能性があるといった不具合がある。
しかしながら、このようなタイリング方法を用いた場合には、TFT基板のタイリング部に基板端部の折り曲げ部および基板同士の重なり箇所等に段差が生じる。このため、タイリング部において圧力の検知ムラが生じる可能性がある。また、圧力が印加された際に、タイリング部において配線の破断が生じる可能性があるといった不具合がある。
また、他のタイリング方法は、隣接するTFT基板のTFTが形成された面同士を対向するように配置した上で、TFT基板同士を直接接続する方法(特許文献7等)が知られている。
しかしながら、タイリングされた隣接するTFT基板のTFTの形成方向が異なることにより、タイリングされた隣接するTFT基板上で検知される圧力が異なるものとなる可能性がある。また、TFTに対して形成される共通電極の配置が複雑になるといった問題がある。
しかしながら、タイリングされた隣接するTFT基板のTFTの形成方向が異なることにより、タイリングされた隣接するTFT基板上で検知される圧力が異なるものとなる可能性がある。また、TFTに対して形成される共通電極の配置が複雑になるといった問題がある。
これらの問題に対して、隣接するTFT基板をフレキシブルプリント配線基板等の接続配線基板を用いて接続する方法がある。
このような方法であれば、隣接するTFT基板同士の重なりによる段差部の形成を不要とすることができる。また、隣接するTFT基板に形成されたTFTの形成方向を同一方向とすることが容易である。
このような方法であれば、隣接するTFT基板同士の重なりによる段差部の形成を不要とすることができる。また、隣接するTFT基板に形成されたTFTの形成方向を同一方向とすることが容易である。
しかしながら、圧力センサ装置が、TFTと、共通電極と、感圧樹脂と、がこの順で積層された構造を有する場合、共通電極がゲート電極またはドレイン電極と同一平面上に形成されることがある。この場合、共通電極に接続される共通電極端子部が、ゲート電極に接続されるゲート電極端子部またはソース電極に接続されるソース電極端子部と交互に配置されることになる。そして、共通電極端子部と、これと交互に配置されたゲート電極端子部またはソース電極端子部との間のピッチが狭いことにより、隣接するTFT基板に形成されたゲート電極端子部同士またはソース電極端子部同士を接続する際に、これらの端子部と共通電極端子部との間で短絡を生じる恐れがある。また、その結果、圧力センサ装置の信頼性が低いものとなるといった不具合がある。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、大面積化が容易で、信頼性の高い圧力センサ装置を提供することを主目的とする。
上記課題を解決するために、本発明は、薄膜トランジスタ基板および第1接続配線基板を有するタイリング薄膜トランジスタ基板と、上記タイリング薄膜トランジスタ基板上に形成された感圧層と、を有する圧力センサ装置であって、上記薄膜トランジスタ基板は、樹脂基板、上記樹脂基板上に形成された薄膜トランジスタおよび上記樹脂基板の上記薄膜トランジスタが形成された側の表面上に形成された共通電極を有し、上記薄膜トランジスタおよび上記共通電極に接続された第1薄膜トランジスタ端子部および共通電極端子部は、交互に千鳥状に並列配置されており、上記感圧層は、上記薄膜トランジスタに形成されたドレイン電極と、上記共通電極と、を接続するように、上記共通電極上に形成されるものであり、上記タイリング薄膜トランジスタ基板は、上記薄膜トランジスタ基板の複数の上記第1薄膜トランジスタ端子部が、上記第1接続配線基板に形成された複数の第1接続配線部により接続されタイリングされていることを特徴とする圧力センサ装置を提供する。
本発明によれば、TFT基板に配置される共通電極端子部およびこれと交互に並列配置される第1TFT端子部が、千鳥状に並列配置されるものであることにより、第1TFT端子部が安定的に接続されたタイリングTFT基板を有するものとすることができる。
このため、圧力センサ装置を、大面積化が容易であり、信頼性の高いものとすることができる。
このため、圧力センサ装置を、大面積化が容易であり、信頼性の高いものとすることができる。
本発明においては、上記樹脂基板が加圧側基板として用いられることが好ましい。第1TFT端子部や共通電極端子部等の端子部が配置される樹脂基板が加圧側基板として用いられることにより、端子部と第1接続配線基板等の配線基板に含まれる接続配線部との貼合部および端子部に接続される駆動集積回路(以下、単に駆動ICと称する場合がある。)等の回路部の損傷の少ないものとすることができる。このため、圧力センサ装置を、信頼性の高いものとすることができるからである。
本発明は、大面積化が容易で、信頼性の高い圧力センサ装置を提供できるといった作用効果を奏する。
本発明は、圧力センサ装置に関するものである。
本発明の圧力センサ装置は、薄膜トランジスタ基板および第1接続配線基板を有するタイリング薄膜トランジスタ基板と、上記タイリング薄膜トランジスタ基板上に形成された感圧層と、を有する圧力センサ装置であって、上記薄膜トランジスタ基板は、樹脂基板、上記樹脂基板上に形成された薄膜トランジスタおよび上記樹脂基板の上記薄膜トランジスタが形成された側の表面上に形成された共通電極を有し、上記薄膜トランジスタおよび上記共通電極に接続された第1薄膜トランジスタ端子部および共通電極端子部は、交互に千鳥状に並列配置されており、上記感圧層は、上記薄膜トランジスタに形成されたドレイン電極と、上記共通電極と、を接続するように、上記共通電極上に形成されるものであり、上記タイリング薄膜トランジスタ基板は、上記薄膜トランジスタ基板の複数の上記第1薄膜トランジスタ端子部が、上記第1接続配線基板に形成された複数の第1接続配線部により接続されタイリングされていることを特徴とするものである。
このような本発明の圧力センサ装置について図を参照して説明する。図1は、本発明の圧力センサ装置の一例を示す概略平面図である。図2は、図1のA−A線断面図である。図3は、図1中のTFT基板の第1TFT端子部周辺を示す概略平面図である。図4は、図3のB−B線断面図である。また、図5(a)は、タイリングTFT基板における第1接続配線基板によるタイリング部周辺を示す概略平面図であり、図5(b)および(c)は、図5(a)のC−C線断面図およびD−D線断面図である。
図1〜図5に例示するように、本発明の圧力センサ装置50は、TFT基板20および第1接続配線基板31を有するタイリングTFT基板40と、上記タイリングTFT基板40上に形成された感圧層21と、を有し、上記TFT基板20は、樹脂基板1、上記樹脂基板1上に形成されたTFT10および上記樹脂基板1の上記TFT10が形成された側の表面上に形成された共通電極13を有し、上記TFT10および上記共通電極13にそれぞれ接続された第1TFT端子部11および共通電極端子部13aが、交互に千鳥状に並列配置されており、上記感圧層21は、上記TFT10に形成されたドレイン電極4と上記共通電極13とを接続するように、上記共通電極13上に形成されるものであり、上記タイリングTFT基板40は、上記TFT基板20の複数の上記第1TFT端子部11が、上記第1接続配線基板31に形成された複数の第1接続配線部31bにより接続されタイリングされているものである。
なお、図1、図3および図5においては、説明の容易のため、保護層および感圧層の記載を省略するものである。
図1〜図5に例示するように、本発明の圧力センサ装置50は、TFT基板20および第1接続配線基板31を有するタイリングTFT基板40と、上記タイリングTFT基板40上に形成された感圧層21と、を有し、上記TFT基板20は、樹脂基板1、上記樹脂基板1上に形成されたTFT10および上記樹脂基板1の上記TFT10が形成された側の表面上に形成された共通電極13を有し、上記TFT10および上記共通電極13にそれぞれ接続された第1TFT端子部11および共通電極端子部13aが、交互に千鳥状に並列配置されており、上記感圧層21は、上記TFT10に形成されたドレイン電極4と上記共通電極13とを接続するように、上記共通電極13上に形成されるものであり、上記タイリングTFT基板40は、上記TFT基板20の複数の上記第1TFT端子部11が、上記第1接続配線基板31に形成された複数の第1接続配線部31bにより接続されタイリングされているものである。
なお、図1、図3および図5においては、説明の容易のため、保護層および感圧層の記載を省略するものである。
この例においては、第1TFT端子部11は、TFT10に形成されたソース電極3に接続されたソース電極端子部3aである。また、第1TFT端子部11および共通電極端子部13aは、交互に千鳥状に並列配置されており、第1TFT端子部11は、共通電極端子部13aよりもTFT基板20の内部側に配置されるものである。また、第1接続配線基板31は、第1基板31aおよび第1基板31a上に形成された第1接続配線部31bを有するものである。なお、第1基板31aは、図1および図5(a)中においては一点鎖線で示されるものである。
上記共通電極端子部13aは、隣接するTFT基板20に対向配置された複数の共通電極端子部13aの全てと重なるように形成された第2接続配線部32bを有する第2接続配線基板32により接続されるものである。また、第2接続配線基板32は第2基板32aおよび第2基板32a上に形成された第2接続配線部32bを有するものである。なお、第2基板32aは、図1および図5(a)中においては二点鎖線で示されるものである。
TFT基板20、第2接続配線基板32および第1接続配線基板31は、この順で積層されるものである。また、TFT基板20の第1TFT端子部11より端部側に配置された共通電極端子部13aは、上記第2接続配線基板32により接続され、第1TFT端子部11は、第2接続配線基板32とは別個の第1接続配線基板31により接続されるものである。
TFT基板20は、TFT10に形成されたゲート電極2に接続されたゲート電極端子部2aを第2TFT端子部12として有するものである。
TFT基板20の複数の上記第2TFT端子部12は、第4接続配線基板34に形成された複数の第4接続配線部34bにより、接続されるものである。また、第2TFT端子部12は、隣接するTFT基板20に対向配置された第2TFT端子部12同士が1対1で接続されるものである。また、第4接続配線基板34は、第4基板34aおよび第4基板34a上に形成された複数の第4接続配線部34bを有するものである。なお、第4基板34aは、図1中においては点線で示されるものである。
上記共通電極端子部13aは、隣接するTFT基板20に対向配置された複数の共通電極端子部13aの全てと重なるように形成された第2接続配線部32bを有する第2接続配線基板32により接続されるものである。また、第2接続配線基板32は第2基板32aおよび第2基板32a上に形成された第2接続配線部32bを有するものである。なお、第2基板32aは、図1および図5(a)中においては二点鎖線で示されるものである。
TFT基板20、第2接続配線基板32および第1接続配線基板31は、この順で積層されるものである。また、TFT基板20の第1TFT端子部11より端部側に配置された共通電極端子部13aは、上記第2接続配線基板32により接続され、第1TFT端子部11は、第2接続配線基板32とは別個の第1接続配線基板31により接続されるものである。
TFT基板20は、TFT10に形成されたゲート電極2に接続されたゲート電極端子部2aを第2TFT端子部12として有するものである。
TFT基板20の複数の上記第2TFT端子部12は、第4接続配線基板34に形成された複数の第4接続配線部34bにより、接続されるものである。また、第2TFT端子部12は、隣接するTFT基板20に対向配置された第2TFT端子部12同士が1対1で接続されるものである。また、第4接続配線基板34は、第4基板34aおよび第4基板34a上に形成された複数の第4接続配線部34bを有するものである。なお、第4基板34aは、図1中においては点線で示されるものである。
また、この例においては、TFT10は、ボトムゲート型であり、オーバーコート層5、ゲート電極2、ゲート絶縁層6、ソース電極3およびドレイン電極4、半導体層8、ならびにパッシベーション層7がこの順で積層する構造を有するものである。
さらに、本発明の圧力センサ装置50は、感圧層21の圧力印加側の表面上に形成された保護層24を有するものである。また、圧力センサ装置50は、感圧層21の圧力印加側の表面上に形成された加圧側基板23と、感圧層21の圧力印加側とは反対側の表面上に形成された設置側基板22と、を有するものである。また、この例においては、上記樹脂基板1は、設置側基板22として用いられるものであり、上記保護層24は、加圧側基板23として用いられるものである。
さらに、本発明の圧力センサ装置50は、感圧層21の圧力印加側の表面上に形成された保護層24を有するものである。また、圧力センサ装置50は、感圧層21の圧力印加側の表面上に形成された加圧側基板23と、感圧層21の圧力印加側とは反対側の表面上に形成された設置側基板22と、を有するものである。また、この例においては、上記樹脂基板1は、設置側基板22として用いられるものであり、上記保護層24は、加圧側基板23として用いられるものである。
本発明によれば、TFT基板に配置される共通電極端子部およびこれと交互に並列配置される第1TFT端子部が、千鳥状に並列配置されるものであることにより、第1TFT端子部と第1接続配線基板の第1接続配線部とを接続した際に、第1TFT端子部および共通電極端子部の間での短絡の発生を抑制することができる。したがって、第1TFT端子部が安定的に接続されたタイリングTFT基板を有するものとすることができる。
また、第1TFT端子部および第1接続配線基板の第1接続配線部の位置合わせの容易なものとすることができる。したがって、タイリングTFT基板を形成の容易なものとすることができる。
このようなことから、圧力センサ装置を、大面積化が容易であり、信頼性の高いものとすることができる。
また、第1TFT端子部および第1接続配線基板の第1接続配線部の位置合わせの容易なものとすることができる。したがって、タイリングTFT基板を形成の容易なものとすることができる。
このようなことから、圧力センサ装置を、大面積化が容易であり、信頼性の高いものとすることができる。
本発明の圧力センサ装置は、タイリングTFT基板および感圧層を有するものである。
以下、本発明の圧力センサ装置の各構成について詳細に説明する。
以下、本発明の圧力センサ装置の各構成について詳細に説明する。
1.タイリング薄膜トランジスタ基板
本発明におけるタイリングTFT基板は、TFT基板および隣接する上記TFT基板を接続する第1接続配線基板を有するものである。
本発明におけるタイリングTFT基板は、TFT基板および隣接する上記TFT基板を接続する第1接続配線基板を有するものである。
(1)薄膜トランジスタ基板
本発明におけるTFT基板は、樹脂基板、TFT、共通電極および端子部を有するものである。
本発明におけるTFT基板は、樹脂基板、TFT、共通電極および端子部を有するものである。
(a)薄膜トランジスタ
本発明におけるTFTは、上記樹脂基板上に形成されるものである。
このようなTFTは、一般的に用いられるものと同様とすることができ、例えば、ゲート電極、ゲート絶縁層、上記ゲート電極と上記ゲート絶縁層を介して形成されたソース電極およびドレイン電極、ならびに上記ソース電極およびドレイン電極間に形成された半導体層を有するものとすることができる。
本発明におけるTFTは、上記樹脂基板上に形成されるものである。
このようなTFTは、一般的に用いられるものと同様とすることができ、例えば、ゲート電極、ゲート絶縁層、上記ゲート電極と上記ゲート絶縁層を介して形成されたソース電極およびドレイン電極、ならびに上記ソース電極およびドレイン電極間に形成された半導体層を有するものとすることができる。
上記TFTの構造は、上記樹脂基板上に形成されたゲート電極、上記ゲート電極上に形成された上記ゲート絶縁層、上記ゲート絶縁層上に形成された上記ソース電極および上記ドレイン電極を有するボトムゲート型であっても良く、上記基板上に形成された上記ソース電極および上記ドレイン電極、上記ソース電極および上記ドレイン電極上に形成された上記ゲート絶縁層、および上記ゲート絶縁層上に形成された上記ゲート電極を有するトップゲート型であっても良い。
本発明においては、なかでも、ボトムゲート構造であることが好ましい。TFTがボトムゲート型であることにより、TFTに含まれるゲート電極の形成後に感圧層を形成することができる。このため、ゲート電極をパターン状に形成するためのエッチング処理時の薬液等に、感圧層が触れることのないものとすることができ、感圧層の劣化の少ないものとすることができるからである。
既に説明した図4、および図6は、上記TFT10がボトムゲート型であり、図4では、共通電極13が上記ゲート絶縁層6上に形成された上記ソース電極3および上記ドレイン電極4と同一平面上に形成されている例を示すものであり、図5では、共通電極13が上記オーバーコート層5上に形成された上記ゲート電極2と同一平面上に形成されている例を示すものである。
図7および図8は、上記TFT10がトップゲート型であり、図7では共通電極13が上記オーバーコート層5上に形成された上記ソース電極3および上記ドレイン電極4と同一平面上に形成されている例を示すものであり、図8では、共通電極13が上記ゲート絶縁層6上に形成された上記ゲート電極2と同一平面上に形成されている例を示すものである。
なお、図6〜図8中の符号については、図4と同一の部材を示すものであるので、ここでの説明は省略する。
本発明においては、なかでも、ボトムゲート構造であることが好ましい。TFTがボトムゲート型であることにより、TFTに含まれるゲート電極の形成後に感圧層を形成することができる。このため、ゲート電極をパターン状に形成するためのエッチング処理時の薬液等に、感圧層が触れることのないものとすることができ、感圧層の劣化の少ないものとすることができるからである。
既に説明した図4、および図6は、上記TFT10がボトムゲート型であり、図4では、共通電極13が上記ゲート絶縁層6上に形成された上記ソース電極3および上記ドレイン電極4と同一平面上に形成されている例を示すものであり、図5では、共通電極13が上記オーバーコート層5上に形成された上記ゲート電極2と同一平面上に形成されている例を示すものである。
図7および図8は、上記TFT10がトップゲート型であり、図7では共通電極13が上記オーバーコート層5上に形成された上記ソース電極3および上記ドレイン電極4と同一平面上に形成されている例を示すものであり、図8では、共通電極13が上記ゲート絶縁層6上に形成された上記ゲート電極2と同一平面上に形成されている例を示すものである。
なお、図6〜図8中の符号については、図4と同一の部材を示すものであるので、ここでの説明は省略する。
(i)ゲート電極、ソース電極およびドレイン電極
本発明におけるゲート電極とソース電極およびドレイン電極とは、ゲート絶縁層を介して形成されるものである。
本発明におけるゲート電極とソース電極およびドレイン電極とは、ゲート絶縁層を介して形成されるものである。
このようなゲート電極、ソース電極およびドレイン電極(以下、これらの各電極を単に電極と称する場合がある。)を構成する材料は、所望の導電性を備えるものであれば特に限定されるものではなく、一般的にTFTに用いられる導電性材料を用いることができる。このような導電性材料は、Ta、Ti、Al、Zr、Cr、Nb、Hf、Mo、Au、Ag、Ag合金、Cu、Cu合金、Al合金、Pt、Mo−Ta合金、W−Mo合金、ITO、IZO等の無機材料、および、PEDOT/PSS等の導電性を有する有機材料を挙げることができる。
なお、上記電極はそれぞれ異なる材料からなるものであっても良く、全てが同一材料からなるものであっても良いが、通常、ソース電極およびドレイン電極は同一材料を用いて形成されるものである。
なお、上記電極はそれぞれ異なる材料からなるものであっても良く、全てが同一材料からなるものであっても良いが、通常、ソース電極およびドレイン電極は同一材料を用いて形成されるものである。
本発明における電極の厚みは、所望の電極特性を備える電極とすることができれば特に限定されないが、それぞれ、50nm〜500nmの範囲内であることが好ましい。上記厚みが上述の範囲内であることにより、上記電極を所望の電極特性を有するものとすることができるからである。
上記電極の幅は、所望の電極特性を備える電極とすることができれば特に限定されなく、本発明の圧力センサ装置の用途等に応じて適宜設定されるものである。
上記電極の形成方法は、所望の電極特性、パターン形状、および厚みを有するように電極を形成することが可能な方法であれば特に限定されず、一般的な電極の形成方法と同様とすることができる。
上記形成方法は、具体的には、金属マスクを用いて、蒸着法、スパッタ法等を用いて直接パターン状に形成する方法、蒸着法、スパッタ法等を用いて導電材料膜を形成し、導電材料膜上に感光性樹脂層をフォトリソグラフィー法を用いてパターニングした後、エッチングすることによりパターン状に形成する方法、および印刷法を用いる方法等を挙げることができる。
上記形成方法は、具体的には、金属マスクを用いて、蒸着法、スパッタ法等を用いて直接パターン状に形成する方法、蒸着法、スパッタ法等を用いて導電材料膜を形成し、導電材料膜上に感光性樹脂層をフォトリソグラフィー法を用いてパターニングした後、エッチングすることによりパターン状に形成する方法、および印刷法を用いる方法等を挙げることができる。
(ii)半導体層
本発明における半導体層は、上記ソース電極および上記ドレイン電極間に形成されるものである。また、ゲート電極とゲート絶縁層を介して形成されるものである。
本発明における半導体層は、上記ソース電極および上記ドレイン電極間に形成されるものである。また、ゲート電極とゲート絶縁層を介して形成されるものである。
このような半導体層を構成する材料は、所望のスイッチング特性を示すものであれば特に限定されるものではなく、例えば、シリコン、酸化物半導体、有機半導体を用いることができる。
本発明においては、なかでも、有機半導体であること、すなわち、上記半導体層が有機半導体層であることが好ましい。半導体層を印加される圧力による破損の少ないものとすることができ、圧力センサ装置を、信頼性の高いものとすることができるからである。
本発明においては、なかでも、有機半導体であること、すなわち、上記半導体層が有機半導体層であることが好ましい。半導体層を印加される圧力による破損の少ないものとすることができ、圧力センサ装置を、信頼性の高いものとすることができるからである。
有機半導体は、例えば、π電子共役系の芳香族化合物、鎖式化合物、有機顔料、有機ケイ素化合物等を挙げることができる。上記有機半導体は、より具体的には、ペンタセン、テトラセン、チオフェンオリゴマ誘導体、フェニレン誘導体、フタロシアニン化合物、ポリアセチレン誘導体、ポリチオフェン誘導体、シアニン色素等が挙げられる。
シリコンは、ポリシリコン、アモルファスシリコンを用いることができる。
酸化物半導体は、例えば、酸化亜鉛(ZnO)、酸化チタン(TiO)、酸化マグネシウム亜鉛(MgxZn1−xO)、酸化カドミウム亜鉛(CdxZn1−xO)、酸化カドミウム(CdO)、酸化インジウム(In2O3)、酸化ガリウム(Ga2O3)、酸化スズ(SnO2)、酸化マグネシウム(MgO)、酸化タングステン(WO)、InGaZnO系、InGaSnO系、InGaZnMgO系、InAlZnO系、InFeZnO系、InGaO系、ZnGaO系、InZnO系を用いることができる。
シリコンは、ポリシリコン、アモルファスシリコンを用いることができる。
酸化物半導体は、例えば、酸化亜鉛(ZnO)、酸化チタン(TiO)、酸化マグネシウム亜鉛(MgxZn1−xO)、酸化カドミウム亜鉛(CdxZn1−xO)、酸化カドミウム(CdO)、酸化インジウム(In2O3)、酸化ガリウム(Ga2O3)、酸化スズ(SnO2)、酸化マグネシウム(MgO)、酸化タングステン(WO)、InGaZnO系、InGaSnO系、InGaZnMgO系、InAlZnO系、InFeZnO系、InGaO系、ZnGaO系、InZnO系を用いることができる。
上記半導体層の厚みは、所望のスイッチング特性を示すことができるものであれば特に限定されるものではなく、半導体層を構成する材料の種類等に応じて異なるものであるが、例えば、上記半導体層が有機半導体層である場合には、1nm〜1000nmの範囲内とすることができる。
なお、半導体層の厚みとは、半導体層の基板側表面から半導体層の圧力が印加される側の表面、すなわち、上記半導体層の基板とは反対側の表面までの距離のうち最大の距離をいうものである。
なお、半導体層の厚みとは、半導体層の基板側表面から半導体層の圧力が印加される側の表面、すなわち、上記半導体層の基板とは反対側の表面までの距離のうち最大の距離をいうものである。
上記半導体層の形成方法は、一般的な半導体層の形成方法と同様とすることができ、半導体層を構成する材料の種類等に応じて異なるものであるが、例えば、上記半導体層が有機半導体層である場合には、インクジェット印刷法、グラビア印刷法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法等の種々の印刷法を挙げることができる。
(iii)ゲート絶縁層
本発明におけるゲート絶縁層は、上記ゲート電極と、上記ソース電極および上記ドレイン電極との間に形成されるものである。
本発明におけるゲート絶縁層は、上記ゲート電極と、上記ソース電極および上記ドレイン電極との間に形成されるものである。
このようなゲート絶縁層を構成する材料は、所望の絶縁性を有するものであれば特に限定されるものではなく、一般的な半導体層の形成方法と同様とすることができる。
上記材料は、具体的には、酸化ケイ素、窒化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化タンタル、チタン酸バリウムストロンチウム(BST)、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)等の絶縁性無機材料、および、アクリル系樹脂、フェノール系樹脂、フッ素系樹脂、エポキシ系樹脂、カルド系樹脂、ビニル系樹脂、イミド系樹脂、ノボラック系樹脂等の絶縁性有機材料を用いることができる。
本発明においては、なかでも絶縁性有機材料を好ましく用いることができる。圧力センサ装置を、印加される圧力による破損の少ないものとすることができ、信頼性の高いものとすることができるからである。
上記材料は、具体的には、酸化ケイ素、窒化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化タンタル、チタン酸バリウムストロンチウム(BST)、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)等の絶縁性無機材料、および、アクリル系樹脂、フェノール系樹脂、フッ素系樹脂、エポキシ系樹脂、カルド系樹脂、ビニル系樹脂、イミド系樹脂、ノボラック系樹脂等の絶縁性有機材料を用いることができる。
本発明においては、なかでも絶縁性有機材料を好ましく用いることができる。圧力センサ装置を、印加される圧力による破損の少ないものとすることができ、信頼性の高いものとすることができるからである。
上記ゲート絶縁層の厚みは、上記ゲート電極と、上記ソース電極等との間を安定的に絶縁することができるものであれば良く、一般的なTFTと同様とすることができる。
(iv)その他の構成
本発明におけるTFTは、ゲート電極、ゲート絶縁層、ソース電極、ドレイン電極および半導体層を有するものとすることができるが、必要に応じて他の構成を有するものであっても良い。
このような他の構成は、半導体層を覆うように形成され、空気中に存在する水分および酸素等の作用による上記半導体層の劣化を防止するパッシベーション層、および樹脂基板上に形成され、電極が形成される樹脂基板表面を平坦面とするオーバーコート層等を挙げることができる。
本発明におけるTFTは、ゲート電極、ゲート絶縁層、ソース電極、ドレイン電極および半導体層を有するものとすることができるが、必要に応じて他の構成を有するものであっても良い。
このような他の構成は、半導体層を覆うように形成され、空気中に存在する水分および酸素等の作用による上記半導体層の劣化を防止するパッシベーション層、および樹脂基板上に形成され、電極が形成される樹脂基板表面を平坦面とするオーバーコート層等を挙げることができる。
a.パッシベーション層
上記パッシベーション層を構成する材料は、空気中の水分および酸素等を透過しにくく、上記半導体層の劣化を所望の程度に防止できるものであれば特に限定されるものではない。
このような材料は、例えば、上記「(iii)ゲート絶縁層」の項に記載の絶縁性有機材料を用いることができる。
上記パッシベーション層を構成する材料は、空気中の水分および酸素等を透過しにくく、上記半導体層の劣化を所望の程度に防止できるものであれば特に限定されるものではない。
このような材料は、例えば、上記「(iii)ゲート絶縁層」の項に記載の絶縁性有機材料を用いることができる。
上記パッシベーション層は遮光性を有していることが好ましい。半導体層への光の入射による誤作動を抑制でき、TFTのスイッチ特性に優れたものとすることができるからである。
上記パッシベーションの厚みは、パッシベーション層を構成する材料等に依存して決定されるものであるが、通常、0.1μm〜100μmの範囲内とすることができる。
b.オーバーコート層
上記オーバーコート層は樹脂基板上に平坦面を形成するものである。
このようなオーバーコート層を構成する材料は、所望の平坦面を形成できるものであれば特に限定されるものではないが、例えば、上記「(iii)ゲート絶縁層」の項に記載の絶縁性有機材料を用いることができる。
上記オーバーコート層は樹脂基板上に平坦面を形成するものである。
このようなオーバーコート層を構成する材料は、所望の平坦面を形成できるものであれば特に限定されるものではないが、例えば、上記「(iii)ゲート絶縁層」の項に記載の絶縁性有機材料を用いることができる。
上記オーバーコート層の厚みは、樹脂基板表面の段差を平坦化することが可能な厚みであればよく、0.5μm〜100μmの範囲内とすることができる。
上記オーバーコート層の形成方法は、上述した材料を含むオーバーコート層形成用塗工液を、スピンコート、ロールコート、キャストコート等の方法で塗布して成膜し、上記材料が光硬化型樹脂の場合は紫外線照射後に必要に応じて光硬化させ、熱硬化型樹脂の場合は成膜後そのまま熱硬化させる方法を挙げることができる。
上記オーバーコート層の形成方法は、上述した材料を含むオーバーコート層形成用塗工液を、スピンコート、ロールコート、キャストコート等の方法で塗布して成膜し、上記材料が光硬化型樹脂の場合は紫外線照射後に必要に応じて光硬化させ、熱硬化型樹脂の場合は成膜後そのまま熱硬化させる方法を挙げることができる。
(v)薄膜トランジスタ
本発明におけるTFTは、上記樹脂基板上に複数形成されるものである。
上記TFTの樹脂基板上の配置は、本発明の圧力センサ装置の用途等に応じて適宜設定されるものであるが、通常、マトリクス状とすることができる。
ここで、マトリクス状とは、行列状に二次元配列されている状態をいうものである。
本発明におけるTFTは、上記樹脂基板上に複数形成されるものである。
上記TFTの樹脂基板上の配置は、本発明の圧力センサ装置の用途等に応じて適宜設定されるものであるが、通常、マトリクス状とすることができる。
ここで、マトリクス状とは、行列状に二次元配列されている状態をいうものである。
(b)共通電極
本発明における共通電極は、上記樹脂基板の上記TFTが形成された側の表面上に形成されるものである。すなわち、TFTおよび共通電極が樹脂基板の同一平面側に形成されるものである。
また、感圧層は、共通電極上に形成されるものである。
本発明における共通電極は、上記樹脂基板の上記TFTが形成された側の表面上に形成されるものである。すなわち、TFTおよび共通電極が樹脂基板の同一平面側に形成されるものである。
また、感圧層は、共通電極上に形成されるものである。
なお、感圧層が共通電極上に形成されるとは、上記共通電極の樹脂基板側表面が、上記感圧層の樹脂基板とは反対側の表面よりも樹脂基板側に位置していることをいうものである。
このような共通電極の形成箇所は、上記感圧層を介して上記ドレイン電極に接続可能なものであれば特に限定されるものではないが、既に説明した図4および図7に示すように、ドレイン電極と同一平面上に形成されたもの、または、既に説明した図6および図8に示すようにゲート電極と同一平面上に形成されたものであることが好ましい。共通電極をTFTに含まれるドレイン電極等の電極と同時形成することが可能となる。このため、ドレイン電極等の電極を形成する工程とは別に共通電極を形成する工程が不要となり、圧力センサ装置を形成容易なものとすることができるからである。また、共通電極をゲート電極またはドレイン電極と同一平面上に形成するため、半導体層を覆うパッシベーション層およびドレイン電極が形成される樹脂基板等に、感圧層およびドレイン電極間の接続のための貫通孔を形成する工程が不要となり、圧力センサ装置を、形成容易なものとすることができるからである。
本発明においては、なかでも、共通電極がドレイン電極と同一平面上に形成されたものであることが好ましい。共通電極がドレイン電極と同一平面上に形成されていることにより、感圧層およびドレイン電極間の接続のためのゲート絶縁層のパターニングを行うことなく、感圧層をドレイン電極および共通電極を接続するように配置することができるからである。
このような共通電極の形成箇所は、上記感圧層を介して上記ドレイン電極に接続可能なものであれば特に限定されるものではないが、既に説明した図4および図7に示すように、ドレイン電極と同一平面上に形成されたもの、または、既に説明した図6および図8に示すようにゲート電極と同一平面上に形成されたものであることが好ましい。共通電極をTFTに含まれるドレイン電極等の電極と同時形成することが可能となる。このため、ドレイン電極等の電極を形成する工程とは別に共通電極を形成する工程が不要となり、圧力センサ装置を形成容易なものとすることができるからである。また、共通電極をゲート電極またはドレイン電極と同一平面上に形成するため、半導体層を覆うパッシベーション層およびドレイン電極が形成される樹脂基板等に、感圧層およびドレイン電極間の接続のための貫通孔を形成する工程が不要となり、圧力センサ装置を、形成容易なものとすることができるからである。
本発明においては、なかでも、共通電極がドレイン電極と同一平面上に形成されたものであることが好ましい。共通電極がドレイン電極と同一平面上に形成されていることにより、感圧層およびドレイン電極間の接続のためのゲート絶縁層のパターニングを行うことなく、感圧層をドレイン電極および共通電極を接続するように配置することができるからである。
上記共通電極の平面視形状は、上記感圧層と安定的に接続できるものであれば特に限定されるものではなく、四角形等の矩形状であっても、円形状であっても良い。
上記共通電極の平面視上の形成箇所は、上記ゲート電極ならびにソース電極およびドレイン電極と直接接触しない箇所であれば特に限定されるものではなく、本発明の圧力センサ装置の用途等に応じて適宜設定されるものである。
上記共通電極の構成材料および厚みは、所望の導電性を示すことができるものであれば特に限定されるものではなく、上記「(a)薄膜トランジスタ」の「(i)ゲート電極、ソース電極およびドレイン電極」の項に記載の構成材料および厚みと同様の内容とすることができる。
本発明においては、上記共通電極がゲート電極と同一平面上に形成される場合、上記構成材料および厚みは、ゲート電極と同一材料および厚みであることが好ましい。また、上記共通電極がドレイン電極と同一平面上に形成される場合には、上記構成材料および厚みは、ドレイン電極と同一材料および厚みであることが好ましい。上記共通電極を、ゲート電極と、またはドレイン電極と同時形成することが可能となり、圧力センサ装置を形成容易なものとすることができるからである。
本発明においては、上記共通電極がゲート電極と同一平面上に形成される場合、上記構成材料および厚みは、ゲート電極と同一材料および厚みであることが好ましい。また、上記共通電極がドレイン電極と同一平面上に形成される場合には、上記構成材料および厚みは、ドレイン電極と同一材料および厚みであることが好ましい。上記共通電極を、ゲート電極と、またはドレイン電極と同時形成することが可能となり、圧力センサ装置を形成容易なものとすることができるからである。
上記共通電極の形成方法は、所望の形状とすることができるものであれば特に限定されるものではなく、一般的な電極の形成方法と同様とすることができる。上記形成方法は、より具体的には、上記「(a)薄膜トランジスタ」の「(i)ゲート電極、ソース電極およびドレイン電極」の項に記載の電極の形成方法と同様の方法とすることができる。
本発明においては、なかでも、上記形成方法が、上記共通電極を上記ゲート電極と同時または上記ソース電極および上記ドレイン電極と同時に形成する方法であることが好ましい。圧力センサ装置を形成容易なものとすることができるからである。
本発明においては、なかでも、上記形成方法が、上記共通電極を上記ゲート電極と同時または上記ソース電極および上記ドレイン電極と同時に形成する方法であることが好ましい。圧力センサ装置を形成容易なものとすることができるからである。
(c)端子部
本発明における端子部は、上記TFTおよび上記共通電極に接続された第1TFT端子部および共通電極端子部を少なくとも含むものであり、上記樹脂基板の上記TFTが形成された側の表面上に形成されるものである。
また、上記第1TFT端子部および共通電極端子部は、交互に千鳥状に並列配置されるものである。
本発明における端子部は、上記TFTおよび上記共通電極に接続された第1TFT端子部および共通電極端子部を少なくとも含むものであり、上記樹脂基板の上記TFTが形成された側の表面上に形成されるものである。
また、上記第1TFT端子部および共通電極端子部は、交互に千鳥状に並列配置されるものである。
ここで、並列配置されるとは、複数の端子部が所定のピッチで配置されることをいうものである。本発明においては、上記第1TFT端子部および共通電極端子部のそれぞれが並列配置され、かつ、上記両端子部も並列配置されるものである。
また、交互に配置されるとは、第1TFT端子部および共通電極端子部が所定のピッチで交互に配置されることをいうものである。
さらに、千鳥状に配置されるとは、第1TFT端子部および共通電極端子部が並列配置される方向(以下、単に並列配置方向と称する場合がある。)で重ならないように形成されることをいうものである。このような配置は、具体的には、端子部の端部間距離が0以上であることをいうものである。ここで、端子部の端部間距離とは、樹脂基板の端部側に形成された端子部の内部側端部と、樹脂基板の内部側に形成された端子部の端部側端部との距離をいうものであり、具体的には、既に説明した図3中のdで示される距離をいうものである。
本発明においては、端子部の端部間距離が10μm〜50mmの範囲内であることが好ましく、なかでも100μm〜2mmの範囲内であることが好ましい。上記端部間距離が上述の範囲内であることにより、第1TFT端子部および共通電極端子部の間での短絡の発生をより効果的に抑制することができるからである。
また、交互に配置されるとは、第1TFT端子部および共通電極端子部が所定のピッチで交互に配置されることをいうものである。
さらに、千鳥状に配置されるとは、第1TFT端子部および共通電極端子部が並列配置される方向(以下、単に並列配置方向と称する場合がある。)で重ならないように形成されることをいうものである。このような配置は、具体的には、端子部の端部間距離が0以上であることをいうものである。ここで、端子部の端部間距離とは、樹脂基板の端部側に形成された端子部の内部側端部と、樹脂基板の内部側に形成された端子部の端部側端部との距離をいうものであり、具体的には、既に説明した図3中のdで示される距離をいうものである。
本発明においては、端子部の端部間距離が10μm〜50mmの範囲内であることが好ましく、なかでも100μm〜2mmの範囲内であることが好ましい。上記端部間距離が上述の範囲内であることにより、第1TFT端子部および共通電極端子部の間での短絡の発生をより効果的に抑制することができるからである。
上記第1TFT端子部および共通電極端子部のピッチは、隣接するTFT基板に配置された第1TFT端子部同士を第1接続配線基板に形成された複数の第1接続配線部により安定的に接続可能なものであれば特に限定されるものではない。例えば、上記ピッチは、10μm〜10cmの範囲内とすることができ、なかでも、100μm〜2mmの範囲内であることが好ましい。上記ピッチが上述の範囲内であることにより、隣接するTFT基板に配置された第1TFT端子部同士を安定的に接続することができるからである。
なお、上記ピッチは、平面視上の両端子部の重心間の上記並列配置方向の距離をいうものである。上記距離は、具体的には、図3中のpで示されるものである。
なお、上記ピッチは、平面視上の両端子部の重心間の上記並列配置方向の距離をいうものである。上記距離は、具体的には、図3中のpで示されるものである。
上記第1TFT端子部は、上記TFTに接続されるものであり、共通電極端子部と交互に千鳥状に並列配置されるものである。
このような第1TFT端子部は、TFTに形成された電極に接続されたものであれば特に限定されるものではなく、例えば、ゲート電極に接続されたゲート電極端子部またはソース電極に接続されたソース電極端子部とすることができる。
上記第1TFT端子部は、ゲート電極端子部およびソース電極端子部のいずれであってもよいが、上記共通電極端子部が接続される共通電極が上記ゲート電極と同一平面上に形成される、すなわち、上記ゲート電極と同時に形成される場合には上記ゲート電極端子部とすることができ、共通電極がソース電極と同一平面上に形成される、すなわち、ソース電極と同時に形成される場合には上記ソース電極端子部とすることができる。
このような第1TFT端子部は、TFTに形成された電極に接続されたものであれば特に限定されるものではなく、例えば、ゲート電極に接続されたゲート電極端子部またはソース電極に接続されたソース電極端子部とすることができる。
上記第1TFT端子部は、ゲート電極端子部およびソース電極端子部のいずれであってもよいが、上記共通電極端子部が接続される共通電極が上記ゲート電極と同一平面上に形成される、すなわち、上記ゲート電極と同時に形成される場合には上記ゲート電極端子部とすることができ、共通電極がソース電極と同一平面上に形成される、すなわち、ソース電極と同時に形成される場合には上記ソース電極端子部とすることができる。
上記端子部は、第1TFT端子部および共通電極端子部を少なくとも含むものであれば特に限定されるものではないが、通常、TFTに形成された電極のうち、上記第1TFTに接続された電極以外の電極に接続された第2TFT端子部を有するものである。
このような第2TFT端子部は、上記第1TFT端子部がゲート電極端子部である場合には、ソース電極端子部とすることができ、上記第1TFT端子部がソース電極端子部である場合には、ゲート電極端子部とすることができる。
このような第2TFT端子部は、上記第1TFT端子部がゲート電極端子部である場合には、ソース電極端子部とすることができ、上記第1TFT端子部がソース電極端子部である場合には、ゲート電極端子部とすることができる。
上記端子部の形成箇所は、上記樹脂基板上に並列配置することができるものであれば特に限定されるものではなく、一般的なTFT基板と同様とすることができる。
例えば、上記形成箇所は、樹脂基板のTFTが形成される領域の周囲とすることができ、端子部の並列配置方向と樹脂基板の端部とが並行となるものとすることができる。
例えば、上記形成箇所は、樹脂基板のTFTが形成される領域の周囲とすることができ、端子部の並列配置方向と樹脂基板の端部とが並行となるものとすることができる。
上記端子部の形状およびサイズは、接続配線基板等と安定的に接続可能なものであれば特に限定されるものではなく、TFTに一般的に用いられるものと同様とすることができる。
上記形状およびサイズは、例えば、上記端子部を短手方向および長手方向がそれぞれ50μm〜2mmの範囲内および2mm〜1cmの範囲内の長方形状とすることができる。
上記形状およびサイズは、例えば、上記端子部を短手方向および長手方向がそれぞれ50μm〜2mmの範囲内および2mm〜1cmの範囲内の長方形状とすることができる。
(d)樹脂基板
本発明における樹脂基板は、上記TFT、共通電極および端子部を支持するものである。
本発明における樹脂基板は、上記TFT、共通電極および端子部を支持するものである。
このような樹脂基板を構成する材料は、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルサルホン(PES)、ポリイミド(PI)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリカーボネート(PC)、ポリフェニレンサルファイド(PPS)およびポリエーテルイミド(PEI)等を挙げることができる。
また、上記樹脂基板の厚さは、上記ゲート電極等を安定的に支持できるものであれば特に限定されるものではなく、本発明の圧力センサ装置の用途等に応じて適宜設定されるものであるが、50μm〜1000μmの範囲内とすることが好ましい。上記厚さが上述の範囲内であることにより、圧力センサ装置をフレキシブル性を有するものとすることが容易だからである。
上記樹脂基板は、感圧層の圧力印加側とは反対側に形成される設置側基板として用いられるものであっても良いが、感圧層の圧力印加側に形成される加圧側基板として用いられるものであることが好ましい。上記端子部が配置される樹脂基板が加圧側基板として用いられることにより、端子部と第1接続配線基板等の配線基板に含まれる接続配線部との貼合部および端子部に接続される駆動IC等の回路部の損傷の少ないものとすることができる。このため、圧力センサ装置を、信頼性の高いものとすることができるからである。
ここで、上記回路部の損傷の少ないものとすることができる理由については以下のように推察される。すなわち、設置側基板、回路部および加圧側基板がこの順で積層され、回路部が加圧側基板の設置側基板側に配置される構造を有することにより、印加された圧力により加圧側基板等の構成部材が変形した場合でも、加圧側基板等の構成部材の変形に追随して回路部も移動することができる。これにより、変形した構成部材が回路部に接触することを防止でき、さらにはこれらの構成部材の接触時に生じる衝撃が回路部に加わることのないものとすることができる。その結果、圧力センサ装置を、使用時に回路部の破損のない、信頼性の高いものとすることができるのである。
既に説明した図2は、上記樹脂基板が感圧層の圧力印加側とは反対側に形成される設置側基板として用いられる例を示すものである。また、図9は、上記樹脂基板が感圧層の圧力印加側に形成される加圧側基板として用いられる例を示すものである。
なお、図9中の符号については、図2と同一の部材を示すものであるので、ここでの説明は省略する。
ここで、上記回路部の損傷の少ないものとすることができる理由については以下のように推察される。すなわち、設置側基板、回路部および加圧側基板がこの順で積層され、回路部が加圧側基板の設置側基板側に配置される構造を有することにより、印加された圧力により加圧側基板等の構成部材が変形した場合でも、加圧側基板等の構成部材の変形に追随して回路部も移動することができる。これにより、変形した構成部材が回路部に接触することを防止でき、さらにはこれらの構成部材の接触時に生じる衝撃が回路部に加わることのないものとすることができる。その結果、圧力センサ装置を、使用時に回路部の破損のない、信頼性の高いものとすることができるのである。
既に説明した図2は、上記樹脂基板が感圧層の圧力印加側とは反対側に形成される設置側基板として用いられる例を示すものである。また、図9は、上記樹脂基板が感圧層の圧力印加側に形成される加圧側基板として用いられる例を示すものである。
なお、図9中の符号については、図2と同一の部材を示すものであるので、ここでの説明は省略する。
(e)薄膜トランジスタ基板
本発明におけるTFT基板は、樹脂基板、TFT、共通電極および端子部を有するものであるが、電極間ならびに電極および端子部間を接続する配線を通常有するものである。
このような配線は、ゲート電極間ならびにゲート電極およびゲート電極端子部間を接続するゲート配線、ソース電極間ならびにソース電極およびソース電極端子部間を接続するソース配線、共通電極間並びに共通電極および共通電極端子部間を接続する共通電極配線を挙げることができる。
このようなゲート配線、ソース配線および共通電極配線の配置は、配線間で短絡が生じないものであれば特に限定されるものではない。
上記配置は、例えば、既に説明した図4および図7に示すように共通電極13およびソース電極3が同一平面上に形成される場合には、既に説明した図3に示すように、ゲート配線2Xがソース配線3Xおよび共通電極配線13Xと直交するように形成され、ソース配線3Xおよび共通電極配線13Xが平行に形成されるものとすることができる。また、既に説明した図6および図8に示すように、共通電極およびゲート電極が同一平面上に形成される場合には、ソース配線が、ゲート配線および共通電極配線と直交するように形成され、ゲート配線および共通電極配線が平行に形成されるものとすることができる。
また、上記配線を構成する材料および厚さについては、通常、これらと接続される電極と同一である。また、上記配線の形成方法はそれぞれこれらと接続される電極と同時に形成する方法を用いることができる。
なお、上記配線の幅等については一般的なTFTと同様とすることができる。
本発明におけるTFT基板は、樹脂基板、TFT、共通電極および端子部を有するものであるが、電極間ならびに電極および端子部間を接続する配線を通常有するものである。
このような配線は、ゲート電極間ならびにゲート電極およびゲート電極端子部間を接続するゲート配線、ソース電極間ならびにソース電極およびソース電極端子部間を接続するソース配線、共通電極間並びに共通電極および共通電極端子部間を接続する共通電極配線を挙げることができる。
このようなゲート配線、ソース配線および共通電極配線の配置は、配線間で短絡が生じないものであれば特に限定されるものではない。
上記配置は、例えば、既に説明した図4および図7に示すように共通電極13およびソース電極3が同一平面上に形成される場合には、既に説明した図3に示すように、ゲート配線2Xがソース配線3Xおよび共通電極配線13Xと直交するように形成され、ソース配線3Xおよび共通電極配線13Xが平行に形成されるものとすることができる。また、既に説明した図6および図8に示すように、共通電極およびゲート電極が同一平面上に形成される場合には、ソース配線が、ゲート配線および共通電極配線と直交するように形成され、ゲート配線および共通電極配線が平行に形成されるものとすることができる。
また、上記配線を構成する材料および厚さについては、通常、これらと接続される電極と同一である。また、上記配線の形成方法はそれぞれこれらと接続される電極と同時に形成する方法を用いることができる。
なお、上記配線の幅等については一般的なTFTと同様とすることができる。
上記TFT基板のタイリング薄膜トランジスタ基板に含まれる数は、上記第1TFT基板により連結される少なくとも2以上であれば特に限定されるものではなく、既に説明した図1に例示するように4以上等とすることができる。
(2)第1接続配線基板
本発明における第1接続配線基板は、複数の第1接続配線部を有するものである。
また、上記TFT基板の複数の上記第1TFT端子部が、上記第1接続配線基板に形成された複数の第1接続配線部により接続されるものである。
本発明における第1接続配線基板は、複数の第1接続配線部を有するものである。
また、上記TFT基板の複数の上記第1TFT端子部が、上記第1接続配線基板に形成された複数の第1接続配線部により接続されるものである。
ここで、上記TFT基板の上記第1TFT端子部が接続されるとは、隣接するTFT基板に配置された第1TFT端子部同士が接続されることをいうものである。
また、上記TFT基板の複数の上記第1TFT端子部が、上記第1接続配線基板に形成された複数の第1接続配線部により接続されるとは、隣接するTFT基板にそれぞれ対向配置された第1TFT端子部同士を、第1接続配線基板に含まれる複数の第1接続配線部により接続することをいうものであり、より具体的には、隣接するTFT基板において対向配置された第1TFT端子部同士が1対1で接続されることをいうものである。
したがって、m個の第1TFT端子部が隣接するTFT基板にそれぞれ対向するように並列配置されている場合、隣接するTFT基板に配置されたm個の第1TFT端子部同士は、m個の第1端子部を用いて、1対1で接続されることをいうものである。
また、上記TFT基板の複数の上記第1TFT端子部が、上記第1接続配線基板に形成された複数の第1接続配線部により接続されるとは、隣接するTFT基板にそれぞれ対向配置された第1TFT端子部同士を、第1接続配線基板に含まれる複数の第1接続配線部により接続することをいうものであり、より具体的には、隣接するTFT基板において対向配置された第1TFT端子部同士が1対1で接続されることをいうものである。
したがって、m個の第1TFT端子部が隣接するTFT基板にそれぞれ対向するように並列配置されている場合、隣接するTFT基板に配置されたm個の第1TFT端子部同士は、m個の第1端子部を用いて、1対1で接続されることをいうものである。
(a)第1接続配線部
本発明における第1接続配線部を構成する材料および厚みは、所望の導電性を有するものであれば特に限定されるものではなく、圧力センサ装置に一般的に用いられるものと同様とすることができる。
上記材料および厚みは、具体的には、上記「(1)薄膜トランジスタ基板」の「(a)薄膜トランジスタ」の「(i)ゲート電極、ソース電極およびドレイン電極」の項に記載の内容と同様とすることができる。
本発明における第1接続配線部を構成する材料および厚みは、所望の導電性を有するものであれば特に限定されるものではなく、圧力センサ装置に一般的に用いられるものと同様とすることができる。
上記材料および厚みは、具体的には、上記「(1)薄膜トランジスタ基板」の「(a)薄膜トランジスタ」の「(i)ゲート電極、ソース電極およびドレイン電極」の項に記載の内容と同様とすることができる。
上記第1接続配線部の数および配置は、TFT基板の複数の第1TFT端子部を接続可能なものであれば特に限定されるものではなく、接続配線基板により接続する第1TFT端子部の数および配置と同一とすることができる。
上記第1接続配線部の数および配置は、例えば、第1接続配線基板が、TFT基板の1辺の端部に並列配置された第1TFT端子部を接続するものである場合には、上記数はTFT基板の1辺の端部に並列配置された第1TFT端子部と同数であり、上記配置は第1TFT端子部と同一のピッチで並列配置されたものとすることができる。
上記第1接続配線部の数および配置は、例えば、第1接続配線基板が、TFT基板の1辺の端部に並列配置された第1TFT端子部を接続するものである場合には、上記数はTFT基板の1辺の端部に並列配置された第1TFT端子部と同数であり、上記配置は第1TFT端子部と同一のピッチで並列配置されたものとすることができる。
上記第1接続配線部の長さは、TFT基板の複数の第1TFT端子部を安定的に接続可能なものであれば特に限定されるものではなく、TFT基板のサイズ、および隣接するTFT基板の間隔等に応じて適宜設定されるものである。
上記第1接続配線部の幅は、TFT基板の複数の第1TFT端子部を安定的に接続可能なものであれば特に限定されるものではなく、接続する第1TFT端子部の幅と同様とすることができる。
上記幅は、例えば、50μm〜2mmの範囲内とすることができる。
上記幅は、例えば、50μm〜2mmの範囲内とすることができる。
(b)第1接続配線基板
本発明における第1接続配線基板は、上記第1接続配線部を少なくとも有するものであるが、通常、上記第1接続配線部を支持する第1基板を有するものである。
また、第1接続配線基板は、必要に応じてその他の構成を有するものであっても良い。
本発明における第1接続配線基板は、上記第1接続配線部を少なくとも有するものであるが、通常、上記第1接続配線部を支持する第1基板を有するものである。
また、第1接続配線基板は、必要に応じてその他の構成を有するものであっても良い。
上記第1基板を構成する材料および厚みは、上記第1接続配線部を安定的に支持できるものであれば特に限定されるものではなく、圧力センサ装置に一般的に用いられるものと同様とすることができる。
上記材料および厚みは、具体的には、上記「(1)薄膜トランジスタ基板」の「(d)樹脂基板」の項に記載の内容と同様とすることができる。
上記材料および厚みは、具体的には、上記「(1)薄膜トランジスタ基板」の「(d)樹脂基板」の項に記載の内容と同様とすることができる。
(3)タイリング薄膜トランジスタ基板
本発明におけるタイリングTFT基板は、TFT基板および第1接続配線基板を有するものである。
また、上記タイリング薄膜トランジスタ基板は、上記薄膜トランジスタ基板の複数の上記第1薄膜トランジスタ端子部が、上記第1接続配線基板に形成された複数の第1接続配線部により接続されタイリングされているものである。
ここで、タイリングとは、平面視上隣接するように配置されたTFT基板同士を連結して、その連結されたTFT基板であるタイリングTFT基板(並列連結TFT基板と称する場合もある。)を全体として1つのTFT基板として用いることをいうものである。また、TFT基板同士を連結するとは、平面視上、隣接するTFT基板に含まれる同一種類の電極同士を接続することで、複数のTFT基板における電極の制御を共通化することをいうものである。したがって、タイリングされた複数のTFT基板、すなわち、タイリングTFT基板は、そこに含まれる複数のTFT基板の電極の制御が共通化され、全体として1つのTFT基板として使用することができるものである。
また、上記タイリングTFT基板は、上記第1薄膜トランジスタ端子部が接続されることによりタイリングされているものであり、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された電極であって、第1TFT端子部に接続された電極同士が少なくとも接続されているものである。
本発明におけるタイリングTFT基板は、TFT基板および第1接続配線基板を有するものである。
また、上記タイリング薄膜トランジスタ基板は、上記薄膜トランジスタ基板の複数の上記第1薄膜トランジスタ端子部が、上記第1接続配線基板に形成された複数の第1接続配線部により接続されタイリングされているものである。
ここで、タイリングとは、平面視上隣接するように配置されたTFT基板同士を連結して、その連結されたTFT基板であるタイリングTFT基板(並列連結TFT基板と称する場合もある。)を全体として1つのTFT基板として用いることをいうものである。また、TFT基板同士を連結するとは、平面視上、隣接するTFT基板に含まれる同一種類の電極同士を接続することで、複数のTFT基板における電極の制御を共通化することをいうものである。したがって、タイリングされた複数のTFT基板、すなわち、タイリングTFT基板は、そこに含まれる複数のTFT基板の電極の制御が共通化され、全体として1つのTFT基板として使用することができるものである。
また、上記タイリングTFT基板は、上記第1薄膜トランジスタ端子部が接続されることによりタイリングされているものであり、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された電極であって、第1TFT端子部に接続された電極同士が少なくとも接続されているものである。
(a)タイリング方法
本発明におけるタイリングTFT基板は、上記TFT基板の複数の上記第1TFT端子部が接続されタイリングされるもの、すなわち、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された電極であって、第1TFT端子部に接続された電極(以下、単に第1電極と称する場合がある。)同士が接続されていることにより、隣接するTFT基板に形成された第1電極の制御が共通化されているものであれば特に限定されるものではない。本発明においては、なかでも、タイリングTFT基板が上記TFT基板の複数の共通電極端子部が接続されタイリングされるものであること、すなわち、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された共通電極端子部に接続された共通電極同士が接続されることが好ましく、特に、上記TFT基板の複数の第2TFT端子部が接続されタイリングされるものであること、すなわち、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された第2TFT端子部に接続された電極(以下、単に第2電極と称する場合がある。)同士が接続されることが好ましい。タイリングTFT基板の制御を容易なものとすることができるからである。
本発明におけるタイリングTFT基板は、上記TFT基板の複数の上記第1TFT端子部が接続されタイリングされるもの、すなわち、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された電極であって、第1TFT端子部に接続された電極(以下、単に第1電極と称する場合がある。)同士が接続されていることにより、隣接するTFT基板に形成された第1電極の制御が共通化されているものであれば特に限定されるものではない。本発明においては、なかでも、タイリングTFT基板が上記TFT基板の複数の共通電極端子部が接続されタイリングされるものであること、すなわち、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された共通電極端子部に接続された共通電極同士が接続されることが好ましく、特に、上記TFT基板の複数の第2TFT端子部が接続されタイリングされるものであること、すなわち、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された第2TFT端子部に接続された電極(以下、単に第2電極と称する場合がある。)同士が接続されることが好ましい。タイリングTFT基板の制御を容易なものとすることができるからである。
(i)共通電極端子部のタイリング方法
上記共通電極端子部のタイリング方法は、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された共通電極同士が接続され、隣接するTFT基板に形成された共通電極の制御を共通化できる接続方法であれば特に限定されるものではない。
このような共通電極端子部の接続方法は、隣接するTFT基板に並列配置された複数の共通電極端子部の全てを接続する方法を用いることができる。
上記接続方法は、より具体的には、隣接するTFT基板にそれぞれ並列配置された複数の共通電極端子部の全てと平面視上重なるように形成された第2接続配線部を有する第2接続配線基板を用いる方法(第1方法)、およびTFT基板内に並列配置された複数の共通電極端子部の全てを接続する第2共通電極配線を用いる方法(第2方法)等を挙げることができる。
既に説明した図5および図10は、上記第1方法の例を示すものであり、隣接するTFT基板20に配置された複数の共通電極端子部13aの全てと平面視上重なるように形成された第2接続配線部32bを有する第2接続配線基板32を用いるものである。図11は上記第2方法の例を示すものであり、TFT基板20内で並列配置された複数の共通電極端子部13aの全てと接続され、かつ、上記第1TFT端子部11とは絶縁された第2共通電極配線35aを用いるものである。
なお、図10および図11中の符号については、図5と同一の部材を示すものであるので、ここでの説明は省略する。
また、並列配置された複数の共通電極端子部の全てとは、並列配置方向に重なるように配置され、制御が共通化される共通電極に接続された共通電極端子部の全てをいうものである。
上記共通電極端子部のタイリング方法は、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された共通電極同士が接続され、隣接するTFT基板に形成された共通電極の制御を共通化できる接続方法であれば特に限定されるものではない。
このような共通電極端子部の接続方法は、隣接するTFT基板に並列配置された複数の共通電極端子部の全てを接続する方法を用いることができる。
上記接続方法は、より具体的には、隣接するTFT基板にそれぞれ並列配置された複数の共通電極端子部の全てと平面視上重なるように形成された第2接続配線部を有する第2接続配線基板を用いる方法(第1方法)、およびTFT基板内に並列配置された複数の共通電極端子部の全てを接続する第2共通電極配線を用いる方法(第2方法)等を挙げることができる。
既に説明した図5および図10は、上記第1方法の例を示すものであり、隣接するTFT基板20に配置された複数の共通電極端子部13aの全てと平面視上重なるように形成された第2接続配線部32bを有する第2接続配線基板32を用いるものである。図11は上記第2方法の例を示すものであり、TFT基板20内で並列配置された複数の共通電極端子部13aの全てと接続され、かつ、上記第1TFT端子部11とは絶縁された第2共通電極配線35aを用いるものである。
なお、図10および図11中の符号については、図5と同一の部材を示すものであるので、ここでの説明は省略する。
また、並列配置された複数の共通電極端子部の全てとは、並列配置方向に重なるように配置され、制御が共通化される共通電極に接続された共通電極端子部の全てをいうものである。
ここで、図5は、共通電極端子部13aが第1TFT端子部11よりTFT基板20の端部側に配置される例であり、TFT基板20、第2接続配線基板32および第1接続配線基板31がこの順で積層されるものである。
図10は、共通電極端子部13aが第1TFT端子部11よりTFT基板20の内部側に配置される例であり、第1接続配線基板31および第2接続配線基板32が一体化されている例を示すもの、すなわち、第1接続配線部31bおよび第2接続配線部32bを支持する第1基板31aおよび第2基板32aが同一である場合を示すものである。また、図5および図10においては、並列配置方向に直交する方向に隣接するTFT基板に形成された複数の共通電極端子部の全てを互いに接続する例を示すものである。なお、図10(b)および(c)はそれぞれ図10(a)のE−E線断面図およびF−F線断面図である。また、図10(a)においては、第1基板31aおよび第2基板32aは一点鎖線で示されるものである。
また、図11は、共通電極端子部13aが第1TFT端子部11よりTFT基板20の内部側に配置される例である。また、図11(b)および(c)はそれぞれ図11(a)のG−G線断面図およびH−H線断面図である。
図10は、共通電極端子部13aが第1TFT端子部11よりTFT基板20の内部側に配置される例であり、第1接続配線基板31および第2接続配線基板32が一体化されている例を示すもの、すなわち、第1接続配線部31bおよび第2接続配線部32bを支持する第1基板31aおよび第2基板32aが同一である場合を示すものである。また、図5および図10においては、並列配置方向に直交する方向に隣接するTFT基板に形成された複数の共通電極端子部の全てを互いに接続する例を示すものである。なお、図10(b)および(c)はそれぞれ図10(a)のE−E線断面図およびF−F線断面図である。また、図10(a)においては、第1基板31aおよび第2基板32aは一点鎖線で示されるものである。
また、図11は、共通電極端子部13aが第1TFT端子部11よりTFT基板20の内部側に配置される例である。また、図11(b)および(c)はそれぞれ図11(a)のG−G線断面図およびH−H線断面図である。
上記第2接続配線部の平面視形状は、隣接するTFT基板に配置された複数の共通電極端子部の全てと平面視上重なり、かつ、上記第1TFT端子部と絶縁されるものであれば特に限定されるものではなく、上記共通電極端子部の配置箇所等に応じて適宜設定されるものである。
上記第2接続配線部を構成する材料およびその厚みは、所望の導電性を有するものであれば特に限定されるものではなく、上記「(2)第1接続配線基板」の項に記載の第1接続配線部と同様の内容とすることができる。
上記第2基板は、第2接続配線部を安定的に支持できるものであれば特に限定されるものではなく、上記「(2)第1接続配線基板」の項に記載の第1基板と同様の内容とすることができる。
上記第2共通電極配線は、TFT基板に配置された複数の共通電極端子部の全てと接続され、かつ、上記第1TFT端子部とは絶縁されているものであれば特に限定されるものではない。
上記第2共通電極配線は、例えば、共通電極端子部および第1TFT端子部が形成された絶縁層と樹脂基板との間に形成され、共通電極端子部との接続のために上記絶縁層に設けられた開口部から露出するものとすることができる。
なお、共通電極端子部および第1TFT端子部が形成された絶縁層と樹脂基板との間に形成されるとは、共通電極端子部および第1TFT端子部ならびにこれらと各電極を接続する配線と上記第2共通電極配線とが絶縁層を介して設けられていることをいうものである。
例えば、既に説明した図11においては、第2共通電極配線は、共通電極端子部および第1TFT端子部としてのソース電極端子部が形成されたゲート絶縁層と樹脂基板との間に形成されるものである。
上記第2共通電極配線は、例えば、共通電極端子部および第1TFT端子部が形成された絶縁層と樹脂基板との間に形成され、共通電極端子部との接続のために上記絶縁層に設けられた開口部から露出するものとすることができる。
なお、共通電極端子部および第1TFT端子部が形成された絶縁層と樹脂基板との間に形成されるとは、共通電極端子部および第1TFT端子部ならびにこれらと各電極を接続する配線と上記第2共通電極配線とが絶縁層を介して設けられていることをいうものである。
例えば、既に説明した図11においては、第2共通電極配線は、共通電極端子部および第1TFT端子部としてのソース電極端子部が形成されたゲート絶縁層と樹脂基板との間に形成されるものである。
上記第2共通電極配線を構成する材料および厚みは、上記「(2)第1接続配線基板」の項に記載の第1接続配線部と同様の内容とすることができる。
本発明においては、上記第2共通電極配線がゲート電極と同一平面上に形成される場合、上記材料および厚みは、ゲート電極と同一材料および厚みであることが好ましい。また、上記第2共通電極配線がソース電極およびドレイン電極と同一平面上に形成される場合には、上記材料および厚みは、ソース電極およびドレイン電極と同一材料および厚みであることが好ましい。上記上記第2共通電極配線を、ゲート電極と、またはソース電極およびドレイン電極と同時形成することが可能となり、形成容易なものとすることができるからである。
例えば、図11においては、第2共通電極配線は、ゲート電極と同一材料および厚みで形成されたものとすることが好ましい。
本発明においては、上記第2共通電極配線がゲート電極と同一平面上に形成される場合、上記材料および厚みは、ゲート電極と同一材料および厚みであることが好ましい。また、上記第2共通電極配線がソース電極およびドレイン電極と同一平面上に形成される場合には、上記材料および厚みは、ソース電極およびドレイン電極と同一材料および厚みであることが好ましい。上記上記第2共通電極配線を、ゲート電極と、またはソース電極およびドレイン電極と同時形成することが可能となり、形成容易なものとすることができるからである。
例えば、図11においては、第2共通電極配線は、ゲート電極と同一材料および厚みで形成されたものとすることが好ましい。
上記第2共通電極配線の幅は、所望の導電性を有するものであれば特に限定されるものではなく、上記第2共通電極配線を構成する材料等に応じて適宜設定されるものである。
上記第2共通電極配線と上記共通電極端子部との接続方法は、両者を安定的に接続することができる方法であれば特に限定されるものではなく、はんだ等の導電性材料を用いて形成された共通化導電層により、上記第2共通電極配線および上記共通電極端子部の両者を接続する方法を用いることができる。
本発明において、上記第2方法によりTFT基板内の複数の共通電極端子部同士が第2共通電極配線により接続されている場合、隣接するTFT基板の共通電極端子部同士間の接続方法は、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された複数の共通電極を接続できる方法であれば特に限定されるものではないが、例えば、上記第2共通電極配線に接続された第2共通電極端子部を、第3接続配線基板に形成された第3接続配線部により接続する方法を挙げることができる。
図12は、上記第2共通電極配線35aに接続された第2共通電極端子部35bを、第3接続配線基板33に形成された第3接続配線部33bを用いて接続する例を示すものである。また、図12は、第2共通電極端子部が第2共通電極配線の端部に接続されるものであり、隣接するTFT基板に対向配置された第2共通電極端子部が、第3接続配線基板に形成された第3接続配線部により1対1で接続される例を示すものである。
なお、図12中の符号については、図5と同一の部材を示すものであるので、ここでの説明は省略する。また、第3接続配線基板33は、第3基板33aおよび第3基板33a上に形成された第3接続配線部33bを有するものである。図12(a)において、第3基板33aは、二点鎖線で示されるものである。また、図12(b)は、図12(a)のI−I線断面図である。
図12は、上記第2共通電極配線35aに接続された第2共通電極端子部35bを、第3接続配線基板33に形成された第3接続配線部33bを用いて接続する例を示すものである。また、図12は、第2共通電極端子部が第2共通電極配線の端部に接続されるものであり、隣接するTFT基板に対向配置された第2共通電極端子部が、第3接続配線基板に形成された第3接続配線部により1対1で接続される例を示すものである。
なお、図12中の符号については、図5と同一の部材を示すものであるので、ここでの説明は省略する。また、第3接続配線基板33は、第3基板33aおよび第3基板33a上に形成された第3接続配線部33bを有するものである。図12(a)において、第3基板33aは、二点鎖線で示されるものである。また、図12(b)は、図12(a)のI−I線断面図である。
上記第2共通電極端子部の形状およびサイズは、上記「(1)薄膜トランジスタ基板」の「(c)端子部」の項の記載と同様の内容とすることができる。
上記第2共通電極端子部を構成する材料および厚みは、上記第2共通電極配線と同様とすることができる。
上記第2共通電極端子部を構成する材料および厚みは、上記第2共通電極配線と同様とすることができる。
上記第3接続配線部を構成する材料、厚みは、所望の導電性を有するものであれば特に限定されるものではなく、上記「(2)第1接続配線基板」の項に記載の第1接続配線部と同様の内容とすることができる。
また、上記第3基板は、第3接続配線部を安定的に支持できるものであれば特に限定されるものではなく、上記「(2)第1接続配線基板」の項に記載の第1基板と同様の内容とすることができる。
また、上記第3基板は、第3接続配線部を安定的に支持できるものであれば特に限定されるものではなく、上記「(2)第1接続配線基板」の項に記載の第1基板と同様の内容とすることができる。
上記第2接続配線基板および第3接続配線基板は、それぞれ上記第1接続配線基板と別体であっても良く、これと一体化されていても良い。
(ii)第2TFT端子部のタイリング方法
上記第2TFT端子部のタイリング方法は、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された第2電極同士が接続され、隣接するTFT基板に形成された第2電極の制御を共通化できる接続方法であれば特に限定されるものではない。
このような第2TFT端子部の接続方法は、TFT基板の複数の上記第2TFT端子部が第4接続配線基板に形成された複数の第4接続配線部により接続される方法、すなわち、隣接するTFT基板にそれぞれ対向配置された第2TFT端子部同士を、第4接続配線基板に含まれる複数の第4接続配線部により接続する方法を好ましく用いることができる。
また、上記第4接続配線部を有する第4接続配線基板は、隣接するTFT基板にそれぞれ対向配置された複数の第2TFT端子部同士を1対1で接続することができるものであれば特に限定されるものではなく、例えば、上記「(2)第1接続配線基板」の項に記載の第1接続配線基板と同様の内容とすることができる。
なお、上記第4接続配線基板は、上記第1接続配線基板と別体であっても良く、これと一体化されているものであっても良い。
上記第2TFT端子部のタイリング方法は、隣接するTFT基板にそれぞれ形成された第2電極同士が接続され、隣接するTFT基板に形成された第2電極の制御を共通化できる接続方法であれば特に限定されるものではない。
このような第2TFT端子部の接続方法は、TFT基板の複数の上記第2TFT端子部が第4接続配線基板に形成された複数の第4接続配線部により接続される方法、すなわち、隣接するTFT基板にそれぞれ対向配置された第2TFT端子部同士を、第4接続配線基板に含まれる複数の第4接続配線部により接続する方法を好ましく用いることができる。
また、上記第4接続配線部を有する第4接続配線基板は、隣接するTFT基板にそれぞれ対向配置された複数の第2TFT端子部同士を1対1で接続することができるものであれば特に限定されるものではなく、例えば、上記「(2)第1接続配線基板」の項に記載の第1接続配線基板と同様の内容とすることができる。
なお、上記第4接続配線基板は、上記第1接続配線基板と別体であっても良く、これと一体化されているものであっても良い。
(b)その他の構成
本発明におけるタイリングTFT基板は、上記TFT基板および第1接続配線基板を少なくとも有するものであるが、必要に応じて、その他の構成を有するものであっても良い。
このようなその他の構成は、上述した第2接続配線基板、第3接続配線基板および第4接続配線基板等を挙げることができる。
また、既に説明した図2、図5および図9〜図12に示すように接続配線基板に含まれる接続配線部と、TFT基板に含まれる端子部とを接続する導電性接着剤37等を有するものであっても良い。
本発明におけるタイリングTFT基板は、上記TFT基板および第1接続配線基板を少なくとも有するものであるが、必要に応じて、その他の構成を有するものであっても良い。
このようなその他の構成は、上述した第2接続配線基板、第3接続配線基板および第4接続配線基板等を挙げることができる。
また、既に説明した図2、図5および図9〜図12に示すように接続配線基板に含まれる接続配線部と、TFT基板に含まれる端子部とを接続する導電性接着剤37等を有するものであっても良い。
上記導電性接着剤は、接続配線基板とTFT基板との接続に一般的に用いられるものと同様とすることができ、例えば、導電性微粒子を接着性の絶縁性樹脂材料中に分散した異方導電性接着剤を挙げることができ、ペースト状のもの、およびフィルム状のもの等を用いることができる。
上記導電性微粒子としては、所望の導電性を有するものであれば特に限定されるものではないが、金、銀、ニッケル等の金属粒子、およびセラミックス、プラスチックまたは金属の粒子を核としてその表面にニッケルおよび金等の金属皮層を形成した金属被覆粒子等を挙げることができる。
また、上記絶縁性樹脂材料は、例えば、エポキシ樹脂等を挙げることができる。
また、上記絶縁性樹脂材料は、例えば、エポキシ樹脂等を挙げることができる。
2.感圧層
本発明における感圧層は、上記共通電極上に上記ドレイン電極および上記共通電極を接続するように形成され、絶縁性樹脂および導電性粒子を含むものである。
本発明における感圧層は、上記共通電極上に上記ドレイン電極および上記共通電極を接続するように形成され、絶縁性樹脂および導電性粒子を含むものである。
上記絶縁性樹脂は、上記導電性粒子を分散することができ、本発明の圧力センサ装置に対して加えられた圧力に応じて変形する弾性を有し、絶縁樹脂内において導電性粒子同士が接触し、感圧層内の電気抵抗を低下させることができるものであれば特に限定されるものではなく、圧力センサ装置に一般的に用いられるものを使用することができる。
このような絶縁性樹脂は、具体的には、シリコーン樹脂、フッ素樹脂、ポリアミド樹脂、アクリル樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂、ブチラール樹脂、スチレン−エチレン−オレフィン共重合体およびスチレン−ブチレン−オレフィン共重合体、ならびに、オレフィン−エチレン共重合体、オレフィン−ブチレン共重合体およびオレフィン−オレフィン共重合体等が挙げられる。中でも、シリコーン樹脂を用いることが好ましい。上記絶縁性樹脂であることにより、優れた絶縁性を有し、経時安定性に優れているからである。また、上記絶縁性樹脂は、2種以上の材料を混合させて用いても良い。
このような絶縁性樹脂は、具体的には、シリコーン樹脂、フッ素樹脂、ポリアミド樹脂、アクリル樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂、ブチラール樹脂、スチレン−エチレン−オレフィン共重合体およびスチレン−ブチレン−オレフィン共重合体、ならびに、オレフィン−エチレン共重合体、オレフィン−ブチレン共重合体およびオレフィン−オレフィン共重合体等が挙げられる。中でも、シリコーン樹脂を用いることが好ましい。上記絶縁性樹脂であることにより、優れた絶縁性を有し、経時安定性に優れているからである。また、上記絶縁性樹脂は、2種以上の材料を混合させて用いても良い。
上記導電性粒子を構成する材料は、所望の導電性を有するものであれば良く、圧力センサ装置に一般的に用いられるものを使用することができる。
このような材料は、具体的には、グラファイト、導電性カーボン、銅、アルミニウム、ニッケル、鉄粉、金属酸化物である導電性酸化スズおよび導電性酸化チタン、ならびに有機樹脂の炭化物等の炭素系粒子等を挙げることができ、なかでも、グラファイトを好ましく用いることができる。
このような材料は、具体的には、グラファイト、導電性カーボン、銅、アルミニウム、ニッケル、鉄粉、金属酸化物である導電性酸化スズおよび導電性酸化チタン、ならびに有機樹脂の炭化物等の炭素系粒子等を挙げることができ、なかでも、グラファイトを好ましく用いることができる。
上記導電性粒子の平均粒子径および含有量は、所望の感圧性を示すことができるものであれば特に限定されるものではなく、圧力センサ装置に一般的に用いられるものを使用することができる。上記平均粒子径および含有量は、具体的には、導電性粒子の材料の種類および求められる感度等に応じて適宜設定されるものである。
例えば、平均粒子径は、0.1μm〜500μmの範囲内とすることができる。また、感圧層中の含有量は、1質量%〜99質量%の範囲内とすることができ、なかでも、10質量%〜70質量%の範囲内であることが好ましく、特に、20質量%〜60質量%の範囲内であることが好ましい。
なお、平均粒子径は、顕微鏡観察による平均粒子径である。顕微鏡観察による平均粒子径は、例えば、100倍で顕微鏡観察を行い、画像処理ソフト等により任意の導電性粒子の粒径を100個測定して個数平均することにより得られる。なお、粒径とは導電性粒子の長軸径と短軸径の平均値を指す。
例えば、平均粒子径は、0.1μm〜500μmの範囲内とすることができる。また、感圧層中の含有量は、1質量%〜99質量%の範囲内とすることができ、なかでも、10質量%〜70質量%の範囲内であることが好ましく、特に、20質量%〜60質量%の範囲内であることが好ましい。
なお、平均粒子径は、顕微鏡観察による平均粒子径である。顕微鏡観察による平均粒子径は、例えば、100倍で顕微鏡観察を行い、画像処理ソフト等により任意の導電性粒子の粒径を100個測定して個数平均することにより得られる。なお、粒径とは導電性粒子の長軸径と短軸径の平均値を指す。
上記感圧層は、絶縁性樹脂および導電性粒子を含むものであるが、必要に応じて、シリカ系粉体充填材等の硬度調整剤を含むものであっても良い。
上記感圧層の厚みは、所望の感圧性を示すことができるものであれば特に限定されるものではなく、圧力センサ装置に一般的に用いられるものを使用することができる。
上記感圧層の厚みは、具体的には、1μm〜10mmの範囲内であることが好ましく、なかでも、1μm〜1mmの範囲内であることが好ましく、特に、5μm〜500μmの範囲内であることが好ましい。
なお、感圧層の厚みとは、感圧層の樹脂基板側表面から圧力が印加される側の表面までの距離のうち最大の距離をいうものである。
上記感圧層の厚みは、具体的には、1μm〜10mmの範囲内であることが好ましく、なかでも、1μm〜1mmの範囲内であることが好ましく、特に、5μm〜500μmの範囲内であることが好ましい。
なお、感圧層の厚みとは、感圧層の樹脂基板側表面から圧力が印加される側の表面までの距離のうち最大の距離をいうものである。
上記感圧層の平面視形状は、ドレイン電極および共通電極を接続可能な形状であれば特に限定されるものではなく、四角形等の矩形状であっても、円形状であっても良い。
上記感圧層は、ドレイン電極および共通電極とのみ接し、ソース電極およびゲート電極とは接しないように形成されるものである。
このような感圧層の平面視上の形成箇所は、上記ドレイン電極および上記共通電極間の領域にのみに形成されるものであっても良いが、なかでも本発明においては、上記ドレイン電極および共通電極の両者を平面視上覆うように形成されるものであることが好ましい。上記ドレイン電極および上記共通電極を安定的に接続することができるからである。
また、上記感圧層は、少なくとも1組のドレイン電極および共通電極を接続するように形成されるものであれば良いが、複数組のドレイン電極および共通電極を接続するものであっても良い。
なお、1組のドレイン電極および共通電極とは、感圧層を介して直列に接続されるドレイン電極および共通電極をいうものである。
また、既に説明した図3は、感圧層が1組のドレイン電極および共通電極を接続するように形成される例を示すものである。
このような感圧層の平面視上の形成箇所は、上記ドレイン電極および上記共通電極間の領域にのみに形成されるものであっても良いが、なかでも本発明においては、上記ドレイン電極および共通電極の両者を平面視上覆うように形成されるものであることが好ましい。上記ドレイン電極および上記共通電極を安定的に接続することができるからである。
また、上記感圧層は、少なくとも1組のドレイン電極および共通電極を接続するように形成されるものであれば良いが、複数組のドレイン電極および共通電極を接続するものであっても良い。
なお、1組のドレイン電極および共通電極とは、感圧層を介して直列に接続されるドレイン電極および共通電極をいうものである。
また、既に説明した図3は、感圧層が1組のドレイン電極および共通電極を接続するように形成される例を示すものである。
上記感圧層の形成方法は、所望のパターンの感圧層を精度良く形成できるものであれば特に限定されるものではないが、インクジェット印刷法、グラビア印刷法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法等の種々の印刷法を挙げることができる。
3.圧力センサ装置
本発明の圧力センサ装置は、タイリングTFT基板および感圧層を有するものであるが、必要に応じて他の構成を有するものであっても良い。
このような他の構成は、例えば、感圧層21の圧力印加側の表面上に形成され、タイリングTFT基板、接続配線基板、および回路部等を保護する保護層、および、上記樹脂基板が加圧側基板として用いられる場合に、上記感圧層の圧力印加側とは反対側の表面上に形成され、上記タイリングTFT基板および感圧層等の構成を支持する設置側基板等を挙げることができる。
本発明の圧力センサ装置は、タイリングTFT基板および感圧層を有するものであるが、必要に応じて他の構成を有するものであっても良い。
このような他の構成は、例えば、感圧層21の圧力印加側の表面上に形成され、タイリングTFT基板、接続配線基板、および回路部等を保護する保護層、および、上記樹脂基板が加圧側基板として用いられる場合に、上記感圧層の圧力印加側とは反対側の表面上に形成され、上記タイリングTFT基板および感圧層等の構成を支持する設置側基板等を挙げることができる。
上記保護層および設置側基板を構成する材料は、絶縁性を有し、所望の保護機能および支持機能を有するものであれば特に限定されるものではないが、例えば、上記「1.タイリング薄膜トランジスタ基板」の「(1)薄膜トランジスタ基板」の「(a)薄膜トランジスタ」の「(iii)ゲート絶縁層」の項に記載の絶縁性有機材料を用いることができる。
上記保護層および設置側基板の厚さは、所望の保護機能および支持機能を有するものとすることができるものであれば特に限定されるものではないが、例えば、100μm〜1mmの範囲内とすることができる。
上記保護層および設置側基板の厚さは、所望の保護機能および支持機能を有するものとすることができるものであれば特に限定されるものではないが、例えば、100μm〜1mmの範囲内とすることができる。
上記保護層および設置側基板の形成方法は、板状の保護層または設置側基板を準備した後、上記感圧層の圧力印加側および圧力印加側とは反対側の表面上に接着剤等を用いて貼り合わせる方法であっても良く、上記保護層および設置側基板を構成する材料を含む塗工液を塗工する方法を用いることができる。
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
以下、本発明について、実施例および比較例を挙げてより詳細に説明する。
[実施例1]
樹脂基板上の全面にオーバーコート層を塗布し、Alを厚み200nmでスパッタ蒸着した。続いて、Alスパッタ膜上にポジ型フォトレジストをスピンコートにて塗布してレジスト層を形成し、フォトマスクを用いた露光および現像工程を経て、レジスト層をパターニングした。エッチング処理を施して、レジスト層が形成されていない部位のAlスパッタ膜をエッチングした後、レジスト層を除去した。これにより、ゲート電極を形成した。
樹脂基板上の全面にオーバーコート層を塗布し、Alを厚み200nmでスパッタ蒸着した。続いて、Alスパッタ膜上にポジ型フォトレジストをスピンコートにて塗布してレジスト層を形成し、フォトマスクを用いた露光および現像工程を経て、レジスト層をパターニングした。エッチング処理を施して、レジスト層が形成されていない部位のAlスパッタ膜をエッチングした後、レジスト層を除去した。これにより、ゲート電極を形成した。
次に、紫外線感光性アクリル系樹脂をスピンコートしてゲート絶縁層を形成し、フォトマスクを介した露光およびアルカリ現像工程を行い、ゲート絶縁層のパターニングを行った。この際、ゲート絶縁層にコンタクトホールが形成されるようにパターニングした。次いで、150℃のオーブンにて加熱硬化させ、膜厚1μmのゲート絶縁層を形成した。
次に、ゲート絶縁層まで形成された樹脂基板上に、銀を厚み40nmでスパッタ蒸着した。次に、銀スパッタ膜上にポジ型フォトレジストをスピンコートにて塗布してレジスト層を形成し、フォトマスクを用いた露光および現像工程を経て、レジスト層をパターニングした。次いで、エッチング処理を施して、レジスト層が形成されていない部位の銀スパッタ膜をエッチングした後、レジスト層を除去した。これにより、ゲート絶縁層上にソース電極、ドレイン電極および共通電極を形成した。また、同時に、TFTに形成されたソース電極端子部および共通電極に接続された共通電極端子部を、交互に千鳥状に並列配置されるように形成するとともに、ソース電極およびソース電極端子部間を接続するソース配線と、共通電極および共通電極端子部間を接続する共通電極配線と、を形成した。
また、同時に、樹脂基板のTFT基板として用いられる領域以外の領域に、ソース電極端子部同士および共通電極端子部同士をそれぞれ接続するために用いられる第1接続配線部および第2接続配線部も作製した。
また、同時に、樹脂基板のTFT基板として用いられる領域以外の領域に、ソース電極端子部同士および共通電極端子部同士をそれぞれ接続するために用いられる第1接続配線部および第2接続配線部も作製した。
次に、チオフェン系ポリマーをキシレンに固形分濃度1wt%にて溶解させた有機半導体のキシレン溶液を準備し、ソース電極、ドレイン電極およびソース配線を形成した基材表面にスピンコートにて塗布し、膜厚50nmの有機半導体層を基材全面に形成した。次いで、ポジ型レジストを有機半導体層上にスピンコートしてレジスト層を形成し、フォトマスクを介した露光およびアルカリ現像工程を行い、レジスト層をパターニングした。
次に、大気下で、波長172nm、照度3mW/cm2の真空紫外線を60秒間照射し、レジスト層で覆われている部位以外の有機半導体層をエッチング除去し、有機半導体層のパターニングを行った。その後、レジスト層を除去した。
次に、大気下で、波長172nm、照度3mW/cm2の真空紫外線を60秒間照射し、レジスト層で覆われている部位以外の有機半導体層をエッチング除去し、有機半導体層のパターニングを行った。その後、レジスト層を除去した。
次に、ドレイン電極と共通電極の間に、スクリーン印刷法にて感圧層をパターン状に形成した。
次に、紫外線感光性アクリル系樹脂をスピンコートしてパッシベーション層を形成し、フォトマスクを介した露光およびアルカリ現像工程を行い、パッシベーション層のパターニングを行った。次いで、150℃のオーブンにて加熱硬化させ、膜厚20μmのパッシベーション層を形成した。
次に、樹脂基板を切断し、第1接続配線部が形成された第1接続配線基板と、第2接続配線部が形成された第2接続配線基板と、上記感圧層がパターン状に形成されたTFT基板と、を形成した。
次に、第1接続配線基板および第2接続配線基板と、2以上のTFT基板とを異方性導電膜(ACF)を用いて図5で示したように接着し、タイリングすることにより、タイリングTFT基板を有する圧力センサ装置を作製した。
得られた圧力センサ装置を用いて圧力の検出を行ったところ、圧力を良好に検出できることが確認できた。
1 … 樹脂基板
2 … ゲート電極
2a … ゲート電極端子部
3 … ソース電極
3a … ソース電極端子部
4 … ドレイン電極
5 … オーバーコート層
6 … ゲート絶縁層
7 … パッシベーション層
8 … 半導体層
10 … 薄膜トランジスタ
11 … 第1薄膜トランジスタ端子部
12 … 第2薄膜トランジスタ端子部
13 … 共通電極
13a … 共通電極端子部
20 … 薄膜トランジスタ基板
21 … 感圧層
22 … 設置側基板
23 … 加圧側基板
24 … 保護層
31 … 第1接続配線基板
31a … 第1基板
31b … 第1接続配線部
32 … 第2接続配線基板
32a … 第2基板
32b … 第2接続配線部
33 … 第3接続配線基板
33a … 第3基板
33b … 第3接続配線部
34 … 第4接続配線基板
34a … 第4基板
34b … 第4接続配線部
35a … 第2共通電極配線
35b … 第2共通電極端子部
36 … 共通化導電層
37 … 導電性接着剤
40 … タイリング薄膜トランジスタ基板
50 … 圧力センサ装置
2 … ゲート電極
2a … ゲート電極端子部
3 … ソース電極
3a … ソース電極端子部
4 … ドレイン電極
5 … オーバーコート層
6 … ゲート絶縁層
7 … パッシベーション層
8 … 半導体層
10 … 薄膜トランジスタ
11 … 第1薄膜トランジスタ端子部
12 … 第2薄膜トランジスタ端子部
13 … 共通電極
13a … 共通電極端子部
20 … 薄膜トランジスタ基板
21 … 感圧層
22 … 設置側基板
23 … 加圧側基板
24 … 保護層
31 … 第1接続配線基板
31a … 第1基板
31b … 第1接続配線部
32 … 第2接続配線基板
32a … 第2基板
32b … 第2接続配線部
33 … 第3接続配線基板
33a … 第3基板
33b … 第3接続配線部
34 … 第4接続配線基板
34a … 第4基板
34b … 第4接続配線部
35a … 第2共通電極配線
35b … 第2共通電極端子部
36 … 共通化導電層
37 … 導電性接着剤
40 … タイリング薄膜トランジスタ基板
50 … 圧力センサ装置
Claims (2)
- 薄膜トランジスタ基板および第1接続配線基板を有するタイリング薄膜トランジスタ基板と、
前記タイリング薄膜トランジスタ基板上に形成された感圧層と、
を有する圧力センサ装置であって、
前記薄膜トランジスタ基板は、樹脂基板、前記樹脂基板上に形成された薄膜トランジスタおよび前記樹脂基板の前記薄膜トランジスタが形成された側の表面上に形成された共通電極を有し、
前記薄膜トランジスタおよび前記共通電極に接続された第1薄膜トランジスタ端子部および共通電極端子部は、交互に千鳥状に並列配置されており、
前記感圧層は、前記薄膜トランジスタに形成されたドレイン電極と、前記共通電極と、を接続するように、前記共通電極上に形成されるものであり、
前記タイリング薄膜トランジスタ基板は、前記薄膜トランジスタ基板の複数の前記第1薄膜トランジスタ端子部が、前記第1接続配線基板に形成された複数の第1接続配線部により接続されタイリングされていることを特徴とする圧力センサ装置。 - 前記樹脂基板が加圧側基板として用いられることを特徴とする請求項1に記載の圧力センサ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014138533A JP2016017753A (ja) | 2014-07-04 | 2014-07-04 | 圧力センサ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014138533A JP2016017753A (ja) | 2014-07-04 | 2014-07-04 | 圧力センサ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016017753A true JP2016017753A (ja) | 2016-02-01 |
Family
ID=55233081
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014138533A Pending JP2016017753A (ja) | 2014-07-04 | 2014-07-04 | 圧力センサ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2016017753A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018163627A1 (ja) * | 2017-03-08 | 2018-09-13 | Nissha株式会社 | 圧力センサ |
JP2018194529A (ja) * | 2017-05-22 | 2018-12-06 | 大日本印刷株式会社 | 圧力センサ装置 |
JP2019522182A (ja) * | 2016-05-20 | 2019-08-08 | エイチピーワン テクノロジーズ リミテッドHp1 Technologies Limited | 力を検出するための装置及びシステム |
JP2020170754A (ja) * | 2019-04-01 | 2020-10-15 | 大日本印刷株式会社 | 複合基板及びその製造方法 |
-
2014
- 2014-07-04 JP JP2014138533A patent/JP2016017753A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019522182A (ja) * | 2016-05-20 | 2019-08-08 | エイチピーワン テクノロジーズ リミテッドHp1 Technologies Limited | 力を検出するための装置及びシステム |
WO2018163627A1 (ja) * | 2017-03-08 | 2018-09-13 | Nissha株式会社 | 圧力センサ |
JP2018194529A (ja) * | 2017-05-22 | 2018-12-06 | 大日本印刷株式会社 | 圧力センサ装置 |
JP2020170754A (ja) * | 2019-04-01 | 2020-10-15 | 大日本印刷株式会社 | 複合基板及びその製造方法 |
JP7331420B2 (ja) | 2019-04-01 | 2023-08-23 | 大日本印刷株式会社 | 複合基板及びその製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6274029B2 (ja) | 圧力センサ装置およびその製造方法 | |
US8502228B2 (en) | Thin film transistor array, method for manufacturing the same, and active matrix type display using the same | |
JP4385812B2 (ja) | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 | |
JP6314687B2 (ja) | 圧力センサ装置 | |
JP6394096B2 (ja) | 圧力センサ装置 | |
TWI646669B (zh) | Thin film transistor array and manufacturing method thereof | |
US20070114525A1 (en) | Display device and manufacturing method | |
JP2016017753A (ja) | 圧力センサ装置 | |
JP2009033020A (ja) | 有機トランジスタ及びアクティブマトリックス基板 | |
JP5386852B2 (ja) | 積層構造体、半導体装置、積層構造体の製造方法及び半導体装置の製造方法 | |
JP5439723B2 (ja) | 薄膜トランジスタ、マトリクス基板、電気泳動表示装置および電子機器 | |
US8013327B2 (en) | Electronic device | |
JP6043295B2 (ja) | 電子デバイス | |
US20120168790A1 (en) | Display device structure and manufacturing method thereof | |
JP6311473B2 (ja) | 圧力センサ装置 | |
JP5101097B2 (ja) | 多層配線の作製方法及び多層配線並びに薄膜トランジスタ、アクティブマトリックス駆動回路及びフラットパネルディスプレイ | |
US20160141531A1 (en) | Thin film transistor | |
CN107534056B (zh) | 薄膜晶体管阵列形成基板及其制造、图像显示装置用基板 | |
JP6834547B2 (ja) | センサシートおよびセンサシステム | |
JP2016039208A (ja) | 接続配線基板付薄膜トランジスタ基板、接続配線基板付薄膜トランジスタ基板の製造方法、接続配線基板の製造方法、および電子装置 | |
EP3051578A1 (en) | Thin film transistor array and production method therefor | |
JP2009141175A (ja) | 制御基板およびこの制御基板の製造方法 | |
US10243157B2 (en) | Thin film transistor array and image display device | |
JP6435651B2 (ja) | 有機半導体素子 | |
JP2006253682A (ja) | 有機薄膜トランジスタ表示パネル及びその製造方法 |