JP2016002406A - 光走査型内視鏡装置 - Google Patents

Abstract

【課題】一定期間内に照射されるレーザ光量を制限できる、光走査型内視鏡装置を提供する。【解決手段】光源からの光を対象物１００上で走査させる走査手段と、光源からの光の光量を検出する光量検出部１５と、光量検出部により検出される光量に基づいて光源の出力を制御する制御部３１と、を備え、制御部は、光量検出部により検出される直前の所定期間にわたる光量の積算値に基づいて、光源の出力を制御する。【選択図】図１

Description

本発明は、対象物を光走査する光走査型内視鏡装置に関する。

従来の光走査型内視鏡装置として、対象物へ照射された光の、対象物からの反射光に基づいて輝度レベルを検出し、観察画像において、明るい輝度レベルをもつ走査位置ほど光量を減少させ、暗い輝度レベルをもつ走査位置ほど光量を増加させるように、照明光量を設定し、走査位置に応じて照明光量を制御するものが、知られている（例えば、特許文献１）。

特開２０１０−１１５３９１号公報

一般的に、レーザ光によるヒトの目や皮膚への影響を考慮して、レーザ光を照射する機器に対しては、ＪＩＳ規格等において、一定期間（例えば0.25秒）内に照射されるレーザ光の光量が基準値を超えないことが要求されている。
しかしながら、特許文献１の技術では、一定期間内に照射されるレーザ光量を監視していないため、一定期間にわたる光量が基準値を超えるおそれがあった。

したがって、この点に着目してなされた本発明の目的は、一定期間内に照射されるレーザ光量を制限できる、光走査型内視鏡装置を提供することにある。

上記目的を達成する光走査型内視鏡装置の発明は、
光源からの光を対象物上で走査させる走査手段と、
前記光源からの光の光量を検出する光量検出部と、
前記光量検出部により検出される前記光量に基づいて前記光源の出力を制御する制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記光量検出部により検出される直前の所定期間にわたる前記光量の積算値に基づいて、前記光源の出力を制御するものである。

前記制御部は、前記光量の積算値に基づいて前記光源の出力を停止すると好適である。

あるいは、前記制御部は、前記光量の積算値に基づいて前記光源からの光の光量を、直前の前記所定期間にわたる前記光源からの光の光量の平均値よりも低い光量へと下げるのも好適である。

前記制御部は、前記光量の積算値が所定閾値を超えた場合に、前記光量の積算値が前記所定閾値よりも高い所定許容限界値を超えないように前記光源の出力を制御するのが好ましい。

前記光量検出部は、
前記光源からの光を検出する受光用光検出器と、
前記受光用光検出器による光の検出信号を、光の波長に応じて補正する補正部と、
前記補正部により補正された前記光の検出信号に基づいて前記光量を求める積分器と、
を有するのが好ましい。

本発明によれば、一定期間内に照射されるレーザ光量を制限できる、光走査型内視鏡装置を提供することができる。

第１実施形態に係る光走査型内視鏡装置の概略構成を示すブロック図である。 図１のスコープを概略的に示す概観図である。 図２のスコープの先端部の断面図である。 図３の駆動部および照明用光ファイバの揺動部を示す図であり、図４（ａ）は側面図、図４（ｂ）は図４（ａ）のＡ−Ａ線断面図である。 図１の光量検出部の概略構成を示すブロック図である。 図１の光量検出部及び制御部の動作を説明するための図である。 制御部の動作の一例を説明するための図である。 制御部の動作の他の例を説明するための図である。 図４の駆動部の変形例を説明するための図であり、図９（ａ）はスコープの先端部の断面図、図９（ｂ）は図９（ａ）の駆動部を拡大して示す斜視図であり、図９（ｃ）は、図９（ｂ）の偏向磁場発生用コイルおよび永久磁石を含む部分の光ファイバの軸に垂直な面による断面図である。

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。

（第１実施形態）
図１〜図８を参照して、本発明の第１実施形態を説明する。図１は、第１実施形態に係る光走査型内視鏡装置の概略構成を示すブロック図である。図１において、光走査型内視鏡装置１０は、スコープ２０と、制御装置本体３０と、ディスプレイ４０とを、備えている。

まず、制御装置本体３０の構成を説明する。制御装置本体３０は、光走査型内視鏡装置１０全体を制御する制御部３１と、発光制御部３２と、レーザ３３Ｒ、３３Ｇ、３３Ｂ（以下、レーザ３３Ｒ、３３Ｇ、３３Ｂを包括的に「光源３３」ともいう。）と、結合器３４と、アクチュエータドライバ３８と、受光用光検出器３５と、ＡＤＣ（アナログ−デジタル変換器）３６と、信号処理部３７と、モニタファイバ１４と、光量検出部１５とを、備えている。

レーザ３３Ｒ、３３Ｇ、３３Ｂからなる光源３３は、発光制御部３２による制御に従って、複数の異なる波長（本実施形態では、Ｒ、Ｇ及びＢの３色の波長）の光を選択的に射出する。ここで、「複数の異なる波長の光を選択的に射出する」とは、すなわち、発光制御部３２により選択されたいずれか１つの波長の光を、発光制御部３２により選択されたタイミングで射出することを意味する。レーザ３３Ｒ、３３Ｇ、３３Ｂとしては、例えばＤＰＳＳレーザ（半導体励起固体レーザ）やレーザダイオードを使用することができる。

発光制御部３２は、制御部３１からの制御信号に応じて、光源３３の発光タイミングを制御する。本実施形態において、発光制御部３２は、１回の走査中に、光源３３からのＲ、Ｇ、Ｂの光の波長を、所定の発光順序（本例では、Ｒ、Ｇ、Ｂの順序）で、一定の時間間隔（発光周期Ｔ_E）毎に切り替える。
ここで、「１回の走査」とは、１画像を撮影するために、例えばらせん状等の所定の走査経路の始点から終点まで１回走査することを意味している。また、「発光周期Ｔ_E」とは、光源３３を構成するレーザ３３Ｒ、３３Ｇ、３３Ｂのそれぞれの発光周期を意味するのではなく、光源３３から順次射出される光の発光周期を意味している。

レーザ３３Ｒ、３３Ｇ、３３Ｂから射出されるレーザ光は、結合器３４により同軸に合成された光路を経て、照明光として、シングルモードファイバである送光ファイバ１１に入射される。また、結合器３４は、送光ファイバ１１への出力の一定の割合の光を、光量検出部１５へと分配する。なお、この割合は、経時変化の影響を殆ど受けないので、光量検出部１５での光量の測定精度の低下が抑制される。
結合器３４は、例えばファイバ合波器やダイクロイックプリズム等を用いて構成される。
レーザ３３Ｒ、３３Ｇ、３３Ｂおよび結合器３４は、制御装置本体３０と信号線で結ばれた、制御装置本体３０とは別の筐体に収納されていても良い。

結合器３４から送光ファイバ１１に入射した光は、スコープ２０の先端部まで導光され、対象物１００に照射される。その際、制御装置本体３０のアクチュエータドライバ３８は、スコープ２０のアクチュエータ２１を振動駆動することによって、送光ファイバ１１の先端部を振動駆動する。これにより、送光ファイバ１１から射出された照明光は、対象物１００の観察表面上を、所定走査経路に沿って、２次元走査する。照明光の照射により対象物１００から得られる反射光や散乱光などの光は、マルチモードファイバにより構成される受光ファイバ１２の先端で受光して、スコープ２０内を通り制御装置本体３０まで導光される。

なお、本例では、送光ファイバ１１及びアクチュエータ２１が、光源３３からの光を対象物１００上で走査させる走査手段を構成している。

受光用光検出器３５は、光源３３の発光周期Ｔ_E毎に、Ｒ、Ｇ又はＢのいずれかの波長（以下、「色」ともいう。）の光の照射により得られた光を対象物１００から受光ファイバ１２を介して検出して、アナログ信号（電気信号）を出力する。

ＡＤＣ３６は、受光用光検出器３５からのアナログ信号をデジタル信号（電気信号）に変換し、信号処理部３７に出力する。

信号処理部３７は、発光周期Ｔ_E毎にＡＤＣ３６から入力された、各波長に対応するデジタル信号を、それぞれ発光タイミングと走査位置とに対応付けて、順次メモリ（図示せず）に記憶する。この発光タイミングと走査位置との情報は、制御部３１から得る。制御部３１では、アクチュエータドライバ３８により印加した振動電圧の振幅および位相などの情報から、走査経路上の走査位置の情報が算出される。そして、信号処理部３７は、走査終了後または走査中に、ＡＤＣ３６から入力された各デジタル信号に基づいて、強調処理、γ処理、補間処理等の画像処理を必要に応じて行って画像信号を生成し、対象物１００の画像をディスプレイ４０に表示する。

モニタファイバ１４は、結合器３４と光量検出部１５とを連結する光ファイバであり、結合器３４から送光ファイバ１１への出力の一定の割合の光を、光量検出部１５へ導光する。

光量検出部１５は、光源３３からの光の光量を検出し、検出した光量を、制御部３１に通知する。後述するように、制御部３１は、直前の所定積算期間Ｔ_Aにわたる、光量検出部１５により検出される光量の積算値Ｉに基づいて、光源３３の出力を制御する。
光量検出部１５については、後にさらに詳しく説明する。

次に、スコープ２０の構成を説明する。図２は、スコープ２０を概略的に示す概観図である。スコープ２０は、操作部２２および挿入部２３を備える。操作部２２には、制御装置本体３０からの送光ファイバ１１、受光ファイバ１２、及び配線ケーブル１３が、それぞれ接続されている。これら送光ファイバ１１、受光ファイバ１２および配線ケーブル１３は挿入部２３内部を通り、挿入部２３の先端部２４（図２における破線部内の部分）まで延在している。

図３は、図２のスコープ２０の挿入部２３の先端部２４を拡大して示す断面図である。スコープ２０の挿入部２３の先端部２４は、アクチュエータ２１、投影用レンズ２５ａ、２５ｂ（光学系）、中心部を通る送光ファイバ１１および外周部を通る光ファイババンドル状からなる受光ファイバ１２を含んで構成される。

アクチュエータ２１は、送光ファイバ１１の先端部１１ｃを振動駆動する。アクチュエータ２１は、取付環２６によりスコープ２０の挿入部２３の内部に固定されたファイバ保持部材２９および圧電素子２８ａ〜２８ｄ（図４（ａ）および（ｂ）参照）を含んで構成される。送光ファイバ１１は、ファイバ保持部材２９で支持されるとともにファイバ保持部材２９で支持された固定端１１ａから先端部１１ｃまでが、揺動可能に支持された揺動部１１ｂとなっている。一方、受光ファイバ１２は挿入部２３の外周部を通るように配置され、先端部２４の先端まで延在している。さらに、受光ファイバ１２の各ファイバの先端部には図示しない検出用レンズを備える。

さらに、投影用レンズ２５ａ、２５ｂおよび検出用レンズは、スコープ２０の挿入部２３の先端部２４の最先端に配置される。投影用レンズ２５ａ、２５ｂは、送光ファイバ１１の先端部１１ｃから射出されたレーザ光が、対象物１００上に照射されて略集光するように構成されている。また、検出用レンズは、対象物１００上に集光されたレーザ光が、対象物１００により反射、散乱等をした光又は対象物１００上に集光されたレーザ光の照射により発生する蛍光（対象物１００から得られる光）等を取り込み、検出用レンズの後に配置された受光ファイバ１２に集光、結合させるように配置される。なお、投影用レンズは、二枚構成に限られず、一枚や他の複数枚のレンズにより構成しても良い。

図４（ａ）は、光走査型内視鏡装置１０のアクチュエータ２１の振動駆動機構および送光ファイバ１１の揺動部１１ｂを示す図であり、図４（ｂ）は図４（ａ）のＡ−Ａ線断面図である。送光ファイバ１１は四角柱状の形状を有するファイバ保持部材２９の中央を貫通して、ファイバ保持部材２９に固定保持される。ファイバ保持部材２９の４つの側面は、それぞれ±Ｙ方向および±Ｘ方向に向いている。そして、ファイバ保持部材２９の±Ｙ方向の両側面にはＹ方向駆動用の一対の圧電素子２８ａ、２８ｃが固定され、±Ｘ方向の両側面にはＸ方向駆動用の一対の圧電素子２８ｂ、２８ｄが固定される。

各圧電素子２８ａ〜２８ｄは、制御装置本体３０のアクチュエータドライバ３８からの配線ケーブル１３が接続されており、アクチュエータドライバ３８によって電圧が印加されることによって駆動される。

Ｘ方向の圧電素子２８ｂと２８ｄとの間には常に正負が反対で大きさの等しい電圧が印加され、同様に、Ｙ方向の圧電素子２８ａと２８ｃとの間にも常に反対方向で大きさの等しい電圧が印加される。ファイバ保持部材２９を挟んで対向配置された圧電素子２８ｂ、２８ｄが、互いに一方が伸びるとき他方が縮むことによって、ファイバ保持部材２９に撓みを生じさせ、これを繰り返すことによりＸ方向の振動を生ぜしめる。Ｙ方向の振動についても同様である。

アクチュエータドライバ３８は、Ｘ方向駆動用の圧電素子２８ｂ、２８ｄとＹ方向駆動用の圧電素子２８ａ、２８ｃとに、同一の周波数の振動電圧を印加し、あるいは、異なる周波数の振動電圧を印加し、振動駆動させることができる。Ｙ方向駆動用の圧電素子２８ａ、２８ｃとＸ方向駆動用の圧電素子２８ｂ、２８ｄとをそれぞれ振動駆動させると、図３、図４に示した送光ファイバ１１の揺動部１１ｂが振動し、先端部１１ｃが偏向するので、先端部１１ｃから出射されるレーザ光は対象物１００の表面を所定走査経路に沿って順次走査する。

つぎに、図５及び図６を参照しつつ、光量検出部１５についてさらに詳しく説明する。図５は、光量検出部１５の概略構成を示している。図６は、光量検出部１５及び制御部３１の動作を説明するための図である。光量検出部１５は、光学フィルタ７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂと、モニタ用光検出器７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂと、電流／電圧変換器７２Ｒ、７２Ｇ、７２Ｂと、補正部７３Ｒ、７３Ｇ、７３Ｂと、合算器７４と、積分器７５と、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換器７６とを、有している。

光学フィルタ７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂは、図６（ａ）に示すような、光源３３の発光周期Ｔ_E毎にモニタファイバ１４から順次入力されるＲ、Ｇ、Ｂの光を、色毎に分光し、分光されたＲ、Ｇ、Ｂの光を、それぞれＲ、Ｇ、Ｂの色毎に設けられたモニタ用光検出器７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂに出力する。

モニタ用光検出器７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂは、それぞれ光学フィルタ７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂからの光を検出して、検出結果（電流信号）を、Ｒ、Ｇ、Ｂの色毎に設けられた電流／電圧変換器７２Ｒ、７２Ｇ、７２Ｂに出力する。

電流／電圧変換器７２Ｒ、７２Ｇ、７２Ｂは、モニタ用光検出器７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂからの検出結果（電流信号）を、それぞれ電圧信号に変換して、Ｒ、Ｇ、Ｂの色毎に設けられた補正部７３Ｒ、７３Ｇ、７３Ｂに出力する。

補正部７３Ｒ、７３Ｇ、７３Ｂは、それぞれ、モニタ用光検出器７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂから電流／電圧変換器７２Ｒ、７２Ｇ、７２Ｂを介して得た、Ｒ、Ｇ、Ｂの光の検出信号（電圧信号）を、それぞれの光の波長（色）に応じて補正して、合算器７４に出力する。
一般的に、モニタ用光検出器７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂ等の光検出器には、その受光感度に波長依存性がある。このことを考慮して、補正部７３Ｒ、７３Ｇ、７３Ｂでは、モニタ用光検出器７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂへの同じ光量の入力に対して、同じ電圧信号が得られるように、モニタ用光検出器７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂから電流／電圧変換器７２Ｒ、７２Ｇ、７２Ｂを介して得たＲ、Ｇ、Ｂの光の検出信号（電圧信号）を、色毎に補正する。
例えば、Ｒ、Ｂにそれぞれ対応するモニタ用光検出器７１Ｒ、７１Ｂが、それぞれ光量１ｍＷのＲ、Ｂの入力光に基づいて２００μＡの電流信号を出力し、Ｇに対応するモニタ用光検出器７１Ｇが、光量１ｍＷのＧの入力光に基づいて１００μＡの電流信号を出力する場合、Ｒ、Ｇ、Ｂにそれぞれ対応するモニタ用検出器７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂの受光感度は、２：１：２の比率関係にあるといえる。この場合、Ｒ、Ｇ、Ｂにそれぞれ対応する補正部７３Ｒ、７３Ｇ、７３Ｂは、それぞれ、モニタ用光検出器７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂから電流／電圧変換器７２Ｒ、７２Ｇ、７２Ｂを介して入力された電圧信号を、それぞれ１倍、２倍、１倍にする（すなわち、Ｇに対応する補正部７３Ｇのみが、入力された電圧信号を２倍にする）ことによって、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色について、同じ光量の入力に対して同じ電圧信号を得るようにする。
補正部７３Ｒ、７３Ｇ、７３Ｂを設けることによって、光源３３からの光の光量を、より正確に検出できる。

合算器７４は、Ｒ、Ｇ、Ｂにそれぞれ対応する補正部７３Ｒ、７３Ｇ、７３Ｂにより補正された、各色の光の検出信号（電圧信号）どうしを、合算して、その合算結果を、積分器７５に出力する。

積分器７５には、制御部３１から、所定のリセット間隔Ｔ_R（例えば0.001秒）毎に、リセットタイミングが通知される。図６（ｂ）に示すように、積分器７５は、リセットタイミングになると、補正部７３Ｒ、７３Ｂ、７３Ｇから合算器７４を介して入力される、光の検出信号の積分を開始し、次回のリセットタイミングになったときに、直前のリセット間隔Ｔ_Rにわたる積分の結果を、光源３３からの光の光量として、Ａ／Ｄ変換器７６に出力する。

Ａ／Ｄ変換器７６は、積分器７５からの積分結果をＡ／Ｄ変換によりデジタルデータに変換し、該デジタルデータを、光源３３からの光の光量として、制御部３１に通知する。

制御部３１は、リセット間隔Ｔ_R毎に、直前の所定積算期間Ｔ_A（例えば0.25秒）にわたる、光量検出部１５により検出される光源３３からの光の光量の積算値Ｉ（以下、単に「光量の積算値Ｉ」ともいう。）を求める。すなわち、図６（ｃ）に示すように、リセット間隔Ｔ_R毎に、積算開始の基点が、リセット間隔Ｔ_R分シフトする（移動積算）。なお、所定積算期間Ｔ_Aは、リセット間隔Ｔ_Rよりも長く設定される（Ｔ_A＞Ｔ_R）。図６（ｄ）は、制御部３１によって求められる、積算値Ｉを示している。

本実施形態において、制御部３１は、所定積算期間Ｔ_Aにわたる、光量検出部１５により検出される光量の積算値Ｉの、所定の制御閾値Ｉ_Tを、予め保持している。この所定の制御閾値Ｉ_Tは、光量の積算値Ｉが超えてはならないとされる所定の許容限界値Ｉ_Lよりも、低い値に設定されている。本実施形態において、制御部３１は、リセット間隔Ｔ_R毎に、光量の積算値Ｉと制御閾値Ｉ_Tとを比較し、その比較結果に基づいて、光源３３の出力を制御する。

図７は、制御部３１の動作の一例を説明するための図であり、この例では、リセット間隔Ｔ_R毎に求められる光量の積算値Ｉが、いずれも制御閾値Ｉ_T以下である。本例において、制御部３１は、リセット間隔Ｔ_R毎に、光量検出部１５により検出される光量の積算値Ｉと、制御閾値Ｉ_Tとを比較し、その結果、光量の積算値Ｉが制御閾値Ｉ_T以下である場合は、特別な制御を行わない。

図８は、制御部３１の動作の他の例を説明するための図であり、この例では、光量検出部１５により検出される光量の積算値Ｉが、あるリセットタイミングで、制御閾値Ｉ_Tを超えている。本例において、制御部３１は、リセット間隔Ｔ_R毎に、該光量の積算値Ｉと、制御閾値Ｉ_Tとを比較した結果、該光量の積算値Ｉが制御閾値Ｉ_Tを超えていると判断した場合には、光源３３の出力を制御する。ここで、制御部３１は、該光量の積算値Ｉが許容限界値Ｉ_Lを超えないように、光源３３の出力を制御するのが好ましい。
より具体的に、本例において、制御部３１は、上記光量の積算値Ｉと、制御閾値Ｉ_Tとを比較し、上記光量の積算値Ｉが制御閾値Ｉ_Tを超えた場合には、光源３３の光量を下げる。この場合、例えば、制御部３１は、光源３３の光量をいったん下げた後も、上記光量の積算値Ｉが制御閾値Ｉ_T以下となるまで、リセット間隔Ｔ_R毎に、光源３３の光量を制御閾値Ｉ_Tよりも低い値に設定するのが好ましい。
なお、光源３３の光量は、例えば、直前の所定積算期間Ｔ_Aにわたる光源３３からの光の光量の平均値よりも低い光量へと下げると好適である。また、光源３３の光量をいったん下げた後も、上記光量の積算値Ｉが制御閾値Ｉ_T以下となるまで、リセット間隔Ｔ_R毎に、光源３３の光量を、直前の所定積算期間Ｔ_Aにわたる光源３３からの光の光量の平均値よりも低い光量へと下げると好適である。

本実施形態によれば、一定期間内に照射される光の光量を制限できる。
また、本実施形態によれば、光源３３からの光の光量を、モニタ用光検出器７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂを用いて求めるようにしたので、光源３３からの光の光量を正確に求めることができる。
なお、光源３３からの光の光量を求める方法としては、例えば光源３３をレーザダイオードで構成し、このレーザダイオードの入力電流を用いる方法も考えられるが、一般的に、レーザダイオードにおける入力電流と出力光量との関係は経年変化するとともに、光の色に応じてその経年変化の程度が異なることから、さほど正確には光源３３からの光の光量を求めることはできない。

なお、本発明は、上述した各実施形態に限られるものではなく、様々な変形例が可能である。例えば、制御部３１は、直前の所定積算期間Ｔ_Aにわたる、光量検出部１５により検出される光量の積算値Ｉが、制御閾値Ｉ_Tを超えた場合には、光源３３の出力を停止させてもよい。

光量検出部１５は、フォトダイオード（ＰＤ）として、光源３３と一体に構成してもよい。すなわち、この場合、光量検出部１５は、結合器３４よりも上流側に配置されることとなる。

図５に示す例において、光量検出部１５は、Ｒ、Ｇ、Ｂの光にそれぞれ分光する光学フィルタ７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂを備えていることにより、複数の色の光が同時に入力された場合や、光源３３を白色光源として構成した場合でも、補正部７３Ｒ、７３Ｇ、７３Ｂにおいて色毎に受光感度を考慮した補正ができ、ゆえに、光源３３からの光の光量を正確に求めることができる。

また、Ｒ、Ｇ、Ｂの光が光量検出部１５に順次入力される場合において、光量検出部１５は、光学フィルタ及び合算器を有さずに、モニタ用光検出器、電流／電圧変換器、補正部、積分器、及びＡ／Ｄ変換器を１つずつ有する構成とした上で、Ｒ、Ｇ、Ｂの光が順次入力されるタイミングにて、補正部の処理内容を光の色に応じて切り換えるようにしてもよい。

また、補正部７３Ｒ、７３Ｇ、７３Ｂと合算器７４との間にレベル補正部（図示せず）を設けて、対象物への照射距離及び照射位置等に応じた信号のレベル補正を行うようにしてもよい。

送光ファイバ１１のアクチュエータ２１は、圧電素子を用いたものに限られず、例えば、送光ファイバ１１に固定した永久磁石とこれを駆動する偏向磁場発生用コイル（電磁コイル）とを用いたものでもよい。以下、このアクチュエータ２１の変形例について、図９を参照して説明する。図９（ａ）はスコープ２０の先端部２４の断面図、図９（ｂ）は図９（ａ）のアクチュエータ２１を拡大して示す斜視図であり、図９（ｃ）は、図９（ｂ）の偏向磁場発生用コイル６２ａ〜６２ｄおよび永久磁石６３を含む部分の送光ファイバ１１の軸に垂直な面による断面図である。

送光ファイバ１１の揺動部１１ｂの一部には、送光ファイバ１１の軸方向に着磁され貫通孔を有する永久磁石６３が、送光ファイバ１１が貫通孔を通った状態で結合されている。また、揺動部１１ｂを囲むように、一端部を取付環２６に固定された角型チューブ６１が設けられ、永久磁石６３の一方の極と対向する部分の角型チューブ６１の各側面には、平型の偏向磁場発生用コイル６２ａ〜６２ｄが設けられている。

Ｙ方向の偏向磁場発生用コイル６２ａと６２ｃのペアおよびＸ方向の偏向磁場発生用コイル６２ｂと６２ｄのペアは、角型チューブ６１のそれぞれ対向する面に配置され、偏向磁場発生用コイル６２ａの中心と偏向磁場発生用コイル６２ｃの中心を結ぶ線と、偏向磁場発生用コイル６２ｂの中心と偏向磁場発生用コイル６２ｄの中心を結ぶ線とは、静止時の送光ファイバ１１の配置される角型チューブ６１の中心軸線付近で直交する。これらのコイルは、配線ケーブル１３を介して制御装置本体３０のアクチュエータ３８に接続され、アクチュエータドライバ３８からの駆動電流によって駆動される。

さらに、走査手段は、光ファイバの先端を振動させるものに限られない。例えば、光源３３から対象物に至る光路上にＭＥＭＳミラーなどの光走査素子を設けることも可能である。

１０ 光走査型内視鏡装置
１１ 送光ファイバ（走査手段）
１１ａ 固定端
１１ｂ 揺動部
１１ｃ 先端部
１２ 受光ファイバ
１３ 配線ケーブル
１４ モニタファイバ
１５ 光量検出部
２０ スコープ
２１ アクチュエータ（走査手段）
２２ 操作部
２３ 挿入部
２４ 先端部
２５ａ、２５ｂ 投影用レンズ
２６ 取付環
２８ａ〜２８ｄ 圧電素子
２９ ファイバ保持部材
３０ 制御装置本体
３１ 制御部
３２ 発光制御部
３３ 光源
３３Ｒ、３３Ｇ、３３Ｂ レーザ
３４ 結合器
３５ 受光用光検出器
３６ ＡＤＣ
３７ 信号処理部
３８ アクチュエータドライバ
４０ ディスプレイ
６１ 角型チューブ
６２ａ〜６２ｄ 偏向磁場発生用コイル
６３ 永久磁石
７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂ 光学フィルタ
７１Ｒ、７１Ｇ、７１Ｂ モニタ用光検出器
７２Ｒ、７２Ｇ、７２Ｂ 電流／電圧変換器
７３Ｒ、７３Ｇ、７３Ｂ 補正部
７４ 合算器
７５ 積分器
７６ Ａ／Ｄ変換器
１００ 対象物

Claims (5)

1. 光源からの光を対象物上で走査させる走査手段と、
   前記光源からの光の光量を検出する光量検出部と、
   前記光量検出部により検出される前記光量に基づいて前記光源の出力を制御する制御部と、
   を備え、
   前記制御部は、前記光量検出部により検出される直前の所定期間にわたる前記光量の積算値に基づいて、前記光源の出力を制御する、光走査型内視鏡装置。
2. 前記制御部は、前記光量の積算値に基づいて前記光源の出力を停止する、請求項１に記載の光走査型内視鏡装置。
3. 前記制御部は、前記光量の積算値に基づいて前記光源からの光の光量を、直前の前記所定期間にわたる前記光源からの光の光量の平均値よりも低い光量へと下げる、請求項１に記載の光走査型内視鏡装置。
4. 前記制御部は、前記光量の積算値が所定閾値を超えた場合に、前記光量の積算値が前記所定閾値よりも高い所定許容限界値を超えないように前記光源の出力を制御する、請求項１〜３のいずれか一項に記載の光走査型内視鏡装置。
5. 前記光量検出部は、
   前記光源からの光を検出する受光用光検出器と、
   前記受光用光検出器による光の検出信号を、光の波長に応じて補正する補正部と、
   前記補正部により補正された前記光の検出信号に基づいて前記光量を求める積分器と、
   を有する、請求項１〜４のいずれか一項に記載の光走査型内視鏡装置。

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